JPH03254498A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

Info

Publication number
JPH03254498A
JPH03254498A JP2052498A JP5249890A JPH03254498A JP H03254498 A JPH03254498 A JP H03254498A JP 2052498 A JP2052498 A JP 2052498A JP 5249890 A JP5249890 A JP 5249890A JP H03254498 A JPH03254498 A JP H03254498A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
precharge
decoder
signal
readout line
signal readout
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2052498A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Ochi
越智 隆浩
Tadayoshi Seike
清家 忠義
Seiji Watanabe
誠司 渡辺
Kazuhiko Nishikawa
和彦 西川
Hisashi Yoshimoto
善本 寿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2052498A priority Critical patent/JPH03254498A/en
Publication of JPH03254498A publication Critical patent/JPH03254498A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To reduce power consumption, power noise and radiation by providing a decoder applying precharging only to a precharge device connecting to a signal readout line selected by a selector. CONSTITUTION:The storage device is made up of a decoder 1 applying precharging only to a precharge device 4 connecting to a signal readout line selected by a selector 7 and a synchronizing device 9 synchronizing a decoder output with a precharge timing, the precharge device 4 connects to the synchronizing device 4 and the precharge device 4 precharging the signal readout line synchronously with the decoder output is selected. That is, only the selected signal readout line is pre-charged. Thus, power consumption, power noise and radiation are reduced easily.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、信号読出し時のプリチャージ動作を選択的に
行わせる選択手段を備えた半導体記憶装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device equipped with selection means for selectively performing a precharge operation during signal reading.

従来の技術 近年、LSIの高集積化、高機能化にともない、RAM
、ROMなどの記憶装置を備えたLSIにおいて、記憶
装置の記憶容量の増大が著しくなってきている。
Conventional technology In recent years, as LSIs have become more highly integrated and highly functional, RAM
In LSIs equipped with storage devices such as ROM and ROM, the storage capacity of the storage devices is increasing significantly.

以下、従来の半導体記憶装置について説明する。A conventional semiconductor memory device will be described below.

第2図は従来の半導体記憶装置の構成図であり、20は
アドレス線を選択するためのデコーダ、21は信号読出
し線を選択するためのデコーダである。
FIG. 2 is a block diagram of a conventional semiconductor memory device, in which 20 is a decoder for selecting an address line, and 21 is a decoder for selecting a signal read line.

22は信号読出し線に接続された複数のプリチャージ部
221〜224を有するプリチャージ装置であり、それ
ぞれのプリチャージ部221〜224にプリチャージ信
号20[1が供給される。23はプリチャージ部221
〜224に対応して信号読出し線に接続された複数の記
憶素子列部231〜234を有する記憶素子配列であり
、デコーダ20に接続されている。24は記憶素子列2
31〜234に対応して信号読出し線に接続された複数
のセレクタ部241〜244を有する第1セレクタ装置
、25はそれぞれのセレクタ部241〜244の出力が
データ入力251〜254に入力され、データ出力25
5に記憶素子配列23の選択された記憶素子の内容が出
力される第2セレクタ装置であり、それぞれデコーダ2
1に接続されている。
Reference numeral 22 denotes a precharge device having a plurality of precharge sections 221 to 224 connected to the signal readout line, and a precharge signal 20[1 is supplied to each of the precharge sections 221 to 224. 23 is a precharge section 221
This is a storage element array having a plurality of storage element column parts 231 to 234 connected to signal readout lines corresponding to 224 and connected to the decoder 20. 24 is memory element row 2
A first selector device 25 has a plurality of selector sections 241 to 244 connected to signal readout lines in correspondence with 31 to 234; Output 25
5 is a second selector device to which the contents of the selected memory element of the memory element array 23 are output;
Connected to 1.

このように構成された半導体記憶装置について、以下そ
の動作について説明する。まず、プリチャージ信号20
0がハイレベルになると、プリチャージ装置22のプリ
チャージ部221〜224に接続された信号読出し線が
プリチャージされる。また、プリチャージ信号200は
インバータ26を介してデコーダ20の出力許可人力2
08に入力されており、このとき、デコーダ20の出力
は全てロウレベルになる。次にプリチャージ信号2Hが
ロウレベルになると、プリチャージ装置22のプリチャ
ージ部221〜224は信号読出し線のプリチャージを
やめる。
The operation of the semiconductor memory device configured in this manner will be described below. First, precharge signal 20
When 0 becomes high level, the signal read lines connected to the precharge sections 221 to 224 of the precharge device 22 are precharged. Further, the precharge signal 200 is passed through the inverter 26 to the output permission 2 of the decoder 20.
08, and at this time, all outputs of the decoder 20 become low level. Next, when the precharge signal 2H becomes low level, the precharge sections 221 to 224 of the precharge device 22 stop precharging the signal readout line.

