JPH0350678A - Design circuit analyzing device - Google Patents

Design circuit analyzing device

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Publication number
JPH0350678A
JPH0350678A JP1186705A JP18670589A JPH0350678A JP H0350678 A JPH0350678 A JP H0350678A JP 1186705 A JP1186705 A JP 1186705A JP 18670589 A JP18670589 A JP 18670589A JP H0350678 A JPH0350678 A JP H0350678A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analysis
storage device
circuit connection
circuit
information storage
Prior art date
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Pending
Application number
JP1186705A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Jun Ito
潤 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1186705A priority Critical patent/JPH0350678A/en
Publication of JPH0350678A publication Critical patent/JPH0350678A/en
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Abstract

PURPOSE:To realize the improvement of the quality of circuit design and the uniformalization of the quality by providing a substitute parts information storing mechanism in a parts information storage device. CONSTITUTION:While referring to parts information stored in a parts information storage device 5, the analysis of the adaptability, etc., of a using rule or how to use, etc., is executed in respect of design information stored in an analyzing result storage device 7. When a using rule violation or misuse, etc., is found, the information of this purport is outputted to a control terminal 2, a magnetic disk device 3 and a magnetic tape device 4, etc., and simultaneously, a definite improving method is outputted in addion after substitute parts information stored in the substitute parts information storing mechanism 6 is retrieved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、設計回路解析装置に関し、特に、セミカスタ
ムLSIの設計時に使用される設計回路解析装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a designed circuit analysis device, and particularly to a designed circuit analysis device used when designing a semi-custom LSI.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の回路解析装置は、第3図に一例が示され
るように、回路接続解析機構14、制御端末15.磁気
ディスク装置16、磁気テープ装置17、部品情報記憶
装置18および解析結果記憶装置19を備えて構成され
ており、予め作成されている設計回路の回路接続情報は
、制御l端末15または磁気記憶装置(磁気ディスク装
置16および磁気テープ装置17)を介して回路接続解
析機構14に入力されており、当該情報は、回路接続解
析機構14により、部品名、入力接続数などの情報に分
析された後、分析情報として解析結果記憶装置19に送
られる1次いで前記分析情報と、部品情報記憶装置18
に格納されている部品情報とが併用されて、使用部品の
使用規則を参照しながら、当該部品の使用規則との合否
および回路設計上の誤謬等を含む情報が、回路設計者に
対して提供される。
Conventionally, this type of circuit analysis apparatus includes a circuit connection analysis mechanism 14, a control terminal 15 . It is configured with a magnetic disk device 16, a magnetic tape device 17, a component information storage device 18, and an analysis result storage device 19, and the circuit connection information of the designed circuit created in advance is stored in the control terminal 15 or the magnetic storage device. (Magnetic disk device 16 and magnetic tape device 17) is input to the circuit connection analysis mechanism 14, and the information is analyzed by the circuit connection analysis mechanism 14 into information such as component names and the number of input connections. , the analysis information sent to the analysis result storage device 19 as analysis information, and the parts information storage device 18
When used in conjunction with component information stored in be done.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の設計回路解析装置においては、装置自体
から提供される解析情報は、単に、部品の使用規則との
合否、ならびに使用法の誤りについての指摘を与える機
能を有するのみで、当該情報提供後における設計変更等
の処置については、設計者自身が保有している設計上の
ノウハウ、または判断に委ねられているため、回路設計
に対応する解決方法が、必ずしも適切でない場合が介在
しており、回路設計が設計者の設計経験に著しく左右さ
れるという欠点がある。
In the conventional design circuit analysis device described above, the analysis information provided by the device itself merely has the function of indicating compliance with the usage rules of parts and pointing out errors in usage. Later measures such as design changes are left to the designer's own design know-how or judgment, so there are cases where the solution method for the circuit design is not necessarily appropriate. However, the drawback is that the circuit design is significantly dependent on the design experience of the designer.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の設計回路解析装置は、所定の回路解析結果に基
づいて、使用部品の合否および回路設計上の誤謬等に関
する情報を設計者に提供する回路接続解析機構と、前記
解析結果を格納する少なくとも一つ以上の解析結果記憶
装置と、前記回路接続解析機構による解析時に参照され
る部品情報を格納しておく部品情報記憶装置と、を備え
、前記部品情報記憶装置内に、使用部品の使用規則に基
づく設計上の改善方法等に関する情報を提供するために
参照される代替部品情報を格納する少なくとも一つ以上
の代替部品情報記憶a!Imを含んで構成される。
The designed circuit analysis apparatus of the present invention includes a circuit connection analysis mechanism that provides a designer with information regarding the acceptance or failure of used components and errors in circuit design based on predetermined circuit analysis results, and at least one circuit connection analysis mechanism that stores the analysis results. The component information storage device includes one or more analysis result storage devices and a component information storage device that stores component information referred to during analysis by the circuit connection analysis mechanism, and the component information storage device stores usage rules for used components. At least one or more alternative parts information storage a! that stores alternative parts information referred to in order to provide information regarding design improvement methods based on etc. It is composed of Im.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は、本発明の第1の実施例のブロック図である。第1図
に示されるように、本実施例は、回路接続解析機構1と
、制御端末2と、磁気ディスク装置3と、磁気テープ装
置4と、部品情報記憶装置5と、代替部品情報記憶装置
6と、解析結果記憶装置7と、を備えて構成される。
Next, the present invention will be explained with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the invention. As shown in FIG. 1, this embodiment includes a circuit connection analysis mechanism 1, a control terminal 2, a magnetic disk device 3, a magnetic tape device 4, a component information storage device 5, and an alternative component information storage device. 6 and an analysis result storage device 7.

