JPH03285187A - Measuring device of resistance to disturbance - Google Patents

Measuring device of resistance to disturbance

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JPH03285187A
JPH03285187A JP2082968A JP8296890A JPH03285187A JP H03285187 A JPH03285187 A JP H03285187A JP 2082968 A JP2082968 A JP 2082968A JP 8296890 A JP8296890 A JP 8296890A JP H03285187 A JPH03285187 A JP H03285187A
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interference
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unnecessary
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Abstract

PURPOSE:To improve the operating efficiency and operability of measurement by detecting beforehand only the frequency of generation of a beat disturbance caused by an RF system, by using an unnecessary signal in a state of being interrupted from amplitude modulation. CONSTITUTION:A desired signal (a) from a desired signal oscillator 2 is inputted to a terminal ANT of an apparatus 1 to be tested. Besides, the low frequency component of an amplitude-modulated output signal of an unnecessary signal generating circuit 21 is removed by a high-pass filter 9 and the signal thus processed is inputted as an unnecessary signal (b) to the apparatus 1. Meanwhile, an output signal of a circuit 10a out of pseudo-load circuits 10a and 10b connected to the right and left audio output terminals of the apparatus respectively is inputted to an AF voltmeter 23. An AC output signal of an amplifier 23b is impressed on an oscilloscope 13 and a DC output signal of a detector 23C is impressed on an input terminal of a disturbance wave analyzer 22. The analyzer 22 subjects the execution value of an output signal of the voltmeter 23 to dB display in synchronization with the frequency outputted from the circuit 21. In the analyzer 22, measurement can be executed in the range of 30 to 40 dB without changing over a measuring range of the voltmeter 23.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は放送受信機(チューナ)やメインアンプ等の電
子機器における外部から入力された妨害信号に対する排
除能力を示す妨害耐性を測定する妨害耐性測定装置に関
する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is a method for measuring interference resistance, which indicates the ability to eliminate externally input interference signals in electronic devices such as broadcast receivers (tuners) and main amplifiers. Concerning a measuring device.

[従来の技術] 一般に、放送受信機及び関連機器の妨害耐性試験は例え
ばDIN(西独工業規格)・VDE 0872第20部
の規定に基づいて実施される。そして、前記妨害耐性は
、同規格によると、供試機器に規定レベルの妨害信号を
印加したときに、供試機器が規定された要求事項を満足
する事であり、具体的には供試機器のオーディオ出力信
号のS/Nで規定される。
[Prior Art] Generally, interference immunity tests of broadcast receivers and related equipment are carried out based on, for example, the provisions of DIN (Western German Industrial Standard)/VDE 0872 Part 20. According to the same standard, the interference resistance means that the device under test satisfies the specified requirements when a specified level of interference signal is applied to the device under test. It is defined by the S/N ratio of the audio output signal.

なお、妨害信号は無線放送受信を阻害するか誤動作を発
生させる可能性のある高周波信号であり、不要信号はこ
の妨害信号を模擬するRF(高周波)信号をいう。
Note that the interference signal is a high frequency signal that may interfere with radio broadcast reception or cause malfunction, and the unnecessary signal is an RF (high frequency) signal that simulates this interference signal.

そして、妨害耐性とは、妨害波の流入経路に応じて、入
力妨害耐性、伝導電圧に対する妨害耐性。
And, the interference resistance includes input interference resistance and interference resistance against conducted voltage, depending on the inflow path of interference waves.

導入電流に対する妨害耐性及び入射妨害耐性と規定され
ているが、説明を簡単にするために、以下、伝導電圧に
対する妨害耐性についての説明をVHF−バンド■受信
機(FM受信機)を例に説明する。なお、伝導電圧に対
する妨害耐性とは、オーティオ入力端子、電源接続端子
およびオーディオ出力端子における不要電圧に対する排
除能力である。また、妨害信号を模擬する高周波信号を
不要信号という。
Although it is defined as interference immunity against incoming current and resistance against incident interference, in order to simplify the explanation, the interference immunity against conducted voltage will be explained below using a VHF-band ■ receiver (FM receiver) as an example. do. Note that the interference resistance against conducted voltage is the ability to eliminate unnecessary voltages at the audio input terminal, power supply connection terminal, and audio output terminal. Furthermore, a high frequency signal that simulates an interference signal is called an unnecessary signal.

第5図は供試機器としてFM受信機を用いて、二の供試
機器の妨害耐性を測定する妨害耐性測定装置の概略構成
を示すブロック図である。供試機器lのアンテナ端子A
NTには希望信号発振器2から出力される希望信号aか
インピータンス変換器3を介して人力される。この希望
信号発振器2にはステレオ変調器4から変調信号が入力
される。
FIG. 5 is a block diagram showing a schematic configuration of a disturbance resistance measuring device for measuring the interference resistance of the second equipment under test using an FM receiver as the equipment under test. Antenna terminal A of equipment under test
The desired signal a output from the desired signal oscillator 2 is input to the NT via the impedance converter 3. A modulated signal is input to this desired signal oscillator 2 from a stereo modulator 4 .

そして、この希望信号発振器2から出力される希望信号
aは[表1コに示すように規定されたF M変調12号
である。
The desired signal a outputted from the desired signal oscillator 2 is FM modulated No. 12 defined as shown in Table 1.

また、供試機器1の電源端子PWには、擬似電源回路5
を介して商用交流電源6から交流電源か供給される。そ
して、この擬似電源回路5には、商用交流電源6の他に
、不要信号発生回路7からRF増幅器8およびバイパス
フィルタ9を介して、不要信号すが印加される。したか
って、擬似電源回路5から供試機器1へ供給される交流
電源には前記不要信号すが重畳する。そして、この不要
信号すは1kHzの変調周波数、80%の変調度を有し
たAM変調信号であり、その搬送周波数は0.15〜1
5(IM)Izの広い周波数範囲に亘って掃引可能であ
る。そして、各周波数における信号レベルdB(μV)
は、流入妨害耐性の限度値として、[表2コに示すよう
に設定されている。
In addition, a pseudo power supply circuit 5 is connected to the power supply terminal PW of the equipment under test 1.
AC power is supplied from the commercial AC power supply 6 via the AC power source 6. In addition to the commercial AC power supply 6, unnecessary signals are applied to the pseudo power supply circuit 5 from an unnecessary signal generation circuit 7 via an RF amplifier 8 and a bypass filter 9. Therefore, the unnecessary signal is superimposed on the AC power supplied from the pseudo power supply circuit 5 to the equipment under test 1. This unnecessary signal is an AM modulated signal with a modulation frequency of 1 kHz and a modulation depth of 80%, and its carrier frequency is 0.15 to 1.
It is possible to sweep over a wide frequency range of 5(IM)Iz. And the signal level dB (μV) at each frequency
is set as the limit value of inflow disturbance resistance as shown in Table 2.

なお、表中の直線的低下とは信号レベルを120dBか
ら110dBまで周波数の対数と共に直線的に低下する
ことを示す。
Note that the linear decrease in the table indicates that the signal level decreases linearly with the logarithm of the frequency from 120 dB to 110 dB.

