JPH03258249A - X-ray ct apparatus - Google Patents

X-ray ct apparatus

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Publication number
JPH03258249A
JPH03258249A JP2056485A JP5648590A JPH03258249A JP H03258249 A JPH03258249 A JP H03258249A JP 2056485 A JP2056485 A JP 2056485A JP 5648590 A JP5648590 A JP 5648590A JP H03258249 A JPH03258249 A JP H03258249A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
frequency
ray
sampling
ray data
Prior art date
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Pending
Application number
JP2056485A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Shinoda
泰雄 信太
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2056485A priority Critical patent/JPH03258249A/en
Publication of JPH03258249A publication Critical patent/JPH03258249A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain the title apparatus capable of preventing an increase in a reconstituting time by mounting a means for collecting X-ray data cut off according to the sampling frequency determined by a sampling determining means. CONSTITUTION:When X-ray data is detected by a detector 1, the X-ray data is sent to a filter circuit 3 and a scanning condition is also applied to a scanning control part 9 from a reconstitution apparatus 7 and sampling frequency is determined. Cut-off frequency is guided according to the sampling frequency and a sampling signal 101 is outputted to an ADC 5 from the scanning control part 9 and, at the same time, a selection signal 103 selecting the cut-off frequency is outputted to the filter circuit 3 to determine the cut-off frequency and analogue X-ray data is cut off to be outputted to the ADC 5 and analogue data is sampled to be converted to digital data and a definite number of X-ray data are collected to reconstitute a tomographic image. As a result, a data bundling time becomes unnecessary and, therefore, the time reconstituting the tomographic image can be shortend.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) この発明は、X線スキャン時間に応じてX線データのサ
ンプリング周波数を変更できるxmcT装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Objective of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to an xmcT device that can change the sampling frequency of X-ray data according to the X-ray scan time.

(従来の技術) X[CT装置においては、被検体の撮影が行われたX線
データは、データ収集システムによって収集される。そ
の後、収集されたデータは再構成され、被検体の断層像
が得られる。
(Prior Art) In an X[CT apparatus, X-ray data obtained by imaging a subject is collected by a data collection system. The collected data is then reconstructed to obtain a tomographic image of the subject.

データ収集システムにおいては、ローパスフィルタが用
いられており、このフィルタによってカットオフ周波数
が設定されている。そして、カットオフ周波数に基づい
て定められるサンプリング周波数に従ってX線データが
収集される。
A low pass filter is used in the data acquisition system, and the cutoff frequency is set by this filter. Then, X-ray data is collected according to a sampling frequency determined based on the cutoff frequency.

従来、カットオフ周波数は、一定の周波数に固定されて
いるため、サンプリング周波数も一定となっている。こ
めため、X線のスキャン時間にかかわらず、一定間隔で
X線データを収集するため、スキャン時間が長い場合に
は、収集されるデータ数(以下、ビュー数という)は時
間に比例して多くな゛ろ。これにより、断層像を再構成
する際には、前処理としてこれらのデータを束ねる平均
化処理を行っている。
Conventionally, the cutoff frequency is fixed at a constant frequency, so the sampling frequency is also fixed. Because X-ray data is collected at regular intervals regardless of the X-ray scan time, if the scan time is long, the number of collected data (hereinafter referred to as the number of views) will increase in proportion to the time. Stop. As a result, when reconstructing a tomographic image, an averaging process is performed to bundle these data as preprocessing.

(発明が解決しようとする課題) このように、多くのデータを平均化することによって時
間が費やされ、結果的に、断層像が再構成されるまでに
時間が掛かるという欠点があった。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, time is wasted by averaging a large amount of data, and as a result, there is a drawback that it takes time to reconstruct a tomographic image.

