JPH03188371A - 貴金属の動的分析方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 λ胛Δ１」 貴金属を分析するのに物理化学や一般化学を用いた定量
的及び定性的な数多くの技術があるが、これらはすべて
大部分の貴金属面にとってあまりにも複雑である。例え
ば、大部分の貴金属面で採用されている金合金の純度決
定方法は、−組の標準の金のペンシルを使用して、該ペ
ンシルによるスクラッヂテストの結果を分析されるべき
金の試料と比較するようになっている。このような方法
では、貴金属面は８カラット、１０カラット、１２カラ
ット、１４カラット、１６カラツト及び１８カラツトの
成分の金の棒と研摩石を所持している。

彼はその石の上で金のテスト試料をこすり、そのかき傷
の隣に金のペンシルを前記石の上でこする。

その石を酸で処理して試料のかき傷の色と金のペンシル
のかき傷の色を比較した後、試料の品質をカラットで視
覚的に評価する。この非常に不正確な方法は、テストを
行なう貴金属面の技術と能力に強く依存している。

これに対して、提案された発明は最新の電子装置を用い
て貴金属の純度の化学的、動的テストを行なう。オペレ
ータの技術は発明すべき問題ではない。本発明は手に持
てる単純な装置の中の測定用電流及び時間依存回路と組
み合わせて電気化学を利用している。この電気化学シス
テムの陽極はテスト材料であり、陰極は参照材料である
。測定用電流（ｍｅｔｅｒｅｄ　ｃｕｒｒｅｎｔ）は陽
極で電気化学反応を起こし、その電流が誘導した電気化
学反応が終了した後、起電力が時間の関数としてモニタ
ーされる。そのように創造された電解槽（ｃｅｌ　Ｉ）
の電位差の時間依存減衰は、テスト中の貴金属の純度を
表わす。提案されたシステムの実施例は金を分析するし
のであるが、同じ技術は他の貴金属の合金にも使用する
ことができる。このシステムは独立していて、酸が満た
され、また参照陰極を収容したシリンジ（ｓｙｒｉｎｇ
ｅ）をテスト用に使用する。前記シリンジは制御電子回
路にリード線で接続され、その制御電子回路は、正確に
電流を測定（ｍｅｔｅｒｉｎｇ）　（、、電子スイッチ
を動作させて前記電流を終了させるとともに、電位の減
少をモニターする回路を専有している。その上、その電
子回路は、オペレータにとって普通の計測単位で純度を
表示するアナログ又はデジタル表示器を都合よく作動さ
せるためのマイクロプロセッサとメモリー回路を備えて
いる。

発明の概要 前記のように、この動的テスト装置は、あらゆる貴金属
の分析に受は入れる余地があるが、その実施例は金の純
度のテストに向けらられている。

本発明は、プラチナ製の参照陰極と、テスト試料である
陽極とからなる電解槽を使用する。電解質はＩ−１／２
％）（ＣＩの溶液である。電解質及び参照陰極はシリン
ジの中に収容されている。参照陰極にリード線が接続さ
れている。シリンジは底に径２１１Ｉ１１の穴を有して
いる。シリンジの底は、穴が陽極の試料に接触して電解
質がその穴を通して前記陽極を濡らすように置かれる。

試料はクリップによって回路にリード線で接続されてい
る。シリンジと、陽極にクリップで取り付けられた試料
とを濡らして接触させることにより電解槽が完成した後
、スタートスイッチを押すことにより回路は開始される
。約４秒間３．５＋ｎＡのパルス電流か適当な電位でシ
ステムに流される。微視的には、電流からの電子が電極
間にイオンを生成し、そして前記電極に酸化と還元を同
時に引き起こす。生じる酸化と還元の量は、電極の純度
の関数である。貴金属は相対的に不活性である。貴金属
に付加された成分は化学的に活性な銅、錫その地間様の
金属である。パルス電流が終了すると、溶解液中のイオ
ンは試料陽極と電気化学的な誘導反応を表わす。

システムはすぐに充電される。それから、電子回路は電
流モードから電圧モニターモードに切り換えられる。第
１図に示すように、電圧は最初の数秒間その平衡漸近線
に向かって指数的に減衰する。

