JPH03167500A - 放射光用ミラー及び回折格子 - Google Patents
放射光用ミラー及び回折格子Info
- Publication number
- JPH03167500A JPH03167500A JP30831789A JP30831789A JPH03167500A JP H03167500 A JPH03167500 A JP H03167500A JP 30831789 A JP30831789 A JP 30831789A JP 30831789 A JP30831789 A JP 30831789A JP H03167500 A JPH03167500 A JP H03167500A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- temp
- diffraction
- reflecting
- hydrocarbon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 9
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
- 239000002470 thermal conductor Substances 0.000 claims 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 abstract description 15
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 abstract description 15
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 abstract description 8
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 abstract description 3
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 235000013399 edible fruits Nutrition 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000010902 straw Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、放射光発生装置で発生させた放射光を反射
するためのミラー或いは分光するための回折格子に関す
るものである. 〔従来の技術〕 シンクロトロン放射光(SOR)の中には炭化水素ガス
に吸収され易い波長が含まれており、そのため、SOR
発生装置においては、ビームラインの真空チャンバ内に
残っている炭化水素が容易に分解されてしまう。
するためのミラー或いは分光するための回折格子に関す
るものである. 〔従来の技術〕 シンクロトロン放射光(SOR)の中には炭化水素ガス
に吸収され易い波長が含まれており、そのため、SOR
発生装置においては、ビームラインの真空チャンバ内に
残っている炭化水素が容易に分解されてしまう。
この分解された炭化水素は、SOR発生装置のビームラ
イン中に設置された反射ミラーや分光用回分析格子の表
面に付着して果ラーの反射率や回折格子の回折率(分光
率)を低下させる。
イン中に設置された反射ミラーや分光用回分析格子の表
面に付着して果ラーの反射率や回折格子の回折率(分光
率)を低下させる。
そこで、従来は、その防止策として真空チャンバの内の
真空度を上げ、ビームライン中の炭化水素残存量を低減
する方法を採っている。
真空度を上げ、ビームライン中の炭化水素残存量を低減
する方法を採っている。
上述した従来の方法によると、ミラー及び回折格子設置
空間の真空度を高めるために超高真空用排気ポンプが不
可欠となり設備費が嵩む。
空間の真空度を高めるために超高真空用排気ポンプが不
可欠となり設備費が嵩む。
また、真空度を上げても旦ラーや回折格子の表面汚染を
完全には無くし得ないので、反射率や回折効率の落ちた
ミラー及び回折格子はビームラインを停止して再生しな
ければならないが、真空度を上げる方法では再生のため
の停止回数削減に限度があり、ビームラインの運用効率
がまだ充分とは云えない. この発明は、これ等の問題点を解決することを課題とし
ている。
完全には無くし得ないので、反射率や回折効率の落ちた
ミラー及び回折格子はビームラインを停止して再生しな
ければならないが、真空度を上げる方法では再生のため
の停止回数削減に限度があり、ビームラインの運用効率
がまだ充分とは云えない. この発明は、これ等の問題点を解決することを課題とし
ている。
この発明の放射光用ミラー及び回折格子は、昇温手段を
含む構成として使用中の温度を室温以上に高めるように
したものである. 〔作用〕 ミラーや回折格子などの表面温度を上昇させると炭化水
素の吸着確率が下がって放射光による表面部での分解反
応が減少する.このため、表面に対する炭化水素の付着
量が減り、反射効率、回折効率の低下が抑制される. 第5図は、炭化水素ガス(メタン)をIXIO−3to
rrの圧力を保った反応室内で放射光照射により反応さ
