JPH03242506A - 距離計測方法 - Google Patents

距離計測方法

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JPH03242506A
JPH03242506A JP2039039A JP3903990A JPH03242506A JP H03242506 A JPH03242506 A JP H03242506A JP 2039039 A JP2039039 A JP 2039039A JP 3903990 A JP3903990 A JP 3903990A JP H03242506 A JPH03242506 A JP H03242506A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複数の視点から静止剛体を撮影した複数枚の
画像から、自動的に該静止剛体の3次元形状情報を計測
する距離計測方法に関する。
〔従来の技術〕
従来の技術として、以下の2手法があげられる。
■ 2〜3台のカメラを基線長りだけ離して設置し、静
止剛体の画像を2〜3枚撮影する方法■ 1台のカメラ
の視軸を静止剛体に向けたまま基線長りだけ等速並進運
動させ、一定時間間隔で該静止剛体の画像をN枚撮影す
る方法どちらの手法においても、撮影された静止剛体の
各画像間での対応点を求め、三角測量の原理で該静止剛
体の形状を計測する。従って計測精度をあげるためには
基線長りをなるべく大きく取る必要がある。■の手法で
は基線長りを大きく取ると。
対応点の隠れなどが発生するため、対応点探索は困難に
なる。一方■では対応点探索問題を以下の様な直線抽出
問題に置き換えることができるため隠れなどが発生して
も対応点付を行うことが可能である。
第3図ialに示すように、ワールド座標系○−XYZ
を設定し、視点をX軸上におき、視軸をZ軸の正方向と
する。角点距離をFとすると、ワール1′座標系内の3
次元物体は面Z=F上に中心投影される。投影面座標o
−xyは視軸との交点を原点とし、各座標軸の方向はワ
ールド座標系の座標軸と一致させる。視点をX軸上に移
動させつつ微少移動ピッチδX毎に投影画像を蓄積する
。得られた画像列を順番に並べると、第3図fblのよ
うな3次元画像(時空間画像Spatio−tempo
ral image)を得ることができる。n番目の視
点位置のX座標をUとし、U=nδXとする。このとき
ワールド座標系内の点P (X、Y、Z)は投影面上の
点p(χ’、Y’、Z’)に次式で写像される。
X” −UF これを投影面座標(X、y)で表すと。
x=−(X−nδx  )     −−−−−12a
)y  =  −Y              −−
−−−−(2b)式(2b)は点Pの投影点が描く運動
軌跡が水平断面上に拘束されることを意味し2式(2a
)はその軌跡が直線であり、この直線の傾きから深さZ
を求められることを意味している。従って時空間画像を
水平線に沿って切断した画像(エピポーラ画像)から直
wA戒分を抽出することで、ワールド座標系内の3次元
物体の形状を計測することが可能である。
■の手法において、直線成分を抽出する手法として以下
の2手法が存在する。
■〜l:まずエピポーラ画像中から微分処理などによっ
て輝度変化が大きいエツジ部分だけを取り出し、このエ
ツジ部分の直線成分抽出を行う。このため、エピポーラ
画像中の輝度変化が緩やかな部分における直線成分を抽
出することは不可能である。輝度変化が緩やかな部分は
、−船釣には静止剛体の曲面部分に対応しており、従っ
て、従来手法では曲面部分の形状計測が不可能である。
■−2=エピポーラ画像から直線成分を抽出する際に、
エピポーラ画像をある輝度レベルVqで一旦、2値化す
る。この2値化の処理のとき、第4図(a)図示の如く
輝度変化が緩やかな部分について二:、第4図fb1図
示の如く偽輪郭線が現れる。この偽輪郭線は輝度変化が
緩やかな部分↓こおける等輝度線を表5でいる。したが
って輝度レベルVqを該エピポーラ画像中の最低輝度レ
ベルV1、。から最高輝度レベルv1%IIXの範囲で
