JPH0322711A - A/d converter - Google Patents
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- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
A/D変換器に関し、
全並列形で高速性を保ちつつ、チップの小型化、低消費
電力を図ることのできるA/D変換器を提供することを
目的とし、
nビントの分解能を有する全並列形のA/D変換器であ
って、ディジタル出力nビットを上位mビット、下位(
n−m)ビットに分割し、(2I1一1)個の比較器を
入力段に並列に設け、これらの比較器に入力電圧範囲を
2n等分するような基準電圧を分割して供給してアナロ
グ入力に対する各比較器の比較用基準値とし、上位mビ
ットは、基準電圧を2n分割する箇所の電圧とアナログ
入力とを少なくとも前記比較器の他にラッチ回路、アン
ド回路を含む(2′″−1)個の複合比較手段により比
較し、その比較結果をエンコーダに送ってmビット分の
ディジタル信号を生威し、下位(n−m)ビットは、前
記複合比較手段内のラッチ回路およびアンド回路を(n
−m)ビット分まとめ、前記比較器は(n−m)ビット
に対応する所定の列毎に比較結果を出力し、該列毎の比
較結果をまとめた前記ラッチ回路およびアンド回路を通
してエンコーダに送って(n−m)ビット分のディジタ
ル信号を生威するように構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding an A/D converter, the present invention aims to provide an A/D converter that is fully parallel and capable of maintaining high speed while reducing the size of the chip and reducing power consumption. The purpose is to provide a fully parallel A/D converter with a resolution of n bits, which converts n bits of digital output into upper m bits and lower (m) bits.
(n-m) bits, (2I1-1) comparators are provided in parallel at the input stage, and a reference voltage that divides the input voltage range into 2n equal parts is divided and supplied to these comparators. The upper m bits are used as a reference value for comparison of each comparator with respect to the analog input, and the upper m bits are the voltage at the point where the reference voltage is divided by 2n and the analog input, including at least a latch circuit and an AND circuit in addition to the comparator (2''' -1) The comparison result is sent to an encoder to generate a digital signal for m bits, and the lower (nm) bits are processed by a latch circuit and an AND signal in the composite comparison means. The circuit (n
- m) bits, the comparator outputs the comparison results for each predetermined column corresponding to (n-m) bits, and sends the comparison results for each column to the encoder through the summarized latch circuit and AND circuit. It is configured to generate a digital signal of (n−m) bits.
本発明は、物体検査装置に係り、詳しくは、並列形のA
/D変換器に関する。The present invention relates to an object inspection device, and in particular, a parallel type A
/D converter.
近年、ディジタルVTR、ディジタルTV等で使用され
ているビデオ信号用のA/D変換器は、VTR,TVセ
ットの小型化および低消費電力化に伴いA/D変換器自
体の小型化、低消費電力化の要求が大きくなっている。In recent years, A/D converters for video signals used in digital VTRs, digital TVs, etc. have become smaller and consume less power as VTRs and TV sets become smaller and consume less power. Demand for electrification is increasing.
これらの要求に応えるために、近年、lチップ化した画
像信号処理用高速A/D変換器(high−s−pee
d video analog−to−digital
converter)が相次いで開発されている。In order to meet these demands, in recent years, high-speed A/D converters for image signal processing (1-chip) have been developed.
d video analog-to-digital
converter) are being developed one after another.
A/D変換の方式には、並列形(parallel t
yp−e)と逐次比較形(successive ap
proximation t−ype)など各種あるが
、変換速度に関しては並列形が最も有利である。The A/D conversion method is parallel type (parallel type).
yp-e) and successive approximation form (successive ap
There are various types such as proximation type, but the parallel type is the most advantageous in terms of conversion speed.