第１図は特殊な純度の金に対する曲線である。上の曲線
１曲線番号■よ、曲線番号２の金より高い純度を有する
金に対する動的な挙動を示す。時間の関数として電圧を
サンプリングし、その電位及び時間に対する電圧の減衰
勾配を電子回路のルックアツプ表（ｌｏｏｋ−ｕｐ　ｔ
ａｂｌｅ）と比較することにより、マイクロプロセッサ
は減衰曲線を補間して試料中の金のパーセンテージを評
価し、その評価をカラット単位で表示することができる
。パルス電流と電子回路のルックアツプ表との臨界的な
相互依存のために、３から４ｍＡの範囲内の電流レベル
が、５ｖから１．４Ｖまで減衰するような高純度の金に
対する電圧曲線と、０．７Ｖから０．２Ｖまで減衰する
ような低純度の金に対する電圧曲線を示すであろうこと
は決定されている。パルス電流は約３．５秒間持続され
る。探針は第２図に示すようにガラス又はプラスチック
のシリンジからなっている。シリンジのプランジャーが
押し下げられると、電解質である酸の一滴が先端から出
てテスト試料を濡らし、電解槽を完成する。基本制御及
び測定回路は第３図にブロック図で示されている。第４
図、第５図は第３図の変形である。ここには、全回路を
リセットしタイマを開始するスタートボタンがある。ま
た、パルス電流を制御するタイマがある。電流発生器は
電流値を制限している。パルス電流が終了すると、タイ
マが電圧の減衰をモニターする。アナログデジタル電圧
変換器と共同して動作するザンプルホールド回路がある
。アナログデジタル電圧変換器はメモリーと比較される
出力を行ない、マイクロプロセッサがその結果を補間す
る。それから、その補間結果は材料の分析結果を表示す
るデジタル表示システムに供給される。

これは多くの変数を持つ動的テストシステムであるため
、メモリー情報は各貴金属に対して経験的に得られなけ
ればならない。パルス電流が終了して約１秒後における
テストポイントは、漸近的ではあるが、プラチナ陰極に
関する種々の材料に対して決定されてきており、以下の
表１に示されている。種々の参照点を用いることによっ
て精度を増すこともまた可能である。

表１ 銀又は金のメツキ　　　　　　２５Ｇから３８０６−７
　カラット　　　　４２０から４６０８カラツト　　　
　　　　４７０から５１５９カラツト　　　　　　　５
２０から５６０１０カラツト　　　　　　５７０から６
１０２カラツト　　　　　　６１５から６３０１２カラ
ツト　　　　　　６３５から６６０１３−１４カラツト
　　　６８０から８３０正確に１４カラツト　　　８４
０から８７０１８−２０カラツト　　　１０００から１
２００プラチナ　　　　　　　　１３００から１４００
実施例 金の動的分析装置の実施例は、テストシリンジ、試料陽
極、及び電子回路からなっている。第２図にテストシリ
ンジが図解されている。テストシリンジは、該テストシ
リンジの円筒壁４の内径にきちんと合うピストン２に取
り付けられたプランジャー１を備えている。１−１／２
％の塩酸溶液が電解質３として用いられ、それは円筒壁
４とプランジャーのピストン２の内部に収容されている
。

シリンジの下端には陰極のハーフセル（ｈａｌｆｃｅｌ
　ｌ）　５がある。そのハーフセルは径か縮められた円
筒壁を備え、リード線７を有するプラチナ陰極６を収容
しているように示され、そのリード線７は電解質を通さ
ないシール８を介してハーフセル壁を貫通して取り付け
られている。プラチナ陰極６は長さ約８ｍｍで径約１ｃ
ｍの高純度のプラチナ製の薄い円筒である。シリンジの
底の端には、軸方向に穴があり、それはノズル９として
役立っている。そのノズルは約２ｆｆｌＩ１１の径であ
る。完全に押し下げられたプランジャーを備えたシリン
ジの呼び長さは約１０ｃｍであり、そしてペンシルのよ
うに持つのに都合のよい径となっている。プランジャー
ｌのわずかな押し下げによって、少量の電解質３がノズ
ル９から押し出されて試料陽極を濡らす。

リード線７は後述する電子回路に接続されている。

試料陽極もまた前記電子回路に接続され、そしてその試
料陽極は、ノズルを通してハーフセルとの接触を持続し
ている電解質によって濡らされたとき、電気化学反応を
生じ、それは電子回路によってモニターされる。

