JPH03251739A - Apparatus for thermal shock test - Google Patents
Apparatus for thermal shock testInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、電子部品などの冷熱衝撃試験を行うための冷
熱衝撃試験装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a thermal shock testing device for conducting thermal shock testing of electronic components and the like.
（従来の技術）
従来、この種冷熱衝撃試験装置として、低温室と高温室
及びテスト室を備え、前記低温室の内部に、冷却器と複
数の蓄冷板をもった蓄冷器とを配設し、前記低温室内で
前記冷却器による冷却熱を蓄冷器の蓄冷板に蓄熱し、前
記低温室とテスト室とを連通させて、このテスト室内で
低温さらしを行うとき、該テスト室内に前記蓄冷器で蓄
冷した冷却熱と前記冷却器による冷却熱とを放出して、
前記テスト室の内部温度を所定の低温さらし温度にまで
速やかに冷却するようにしたものは、例えば実公昭５８
−２４２０２号公報などで知られている。(Prior Art) Conventionally, this type of thermal shock testing apparatus has been equipped with a low temperature chamber, a high temperature chamber, and a test chamber, and a cooler and a regenerator having a plurality of regenerator plates are disposed inside the low temperature chamber. , the cooling heat generated by the cooler is stored in a cold storage plate of a cold storage in the low temperature chamber, and when the low temperature chamber and the test chamber are communicated with each other and low temperature exposure is performed in the test chamber, the cold storage is stored in the test chamber. releasing the cooling heat stored in the cooler and the cooling heat by the cooler,
A device that rapidly cools the internal temperature of the test chamber to a predetermined low-temperature exposure temperature is disclosed in, for example, the Utility Model Publication Act of 1983.
This is known from, for example, Japanese Patent No.-24202.
また、以上のような冷熱衝撃試験装置では、前記低温室
内での蓄冷時や前記テスト室での低温さらし時に、前記
蓄冷器の各蓄冷板間を通過する冷却空気中結晶した雪状
結晶体（フロスト）が、該６蓄冷板に付着するのである
。このため、前記各蓄冷板に付着したフロストを除去す
べく、定期的にヒータによるデフロストを行うようにし
ている。In addition, in the thermal shock test apparatus as described above, during cold storage in the low temperature chamber or exposure to low temperature in the test chamber, snow-like crystals ( frost) adheres to the 6 cold storage plates. For this reason, in order to remove the frost adhering to each of the cold storage plates, defrost is periodically performed using a heater.
（発明が解決しようとする課題）
所で、以上のような蓄冷器の各蓄冷板間に付着したフロ
ストは、その熱容量が大きいため、ヒータでデフロスト
を行うときに、長時間を必要としたのである。(Problem to be Solved by the Invention) However, since the frost adhered between the cold storage plates of the cold storage device as described above has a large heat capacity, it takes a long time to defrost it with a heater. be.
本発明は以上のような問題に鑑みてなしたもので、その
目的は、蓄冷器の各蓄冷板に付着したフロストを、確実
かつ速やかに除去できる冷熱衝撃試験装置を提供するこ
とにある。The present invention was made in view of the above-mentioned problems, and an object thereof is to provide a thermal shock testing device that can reliably and quickly remove frost attached to each cold storage plate of a cold storage device.
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために、本発明では、低温室（３）
と高温室（２）及びテスト室（１）を備え、前記低温室
（３）に、冷却器（３１）と複数の蓄冷板（３３ａ）を
もった蓄冷器（３３）とを内装した冷熱衝撃試験装置に
おいて、前記蓄冷器（３３）を移動可能に設け、この移
動軌跡内に、前記蓄冷板（３３ａ）が通る隙間を置いて
隣接する複数の掻取体（５１）をもつ掻取具（５）を配
設したことを特徴とするものである。(Means for Solving the Problem) In order to achieve the above object, the present invention provides a cold room (3)
Thermal shock is equipped with a high temperature chamber (2) and a test chamber (1), and the low temperature chamber (3) is equipped with a cooler (31) and a regenerator (33) having a plurality of regenerator plates (33a). In the test apparatus, the regenerator (33) is movably provided, and a scraping tool (51) having a plurality of adjacent scrapers (51) with gaps in the movement path through which the regenerator (33a) passes is provided. 5).
