JPH03170049A - Probe positioning device for ultrasonic flaw inspecting machine - Google Patents
Probe positioning device for ultrasonic flaw inspecting machineInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超音波を用いて忰状または管状の被検材を被
破壊で検査する超音波探傷機の探触子α置決め装置に関
する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a probe α positioning device for an ultrasonic flaw detector that uses ultrasonic waves to inspect a vertical or tubular test material without destroying it. .
第3図は超音波探傷機に適用された探触子位置決め装置
の構成例を示す図である。同図に示ず1は彼検材であり
、被検材1の外周而にはその長さ方向に複数の探触子2
が対向配置されている。各探触子2は各々対応する探触
子保持機構によって保持されていて、各探触子保持機構
は複数台の探傷台車3にそれぞれ取付けられている。各
探傷台車3は、被検材1の長さ方向に伸縮可能なパンタ
グラフ機構4の各支点に所定の間隔を隔てて連結されて
いる。また、各探傷台車3は、支柱5で支えられた架構
6に連結されていて、この架横6にガイドされてパンタ
グラフ機構4と共に図中矢印イ方向へ移動できる構成と
なっている。なお、同図に示すA状態のように、図示さ
れた探傷台車の位置でかつパンタグラフ機構4を延ばし
た状態がオンライン状態を示しており、B状態のように
、図に示す探傷台車の泣置でかつパンタグラフ機構4を
最小に縮めた状態がオフライン状態を示している。FIG. 3 is a diagram showing a configuration example of a probe positioning device applied to an ultrasonic flaw detector. Reference numeral 1 (not shown in the figure) indicates a material to be inspected, and a plurality of probes 2 are placed around the outer periphery of the material 1 to be inspected in the length direction.
are placed facing each other. Each probe 2 is held by a corresponding probe holding mechanism, and each probe holding mechanism is attached to a plurality of flaw detection carts 3, respectively. Each of the flaw detection carts 3 is connected at a predetermined interval to each fulcrum of a pantograph mechanism 4 that is extendable and retractable in the length direction of the test material 1 . Further, each flaw detection cart 3 is connected to a frame 6 supported by pillars 5, and is configured to be guided by this frame side 6 and movable together with the pantograph mechanism 4 in the direction of arrow A in the figure. In addition, as in state A shown in the figure, a state where the flaw detection cart is in the illustrated position and the pantograph mechanism 4 is extended indicates an online state, and as in state B, when the flaw detection cart is in the position shown in the figure, it is in the online state. A state in which the pantograph mechanism 4 is contracted to the minimum indicates an off-line state.
上記装置を探傷台車3の走行方向と直交する方向から見
た状態を第4図に示す。同図に示すように、探傷台車3
は、架構6に設けられている走行レール11に懸垂され
ている。12は探触子保持機構であり、13は図中上下
方向に移動して、探触子保持機構12で保持された探触
子2に被検材1を対向させ、かつ被検材1を回転させる
ターニングロールである。FIG. 4 shows the above-mentioned apparatus as viewed from a direction perpendicular to the traveling direction of the flaw detection cart 3. As shown in the figure, flaw detection truck 3
is suspended from a running rail 11 provided on the frame 6. Reference numeral 12 denotes a probe holding mechanism, and reference numeral 13 moves in the vertical direction in the figure to make the specimen 1 face the probe 2 held by the probe retaining mechanism 12, and to hold the specimen 1 against the probe 2. It is a turning roll.
