JPH037798Y2 - - Google Patents

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JPH037798Y2
JPH037798Y2 JP1981061505U JP6150581U JPH037798Y2 JP H037798 Y2 JPH037798 Y2 JP H037798Y2 JP 1981061505 U JP1981061505 U JP 1981061505U JP 6150581 U JP6150581 U JP 6150581U JP H037798 Y2 JPH037798 Y2 JP H037798Y2
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reflected
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【考案の詳細な説明】 この考案はほう物面鏡の評価装置に関する。
石油以外のエネルギ源として、太陽エネルギが
脚光を浴びて久しくなるが、このエネルギを利用
した発電設備なども実験の段階からすでに一部で
は実用化の段階にまで進んでいる。このような大
規模な太陽エネルギの利用においては、反射面が
数m2というような二次曲面または三次曲面を形成
する比較的大形のほう物面鏡が用いられている。
ここで、太陽エネルギを効率的に集められるか
否かは、ほう物面鏡の面精度はもとより正確なほ
う物面になつているか否かにかかつてくることは
言うまでもないが、従来、上記のような大形の鏡
の評価装置は無きに等しかつた。
この考案は上記事情に鑑みてなされたもので、
入射光軸と反射光軸とが一致するほう物面鏡の基
準軸として、ほう物面鏡への平行光の投射光位置
およびその投射した光がほう物面鏡の焦点を通つ
て反射する反射光のそれぞれの位置と上記基準軸
との間の距離を定量的に確認する構成にし、大形
のほう物面鏡の評価を行えるようにしたものであ
る。
この考案の詳細を説明する前に、第1図にてほ
う物面鏡の性質について述べる。すなわち、ほう
物面鏡1の焦点Fを通り、焦点Fと頂点Oを結ぶ
直線をY軸とし、このY軸に直交し、かつ反射面
に対する接線をX軸にとり、ほう物線形状をY=
Ax2とする。いま、入射光線3が反射面2の点P
に入射し、焦点Fを通り、反射面2の点P′で反射
する反射光線4は入射光線3と平行になつて出射
する。上記において、点Pの座標を(a,Aa2
とすると、点P′は(−1/4A2a,1/16A3a2)となる
また、このときの焦点Fの座標は(0,1/4A)で ある。
よつて、図中に示したようにy軸を基準にして
入射光線3との距離L1=a、反射光線4との距
離L2=1/4A2aとなり、L1×L2=1/4A2となり、す なわち(放物線形状により)一定である。このこ
とから、L1を2倍にすればL2は1/2となる。
次に一実施例を示す第2図および第3図により
この考案を説明する。すなわち、測定用のレーザ
発振器10は移動台11上に固定されている。こ
の移動台11はレール12に滑動自在に嵌合し、
移動台11に取付けためねじ部材13に螺合する
送りねじ14の回転(駆動系は省略)で水平方向
に往復動されるようになつている。また移動台1
1上にはレーザ発振器10に隣接して柱状の光走
査案内体15が立設されている。この光走査案内
体15にはその頂部から下部付近にかけて垂直に
延びる一条の摺動レール16が設けられ、この摺
動レール16に走査具18が嵌合している。この
走査具18は駆動体19により光走査案内体15
の内部側で回転するねじ20に螺合され摺動レー
ル16に沿つて垂直方向に上下移動するようにな
つている。また、走査具18にはレーザ発振器1
0から上方に向けて摺動レール16と平行に放出
される測定用の可視レーザ光21を受け直角方向
に偏光させるプリズム22が設けられているとと
もに上記偏向の位置を示すために、走査具18の
側部に指針23が取付けられ、さらに指針位置の
確認用に光走査案内体15の一端部がわには第1
の目盛24が垂直方向に設けられている。また偏
向されたレーザ光による測定物体からの反射光の
位置確認用に摺動レール16の上面には第2の目
盛25が設けられている。
上記の構成によるほう物面鏡の評価を次に説明
する。
26は被測定物体である二次元曲面になるほう
物面鏡で所定の位置に固定もしくは調節可能な架
台(図示せず)に載架されている。このほう物面
鏡26に対し、走査具18を移動してたとえばQ
点に偏向レーザ光21aを入射させる。このとき
のプリズム22におけるレーザ光21の偏向位置
を指針23が指す第1の目盛24の位置を読み取
つておくとともに、焦点fを通つてほう物面鏡2
6のQ′点に当り反射する反射レーザ光21bの
位置を第2の目盛25で読み取つておく。そし
て、走査具18を除々に上昇させ、偏光レーザ光
21aと反射レーザ光21bとが一致する位置を
第1の目盛24で読み取り、前述したL1とL2
の距離を算出し、さらにL1×L2=1/4A2の式への 代入する上記の演算の結果を理論計算値もしくは
その計算値に対する誤差範囲の設定値に対比する
ことにより、ほう物鏡26の面評価を高精度に行
うことができるものである。
なお、ほう物面鏡26に対する面評価を1箇所
だけでなく、数箇所行う場合には、走査具18の
上下方向の移動の他、移動台11を動かし光走査
案内体15自体の位置をも変更して、上記各レー
ザ光の走査位置を読み取るようにすればよい。
以上詳述したように、ソーラコレクター用ほう
物面鏡のように比較的大きな鏡面をもつものの形
状、相互位置を簡便に評価する装置はなかつた
が、この考案によれば、光線追跡の手法が取れ、
鏡面を定量的に評価でき、ほう物面鏡の品質管
理,選別のみならず組立ての合理化,省力化が図
られ、もつて太陽熱利用技術の向上に寄与すると
ころ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の原理図、第2図はこの考案
の一実施例を示す構成図、第3図は第2図におけ
る走査具18付近の部分正面図である。 10……レーザ発振器、11……移動台、12
……レール、15……光走査案内体、18……走
査具、21……レーザ光、22……プリズム、2
6……ほう物面鏡。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 ほう物面鏡の入射光軸と反射光軸とが一致する
    基準軸(もしくは基準面)と交差する平面上を移
    動部が移動可能な走査駆動機構と、 この駆動機構の移動部よりほう物面鏡に対して
    レーザ発振器より放出したレーザ光をほう物面鏡
    の基準軸と平行に照射するレーザ光照射手段と、 このレーザ光照射手段により照射されたレーザ
    光の照射位置とほう物面鏡の設計値とから予測さ
    れる反射光の理論値の周辺で反射光を受光する反
    射光受光部と、 この反射光受光部に受光した反射光の位置を表
    示する表示器と を備えることを特徴とするほう物面鏡評価装置。
JP1981061505U 1981-04-30 1981-04-30 Expired JPH037798Y2 (ja)

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JPS57175035U JPS57175035U (ja) 1982-11-05
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5233141A (en) * 1975-09-10 1977-03-14 Agency Of Ind Science & Technol Collective axis detector for solar energy absorbing device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5233141A (en) * 1975-09-10 1977-03-14 Agency Of Ind Science & Technol Collective axis detector for solar energy absorbing device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57175035U (ja) 1982-11-05

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