また、前記掻取体（５１）は、櫛刃状掻取板で形成し、
その背面側に電気ヒータ（５２）を配設してもよい。Further, the scraping body (51) is formed of a comb blade-shaped scraping plate,
An electric heater (52) may be provided on the back side.
（作用）
前記蓄冷器（３３）の蓄冷板（３３ａ）にフロストが付
着した場合、この蓄冷器（３３）を前記掻取具（５）に
対し移動させ、該掻取具（５）の掻取体（５１）間を前
記各蓄冷板（３３ａ）を通過させるのである。しかして
、これら各蓄冷板（３３ａ）に付着するフロストは雪状
結晶体であるため前記掻取体（５１）の掻取りにより前
記フロストは強制的に、かつ、有効に除去され、速やか
なデフロストが行われる。(Function) When frost adheres to the cold storage plate (33a) of the cold storage device (33), move the cold storage device (33) with respect to the scraping tool (5) and remove the frost from the scraping tool (5). Each of the cold storage plates (33a) is passed between the handles (51). Since the frost adhering to each of the cold storage plates (33a) is in the form of snow crystals, the frost is forcibly and effectively removed by scraping with the scraper (51), and the defrost is quickly removed. will be held.
また、前記掻取体（５１）を櫛刃状掻取板で形成し、そ
の背面側に電気ヒータ（５２）を配設するときには、前
記掻取体（５１）でフロストが確実に掻取られるし、ま
た、フロスト掻取りに伴い前記掻取体（５１）側に付着
したフロストは、前記ヒータ（５２）の加熱で速やかに
除去される。Furthermore, when the scraping body (51) is formed of a comb-shaped scraping plate and the electric heater (52) is disposed on the back side thereof, the frost can be reliably scraped off by the scraping body (51). Furthermore, the frost adhering to the scraping body (51) during frost scraping is quickly removed by the heating of the heater (52).
（実施例）
第２図に示した冷熱衝撃試験装置は、ノ＼ウジング（Ｈ
Ｇ）の内部を断熱隔壁（Ｗ）で３つに区画して、中央部
に電子部品などの冷熱衝撃試験を行うテスト室（１）を
、該テスト室（１）に隣接して上下部位に、高温室（２
）と低温室（３）とをそれぞれ形成して、前記高温室（
２）内に加熱器（２１）及び加熱ファン（２２）を配置
すると共に、前記低温室（３）内に、冷却器（３１）と
冷却ファン（３２）及び複数枚の蓄冷板（３３ａ）を備
えた蓄冷器（３３）を配置している。(Example) The thermal shock test apparatus shown in FIG.
The interior of G) is divided into three parts by heat-insulating partition walls (W), with a test chamber (1) for performing thermal shock tests on electronic components etc. in the center, and upper and lower parts adjacent to the test chamber (1). , high temperature chamber (2
) and a low temperature chamber (3), respectively, and the high temperature chamber (
2) A heater (21) and a heating fan (22) are arranged in the cold room (3), and a cooler (31), a cooling fan (32), and a plurality of cold storage plates (33a) are arranged in the cold room (3). A regenerator (33) is provided.
また、前記テスト室（１）と高温室（２）とを画成する
隔壁（Ｗ）に、吸排用の連通口（１１）（１２）をそれ
ぞれ設けて、該多連通口（１１）（１２）に高温ダンパ
（４１）（４１）を開閉可能に取付けると共に、前記テ
スト室（１）と低温室（３）とを画成する隔壁（Ｗ）に
、吸排用の連通口（１３）（１４）をそれぞれ設けて、
該多連通口（１３）（１４）に低温ダンパ（４２）（４
２）を開閉可能に取付けている。In addition, communication ports (11) and (12) for suction and exhaust are provided in the partition wall (W) that defines the test chamber (1) and the high temperature room (2), respectively. ), the high-temperature dampers (41) (41) are attached so as to be openable and closable, and the bulkhead (W) that separates the test chamber (1) and the low-temperature chamber (3) is provided with communication ports (13) (14) for suction and exhaust. ) respectively,
Low temperature dampers (42) (4) are connected to the multiple communication ports (13) (14).
2) It is installed so that it can be opened and closed.
