JPH0359488A - Single photon emission tomographic device - Google Patents

Single photon emission tomographic device

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JPH0359488A
JPH0359488A JP19425489A JP19425489A JPH0359488A JP H0359488 A JPH0359488 A JP H0359488A JP 19425489 A JP19425489 A JP 19425489A JP 19425489 A JP19425489 A JP 19425489A JP H0359488 A JPH0359488 A JP H0359488A
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top plate
circuit
correction data
center
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Masatoshi Taguchi
田口 正俊
Yasuhide Oya
大家 康秀
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
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Hitachi Medical Corp
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Abstract

PURPOSE:To make new correction through data processing even if the position relation between a ceiling plate and a center of rotation changes by reading the position relation between the ceiling plate and the center of rotation out and feeding it back to absorption correction data, and making the correction. CONSTITUTION:A plane type gamma-ray detector 2 detects gamma rays emitted by a body 3 to be inspected while rotating around the ceiling plate 40 which can move right and left, and up and down and mounts the body 3 to be inspected. Then absorption values of the ceiling plate 40 at respective rotational positions are stored as correction data in an absorption correction table circuit 18. A stand and head circuit 9 detects the height (h) of the ceiling plate 40 and the deviation 1 between the center of the ceiling plate 40 and the center of rotation and if there is variation from those at a starting reference position, a CPU 12 calculates their shift quantities and corrects the table in the circuit 18. When a gamma-ray incidence position signal outputted by a position calculating circuit 6 is the signal of a position to be corrected by a ceiling absorption correcting circuit 14, a correction value is added to the signal and the resulting signal is stored on a memory 7 according to the corrected circuit 18.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、エミツションCT装置、特に天板の影響の補
正をはかったエミ・2ジヨンC′F装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an emission CT apparatus, and particularly to an emission CT apparatus that corrects the influence of a top plate.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のエミツションCT装置の構成図を第1図に示す。 A block diagram of a conventional emission CT apparatus is shown in FIG.

CT本体部は、検出器スタンド1.検出器2.ベツド3
.レール5より戒り、更に、ベツド3には天板40があ
り、この天板40の上に被検体3が搭載される。
The CT main body is mounted on the detector stand 1. Detector 2. bed 3
.. In addition to the rail 5, the bed 3 further has a top plate 40, and the subject 3 is mounted on the top plate 40.

検出器2は平面状放射線検出器であり、検出器スタンド
1に取りつけられ、スタンド1が被検体3の周囲360
 ’を回転すると、それを一体化して3600被検体3
の周囲を回転し、被検体3の全周囲から放射されるγ線
を検出する。この検出器スタンド1の回転は回転機構が
行う。
The detector 2 is a planar radiation detector, and is attached to a detector stand 1, and the stand 1 extends around 360 degrees around the subject 3.
' When rotated, it is integrated into 3600 objects 3
The gamma rays emitted from the entire circumference of the subject 3 are detected. This rotation of the detector stand 1 is performed by a rotation mechanism.

処理部は、位置計算回路6.メモリ7、断層像再構成回
路8.スタンド及びベツド制御回路9゜表示制御回路1
0.  CRTII、  CPU12.ディスク13よ
り成る。
The processing section includes a position calculation circuit 6. Memory 7, tomographic image reconstruction circuit 8. Stand and bed control circuit 9° display control circuit 1
0. CRTII, CPU12. It consists of 13 discs.

さて、検出器スタンド1の回転角度は、制御回路9を通
してCPU12で読みとられる。更に、検出器スタンド
lは、レール5上を左右に横移動でき、且つベツド天板
40も上下に移動できるようになっており、これらの移
動位置は、CPU12によって読みとられる。
Now, the rotation angle of the detector stand 1 is read by the CPU 12 through the control circuit 9. Further, the detector stand 1 can be moved horizontally on the rail 5, and the bed top plate 40 can also be moved up and down, and these movement positions are read by the CPU 12.

被検体3内のR1より放射されたγ線が検出器2に入射
すると、その信号は位置計算回路6に送られ検出器2の
どの位置(平面状のどの位置)に入射したかを計算し、
その位置に対応するメモリ7の番地に+1加える。この
加算をγ線が入射する毎に繰返すことにより、メモリ7
上には、被検体3内のR1分布像を得る。
When the gamma rays emitted from R1 in the subject 3 are incident on the detector 2, the signal is sent to the position calculation circuit 6, which calculates which position on the detector 2 (which position on the plane) the gamma rays have entered. ,
+1 is added to the address in memory 7 corresponding to that position. By repeating this addition every time γ-rays are incident, the memory 7
At the top, an R1 distribution image within the subject 3 is obtained.

検出器2を被検体3の囲りに一定の角度回転させながら
、複数方向からのR1分布像をメモリー7に記憶した後
、断層像再構成回路8で断層像を再構成する。断層像は
C,RTllで表示し、診断に供する。
After storing R1 distribution images from a plurality of directions in the memory 7 while rotating the detector 2 around the subject 3 at a certain angle, the tomographic image reconstruction circuit 8 reconstructs the tomographic image. The tomographic image is displayed in C, RTll and used for diagnosis.