そこでこの発明は、このような従来の事情に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、X線スキャ
ン時間に応じてカットオフ周波数を変更することにより
、収集されるデータ数をX線スキャン時間にかかわらず
一定にし、再構成時間の増大を防ぐことができるX線C
T装置を提供することにある。
The present invention was made in view of the conventional circumstances, and its purpose is to increase the number of collected data by changing the cutoff frequency according to the X-ray scan time. X-ray C that can be kept constant regardless of the ray scan time and prevent increase in reconstruction time
The objective is to provide a T device.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成させるため、この発明は、X線スキャン
時間に応じ、X線検出器によって検出されたX線データ
のサンプリング周波数を決定するサンプリング決定手段
と、前記X線データのカットオフ周波数を複数種類選択
可能なフィルタ回路と、前記サンプリング決定手段によ
って決定されたサンプリング周波数に基づくカットオフ
周波数を前記フィルタ回路から選択する選択手段と、前
記サンプリング決定手段によって決定されたサンプリン
グ周波数に従い、前記カットオフ周波数によってカット
オフされた前gc!X線データを収集する収集手段とか
ら構成されている。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention provides a sampling method that determines the sampling frequency of X-ray data detected by an X-ray detector according to the X-ray scan time. a determining means; a filter circuit capable of selecting a plurality of types of cutoff frequencies for the X-ray data; a selecting means for selecting a cutoff frequency based on the sampling frequency determined by the sampling determining means from the filter circuit; According to the sampling frequency determined by the determining means, the pre-gc! and a collection means for collecting X-ray data.

(作用) 上記構成において、この発明は、X線検出器によって検
出されたX線データのサンプリング周波数を決定する。
(Operation) In the above configuration, the present invention determines the sampling frequency of X-ray data detected by the X-ray detector.

決定されたサンプリング周波数に基づくカットオフ周波
数をフィルタ回路がら選択する。このフィルタ回路は複
数種類のカットオフ周波数が選択可能となっており、選
択されたカットオフ周波数を設定する。そして、設定さ
れたカットオフ周波数によってカットオフされたX線デ
ータを、サンプリング周波数に従ってスキャン時間に無
関係な一定のビュー数で収集する。さらに、収集された
データを再構成し、断層像を得るようにしている。
A cutoff frequency based on the determined sampling frequency is selected from the filter circuit. This filter circuit allows selection of a plurality of types of cutoff frequencies, and sets the selected cutoff frequency. Then, X-ray data cut off by the set cutoff frequency is collected at a constant number of views, which is independent of the scan time, according to the sampling frequency. Furthermore, the collected data is reconstructed to obtain tomographic images.

(実施例) 以下、図面を用いてこの発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は、この発明のX&lCT装置に係わる一実施例
の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the X&lCT apparatus of the present invention.

同図において、検出器1は、被検体(図示せず)のX線
撮影が行われたX線データを検出し、X線データをフィ
ルタ回路3へ送出するところである。
In the figure, a detector 1 detects X-ray data obtained by X-ray imaging of a subject (not shown) and sends the X-ray data to a filter circuit 3.

フィルタ回路3は、X線データを受信し、このデータの
カットオフ周波数を設定するものである。
The filter circuit 3 receives X-ray data and sets the cutoff frequency of this data.

このフィルタ回路3は、第2図に示すように複数種類の
カットオフ周波数を選択可能であり、X線のスキャン時
間に応じたカットオフ周波数に切り換える機能を有して
いる。また、フィルタ回路3は、カットオフしたアナロ
グのX線データをADC(Analogue to D
lgital Converter ) 5へ出力する
ものである。
This filter circuit 3 is capable of selecting a plurality of types of cutoff frequencies as shown in FIG. 2, and has a function of switching to a cutoff frequency according to the X-ray scanning time. Further, the filter circuit 3 converts the cut-off analog X-ray data into an ADC (Analog to D).
ldigital Converter) 5.

ADC5は、フィルタ回路3から出力されたアナログの
X線データを、スキャン時間に応じて決定されたサンプ
リング周波数に従ってサンプリングするところである。
The ADC 5 samples the analog X-ray data output from the filter circuit 3 according to a sampling frequency determined according to the scan time.

