JPH03256168A - Logical simulation system - Google Patents

Logical simulation system

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Publication number
JPH03256168A
JPH03256168A JP2053595A JP5359590A JPH03256168A JP H03256168 A JPH03256168 A JP H03256168A JP 2053595 A JP2053595 A JP 2053595A JP 5359590 A JP5359590 A JP 5359590A JP H03256168 A JPH03256168 A JP H03256168A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic
flip
flop
lsi
state
Prior art date
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Pending
Application number
JP2053595A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Saito
賢一 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2053595A priority Critical patent/JPH03256168A/en
Publication of JPH03256168A publication Critical patent/JPH03256168A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To reduce an initializing work time by about 10 or 20% as compared with convensional technique by allowing a logical simulator to check whether the inside of an LSI for logical simulation has been completely initialized or not in the initializing work. CONSTITUTION:The outputs of flip flops (FFs) 11 to 13 in the LSI 10 are retrieved by the logical simulator. The FF whose output is in an unsteady state out of the FFs 11 to 13 in the LSI 10. Then, the FF numbers of the unsteady FFs and the number of unsteady FFs are displayed on the logical simulator. The total number of unsteady FFs is also displayed. Thus, the unsteady, i.e. uninitialized, FFS can easily be decided and logical information and I/O states relating to the FFs 11 to 13 can be observed at a glance, so that logical inspection work can easily e executed and the efficiency of logical simulation can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、LSI開発時に用いる論理シミュレータに係
1バ特に、シミュレーション実行後の結果の評価に好適
な論理シミュレーション方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a logic simulator used during LSI development, and particularly to a logic simulation method suitable for evaluating results after execution of a simulation.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

LSIは、論理設計、論理シミュレーションなどの論理
設計検証、レイアウト設計などの設計工程と、チップの
製品工程とテスト工程を経て開発される。設計工程で一
番重要となるのμ、論理シミュレーションを行う論理設
計検証の工程である。
LSIs are developed through a design process such as logic design, logic design verification such as logic simulation, and layout design, as well as a chip production process and testing process. The most important step in the design process is μ, the logic design verification process that involves logic simulation.

この論理シミュレーションは、LSIに入力信号を与え
、出力されてきた結果が期待値と合致しているか否かを
確認する作業である。ここで実際の論理シミュレーショ
ンでは、論理シミュレーションに先立ってLSI内部の
論理を初期化する必要がある。なぜならば、LSI内部
の論理はNANDやORなどの論理ゲートで構成した組
み合わせ論理回路だけではなく、7リツプフロツプで構
成した順序論理回路もあり、フリップフロップは構造上
電源投入時の初期状態が”0”になるか、“1”になる
かわからない。そのため、これを忠実にシミュレートす
るべく論理シミュレータでの7リツプフロツプの初期状
態を不定状態@X#(10′でも′1“でもない状態)
として取り扱っている。
This logic simulation is a task of applying input signals to the LSI and checking whether the output results match expected values. In actual logic simulation, it is necessary to initialize the logic inside the LSI prior to the logic simulation. This is because the logic inside an LSI is not only a combinational logic circuit made up of logic gates such as NAND and OR, but also a sequential logic circuit made up of 7 flip-flops. I don't know if it will become ``1'' or ``1''. Therefore, in order to faithfully simulate this, the initial state of the 7 lip-flop in the logic simulator is set to an undefined state @X# (a state that is neither 10' nor '1').
It is treated as such.