せ、シリコン基板上に炭化水素膜を戒長させた場合の威
膜速度の基板温度依存性を示している。この図から分か
るように、基板温度が15゜C付近と50℃付近とでは
炭化水素欣の付着量が大幅に異なり、これからこの発明
の有効性が確認できる。
含む構成として使用中の温度を室温以上に高めるように
したものである. 〔作用〕 ミラーや回折格子などの表面温度を上昇させると炭化水
素の吸着確率が下がって放射光による表面部での分解反
応が減少する.このため、表面に対する炭化水素の付着
量が減り、反射効率、回折効率の低下が抑制される. 第5図は、炭化水素ガス(メタン)をIXIO−3to
rrの圧力を保った反応室内で放射光照射により反応さ
せ、シリコン基板上に炭化水素膜を戒長させた場合の威
膜速度の基板温度依存性を示している。この図から分か
るように、基板温度が15゜C付近と50℃付近とでは
炭化水素欣の付着量が大幅に異なり、これからこの発明
の有効性が確認できる。
第1図乃至第4図にこの発明の一具体例を示す。
各図とも1は反射面2を有する反射ミラーである。
また、3はミラーの表面部温度を検出する熱電対、4は
3の出力電圧を測定する電圧計、5はミラー加熱手段の
電源を示している。
3の出力電圧を測定する電圧計、5はミラー加熱手段の
電源を示している。
さて、第1図のミラーは、反射面を除く各面に電熱ヒー
タ6を添わせ、このヒータ6を電源5からの給電により
発熱させて表面温度を高めるようにしてある。この場合
の電源5は、ヒータの発熱量制御のために可変電源を用
いている。
タ6を添わせ、このヒータ6を電源5からの給電により
発熱させて表面温度を高めるようにしてある。この場合
の電源5は、ヒータの発熱量制御のために可変電源を用
いている。
また、第2図のミラーは、タンク?内に収納した熱媒体
(気体や液体)を電源5に接続したヒータ8で加熱し、
これを循環パイブ9に通してポンプ10で循環させるこ
とにより、ミラー内に導入したパイブ9の放熱部からミ
ラーに熱を伝えて表面温度を高めるようにしてある. 一方、第3図のくラーは、一端を反射面以外の面(図は
背面)に接触させる熱伝導体11を設け、この熱伝導体
11を外周に巻きつけるなどしたヒーク12で加熱して
11を伝った熱で表面温度を上昇させるようにしてある
。
(気体や液体)を電源5に接続したヒータ8で加熱し、
これを循環パイブ9に通してポンプ10で循環させるこ
とにより、ミラー内に導入したパイブ9の放熱部からミ
ラーに熱を伝えて表面温度を高めるようにしてある. 一方、第3図のくラーは、一端を反射面以外の面(図は
背面)に接触させる熱伝導体11を設け、この熱伝導体
11を外周に巻きつけるなどしたヒーク12で加熱して
11を伝った熱で表面温度を上昇させるようにしてある
。
また、第4図の藁ラーは、その近傍に赤外線ランプ13
を設置し、ここからの輻射熱で表面温度を高めるように
してある。
を設置し、ここからの輻射熱で表面温度を高めるように
してある。
これ等は、いずれも表面の昇温手段を有しているので、
既述の作用により炭化水素の付着に起因した反射率(図
の1が2の部分に椙子溝を設けた回折格子である場合に
は回折率)の低下が抑制される。
既述の作用により炭化水素の付着に起因した反射率(図
の1が2の部分に椙子溝を設けた回折格子である場合に
は回折率)の低下が抑制される。
なお、例示の如き昇温手段による竃ラーや回折格子表面
の加熱温度は、第5図から分かるように、30゜C前後
でも500゜C#後でも発明の効果には大差が無いので
、省エネルギー及びミラー等の熱劣化防止の観点から、
目的達成可能温度範囲の下限域近辺に制御するのが望ま
しい.熱電対3があればそのような制御が可能である. 〔効果〕 以上説明したように、この発明の放射光用ミラー或いは
回折格子は、表面の昇温手段を設けて表面に対する炭化
水素の付着を防止し、表面汚染による反射率、回折効率
の低下を抑制するので、表面の再生時期を遅延させてビ
ームラインの停止回数を減少させることができる。
の加熱温度は、第5図から分かるように、30゜C前後
でも500゜C#後でも発明の効果には大差が無いので
、省エネルギー及びミラー等の熱劣化防止の観点から、
目的達成可能温度範囲の下限域近辺に制御するのが望ま
しい.熱電対3があればそのような制御が可能である. 〔効果〕 以上説明したように、この発明の放射光用ミラー或いは
回折格子は、表面の昇温手段を設けて表面に対する炭化
水素の付着を防止し、表面汚染による反射率、回折効率
の低下を抑制するので、表面の再生時期を遅延させてビ
ームラインの停止回数を減少させることができる。
また、真空排気ボンブの能力も小さくて済み、放射光の
効率的利用、放射光施設の設6I費削滅が可能になる。
効率的利用、放射光施設の設6I費削滅が可能になる。
第1図はこの発明の一実施例の斜視図、第2図乃至第4
図は他の実施例の斜視図、第5図は炭化水素膜の威膜速
度の基板温度依存性を示す図である。 1・・・・・・反射ミラー 2・・・・・・反射面、
3・・・・・・熱電対、 4・・・・・・電圧計、
5・・・・・・電源、 6、8、12・・・・
・・ヒーク、7・・・・・・タンク、 9・・・
・・・循環パイプ、10・・・・・・ボンブ、 1 1・・・・・・熱伝導体.