パンタグラフ機構4は、第5図に示すように、同じ長さ
の2つのアーム21の互いの中点を枢着してX字状にし
、このX字状をなすアームの端部に上記同様にX字状に
枢着されたアーム21の端部を枢着して平行四辺形リン
クを形成し、このような平行四辺形リンクを連続的に形
成し、さらに連続的な平行四辺形リンクで構成された構
造体の両端部のアーム21a,21bの端部に、アーム
21の1/2の長さをHするアーム22a,22bの一
端をそれぞれ枢着し、そのアーム22a,22bの他端
部を互いに枢着した構成となっている。なお、以下、2
つのアーム21の互いの中点が枢着された部分およびア
ーム22aと22bとの枢着部分を、パンタグラフ機構
4の一方の側から順に、中間支点a,b,c,d,eと
呼び、また、各アーム端部の枢着部分を端部支点23と
呼ぶこととする。このように構成されたパンタグラフ機
構4では、所定の駆動機構により、支点a,b間の距離
を変化させると、同時に支点b,c間、支点c,d間、
支点d,e間の距離も支点a,b間と同じ変位分だけ変
化する。As shown in FIG. 5, the pantograph mechanism 4 has two arms 21 of the same length that are pivoted at their midpoints to form an X-shape, and the ends of the arms forming the X-shape are connected in the same manner as described above. The ends of the arm 21 which are pivotally connected in an X shape are pivotally connected to form a parallelogram link, and such parallelogram links are continuously formed, and further composed of continuous parallelogram links. One end of arms 22a, 22b having 1/2 the length H of arm 21 is pivotally attached to the ends of arms 21a, 21b at both ends of the structure, and the other ends of arms 22a, 22b are The structure is such that they are pivoted to each other. In addition, below, 2
The parts where the midpoints of the two arms 21 are pivoted and the parts where the arms 22a and 22b are pivoted are called intermediate supports a, b, c, d, and e in order from one side of the pantograph mechanism 4, Further, the pivoting portion of each arm end will be referred to as an end fulcrum 23. In the pantograph mechanism 4 configured in this way, when the distance between the fulcrums a and b is changed by a predetermined drive mechanism, the distance between the fulcrums b and c, between the fulcrums c and d,
The distance between fulcrums d and e also changes by the same displacement as between fulcrums a and b.
このように構成された探触子位置決め装置では、被検材
1がターニングロール13上に搬送されてくると、ター
ニングロール13が探触子2の設置位置まで上昇すると
ともに、被検材1を回転させる。そして、探触子2が被
検材lに対して一定の水膜ギャップを介して接触した状
態で、探傷台車3を被検材1の軸方向に走行することに
より、被検材1をスバイラル状に探傷することができ、
探傷台車3を台車間距離だけ走行させることにより、被
検材1の全面を探傷することができる。In the probe positioning device configured in this way, when the material 1 to be tested is conveyed onto the turning roll 13, the turning roll 13 rises to the installation position of the probe 2, and at the same time moves the material 1 to be tested. Rotate. Then, by moving the flaw detection cart 3 in the axial direction of the test material 1 with the probe 2 in contact with the test material l through a constant water film gap, the test material 1 is spread out. It is possible to detect flaws in
By running the flaw detection cart 3 by the distance between the carts, the entire surface of the test material 1 can be detected.
また、隣接する各探傷台車3間の距離はパンタグラフ機
構4により可変となっているため、被検材1の長さに応
じて台車間距離を容易に変えることができ、効率よく検
査することができる。In addition, since the distance between adjacent flaw detection carts 3 is variable by the pantograph mechanism 4, the distance between the carts can be easily changed according to the length of the material 1 to be inspected, allowing for efficient inspection. can.
また、被検材1のサイズを変えるような場合には、探触
子保持機構2aのシュー交換,感度較正のためにオフラ
イン状態にする必要があるが、第3図に示すB状態のよ
うに、パンタグラフ機構4を最小に縮めて探傷台車4の
間隔を最少化することができる。In addition, when changing the size of the specimen 1, it is necessary to go offline to replace the shoe of the probe holding mechanism 2a and calibrate the sensitivity. , the distance between the flaw detection carts 4 can be minimized by reducing the pantograph mechanism 4 to the minimum size.
しかしながら、上述した従来の超音波探傷機の探触子位
置決め装置は、パンタグラフ機構4の各中間支点a ”
− e ,端部支点23が摩耗して、そこに“かた”が
生じると探触子2の位置が固定されなくなり、被検材1
のスパイラル全而探傷を行うことができなくなると共に
、探傷台車が滑らかに動かなくなるという問題がある。However, in the probe positioning device of the conventional ultrasonic flaw detector described above, each intermediate fulcrum a" of the pantograph mechanism 4
-e, If the end fulcrum 23 wears out and a "shape" occurs there, the position of the probe 2 will no longer be fixed, and the specimen 1
There is a problem that it becomes impossible to perform full spiral flaw detection, and that the flaw detection cart does not move smoothly.