第３図は電子回路のブロック図を示す。そこには、第３
図に図解された作用を生じる広く知られた多くの回路が
あり、これらの例は第４図、第５図に示されている。シ
ャーシ１５は本発明に係る回路を含んでいる。そこには
、スタートスイッチ１６があり、それは全回路をリセッ
トし、タイマ１７を開始する。タイマはまた電子スイッ
チを含んでいる。タイマは、４秒間３．５ｍＡの電流を
出力する電流発生器１８を動作させる。前記４秒の後に
、タイマ１７は電圧モニター１９を開始し、リード線７
に接続された参照陰極に関するテスト試料２０の前述の
電圧減衰を追跡する。試料陽極は電圧モニターにクリッ
プリード線２１によって接続され、パルス電流がタイマ
１７によってＲ了して１秒後、サンプルホールド回路２
２が開き、アナログデジタル変換器２３がデジタルフォ
ーマットを通して情報を処理し、それはルックアツプ表
２４にストアされた情報と比較される。ルックアツプ表
２４において行なわれる捕間の結果は、デジタル表示器
２５に伝達される。デジタル表示器はある都合のよいメ
ートル法で表示する。

ルックアツプ表２４として言及された回路は、専用メモ
リーと結合したマイクロプロセツサを含むことができ、
それは補間するだけでなくメモリーシステムとの比較の
ために時間の導関数を計算することができる。そのよう
な情報処理によって、電圧値と電圧減衰の勾配との両者
が、電気化学反応の動的サンプリングとして使用されて
らよい。

第４図及び第５図は製作されてきたシャーシの電子回路
構成要素の異なる構成を示す。第４図はデータ処理回路
２４のないシステムを示し、第５図は前記論理処理シス
テム２４を有する構成を示す。

金のサンプルの純度を決定するために、試料はンヤーシ
に通じるクリップリード線に接続される。

シャーシに接続されているテストシリンジのノズルは、
テスト試料と接触して配置される。ブランツヤ−のわず
かな押し下げによって、電解質の一滴がテストシリンジ
のノズルから押し出され、それはシリンジの中のハーフ
セルに対してテスト試料を濡れた関係にする。ノズルの
試料への接触は、スタートスイッチが押し下げられる間
接続される。

電子回路は４秒間陽極から陰極への電流スイッチを押す
。このようにして、パルス電流により電解槽が充電され
、陽極と陰極の間に存在する電位差の減衰がさらに１秒
間モニターされる。１秒間のモニター期間の後に、漸近
的な電圧がシャーシの中のメモリー装置において比較さ
れ、デジタル表示器が金のテスト試料の純度を表示する
。

【図面の簡単な説明】

第１図は電気化学電解槽の時間に対する電圧の図を示す
。 第２図は探針の機構部分を示す。 第３図は回路の詳細ブロック図を示す。 第４図は論理処理のない電子回路の変形を示す。 第５図は論理処理のある電子回路の変形を示す。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）貴金属の試料の上に電解質を導き、濡れた接合部
   を創設し、前記電解質を通して電流を流し、前記貴金属
   を陽極酸化処理し、前記電流を終了させ、前記濡れた接
   合部における貴金属試料の時間に関する電位の減衰をモ
   ニターし、前記電位の減衰を経験に基づいた基準表と比
   較し、前記電位の減衰を前記基準表に対して微分するこ
   とによって補間し、そして前記補間値を表示するという
   段階からなることを特徴とする貴金属の動的分析方法。
2. （２）電解質（３）で満たされ、その電解質（３）が試
   料陽極（２０）と接触した時に電解槽を創設することが
   できるように配置された参照陰極（６）を含むシリンジ
   と、 参照陰極（６）に接続され、試料陽極（２０）に対する
   接続手段（２１）を有する電気回路とからなり、その回
   路は、参照陰極に接続されて前記参照陰極（６）と試料
   陽極（２０）の間に計測電流を流すことができる電流発
   生器（１８）と、 試料陽極（２０）との接続用の前記手段（２１）を備え
   、電圧モニター（１９）の手段によって電圧の減衰を計
   測して前記計測値をデジタル形式に変換することができ
   るアナログデジタル変換器（２３）と、 電流発生器（１８）とアナログデジタル変換器（２３）
   に接続され、前記計測電流と前記電圧減衰の計測の時機
   を合わせるタイマ（１７）と、アナログデジタル変換器
   （２３）に接続され、電圧減衰の計測値をデジタル形式
   で表示するデジタル表示器（２５）とを含むことを特徴
   とする請求項１に記載の方法を適用する貴金属の動的分
   析装置。