JPH0377940B2 - - Google Patents
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- JPH0377940B2 JPH0377940B2 JP14404484A JP14404484A JPH0377940B2 JP H0377940 B2 JPH0377940 B2 JP H0377940B2 JP 14404484 A JP14404484 A JP 14404484A JP 14404484 A JP14404484 A JP 14404484A JP H0377940 B2 JPH0377940 B2 JP H0377940B2
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- Japan
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- optical sensor
- sensor
- control section
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Landscapes
- Financial Or Insurance-Related Operations Such As Payment And Settlement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 技術分野
この発明は現金自動預金支払機(以下、ATM
という。)等の動作を監視する光学センサのチエ
ツク装置に関する。[Detailed description of the invention] (a) Technical field This invention relates to automatic teller machines (hereinafter referred to as ATMs).
That's what it means. ), etc., and relates to an optical sensor check device for monitoring the operation of devices such as devices.
(b) 従来技術とその欠点
現在のATM等の構成はカードを搬送したり、
紙幣を搬送、放出したりする機械的処理装置(以
下「メカニカルコンポーネント」と言う。)を組
合せ、それらを主制御部が制御するというシステ
ムを採用している。それぞれのメカニカルコンポ
ーネントは各所に光学センサを配置し、それによ
つてその機械的処理を監視している。従つて、
ATM等の保守においてこれらの光学センサの不
良をチエツクすることは非常に重要である。光学
センサの不良には受光部、投光部の劣化、光軸上
の埃の堆積等があるが、ATM内には相当数の光
学センサが使用されているため人手でその全てを
チエツクすることは非常に労力を要するという欠
点があつた。(b) Prior art and its drawbacks The current configuration of ATMs, etc.
The system employs a combination of mechanical processing devices (hereinafter referred to as "mechanical components") that transport and eject banknotes, and which are controlled by a main controller. Each mechanical component has optical sensors placed at various locations to monitor its mechanical operations. Therefore,
It is very important to check for defects in these optical sensors during maintenance of ATMs and the like. Defective optical sensors include deterioration of the light receiving part, light emitting part, and accumulation of dust on the optical axis, but since a considerable number of optical sensors are used inside an ATM, it is necessary to check all of them manually. The disadvantage was that it required a lot of effort.
(c) 発明の目的
この発明は上記の現状に鑑み、主制御部ですべ
てのメカニカルコンポーネントの光学センサをチ
エツクできる光学センサチエツク装置を提供する
ことを目的とする。(c) Object of the Invention In view of the above-mentioned current situation, it is an object of the present invention to provide an optical sensor check device that can check the optical sensors of all mechanical components using a main control section.
(d) 発明の構成
この発明は要約すると、ATM等の主制御部
に、そのアイドル時間中に各メカニカルコンポー
ネントに対してそのメカニカルコンポーネントの
動作を監視する光学センサのチエツクコマンドを
送るチエツクコマンド送出手段を設け、前記各制
御部に前記コマンドが入力された時光学センサの
投光部を減光するハーフダーク装置と、投光部を
減光した状態での受光部の遮蔽有無から光学セン
サが異常であるか否かを判断するセンサチエツク
手段と、この判断結果を前記主制御部に通知する
チエツクレスポンス手段を設け、更に前記主制御
部に、各処理部から前記チエツクレスポンス手段
によつて光学センサの異常が通知された場合その
旨を表示する表示手段を設けたことを特徴とす
る。(d) Structure of the Invention The present invention can be summarized as a check command sending means for sending a check command for an optical sensor that monitors the operation of each mechanical component to a main control unit of an ATM or the like during its idle time. and a half-dark device that dims the light emitting part of the optical sensor when the command is input to each of the control parts, and a half-dark device that dims the light emitting part of the optical sensor when the light emitting part is dimmed. A sensor check means for determining whether or not the optical sensor The present invention is characterized in that a display means is provided for displaying a notification when an abnormality is notified.