すなわち、パンタグラフ機構4の各Φ間支点a〜e,端
部支点23に“かた”が生じると、複数台の探傷台車3
のうち駆動側端部にある探傷台車3が動き出しても、各
探傷台車3は駆動側端部から各探傷台車3までにある各
支点の“かた”瓜を越えるまで動かムいので、駆動側か
ら離れるにしたがって探傷台車3の動きに遅れを生じる
。その結果、被検材1に対して各探触子2間の距離が一
定ニ定まらないので、スバイラル全面探傷ができなくな
る。In other words, if the fulcrums a to e between Φ and the end fulcrums 23 of the pantograph mechanism 4 are tilted, a plurality of flaw detection carts 3
Even if the flaw detection cart 3 at the drive side end starts moving, each flaw detection cart 3 cannot move until it crosses the "half" of each fulcrum from the drive side end to each flaw detection cart 3. The movement of the flaw detection cart 3 is delayed as it moves away from the side. As a result, the distance between the probes 2 with respect to the material 1 to be inspected is not fixed, making it impossible to carry out spherical full-surface flaw detection.
なお、上記したような“がた”を防ぐ手段として、各台
車をボールネジで連結することも考えられるが、被検材
1の長さが例えば14mにも及ぶ場合には、この様な長
さに対応できる長さのボールネジを製作し取付けること
は実際問題として極めて困難である。また、各台車毎に
必要な最小長さのボールネジを取付けたとしても、オフ
ライン状態時等にパンタグラフ機構が最小に縮まった時
には、各台車間の距離は例えば350mm程度となるの
で、駆動装置等の設置スペースを考えると実現は困難で
ある。In addition, as a means to prevent the above-mentioned "backlash", it is possible to connect the carts with ball screws, but if the length of the material 1 to be inspected is, for example, 14 m, In practice, it is extremely difficult to manufacture and install a ball screw with a length that can accommodate this. Furthermore, even if a ball screw of the required minimum length is attached to each trolley, when the pantograph mechanism is shortened to the minimum during an offline state, the distance between each trolley will be, for example, about 350 mm, so the drive device, etc. This is difficult to realize considering the installation space.
また、上記パンタグラフ機構4において、各アーム支点
部分が摩耗して“かた”が生じたことにより部品交換等
の修理を行う場合には、少なくとも5日間程度を要して
いるのが実情であり、しかも稼働状態によっては6ケ月
程度の周期で修理を行う必要があることから、装置の稼
働効率が低下するという問題もあった。In addition, in the pantograph mechanism 4, when the fulcrum portion of each arm is worn out and a “deformity” occurs, the actual situation is that it takes at least 5 days to perform repairs such as replacing parts. Moreover, depending on the operating state, it is necessary to carry out repairs at intervals of about six months, resulting in a problem that the operating efficiency of the apparatus is reduced.
本発明は以上のような実情に鑑みて成されたもので、装
置の稼働効率の低下を招くことなくパンタグラフ機構に
生じる“がた”を取除くことができ、探触子の高精度な
位置決めを行なうことができる超音波探傷機の探触子位
置決め装置を提供することを目的とする。The present invention has been developed in view of the above-mentioned circumstances, and it is possible to remove the "backlash" that occurs in the pantograph mechanism without reducing the operating efficiency of the device, and to achieve highly accurate positioning of the probe. An object of the present invention is to provide a probe positioning device for an ultrasonic flaw detector that can perform the following steps.
本発明は上記課題を解決するために、被検材の長さ方向
に配置された複数台の探傷台車に、前記被検材に対向配
置された探触子がそれぞれ設けられ、前記被検材の長さ
方向に伸縮可能なパンタグラフ式の伸縮機構に前記複数
台の探傷台車を所定の間隔で取付け、前記伸縮機構を伸
縮させて前記探触子の位置決めを行う超音波探傷機の探
触子位置決め装置において、前記複数台の探傷台車のう
ち一端の探傷台車または前記伸縮機構の一端にその一端
が接続されたテンションワイヤと、このテンションワイ
ヤの他端を前記伸縮機構の他端方向に引張する張力付加
手段とを備える構成とした。In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is provided with a plurality of flaw detection carts arranged in the length direction of the material to be tested, each of which is provided with a probe facing the material to be tested, A probe of an ultrasonic flaw detector in which the plurality of flaw detection carts are attached at predetermined intervals to a pantograph-type extension mechanism that can be extended and contracted in the length direction, and the probe is positioned by expanding and contracting the extension mechanism. In the positioning device, a tension wire whose one end is connected to one end of the flaw detection trolley or one end of the telescoping mechanism among the plurality of flaw detection trolleys, and the other end of the tension wire is pulled toward the other end of the telescoping mechanism. The structure includes tension applying means.