また、不定状態が論理シミュレーション実行時に発生す
る要因は、例えば、出力信号同士が接続されるショート
などがある。ここで生じた不定状態を7リツプフロツプ
にラッチすると、フリップ70ツブの出力も不定状態と
なってしまう。
Further, factors that cause an undefined state to occur during execution of logic simulation include, for example, a short circuit in which output signals are connected to each other. If this undefined state is latched to the flip-flop 7, the output of the flip-flop 70 will also become undefined.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来技術では、LSI内部の論理状態を“0′状態
、または、“1″状態に初期化し、不定状態″″X”を
取り除かなければ、正常な論理シミュレーションを行う
ことができない。ここで、第2図のプリップフロップ1
1の初期状態は不定状態t X sとなっているとする
。そこで、例えば、データD1に“0”を与え、クロッ
クCK1を変化させて、フリップ70ツブ11に対し、
′0”を保持させる必要がある。このような処理をLS
I内部のすべての7リツプフロツプに対して行い、初期
化しなければならない。そうしないと、不定状態が他の
7リツプフロツグに伝搬して、正常な論理シミュレーシ
ョンを行うことができないからである。
In the prior art described above, normal logic simulation cannot be performed unless the logic state inside the LSI is initialized to the "0" state or the "1" state and the undefined state ""X" is removed. Here, flip-flop 1 in FIG.
It is assumed that the initial state of 1 is an undefined state t x s. Therefore, for example, by giving "0" to the data D1 and changing the clock CK1, for the flip 70 knob 11,
It is necessary to hold '0'.This kind of processing is done in LS
This must be done and initialized for all 7 lip-flops inside I. Otherwise, the undefined state will propagate to the other seven lipfrogs, making it impossible to perform normal logic simulation.

また、LSI内部の7リツプフロツプがすべて初期化で
きたか否かを確めるV:、は、論理検証者がフリップフ
ロップの出力状態を丁べてチエツクする必要があり、非
常に手間がかかるという問題があった。
In addition, when checking whether all seven flip-flops inside the LSI have been initialized, the logic verifier must check the output states of the flip-flops, which is very time-consuming. was there.

また、論理シミュレーション実行途中でLSI内部のフ
リップフロップが不定状態となIバ外部端子に不定状態
が多数出力され、正常なりミュレーション評価ができな
くなることがある。この場合はI、SI内部のどの7リ
ツプ70ツブが不定状態となっているか、不定状態を出
力しているLSI外部端子に関係する論理を論理検証者
がさかのぼってつきとめなければならない、そのため、
論理検証に時間がかかり、論理シミュレーション効率が
低下してしまうという問題もあった。
Further, during execution of the logic simulation, the flip-flops inside the LSI are in an undefined state, and a large number of undefined states are output to the external terminal of the I-bar, which may make it impossible to evaluate whether the simulation is normal or not. In this case, the logic verifier must trace back and find out which 7-lip 70 tubes inside the I and SI are in an undefined state and the logic related to the LSI external terminal that is outputting the undefined state.
There was also the problem that logic verification took time and logic simulation efficiency decreased.

本発明の目的は、不定状態となっているフリップフロッ
プの検出を容易にし、論理シミュレーション及び論理検
証作業の効率を向上することにある。
An object of the present invention is to facilitate the detection of flip-flops in an undefined state and to improve the efficiency of logic simulation and logic verification work.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達成するために、本発明は、LSIの論理機
能確認を行う論理シミュレータにおいて、前記LSI内
でデータを保持するフリップフロップの出力状態を検索
し、0レベルでもなく、1レベルでもない不定状態とな
っているフリップフロップの箇所と個数を表示するよう
にした。
In order to achieve the above object, the present invention searches for the output state of a flip-flop that holds data in the LSI in a logic simulator that checks the logic function of an LSI, and searches for the output state of a flip-flop that holds data in the LSI, The location and number of flip-flops in the state are now displayed.

また、LSIの論理機能確認を行う論理シミュレータに
おいて、前記LSIの内部または外部端子で特定時間に
不定状態を出力している端子を指定し、前記指定された
端子に出力している前記LSI内部の論理を検証し、不
定状態となっているフリップフロップと前記7リツプフ
ロツプと関係する素子との論理情報及び前記フリップフ
ロップと関係する論理の入力状態と出力状態を表示する
ようにした。
In addition, in a logic simulator that checks the logic function of an LSI, specify the internal or external terminal of the LSI that is outputting an undefined state at a specific time, and The logic is verified and the logic information of the flip-flop in an undefined state and the elements related to the seven flip-flops and the input and output states of the logic related to the flip-flop are displayed.

〔作用〕[Effect]

本発明による論理シミュレーション方式では、第1図の
ように第2図のLS110内部の7リツプフロツプの出
力を論理シミュレータが検索する。
In the logic simulation method according to the present invention, as shown in FIG. 1, a logic simulator searches the outputs of the seven lip-flops inside the LS 110 in FIG. 2.

