JPH0373868A - 耐電波障害試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、電子機器が外部電波の影響にどの程度耐えら
れるかどうかという評価を行なう耐電波障害試験装置に
関わり、特に、該装置における電子機器の信号を検出す
る装置に関する。

（従来の技術） 第８図は従来の耐電波障害試験装置を示す図である。

第８図において１は高周波信号を発生する高周波信号発
生装置、２は高周波信号を試験者の制御に基すき変調す
る変調装置、３は変調された高周波信号を増幅する高周
波アンプ、４は増幅された高周波信号に基すいて電波を
発生して被試験装置である車載電子機器（以下、ユニッ
トとも称す）５に対して電波を照射する電波発生装置、
６はユニット５の動作を確認するための信号検出装置で
ある。７はユニット５とその負荷８の間を接続するユニ
ットハーネス（ワイヤハーネス）、９はユニット５の各
信号を信号検出装置６に取り込むためのユニットハーネ
ス７（もしくはユニット端子）と信号検出装置６間を接
続する信号検出用ハーネスである。

信号検出装置６は、ユニット５の信号を光信号に変換す
る光変換回路、乾電池などからなる電源回路等から構成
されている。

信号検出装置６の出力光信号は、光フアイバ１０により
、計測室Ｂ（後述）にある電気信号復調装置１１に送ら
れる。

電気信号復調装置１１は、信号検出装置６から出力され
るユニット５の信号電圧に対応する光信号を電気信号に
復調する為の装置である。１２は電気信号復調装置１１
により復調されたユニット５の信号を計測するマルチメ
ータ、１３は高周波信号発生器１、マルチメータ１２な
どを制御する制御装置である。

波線で示す領域Ａは、外部へ電波の漏れないように、更
に側壁、天井からの電波の反射の無いように構成されて
いるシールドルーム、もしくは電波暗室などの試験室、
領域Ｂは各種制御、計測などを行う計測室であることを
表している。

かかる装置において、計測室の試験者が制御装置１３を
操作すると、制御装置１３に接続する高周波信号発生装
置１から高周波信号が出力され、電波発生装置４から車
両に向けて電波が放射される。また、ユニット５の信号
電圧は信号検出装置６により、光変換され、光フアイバ
１０により計測室の電気信号復調装置１１に伝送され、
そこで電気信号に復調され、マルチメータ１２で観測さ
れる。この様に電波を照射した状態で、ユニット５がど
の位の出力レベルの照射電波まで正常に作動するかどう
かを計測室Ｂにいる試験者が確認することが出来る。

（発明が解決しようとする課題） ところでかかる従来の装置にあっては、車載ユニット５
の動作を確認するため、第８図に示すようにユニット５
の端子、もしくは、ユニット５に接続するユニットハー
ネス７に信号検出用ハーネス９を接続し、この信号検出
用ハーネス９を介して信号検出装置６ヘユニツト５の信
号を伝送するようにしていた。

このため、電波発生装置４から放射される電波によって
ユニット５に接続するユニットハーネス７に生じる誘導
電圧は、接続した信号検出用ハーネス９のため異なって
しまう。

即ち、信号検出用ハーネス９が接続されていない場合、
ユニットハーネス７に生、しる誘導電圧は、例えば第９
図に示すような定在波電圧Ｖであるが、信号検出用ハー
ネス９が接続された場合、ハーネス９の誘導定在波電圧
の影響を受は第１０図に示すような定在波電圧Ｖ′とな
ってしまう。

ここで１４は、ユニット基板、１５はトランジスタなど
の電子素子である。

従って、電波発生装置４によって放射される電波の強さ
によってユニット５が正常に動作するかどうかの判断の
レベルも、信号検出用ハーネス９が接続されたことによ
って異なってしまうため、正しい評価が行えない、とい
う問題があった。

そこで本発明の目的は、耐電波障害試験装置にあって、
試験電波による電子機器の動作が正常か否かの判断レベ
ルが検出装置の有無によって異なる事なく、電子機器の
動作を確認でき、もって正しい試験、評価のできる耐電
波障害試験装置を提供することにある。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段） 前記問題点を解決するため本発明は、電子機器の端子、
もしくはワイヤハーネスに接続することなく、非接触で
電子機器の信号電圧を検出する検出手段を備えることを
要旨とする。