?従来の技術〕
ビデオ用に供される従来のA/D変換器としては、例え
ば第3図に示すようなものがあり、これは全並列形と称
されるものである。同図において、V■、vl?はアナ
ログ入力電圧範囲を決める基準電圧、VINはアナログ
入力であり、この図に示すものは分解能が8ビットの例
である。また、R.〜Rzssは入力電圧範囲を2n=
256等分した電圧を生戊すべく基準電圧V Rl%
V R?を分割して比較用の基準値を作る基準抵抗、F
1〜F255はアナログ入力V4と基準抵抗R1〜R
2,Sより分割された各基準電圧とを比較する複合コン
バレータであり、複合コンパレータFl−F255はコ
ンバレータ、ラッチ回路、アンド回路等を含むものであ
る。したがって、この従来例では8ビットの分解能を得
るために(2’ − 1)=255個の複合コンバレー
タF1〜F255が8列に並べて設けられ、各複合コン
パレータF1〜F255において入力電圧VINと基準
電圧V RII% V RTを2l1等分した比較用基
準値とがそれぞれ比較され、その結果は8本のライン1
を通してエンコーダ2に入力されてパイナリコード2に
変換され、出力バッファ3からディジタル信号が取り出
される。? 2. Description of the Related Art A conventional A/D converter used for video is, for example, the one shown in FIG. 3, which is called a fully parallel type. In the same figure, V■, vl? is a reference voltage that determines the analog input voltage range, VIN is an analog input, and the one shown in this figure is an example with an 8-bit resolution. Also, R. ~Rzss is the input voltage range 2n=
In order to generate a voltage divided into 256 equal parts, the reference voltage V Rl%
VR? The reference resistance, F, is divided to create a reference value for comparison.
1~F255 are analog input V4 and reference resistance R1~R
The composite comparator Fl-F255 is a composite comparator that compares each reference voltage divided by 2 and S, and the composite comparator Fl-F255 includes a comparator, a latch circuit, an AND circuit, and the like. Therefore, in this conventional example, in order to obtain 8-bit resolution, (2' - 1) = 255 composite comparators F1 to F255 are arranged in 8 columns, and each composite comparator F1 to F255 has an input voltage VIN and a reference voltage. VRII% V RT is divided into 2l1 equal parts and compared with the reference values for comparison, and the results are shown on 8 lines 1.
The signal is inputted to the encoder 2 through the encoder 2 and converted into a binary code 2, and the digital signal is taken out from the output buffer 3.
すなわち、アナログ入力v1.4と基準電圧VRII、
VRTを2@等分した電圧レベルとがアナログ信号の印
加と同時に一斉に各複合コンパレータF1〜F255に
よって比較され、“H”L”の比較結果に基づいてディ
ジタル信号が生成される。That is, analog input v1.4 and reference voltage VRII,
The voltage level obtained by dividing the VRT into two equal parts is simultaneously compared by each composite comparator F1 to F255 at the same time as the analog signal is applied, and a digital signal is generated based on the comparison result of "H" and "L".
しかしながら、このような従来のA/D変換器にあって
は、例えば、アナログ入力信号をnビットのディジタル
信号に分解する場合には、(2n−1)個の比較器を用
意しておき、アナログ入力信号と基準電圧を2n等分し
た電圧レベルとを、それぞれの比較器で同時に比較して
、入力信号がどの電圧レベルにあるかを瞬時に判定する
構或となっていたため、高速変換が可能であるものの、
nビットの分解能を得るためには必然的に(2’−1)
個の複合コンパレータが必要なことから、チップ面積、
消費電力が大きいという問題点があった。However, in such a conventional A/D converter, for example, when decomposing an analog input signal into an n-bit digital signal, (2n-1) comparators are prepared. The analog input signal and the voltage level obtained by dividing the reference voltage into 2n equal parts are simultaneously compared in each comparator to instantly determine which voltage level the input signal is at, so high-speed conversion is possible. Although it is possible,
In order to obtain n-bit resolution, it is necessary to obtain (2'-1)
Since multiple composite comparators are required, the chip area
There was a problem that power consumption was large.
そこで本発明は、全並列形で高速性を保ちつつ、チップ
の小型化、低消費電力を図ることのできるA/D変換器
を提供することを目的としている。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide an A/D converter that is fully parallel and capable of maintaining high speed while reducing the size of the chip and reducing power consumption.