尚、断層像再構成回路8は、高速専用ハードウェアでよ
く、またソフトウェアによって実現できる。ディスク1
3はデータやプログラムを格納する補助メモリの役割を
持つ。
Note that the tomographic image reconstruction circuit 8 may be high-speed dedicated hardware, or may be realized by software. disc 1
3 has the role of auxiliary memory for storing data and programs.

この従来例で問題となるのは、検出器2が天板40の下
側に回転してきた時に、体内より放射されるγ線が天板
40に吸収されて、検出器2では正確な放射γ線を検出
できない点である。
The problem with this conventional example is that when the detector 2 rotates below the top plate 40, the γ rays emitted from the body are absorbed by the top plate 40, and the detector 2 is able to accurately emit γ rays. This is the point where the line cannot be detected.

この対策として、補正データを得て、これにより検出器
による太根下での検出値を、補正するやり方が考えられ
る。具体的には、第6図に示すように、被検体の代りに
、内部に均一線源15Aを有するフランドソースファン
トム(アクリル等で成る)15を設置し、このファント
ム15を、天板40を挟んで検出器2に対向させ、この
対向させた状態で天板40の囲りを回転させる。各回転
方向ごとに天板の吸収分布像が得られる。尚、検出器2
の入力部にはコリメータがあり、検出面に直角に入射す
るγ線のみ取込むようになっている。
As a countermeasure to this problem, it is possible to obtain correction data and use this to correct the value detected by the detector under the large root. Specifically, as shown in FIG. 6, a Flemish source phantom (made of acrylic or the like) 15 having a uniform radiation source 15A inside is installed instead of the subject, and this phantom 15 is connected to a top plate 40. The top plate 40 is sandwiched to face the detector 2, and the area around the top plate 40 is rotated in this facing state. An absorption distribution image of the top plate is obtained for each direction of rotation. Furthermore, detector 2
There is a collimator at the input section of the detector, which allows only gamma rays incident at right angles to the detection surface to be taken in.

さて、第6図の位置によっては、天板40の影響のない
検出領域では、均一線源よりのγ線がほぼそのまま検出
され、特性A(計数値)となる。−方、天板40を透過
した場合は特性Bではなく特性Cとなり、計数値は特性
Aより小さい値となる。
Now, depending on the position in FIG. 6, in the detection area not affected by the top plate 40, the γ rays from the uniform source are detected almost as they are, resulting in characteristic A (count value). - On the other hand, when the light passes through the top plate 40, the characteristic C is obtained instead of the characteristic B, and the count value becomes a smaller value than the characteristic A.

この特性Bと特性Cとの差分が天板40による吸収分で
あり、誤差となる。
The difference between this characteristic B and characteristic C is the amount absorbed by the top plate 40, and becomes an error.

特性Cがいかなる形となるかは、回転角度による。従っ
て、回転角度をパラメータとして、各回転角度毎に第6
図の如き方法で特性Cを計測し、検出チャンネル(座標
)と回転角度とをパラメータとして特性Cによる補正デ
ータを得る。
The shape of characteristic C depends on the rotation angle. Therefore, using the rotation angle as a parameter, the sixth
The characteristic C is measured by the method shown in the figure, and correction data based on the characteristic C is obtained using the detection channel (coordinates) and rotation angle as parameters.

この補正データはメモリにテーブル化して格納しておく
。実際の被検体からの計測値に対して、回転角度、検出
チャンネルをパラメータとして対応補正データをメモリ
から読出し、この補正データを悪影響のある計測値に加
えると、天板の影響のない計測値となる。これを以下詳
述する。
This correction data is stored in a table in memory. Corresponding correction data is read from the memory using the rotation angle and detection channel as parameters for the measurement value from the actual object, and this correction data is added to the measurement value that has an adverse effect. Become. This will be explained in detail below.

補正データテーブルを第7図に示す。この補正データテ
ーブル18は、ファントムと検出器の対向関係のもとて
の回転基準角度(例えばθ=O。
The correction data table is shown in FIG. This correction data table 18 contains the original rotation reference angle of the opposing relationship between the phantom and the detector (for example, θ=O).

6’、12”・・・による区分)毎に分割されたテーブ
ルより威る。
6', 12", etc.).

分割されたテーブルの例を第8図に示す。(イ)は回転
角度θ−0°、(O)は回転角度θ=θ。°の例である
。回転ピッチは任意であり、例えば6゜を回転基本単位
とする。6″の例では、1806の回転範囲とすれば、
30個の補正データテーブルが存在する。
An example of a divided table is shown in FIG. (A) is the rotation angle θ-0°, (O) is the rotation angle θ=θ. This is an example of °. The rotation pitch is arbitrary, and for example, the basic rotation unit is 6 degrees. In the example of 6″, if the rotation range is 1806, then
There are 30 correction data tables.

第8図でテーブル100と101で斜線部分100a。In FIG. 8, tables 100 and 101 are shaded portion 100a.