また、供試機器1における左右のオーディオ出力端子に
はそれぞれ擬似負荷回路10a、10bか接続されてい
る。この擬似負荷回路10a。
Furthermore, pseudo load circuits 10a and 10b are connected to the left and right audio output terminals of the device under test 1, respectively. This pseudo load circuit 10a.

10bは例えば供試機器1かF M受信機であれば、各
出力端子にメインアンプか接続され、アンプ内臓のF 
M受信機であれば、スピーカか接続されることを想定し
ており、一般に8Ωの抵抗が用いられる。そして、この
擬似負荷回路10aの出力信号Cがバントパスフィルタ
(BPF)11を介してAF(オーディオ周波数)電圧
計12へ入力される。そして、このAF電圧計12で前
記出力信号Cの電圧レベルか測定される。このAF電圧
計12は入力電圧をdB値で表示する。そして、人力信
号の信号レベルに応じて、測定レンジをレンジ切換器で
もって例えば10dB毎に切換可能に構成されている。
For example, if 10b is the equipment under test 1 or an FM receiver, the main amplifier is connected to each output terminal, and the FM receiver built in the amplifier is connected to the main amplifier.
If it is an M receiver, it is assumed that a speaker will be connected, and an 8Ω resistor is generally used. The output signal C of this pseudo load circuit 10a is input to an AF (audio frequency) voltmeter 12 via a band pass filter (BPF) 11. Then, the AF voltmeter 12 measures the voltage level of the output signal C. This AF voltmeter 12 displays the input voltage in dB values. The measuring range is configured to be switchable, for example, in 10 dB increments using a range switch, depending on the signal level of the human input signal.

さらに、感度調整つまみでもって感度を@調整可能であ
る。また、AF主電圧t12にてM]定される出力信号
Cの波形はオシロスコープ13に表示される。
Furthermore, the sensitivity can be adjusted using the sensitivity adjustment knob. Further, the waveform of the output signal C determined by the AF main voltage t12 is displayed on the oscilloscope 13.

なお、供試機器1.擬似電源回路5.擬似負荷回路1.
0a、10bは外部からの影響を除去するために金属板
15上に設置される。
In addition, test equipment 1. Pseudo power supply circuit 5. Pseudo load circuit 1.
0a and 10b are installed on a metal plate 15 to eliminate external influences.

次に、このように構成された妨害耐性測定装置を用いて
供試機器1の妨害耐性を測定する測定手順を第6図の流
れ図を用いて説明する。
Next, a measurement procedure for measuring the interference resistance of the device under test 1 using the interference resistance measurement apparatus configured as described above will be explained using the flowchart of FIG.

まず、S(ステップ)1にて、[表1]に示した条件の
希望信号aを供試機器1へ印加する。なお、この状態に
おいては、不要信号発生回路7゜RF増幅器8はまだ起
動されていない。そして、S2にて、希望信号aのみを
印加した状態で、供試機器1のオーディオ出力端子から
出力されるオーディオ希望信号の出力レベルが基準レベ
ルである50mWになるように、供試機器1の音量調整
器(ボリューム)を調整する。例えば擬似負荷回路10
a、10bが8Ωの場合は両端に0.63Vの電圧が8
カされればよい。
First, in S (step) 1, a desired signal a under the conditions shown in [Table 1] is applied to the device under test 1. In this state, the unnecessary signal generating circuit 7°RF amplifier 8 has not yet been activated. Then, in S2, with only the desired signal a applied, the output level of the desired audio signal output from the audio output terminal of the device under test 1 becomes 50 mW, which is the reference level. Adjust the volume control (volume). For example, the pseudo load circuit 10
If a and 10b are 8Ω, a voltage of 0.63V across both ends is 8Ω.
It's fine as long as it's done.

次に、S3にて、50mWの出力に設定された状態で、
AF電圧計12の指示レベルをレンジ切換器および感度
調整つまみを用いてOdB (基準)に設定する。S4
にて、アンテナ端子ANTに印加されている希望信号a
をステレオ変調器4を遮断して無変調とすることによっ
てオーディオ希望信号を除去する。
Next, in S3, with the output set to 50mW,
Set the indicated level of the AF voltmeter 12 to OdB (reference) using the range switch and sensitivity adjustment knob. S4
, the desired signal a applied to the antenna terminal ANT
The desired audio signal is removed by cutting off the stereo modulator 4 and leaving it unmodulated.

S5にてAF電圧計12の測定レンジをレンジ切換器を
操作して、S3で設定したOdB (基準レベル)から
−40dB (一般受信機)または−20dB(カーラ
ジオ)に切換える。しかして、S6にて、不要信号発生
回路7およびRF増幅器8を起動して、不要信号すを擬
似電源回路5を介して供試機器1の電源端子PWへ印加
する。なお、不要信号すのレベルは別途配設された図示
しないレベル計で測定される。そして、ε表2]で示し
た限度値に保持して0.15〜150 M)(zの全測
定周波数範囲に亘って掃引する。S7にてAF電圧計1
2の指示レベルが全測定周波数範囲に亘って前記−40
dB (一般受信機)または−26dB(カーラジオ)
を上回らないことを確認する。
In S5, the measurement range of the AF voltmeter 12 is switched from the OdB (reference level) set in S3 to -40 dB (general receiver) or -20 dB (car radio) by operating the range switch. Then, in S6, the unnecessary signal generation circuit 7 and the RF amplifier 8 are activated, and the unnecessary signal is applied to the power supply terminal PW of the device under test 1 via the pseudo power supply circuit 5. Note that the level of the unnecessary signal is measured by a separately provided level meter (not shown). Then, it is held at the limit value shown in εTable 2] and swept over the entire measurement frequency range of 0.15 to 150 M) (z. In S7, the AF voltmeter 1
The indication level of 2 is above -40 over the entire measurement frequency range.
dB (general receiver) or -26dB (car radio)
Make sure that it does not exceed.

妨害の基準はオーディオ希望信号対妨害信号比か40d
B (カーラジオでは26dB)であることから、逆に
AF電圧計12が一40dB (カーラジオでは一26
dB)を指示するように不要信号すの信号レベルを調整
し、全周波数に亘ってAF電圧計12の指示レベルが記
録される。その測定結果の一例を第7図に示す。限度値
以下で、妨害か発生し、この供試機器1は不合格機器と
なる。
The standard for interference is the audio desired signal to interference signal ratio or 40d.
B (26 dB for a car radio), conversely, the AF voltmeter 12 is -40 dB (-26 dB for a car radio).
The signal level of the unnecessary signal is adjusted so as to indicate dB), and the level indicated by the AF voltmeter 12 is recorded over all frequencies. An example of the measurement results is shown in FIG. If the value is below the limit value, interference will occur and the device under test 1 will be rejected.

ところで、F M受信機等の供試機器1において、不要
信号の影響を受けてオーディオ妨害信号が現われる場合
は、第7図に示すように2種類のパターンが存在する。
By the way, when an audio interference signal appears in the equipment under test 1 such as an FM receiver due to the influence of unnecessary signals, there are two types of patterns as shown in FIG.