そして、前記テスト室（１）で電子部品の冷熱衝撃試験
を行う場合には、先ず、同図の一点鎖線で示したように
、前記各高温ダンパ（４１）を開放し、前記高温室（２
）内の加熱空気を前記テスト室（１）へと導入させて、
前記電子部品の高温さらしを行い、次に、前記各高温ダ
ンパ（４１）を閉鎖した後、同図の二点鎖線で示したよ
うに、前記各低温ダンパ（４２）を開放して、前記低温
室（３）内の冷却空気を前記テスト室（１）内に導入す
ることにより、前記電子部品の低温さらしを行うのであ
る。また、以上のような電子部品の高温さらし時には、
前記低温室（３）において、前記冷却器（３１）による
冷却空気を、前記蓄冷器（３３）の各蓄冷板（３３ａ）
間を通過させることにより、この蓄冷器（３３）で蓄熱
し、該蓄冷器（３３）で蓄熱された冷却熱と、前記冷却
器（３１）による冷却熱とを、以上の低温さらし時に、
前記テスト室（１）側に供給して、該テスト室（１）内
を速やかに冷却するのである。When performing a thermal shock test on electronic components in the test chamber (1), first, as shown by the dashed line in the figure, each of the high temperature dampers (41) is opened, and the high temperature chamber (2) is opened.
) is introduced into the test chamber (1),
After exposing the electronic components to high temperatures and then closing each of the high-temperature dampers (41), each of the low-temperature dampers (42) is opened as shown by the two-dot chain line in the same figure, and the low-temperature dampers are exposed to high temperatures. By introducing the cooling air in the chamber (3) into the test chamber (1), the electronic components are exposed to low temperatures. In addition, when exposing electronic components to high temperatures as described above,
In the cold room (3), the cooling air from the cooler (31) is transferred to each cold storage plate (33a) of the cold storage device (33).
By passing the heat through the regenerator (33), the cooling heat stored in the regenerator (33) and the cooling heat by the cooler (31) are transferred to the above-described low temperature exposure.
It is supplied to the test chamber (1) to quickly cool the inside of the test chamber (1).
しかして、以上の衝撃試験装置において、第１図で詳し
く示したごとく、前記蓄冷器（３３）は複数の蓄冷板（
３３ａ）を所定の同一間隔を置いて整列させ、これら各
蓄冷板（３３ａ）の長さ方同−側をスペーサ（３５）に
よって連結して回転軸（３４）を貫通させると共に、該
回転軸（３４）を前記ハウジング（ＨＧ）の壁部から外
方に突出させ、この突出端部を減速歯車機構を備えたモ
ータ（図示せず）に連動連結して、該モータの回転駆動
により、前記蓄冷器（３３）の全体を、前記低温ダンパ
（４２）が配設される給気用連通口（１３）と対向する
水平位置（第２図実線位置）から、はぼ１８０度（同仮
想線位置）の回転範囲にわたって転回可能となす。また
、前記低温室（３）の下部側で前記蓄冷器（３３）の回
転軌跡上には、前記各蓄冷板（３３ａ）に付着したフロ
ストを除去する掻取具（５）を垂直状に配設するのであ
って、この掻取具（５）は、前記各蓄冷板（３３ａ）の
通過を許す所定の隙間を置いて整列された複数の掻取体
（５１）で構成される。In the above impact test apparatus, as shown in detail in FIG. 1, the regenerator (33) has a plurality of regenerator plates (
33a) are arranged at the same predetermined intervals, and the same lengthwise sides of each cold storage plate (33a) are connected by a spacer (35) so that the rotating shaft (34) passes through the rotating shaft (34). 34) protrudes outward from the wall of the housing (HG), and this protruding end is operatively connected to a motor (not shown) equipped with a reduction gear mechanism, so that the cold storage is caused by rotational drive of the motor. The entire container (33) is moved approximately 180 degrees from the horizontal position (solid line position in Figure 2) facing the air supply communication port (13) where the low-temperature damper (42) is arranged (the imaginary line position). ) can be rotated over the rotation range. Further, on the lower side of the cold room (3), on the rotation locus of the regenerator (33), a scraper (5) for removing frost attached to each of the regenerator plates (33a) is arranged vertically. This scraping tool (5) is composed of a plurality of scraping bodies (51) arranged with predetermined gaps that allow passage of each of the cold storage plates (33a).