そして、出力が不定状態となっている7リツプフロツプ
を記憶する。この動作をLS110内部のすべての7リ
ツプフロツプに対して行う。その後、第5図、第6図の
ように不定状態となっているフリップフロップの番号と
個数を論理シミュレータに表示する。すなわち、第5図
のように論理検証者が検索したいパターンの範囲、図中
では1ステツプ目から5ステツプ目までを入力すると、
論理シミュレータが第1図のフローチャートに従い、フ
リップフロップの出力を検索し、不定状態となっている
フリップフロップを検出し、そのフリップフロップの番
号と不定状態となっている期間、例えば第5図のように
A3”という番号の7リツプフロ、ツブは1ステツフ゛
目から3ステツプ目まで不定状態となっていると表示す
る。また、不定状態の7リツプ70ツブの総数も合わせ
て表示する。
Then, 7 lip-flops whose outputs are in an undefined state are stored. This operation is performed for all seven lip-flops inside the LS110. Thereafter, the number and number of flip-flops that are in an undefined state as shown in FIGS. 5 and 6 are displayed on the logic simulator. In other words, as shown in Fig. 5, when the logic verifier inputs the range of the pattern he wants to search, from the 1st step to the 5th step in the figure,
The logic simulator searches the outputs of flip-flops according to the flowchart in Figure 1, detects flip-flops in an undefined state, and calculates the number of the flip-flop and the period in which it has been in an undefined state, for example as shown in Figure 5. The 7-lip flow tube numbered A3'' is displayed as being in an undefined state from the 1st step to the 3rd step.The total number of 7-lip steps and 70 knobs in an undefined state is also displayed.

また、第6図の例では5ステツプ目に不定状態となって
いるフリップフロップを検出し、表示する。
Further, in the example of FIG. 6, a flip-flop in an undefined state is detected and displayed at the fifth step.

このように、不定状態、すなわち、初期化されていない
フリップフロップが容易に判明するので、論理シミュレ
ーションにおいて、必要なLSI初期化作業が簡単にな
る。
In this way, an undefined state, that is, an uninitialized flip-flop can be easily found, so that the necessary LSI initialization work in logic simulation is simplified.

また、第7図のように論理検証者が不定状態すなわち、
不定値″X”を出力している内部またに外部端子Pを指
定すると論理シミュレータは図の70−チャートに従い
不定状態となっているフリップフロップを検索する。そ
して、前記フリップフロップと関係する論理の論理情報
と入出力状態を第8図のように表示する。このように、
不定状態トナっているフリップフロップが容易に判明し
、かつ前記フリップフロップに関係する論理情報と入出
力状態が一目でわかるので、論理検証作業が容易になり
、論理シミーレーション効率が向上する。
Also, as shown in FIG. 7, the logic verifier is in an undefined state, that is,
When an internal or external terminal P outputting an undefined value "X" is specified, the logic simulator searches for a flip-flop that is in an undefined state according to chart 70 in the figure. Then, the logic information and input/output status of the logic related to the flip-flop are displayed as shown in FIG. in this way,
Since a flip-flop in an undefined state can be easily identified and the logic information and input/output state related to the flip-flop can be seen at a glance, logic verification work is facilitated and logic simulation efficiency is improved.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の一実施例の不定値をもつフリップフロッ
プ検索方法について、第1図ないし第6図により説明す
る。まず、第2図のLSI内部の構成を説明する。10
はLSI、11,12.13はデータを保持するフリッ
プフロップ、21はフリップフロップ11の正出力、2
2はフリップフロップ12の正出力、23は7リツプフ
ロツプ13の正出力、24は7リツプフロツプ13の負
出力、14.15,16.17は論理ゲートである。ま
た、第3図は、第2図のLSlloにおけるタイミング
チャートである。フリップフロップ11の出力21は、
1ステツプ目は不定状態“X#、2ステツプ目で、デー
タD1として“0”を与えて、クロックCK1を立上げ
て′0”を保持するので出力21が10#となる。同じ
く6ステツプ目で不定状態″″X#をラッチし、出力2
1が不定状態@X#となる。また、フリップフロップ1
2の出力22も1ステツプ目から2ステツプ目までは、
不定状態1X”、5ステツプ目からデータ″′1#を保
持して出力22も@1j′となる。同様に7リツプフロ
ツプ15の正出力25、負出力24は、1ステツプ目か
ら5ステツプ目までは不定状態“X#となり、4ステツ
プ目で“1#を保持し、正出力26は、″1#を出力し
、負出力24は“0′を出力する。また、出力01゜0
2.03はフリップフロック11,12.15の出力2
1.22,23.24を論理ゲート14,15,16.
17で組み合わされて第5図のように出力される。
Hereinafter, a method for searching a flip-flop having an indefinite value according to an embodiment of the present invention will be explained with reference to FIGS. 1 to 6. First, the internal configuration of the LSI shown in FIG. 2 will be explained. 10
is an LSI, 11, 12.13 are flip-flops that hold data, 21 is the positive output of flip-flop 11, and 2
2 is the positive output of the flip-flop 12, 23 is the positive output of the 7-lip flop 13, 24 is the negative output of the 7-lip flop 13, and 14.15 and 16.17 are logic gates. Further, FIG. 3 is a timing chart in LSllo of FIG. 2. The output 21 of the flip-flop 11 is
The first step is an undefined state "X#," and the second step is to give "0" as data D1 and raise the clock CK1 to hold "0", so that the output 21 becomes 10#. Similarly, at the 6th step, the undefined state ""X# is latched and output 2
1 becomes an undefined state @X#. Also, flip-flop 1
The output 22 of 2 is also from the 1st step to the 2nd step.
In the undefined state 1X'', the data ``1#'' is held from the 5th step, and the output 22 also becomes @1j'. Similarly, the positive output 25 and negative output 24 of the 7-lip flop 15 are in an undefined state "X#" from the 1st step to the 5th step, hold "1#" at the 4th step, and the positive output 26 is "1#". The negative output 24 outputs "0". Also, output 01゜0
2.03 is the output 2 of flip-flock 11, 12.15
1.22, 23.24 as logic gates 14, 15, 16 .
17 and output as shown in FIG.