101aが天板の影響の発生した部分、非斜線部分10
0b、 101bが天板の影響のない部分を示す。
101a is the area affected by the top plate, non-shaded area 10
0b and 101b indicate areas not affected by the top plate.

θ=O°で斜線部分の横方向幅は、天板の横幅lに一致
し、且つ斜線部分の横方向の中心位W C2は、検出器
の横方向の中心位置C1に一致する。
When θ=O°, the lateral width of the shaded portion matches the lateral width l of the top plate, and the lateral center position W C2 of the shaded portion coincides with the lateral center position C1 of the detector.

しかし、回転が進み(反時計方向)、θ−90’へと近
づくに従って斜線部分の横幅W、はW、<Wと小さくな
り、θ=90’でゼロ、更に斜線部分の中心は、θ°−
90°へと近づくに従って右側に移動し、0”−10°
へと近づくに従って左側に移動する。
However, as the rotation progresses (counterclockwise) and approaches θ-90', the width W of the shaded area decreases to W,<W, and becomes zero at θ=90', and the center of the shaded area is θ° −
Move to the right as you approach 90°, 0”-10°
Move to the left as you approach.

この横幅の大きさの変化は、回転角度によって天板の透
過距離が異なるためであり、中心位置の移動は、回転角
度によって、実質上、天板横幅が変化するためである(
検出器からみて変化する)。
This change in width is due to the transmission distance of the top plate varying depending on the rotation angle, and the movement of the center position is due to the fact that the width of the top plate substantially changes depending on the rotation angle (
(changes when viewed from the detector).

天板が均一材質であり、且つ縦と横とが均一な矩形であ
れば、斜線を引いた部分の補正データは、回転角度毎に
定まった同一値である。しかし、般には天板は必ずしも
均一材質ではなく、形状も完全矩形でない例が多い(例
えば端部がまるくなっている)。従って、同一回転角度
上でも異なる補正デー・夕となる。
If the top plate is made of a uniform material and has a rectangular shape with uniform length and width, the correction data in the shaded area will be the same value determined for each rotation angle. However, in general, the top plate is not necessarily made of a uniform material, and its shape is often not perfectly rectangular (for example, the edges are rounded). Therefore, even if the rotation angle is the same, the correction data and date will be different.

任意の角度での4×4の16個の検出素子(チャンネル
)例での補正データテーブル例を第9図に示す。但し、
実際の数は64 X 64や128 X 128などで
あり、はるかに多い、補正テーブル102は、天板の影
響の受けない領域には補正不要を示すフラグIFを立て
ておき、天板の影響を受けた領域には、補正データを入
れておく。図では(1,1)、(2,1)。
FIG. 9 shows an example of a correction data table for an example of 16 4×4 detection elements (channels) at an arbitrary angle. however,
The actual number is 64 x 64, 128 x 128, etc., which is much larger.The correction table 102 sets a flag IF indicating that no correction is necessary in the area that is not affected by the top plate, and removes the influence of the top plate. Correction data is stored in the affected area. In the figure, (1, 1), (2, 1).

(3,1) 、 (4,1) 、 (1,4) 、 (
2,4) 、 (3,4) 、 (4,4)の位置には
IFを立て、それ以外の部分には補正データを入れてお
く例を示した。各座標毎に補正データの値が異なるのは
、前述した天板不均一の例を想定したためである。尚、
座標とは検出チャンネルに相当する。
(3,1), (4,1), (1,4), (
An example is shown in which IF is set up at the positions 2, 4), (3, 4), and (4, 4), and correction data is put in the other parts. The reason why the value of the correction data differs for each coordinate is because the above-mentioned example of the top plate non-uniformity is assumed. still,
Coordinates correspond to detection channels.

補正データは、天板によるγ線の吸収量でもよいが、第
9図では吸収割合を数値で示した。例えば、検出素子座
標(1,3)の補正データがrlOJとは、座標(1,
3)での天板での吸収割合が10%(1/10)である
ことを示す。座標(4,2)では6.7%(1/15)
であるとした。
The correction data may be the amount of gamma rays absorbed by the top plate, but in FIG. 9, the absorption rate is shown numerically. For example, the correction data for the detection element coordinates (1, 3) is rlOJ.
3) shows that the absorption rate on the top plate is 10% (1/10). 6.7% (1/15) at coordinates (4,2)
It was assumed that

かかる補正データによる補正は、座標(1,3)に関し
ては、10個のγ線が入力する毎に座標(1,3)での
γ線計数値を+1加算する補正を行うことである。座標
(4,2)では、15個のガンマ線が入力する毎に座標
(4,2)での計数値を+1加算する補正を行う。
Correction using such correction data involves adding +1 to the γ-ray count value at coordinates (1, 3) every time 10 γ-rays are input. At coordinates (4, 2), a correction is performed by adding +1 to the count value at coordinates (4, 2) every time 15 gamma rays are input.

一方、座標(1,2)では、補正データはIFであり補
正の必要はない。
On the other hand, at coordinates (1, 2), the correction data is IF and no correction is necessary.