前記掻取具（５）の各掻取体（５１）は、薄肉の金属又
は合成樹脂から成り、概略Ｖ形状をなす櫛刃状掻取板（
５１ａ）と、該掻取板（５１ａ）の開放側端部に、それ
ぞれ斜め内方に向けて一体に突出された前記各蓄冷板（
３３ａ）の戻りガイド（５１ｂ）（５１ｂ）とを備え、
前記各掻取体（５１）における掻取板（５１ａ）の内部
には、それぞれ電気ヒータ（５２）を設ける。Each scraping body (51) of the scraping tool (5) is made of thin metal or synthetic resin, and has a roughly V-shaped comb-like scraping plate (
51a), and each of the cold storage plates (51a) integrally protruded diagonally inward at the open end of the scraping plate (51a).
33a) return guides (51b) (51b);
An electric heater (52) is provided inside the scraping plate (51a) of each of the scraping bodies (51).
また、前記掻取具（５）の下部側には、前記各掻取体（
５１）で除去されたフロスト受は用のドレンパン（１３
）を配設し、該ドレンパン（６）に落下されたフロスト
をドレン管（６１）を介して外部に排出させるようにし
ている。Further, each of the scraping bodies (
The frost receptacle removed in step 51) is removed from the drain pan (13).
) is provided so that the frost dropped into the drain pan (6) is discharged to the outside via the drain pipe (61).
そして、前述したように、前記テスト室（１）内での高
温さらし時に前記低温室（３）内で蓄冷を行う場合には
、第３図実線で示したように、前記蓄冷器（３３）を水
平状態に保持し、該蓄冷器（３３）の各蓄冷板（３３ａ
）間に、前記冷却器（３１）からの冷却空気を通過させ
て蓄冷し、また、前記テスト室（１）内で低温さらしを
行う場合にも、同じく、前記蓄冷器（３３）を水平状態
に保持し、該蓄冷器（３３）の各蓄冷板（３３）間に前
記テスト室（１）内の空気を通過させて、このテスト室
（１）内へと還流させることで、該テスト室（１）の冷
却を行うのであるが、斯かる場合に、前記各蓄冷板（３
３ａ）にフロストが付着し、特に、該各蓄冷板（３３ａ
）の空気導入側にフロストが付着し易いのである。しか
して、前記各蓄冷板（３３ａ）にフロストが付着したと
き又は、定期的に、前記蓄冷器（３３）の全体を、同図
の仮想線で示したように、前記回転軸（３４）を中心に
ほぼ１８０度にわたって転回させるのであり、すると、
前記蓄冷器（３３）の転回途中で、その各蓄冷板（３３
ａ）が前記掻取具（５）の各掻取体（５１）間を通過し
て、該各掻取体（５１）で前記各蓄冷板（３３ａ）の付
着フロストが強制的に掻取り除去される。As described above, when storing cold in the low temperature chamber (3) during high temperature exposure in the test chamber (1), as shown by the solid line in FIG. 3, the regenerator (33) is held horizontally, and each cool storage plate (33a) of the cool storage device (33) is held horizontally.
), the cooling air from the cooler (31) is passed through to store cold, and also when performing low-temperature exposure in the test chamber (1), the regenerator (33) is placed in a horizontal position. The air in the test chamber (1) is maintained at (1) is performed, and in such a case, each of the cold storage plates (3
3a), frost is attached to each cold storage plate (33a).
) frost tends to adhere to the air inlet side. Therefore, when frost adheres to each of the regenerator plates (33a), or periodically, the entire regenerator (33) is moved around the rotating shaft (34) as shown by the imaginary line in the figure. It is rotated approximately 180 degrees around the center, and then,
During the rotation of the regenerator (33), each of the regenerator plates (33)
a) passes between each of the scraping bodies (51) of the scraping tool (5), and the frost adhering to each of the cold storage plates (33a) is forcibly scraped off and removed by each of the scraping bodies (51). be done.
また、前記各掻取体（５１）による掻取りに伴い、この
各掻取体（５１）側に付着したフロストは、前記ヒータ
（５２）による加熱で速やかに溶融されて、前記ドレン
パン（６）に落下され、前記ドレン管（６１）を介して
外部に排出される。In addition, as the frost is scraped by the scraping bodies (51), the frost adhering to the scraping bodies (51) is quickly melted by heating by the heater (52) and removed from the drain pan (6). and is discharged to the outside through the drain pipe (61).