次に、検索動作を第1図のフローチャートに従って説明
する。まず、論理検証者が第5図のように検索したい範
囲(1ステツプ目から5ステツプ目)を指定すると、論
理シミュレータはまず、指定された範囲の始めのステッ
プ(1ステツプ目)から、LSlloのすべての7リツ
プ70ツブを検索し始める。まず、番号A1の7リツプ
フロツプ11の出力21の状態が不定であるかどうかを
判断する。この場合は、第4図かられかるように、不定
状態1X#となっている。そのため、この7リツプフロ
ツプの番号A1を記憶する。同様に番号A2の7リツプ
70ツブ12、番号A3のフリップフロップ15を検索
する。すべての7リツプフロツプを検索し終えると、検
索するステップを更新する。指定された検索範囲であれ
ば、同様のフローで検索を再び行う。第5図では1ステ
ツプ目から5ステツプ目までを検索すると指定したので
、論理シミュレータは1ステツプ目から5ステツプ目ま
でLS110内のフリップフロップ11 、12゜13
の出力状態をチエツクする。その結果、第4図のように
1検索範囲の最初のステップ1ステツプ目で不定状態と
なっているのは、番号AI、A2゜A3のフリップ70
ツブ11,12.13で、また、2ステツプ目は番号A
2.Alの7リツプフロツプ12.13で、3ステツプ
目は番号A5のフリップフロップ13であり、4,5ス
テツプ目には、不定状態の7リツプ70ツブは存在しな
い。この結果を論理シミュレータは第5図のように表示
する。
Next, the search operation will be explained according to the flowchart shown in FIG. First, when the logic verifier specifies the range to be searched (from the 1st step to the 5th step) as shown in Figure 5, the logic simulator starts from the first step (1st step) of the specified range, Start searching all 7lips 70tubs. First, it is determined whether the state of the output 21 of the 7-lip flop 11 numbered A1 is indeterminate. In this case, as can be seen from FIG. 4, the state is in an undefined state 1X#. Therefore, the number A1 of this 7 lip-flop is stored. Similarly, the 7-lip 70 tube 12 with number A2 and the flip-flop 15 with number A3 are searched. Once all 7 lip-flops have been searched, the step to search is updated. If the search range is within the specified range, the search is performed again using the same flow. In FIG. 5, since it is specified to search from the 1st step to the 5th step, the logic simulator searches the flip-flops 11, 12 and 13 in the LS110 from the 1st step to the 5th step.
Check the output status. As a result, as shown in FIG. 4, the undefined state at the first step of one search range is the flip 70 with numbers AI, A2 and A3.
At knobs 11, 12, and 13, the second step is number A.
2. In the 7-lip flip-flop 12.13 of Al, the third step is the flip-flop 13 with number A5, and there are no 7-lip 70 flip-flops in an undefined state in the fourth and fifth steps. The logic simulator displays this result as shown in FIG.