かくして、回転角度及び検出チャンネル(座標〉をパラ
メータとして、各回転位置毎に補正が必要か否かが判断
され、補正要ならば、補正データに従って補正を行う。
In this way, it is determined whether or not correction is necessary for each rotational position using the rotation angle and the detection channel (coordinates) as parameters, and if correction is necessary, correction is performed according to the correction data.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来例では、回転中心と天板の位置関係が、補正デ
ータを収集する時と被検体のデータを収集する時で必ず
一致している必要がある。例えば、天板の高さ(回転中
心Oと天板の距離)が変ると、検出器に対する天板の影
の位置が変るので、補正データはその位置に対する正確
な補正データにはなり得ない。
In the conventional example described above, the positional relationship between the center of rotation and the top plate must always be the same when collecting correction data and when collecting data of the subject. For example, if the height of the top plate (the distance between the center of rotation O and the top plate) changes, the position of the shadow of the top plate relative to the detector changes, so the correction data cannot be accurate correction data for that position.

この天板の高さが変化する例としては、被検体の厚みに
よって回転中心と被検体の中心を一致させたい場合があ
る。即ち、被検体の厚みが大きいと天板を下げ、被検体
の厚みが小さいと天板を上げて、回転中心と被検体の中
心を一致するのである。
An example of a change in the height of the top plate is when it is desired to match the center of rotation with the center of the subject depending on the thickness of the subject. That is, if the thickness of the subject is large, the top plate is lowered, and if the thickness of the subject is small, the top plate is raised to align the center of rotation with the center of the subject.

こうした天板の高さが変化した場合、その変化の都度、
フラッドソースファントムを位置設定して吸収値の計測
を行って補データテーブルを再作成すればよい。しかし
、その都度、位置設定/計測という作業をしていたので
は、能率が悪い。
If the height of the top plate changes, each time the height changes,
The supplementary data table can be recreated by positioning the flood source phantom and measuring the absorption value. However, it is inefficient to have to perform position setting/measurement each time.

本発明の目的は、天板と回転中心の位置関係が変っても
、データ処理的に新しい補正を可能としたエミツション
CT装置を提供するものである。
An object of the present invention is to provide an emission CT apparatus that enables new corrections in terms of data processing even if the positional relationship between the top plate and the center of rotation changes.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は、天板と回転中心との位置関係を読みとり、吸
収補正データにフィードバックして修正を行い、このフ
ィードバック後の補正データを真の補正データとした。
The present invention reads the positional relationship between the top plate and the center of rotation, feeds it back to the absorption correction data to correct it, and uses the correction data after this feedback as the true correction data.

〔作用〕[Effect]

本発明では、天板と回転中心との位置関係が読みとられ
、この位置関係により吸収補正データをフィードバンク
して修正する。この修正後の補正データは、天板の位置
を反映したものであり、これを真の補正データとして天
板吸収補正に使用する。
In the present invention, the positional relationship between the top plate and the center of rotation is read, and absorption correction data is corrected by feedbanking based on this positional relationship. This corrected correction data reflects the position of the top plate, and is used as true correction data for the top plate absorption correction.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の実施例図である。本実施例の特徴は、
第5図の回路に天板吸収補正回路14.吸収補正テーブ
ル回路18を追加した点にある。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. The features of this embodiment are as follows:
Top plate absorption correction circuit 14. The point is that an absorption correction table circuit 18 is added.

この追加構成によれば、位置計算回路6より出力された
T線入対位置信号は、天板吸収補正回路14に入り、吸
収補正テーブル回路i8から読み込んだ補正データに基
づいて補正すべき位置の信号であれば、メモリ7上に補
正分加算して記憶する。
According to this additional configuration, the T-line input position signal output from the position calculation circuit 6 enters the top plate absorption correction circuit 14, and the position to be corrected is determined based on the correction data read from the absorption correction table circuit i8. If it is a signal, the correction amount is added and stored in the memory 7.

この加算に際して、補正データを修正する。この修正に
際しての天板の高さの変動やその他の位置関係について
説明する。
During this addition, the correction data is corrected. The variation in the height of the top plate and other positional relationships during this correction will be explained.

被検者の厚さによって天板の高さhが変る。被検者の中
心と回転中心とを合わせるためである。
The height h of the top plate changes depending on the thickness of the subject. This is to align the center of the subject and the center of rotation.

更に、被検者の体輸部に沿って楕円状に検出器を回して
計測を行う。この検出器を楕円状に回すためには、検出
器スタンドを水平方向に移動し、天板を上下方向に移動
する必要がある。従って、検出器の回転角θに応して天
板高さhと天板中心と回転中心のfれlが変ることにな
る。
Furthermore, measurements are taken by rotating the detector in an elliptical shape along the subject's body part. In order to rotate this detector in an elliptical shape, it is necessary to move the detector stand horizontally and move the top plate vertically. Therefore, the height h of the top plate and the difference fl between the center of the top plate and the center of rotation change depending on the rotation angle θ of the detector.

第2図で補正の原理を説明する。The principle of correction will be explained with reference to FIG.