また、上記課題を鯉決するために、前記張力付加手段を
、前記テンションワイヤの他端を前記伸縮機構の他端方
向に巻取るワイヤ巻取ドラムと、このワイヤ巻取ドラム
を回転駆動するワイヤ巻取用モータと、前記テンション
ワイヤの張力を検出するロードセルと、このロードセル
で検出された前記張力が予め定められている設定値とな
るように前記ワイヤ巻取用モータを制御するモータ制御
手段とから構成した。In order to solve the above problem, the tension applying means includes a wire winding drum that winds the other end of the tension wire toward the other end of the telescopic mechanism, and a wire winding drum that rotationally drives the wire winding drum. a winding motor, a load cell that detects the tension of the tension wire, and a motor control means that controls the wire winding motor so that the tension detected by the load cell becomes a predetermined set value. Configured.
本発明は以上のような手段を講じたことにより、伸縮機
構にそれぞれ取付けられた複数台の探傷台車のうち一端
の探傷台車または伸縮機構の一端に、その一端が接続さ
れたテンションワイヤが、張力付加手段によって複数台
の探傷台車のうち他端の探傷台車または伸縮機構の他端
に引張されるので、パンタグラフ式の伸縮機構の各支点
部に“かた“が生じていても、′がた”の生じている各
支点は一方向に押え付けられて、“がた″が取除かれる
。By taking the above-mentioned measures, the present invention allows the tension wire, one end of which is connected to one end of the flaw detection cart or one end of the telescoping mechanism, of a plurality of flaw detection carts each attached to the telescoping mechanism, to apply tension. Since the flaw detection carts at the other end of the plurality of flaw detection carts or the other end of the telescoping mechanism are pulled by the additional means, even if each fulcrum of the pantograph-type telescoping mechanism is skewed, it will not shift. Each fulcrum where the "backlash" occurs is pressed down in one direction, and the "backlash" is removed.
よって、各探傷台車間は一定間隔に保たれ、各探触子を
高精度に位置決めできるものとなる。Therefore, the distance between each flaw detection cart is maintained at a constant interval, and each probe can be positioned with high precision.
また、上記手段を講じたことにより、テンションワイヤ
に掛かる張力がロードセルによって検出され、検出され
た張力が予め定められている設定値となるようにワイヤ
巻取用モータがモータ制御手段によって制御される。し
たがって、伸縮機構の“がた″を取除くのに十分な張力
を設定しておけば、テンションワイヤの張力が常にその
ような値に調整され、探触子の位置決めを高精度行なう
ことができるものとなる。Further, by taking the above measures, the tension applied to the tension wire is detected by the load cell, and the wire winding motor is controlled by the motor control means so that the detected tension becomes a predetermined setting value. . Therefore, by setting a tension sufficient to remove the "backlash" in the telescoping mechanism, the tension of the tension wire will always be adjusted to that value, allowing highly accurate positioning of the probe. Become something.
以下、本発明の実施例について説明する。 Examples of the present invention will be described below.
第1図は本実施例に係る超音波探傷機の探触子位置決め
装置の概略的な構或を示す図である。なお、同図におい
て第3図および第4図に示す装置と同一部分には同一の
符号を付し詳しい説明は省略する。本実施例は、パンタ
グラフ機構4の両端に各々取付けられた探傷台車3a,
3b間にテンションワイヤ30が張架されている。この
テンションワイヤ30の一端は、探傷台車3aに連結さ
れており、他端は駆動台車となっている探傷台車3bに
設置されたワイヤテンション機構31に直接連結されて
いる。このワイヤテンション機構31はモータ制御手段
としてのテンションコントローラ32により制御される
構成となっている。FIG. 1 is a diagram showing a schematic structure of a probe positioning device of an ultrasonic flaw detector according to this embodiment. In this figure, the same parts as those in the apparatus shown in FIGS. 3 and 4 are given the same reference numerals, and detailed explanations will be omitted. In this embodiment, flaw detection carts 3a, which are attached to both ends of the pantograph mechanism 4,
A tension wire 30 is stretched between 3b. One end of this tension wire 30 is connected to the flaw detection cart 3a, and the other end is directly connected to a wire tension mechanism 31 installed on the flaw detection cart 3b serving as a driving cart. This wire tension mechanism 31 is configured to be controlled by a tension controller 32 as a motor control means.