また、ADC5は、アナログデータをディジタルデータ
に変換し、一定のデータ数(以下、ビュー数という)を
収集するところである。さらに、ADC5は、収集した
X線デタを再構成装置7へ与えるものである。
Further, the ADC 5 converts analog data into digital data and collects a certain number of data (hereinafter referred to as the number of views). Furthermore, the ADC 5 provides the collected X-ray data to the reconstruction device 7.

再構成装置7は、ADC5から与えられた収集データを
受取り、撮影された断層像を再構成するものである。ま
た、再構成装置7は、スキャン時間などのスキャン条件
をスキャン制御部9へ与えるものである。
The reconstruction device 7 receives the collected data given from the ADC 5 and reconstructs the photographed tomographic image. Furthermore, the reconstruction device 7 provides scan conditions such as scan time to the scan control section 9.

スキャン制御部9は、再構成装置7がら指示されたスキ
ャン時間に応してサンプリング周波数を決定し、この周
波数をADC5へ与えるものである。また、スキャン制
御部9は、決定したサンプリング周波数からカットオフ
周波数を導き、フィルタ回路3の複数種類のカットオフ
周波数から導いた周波数を選択するものである。
The scan control section 9 determines a sampling frequency according to the scan time instructed by the reconstruction device 7, and supplies this frequency to the ADC 5. Further, the scan control unit 9 derives a cutoff frequency from the determined sampling frequency, and selects the derived frequency from a plurality of types of cutoff frequencies of the filter circuit 3.

このように、この発明の一実施例は構成されており、次
にこの発明の詳細な説明する。
One embodiment of the present invention is thus constructed, and will now be described in detail.

検出器1によってX線データが検出されると、このX線
データはフィルタ回路3へ送出される。
When X-ray data is detected by the detector 1, this X-ray data is sent to the filter circuit 3.

このとき、再構成装置7からは、スキャン制御部9に対
してスキャン時間などのスキャン条件が与えられる。
At this time, the reconstruction device 7 provides scan conditions such as scan time to the scan control unit 9.

スキャン条件が与えられたスキャン制御部9により、ス
キャン時間に応じたサンプリング周波数が決定される。
The scan control unit 9 given the scan conditions determines the sampling frequency according to the scan time.

さらに、決定されたサンプリング周波数に基づいてカッ
トオフ周波数が導かれる。
Furthermore, a cutoff frequency is derived based on the determined sampling frequency.

サンプリング周波数およびカットオフ周波数が定められ
るとスキャン制御部9からは、サンプリング周波数を指
示するサンプリング信号101が、ADC5へ出力され
る。これと同時に、カットオフ周波数を選択する選択信
号103が、フィルタ回路へ出力される。
Once the sampling frequency and cutoff frequency are determined, the scan control unit 9 outputs a sampling signal 101 instructing the sampling frequency to the ADC 5. At the same time, a selection signal 103 for selecting a cutoff frequency is output to the filter circuit.

フィルタ回路3では、複数種類のカットオフ周波数の中
から、選択信号103によって選択されたカットオフ周
波数が設定される。これにより、アナログのX線データ
がこのカットオフ周波数によってカットオフされ、AD
C5へ出力される。
In the filter circuit 3, a cutoff frequency selected from a plurality of types of cutoff frequencies by the selection signal 103 is set. As a result, the analog X-ray data is cut off by this cutoff frequency, and the AD
Output to C5.

ADC5に人力されたアナログデータは、サンプリング
信号101によって指示されるサンプリング周波数によ
り、サンプリングされる。さらに、サンプリングされた
アナログデータはディジタルデータに変換される。これ
により、スキャン時間にかかわらず、一定数のX線デー
タが収集される。
Analog data input to the ADC 5 is sampled at a sampling frequency indicated by a sampling signal 101. Furthermore, the sampled analog data is converted to digital data. This allows a fixed number of X-ray data to be collected regardless of the scan time.

収集されたX線データは、再構成装置7へ出力され、再
構成装置7によって断層像が再構成される。
The collected X-ray data is output to the reconstruction device 7, and the reconstruction device 7 reconstructs a tomographic image.