検出器2が天板40に直角方向の位置にある二点鎖線位
置にある時には、θ−0であり、天板40による吸収の
影響はない。従って、補正の必要はない。尚、θのとり
方が第8図と異なるが、形式的には単なる座標系のとり
方であり、どちらの座標系をとるかは任意である。
When the detector 2 is at the position indicated by the two-dot chain line perpendicular to the top plate 40, θ-0, and there is no influence of absorption by the top plate 40. Therefore, there is no need for correction. Although the method of determining θ is different from that in FIG. 8, formally it is simply a method of determining the coordinate system, and which coordinate system is determined is arbitrary.

検出器2が天板の下に入り込みθ≠Oとなると、補正が
必要となり、その補正量はθと共に変る。
When the detector 2 goes under the top plate and θ≠O, correction is required, and the amount of correction changes with θ.

更に、図からも明らかなように、天板の高さhと回転中
心Oと天板中心0.のずれlによっても補正量が変る。
Furthermore, as is clear from the figure, the height h of the top plate, the rotation center O, and the center of the top plate 0. The amount of correction also changes depending on the deviation l.

その補正すべき範囲と大きさを次に示す。The range and size to be corrected are shown below.

先ず、補正の必要な範囲、即ち天板の影になる有効視野
の領域は、説明をわかりやすくするため、天板の厚さ方
向の中心線上で考えると、l)1からP2の範囲であり
、天板の幅をW (mm) 、検出器の回転角度をθと
すると、Wsin θとなる。これは、吸収の影響がで
る範囲の絶対値であり、実際の範囲は、P、とP2の位
置を求めればよい。そこで9、天板の高さh(mu)、
天板中心O0と回転中心OとのずれをJ(mm+)とす
ると、P、、P2は次式で示せる。
First, the range that requires correction, that is, the area of the effective field of view that is in the shadow of the top plate, is the range from l) 1 to P2 when considered on the center line in the thickness direction of the top plate, to make the explanation easier to understand. , the width of the top plate is W (mm), and the rotation angle of the detector is θ, then Wsin θ is obtained. This is the absolute value of the range affected by absorption, and the actual range can be determined by finding the positions of P and P2. Therefore, 9. The height of the top plate h (mu),
If the deviation between the top plate center O0 and the rotation center O is J (mm+), P, , P2 can be expressed by the following equation.

pl −h’−ff’→W′ =hcos  θ−#sin  θ+    sin 
 θ−(1)Pz  =h  ’−e  ’  −w’
−hcos  θ−fsin  θ−−5inθ  ・
f2)ここで、座標軸(PI  pz方向)はC0を中
心とし、P、側をト、p2側を−とした。C+、Czは
ずれeの投影位置である。
pl -h'-ff'→W' = hcos θ-#sin θ+ sin
θ-(1)Pz =h'-e'-w'
-hcos θ-fsin θ--5inθ ・
f2) Here, the coordinate axis (PI pz direction) is centered on C0, the P side is t, and the p2 side is -. C+ and Cz are the projection positions of the deviation e.

(1)、 f21式による結論は以下となる。(1), the conclusion based on the f21 formula is as follows.

(イ)  (W/ 2 ) sin θは、hとlの影
響の受けない値であって、且つ回転角度θのみに依存す
る値である。W s i n θが補正を必要とする範
囲の絶対値である。
(a) (W/2) sin θ is a value that is not affected by h and l, and is a value that depends only on the rotation angle θ. W sin θ is the absolute value of the range that requires correction.

(ロ)  hcosθ−/sin θは、回転角度θ及
びhと2の影響を受ける。従って、補正データテーブル
に対するアドレスシフト量としてh cos θ−1s
:n θを与えれば、h、  xの影響のない補正デー
タを得ることができる。これが本実施例の基本的な考え
方である。但し、このシフト量は、h、l、  θの関
数ではあるが、シフト時にはθは定まっており、従って
り、lをパラメータとしてのみシフト量を決定すればよ
い。シフトはアドレスそのもの、データそのもののいず
れもよい。
(b) hcos θ−/sin θ is influenced by the rotation angle θ and h and 2. Therefore, as the address shift amount for the correction data table, h cos θ−1s
:n θ, it is possible to obtain correction data that is not affected by h and x. This is the basic idea of this embodiment. However, although this shift amount is a function of h, l, and θ, θ is fixed at the time of the shift, so it is only necessary to determine the shift amount using l as a parameter. The shift may be either the address itself or the data itself.

第3図は、その−例を示した。角度θで(イ)の左図の
如きテーブルとし、今、左側方向のシフト11s=hc
os θ−j2sin θが計算されたとすると、(イ
)の右側に示す如くそのシフト量sだけアドレスシフト
する。
FIG. 3 shows an example of this. Set the table as shown in the left figure of (A) at the angle θ, and now shift to the left 11s = hc
If os θ-j2sin θ is calculated, the address is shifted by the shift amount s as shown on the right side of (a).