すなわち、番号A1のフリップ70ツブ11は期間1ス
テツプ目で、番号A2の7リツプフロツプ12は1ステ
ツプ目から2ステツプ目で、番号A5のフリップフロッ
プ13は1ステツプ目から5ステップ目で不定状態とな
っていると表示する。
That is, the flip-flop 11 with the number A1 is in the first step of the period, the 7-lip flop 12 with the number A2 is in the undefined state from the first step to the second step, and the flip-flop 13 with the number A5 is in an undefined state from the first step to the fifth step. is displayed.

それととも釦、検索範囲で不定状態となっている7リツ
プ70ツブの総数も合わせて表示する。第5図で線、フ
リップフロップ11,12.13の計3素子が不定とな
っているので、総数として計3素子と表示する。
In addition, the button also displays the total number of 70 lip types that are in an undefined state within the search range. In FIG. 5, a total of three elements, including the line and flip-flops 11, 12, and 13, are undefined, so the total number is shown as three elements.

このようK、LSI内部のフリップフロップの状態をす
べて論理検証者が調べていた従来技術に比へ、論理シミ
ュレータが検証するので、検証作業が容易釦なり、論理
シミュレーションの効率が向上する。
In this way, compared to the conventional technology in which all the states of flip-flops inside the LSI were checked by a logic verifier, the logic simulator verifies the states, making the verification work easier and improving the efficiency of logic simulation.

また、別の実施例として第6図のように、1ステツプの
み検索して不定状態となっている7リツプフロツプを検
索することができる。例えば第6図では2ステツプ目の
み検索する。その結果は、番号A2の7リツプフロツプ
12と番号A3の7リツプフロツプ13が不定状態とな
っており、総数は2素子と表示する。この場合も第5図
の実施例と同様の効果が得られる。
As another example, as shown in FIG. 6, it is possible to search for 7 lip-flops in an undefined state by searching only one step. For example, in FIG. 6, only the second step is searched. As a result, 7 lip-flop 12 with number A2 and 7 lip-flop 13 with number A3 are in an undefined state, and the total number is expressed as 2 elements. In this case as well, the same effects as in the embodiment shown in FIG. 5 can be obtained.

次に、不定状態を出力している内部または外部端子を指
定すると原因となっているフリップフロップが検索でき
る実施例について第7図ないし第9図を用いて説明する
。まず、論理検証者が不定状態1X”を出力している端
子、すなわち、第8図のように外部端子01と指定する
。それとともに不定状態“X”を出力しているステップ
(時間)。
Next, an embodiment will be described with reference to FIGS. 7 to 9, in which when an internal or external terminal outputting an undefined state is specified, a flip-flop causing the problem can be searched. First, the logic verifier designates the terminal that outputs the undefined state 1X, that is, the external terminal 01 as shown in FIG. 8. At the same time, the step (time) that outputs the undefined state "X".

6ステツプと指定する。そうすると論理シミュレータは
、まず、外部端子011C出力している素子、すなわち
、第2図の番号B2の論理ゲート15を検索し、前述の
素子が7リツプフロツプであれば、フリップフロップ番
号とその7リツプフロツプに関係する論理情報とタイミ
ングチャートを表示する。前述の素子は第2図より論理
ゲート15でありフリップフロップでないので、次に論
理ゲート15の入力25,25、すなわち、番号B1の
論理ゲート14の出力と、番号A3のフリップフロップ
13の正出力の状態を検索する。この場合、第9図のよ
うに番号B1の論理ゲート14の出力が不定状態@X”
となっている。また、前述のように、番号B1の論理ゲ
ート14が7リツプフロツプであるか否かのチエツクを
再び行う。ここでは、フリップフロップでないので同様
に番号B1の論理ゲート140入力状態を検索する。第
9図の入力P11.入力PI2・・・は、素子の大刀端
子である。
Specify 6 steps. Then, the logic simulator first searches for the element outputting from external terminal 011C, that is, the logic gate 15 with number B2 in FIG. Display related logic information and timing charts. Since the aforementioned element is a logic gate 15 and not a flip-flop from FIG. 2, next, the inputs 25, 25 of the logic gate 15, that is, the output of the logic gate 14 numbered B1 and the positive output of the flip-flop 13 numbered A3. Search for the status of. In this case, as shown in FIG. 9, the output of the logic gate 14 with number B1 is in an undefined state @
It becomes. Also, as described above, a check is made again to see if the logic gate 14 with number B1 is a 7-lip flop. Here, since it is not a flip-flop, the input state of the logic gate 140 with number B1 is similarly searched. Input P11 in FIG. Input PI2... is the long sword terminal of the element.