本発明によるA/D変換器は上記目的達成のため、nビ
ットの分解能を有する全並列形のA/D変換器であって
、ディジタル出力nビットを上位mビット、下位(n−
m)ビットに分割し、(2’1〉個の比較器を入力段に
並列に設け、これらの比較器に入力電圧範囲を2n等分
するような基準電圧を分割して供給してアナログ入力に
対する各比較器の比較用基準値とし、上位mビットは、
基準電圧を2n分割する箇所の電圧とアナログ入力とを
少なくとも前記比較器の他にラッチ回路、アンド回路を
含む<2’−1)個の複合比較手段により比較し、その
比較結果をエンコーダに送ってmビット分のディジタル
信号を生成し、下位(n−m)ビットは、前記複合比較
手段内のラッチ回路およびアンド回路を(n−m)ビノ
ト分まとめ、前記比較器は(n−m)ビソトに対応する
所定の列毎に比較結果を出力し、該列毎の比較結果をま
とめた前記ラッチ回路およびアンド回路を通してエンコ
ーダに送って(n−m)ビット分のディジタル信号を生
威するように構成している。In order to achieve the above object, the A/D converter according to the present invention is a fully parallel A/D converter having an n-bit resolution, and converts n bits of digital output into upper m bits, lower m bits, lower (n-
m) Divide into bits, install (2'1> comparators in parallel in the input stage, and divide and supply the reference voltage that divides the input voltage range into 2n equal parts to these comparators. The reference value for comparison of each comparator is the upper m bits,
The voltage at the point where the reference voltage is divided by 2n and the analog input are compared by <2'-1) composite comparison means including at least a latch circuit and an AND circuit in addition to the comparator, and the comparison result is sent to the encoder. The lower (n-m) bits combine the latch circuits and AND circuits in the composite comparison means for (n-m) bits, and the comparator generates (n-m) digital signals. A comparison result is output for each predetermined column corresponding to the bit, and the comparison result for each column is sent to the encoder through the latch circuit and AND circuit to generate a digital signal for (n-m) bits. It is composed of
本発明では、nビットのディジタル出力のうち、上位m
ビットについては、基準電圧を2n分割する箇所の電圧
とアナログ入力とが(2’−1)個の複合比較手段によ
り比較されてその情報がエンコーダに送られることで、
ディジタル信号が生成される。また、下位(n−m)ビ
ットについては、複合比較手段内のラッチ回路およびア
ンド回路を(n−m)ビット分まとめ、比較器から(n
−m)ビットに対応する所定の列毎に比較結果を出力
させ、該列毎の比較結果を前記ラッチ回路およびアンド
回路を通してエンコーダに送ることで、゜(nm)ビッ
ト分のディジタル信号が生成される。In the present invention, of the n-bit digital output, the upper m
For bits, the voltage at the point where the reference voltage is divided by 2n and the analog input are compared by (2'-1) composite comparing means and the information is sent to the encoder.
A digital signal is generated. Regarding the lower (n-m) bits, the latch circuit and AND circuit in the composite comparison means are combined for (n-m) bits, and the (n-m) bits are collected from the comparator.
−m) A digital signal for ゜(nm) bits is generated by outputting a comparison result for each predetermined column corresponding to bits and sending the comparison result for each column to the encoder through the latch circuit and AND circuit. Ru.
したがって、特に複合比較手段におけるラッチ回路およ
びアンド回路の数が削減し、チップ面積縮小、低消費電
力化が実現する。Therefore, the number of latch circuits and AND circuits, especially in the composite comparison means, is reduced, and chip area and power consumption are reduced.
?原理説明〕
最初に、本発明の原理から説明する.第1図は本発明に
係るA/D変換器の構成を示す図であり、この図におい
て、V■、Vll、VI+4は従来例と同様のものであ
る。Rxは基準電圧Vll1””Vllを2n分割する
ための基準抵抗で、2n−2個存在している。図中では
、最上位と最下位にのみ符号を付し、途中は省略してい
る。また、同図に示すA/D変換器はnビットのディジ
タル分解能を有するもので、そのうち上位mビットは基
準電圧Vlll〜VRTを2n1分割する箇所の電圧と
アナログ入力VIMとを(2’−1)個の複合コンパレ
ータ(複合比較手段に相当)Fl−F (2n−1)に
より比較し、その比較結果をエンコーダ11に送り、エ
ンコーダl1でmビットのパイナリコードのディジタル
信号に変換することで生成され、生或されたディジタル
信号は出力バソファ12を通して外部に取り出される。? Explanation of Principle] First, the principle of the present invention will be explained. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an A/D converter according to the present invention, and in this diagram, V■, Vll, and VI+4 are the same as in the conventional example. Rx is a reference resistor for dividing the reference voltage Vll1""Vll by 2n, and there are 2n-2 of them. In the figure, only the highest and lowest positions are labeled, and the middle parts are omitted. The A/D converter shown in the figure has a digital resolution of n bits, of which the upper m bits divide the voltage at the point where the reference voltage Vllll to VRT is divided by 2n1 and the analog input VIM (2'-1 ) composite comparators (corresponding to composite comparison means) Fl-F (2n-1), the comparison results are sent to the encoder 11, and the encoder l1 converts them into m-bit binary code digital signals. The generated digital signal is taken out to the outside through the output bath sofa 12.