第3図([1)は第9図のテーブルに対するシフトの例
であり、左側がh=0.1=0の場合でシフトなしの例
、右側がS=1の場合で1列分左シフト例を示す。この
例によれば、1列分のデータが左側にシフトし、例えば
座標(1,1)は、本来のデータIFではなく、シフト
前座標(1,2)のデータ「7」となる。また、座標(
1,3)は本来のデータ「IO」ではなく、シフト前座
標(1,4)のデータIFとなる。
Figure 3 ([1) is an example of a shift for the table in Figure 9. The left side is an example of no shift when h = 0.1 = 0, and the right side is an example of a shift to the left by one column when S = 1. Give an example. According to this example, one column of data is shifted to the left, and, for example, the coordinates (1, 1) become data "7" at the pre-shift coordinates (1, 2) instead of the original data IF. Also, the coordinates (
1, 3) is not the original data "IO" but the data IF at the coordinates (1, 4) before shifting.

次に回路18の補正データテーブル(第7図に示したテ
ーブルのこと)の作成方法を述べる。先ず、理論的に設
定する場合は、天板の厚さt(m)、天板の材質に依頼
するγ線吸収係数μ(m*−’)とすると、補正データ
Cは下記となる。
Next, a method of creating a correction data table (the table shown in FIG. 7) for the circuit 18 will be described. First, when setting theoretically, the correction data C is as follows, assuming that the thickness of the top plate is t (m) and the γ-ray absorption coefficient μ (m*-') depends on the material of the top plate.

C=1/exp  (it t /sinθ’)   
     −(3)ここで、μはγ線のエネルギー(K
eV)によっても変る。
C=1/exp (it t /sinθ')
-(3) Here, μ is the energy of γ-ray (K
eV).

尚、天板の材質が複数であったり、μが不明の場合には
、前述の如きフラットソーステーブルを利用して実測し
、テーブルを作成すればよい。
Incidentally, if the top plate is made of a plurality of materials or if μ is unknown, the table may be created by actually measuring using a flat source table as described above.

補正データのり、lによる修正のための本発明の詳細実
施例を第4図に示す。天板吸収補正回路14は、比較回
路14A、減算回路14B、補正メモリ14C,14D
、補正制御回路14Eより戒る。メモリ7はメモリ回路
7A、加算回路7Bより成る。
A detailed embodiment of the present invention for correction using correction data is shown in FIG. The top plate absorption correction circuit 14 includes a comparison circuit 14A, a subtraction circuit 14B, and correction memories 14C and 14D.
, the correction control circuit 14E warns. The memory 7 consists of a memory circuit 7A and an adder circuit 7B.

スタンド及びヘッド!11111回路9からCPtJ1
2は、回転角度θを受けとり、吸収補正テーブル18か
ら回転角度θ対応の補正データテーブルを読取る。
Stand and head! 11111 circuit 9 to CPtJ1
2 receives the rotation angle θ and reads a correction data table corresponding to the rotation angle θ from the absorption correction table 18.

この回転角度θ対応の補正データテーブルは、補正メモ
リ14C,14Dに同時に格納する。このメモリ14C
,14D及びメモリ回路7Aは同一容量であり、(X、
Y)で同一アドレス付けされている。
This correction data table corresponding to the rotation angle θ is stored simultaneously in the correction memories 14C and 14D. This memory 14C
, 14D and the memory circuit 7A have the same capacity, (X,
Y) and are given the same address.

一方、スタンド及びヘッド制御回路9はり、  1を検
出し、CPU12はこれを読取る。
On the other hand, the stand and head control circuit 9 detects 1, and the CPU 12 reads this.

h、zが当初の規準位置に比べて変化なければ、補正デ
ータテーブルの修正は行わない。h、1に変化があれば
、CPU12はシフト量(h cos θ−1sin 
θ)を計算し、これによって補正データテーブルを修正
する。
If h and z do not change compared to the original reference position, the correction data table is not corrected. If there is a change in h, 1, the CPU 12 changes the shift amount (h cos θ-1 sin
θ) and modify the correction data table accordingly.

具体的な動作を説明する。Describe specific operations.

(イ)メモリ回路7A内への加算処理について。(a) Regarding addition processing into the memory circuit 7A.

任意の座標(X、Y)にγ線の生起があると、その座標
(X、Y)は、位置信号として入力し、メモリ回路7A
のアドレス(X、  Y)をアクセスし、格納値を読出
す。この格納値とは、それまでのアドレス(X、Y)で
の加算値である。
When γ-rays occur at arbitrary coordinates (X, Y), the coordinates (X, Y) are input as a position signal and stored in the memory circuit 7A.
accesses the address (X, Y) of and reads the stored value. This stored value is the added value at the address (X, Y) up to that point.

格納値をMとすると、この格納値Mは加算回路7Bに送
られ+1加算され、(M+1)となる。
Assuming that the stored value is M, this stored value M is sent to the adder circuit 7B and added by +1, resulting in (M+1).