(e) 実施例
第1図はこの発明の実施例であるATMのブロ
ツク図である。このATMはマスタ・スレイブシ
ステムで構成されている。マスタMとスレイブで
あるメカニカルコンポーネントが複数接続されて
いる(この図では2個のメカニカルコンポーネン
トMC1,MC2を示す。)。マスタMはCPU1、
RAM2、ROM3、インターフエイス4、モニ
タ5,6で構成されている。メカニカルコンポー
ネントは(ここではメカニカルコンポーネント
MC1の構成を示すが他も同様である。)CPU7、
ROM8、ROM9、インターフエイス10とこ
のインターフエイス10に接続された光学センサ
S等で構成されている。マスタMのCPU1は
RAM2、ROM3に記憶されているデータ、プ
ログラム及び図示しない入力装置からの入力によ
つて各メカニカルコンポーネントに制御命令を出
力する。メカニカルコンポーネントはマスタMか
らの命令に基づきRAM8、ROM9からデータ、
プログラム等を読み出し、インターフエイス10
を介して光学センサS、図示しない駆動装置等を
制御する。(e) Embodiment FIG. 1 is a block diagram of an ATM that is an embodiment of the present invention. This ATM consists of a master and slave system. A master M and a plurality of slave mechanical components are connected (in this figure, two mechanical components MC1 and MC2 are shown). Master M is CPU1,
It consists of RAM2, ROM3, interface 4, and monitors 5 and 6. Mechanical component (here mechanical component
The configuration of MC1 is shown, but the other configurations are similar. )CPU7,
It is composed of a ROM 8, a ROM 9, an interface 10, an optical sensor S connected to this interface 10, and the like. Master M's CPU1 is
Control commands are output to each mechanical component based on data and programs stored in the RAM 2 and ROM 3 and input from an input device (not shown). Mechanical components receive data from RAM8 and ROM9 based on instructions from master M.
Read the program, etc., and open the interface 10.
The optical sensor S, a drive device (not shown), etc. are controlled via the controller.
第2図は上記実施例の光学センサのブロツク図
である。発光体LはトランジスタTR1及びトラ
ンジスタTR2のコレクタに接続されている。ト
ランジスタTR1のベースはインターフエイス1
0に接続され、エミツタは抵抗Rを介して接地さ
ている。トランジスタTR2のベースにはインバ
ータINVで反転されたインターフエイス10の
出力が供給され、エミツタは抵抗rを介して接地
されている。これらトランジスタTR1,TR2
はNPNトランジスタである。そのためベースの
入力が“H”の時このトラジスタのコレクタ、エ
ミツタ間は導通し、“L”の時遮断する。ここで、
インターフエイスの出力は通常は“L”であるた
め、発光体Lは通常トランジスタTR2、抵抗r
を通して電源に接続され、インターフエイス10
から“H”が出力されたときトランジスタTR
1、抵抗Rを通して電源に接続される。このイン
ターフエイス10からの“H”の出力はマスタM
のCPU1が、メカニカルコンポーネントのCPU
7に対して後述するチエツクコマンドを出力した
とき出力されるものである。抵抗Rの抵抗値Rは
抵抗rの抵抗値をr、発光体Lの抵抗値をRlと
すると、
R=√2r+(√2−1)Rl
となるように設定されている。これによつて、チ
エツクコマンドが出力されたとき、つまりトラン
ジスタTR1、抵抗Rを通じて発光体Lが電源に
接続されたときの発光体Lの消費電力は、トラン
ジスタTR2、抵抗rを通じて電源に接続された
ときの消費電力の1/2になる。このように消費電
力を小さくしてチエツクするのは、光学センサが
正常であればこのように減光しても十分作動する
ものであるが、発光部又は受光部の劣化、埃の堆
積等の異常があれば作動しない場合があるためそ
れをチエツクするためである。なお、受光部Pも
インターフエイス10に接続されている。 FIG. 2 is a block diagram of the optical sensor of the above embodiment. The light emitter L is connected to the collectors of the transistor TR1 and the transistor TR2. The base of transistor TR1 is interface 1
0, and the emitter is grounded via a resistor R. The base of the transistor TR2 is supplied with the output of the interface 10 inverted by the inverter INV, and the emitter is grounded via a resistor r. These transistors TR1, TR2
is an NPN transistor. Therefore, when the base input is "H", the collector and emitter of this transistor are electrically connected, and when it is "L", they are cut off. here,
Since the output of the interface is normally "L", the light emitter L is usually a transistor TR2 and a resistor r.