また、デコーダ20の出力許可入力208はハイレベル
になるため、デコーダ20はアドレス入力205〜20
7によって選ばれるアドレス線をハイレベルにする。ア
ドレス線により選択された記憶素子配列23の記憶素子
は信号読出し線に記憶内容を出力する。選択された信号
読出し線の記憶内容は第1セレクタ装置24のセレクタ
部241〜244に入力され、デコーダ21に入力され
るアドレス入力203 、 204により選択され、第
2セレクタ装置25に入力される。第2セレクタ装置2
5はデコーダ21に入力されるアドレス入力201 、
202によりさらに選択を行い、その結果、データ出力
255にはアドレス人力H1〜2117で選択された記
憶素子の内容が出力される。
Further, since the output permission input 208 of the decoder 20 becomes high level, the decoder 20 outputs the address inputs 205 to 20.
The address line selected by 7 is set to high level. The storage elements of the storage element array 23 selected by the address line output their stored contents to the signal readout line. The stored contents of the selected signal readout line are input to the selector sections 241 to 244 of the first selector device 24, selected by the address inputs 203 and 204 input to the decoder 21, and input to the second selector device 25. Second selector device 2
5 is an address input 201 input to the decoder 21;
A further selection is made in step 202, and as a result, the contents of the memory element selected in address input H1-2117 are outputted to data output 255.

発明か解決しようとする課題 しかしながら上記の従来の構成では、記憶信号の読出し
の際に全ての信号読出し線のプリチャージを行うため、
消費電力が大きく、また発生する電源ノイズ、輻射が大
きいという問題を有していた。
Problems to be Solved by the Invention However, in the above-mentioned conventional configuration, all signal read lines are precharged when reading a storage signal.
This has the problem of high power consumption, and high power supply noise and radiation.

本発明は上記従来の問題を解決するもので、消費電力、
電源ノイズ、輻射の軽減を簡単な構成により実現するこ
とのできる半導体記憶装置を提供することを目的とする
ものである。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems, such as power consumption,
It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device that can reduce power supply noise and radiation with a simple configuration.

課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明の半導体記憶装置は、
セレクタによって選択された信号読出し線に接続された
プリチャージ装置のみをプリチャージ動作させるための
デコーダと、デコーダ出力をプリチャージタイミングと
同期させるための同期装置を備え、同期装置にプリチャ
ージ装置を接続し、デコーダ出力に同期して信号読出し
線をプリチャージするプリチャージ装置を選択するよう
にしたものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the semiconductor memory device of the present invention includes:
Equipped with a decoder to precharge only the precharge device connected to the signal readout line selected by the selector, and a synchronizer to synchronize the decoder output with the precharge timing, and connect the precharge device to the synchronizer. However, a precharge device that precharges the signal readout line in synchronization with the decoder output is selected.

作用 上記構成により、アドレス信号により選択された信号読
出し線を含む一部のプリチャージ装置に対してのみプリ
チャージを行う選択手段を備えたことにより、選択され
た信号読出し線のみをプリチャージすることが可能とな
り、半導体装置の消費電力、電源ノイズ、輻射の低減を
容易に実現することができる。
Effect: With the above configuration, the selection means for precharging only a part of the precharge device including the signal readout line selected by the address signal is provided, so that only the selected signal readout line can be precharged. This makes it possible to easily reduce the power consumption, power supply noise, and radiation of the semiconductor device.

実施例 以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。Example An embodiment of the present invention will be described below based on the drawings.