なお、ワイヤテンション機構31とテンションコントロ
ーラ32とから張力付加手段を構或している。Note that the wire tension mechanism 31 and the tension controller 32 constitute a tension applying means.
ワイヤテンション機構31は、第2図に示すように、テ
ンションワイヤ30の張力を検出しその検出した張力を
テンションコントローラ32へ出力するロードセル41
と、テンションワイヤ30を巻取る巻取ドラム42と、
この巻取ドラム42を回転駆動するワイヤ巻取用モータ
43と、巻取ドラム42とワイヤ巻取用モータ43とを
連結しワイヤ巻取用モータ43に設定値以上の負荷トル
クがかからないようにするためのトルクリミッタ44と
、テンションワイヤ30が巻取ドラム42に整然と巻取
られるようにするための巻取位置決めブーり45と、テ
ンションワイヤ30の方向を定めるためのガイドプーり
46とから構戊されている。As shown in FIG. 2, the wire tension mechanism 31 includes a load cell 41 that detects the tension of the tension wire 30 and outputs the detected tension to the tension controller 32.
and a winding drum 42 that winds up the tension wire 30.
A wire winding motor 43 that rotationally drives this winding drum 42 is connected to the winding drum 42 and the wire winding motor 43 to prevent a load torque exceeding a set value from being applied to the wire winding motor 43. A winding positioning boolean 45 for ensuring that the tension wire 30 is wound on the winding drum 42 in an orderly manner, and a guide pulley 46 for determining the direction of the tension wire 30. has been done.
また、テンションコントローラ32は、パンタグラフ機
構4の“がた″を取除くのに十分な張力が予め設定され
ていて、この設定値とロードセル41から送られてくる
検出値とを比較して、その偏差が零となるようにワイヤ
巻取用モータ43を制御する機能を有している。In addition, the tension controller 32 has a tension sufficient to remove "backlash" in the pantograph mechanism 4 set in advance, and compares this set value with the detected value sent from the load cell 41 and determines the tension. It has a function of controlling the wire winding motor 43 so that the deviation becomes zero.
次に、このように構成された探触子位置決め装置の動作
について説明する。テンションヮイヤ30の張力はロー
ドセル41によって検出され、その検出値がテンション
コントローラ32へ出力される。テンションコントロー
ラ32では、“かた”を取除くのに十分な張力として予
め設定されている設定値と、検出された検出値とが比較
され、その偏差が零となるようにワイヤ巻取用モータ4
3を制御する。すなわち、検出値が設定値よりも小さけ
れば、ワイヤ巻取用モータ43を巻取方向に回転させる
指令信号が出力される。また、検出値が設定値よりも大
きければ、ワイヤ巻取用モータ43を巻外し方向へ回転
させる指令信号が出力される。このよう゛にして、テン
ションヮイヤ30の張力は、常に設定値に保たれる。Next, the operation of the probe positioning device configured as described above will be explained. The tension of the tension ear 30 is detected by a load cell 41, and the detected value is output to the tension controller 32. The tension controller 32 compares the detected value with a preset value that is sufficient to remove the "head", and adjusts the wire winding motor so that the deviation is zero. 4
Control 3. That is, if the detected value is smaller than the set value, a command signal to rotate the wire winding motor 43 in the winding direction is output. Further, if the detected value is larger than the set value, a command signal to rotate the wire winding motor 43 in the unwinding direction is output. In this way, the tension in the tensioner 30 is always maintained at the set value.
したがって、パンタグラフ機構4は左端から右端に向け
て″がた”を取除くのに十分な大きさの力で押されて、
パンタグラフ機構4の各支点a〜e,23の枢軸は一様
に図中右方向に押付けられ、各支点aye,23に生じ
ている“がた”が取除かれる。その結果、各探傷台車3
間隔は一定の間隔に保たれ、探傷台車3に取付けられて
いる各探触子2の位置が固定する。Therefore, the pantograph mechanism 4 is pushed from the left end to the right end with a force large enough to remove the "backlash".