先ず、第7図(a)の波形に示すように主としてオーデ
ィオアンプ系か不要信号の振幅変調の影響を受けて1k
Hzの妨害が現れる場合であり、この場合に不要信号す
の周波数を上昇させていくと、幅広い周波数領域での妨
害14aが認められる。また、他方のパターンは第7図
(b)の波形に示すように、RF系が不要信号の影響を
受けてビート妨害か現れる場合であり、この場合非常に
狭い周波数領域で線状の妨害14bとして現れる。
First, as shown in the waveform of Fig. 7(a), 1k is mainly affected by the amplitude modulation of the audio amplifier system or unnecessary signals.
This is a case where Hz interference appears, and in this case, when the frequency of the unnecessary signal is increased, interference 14a is recognized in a wide frequency range. The other pattern, as shown in the waveform of Fig. 7(b), is when the RF system is affected by unnecessary signals and beat interference appears, and in this case, linear interference 14b occurs in a very narrow frequency range. appears as

そして、実際の測定に際しては、AF電圧計12にオシ
ロスコープ13を接続し、オシロスコブ]3に現れる第
7図(a)または第7図(b)の波形を観測して、周波
数を横軸にして表記した場合にいずれの妨害14a、1
4bになるかを予測する。
For actual measurement, connect the oscilloscope 13 to the AF voltmeter 12, observe the waveform shown in Figure 7(a) or Figure 7(b) appearing on the oscilloscope 3, and plot the frequency on the horizontal axis. Any interference 14a, 1 if indicated
Predict whether it will be 4b.

ところで、実際に第6図の流れ図に従って測定する場合
には、S6にて、不要信号すの信号レベルを[表2]に
示した限度値より+10dB程度高い値に設定して、掃
引を開始する。そして、周波数を0.15MHzから掃
引開始する。すなわち、第7図の下側の周波数特性にお
ける点線で示す特性か[表2コで示す限度値である。そ
して、この限度値に対して、不要信号すの信号レベルを
実線で示すように10dBたけ高い値に設定している。
By the way, when actually measuring according to the flowchart in Figure 6, the signal level of the unnecessary signal is set to a value approximately +10 dB higher than the limit value shown in [Table 2] in S6, and the sweep is started. . Then, frequency sweep is started from 0.15 MHz. That is, the characteristic shown by the dotted line in the lower frequency characteristic of FIG. 7 is the limit value shown in Table 2. The signal level of the unnecessary signal is set to a value 10 dB higher than this limit value, as shown by the solid line.

なお、この不要信号すの信号レベルを限度値より+10
dB程度高い値に設定のは、規格に対して余裕をもって
測定するためである。
In addition, increase the signal level of this unnecessary signal by +10 from the limit value.
The reason why the value is set to a value approximately dB higher is to allow measurement with margin relative to the standard.

そして、不要信号すの周波数をゆっくり上昇させていっ
て、AF電圧計12の指示レベルが−40dBまたは一
26dBを越えた場合、妨害が発生したと判断して、+
10dB上昇させている不要信号すの信号レベルを、A
F電圧計12の指示レベルか一40dBまたは一26d
Bとなるように設定しなおす。そして、その状態におけ
る不要信号すの信号レベルを該当周波数における妨害発
生レベルとして記録する。
Then, the frequency of the unnecessary signal is slowly increased, and when the indicated level of the AF voltmeter 12 exceeds -40 dB or -26 dB, it is determined that interference has occurred, and +
The signal level of the unnecessary signal, which has been increased by 10 dB, is
The indicated level of F voltmeter 12 is -40dB or -26d.
Reset it so that it becomes B. Then, the signal level of the unnecessary signal in that state is recorded as the interference occurrence level at the corresponding frequency.

このように、不要信号すの信号レベルを限度値より高く
設定して順次周波数を上昇させていって、指示レベルが
変化する毎に不要信号すの信号レベルを設定しなおし、
妨害発生レベルを測定していく。そして、全部の周波数
範囲に亘って測定を終了すると、周波数を横軸に妨害発
生レベルを縦軸に取ると第7図の下側に示す測定結果が
得られる。
In this way, the signal level of the unnecessary signal is set higher than the limit value, the frequency is increased sequentially, and the signal level of the unnecessary signal is reset each time the instruction level changes.
We will measure the level of interference. When the measurement is completed over the entire frequency range, the measurement results shown in the lower part of FIG. 7 are obtained by taking the frequency as the horizontal axis and the interference generation level as the vertical axis.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような測定手順で各周波数における
妨害レベルを操作者がマニアル手法で測定するような妨
害耐性測定装置においてもまだ解消すべき次のような問
題があった。すなわち、操作者はオシロスコープ13に
表示される第7図(a)または第7図(b)の波形を観
察して、妨害か広い周波数範囲で現れるAF系に起因す
る妨害であるのか、非常に狭い周波数範囲で現れるRF
系の妨害であるのかを判断する。AF系に起因する妨害
であると判断すると、その周波数を例えば20(]kH
z毎に前述した手法で妨害発生レベルを測定して第7図
に示す妨害14aを求める。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the following problems still remain to be solved in the interference immunity measuring device in which the operator manually measures the interference level at each frequency using such a measurement procedure. Ta. In other words, the operator observes the waveform shown in FIG. 7(a) or FIG. 7(b) displayed on the oscilloscope 13 and determines whether it is interference or interference caused by the AF system that appears in a wide frequency range. RF that appears in a narrow frequency range
Determine whether it is a system disturbance. If it is determined that the interference is caused by the AF system, the frequency will be set to 20 (] kHz, for example.
The disturbance generation level is measured for each z using the method described above, and the disturbance 14a shown in FIG. 7 is obtained.

方、RF系に起因する妨害であると判断すると、その周
波数近傍で例えば周波数を1kHz毎に移動させて、す
なわち、不要信号すの周波数を微調整して第7図に示す
妨害14bの周波数および妨害発生レベルの最悪値を測
定する必要がある。
On the other hand, if it is determined that the interference is caused by the RF system, the frequency is shifted, for example, by 1 kHz in the vicinity of that frequency, that is, the frequency of the unnecessary signal is finely adjusted, and the frequency of the interference 14b shown in FIG. It is necessary to measure the worst value of the disturbance occurrence level.

このRF系に起因する妨害14bは周波数幅で数10k
)Iz以下で現れ、その周波数を探すには熟練した操作
者による信号の判断と周波数を探す勘か必要である。ま
た、たとえ熟練者と言えども全測定周波数範囲に亘る妨
害発生レベルの測定には長時間を要した。
The interference 14b caused by this RF system has a frequency width of several tens of kilometres.
) It appears below Iz, and searching for that frequency requires a skilled operator's signal judgment and intuition to search for the frequency. Furthermore, even for an expert, it takes a long time to measure the interference generation level over the entire measurement frequency range.