この場合、複合コンパレータF1〜F(2n−1)は何
れも比較器、ラッチ回路およびアンド回路を含んで構成
され、一例として複合コンバレータF1は比較器13、
ラッチ回路14およびアンド回路15を含んでいる。そ
の他の複合コンパレー夕の内部素子も同様であるが、図
面上では図示が煩雑になるので番号付与を省略する。In this case, the composite comparators F1 to F(2n-1) each include a comparator, a latch circuit, and an AND circuit, and as an example, the composite comparator F1 includes a comparator 13,
It includes a latch circuit 14 and an AND circuit 15. The same applies to the other internal elements of the composite comparator, but the numbering is omitted to avoid complication in the drawings.
比較器l3は該当する基準電圧とアナログ入力とを比較
し、比較結果に応じて“H”又は“L”のディジタル信
号を出力し、ラッチ回路14は例えばジッタの影響を避
けるために比較判定の結果を直ちにラッチするように動
作し、アンド回路15は自己のデータとその上位のデー
タとのアンド論理を取ってエンコーダ1lに送り、エン
コーダ1lでnビットのディジタルデータに変換する。The comparator l3 compares the corresponding reference voltage with the analog input and outputs a digital signal of "H" or "L" depending on the comparison result, and the latch circuit 14 performs a comparison judgment to avoid the influence of jitter, for example. The AND circuit 15 operates to immediately latch the result, and AND circuit 15 performs an AND logic on its own data and its higher-order data and sends it to the encoder 1l, where it is converted into n-bit digital data.
なお、アンド回路l5の論理積の取り方は図中では自己
とその上位のデータとのアンドを取っているが(他のア
ンド回路も同様)これは一例であり、他の方法によって
もよい。Although the AND circuit 15 calculates the logical product in the figure by ANDing its own data and its higher-order data (the same applies to other AND circuits), this is just one example, and other methods may be used.
また、下位(n−m)ビントの変換は次のようにして行
われるようになっている。まず、基準電圧V。−VII
Tを2n分割する箇所の基準抵抗の電2l1
の出力は{2 ”−” − 1 }個を一列とする群
毎にそれぞれ2n個ずつ接続してまとめられ、何れの群
の出力線も抵抗Rcを通して所定電位■7に接続される
とともに、(2 ”−” − 1 )個のラッチ回路
L1〜L (2’−’ − 1)およびアンド回路A1
〜A (2n−” − 1)に接続される。なお、比t
2(2n−1)の一列毎にQSQ (=″H”又は“L
”)という反転出力が得られるようになっている。ここ
で、比較器
れる電流をICとすると、ラッチ回路L1〜Lの電圧が
出力されるため、ラッチ回iL1〜L(2’−”−1)
の受ける電圧を、
とすることによってディジタルデータに変換し、その後
、上位mビットの場合と同様にアンド回路AI−A(2
訃1−1)で論理を取り、エンコーダ11で(n−m)
ビットのディジタルデー夕を生威し、出力バッファ12
からディジタル信号を取り出す。Furthermore, conversion of lower (nm) bins is performed as follows. First, the reference voltage V. -VII
The output of the reference resistor 2l1 at the point where T is divided into 2n is connected to each group of {2 ``-'' − 1} 2n resistors in a row, and the output line of each group is connected to the resistor Rc. is connected to a predetermined potential ■7 through
~A (2n-” − 1). Note that the ratio t
QSQ (=“H” or “L”) for each row of 2 (2n-1)
”).Here, if the current flowing through the comparator is IC, the voltage of the latch circuits L1-L is output, so the latch circuits iL1-L(2'-"- 1)
The voltage received by is converted into digital data by
1-1), take the logic, and encoder 11 (n-m)
output buffer 12
Extract the digital signal from.