The pivots of the fulcrums a to e, 23 of the pantograph mechanism 4 are uniformly pressed rightward in the figure, and the "backlash" occurring at the fulcrums aye, 23 is removed. As a result, each flaw detection truck 3
The spacing is kept constant, and the position of each probe 2 attached to the flaw detection cart 3 is fixed.
なお、以上のようにして取除かれた“がた”分だけ探傷
台車3間の間隔が狭くなるが、狭くなった距離を駆動台
車3bにフィードバックして、パンタグラフ機構4を延
ばすことにより当初設定した台車間隔とすることができ
る。Note that the distance between the flaw detection carts 3 will be narrowed by the amount of "backlash" removed as described above, but the narrowed distance will be fed back to the drive cart 3b and the pantograph mechanism 4 will be lengthened to achieve the initial setting. The trolley spacing can be set as follows.
また、上記テンションワイヤ機構31は、探傷台車3間
の間隔を変更後であっても、また台車走行中であっても
、常にテンションワイヤ30の張力が設定値となるよう
に作用し、常に“がた”を取除くように作用する。Further, the tension wire mechanism 31 always acts so that the tension of the tension wire 30 is at the set value even after changing the interval between the flaw detection carts 3 or while the carts are running. It acts to remove "backlash".
このように本実施例によれば、パンタグラフ機構4の一
端から他端にかけてテンションワイヤ30を張架し、こ
のテンションワイヤ30をワイヤテンシ9ン機構31に
よってパンタグラフ機構4をその一端から他端方向に向
けて引張し、このときのテンションワイヤ30の張力を
ロードセル41で検出して、この検出値が“がた″を取
除くのに十分な値として設定されている設定値となるよ
うに、ワイヤ巻取ドラム42を駆動するワイヤ巻取用モ
ータ43をテンションコントローラ32で制御するよう
にしたので、テンシaンワイヤ30の張力を常に上記設
定値に保つことができ、よってパンタグラフ機構4の各
支点a=e,23に生じている“かた”を取除くことが
でき、探触子2を正確に位置決めすることができる。そ
の結果、被検材1を良好にスパイラル全面探傷すること
ができる。According to this embodiment, the tension wire 30 is stretched from one end of the pantograph mechanism 4 to the other end, and the tension wire 30 is directed by the wire tension mechanism 31 to direct the pantograph mechanism 4 from one end to the other end. The tension of the tension wire 30 at this time is detected by the load cell 41, and the wire is wound so that this detected value becomes a set value that is sufficient to remove "backlash". Since the wire take-up motor 43 that drives the take-up drum 42 is controlled by the tension controller 32, the tension of the tension wire 30 can always be maintained at the above-mentioned setting value, and therefore each fulcrum a of the pantograph mechanism 4 It is possible to remove the "shank" occurring at e and 23, and the probe 2 can be positioned accurately. As a result, the entire surface of the test material 1 can be subjected to spiral flaw detection.
また、パンタグラフ機構4に“がた゜が生じてもワイヤ
テンション機構31によって、その“かた“を取除くこ
とができるので、支点部分a − e ,23の部品を
交換する必要がなくなり、従来必要であった修理時間を
省略または修理回数を減すことができ、装置の稼働効率
を向上させることができる。Furthermore, even if the pantograph mechanism 4 has a wobble, it can be removed by the wire tension mechanism 31, so there is no need to replace the parts of the fulcrum parts a-e, 23, which was previously unnecessary. It is possible to eliminate the repair time or reduce the number of repairs, and improve the operating efficiency of the device.
以上詳記したように本発明によれば、装置の稼働効率の
低下を招くことなくパンタグラフ機構に生じる“かた”
を取除くことができ、探触子の高精度な位置決めを行な
うことができる超音波探傷機の探触子位置決め装置を提
供できる。As described in detail above, according to the present invention, the "heaviness" that occurs in the pantograph mechanism can be avoided without causing a decrease in the operating efficiency of the device.
Accordingly, it is possible to provide a probe positioning device for an ultrasonic flaw detector that can perform highly accurate positioning of the probe.