また、これらのAF系に起因する妨害14aとRF系に
起因する妨害14bとを例えば周波数を自動的に掃引し
て妨害発生レベルの自動測定を実施することが考えられ
るが、AF系に起因する妨害とRF系に起因する妨害と
を自動判別するのか困難であるので、RF系に起因する
妨害14bを確実に測定するためには、0.15〜15
0MHzの広い測定範囲内において、妨害14bの最悪
値を検出できる周波数幅である数kHz毎に、不要信号
すの信号レベルを設定しなおしていかなければならない
。したがって、処理時間が膨大な量になり、現実的でな
い。
Furthermore, it is conceivable to automatically measure the interference generation level by automatically sweeping the frequencies of the interference 14a caused by the AF system and the interference 14b caused by the RF system, but Since it is difficult to automatically distinguish between interference and interference caused by the RF system, in order to reliably measure interference 14b caused by the RF system, it is necessary to
Within a wide measurement range of 0 MHz, the signal level of the unnecessary signal must be reset every several kHz, which is the frequency width in which the worst value of the interference 14b can be detected. Therefore, the processing time becomes enormous and is not practical.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
予め振幅変調をオフした状態の不要信号を使用してRF
系に起因するビート妨害の発生周波数を検出することに
より、その特定周波数においては狭い周波数幅をまたそ
の周波数以外に対しては比較的広い周波数毎に妨害発生
レベルを検出していくことができ、処理時間を短縮でき
るので、自動測定が可能となり、測定の作業能率および
操作性を大幅に向上できる妨害耐性測定装置を提供する
ことを目的とする。
The present invention was made in view of these circumstances, and
RF using unnecessary signals with amplitude modulation turned off in advance.
By detecting the frequency of occurrence of beat disturbance caused by the system, it is possible to detect the interference occurrence level for each narrow frequency width at that specific frequency and for each relatively wide frequency other than that frequency. It is an object of the present invention to provide a disturbance resistance measuring device that can shorten processing time, enable automatic measurement, and greatly improve measurement work efficiency and operability.

[課題を解決するための手段〕 上記課題を角7消するために本発明は、オーディオ周波
数(AF)信号で振幅変調された高周波信号を不要信号
として供試機器の一つの入出力端子に印加し、不要信号
の搬送周波数を所定周波数範囲内で掃引しながら、供試
機器のオーディオ出力端子に不要信号に起因して現れる
オーディオ妨害信号のレベルが所定の妨害基準に達する
ときの不要信号の信号レベルを測定する妨害耐性測定装
置において、 供試機器の主としてオーディオアンプ系か不要信号のA
F倍信号よる振幅変調成分に起因する妨害に対応して、
高速で所定周波数範囲を掃引し、オーディオ妨害信号レ
ベルが妨害基準値となSときの不要信号の周波数とレベ
ルとを測定する妨害耐性の高速測定手段と、 不要信号における振幅変調を除去した状態で搬送周波数
を所定周波数範囲で掃引しながら印加して、搬送波成分
に起因して現れるビート妨害の発生周波数を検出する千
fi測定手段と、二の予備測定手段にて得られた各妨害
発生周波数の近傍を不要信号における振幅変調を復帰さ
せた状態で搬送周波数をごく狭い範囲で掃引しながら印
加して、オーディオ妨害信号レベルが妨害基準値となる
ときの不要信号のレベルを測定する信号レベル測定手段
とを備えたものである。
[Means for Solving the Problems] In order to eliminate the above-mentioned problems, the present invention applies a high frequency signal amplitude-modulated with an audio frequency (AF) signal to one input/output terminal of the equipment under test as an unnecessary signal. Then, while sweeping the carrier frequency of the unwanted signal within a predetermined frequency range, the signal of the unwanted signal is detected when the level of the audio interference signal that appears at the audio output terminal of the equipment under test due to the unwanted signal reaches a predetermined interference standard. In a disturbance immunity measuring device that measures the level, the A of the equipment under test is mainly an audio amplifier system or
In response to interference caused by the amplitude modulation component of the F-fold signal,
A high-speed interference resistance measuring means that sweeps a predetermined frequency range at high speed and measures the frequency and level of an unnecessary signal when the audio interference signal level is the interference reference value S, and a state in which amplitude modulation in the unnecessary signal is removed. a 1,000-fi measuring means for applying a carrier frequency while sweeping it in a predetermined frequency range and detecting the frequency at which beat disturbance occurs due to the carrier wave component; Signal level measuring means for measuring the level of the unwanted signal when the audio interference signal level reaches the interference reference value by applying the carrier frequency while sweeping it in a very narrow range while restoring the amplitude modulation of the unwanted signal in the vicinity. It is equipped with the following.

[作用] 前述したように、一般に、AF倍信号振幅変調された不
要信号を供試機器の一つの端子に印加して、供試機器の
オーディオ出力端子に現れるオーディオ妨害信号は、オ
ーデオアンプ系に起因する比較的広い周波数範囲で発生
する妨害と、供試機器のRF系に起因する非常に狭い周
波数範囲で発生するビート妨害との2種類の妨害を有す
る。したがって、この2種類の妨害に対して各周波数に
おける妨害発生レベルを測定する場合には、測定周波数
間隔を非常に狭い周波数範囲で発生するRF系の妨害に
対応した設定にする必要がある。
[Function] As mentioned above, in general, an unnecessary signal amplitude-modulated by the AF multiplied signal is applied to one terminal of the equipment under test, and the audio interference signal appearing at the audio output terminal of the equipment under test is transmitted to the audio amplifier system. There are two types of interference: beat interference, which occurs in a relatively wide frequency range caused by the RF system of the equipment under test, and beat interference, which occurs in a very narrow frequency range caused by the RF system of the equipment under test. Therefore, when measuring the interference generation level at each frequency for these two types of interference, it is necessary to set the measurement frequency interval to correspond to the RF system interference that occurs in a very narrow frequency range.

そこで、不要信号の振幅変調を遮断すれば、前述のとお
り、オーディオ系に起因した広い周波数範囲を有するオ
ーディオ妨害は発生しない。したからで、予備測定で、
RF系に起因するビート妨害の発生周波数のみを検出し
て、検出された周波数の極く狭い近傍の各周波数に対し
てのみ振幅変調を復帰して正規の妨害発生レベルの測定
を実施すれば、RF系に起因する妨害の周波数と妨害発
生レベルを能率的に測定できる。
Therefore, if the amplitude modulation of the unnecessary signal is blocked, as described above, audio interference having a wide frequency range caused by the audio system will not occur. Therefore, in preliminary measurements,
If only the frequency at which beat disturbance caused by the RF system occurs is detected, amplitude modulation is restored only for each frequency in the very narrow vicinity of the detected frequency, and the regular disturbance generation level is measured. The frequency and level of interference caused by the RF system can be efficiently measured.

また、オーディオアンプ系に起因する妨害は広い周波数
範囲で発生するので、前記R系に起因するビート妨害を
考慮に入れずに、測定周波数間隔をある程度広く設定し
、高速で掃引が可能となる。
Further, since interference caused by the audio amplifier system occurs in a wide frequency range, the measurement frequency interval can be set to a certain extent wide without taking into account the beat interference caused by the R system, and high-speed sweeping can be performed.