interface 10
When “H” is output from the transistor TR
1. Connected to the power supply through resistor R. The “H” output from this interface 10 is the master M
CPU1 is a mechanical component CPU
This is what is output when a check command, which will be described later, is output to 7. The resistance value R of the resistor R is set to be as follows: R=√2r+(√2−1)Rl, where r is the resistance value of the resistor r, and Rl is the resistance value of the light emitter L. As a result, when the check command is output, that is, when the light emitter L is connected to the power supply through the transistor TR1 and the resistor R, the power consumption of the light emitter L is equal to the power consumption of the light emitter L connected to the power supply through the transistor TR2 and the resistor R. 1/2 of the power consumption when Checking by reducing the power consumption in this way means that if the optical sensor is normal, it will work well even if the light is reduced in this way, but if the light emitting part or light receiving part has deteriorated or dust has accumulated, etc. This is to check if there is any abnormality, as it may not work. Note that the light receiving section P is also connected to the interface 10.
第3図は上記実施例のCPU1、CPU7の動作
を示すフローチヤートである。ステツプn1(以下
ステツプniを単にniと呼ぶ。)ではCPU1がセン
サのチエツクコマンドをCPU7に出力する。n2
ではCPU7からの応答を判断し「センサ異常あ
り。」の応答であればn3に進む。n3ではモニタ
5,6にセンサに異常がある旨の表示を行う。
n3の動作が終了すれば、又n2で判断したCPU7
からの応答が「センサに異常なし。」であれば次
の動作に進む。これらn1〜n3はアイドル処理中
に行われる。次にCPU7の動作は、CPU1から
センサのチエツクコマンドを受信すると、インタ
ーフエイス10を介して“H”を出力しトランジ
スタTR2を閉じ、トランジスタTR1をオンす
る。これによつて、発光体Lは通常の半分の電力
で点灯されることになる。そのときの光学センサ
の受光部のレベルをチエツクし(n5)、遮断状態
になつていればこの光学センサは精度が低下して
いるとして、「センサ異常あり。」の応答をCPU
1に対して送信し、発光体Lが通常の電力で点灯
しているときと同様に受光状態であれば「センサ
に異常なし。」の応答をCPU1に対して送信する
(n6)。n1、n5、n6がそれぞれこの発明のチエツ
クコマンド送出手段、センサチエツク手段、チエ
ツクレスポンス手段に対応し、前記インバータ
INV、トランジスタTR1、抵抗Rがこの発明の
ハーフダーク装置に対応する。また、モニタ5,
6及びn3がこの発明の表示手段に対応する。 FIG. 3 is a flowchart showing the operations of the CPU 1 and CPU 7 of the above embodiment. At step n1 (hereinafter step ni will be simply referred to as ni), the CPU 1 outputs a sensor check command to the CPU 7. n2
Then, judge the response from the CPU 7, and if the response is "Sensor abnormality", proceed to n3. At n3, a message indicating that there is an abnormality in the sensor is displayed on the monitors 5 and 6.
When the operation of n3 is finished, the CPU7 determined by n2
If the response from is "No abnormality in the sensor.", proceed to the next operation. These n1 to n3 are performed during idle processing. Next, when the CPU 7 receives a sensor check command from the CPU 1, it outputs "H" through the interface 10, closes the transistor TR2, and turns on the transistor TR1. As a result, the light emitter L is lit with half the normal power. Check the level of the light receiving part of the optical sensor at that time (n5), and if it is in the cut-off state, the accuracy of this optical sensor has decreased, and the CPU responds with "Sensor abnormality".
1, and if the light-emitting body L is in the light-receiving state as when it is lit with normal power, a response of "no abnormality in the sensor" is transmitted to the CPU 1 (n6). n1, n5, and n6 correspond to the check command sending means, sensor check means, and check response means of the present invention, respectively, and
INV, transistor TR1, and resistor R correspond to the half-dark device of this invention. In addition, monitor 5,
6 and n3 correspond to the display means of this invention.