この(M+1)は再びメモリ回路7Aの(XY)に戻さ
れる。以下、同様に(X、Y)の位置信号が入力する毎
に(X、Y)座標の格納値が+1ずつ加算される。かく
して、メモリ回路7Aには、座標毎のγ線の生起回数が
計数値として格納されることになる。
This (M+1) is again returned to (XY) of the memory circuit 7A. Thereafter, similarly, each time a position signal of (X, Y) is input, the stored value of the (X, Y) coordinate is incremented by +1. Thus, the number of occurrences of gamma rays for each coordinate is stored in the memory circuit 7A as a count value.

かかる動作は従来と変りない。This operation is the same as before.

(0)補正処理について。(0) Regarding correction processing.

回転角度θを読込んだCPU12は、この回転角度θ対
応の補正データテーブルを吸収補正テーブル回路18か
ら読取る。CPU12は、この補正データテーブルを補
正メモリ14C,14Dに送る。
Having read the rotation angle θ, the CPU 12 reads a correction data table corresponding to the rotation angle θ from the absorption correction table circuit 18. The CPU 12 sends this correction data table to the correction memories 14C and 14D.

補正メモリ14Cは補正用に直接に使用し、補正メモリ
140はこの補正メモリ14cの初期値設定用に使用す
る。
The correction memory 14C is used directly for correction, and the correction memory 140 is used for setting the initial value of this correction memory 14c.

先ず、位置(X、Y)が入力すると、補正メモリ14C
の(X、 Y)をアクセスする。補正メモリ14Cの(
X、Y)には、補正データが入っており、これを読出す
。この補正データは、位置(X、 Y)での補正データ
であり、TFであれば補正不要:IFでなければその回
数分計側毎にメモリ回路7A内の格納白値に+1の加算
を行う。(X、Y)が何回人力したかの回数計算を行う
のが減算回路14Bであり、(X、Y)1個人力毎に(
X、Y)位置のメモリ14Gの内容を読出し、−1の減
算を行い、その減算結果を比較回路14Aに送ると共に
、再びメモリ14Cの(X、 Y)位置に戻す。
First, when the position (X, Y) is input, the correction memory 14C
Access (X, Y) of Correction memory 14C (
X, Y) contains correction data, which is read out. This correction data is correction data at the position (X, Y), and if it is TF, no correction is required; if it is not IF, +1 is added to the white value stored in the memory circuit 7A for each count. . The subtraction circuit 14B calculates the number of times (X, Y) is manually applied, and for each (X, Y) 1 personal effort, (
The contents of the memory 14G at the position (X, Y) are read out, subtracted by -1, and the result of the subtraction is sent to the comparison circuit 14A and returned to the (X, Y) position of the memory 14C.

比較回路14Aでは、減算結果がrOJか否かを判定し
、「0」でなければ出力は出さず、「0」であれば、そ
の旨を示す信号14aを出す。
The comparator circuit 14A determines whether the subtraction result is rOJ or not, and if it is not "0", it does not output an output, and if it is "0", it outputs a signal 14a indicating that.

この信号14aを受けて補正制御回路14Eは、補正用
の+1加算指令14eを出し、(X、 Y)位置でのメ
モリ回路7への格納値を+1加算する。
Upon receiving this signal 14a, the correction control circuit 14E issues a +1 addition command 14e for correction, and adds +1 to the value stored in the memory circuit 7 at the (X, Y) position.

この+1加算が補正処理である。This +1 addition is a correction process.

尚、この補正位置(X、Y)では、(イ)で述べたよう
に本来の+1加算を行う故に、補正処理(+1加算)と
併せて「+2」の加算が行わされたことになる。
Note that at this correction position (X, Y), since the original +1 addition is performed as described in (A), an addition of "+2" is performed in conjunction with the correction process (+1 addition).

一方、補正データがTFであれば、減算回路14Bによ
る減算は行わず、比較回路14Aでの比較結果も補正不
要を示す。
On the other hand, if the correction data is TF, no subtraction is performed by the subtraction circuit 14B, and the comparison result by the comparison circuit 14A also indicates that correction is not necessary.

減算回路14Bの減算結果はメモリ14Cの(XY)位
置に戻すが、これにより、それまでの(X、Y)位置で
のT線の生起回数がわかり、次の(X、 Y)でのT線
の生起の減算対象として使う。しかし、減算結果がrO
Jであれば、その時点で補正処理が行われるため、次回
からは、再び初期値を設定しなおす必要がある。このた
めに補正メモリ14Dを設けておき、減算結果がrOJ
となった場合、これを補正制御回路14Eが検出し、補
正メモリ14Dの(X、Y)の補正データを補正メモリ
14cの(X、 Y)位置に格納する。そして、次回か
らの補正処理にそなえる。
The subtraction result of the subtraction circuit 14B is returned to the (XY) position in the memory 14C, which allows the number of occurrences of the T line at the (X, Y) position up to that point to be determined and the T line at the next (X, Y) position to be determined. Used as a subtraction target for line occurrences. However, the subtraction result is rO
If it is J, the correction process will be performed at that point, so the initial value will need to be set again from the next time onwards. For this purpose, a correction memory 14D is provided, and the subtraction result is rOJ
If so, the correction control circuit 14E detects this and stores the correction data of (X, Y) in the correction memory 14D in the (X, Y) position of the correction memory 14c. Then, it is ready for the next correction process.