よって、妨害発生要因の種類に応じて別々測定すること
によりて、全体として測定能率を向上できる。
Therefore, by performing separate measurements depending on the type of disturbance generating factor, the overall measurement efficiency can be improved.

〔実施例コ 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。[Example An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は実施例の妨害耐性測定装置の概略構成を示すブ
ロック図である。第5図と同一部分には同一符号が付し
である。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a disturbance resistance measuring device according to an embodiment. The same parts as in FIG. 5 are given the same reference numerals.

希望信号発振器2から出力された前述した[表1]に規
定されたF M変調された希望信号aはインピーダンス
変換器3を介して供試機器1のアンテナ端子ANTへ人
力される。また、トラッキング発振器で形成された不要
信号発生回路21の振幅変調された出力信号はRF増幅
器8て増幅され、バイパスフィルタ9で100kHz以
下の低周波成分が除去された後、[表2]に規定された
不要信号すとして擬似電源回路5を介して供試機器1へ
入力される。不要信号発生回路21から出力される不要
信号aの周波数は妨害波アナライザ22あ横軸(周波数
軸)と同一である。
The FM-modulated desired signal a specified in Table 1 above, which is output from the desired signal oscillator 2, is inputted to the antenna terminal ANT of the device under test 1 via the impedance converter 3. Further, the amplitude-modulated output signal of the unnecessary signal generation circuit 21 formed by the tracking oscillator is amplified by the RF amplifier 8, and after the low frequency components of 100kHz or less are removed by the bypass filter 9, the output signal is as specified in [Table 2]. The resulting unnecessary signals are input to the device under test 1 via the pseudo power supply circuit 5. The frequency of the unnecessary signal a output from the unnecessary signal generation circuit 21 is the same as the horizontal axis (frequency axis) of the interference wave analyzer 22.

一方、供試機器1の左右のオーディオ出力端子に接続さ
れた擬似負荷回路10a、10bのうちの一方の擬似負
荷回路10aの出力信号がBPFllを介してAF電圧
計23へ入力される。このAF電圧計23は、図示する
ように、主に、測定レンジを例えば10dB毎に切換え
るレンジ切換器23aと、増幅器23bと、検波器23
(と表示器23dとて構成されている。そして、増幅器
23bのAC出力信号かオシロスコープ13へ印加され
、検波器23(のDC出力信号が前記妨害波アナライザ
22の縦軸(レベル軸)入力端子へ印加される。
On the other hand, an output signal from one of the pseudo load circuits 10a and 10b connected to the left and right audio output terminals of the device under test 1 is input to the AF voltmeter 23 via the BPFll. As shown in the figure, this AF voltmeter 23 mainly includes a range switcher 23a that switches the measurement range, for example, every 10 dB, an amplifier 23b, and a detector 23.
The AC output signal of the amplifier 23b is applied to the oscilloscope 13, and the DC output signal of the detector 23 is applied to the vertical axis (level axis) input terminal of the interference wave analyzer 22. is applied to.

前記AF電圧計23の表示器23dは、第5図に示した
AF電圧計12と同様にdB表示する。
The display 23d of the AF voltmeter 23 displays dB in the same way as the AF voltmeter 12 shown in FIG.

そして、測定レンジはレンジ切換器23aで10dB毎
に切換える。
The measurement range is switched in 10 dB increments using the range switch 23a.

前記妨害波アナライザ22は、内部に対数変換回路か組
込まれており、AF電圧計23の出力信号の実行値を不
要信号発生回路21から出力された周波数に同期してd
B表示する。表示画面22aには、第2図に示すように
、OdBから一50dBまでの目盛りが付しである。そ
して、AF電圧計23の直流出力電圧が約IV(基準電
圧)のとき表示レベルか一10dBを示すようにケイン
調整されている。このような妨害波アナライザ22にお
いて、第2図に示した表示画面22aにおいて、30〜
40dBの範囲がAF電圧計23の測定レンジを切換え
ることなく測定できる。
The interference wave analyzer 22 has a logarithmic conversion circuit incorporated therein, and converts the actual value of the output signal of the AF voltmeter 23 into d in synchronization with the frequency output from the unnecessary signal generation circuit 21.
BDisplay. As shown in FIG. 2, the display screen 22a is marked with a scale from OdB to -50 dB. Then, the cane adjustment is performed so that the display level indicates -10 dB when the DC output voltage of the AF voltmeter 23 is approximately IV (reference voltage). In such an interference wave analyzer 22, on the display screen 22a shown in FIG.
A range of 40 dB can be measured without changing the measurement range of the AF voltmeter 23.

また、不要信号発生回路21および妨害波アナライザ2
2の動作は例えばパーソナルコンピュータ等で構成され
た制御部24で制御される。
In addition, an unnecessary signal generation circuit 21 and an interference wave analyzer 2
The operation No. 2 is controlled by a control unit 24 configured with, for example, a personal computer.

この制御部24は、不要信号発生回路21を制御して、
供試機器1へ入力される不要信号すの掃引周波数および
AF電圧計23から妨害波アナライザ22への出力信号
の信号レベルを検出する周波数、不要信号すのc表1]
の限度値からの変化量で示す信号レベルを自動設定する
This control section 24 controls the unnecessary signal generation circuit 21 and
Table 1] Sweep frequency of the unnecessary signal input to the equipment under test 1, frequency for detecting the signal level of the output signal from the AF voltmeter 23 to the interference wave analyzer 22, and unnecessary signal frequency
Automatically sets the signal level indicated by the amount of change from the limit value.

この実施例においては、不要信号すを規格通りに振幅変
調した状態で測定する測定条件と、不要信号すの振幅変
調を遮断した状態で測定する測定条件との2種類の測定
条件がある。
In this embodiment, there are two types of measurement conditions: one in which the unnecessary signal is measured with the amplitude modulated according to the standard, and the other in which the unnecessary signal is measured with the amplitude modulation cut off.

そして、規格通りに振幅変調した状態で測定する測定条
件においては、不要信号すにおける0、15〜150 
MHzの周波数範囲を第4図に示すように、5回に分割
して掃引する。従って、1回の掃引の周波数範囲(周波
数スパン)は30MHzとなる。
Under the measurement conditions where the amplitude is modulated according to the standard, the unnecessary signal level is 0,15~150.
As shown in FIG. 4, the MHz frequency range is divided into five sweeps. Therefore, the frequency range (frequency span) of one sweep is 30 MHz.

よって、妨害波アナライザ22の表示画面22aには第
3図に示すように、1回の掃引の周波数範囲か横軸−杯
に表示される。また、不要信号すの信号レベルは前述し
た限度値+10dBから、限度値−30dBまで、5d
B毎に9段階に設定可能である。
Therefore, as shown in FIG. 3, the frequency range of one sweep is displayed on the display screen 22a of the interference wave analyzer 22 on the horizontal axis. In addition, the signal level of the unnecessary signal is 5 dB from the above-mentioned limit value +10 dB to the limit value -30 dB.
It can be set in nine stages for each B.