第1図において、被解析回路に関する回路情報は、予め
回路接続情報として制御端末2/磁気デイスク装置3/
磁気テープ装置4等を介して、回路接続解析機構1に入
力される。回路接続解析機構1の内部においては、所定
の回路解析作業が実施され、その解析結果は1部品名、
入力接続、出力接続などの設計情報として、解析結果記
憶装置7に格納される。
In FIG. 1, circuit information regarding the circuit to be analyzed is stored in advance as circuit connection information at the control terminal 2/magnetic disk device 3/
The data is input to the circuit connection analysis mechanism 1 via the magnetic tape device 4 or the like. Inside the circuit connection analysis mechanism 1, predetermined circuit analysis work is carried out, and the analysis results are divided into one part name,
The analysis results are stored in the analysis result storage device 7 as design information such as input connections and output connections.

次いで、部品情報記憶装置5に格納されている部品情報
を参照しながら、解析結果記憶装置7に格納された設計
情報について、使用規則または用法等についての適合性
等に関する解析が実行される。この場合において、使用
規則違反、または誤用等が発見された時には、その旨の
情報は、制御端末2/磁気デイスク装置3/磁気テープ
装置4等に対して出力されるとともに、代替部品情報記
憶機構6に格納されている代替部品情報が検索された後
に、当該規則違反/誤用等に対する具体的な改善方法が
、併せて、制御端末2/磁気デイスク装置3/磁気テー
プ装置4等に対して出力される。
Next, while referring to the component information stored in the component information storage device 5, the design information stored in the analysis result storage device 7 is analyzed regarding suitability with respect to usage rules or usage. In this case, when a violation of usage rules or misuse is discovered, information to that effect is output to the control terminal 2/magnetic disk device 3/magnetic tape device 4, etc., and the alternative parts information storage mechanism After the replacement parts information stored in 6 is searched, specific improvement methods for the violation of the rules/misuse, etc. are also output to the control terminal 2/magnetic disk device 3/magnetic tape device 4, etc. be done.

第2図は、本発明の第2の実施例のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a second embodiment of the invention.

第2図に示されるように、本実施例は、回路接続解析機
構8と1回路接続情報作成機構つと、制御端末10と、
部品情報記憶装置11と、代替部品情報記憶装置12と
、解析結果記憶装置13と、を備えて構成される。
As shown in FIG. 2, this embodiment includes a circuit connection analysis mechanism 8, a circuit connection information creation mechanism, a control terminal 10,
It is configured to include a parts information storage device 11, an alternative parts information storage device 12, and an analysis result storage device 13.

本実施例においては、予め磁気ディスク等により入力さ
れていた所定の回路接続情報は、回路接続情報作成機構
9と回路接続解析機構8とを直結することにより、直接
回路接続解析機構8に入力される。回路接続解析機構8
においては、所定の回路解析が随時打われて、その解析
結果は、回路接続情報作成機構9に戻され、制御端末1
0に送られて表示される。
In this embodiment, predetermined circuit connection information that has been input in advance via a magnetic disk or the like is directly input to the circuit connection analysis mechanism 8 by directly connecting the circuit connection information creation mechanism 9 and the circuit connection analysis mechanism 8. Ru. Circuit connection analysis mechanism 8
, a predetermined circuit analysis is performed at any time, and the analysis results are returned to the circuit connection information creation mechanism 9 and sent to the control terminal 1.
0 and displayed.