（作用、） 電子機器の端子もしくはワイヤハーネスに信号検出用ハ
ーネスが接触１７ていないため、電子機器の信号電圧が
検出用ハーネスの定在波電圧の影響を受けない。これに
より、放射電波によって電子機器が正常に動作するかど
うかの判断を正しく行なうことができる。

（実施例） 第１図は請求項（１）に係るブロックダイヤグラム、第
２図は、本発明の電波障害試験装置を示す図である。両
図において対応する部位には同−符号を付しである。

第２図において５１は高周波信号を発生する高周波信号
発生装置、５２は高周波信号を試験者の制御に基すき変
調する変調装置、５３は変調された高周波信号を増幅す
る高周波アンプ、５４は増幅された高周波信号に基ずい
て電波を発生して被試験装置であるユニット（電子機器
）５５に対して電波を照射する電波発生装置、５６はユ
ニット５５の信号電圧を検出するための信号検出装置、
５７はユニットハーネス（ワイヤハーネス）、５８はユ
ニット負荷である。

６０は信号検出装置５６の出力光信号を計測室にある電
気信号復調装置６１へ伝送する光ファイバ、６１は光フ
ァイバによって信号検出装置５６から供給された光信号
をユニット５５の信号に対応する電気信号に復調する電
気復調装置、６２は電気信号復調装置６１により復調さ
れたユニット５５の信号を計測するマルチメータ、６３
は高周波信号発生装置５１、マルチメータ６２（オシロ
スコープ、デジタルボルトメータ等）などを制御する制
御装置である。Ａで示す領域は、シールドルーム、もし
くは電波暗室などの試験室、Ｂは計測室であることを示
す。

第３図は、本発明に関わる耐電波障害試験装置の信号検
出装置５６のブロックダイヤグラム的構成図を示したも
のである。

信号検出装置５６は、ユニット５５の信号電圧に対応す
る電界強度を検出する信号検出センサ部１００、その信
号電圧を増幅する信号増幅器１０１、信号電圧を光信号
に変換する光変換器１０２、ユニット５５の信号電圧が
正規の信号に等しいかどうかを比較する比較回路１０３
、ユニット５５の信号電圧が正規の信号と異なる場合に
ＬＥＤ表示されるモニタ回路１０４、各部に電源を供給
する乾電池、或は充電池から成る電源回路部１０５から
構成されている。

尚、６０は光ファイバ、１０６はユニット５５の信号が
正常なときの信号に等しい信号を発生する基準信号発生
回路、１０７はユニット５５の信号電圧がパルス波など
直接比較することが難しい場合があるため、比較し易い
波形に整形する波形整形回路、１０８は基準信号調整つ
まみ、１０９は電源ＳＷ、１３３は電界センサ（電界検
出手段）１３４はマイクロプロービング回路である。

また信号検出装置５６は第４図に示すように、それ自身
、金属ケース（本体５６−１と同一である）によってシ
ールドされている。尚、金属ケース５６−１は、車両ボ
ディに接続して使用する。

第４図は、信号検出装置５６の上蓋を開いた状態の外観
図である。第４図において、５６−１は信号検出装置の
本体（金属ケース）　、５６−２は上蓋（金属製）であ
り、本体５６−１と上蓋５６２でユニットハーネス５７
が固定されるよう半円筒形状の溝１３０が形成されてい
る。溝１３０の中央部に凹部を設け、ここに信号検出セ
ンサ部１００が収容されている。

第５図は信号検出装置５６の信号検出センサ部１００の
詳細を示す図である。

同図に於て、１３０はユニット５５に接続するユニット
ハーネス５７が設置される溝であり、１３１は半円筒形
金属体でアースブレーンに相当するものであり、溝１３
０の部分を除いて樹脂１３２で満たされている。ここで
樹脂１３２で満たされた半円筒形金属体１３１は、上蓋
５６−２にも設置されており、本体側１３１、及び上蓋
側１３１°　（第６図参照）で対を成し、直径１０−２
０關、長さ３０−５０關の円筒形金属体（第７図参照）
を形成するようになっている。尚、本体側、及び上蓋側
の半円筒形金属体１３１．１３１°は、金属ケース（本
体）５６−１、上蓋５６−２と接続されている。