そして、掃引速度は前記30〜IHzの周波数範囲を0
.15sで掃引する速度に設定されている。また、1回
掃引した場合に各周波数における信号レベル比較に要す
る平均処理時間は約0,5Sである。
Then, the sweep speed is set to 0 in the frequency range of 30 to IHz.
.. The speed is set to sweep at 15 seconds. Further, the average processing time required for signal level comparison at each frequency in one sweep is about 0.5S.

次に、不要信号すの振幅変調を遮断した状態で測定する
測定条件においては、上記規格通りの測定条件に対して
、1回の掃引の周波数範囲(周波数スパン)をIOMH
2に設定する。さらに、掃弓速度を10MHzの周波数
範囲をISで掃引する速度に変更する。従って、0.1
5〜150M)12の測定周波数範囲を15sで掃引す
る。また、不要信号すの信号レベルは限度値+10dB
の一種類に固定される。
Next, under measurement conditions in which the amplitude modulation of unnecessary signals is cut off, the frequency range (frequency span) of one sweep is
Set to 2. Further, the sweep speed is changed to a speed at which the IS sweeps a frequency range of 10 MHz. Therefore, 0.1
5-150M) 12 measurement frequency ranges are swept in 15s. In addition, the signal level of unnecessary signals is the limit value + 10 dB.
Fixed to one type.

次に、このように構成された妨害耐性測定装置を用いて
供試機器1の妨害耐性を測定する手順を説明する。
Next, a procedure for measuring the interference resistance of the device under test 1 using the interference resistance measuring device configured as described above will be explained.

(1)先ず、制御部24でもって、不要信号発生回路2
1の動作を停止させて、不要信号すの供試機器1への印
加を遮断させた状態で、希望信号発振器2を起動する。
(1) First, the control unit 24 controls the unnecessary signal generation circuit 2.
The desired signal oscillator 2 is started while the operation of the oscillator 1 is stopped and the application of unnecessary signals to the equipment under test 1 is cut off.

そして、従来装置における第6図に示した手順Sl、S
2.S3と同様に供試機器〕のg fil A整を行い
、その時点におけるAF電圧計23の指示レベルをOd
Bに設定する。そして、この状態で、妨害波アナライザ
22の表示画面22aの表示レベル(約1.V)を第2
図に示すように−1,0d Bとする。
Then, the steps Sl and S shown in FIG. 6 in the conventional device are performed.
2. Perform the g fil A adjustment of the test equipment as in S3, and set the indicated level of the AF voltmeter 23 at that point to Od.
Set to B. In this state, the display level (approximately 1.V) of the display screen 22a of the interference wave analyzer 22 is set to the second level.
As shown in the figure, it is set to -1.0dB.

(2)次に、ステレオ変調器4の出力信号を遮断して、
供試機器1へ入力される希望信号aのF M変調を遮断
する。そして、その状態でAF電圧計23の測定レンジ
をレンジ切換器23aを操作して、OdBから一20d
Bへ変更する。従って、(1)の段階で設定した妨害波
アナライザ22の表示レベル−10dB点(約IV)か
オーディオ希望信号レベルに対するS/Nて示すると第
2図の左側に示すように、S/N−20dBとなる。
(2) Next, cut off the output signal of the stereo modulator 4,
FM modulation of the desired signal a input to the equipment under test 1 is cut off. Then, in this state, operate the range switch 23a to change the measurement range of the AF voltmeter 23 from OdB to -20d.
Change to B. Therefore, if the display level of the interference wave analyzer 22 set in step (1) is expressed as the -10 dB point (approximately IV) or the S/N with respect to the desired audio signal level, the S/N- It becomes 20dB.

同様に、表示し・ペルー30dB (約0.IV)がS
/N=40dBとなる。
Similarly, it is displayed that Peru 30dB (about 0.IV) is S
/N=40dB.

(3)そして、制御部24にて不要信号発生回路21を
起動して、振幅変調された不要信号すを出力し、この不
要信号すの信号レベルを[表2]に示した限度値に10
dB加算した値に設定する。
(3) Then, the control unit 24 activates the unnecessary signal generation circuit 21 to output an amplitude-modulated unnecessary signal, and the signal level of this unnecessary signal is increased by 10 to the limit value shown in [Table 2].
Set to the value obtained by adding dB.

(4)そして、前述した規格通りに振幅変調した状態で
測定する測定条件で不要信号発生回路21を制御して掃
引を開始する。すると、供試機器1に妨害か存在する場
合は、第3図に示すオーディオ妨害信号レベル波形25
か表示される。そして、不要信号すの信号レベルか限度
値+10dBに設定されていた場合には、このオーディ
オ妨害信号レベル波Rニ25か一40dB (0,I 
V)レベルを横切る点の周波数および妨害発生レベル(
+10dB)か記憶される。このように、オーディオ妨
害信号レベル波形25か一40dB (0,I V) 
L。
(4) Then, the unnecessary signal generation circuit 21 is controlled to start the sweep under the measurement condition of measuring with the amplitude modulated in accordance with the above-mentioned standard. Then, if there is interference in the equipment under test 1, the audio interference signal level waveform 25 shown in FIG.
will be displayed. Then, if the signal level of the unnecessary signal is set to the limit value + 10 dB, this audio interference signal level wave R is 25 or - 40 dB (0, I
V) Frequency and disturbance generation level at points that cross the level (
+10dB) is stored. In this way, the audio interference signal level waveform is 25 to 40 dB (0, I V)
L.

ヘルを横切る点か検出されると、不要信号すの信号レベ
ルを5clB低下させて、再度同一周波数範囲を掃引す
る。不要信号すの信号レベルを低下させれば、オーディ
オ妨害信号レベル波形25の全体のレベルが下方へ移動
するので、この波形25が一40dB (0,I V)
レベルを横切る点の周波数も移動する。そして、この点
の周波数と妨害発生レベル(−5dB)が記憶される。
When a point crossing the heel is detected, the signal level of the unnecessary signal is lowered by 5 clB and the same frequency range is swept again. If the signal level of the unnecessary signal is lowered, the overall level of the audio interference signal level waveform 25 will move downward, so that this waveform 25 will be -40 dB (0, I V)
The frequency of points that cross the level also moves. Then, the frequency and interference generation level (-5 dB) at this point are stored.

このように、オーディオ妨害信号レベル波形25が一4
0dB(0,I V)レベル以下になるまで、不要信号
すの信号レベルを順次低下させていく。オーディオ妨害
信号レベル波形25が一40dB (0,1¥) L。
In this way, the audio interference signal level waveform 25 is
The signal level of the unnecessary signal is gradually lowered until it falls below the 0 dB (0, IV) level. Audio interference signal level waveform 25 is -40 dB (0,1 yen) L.

ベル以下になると、該当周波数範囲の測定を終了して、
次の周波数範囲へ掃引位置を移動させていく 。
When the frequency falls below the specified frequency range, the measurement for the corresponding frequency range is terminated, and
Move the sweep position to the next frequency range.