第9図のように、入力21(番号A1の素子からの出力
)が不定状態“X#となっている。入力21は、番号A
1のフリップ70ツブ11がら出力されているので、不
定状態@X”となっているフリップフロップと特定でき
る。そこで番号A1の7リツプ70ツブ11が不定状態
であると表示するとともに、7リツプ70ツブ11に関
係する論理情報、すなわち、論理ゲート14などとタイ
ミングチャートを第8図のように表示する。また、内部
端子、例えば、第2図の番号B1の論理ゲート14の出
力25を指定しても、外部端子01を指定した場合と同
様、第7図の70−チャートに従って検索し、不定状態
″″X#となっているフリップフロップをフリップフロ
ップに関係する論理情報とタイミングチャートを表示す
ることができる。
As shown in FIG. 9, the input 21 (output from the element numbered A1) is in an undefined state "X#.The input 21 is the output from the element numbered A1.
Since the output is from the flip-flop 70 block 11 of No. 1, it can be identified as the flip-flop which is in an undefined state @ The logic information related to the knob 11, such as the logic gate 14, and the timing chart are displayed as shown in FIG. 8. Also, the internal terminal, for example, the output 25 of the logic gate 14 numbered B1 in FIG. Even if the external terminal 01 is specified, the search is performed according to the chart 70 in FIG. be able to.

このように1検索したい内部端子または外部端子と検索
時間(検索ステップ)を指定するだけで、不定状態とな
っているフリップフロップを特定できるので、論理検証
者がLS110内部の論理関係を解析する手間が省ける
。そのため、論理検証作業を短時間で容易に終了するこ
とができ、論理シミュレーションの効率が飛躍的に向上
する。
In this way, by simply specifying the internal terminal or external terminal to be searched and the search time (search step), flip-flops that are in an undefined state can be identified, which saves the logic verifier from analyzing the logic relationships inside the LS110. can be omitted. Therefore, the logic verification work can be easily completed in a short time, and the efficiency of logic simulation is dramatically improved.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

論理シミュレーシ冒ンのためのLSI内部の初期化作業
で、完全に初期化されたか否かのチエツクを従来技術で
論理検証者がLSI内部の7リツプ70ツブを調べて行
っていたのに対し、本発明では論理シミュレータによっ
て行うことができる。
When initializing the inside of an LSI for logic simulation, logic verifiers used conventional technology to check whether it was completely initialized or not by checking 7 lips and 70 pieces inside the LSI. , can be performed by a logic simulator in the present invention.

また、初期化されていないフリップフロップも本発明で
は一目で特定できる。そのため、初期化が不完全なため
に論理シミュレーションを、確実に行うことができない
という問題が解決できる。したがって、従来技術に比べ
初期化作業時間が約10チないし20チ忙低減できる。
Further, in the present invention, uninitialized flip-flops can also be identified at a glance. Therefore, it is possible to solve the problem that logic simulation cannot be reliably performed due to incomplete initialization. Therefore, the initialization work time can be reduced by about 10 to 20 steps compared to the prior art.