信号検出装置本体側の半円筒形金属体１３１の内には、
円筒軸方向に直角に金属エレメントである長さ数關の電
界センサ１３３（例えば、微小ダイポールアンテナ）が
設置され、その出力部には、インピーダンス変換回路（
高入力インピーダンス７５０オーム出力インピーダンス
変換回路）を有するマイクロプロービング回路１３４が
接続されている。マイクロプロービング回路１３４の出
力電圧は、シールドパイプ１３５のなかを通って同軸ケ
ーブル１３６により信号増幅器１０１に伝送され、光変
換するに適応するレベルまで増幅される。

第６図は信号検出センサ部１．００の横断面図、第７図
は、縦断面図である。これらの図において５７−１はユ
ニットハーネス５７の芯、５７−２は外皮膜（ビニール
）である。

次に本実施例の作用を説明する。

第２図において計測室の制御装置６３を操作し、制御装
置６３からの制御信号により制御装置６３と接続される
高周波発生装置５１から高周波信号を出力させ、電波発
生装置５４より規定の高周波電波を車両に照射させる。

このとき車載ユニット５５が正常に動作しているかどう
かユニットの信号電圧により確認する。

次にユニット５５の信号電圧の確認方法を説明する。

第４図の信号検出装置５６の溝１３０の部分に載置Ｔる
。第ｂ４〜、ｌ凶にボアよつにユニットハーネス５７と
、ユニットハーネス５７の外周を包むように形成されて
いる円筒形金属体１３１，１３１′　との間にはユニッ
トの信号電圧に応じた電界Ｅが生じる。この電界Ｅをユ
ニットハーネス５７と本体側半円筒形金属体１３１の間
に設置されている電界センサ１３３で受信する。ここで
電界センサ１３３で受信された信号は、ユニット５５の
信号電圧と相対的に等しい電圧信号である。また、電界
センサ１３３のエレメントの長さは数ｍｒａであり、共
振周波数は１０ＧＨｚ付近であるため、少なくとも１０
０１００Ｏまでは、共振周波数を考慮することなく使用
できる。

電界センサ１３３は、信号検出装置５６自体が金属ケー
ス５６−１．５６−２でシールドされていること、また
、電界センサ１３３は、本体と上蓋の半円筒形金属体１
３１，１３１’で構成される円筒状内に収納されており
、円筒形金属体によりシールド保護されており、２重シ
ールドされる。

このため、電界センサ１３３は、ユニット５５の信号電
圧を精度良く検出することが出来る。

なお、ユニットハーネス５７を信号検出装置５６でクラ
ンプしても、ユニット５５の入出力端子や、ユニットハ
ーネス５７に直接ハーネスなどを接続することが無いた
め、ユニットハーネス５７に生じる定在波の発生は、ク
ランプしない場合と変わらない。

尚、ユニットハーネス５７にクランプするセンサ部１０
０の長さ、すなわち、円筒形金属体１３１の長さは３−
５ｃｍであり、またユニットハーネス５７と円筒形金属
体１３１間の距離も１０ｍｍ程度あるため、両者間のイ
ンピーダンスは極めて高く、フィルタ効果なども殆ど発
生しない。

電界センサ１３３で受信された信号は、信号増幅器１０
１で増幅され、更に光変換器１０２によって光信号に変
換され、光フアイバ６０によって、計測室内の電気信号
復調装置６１に伝送され、電気信号復調装置６１によっ
て電気信号に変換され、その電気信号をマルチメータ６
２によって観測することにより、車載ユニット５５の信
号を確認することができる。

このように、電波発生装置５１から発生した電波を車載
ユニット５５に照射した状態で、車載ユニット５５の信
号電圧が正しく観測でき、どの位のレベルの照射電波ま
で正常に作動するかどうかを、計測室Ｂで試験者が確認
することが出きる。