(5)このように、5区間に分割した各周波数範囲にお
ける測定が終了すると、前記制御部24は測定結果を周
波数を横軸にしてプリンタ等にて第4図に示すように印
字出力する。以上で規格通りに振幅変調した状態での測
定を終了する。
(5) When the measurement in each frequency range divided into five sections is completed in this way, the control section 24 prints out the measurement results using a printer or the like as shown in FIG. 4, with the frequency as the horizontal axis. This completes the measurement with the amplitude modulated according to the standard.

(6)次に、不要信号すの振幅変調を遮断した状態で測
定する測定条件で、妨害発生回路21を制御して掃引を
開始する。この場合、不要信号すの振幅変調を遮断して
いるので、第7図(a)に示すオーディオアンプ系に起
因する妨害は発生しないので、供試機器1の出力端子に
現れるオーディオ妨害信号は同図(b)に示すRF系に
起因するビート妨害のみとなる。したがって、この妨害
は極狭い周波数幅での妨害14bのみとなる。よって、
今回の測定においては、妨害が発生する周波数値のみを
検出する。
(6) Next, the disturbance generation circuit 21 is controlled to start sweeping under the measurement condition of measuring with amplitude modulation of the unnecessary signal interrupted. In this case, since the amplitude modulation of the unnecessary signal is blocked, the interference caused by the audio amplifier system shown in Figure 7(a) will not occur, so the audio interference signal appearing at the output terminal of the equipment under test 1 will be the same. Only the beat disturbance caused by the RF system shown in FIG. 2(b) occurs. Therefore, this interference is only the interference 14b in an extremely narrow frequency width. Therefore,
In this measurement, only the frequency values where interference occurs are detected.

しかして、不要信号すの信号レベルを前述した限度値+
10dBに設定して、掃引を開始する。
Therefore, the signal level of the unnecessary signal is set to the above-mentioned limit value +
Set it to 10 dB and start the sweep.

そして、妨害か存在する場合は、このオーディオ妨害信
号レベルが一40dB (0,I V)レベルを交差す
る点の周波数を検出して記憶する。このように、周波数
範囲を移動しながら合計15回の掃引を実行する。この
場合、一つの周波数範囲は1回しか掃引しないので、o
、15〜150MHzの周波数範囲を掃引するのにたっ
た約15sの測定時間となる。
If there is interference, the frequency at which the audio interference signal level crosses the 140 dB (0, IV) level is detected and stored. In this way, a total of 15 sweeps are performed while moving through the frequency range. In this case, one frequency range is swept only once, so o
, it takes only about 15 seconds of measurement time to sweep the frequency range of 15-150 MHz.

(7)次に、振幅変調を遮断した状態の測定にて得られ
た、各周波数を中心に±100kHzの周波数に対して
のみ、規格通りに振幅変調した状態で不要信号すの信号
レベルを順次低下させて測定する。
(7) Next, the signal level of the unnecessary signal is sequentially measured with the amplitude modulated according to the standard only for frequencies within ±100 kHz around each frequency obtained by measurement with amplitude modulation cut off. Measure by lowering.

なお、二の場合の測定周波数間隔は周波数スパンの0.
2?oて0.4kHzである。
In addition, the measurement frequency interval in case 2 is 0.0 of the frequency span.
2? The frequency is 0.4kHz.

(8)このようにして、RF系のビート妨害に起因する
妨害の周波数と妨害発生レベルか求まると、(5)で印
字出力した第4図に示す測定結果に今回求めたRF系の
測定結果を加入する。しかして、AF系に起因する比較
的広い周波数範囲に現れる妨害の妨害発生レベルとRF
系に起因する非常に狭い周波数で発生する妨害の妨害発
生レベルか得られる。。
(8) In this way, once the frequency and interference generation level of the disturbance caused by the beat disturbance of the RF system are determined, the measurement result of the RF system obtained this time is added to the measurement result shown in Figure 4 printed out in (5). join. Therefore, the interference generation level of interference appearing in a relatively wide frequency range caused by the AF system and the RF
The disturbance generation level of disturbances occurring in a very narrow frequency caused by the system can be obtained. .

二のように構成された妨害耐性測定装置であれば、不要
信号すを供試機器1に印加することによってこの不要信
号すかオーディオアンプ系に起因する妨害とRF系に起
因するビート妨害とを別々に計測している。そして、比
較的広い周波数範囲で現れるオーディオアンプ系に起因
する妨害に対しては、比較的広い周波数範囲を高速で掃
引し、オーディオ妨害信号が妨害基準レベル(−40d
 B 、>を越えているか否か判断している。しだがっ
て、RF系のビート妨害を見逃すかも知れないか、測定
速度を向上できる。
With the interference resistance measurement device configured as in 2, by applying the unnecessary signal to the equipment under test 1, it is possible to separately distinguish between the interference caused by the audio amplifier system and the beat interference caused by the RF system. It is measured. In response to interference caused by the audio amplifier system that appears in a relatively wide frequency range, the system sweeps the relatively wide frequency range at high speed and brings the audio interference signal to the interference reference level (-40d).
It is determined whether or not B,> is exceeded. Therefore, beat disturbances in the RF system may be missed and the measurement speed can be increased.

一方、RF系のビート妨害を測定する場合は、ます、不
要信号すの振幅変調を遮断することによって、比較的広
い周波数範囲を有するAF系に起因する妨害を除去した
状態で、RF系のビート妨害の発生周波数のみを検出す
る。そして、その検出された周波数の近傍のみを振幅変
調をかけた正規の測定条件でごく狭い周波数幅を測定す
る。二の場合、たとえ測定周波数間隔を狭く設定したと
しても、測定点の数か少ないので、測定に要する時間か
長くなることはない。
On the other hand, when measuring beat interference in an RF system, it is necessary to remove the interference caused by the AF system, which has a relatively wide frequency range, by blocking the amplitude modulation of unnecessary signals. Detects only the frequency at which the disturbance occurs. Then, a very narrow frequency width is measured under regular measurement conditions in which amplitude modulation is applied only to the vicinity of the detected frequency. In the second case, even if the measurement frequency interval is set narrowly, the time required for measurement will not increase because the number of measurement points is small.

例えば、第4図に示すような妨害が生じた場合には5分
割された各周波数範囲においては不要信号すの信号レベ
ルを変更して平均6回掃引を行っており、各掃引を実行
した場合に処理時間が前述したように約0.55であれ
ば、正規条件で測定するのに必要な時間は、約15秒と
なる。さらに、RF系に起因するビート妨害の発生周波
数を検出するのに前述したように15秒間必要とし、検
出された各周波数近傍に存在するRF系に起因するビー
ト妨害の妨害発生レベルを正規条件で測定するのにたと
え同程度の15秒を必要としたとしても、合計正味測定
時間は1分に満たない。
For example, when interference as shown in Figure 4 occurs, the signal level of the unnecessary signal is changed in each of the five frequency ranges, and the sweep is performed an average of six times. If the processing time is about 0.55 as described above, the time required for measurement under normal conditions is about 15 seconds. Furthermore, as mentioned above, it takes 15 seconds to detect the occurrence frequency of beat disturbance caused by the RF system, and the disturbance occurrence level of the beat disturbance caused by the RF system existing in the vicinity of each detected frequency is determined under normal conditions. Even if the same 15 seconds were required to measure, the total net measurement time would be less than 1 minute.