また、本発明によれば、論理シミュレーシ目ン実行中に
LSI内部の7リツプフロツプが不定状fli4になっ
ても、フリップ70ツブを論理シミユレータが特定でき
る。そのため、第11図のように、不定状態が出力され
た場合従来技術で論理検証者が行っていた310の論理
解析、311のLSI内部をトレースするための内部信
号の指定、513のシミュレーション結果の評価という
作業が本発明では第10図の501の端子及び時間の指
定を行うだけ良い。そのため、論理検証作業を容易に行
うことができ、論理シミュレーション期間を従来の約鐙
程度に低減できる。
Furthermore, according to the present invention, even if the 7 flip-flops inside the LSI become undefined fli4 during execution of a logic simulation, the logic simulator can identify the 70 flip-flops. Therefore, as shown in FIG. 11, when an undefined state is output, logic analysis in 310, which was performed by a logic verifier in the conventional technology, designation of internal signals for tracing inside the LSI in 311, and simulation results in 513. In the present invention, the task of evaluation only requires specifying the terminal and time at 501 in FIG. Therefore, logic verification work can be easily performed, and the logic simulation period can be reduced to approximately the same amount as in the conventional stirrup.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例の動作を説明するフローチ
ャート、第2図線、本発明のLSI内部論理情報図、第
5図は、第2図のタイミングチャート、第4図は第1図
のフローチャートでの検索状態の説明図、第5図、第6
図は、第1図の検索結果を表示した場合の説明図、第7
図は本発明の他の実施例の動作の説明図、第8図灯、第
7図の検索結果の表示の説明図、第9図は、第7図の7
0−チャートでの検索状態の説明図、第10図は、5 本発明における不定状態の7リツプフロツプの検索方法
の説明図、第り1図灯従来技術の不定状態のフリップフ
ロップの検索方法の説明図である。 10、i・・・LS1 11.12.13・・・フリップフロップ14.15,
16.17・・・論理ゲート。 16) 第 5図 第 特開平3 256168 (8) 第10口 第11L¥l σ甲D 10 図面上て゛、不定イ犬1性/に″とな、て・・ろ鳴子の
  理酌  、の解
1 is a flowchart explaining the operation of one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram of internal logic information of the LSI of the present invention, FIG. 5 is a timing chart of FIG. Explanatory diagrams of the search status in the flowchart shown in Figures 5 and 6.
The figure is an explanatory diagram when displaying the search results in Figure 1, and Figure 7.
The figure is an explanatory diagram of the operation of another embodiment of the present invention, Figure 8 is an explanatory diagram of the display of the search results in Figure 7, and Figure 9 is an illustration of the display of the search results in Figure 7.
Figure 10 is an explanatory diagram of the search state in the 0-chart, and Figure 10 is an explanatory diagram of the search method for 7 flip-flops in an undefined state in the present invention. It is a diagram. 10, i...LS1 11.12.13...Flip-flop 14.15,
16.17...Logic gate. 16) Figure 5 JP-A No. 3 256168 (8) No. 10 No. 11 L\l σK D 10 On the drawing, it is ``indeterminate dog 1 character/ni''...the solution to Naruko's theory.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、LSIの論理機能確認を行う論理シミュレータにお
いて、前記LSI内でデータを保持するフリップフロッ
プの出力状態を検索し、0レベルでもなく、1レベルで
もない不定状態となっているフリップフロップの箇所と
個数を前記論理シミュレータに表示するようにしたこと
を特徴とする論理シミュレーション方式。 2、LSIの論理機能確認を行う論理シミュレータにお
いて、前記LSIの外部端子で特定時間に不定状態を出
力している端子を指定し、前記指定された端子に出力し
ている前記LSIの内部の論理を検証し、不定状態とな
っているフリップフロップを特定し、さらに前記フリッ
プフロップと関係する素子の論理情報及び前記フリップ
フロップと関係する論理の入力状態と出力状態を前記論
理シミュレータに表示することを特徴とする論理シミュ
レーション方式。
[Claims] 1. In a logic simulator that checks the logic function of an LSI, the output state of a flip-flop that holds data within the LSI is searched, and the output state of a flip-flop that holds data is found to be in an undefined state that is neither 0 level nor 1 level. A logic simulation method characterized in that the location and number of flip-flops are displayed on the logic simulator. 2. In a logic simulator that checks the logic function of an LSI, specify the external terminal of the LSI that is outputting an undefined state at a specific time, and check the internal logic of the LSI that is outputting to the specified terminal. , identify the flip-flop that is in an undefined state, and further display on the logic simulator the logic information of the element related to the flip-flop and the input state and output state of the logic related to the flip-flop. Features a logical simulation method.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04328684A (en) * 1991-04-27 1992-11-17 Pfu Ltd Simulation system

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