同時に、信号検出用のハーネスなと接続しない為、本来
の耐電波障害試験も損なわれない。

また、車両に試験者がいる場合にも、信号検出装置５６
内に、ユニット５５の信号電圧が正常な時の信号電圧に
等しいかどうかを比較する比較回路１０３、ユニット５
５の信号が正常な時の信号電圧と異なる場合にＬＥＤＥ
示されるモニタ回路１０４が設置されているため、車両
内に試験者がいる場合でも確認することもできる。

また、ユニット５５の信号の検出も精度良く行なうこと
が出来る。

また、信号検出センサ部１００自身が円筒形の金属体で
包囲されるように構成されているため、センサの機能の
他、シールドの効果も働くため、照射電波による影響を
殆ど受けないという効果もある。

また、照射電波によりユニット５５に生じる誘導電圧も
、高周波まで測定出来るという効果もある。

更に、信号を検出するために、信号検出ハーネスのユニ
ットハーネス５７への接続がなく、信号検出装置５６の
ユニットハーネス５７への取り付けがワンタッチで簡単
に出来るという効果がある。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の耐電波障害試験装置によ
れば、ユニットの信号の検出が、ユニットの入出力端子
、あるいはユニットハーネスに信号検出用のハーネス等
を接続することなく、非接触で出来るため、信頼性の高
い耐電波障害試験が実施できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のブロックダイヤグラム、第２図は、本
発明の耐電波障害試験装置を説明するブロック図、第３
図は、本発明の耐電波障害試験装置の信号検出装置の構
成を説明するブロック図、第４図は、本発明の信号検出
装置の外観図、第５図は本発明の信号検出装置のセンサ
部半円筒部の説明用一部破断外観図、第６図はセンサ部
の横断面図、第７図はセンサ部の縦断面図、第８図は従
″′Δ 来装置を説明するブロック図、第９６〜０図は従来の問
題点である誘導定在波の変化現象の説明図である。 １　高周波信号発信装置 ２　変調装置 ３　高周波アンプ ４　電波発生装置 ５　被試験装置の電子機器（ユニット）６　従来の信号
検出装置 ７　ユニットハーネス（ワイヤハーネス）８　ユニット
負荷 ９　信号検知用ハーネス １０　光ファイバ １１　電気信号復調装置 ］２　マルチメータ １３　制御装置 　４ ５ １ ２ ３ ４ ５ ６ ７ ユニット基板 電子素子 高周波信号発信装置 変調装置 高周波アンプ 電波発生装置 ユニット 本発明の信号検出装置 ユニットハーネス ５７−１芯、５７−２外皮膜（ビニール）５８　ユニッ
ト負荷 ６０　光ファイバ ６１　電気信号復調装置 ６２　マルチメータ ６３　制御装置 １００　信号検出センサ部 １０１　信号増幅器 １０２　光変換器 １０３　比較回路 １０４　モニタ回路 ５ ６ ７ ８ ９ ０ １ ２ ３ ４ 電源回路 波形整形回路 基準信号発生回路 基準信号調整つまみ 電源ＳＷ ユニットハーネス固定溝 （半）円筒形金属板 樹脂 電界センサ（信号電圧の検出手段） マイクロブロービング回路 シールドパイプ 同軸ケーブル（信号線）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）高周波信号を発生する高周波信号発生装置と該高
   周波信号発生装置により被試験装置の電子機器に対し電
   波を発生する電波発生装置と前記電子機器の信号を検出
   する信号検出装置とを備える耐電波障害試験装置におい
   て、前記信号検出装置に前記電子機器の端子、もしくは
   ワイヤハーネスに接続することなく、非接触で電子機器
   の信号電圧を検出する検出手段を備えたことを特徴とす
   る耐電波障害試験装置。
2. （２）検出手段が、前記電子機器のワイヤハーネスと該
   ワイヤハーネスを取り囲むように構成されたアースと接
   続する金属体との間に生じる電界を検出する手段である
   ことを特徴とする請求項（１）記載の耐電波障害試験装
   置。