第1図は実施例の概略的な構成図、第2図はワイヤテン
ション機構31の構成図、第3図は従来より在る探触子
位置決め装置の構或図、第4図は第3図に示す探触子位
置決め装置を被検材の長手力向と直交する方向から見た
断面図、第5図はパンタグラフ機構の構成図である。
1・・・被検材、2・・・探触子、3・・・探傷台車、
4・・・パンタグラフ機構、30・・・テンションワイ
ヤ、31・・・ワイヤテンション機構、32・・・テン
ションコントローラ、41・−・ロードセル、42・・
・巻取ドラム、43・・・ワイヤ巻取用モータ。FIG. 1 is a schematic diagram of the embodiment, FIG. 2 is a diagram of the wire tension mechanism 31, FIG. 3 is a diagram of a conventional probe positioning device, and FIG. 4 is a diagram of the configuration of the conventional probe positioning device. FIG. 5 is a cross-sectional view of the probe positioning device shown in FIG. 5 viewed from a direction perpendicular to the longitudinal force direction of the specimen, and FIG. 5 is a configuration diagram of the pantograph mechanism. 1... Test material, 2... Probe, 3... Flaw detection truck,
4... Pantograph mechanism, 30... Tension wire, 31... Wire tension mechanism, 32... Tension controller, 41... Load cell, 42...
- Winding drum, 43...Wire winding motor.
Claims (1)
に、前記被検材に対向配置された探触子がそれぞれ設け
られ、前記被検材の長さ方向に伸縮可能なパンタグラフ
式の伸縮機構に前記複数台の探傷台車を所定の間隔で取
付け、前記伸縮機構を伸縮させて前記探触子の位置決め
を行う超音波探傷機の探触子位置決め装置において、 前記複数台の探傷台車のうち一端の探傷台車または前記
伸縮機構の一端にその一端が接続されたテンションワイ
ヤと、このテンションワイヤの他端を前記伸縮機構の他
端方向に引張する張力付加手段とを具備したことを特徴
とする超音波探傷機の探触子位置決め装置。(2)前記
張力付加手段は、前記テンションワイヤの他端を前記伸
縮機構の他端方向に巻取るワイヤ巻取ドラムと、このワ
イヤ巻取ドラムを回転駆動するワイヤ巻取用モータと、
前記テンションワイヤの張力を検出するロードセルと、
このロードセルで検出された前記張力が予め定められて
いる設定値となるように前記ワイヤ巻取用モータを制御
するモータ制御手段とからなることを特徴とする請求項
1記載の超音波探傷機の探触子位置決め装置。(1) A plurality of flaw detection carts arranged in the length direction of the test material are each equipped with a probe facing the test material, and are expandable and retractable in the length direction of the test material. In a probe positioning device for an ultrasonic flaw detector, the plurality of flaw detection carts are attached to a pantograph-type telescoping mechanism at predetermined intervals, and the telescoping mechanism is expanded and contracted to position the probe. A tension wire having one end connected to one end of the flaw detection cart or one end of the telescoping mechanism among the flaw detection carts, and a tension applying means for pulling the other end of the tension wire toward the other end of the telescoping mechanism. A probe positioning device for an ultrasonic flaw detector. (2) The tension applying means includes a wire winding drum that winds the other end of the tension wire toward the other end of the telescopic mechanism, and a wire winding motor that rotationally drives the wire winding drum;
a load cell that detects the tension of the tension wire;
The ultrasonic flaw detector according to claim 1, further comprising a motor control means for controlling the wire winding motor so that the tension detected by the load cell becomes a predetermined set value. Probe positioning device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1307436A JPH03170049A (en) | 1989-11-29 | 1989-11-29 | Probe positioning device for ultrasonic flaw inspecting machine |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1307436A JPH03170049A (en) | 1989-11-29 | 1989-11-29 | Probe positioning device for ultrasonic flaw inspecting machine |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03170049A true JPH03170049A (en) | 1991-07-23 |
Family
ID=17969051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1307436A Pending JPH03170049A (en) | 1989-11-29 | 1989-11-29 | Probe positioning device for ultrasonic flaw inspecting machine |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03170049A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008232666A (en) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Electromagnetic ultrasonic probe |
-
1989
- 1989-11-29 JP JP1307436A patent/JPH03170049A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008232666A (en) * | 2007-03-16 | 2008-10-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Electromagnetic ultrasonic probe |
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