尚、前記テスト室（１）内で低温さらしを行う場合で、
前記蓄冷器（３３）で蓄熱された冷却熱が放熱終了した
ようなとき、この蓄冷器（３３）を、前記給気用連通口
（１３）と対向する水平位置から、該連通口（１３）か
らの導入空気に接触しない他方位置へと回避させてもよ
く、斯くするときに、前記蓄冷器（３３）が冷却器（３
１）による冷却熱を奪ったりすることなく、前記テスト
室（１）内の設定さらし温度への到達時間を早めること
ができる。In addition, when performing low temperature exposure in the test chamber (1),
When the cooling heat stored in the regenerator (33) has finished dissipating, the regenerator (33) is moved from a horizontal position facing the air supply communication port (13) to the communication port (13). The regenerator (33) may be moved to the other position where it does not come into contact with the air introduced from the cooler (33).
The time required to reach the set exposure temperature in the test chamber (1) can be accelerated without taking away the cooling heat caused by (1).
また、以上の実施例では、前記蓄冷器（３３）を回転軸
（３４）を介して転回移動させる場合について説明した
が、前記蓄冷器（３３）は、スライド移動させることも
可能である。即ち、第３図で示したように、前記低温室
（３）内に水平方向に延びるレール（３５）を配設して
、このレール（３５）に、該レール（３５）に沿って転
勤される転動輪（３６）をもつ支持杆（３７）を介して
、前記蓄冷器（３３）を吊下げ状に支持すると共に、前
記支持杆（３７）をエアシリンダ（３８）に連動連結し
て、このシリンダ（３８）の動作で前記蓄冷器（３３）
を前記レール（３５）に沿って水平方向にスライドさせ
、このスライド時に、前記蓄冷器（３３）の各蓄冷板（
３３ａ）を、そのスライド軌跡上に配設した前記掻取具
（５）の各掻取体（５１）間を通過させて、前記各蓄冷
板（３３ａ）の付着フロストを強制的に掻取るのである
。Further, in the above embodiment, the case where the regenerator (33) is rotated and moved via the rotating shaft (34) has been described, but the regenerator (33) can also be moved in a sliding manner. That is, as shown in FIG. 3, a horizontally extending rail (35) is provided in the cold room (3), and the workers are transferred to this rail (35) along the rail (35). The regenerator (33) is supported in a suspended manner through a support rod (37) having rolling wheels (36), and the support rod (37) is interlocked and connected to an air cylinder (38). The operation of this cylinder (38) causes the regenerator (33) to
horizontally along the rails (35), and at the time of this sliding, each cold storage plate (33) of the cold storage device (33)
33a) is passed between the scraping bodies (51) of the scraping tool (5) disposed on its slide trajectory to forcibly scrape off the frost adhering to each of the cold storage plates (33a). be.
（発明の効果）
以上説明したように、本発明にかかる冷熱衝撃試験装置
では、低温室（３）内に配設する蓄冷器（３３）を移動
可能となし、この移動軌跡内に、前記蓄冷器（３３）の
各蓄冷板（３３ａ）が通る隙間を置いて隣接する複数の
掻取体（５１）をもった掻取具（５）を配設したから、
前記各蓄冷板（３３ａ）に付着したフロストを確実かつ
速やかに除去できるに至ったのである。(Effects of the Invention) As explained above, in the thermal shock test apparatus according to the present invention, the cold storage device (33) disposed in the cold room (3) is movable, and within this movement trajectory, the cold storage device (33) is movable. Since the scraping tool (5) having a plurality of scraping bodies (51) adjacent to each other with gaps through which each of the cold storage plates (33a) of the container (33) passes is disposed,
The frost adhering to each of the cold storage plates (33a) can now be removed reliably and quickly.
また、前記掻取体（５１）を櫛刃杖掻取板で形成し、そ
の背面側に電気ヒータ（５２）を配設することにより、
前記掻取体（５１）で前記蓄冷板（３３ａ）側のフロス
トを確実に掻取ることができながら、フロスト掻取りに
伴い前記掻取体（５１）側に付着したフロストを速やか
に除去できるのである。Furthermore, the scraping body (51) is formed of a comb blade cane scraping plate, and an electric heater (52) is disposed on the back side of the scraping plate.