したがって、上位mビソトは従来と同様の(2n−1)
個の複合コンパレータを用いてディジタルデータに変換
されるが、下位(n−m)ビットについては複合コンバ
レータ内のラッチ回路およびアンド回路が(n−m)ビ
ット分にまとめられて(n−m)ビットのディジタルデ
ー夕に変換されることになる。そのため、全並列形の特
長である高速性を保ちつつ、特に、複合コンバレータの
素子内訳のうち比較器は従来と変わらないが、ラッチ回
路とアンド回路の数が大幅に削減し、実質上必要な素子
数が半分になる(具体的数値は実施例で詳述)ため、チ
ップ面積の縮小化、低消費電力化を達成できるとともに
、さらに、その結果として歩留りの向上、ICパッケー
ジの小型化および大幅なコストダウンを図ることができ
る。Therefore, the top m bisoto is (2n-1) as before
The data is converted into digital data using multiple composite comparators, but for the lower (nm) bits, the latch circuit and AND circuit within the composite comparator are combined into (nm) bits. It will be converted into bit digital data. Therefore, while maintaining high speed, which is a feature of the fully parallel type, the comparator remains the same as before, but the number of latch circuits and AND circuits has been significantly reduced, making it virtually unnecessary. Since the number of elements is halved (specific values are detailed in the examples), it is possible to reduce the chip area and reduce power consumption, and as a result, yields are improved, IC packages are made smaller, and they are significantly It is possible to achieve significant cost reductions.
第2図は上記原理に基づく本発明の一実施例を示す図で
あり、本実施例は8ビット(n=8)の分解能を有する
A/D変換器の例である。本実施例では上位、下位の分
割はそれぞれ2ビット、6ビットであり (すなわち、
m=2、n−m=6)、上位の複合コンパレータFl−
F3は3個(=221)で、上記2ビットの変換を行う
。一方、下位の比較器C1〜C252は252個
で、比較器C1〜C252は63個(= 2 ”−”
− 1 )を一列として4列配置され、各列毎にその
出カ。、Qを63分割して4個ずつまとめられてそれぞ
れラッチ回路Ll−L63およびアンド回路A1〜A6
3に接続されるとともに、抵抗Rcを通して所定電位v
1に接続される。そして、これらの比較器C1〜C25
2 、ラッチ回路L1〜L63、アンド回路A1〜A6
3および抵抗Rcによって上記の発明の原理で述べたの
と同じ論理により下位6ビットの変換が行われる。なお
、エンコーダl1および出カバッファl2は同様の構或
であり、同一番号を付している。FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention based on the above principle, and this embodiment is an example of an A/D converter having a resolution of 8 bits (n=8). In this embodiment, the upper and lower divisions are 2 bits and 6 bits, respectively (i.e.,
m=2, nm=6), upper composite comparator Fl-
Three F3s (=221) perform the above 2-bit conversion. On the other hand, the number of lower comparators C1 to C252 is 252, and the number of comparators C1 to C252 is 63 (= 2 "-"
-1) are arranged in 4 rows, and each row has its output. , Q is divided into 63 parts and put together into 4 parts, each of which is divided into latch circuits Ll-L63 and AND circuits A1 to A6.
3 and is connected to a predetermined potential v through a resistor Rc.
Connected to 1. And these comparators C1 to C25
2, latch circuits L1 to L63, AND circuits A1 to A6
3 and resistor Rc, the lower 6 bits are converted using the same logic as described in the principle of the invention above. Note that the encoder l1 and the output buffer l2 have similar structures and are given the same numbers.
ここで、従来のA/D変換器との比較を行う。Here, a comparison with a conventional A/D converter will be made.
まず、8ビット分解能の場合、第3図に示した従来の構
成では複合コンパレータ7!l< (2’ − 1)
個=255個必要になる。そこで、複合コンパレータの
構成素子数を比較するため、素子数内訳を比較器=X
ラッチ回路=Y
アンド回路=2
とした場合、従来構或では、
255 X (X+Y+Z) 、本実施例では、
3X (X十Y十Z)+252 xX+63x (Y+
Z)となる。したがって、本実施例では189 X (
Y十Z)程素数数の削減となる。実際上、X=20個、
Y−10個、Z=15個とすると、従来構成では、10
200個必要であるが、本実施例では5475個で済む
。First, in the case of 8-bit resolution, in the conventional configuration shown in FIG. 3, the composite comparator 7! l<(2' - 1)
= 255 pieces are required. Therefore, in order to compare the number of constituent elements of a composite comparator, if the breakdown of the number of elements is set as comparator = X latch circuit = Y and circuit = 2, in the conventional structure, 255 (X0Y10Z)+252 xX+63x (Y+
Z). Therefore, in this example, 189
The number of prime numbers is reduced by Y0Z). Actually, X = 20 pieces,
Assuming Y-10 pieces and Z=15 pieces, in the conventional configuration, 10
Although 200 pieces are required, in this embodiment, 5475 pieces are sufficient.