ここで、スキャン制御部9における作用を具体的に説明
する。
Here, the operation of the scan control section 9 will be specifically explained.

例えば、スキャン時間にかかわらず、常にビュー数を1
000ビユーとする場合を考える。スキャン時間が1秒
のときには、サンプリング周波数をIKHzとし、この
ときのカットオフ周波数は、サンプリング定理によって
500Hzより小さな周波数が選択される。
For example, regardless of scan time, always set the number of views to 1.
Let us consider the case of 000 views. When the scan time is 1 second, the sampling frequency is set to IKHz, and the cutoff frequency at this time is selected to be a frequency smaller than 500 Hz according to the sampling theorem.

スキャン時間が2秒のときには、ビュー数が1000ビ
ユー/2Sとなり、サンプリング周波数は500Hzと
決定され、カットオフ周波数は250Hzより小さな周
波数が選択される。
When the scan time is 2 seconds, the number of views is 1000 views/2S, the sampling frequency is determined to be 500 Hz, and a frequency smaller than 250 Hz is selected as the cutoff frequency.

同様に、スキャン時間が4秒のときには、1000ビユ
ー/4Sとなり、サンプリング周波数は250Hz、カ
ットオフ周波数は125Hzより小さな周波数が選択さ
れる。
Similarly, when the scan time is 4 seconds, it is 1000 views/4S, the sampling frequency is 250 Hz, and the cutoff frequency is selected to be a frequency smaller than 125 Hz.

このように、スキャン時間に応じてサンプリング周波数
を決定しているので、常に一定ビュー数のX線データが
収集される。
In this way, since the sampling frequency is determined according to the scan time, a constant number of views of X-ray data are always collected.

なお、フィルタ回路は、第2図に示すものに限定される
ものではない。
Note that the filter circuit is not limited to that shown in FIG.

[発明の効果] 以上説明してきたように、この発明によるX線CT装置
であれば、X線のスキャン時間に応じてX線データのサ
ンプリング周波数を切り換えるようにしたので、収集さ
れるデータ数がスキャン時間にかかわらず一定数となる
。これにより、前処理としてデータを束ねる時間が不要
になるため、断層像を再構成する時間を短縮することが
できる。
[Effects of the Invention] As explained above, in the X-ray CT apparatus according to the present invention, the sampling frequency of X-ray data is switched according to the X-ray scan time, so the number of collected data can be reduced. The number is constant regardless of the scan time. This eliminates the need for time to bundle data as pre-processing, so it is possible to shorten the time to reconstruct a tomographic image.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第2図はフィルタ回路の一例を示す回路図である。 3・・・フィルタ回路 5−ADC(^nalogue to Digital
 Converter )7・・・再構成装置 9・・・スキャン制御部
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a filter circuit. 3... Filter circuit 5-ADC (^nalogue to Digital
Converter) 7... Reconfiguration device 9... Scan control unit

Claims (1)

【特許請求の範囲】 X線スキャン時間に応じ、X線検出器によって検出され
たX線データのサンプリング周波数を決定するサンプリ
ング決定手段と、 前記X線データのカットオフ周波数を複数種類選択可能
なフィルタ回路と、 前記サンプリング決定手段によって決定されたサンプリ
ング周波数に基づくカットオフ周波数を前記フィルタ回
路から選択する選択手段と、前記サンプリング決定手段
によって決定されたサンプリング周波数に従い、前記カ
ットオフ周波数によってカットオフされた前記X線デー
タを収集する収集手段と を有することを特徴とするX線CT装置。
[Scope of Claims] Sampling determining means for determining a sampling frequency of X-ray data detected by an X-ray detector according to an X-ray scan time, and a filter capable of selecting a plurality of types of cutoff frequencies of the X-ray data. circuit; selection means for selecting a cutoff frequency based on the sampling frequency determined by the sampling determination means from the filter circuit; An X-ray CT apparatus comprising a collection means for collecting the X-ray data.
JP2056485A 1990-03-09 1990-03-09 X-ray ct apparatus Pending JPH03258249A (en)

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