、δνずつ変化させtがら、該エピポーラ画像の2値化
を繰り返し行い、得られ乏各2値画像から偽輪郭線を抽
出することて1輝度変化が緩やかな部分においても距離
計測が可能となる。すなわち Vqi= i・δV +V+mi++     ”−一
〜−−(3)(+ ”’ O+、、、+ CVm*x 
 V□、)/δv−1)でエピポーラ画像Eを(Vol
、−V、、、)/δシ回2イ直化する。得られた(V、
、、−V、iF、) /δV枚の2値画像Eqiの各々
には、輝度レベルVqiの2値化によって偽輪郭線が発
生する。そこで2値画像Eqiに微分処理などを施し、
偽輪郭線部分を点列とじて表現した画像E’qi を得
ることができる。このE’qiを偽輪郭線画像と呼び、
上記の処理を偽輪郭線画像抽出処理と呼ぶ、各偽輪郭線
画像にHough変換などの直線抽出手法を適用するこ
とで、偽輪郭線を直線として特定することができる。し
たがって輝度変化が緩やかな部分においても、偽輪郭線
として直線成分を抽出することで距離計測が可能となる
従来手法■−2では、輝度変化が緩やかな部分でも距離
計測が可能であるが、偽輪郭線を構成する点列集合のバ
ラツキはかなり大きいものとなる。
これは撮像素子(CODなど)のバラツキ等に起囚する
。したがって、 Hough変換における直線抽出の規
範が、単に「通過する点列の数が極大になるものを直線
とする。」ことであるから、これだけでは偽輪郭線の正
確な傾きを求めること(すなわち距離を求めること)は
出来ない。またHough変換による直線抽出では、パ
ラメータ空間における累積度数の極大値付近で5ide
lobeが形成されるため、単純に闇値で累積度数を区
切ると類似したパラメータを持つ複数本の直線を検出じ
てしまう可能性がある。
そこで従来手法■−2においては、以下の直線情報高精
度化処理を付加することによって、直線検出の高精度化
を行っていた。Hough変換などの直線抽出処理にお
いては、5idelobeの影響によって偽輪郭線の構
成点列集合C(f)に対して、N本の直線t i (i
 =O,,,,,N −1)が抽出された場合、もし各
直線tlが実際には同一の偽輪郭線から抽出されたもの
ならば2通過する点列集合C(fi) c C(f)の
大部分はお互いに共有される。
そこて、以下の手順で抽出された直線情報の高精度化を
行っていた。
官   官  ヒ几 5tepl  (点列集積処理):第5図に示すように
各直線C1に幅dをもたせた帯βiとし多帯βiに含ま
れる点列集合C(β1)を求める。
5tep2 (直線統合処理):各C(βi)間で1;
C(β1)nC(βj) II > T  −(8)で
あるなら、直線tjをtlに統合する。
ただしTは閾値、1(・112よ集合濃度を表す。
5tep3 (最小自乗近似処理):統合処理の終了し
た点列集合C(β1)を通過する直線Liを最小自乗法
で求める。
上記5teplで、直線C1に幅dを持たせた帯として
ill過点列集合を求めているが5 この処理によって
偽輪郭線を構成するバラツキのある点列集合を数え上げ
ることが出来る。5tep2では、数え上げた点列が各
直線tl間でどれだけ共有されるかを調べて、  5i
delobeの影響で誤って検出された複数の直線を統
合5ている。そして5tep3で最小自乗法を用いて最
終的な直線を正確に検出してい〔発明が解決しようとす
る課題〕 しかし、偽輪郭線のバラツキが非常に大きい場合には、
たとえ上記直線情報高精度化処理を行ったとじても、も
はや得られる直線の傾き(すなわち距離情報)の信頼度
は非常に低く、誤差の大きいちのとなるという欠点を有
していた。
また偽輪郭線に含まれるノイズは各偽輪郭線毎に異なる
から、そのギザギザの度合も、各偽輪郭線毎に様々であ
る。このギザギザの度合はそのまま、該偽輪郭線から得
られる直線成分(距離情報)の精度に影響を与える。し
かし、従来の技術では、エビポーラ画像の偽輪郭線から
直線成分を抽出する際に、得られた直線成分の信頼度を
チエツクせずに1該直線成分から直接距離情報を算出し
ていた。このため、最終的に得られた3次元形状情報÷