従って、全体の測定時間を大幅に短縮できる。Therefore, the overall measurement time can be significantly shortened.

また、オーディオアンプ系に起因する妨害とRF系に起
因するビート妨害とを操作者の目視に頼らす、自動的に
判定できるので、全体の測定時間を大幅に増大すること
なく、供試機器1に対する妨害耐性の自動測定が可能と
なる。
In addition, since interference caused by the audio amplifier system and beat interference caused by the RF system can be automatically determined without relying on the operator's visual inspection, It becomes possible to automatically measure the interference resistance against.

よって、たとえこの測定に熟達した操作者でなくとも、
簡単な操作で確実に測定を実行できる。
Therefore, even if you are not an expert operator in this measurement,
Measurements can be performed reliably with simple operations.

なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。実施例装置においては、不要信号すか電源端子PW
から入力される場合における妨害耐性を測定する場合に
ついて説明したが、不要信号を供試機器の出力端子へ印
加した場合や、アンテナ端子に印加した場合における妨
害耐性を測定することも可能である。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above. In the embodiment device, the unnecessary signal power supply terminal PW
Although we have described the case where interference resistance is measured when an unnecessary signal is input from the device under test, it is also possible to measure interference resistance when it is applied to the output terminal of the device under test or to the antenna terminal.

[発明の効果] 以上説明したように本発明の妨害耐性測定装置によれば
、RF系に起因するビート妨害を振幅変調を遮断した状
態の不要信号を使用して妨害発生の周波数のみを予め検
出することにより、その特定周波数以外に対しては比較
的広い周波数毎に妨害発生レベルを検出していくことか
でき、測定および処理時間を短縮できるので、自動測定
が可能となり、測定の作業能率および操作性を大幅に向
上できる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the interference resistance measuring device of the present invention, only the frequency at which the interference occurs can be detected in advance by using unnecessary signals with amplitude modulation cut off for beat interference caused by the RF system. By doing so, it is possible to detect the interference generation level for each relatively wide frequency other than the specific frequency, which shortens measurement and processing time, making automatic measurement possible and increasing measurement work efficiency and Operability can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第4図は本発明の一実施例に係わる妨害耐性
測定装置を示すものであり、第1図は概略構成を示すブ
ロック図、第2図および第3図は妨害波アナライザの表
示画面を示す図、第4図は測定結果を示す図であり、第
5図は従来の妨害耐性測定装置の概略構成を示すブロッ
ク図、第6図は同従来装置の動作を示す流れ図、第7図
は同測定装置での測定結果を示す図である。 1・・・供試機器、2・・・希望信号発振器、4・・・
ステレオ変調器、5・・・擬似電源回路、8・・・RF
増幅器、10a、10b・・・擬〔負荷回路、13・・
・オシロスコープ、21・・・不要信号発生回路、22
・・・妨害波アナライザ、22a・・・表示画面、23
・・・AF電圧計、24・・・制御部、25・・オーデ
ィオ妨害信号レベル波形。 第2vi!J 2a ζ
1 to 4 show an interference immunity measuring device according to an embodiment of the present invention, FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration, and FIGS. 2 and 3 are displays of an interference wave analyzer. 4 is a diagram showing the measurement results, FIG. 5 is a block diagram showing the schematic configuration of the conventional interference immunity measuring device, FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the conventional device, and FIG. 7 is a diagram showing the measurement results. The figure is a diagram showing the measurement results with the same measuring device. 1...Equipment under test, 2...Desired signal oscillator, 4...
Stereo modulator, 5... pseudo power supply circuit, 8... RF
Amplifier, 10a, 10b...pseudo [load circuit, 13...
・Oscilloscope, 21...Unnecessary signal generation circuit, 22
...Interference wave analyzer, 22a...Display screen, 23
...AF voltmeter, 24...Control unit, 25...Audio interference signal level waveform. 2nd vi! J 2a ζ

Claims (1)

【特許請求の範囲】 オーディオ周波数(AF)信号で振幅変調された高周波
信号を不要信号として供試機器の一つの入出力端子に印
加し、前記不要信号の搬送周波数を所定周波数範囲内で
掃引しながら、前記供試機器のオーディオ出力端子に前
記不要信号に起因して現れるオーディオ妨害信号のレベ
ルが所定の妨害基準に達するときの前記不要信号の信号
レベルを測定する妨害耐性測定装置において、 前記供試機器の主としてオーディオアンプ系が前記不要
信号のAF信号による振幅変調成分に起因する妨害に対
応して、高速で所定周波数範囲を掃引し、オーディオ妨
害信号レベルが前記妨害基準値となるときの不要信号の
周波数とレベルとを測定する妨害耐性の高速測定手段と
、 前記不要信号における振幅変調を除去した状態で前記搬
送周波数を前記所定周波数範囲で掃引しながら印加して
、前記搬送波成分に起因して現れるビート妨害の発生周
波数を検出する予備測定手段と、 この予備測定手段にて得られた各妨害発生周波数の近傍
を前記不要信号における振幅変調を復帰させた状態で搬
送周波数をごく狭い範囲で掃引しながら印加して、前記
オーディオ妨害信号レベルが前記妨害基準値となるとき
の前記不要信号のレベルを測定する信号レベル測定手段
とを備えた妨害耐性測定装置。
[Claims] A high frequency signal whose amplitude is modulated by an audio frequency (AF) signal is applied as an unnecessary signal to one input/output terminal of the equipment under test, and the carrier frequency of the unnecessary signal is swept within a predetermined frequency range. However, in the interference immunity measuring device that measures the signal level of the unnecessary signal when the level of the audio interference signal appearing at the audio output terminal of the equipment under test due to the unnecessary signal reaches a predetermined interference standard, The audio amplifier system of the test equipment sweeps a predetermined frequency range at high speed in response to the interference caused by the amplitude modulation component of the AF signal of the unnecessary signal, and the unnecessary signal is detected when the audio interference signal level reaches the interference reference value. a high-speed interference resistance measuring means for measuring the frequency and level of a signal; a preliminary measurement means for detecting the occurrence frequency of beat interference that appears in the above-mentioned preliminary measurement means; A disturbance resistance measuring device comprising: signal level measuring means for measuring the level of the unnecessary signal when the audio disturbance signal level reaches the disturbance reference value by applying the signal while sweeping it.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007253112A (en) * 2006-03-24 2007-10-04 Yoshino Kogyosho Co Ltd Foam jetting unit
JP2007253113A (en) * 2006-03-24 2007-10-04 Yoshino Kogyosho Co Ltd Foam jetting unit
JP2018128349A (en) * 2017-02-08 2018-08-16 株式会社デンソー Immunity testing device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007253112A (en) * 2006-03-24 2007-10-04 Yoshino Kogyosho Co Ltd Foam jetting unit
JP2007253113A (en) * 2006-03-24 2007-10-04 Yoshino Kogyosho Co Ltd Foam jetting unit
JP2018128349A (en) * 2017-02-08 2018-08-16 株式会社デンソー Immunity testing device

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