本実施例においては、回路接続情報作成機構9と回路接
続解析機構8とが直結されているため、制御端末10か
ら入力される情報は、回路接続情報作成機構9を介して
回路接続解析機構8に入力させることが可能であるため
、制御端末lOから入力される回路接続情報について、
会話形式により即時的に解析が行われ、当該回路接続情
報の使用規則等との合否、および規則違反の生じた場合
における改善方法等が、瞬時に制御端末10に表示され
るという利点がある。
In this embodiment, since the circuit connection information creation mechanism 9 and the circuit connection analysis mechanism 8 are directly connected, the information input from the control terminal 10 is passed through the circuit connection information creation mechanism 9 to the circuit connection analysis mechanism 8. Since it is possible to input the circuit connection information input from the control terminal IO,
There is an advantage that the analysis is carried out immediately in a conversational format, and the control terminal 10 instantly displays whether the circuit connection information conforms to usage rules, etc., and how to improve it in the event of a violation of the rules.

なお、回路接続解析機構8の機能に対応する部高情報記
憶装置11、代替部品情報記憶機構12および解析結果
記憶装置13の作用については、第1の実施例の場合と
同様である。
The functions of the section height information storage device 11, alternative parts information storage device 12, and analysis result storage device 13, which correspond to the functions of the circuit connection analysis mechanism 8, are the same as in the first embodiment.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、詳細に説明したように、本発明は、部品情報記憶
装置内に、代替部品情報記憶機構を設けることにより、
単に部品の使用規則との合否等を指摘するだけでなく、
代替案として、使用部品に関する具体的な改善方法を提
供することが可能となるため、回路設計の品質の向りな
らびに品質の均一化を図ることができるという効果があ
る。
As described above in detail, the present invention provides an alternative parts information storage mechanism in the parts information storage device,
We do not just point out whether the parts comply with the rules for use, etc.
As an alternative, it is possible to provide a specific method for improving the parts used, which has the effect of improving the quality of circuit design and making the quality uniform.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は、それぞれ本発明の第1および第
2の実施例のブロック図、第3図は従来例のブロック図
である。 図において、1,8.14・・・・・・回路接続解析機
構、2.10.15・・・・・・制御端末、3,16・
・−・・・磁気ディスク装置、4.17・・・・・・磁
気テープ装置、5゜11、18・・・・・・部品情報記
憶装置、6,12・・・・・・代替部品情報記憶機構、 7゜ 13゜ I9・・・−・・解析結果記憶袋 置。
1 and 2 are block diagrams of first and second embodiments of the present invention, respectively, and FIG. 3 is a block diagram of a conventional example. In the figure, 1, 8.14... circuit connection analysis mechanism, 2.10.15... control terminal, 3, 16...
...Magnetic disk device, 4.17...Magnetic tape device, 5゜11, 18...Parts information storage device, 6,12...Alternative parts information Storage mechanism, 7゜13゜I9...--Analysis result storage bag.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 所定の回路解析結果に基づいて、使用部品の合否および
回路設計上の誤謬等に関する情報を設計者に提供する回
路接続解析機構と、 前記解析結果を格納する少なくとも一つ以上の解析結果
記憶装置と、 前記回路接続解析機構による解析時に参照される部品情
報を格納しておく部品情報記憶装置と、を備え、 前記部品情報記憶装置内に、使用部品の使用規則に基づ
く設計上の改善方法等に関する情報を提供するために参
照される代替部品情報を格納する少なくとも一つ以上の
代替部品情報記憶機構を含むことを特徴とする回路設計
解析装置。
[Scope of Claims] A circuit connection analysis mechanism that provides a designer with information regarding the acceptance or failure of parts used, errors in circuit design, etc. based on predetermined circuit analysis results; and at least one or more circuit connection analysis mechanisms that store the analysis results. an analysis result storage device; and a component information storage device for storing component information referred to during analysis by the circuit connection analysis mechanism, and a component information storage device that stores design information based on usage rules for the components used. A circuit design analysis device comprising at least one alternative component information storage mechanism that stores alternative component information that is referred to in order to provide information regarding the above improvement method, etc.
JP1186705A 1989-07-18 1989-07-18 Design circuit analyzing device Pending JPH0350678A (en)

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