:2様々な信#I度の距離情報から構成されること二こ
tっでしまう。この様に様々な信頼度の距離情報が混在
すると、第6図に示すように、3次元形状情報中に信頼
度の低い距離情報が突起状のノイズとして現れてしまう
本発明の目的は9時空間画像(Spatio−temp
oralimage)を用いて静止剛体の3次元形状情
報を抽出する手法において、R度変化が緩やかな曲面部
における形状計測を行う場合に、信頼度の低い距離情報
を棄却し、均質な信頼度の距H情報からなる3次元形状
情報を抽出することである。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理図を示す。図中の符号5は直線候
補であって図示を省略している直線候補抽出処理4によ
って得られたものである。6は信頼度検定処理であって
9本発明においてもうけられたものである。7は直線/
距離情報変換処理8は得られる距離情報である。
木兄BAにおいては1図示の信頼度検定処理6が設けら
れている。当該信頼度検定処理6において:ま、直線L
i(なお今の場合には未だ候補である2に対応して、所
定の幅をもつ帯αlを考慮し、当該帯αiに含まれる点
列の個数を調べるようにしている。
本発明においては、偽輪郭線から抽出された直線成分の
信頼度を検定し、信頼度の低い距離情報は棄却すること
で、このような突起状のノイズを除去し、均質な信頼度
の3次元形状情報を抽出することを主な特徴としている
〔作 用〕
本発明においては、検出された直線Liを中心に所定の
幅をもつ帯を考え当該帯α1に含まれる点列の個数が当
該帯αjの面積と比較して多過ぎる場合には、偽輪郭線
のギザギザの度合が大きすぎ当該直線L1の信頼度が低
いものとみなしてこれを棄却する。
従来の技術では、この様な信頼度検定を行うことはなく
、従って均質な信頼度を持つ距離情報から3次元形状情
報をつくることは不可能であった。
〔実施例〕
本発明にいう直線成分の信頼度検定処理の一実施例を示
すと次の如きものである。
5tepl  C点列集積処理〉 :まず、従来手法に
よって検出された直線Liに幅dをもたせた帯をαiと
し、αiに含まれる点列集合C(αi)を求める。
5tep2 (点列個数抽出処理)二点列集合C〈α1
)に含まれる点列個数11C(α1)11を求める。
5tep3 (帯面積抽出処理):直線Liの傾きθ1
とエピポーラ画像の時間軸方向の長さT(時空間画像の
枚数Mで決まる)とから帯α1の面積S(αj)を求め
る(第7図参照〉。
5tep4 (最大点列個数抽出処理):帯面積S(α
l)に含まれ得る点列の最大個数M(S(αi))を M  (S  (αi))  =S  (α1)/pと
して求める。ただしpはエピポーラ画像における1画素
の面積である。
steρ5(闇値処理):点列集合C(αi)の集合濃
度11C(αl)]1が。
11c(αi)i >k−M (S (αi))なら検
出された直wALの信頼性が低すぎるものとみなし、L
Iを棄却する。さもなければLiを距離情報に変換する
。ただしkはQ<k≦1なる定数である。
第2図は本発明の実施例を示す図であって、lはエピポ
ーラ画像、2は偽輪郭線画像抽出処理3は偽輪郭線画像
、4は直線候補抽出処理、41は直線抽出処理、4−2
は直線成分、4−3は直線情報高精度化処理、5は直線
候補、6は信頼度検定処理、6−1は点列集積処理、6
−2は点列個数抽出処理、6−3は帯面積抽出処理、6
4は最大点列個数抽出処理、6−5は閾値処理7に直線
/距離情報変換処理、8は距離情報である。
まず静止剛体を等速並進運動する撮影装置で時系列的に
撮影した複数枚の画像から9時空間画像を構成する。該
時空間画像からエピポーラ画像lを一枚取り出す。
該エピポーラ画像1に、偽輪郭線画像抽出処理2を施す
ことで、該エピポーラ画像1の偽輪郭線部分を点列とす
る(■11、−■、、わ)769枚の偽輪郭線画像3を
抽出する。ただしV mm、は該エピポーラ画像1の最
高輝度レベル、V□1は最低輝度レベルである。
該偽輪郭線画像3に直線候補抽出処理4を施すことで、