図は他の実施例の斜視図、第5図は炭化水素膜の威膜速
度の基板温度依存性を示す図である。 1・・・・・・反射ミラー 2・・・・・・反射面、
3・・・・・・熱電対、 4・・・・・・電圧計、
5・・・・・・電源、 6、8、12・・・・
・・ヒーク、7・・・・・・タンク、 9・・・
・・・循環パイプ、10・・・・・・ボンブ、 1 1・・・・・・熱伝導体.
Claims (2)
- (1)シンクロトロン放射光発生装置のビームライン中
におかれる放射光用ミラー及び回折格子であって、使用
中の温度を室温以上に高める昇温手段を具備しているこ
とを特徴とする放射光用ミラー及び回折格子。 - (2)昇温手段が、加温対象物(上記ミラー及び回折格
子)に取付けた電熱ヒータ、放熱部を加温対象物内に導
入した熱媒体循環式ヒータ、熱伝導体を介して加熱部か
ら加熱対象物に熱を伝える伝熱式ヒータ、又は加温対象
物近くに設置する赤外線ランプのいずれかである請求項
(1)記載の放射光用ミラー及び回折格子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30831789A JPH03167500A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 放射光用ミラー及び回折格子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30831789A JPH03167500A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 放射光用ミラー及び回折格子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03167500A true JPH03167500A (ja) | 1991-07-19 |
Family
ID=17979599
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30831789A Pending JPH03167500A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 放射光用ミラー及び回折格子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03167500A (ja) |
-
1989
- 1989-11-27 JP JP30831789A patent/JPH03167500A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4275729B2 (ja) | 急速熱処理装置及び方法 | |
JP3484651B2 (ja) | 加熱装置と加熱する方法 | |
US6970644B2 (en) | Heating configuration for use in thermal processing chambers | |
NL193801C (nl) | Inrichting voor het verwarmen van een cirkelvormig substraat. | |
JPH05114571A (ja) | 照射による半導体ウエーハの急速熱処理方法 | |
KR100274753B1 (ko) | 열처리 장치 | |
CN102576676A (zh) | 用于改善控制加热和冷却基板的设备与方法 | |
US6018146A (en) | Radiant oven | |
KR20040028647A (ko) | 개선된 급속 열처리 챔버용 램프헤드 | |
US5971565A (en) | Lamp system with conditioned water coolant and diffuse reflector of polytetrafluorethylene(PTFE) | |
IL122034A (en) | Thermal processor for semiconductor disks | |
US7166168B1 (en) | Substrate-coating system and an associated substrate-heating method | |
JPH03167500A (ja) | 放射光用ミラー及び回折格子 | |
EP0412998A1 (en) | An oven for the curing and cooling of painted objects and method | |
TW201135847A (en) | Device for the heat treatment of substrates | |
US6965093B2 (en) | Device for thermally treating substrates | |
JP3972379B2 (ja) | 加熱炉 | |
JPS6297845A (ja) | 紫外線による物質処理装置 | |
KR100799253B1 (ko) | 열선반사 재료 및 그것을 사용한 가열장치 | |
JP4461285B2 (ja) | 熱状態調節プロセス | |
JP3604425B2 (ja) | 気相成長装置 | |
KR100571714B1 (ko) | 기판의 열처리를 위한 장치 | |
TW202018839A (zh) | 包含抗反射塗層的透明末端執行器的處理室 | |
KR100899564B1 (ko) | 급속 열처리 프로세스 장치 | |
JPS62154618A (ja) | 気相成長装置 |