(ハ)補正データの修正処理について。(c) Regarding correction data correction processing.

CPU12は、θ、h、lを読みとり、h≠0゜l≠O
との条件でシフト量5=hcos θ−1sinθを計
算する。そこで、角度θの補正データテーブルに対して
シフト量Sによってソフトを行う。シフト結果は第3図
で説明した通りである。
The CPU 12 reads θ, h, and l, and finds that h≠0゜l≠O
The shift amount 5=h cos θ−1 sin θ is calculated under the condition. Therefore, software is applied to the correction data table for the angle θ using the shift amount S. The shift result is as explained in FIG.

このシフト結果をCPU12は、補正メモリ14C,1
4Dに書込む。これ以後の処理は(+])で述べた補正
処理に従う。
The CPU 12 stores this shift result in the correction memories 14C and 1.
Write to 4D. The subsequent processing follows the correction processing described in (+]).

以上(A)、 (II)、 (A)の処理は別々に述べ
たが、便宜のためであり、R1分布収集をしながら、同
時に補正を行う本実施例では加算処理、補正処理は、1
つの(X、Y)位置入力に対して、同時並行して行って
ゆくものであり、修正処理は、θ。
Although the processes (A), (II), and (A) have been described separately above, this is for convenience; in this embodiment, in which correction is performed simultaneously while collecting the R1 distribution, the addition process and the correction process are
The correction process is performed simultaneously and in parallel for two (X, Y) position inputs, and the correction process is performed at θ.

h、lが変わる毎に行う。また(0)の補正処理をソフ
トウェアによってデータ収集後に一括して補正をかける
ことも可能である。
Do this every time h and l change. It is also possible to perform the correction process (0) all at once by software after data collection.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、天板の高さり、ずれ量lによって補正
データテーブルのシフト量が決定でき、正しい補正が可
能となる。
According to the present invention, the amount of shift of the correction data table can be determined based on the height of the top plate and the amount of deviation l, making it possible to perform correct correction.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のT線断層装置の実施例図、第2図は本
発明の補正データの修正処理の原理説明図、第3図は本
実施例でのシフト例を示す図、第4図は本発明の補正処
理及び修正処理のための実施例図、第5図は従来のT線
断層装置を示す図、第6図は従来の補正の説明図、第7
図は従来での補正データテーブルを示す図、第8図(イ
) 、 (0)は従来での補正データと回転位置との関
係を示す図、第9図は補正データテーブルの具体例であ
る。 14・・・天板吸収補正回路、18・・・吸収補正テー
ブル回路、40・・・天板。
FIG. 1 is an embodiment of the T-ray tomography apparatus of the present invention, FIG. 2 is a diagram explaining the principle of correction data correction processing of the present invention, FIG. 3 is a diagram showing an example of shift in this embodiment, and FIG. 5 is a diagram showing a conventional T-ray tomography apparatus, FIG. 6 is an explanatory diagram of conventional correction, and FIG.
The figure shows a conventional correction data table, Figures 8 (A) and (0) show the relationship between conventional correction data and rotational position, and Figure 9 is a specific example of a correction data table. . 14... Top plate absorption correction circuit, 18... Absorption correction table circuit, 40... Top plate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、被検体を搭載すると共に、上下左右に移動可能な天
板と、 被検体及び天板の周囲を回転しながら被検体から放射さ
れるγ線を検出する平面形γ線検出器と、 各回転位置毎の上記天板による吸収値を補正データとし
て記憶するデータテーブルと、 上記天板の高され、回転中心のずれ量lを検出し、修正
シフト量を算出する手段と、 この修正シフト量によって上記補正データテーブルのデ
ータ又はアドレスをシフトする手段と、 このシフトされた補正データテーブルに従って、位置毎
のγ線検出器で検出により得られた計測値を補正する手
段と この補正結果のデータにより像再構成を行う手段と、 より成るシングルホトンエミッション断層装置。
[Scope of Claims] 1. A top plate on which a subject is mounted and is movable vertically and horizontally, and a planar γ that detects γ-rays emitted from the subject while rotating around the subject and the top plate. a line detector; a data table for storing the absorption value by the top plate for each rotational position as correction data; and means for detecting the height of the top plate and the deviation l of the center of rotation, and calculating a corrected shift amount. a means for shifting the data or address of the correction data table according to the correction shift amount; and a means for correcting the measured value obtained by detection by the gamma ray detector for each position according to the shifted correction data table. A single photon emission tomography apparatus comprising: means for reconstructing an image using the data of the correction results;
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007333512A (en) * 2006-06-14 2007-12-27 Shimadzu Corp Nuclear medicine diagnosis device, and absorption correction method of emission data
JP2010279602A (en) * 2009-06-05 2010-12-16 Toshiba Corp Particle radiation therapy apparatus
JP2012518784A (en) * 2009-02-25 2012-08-16 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ MR coil attenuation correction in hybrid PET / MR system

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