直線候補5を抽出する。まず該偽輪郭線画像3にBou
gh変換などの直線抽出処理4−1を施して、該偽輪郭
141!画像3中の直wAa分4−2を抽出する。該直
線抽出処理4−1で抽出された直線成分4−2に直線情
報高精度化処理4−3を施して、直線候補5を抽出する
該直線候補抽出処理4で抽出された直線候補5に信頼度
検定処理6を施して、該直線候補5の信頼度を検定する
。まず点列集積処理6−1によって、該直線候補5に含
まれる該偽輪郭線画像3の点列を集積する。該点列集積
処理6−1で集積された点列の個数を点列個数抽出処理
6−2によって数える。一方、帯面積抽出処理6−3に
よって該直線候補5が形成する帯の面積を抽出し、さら
に最大点列個数抽出処理6−4によって該帯に含まれ得
る該偽輪郭線画像3の最大の点列個数を抽出する。そし
て、閾値処理6−5によって1点列個数抽出処理6−2
で抽出された点列個数と、!l大点列個数抽出処理6−
4で抽出された最大点列個数とを比較し5該直線候補5
のデータが信頼性があるか否かを検定する。もし信頼性
があるなら直線/距離情報変換処理7によって、直線候
補5を距離情報8に変換する。
この様な構成になっているから、たとえ偽輪郭線画像か
ら抽出された直線候補の信頼性にバラツキがあっても、
信頼度検定処理によって信頼度の低い直線候補を棄却す
るので、均質な精度の距離情報を得ることが可能となる
であった部分の形状計測を、均質な計測精度で実現する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理図、第2図は本発明の実施例、第
3図は時空間画像を説明する図、第4図は偽輪郭線を説
明する図、第5図は点列集合を説明する図、第6図は非
所望な突起を説明する図第7図は帯の面積を得る説明図
を示す。 図中、lはエビポーラ画像、2は偽輪郭線画像抽出処理
、3は偽輪郭線画像、4は直線候補抽出処理、5は直線
候補、6は信頼度検定処理、7は直線/距離情報変換処
理、8は距離情報を表す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 静止剛体を撮影して得られる時空間画像を構成するエピ
    ポーラ画像から、輝度レベルの量子化を含む処理によっ
    て等輝度線を偽輪郭線画像として抽出する偽輪郭線画像
    抽出処理と、 該偽輪郭線画像抽出処理で処理された偽輪郭線画像から
    、偽輪郭線を直線候補として抽出する直線候補抽出処理
    と、 該直線候補抽出処理で抽出された直線候補の信頼度を、
    該偽輪郭線画像中の偽輪郭線のギザギザの程度から判定
    し、判定結果を出力する信頼度検定処理と、 該信頼度検定処理が判定した判定結果が、該直線候補の
    信頼度が高いことを示すものであれば、該直線候補を距
    離情報に変換する直線/距離情報変換処理とを実行し、 上記静止剛体の曲面部に相当する該エピポーラ画像中の
    輝度変化が緩やかな部分から均質な信頼度をもつ距離情
    報を検出するようにした ことを特徴とする距離計測方法。
JP2039039A 1990-02-20 1990-02-20 距離計測方法 Expired - Lifetime JP2812525B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8472709B2 (en) 2007-06-29 2013-06-25 Thomson Licensing Apparatus and method for reducing artifacts in images

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US8472709B2 (en) 2007-06-29 2013-06-25 Thomson Licensing Apparatus and method for reducing artifacts in images

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