第1図は本発明の一実施例における半導体装置の構成を
示すブロック図である。第1図において、2.3はデコ
ーダ、4は複数のプリチャージ部41〜44よりなるプ
リチャージ装置、5は複数の記憶素子列51〜54より
なる記憶素子配列、6は複数のセレクタill〜54よ
りなる第1セレクタ装置、7は第2セレクタ装置、8は
インバータであり、従来例におけるデコーダ20.2L
プリチヤージ装置22、記憶素子配列23、第1および
第2セレクタ装置24.25およびインバータ26と同
等の構成を有している。1は第2セレクタ装置3によっ
て選択された信号読出し線に接続されるプリチャージ装
置4のプリチャージ部41〜44のみをプリチャージ動
作させるためのデコーダであり、このデコーダ1に接続
された同期装置9は、入力されたプリチャージ信号10
5がプリチャージ装置4のそれぞれのプリチャージ部4
1〜44にプリチャージセレクト信号101〜104と
して選択供給されるように、デコーダ1の出力に対して
同期をとっている。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a semiconductor device in one embodiment of the present invention. In FIG. 1, 2.3 is a decoder, 4 is a precharge device consisting of a plurality of precharge sections 41 to 44, 5 is a storage element array consisting of a plurality of storage element columns 51 to 54, and 6 is a plurality of selectors ill to 54 is a first selector device, 7 is a second selector device, 8 is an inverter, and decoder 20.2L in the conventional example
It has the same configuration as the precharge device 22, the memory element array 23, the first and second selector devices 24, 25, and the inverter 26. 1 is a decoder for precharging only the precharging sections 41 to 44 of the precharging device 4 connected to the signal readout line selected by the second selector device 3; a synchronizing device connected to this decoder 1; 9 is the input precharge signal 10
5 is each precharge part 4 of the precharge device 4
1 to 44 as precharge select signals 101 to 104.

このように構成された半導体記憶装置について、以下そ
の動作を説明する。まず、アドレス信号121 、12
2によってたとえば第1セレクタ装置6の記憶素子列5
1に対応するセレクタ部61の出力が第2セレクタ装置
7によりそのデータ入カフ01として選択され、このデ
ータ人カフ01が選択されているときに、プリチャージ
信号105が/Sイレベルになると、アドレス信号12
1 、122によってデコーダ1で選択されたプリチャ
ージセレクト信号1[11がローレベル、その他のプリ
チャージセレクト信号102〜104はハイレベルにな
る。これによりプリチャージ装置4の記憶素子列51に
対応するプリチャージ部41だけがプリチャージを行い
、その他のプリチャージ部42〜44はプリチャージを
行わないように動作し、これにより記憶素子配列5のう
ち第2セレクタ装置7によって選択されている記憶素子
列51のみがプリチャージされる。次に、プリチャージ
信号105がローレベルになると、インバータ8の出力
128はハイレベルとなり、デコーダ2はアドレス信号
125〜127によって選択されるアドレス線のみをハ
イレベルにする。信号読出し線はセレクタ装置6.7に
よって、アドレス信号121〜124にしたがって選択
され、最終的にはアドレス信号121〜127により選
択された記憶素子の内容がデータ出カフ05に出力され
る。
The operation of the semiconductor memory device configured in this manner will be described below. First, address signals 121, 12
2, for example, the storage element array 5 of the first selector device 6.
1 is selected by the second selector device 7 as the data input cuff 01, and when the precharge signal 105 becomes /S I level while this data input cuff 01 is selected, the address signal 12
1 and 122, the precharge select signal 1[11 selected by the decoder 1 becomes low level, and the other precharge select signals 102 to 104 become high level. As a result, only the precharge section 41 corresponding to the storage element array 51 of the precharge device 4 performs precharging, and the other precharge sections 42 to 44 operate so as not to perform precharging. Among them, only the memory element column 51 selected by the second selector device 7 is precharged. Next, when the precharge signal 105 becomes low level, the output 128 of the inverter 8 becomes high level, and the decoder 2 sets only the address lines selected by the address signals 125 to 127 to high level. The signal readout line is selected by the selector device 6.7 according to the address signals 121-124, and finally the contents of the storage element selected by the address signals 121-127 are outputted to the data output cuff 05.

以上のように本実施例によれば、アドレス信号により選
択された信号読出し線を含むプリチャージ装置4のプリ
チャージ部41〜44に対してのみプリチャージを行う
ことにより、消費電力の低減、電源ノイズ、輻射の低減
を容易に実現することができる。
As described above, according to this embodiment, by precharging only the precharge sections 41 to 44 of the precharge device 4 including the signal readout line selected by the address signal, power consumption can be reduced and the power supply Noise and radiation can be easily reduced.

なお、本実施例は、読出し専用記憶装置(ROM)ある
いはランダムアクセスメモリ(RAM)よりなる半導体
記憶装置に対してそれぞれ適用できるものである。
Note that this embodiment can be applied to a semiconductor memory device consisting of a read-only memory (ROM) or a random access memory (RAM).