以上の構成の光学センサチエツク装置をATM
等に装置するとアイドル時間を利用し、最小限の
回路の増加でマスタCPUにそのATMに使用され
ているすべての光学センサをチエツクさせること
ができる。 The optical sensor check device with the above configuration can be used at ATMs.
etc., it is possible to make use of idle time and have the master CPU check all the optical sensors used in the ATM with a minimum increase in circuitry.
(f) 発明の効果
このようにこの発明によると、ATMのマスタ
制御部がアイドル時間中にそのATMに使用され
ているすべての光学センサをチエツクし異常のあ
る光学センサがあればモニタに表示させることが
できるため、係員等の手間を省けるという利点が
生じる。(f) Effect of the Invention As described above, according to the present invention, the master control unit of an ATM checks all the optical sensors used in the ATM during idle time, and if there is an abnormal optical sensor, it displays it on the monitor. This has the advantage of saving the time and effort of staff, etc.
第1図はこの発明の実施例であるATMのブロ
ツク図、第2図は上記実施例の光学センサのブロ
ツク図、第3図は上記実施例のCPUの動作を示
すフローチヤートである。
M……マスタ、MC1,MC2……メカニカル
コンポーネント、1,7……CPU、5,6……
モニタ、S……光学センサ、L……発光体、TR
1,TR2……トランジスタ、R,r……抵抗。
FIG. 1 is a block diagram of an ATM that is an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of an optical sensor of the above embodiment, and FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the CPU of the above embodiment. M...Master, MC1, MC2...Mechanical component, 1,7...CPU, 5,6...
Monitor, S...Optical sensor, L...Light emitter, TR
1, TR2...transistor, R, r...resistance.
Claims (1)
行いその動作状態を光学センサによつて監視する
複数の処理部と、この複数の処理部を総括的に制
御する主制御部とで構成される取引処理装置にお
いて、 前期主制御部に、そのアイドル時間中に各処理
部に対して前記光学センサのチエツクコマンドを
送るチエツクコマンド送出手段を設け、前記各制
御部に前記コマンドが入力された時光学センサの
投光部を減光するハーフダーク装置と、投光部を
減光した状態での受光部の遮蔽有無から光学セン
サが異常であるか否かを判断するセンサチエツク
手段と、この判断結果を前記主制御部に通知する
チエツクレスポンス手段を設け、更に前記主制御
部に、各処理部から前記チエツクレスポンス手段
によつて光学センサの異常が通知された場合その
旨を表示する表示手段を設けたことを特徴とする
取引処理装置のセンサチエツク装置。[Scope of Claims] 1. A plurality of processing units that perform mechanical processing such as conveyance of cards and discharge of banknotes and monitor the operating status thereof using optical sensors, and a main unit that collectively controls the plurality of processing units. In the transaction processing device comprising a control section, the main control section is provided with check command sending means for sending a check command of the optical sensor to each processing section during its idle time, and each of the control sections A half-dark device that dims the light emitting part of the optical sensor when a command is input, and a sensor that determines whether the optical sensor is abnormal based on whether or not the light receiving part is blocked when the light emitting part is dimmed. A check means and a check response means for notifying the main control section of the determination result are provided, and further, when the main control section is notified of an abnormality of the optical sensor by the check response means from each processing section, 1. A sensor check device for a transaction processing device, characterized in that it is provided with a display means for displaying.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59144044A JPS6120833A (en) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Sensor checking instrument of transaction processing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59144044A JPS6120833A (en) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Sensor checking instrument of transaction processing device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6120833A JPS6120833A (en) | 1986-01-29 |
JPH0377940B2 true JPH0377940B2 (en) | 1991-12-12 |
Family
ID=15353012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59144044A Granted JPS6120833A (en) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Sensor checking instrument of transaction processing device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6120833A (en) |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP59144044A patent/JPS6120833A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6120833A (en) | 1986-01-29 |
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