したがって、必要な素子数が半分になるため、次のよう
な効果が得られる。Therefore, the number of required elements is halved, resulting in the following effects.
イ.チップ面積縮小化
口.低消費電力化
ハ.歩留りアップ
ニ.バッケージの小型化
ホ.大幅なコストダウン
〔発明の効果〕
本発明によれば、全並列形の特長である高速性を保ちつ
つ、必要素子数を削減することができ、チップ面積の縮
小化、低消費電極化を図ることができる。また、その派
生的効果として歩留りの向上、ICパッケージの小型化
、大幅なコストダウンを図ることができる。stomach. Chip area reduction. Lower power consumption c. Increased yield. Miniaturization of the package e. Significant cost reduction [Effects of the invention] According to the present invention, it is possible to reduce the number of required elements while maintaining high speed, which is a feature of the fully parallel type, reducing the chip area and reducing electrode consumption. be able to. Further, as a derivative effect, it is possible to improve the yield, miniaturize the IC package, and significantly reduce costs.
第1図は本発明の原理説明図、
第2図は本発明に係るA/D変換器の一実施例を示す構
成図、
第3図は従来のA/D変換器の構成図である。
?1・・・・・・エンコーダ、
12・・・・・・出力バソファ、
13・・・・・・比較器、
14・・・・・・ラッチ回路、
l5・・・・・・アンド回路、
V■、VIT・・・・・・基準電圧、
VIN・・・・・・アナログ入力、FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of an A/D converter according to the present invention, and FIG. 3 is a block diagram of a conventional A/D converter. ? 1... Encoder, 12... Output bass sofa, 13... Comparator, 14... Latch circuit, l5... AND circuit, V ■VIT...Reference voltage, VIN...Analog input,
Claims (1)
って、 ディジタル出力nビットを上位mビット、下位(n−m
)ビットに分割し、 (2^n−1)個の比較器を入力段に並列に設け、これ
らの比較器に入力電圧範囲を2^n等分するような基準
電圧を分割して供給してアナログ入力に対する各比較器
の比較用基準値とし、 上位mビットは、基準電圧を2^n分割する箇所の電圧
とアナログ入力とを少なくとも前記比較器の他にラッチ
回路、アンド回路を含む(2^m−1)個の複合比較手
段により比較し、その比較結果をエンコーダに送ってm
ビット分のディジタル信号を生成し、 下位(n−m)ビットは、前記複合比較手段内のラッチ
回路およびアンド回路を(n−m)ビット分まとめ、 前記比較器は(n−m)ビットに対応する所定の列毎に
比較結果を出力し、該列毎の比較結果をまとめた前記ラ
ッチ回路およびアンド回路を通してエンコーダに送って
(n−m)ビット分のディジタル信号を生成するように
構成したことを特徴とするA/D変換器。[Claims] A fully parallel A/D converter with n-bit resolution, which converts n bits of digital output into upper m bits and lower (n-m
) bits, (2^n-1) comparators are installed in parallel at the input stage, and a reference voltage that divides the input voltage range into 2^n equal parts is divided and supplied to these comparators. is used as a reference value for comparison of each comparator with respect to the analog input, and the upper m bits are the voltage at the point where the reference voltage is divided by 2^n and the analog input, including at least a latch circuit and an AND circuit in addition to the comparator ( 2^m-1) composite comparison means send the comparison results to the encoder and m
A digital signal for bits is generated, and the lower (nm) bits combine a latch circuit and an AND circuit in the composite comparison means for (nm) bits, and the comparator generates a digital signal for (nm) bits. The comparison result is output for each corresponding predetermined column, and the comparison result for each column is sent to the encoder through the latch circuit and the AND circuit to generate a digital signal for (n-m) bits. An A/D converter characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15790989A JPH0322711A (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | A/d converter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15790989A JPH0322711A (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | A/d converter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0322711A true JPH0322711A (en) | 1991-01-31 |
Family
ID=15660100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15790989A Pending JPH0322711A (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | A/d converter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0322711A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03140016A (en) * | 1989-10-26 | 1991-06-14 | Sharp Corp | A/d converter |
-
1989
- 1989-06-20 JP JP15790989A patent/JPH0322711A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03140016A (en) * | 1989-10-26 | 1991-06-14 | Sharp Corp | A/d converter |
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