While the scraping body (51) can reliably scrape off the frost on the cold storage plate (33a) side, the frost adhering to the scraping body (51) side due to frost scraping can be quickly removed. be.
第１図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の要部を示す
斜面図、第２図は同冷熱衝撃試験装置の断面図、第３図
は他の実施例を示す概略図である。
（１）−・ ・
（２） −−・
（３） ・ ・ ・
（３１） Φ ・
（３３） ・ ・
（３３ａ） ・
（５） ・ ・ ・
（５１） ・ ・
（５１ａ） １１
（５２） ・ ・
・テスト室
一高温室
・低温室
・冷却器
・蓄冷器
・蓄冷板
・掻取具
・掻取体
１１掻取板
・電気ヒータ
第１図
５１凋す１冷FIG. 1 is a perspective view showing the main parts of a thermal shock testing apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the thermal shock testing apparatus, and FIG. 3 is a schematic diagram showing another embodiment. (1) −・ ・ (2) −−・ (3) ・ ・ ・ (31) Φ ・ (33) ・ ・ (33a) ・ (5) ・ ・ ・ (51) ・ ・ (51a) 11 (52)・ ・ ・Test room 1 High temperature room, low temperature room, cooler, cold storage device, cold storage board, scraping tool, scraping body 11 scraping board, electric heater Figure 1 51 cooling 1 cooling
Claims (1)
備え、前記低温室（３）に、冷却器（３１）と複数の蓄
冷板（３３ａ）をもった蓄冷器（３３）とを内装した冷
熱衝撃試験装置において、前記蓄冷器（３３）を移動可
能に設け、この移動軌跡内に、前記蓄冷板（３３ａ）が
通る隙間を置いて隣接する複数の掻取体（５１）をもつ
掻取具（５）を配設したことを特徴とする冷熱衝撃試験
装置。 ２）掻取体（５１）が櫛刃状掻取板から成り、その背面
側に電気ヒータ（５２）を配設している請求項１記載の
冷熱衝撃試験装置。[Claims] 1) A low temperature chamber (3), a high temperature chamber (2), and a test chamber (1) are provided, and the low temperature chamber (3) is equipped with a cooler (31) and a plurality of cold storage plates (33a). In a thermal shock test apparatus equipped with a regenerator (33), the regenerator (33) is movably provided, and a plurality of adjacent regenerators (33) are arranged so that the regenerator (33) is movable, and a gap is provided between the regenerators (33) and the regenerator plates (33a) pass through the locus of movement. A thermal shock testing device characterized in that a scraping tool (5) having a scraping body (51) is disposed. 2) The thermal shock testing apparatus according to claim 1, wherein the scraping body (51) is made of a comb-like scraping plate, and an electric heater (52) is disposed on the back side thereof.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5041990A JP2836169B2 (en) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Thermal shock test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5041990A JP2836169B2 (en) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Thermal shock test equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03251739A true JPH03251739A (en) | 1991-11-11 |
| JP2836169B2 JP2836169B2 (en) | 1998-12-14 |
Family
ID=12858348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5041990A Expired - Lifetime JP2836169B2 (en) | 1990-02-28 | 1990-02-28 | Thermal shock test equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2836169B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009300358A (en) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Espec Corp | Heat accumulator |
| CN106802273A (en) * | 2015-10-01 | 2017-06-06 | 韩国建设生活环境试验研究院 | Expose the open field test equipment for accelerating |
| CN113533110A (en) * | 2021-07-16 | 2021-10-22 | 中国兵器工业第五九研究所 | Method for evaluating high-temperature gas scouring resistance of titanium-aluminum-based alloy |
-
1990
- 1990-02-28 JP JP5041990A patent/JP2836169B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009300358A (en) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Espec Corp | Heat accumulator |
| CN106802273A (en) * | 2015-10-01 | 2017-06-06 | 韩国建设生活环境试验研究院 | Expose the open field test equipment for accelerating |
| CN106802273B (en) * | 2015-10-01 | 2019-12-31 | 韩国建设生活环境试验研究院 | Outdoor test equipment with accelerated exposure |
| CN113533110A (en) * | 2021-07-16 | 2021-10-22 | 中国兵器工业第五九研究所 | Method for evaluating high-temperature gas scouring resistance of titanium-aluminum-based alloy |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2836169B2 (en) | 1998-12-14 |
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