発明の効果 以上のように、本発明によれば、アドレス信号により選
択された信号読出し線を含む一部のプリチャージ装置に
対してのみプリチャージを行うので、消費電力、電源ノ
イズ、輻射の低減を容易に実現することかできる。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, since precharging is performed only on a part of the precharging device including the signal readout line selected by the address signal, power consumption, power supply noise, and radiation can be reduced. can be easily realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例における半導体記憶装置の構
成を示すブロック図、第2図は従来の半導体記憶装置の
構成を示すブロック図である。 1.2.3・・・デコーダ、4・・・プリチャージ装置
、5・・・記憶素子配列、6.7・・・第1および第2
セレクタ装置、9・・・同期装置、1[11〜104・
・・プリチャージセレクト信号、105・・・プリチャ
ージ信号、121〜127・・・アドレス信号、705
・・・データ出力。
FIG. 1 is a block diagram showing the structure of a semiconductor memory device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing the structure of a conventional semiconductor memory device. 1.2.3... Decoder, 4... Precharge device, 5... Storage element array, 6.7... First and second
Selector device, 9... Synchronization device, 1[11-104.
...Precharge select signal, 105...Precharge signal, 121-127...Address signal, 705
...Data output.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1)信号読出し線をプリチャージするプリチャージ装置
と、信号読出し線を選択するセレクタと、セレクタによ
って選択された信号読出し線に接続されたプリチャージ
装置のみプリチャージ動作をさせるためのデコーダと、
デコーダ出力をプリチャージ装置に選択供給されるプリ
チャージセレクト信号と同期させるための同期装置を有
する半導体記憶装置。
1) a precharge device that precharges a signal readout line, a selector that selects a signal readout line, and a decoder that causes only the precharge device connected to the signal readout line selected by the selector to perform a precharge operation;
A semiconductor memory device having a synchronization device for synchronizing a decoder output with a precharge select signal selectively supplied to a precharge device.
JP2052498A 1990-03-02 1990-03-02 Semiconductor storage device Pending JPH03254498A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2052498A JPH03254498A (en) 1990-03-02 1990-03-02 Semiconductor storage device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2052498A JPH03254498A (en) 1990-03-02 1990-03-02 Semiconductor storage device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03254498A true JPH03254498A (en) 1991-11-13

Family

ID=12916387

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2052498A Pending JPH03254498A (en) 1990-03-02 1990-03-02 Semiconductor storage device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03254498A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62189694A (en) * 1986-02-17 1987-08-19 Nec Corp Semiconductor memory device
JPS63291289A (en) * 1986-12-30 1988-11-29 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド Pre-charging system of static ram

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62189694A (en) * 1986-02-17 1987-08-19 Nec Corp Semiconductor memory device
JPS63291289A (en) * 1986-12-30 1988-11-29 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド Pre-charging system of static ram

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5666321A (en) Synchronous DRAM memory with asynchronous column decode
KR100267962B1 (en) Semiconductor memory device with a pipe-line operation
US6243797B1 (en) Multiplexed semiconductor data transfer arrangement with timing signal generator
KR100945968B1 (en) A semiconductor memory
EP0562604B1 (en) Semiconductor first-in first-out memory device
US5943252A (en) Content addressable memory
TW411616B (en) Dynamic RAM
JPH07326190A (en) Semiconductor memory device
US4979145A (en) Structure and method for improving high speed data rate in a DRAM
KR930000767B1 (en) Semiconductor memory devices
JPH01195554A (en) Serial access memory device
US5572477A (en) Video ram method for outputting serial data
US6775201B2 (en) Method and apparatus for outputting burst read data
JPH04212775A (en) Semiconductor memory device
KR960006272B1 (en) Flash write circuit of semiconductor memory device
KR970060231A (en) Semiconductor device and semiconductor memory device
JPS6220632B2 (en)
JP2004127382A (en) Synchronous semiconductor storage device and test method therefor
JPH09161475A (en) Semiconductor storage
KR930000768B1 (en) Semiconductor memory device
US6138214A (en) Synchronous dynamic random access memory architecture for sequential burst mode
JPH03254498A (en) Semiconductor storage device
US5841727A (en) Semiconductor memory device
JP2623460B2 (en) Semiconductor storage device
JP3707919B2 (en) Integrated circuit including DRAM