JPH03163334A - Light-scattering measuring apparatus - Google Patents

Light-scattering measuring apparatus

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JPH03163334A
JPH03163334A JP30204189A JP30204189A JPH03163334A JP H03163334 A JPH03163334 A JP H03163334A JP 30204189 A JP30204189 A JP 30204189A JP 30204189 A JP30204189 A JP 30204189A JP H03163334 A JPH03163334 A JP H03163334A
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JP
Japan
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light
lens
scattering
liquid crystal
parallel
Prior art date
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Pending
Application number
JP30204189A
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Japanese (ja)
Inventor
Akinari Kaneko
金子 明成
Toshio Itakura
板倉 登志男
Chiyotsugu Hitomi
人見 千代次
Jun Hoshikawa
潤 星川
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ICI Japan Ltd
Original Assignee
ICI Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To measure the angular distribution of the intensities of scattered light and transmitted light by forming a parallel light beam whose diameter is small with an optical system by using white-color light source having the continuous distribution in a visible light region and a lens, inputting the parallel light beam into a light scattering material, and scattering the light. CONSTITUTION:A main body 7 includes a white-color light source, a lens system for obtaining a parallel beam, a sample stage for holding a sample such as a liquid crystal element and a detector comprising a photodiode and the like. A controller 8 which is connected to the main body 7 receives the output signal from the detector in the main body 7. The signal is passed through a preamplifier and inputted into a logarithmic amplifier. Thus the logarithmic output is obtained and sent into an X-Y recorder 9. Then, the parallel light beam having the small diameter is formed with the optical system comprising the white-color light source having the continuous distribution in the visible light region and the optical system lens. The parallel light beam is inputted into a light scattering material and scattered. Then, the angular distributions of the scattered light and the transmitted light are measured.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、光の散乱などの光学特性を評価するために用
いる光散乱測定装置に関し、液晶表示素子などの光散乱
特性などの評価に有用な装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a light scattering measurement device used for evaluating optical properties such as light scattering, and is useful for evaluating light scattering properties of liquid crystal display elements, etc. related to equipment.

前記の測定の対象のひとつとして液晶表示素子があるが
、これは光シャッタと同じように、電場もしくは磁場を
印加することにより素子の液晶の光透過性を選択的に制
御して変化させるようになっているものである。
One of the objects of the above measurement is a liquid crystal display element, which, like an optical shutter, can selectively control and change the light transmittance of the element's liquid crystal by applying an electric or magnetic field. This is what has become.

例として、フランス特許第2;139.537号、米国
特許第4,435,047号ならびに米国特許第4.6
71,618号では、ネマティック液晶材料を多数の液
滴として透明なカプセル化材料のマトリクスの中に包み
込み、それに電場もしくは磁場を選択的に印加する方法
が示されている。場が印加されていない状態においては
、夫々のカプセル内にあるネマティック液晶分子は、そ
のカプセルの境界となっているカプセル化材料の三次元
的な界壁で配向される傾向があり、そのため総体的には
液晶分子が全体的に一定の配向方向をとることはない。
Examples include French Patent No. 2;139.537, U.S. Pat. No. 4,435,047 and U.S. Pat.
No. 71,618, a method is shown in which a nematic liquid crystal material is encapsulated as a number of droplets in a matrix of transparent encapsulant material and an electric or magnetic field is selectively applied thereto. In the absence of an applied field, the nematic liquid crystal molecules within each capsule tend to align with the three-dimensional boundary walls of the encapsulating material that bound the capsule, so that the overall In this case, the liquid crystal molecules do not have a uniform alignment direction as a whole.

このような条件下では、液晶分子は該素子に入射する光
の偏光に感応せず、それ故該素子は実質的に不透明であ
る。
Under such conditions, the liquid crystal molecules are insensitive to the polarization of the light incident on the device and the device is therefore substantially opaque.

該素子に適切な強度の場が印加されると、カプセルの界
壁で配向されるという液晶分子のこの傾向はなくな.り
、加えられた場による影響の下で、全般的な千行配位へ
と再配向するようになる。そして、この条件の下では該
素子を光が透過できるようになる。
When a field of appropriate strength is applied to the device, this tendency of the liquid crystal molecules to align at the boundary walls of the capsule disappears. and, under the influence of the applied field, become reoriented to a general thousand-line configuration. Under this condition, light can pass through the element.

又、米国特許第4,411.495号で、セルローズエ
ステルで作られた多孔質フィルター材料からなる層に液
晶材料を分散させ、そして該液晶材料の屈折率を電場の
印加により制御してフィルター材料の屈折率と整合する
条件あるいは整合しない条件を作り出すことにより、液
晶素子を過ぎる光の選択的透過性に影響をおよぼす、と
いう事が知られている。もし両者の屈折率が整合すると
、該装置は透明になり、又、不整合条件下では入射光に
対して不透明になる。米国特許第4.411.495号
によって構築された素子の操作性にとっては、屈折率の
変化が基本的なものとなっているという事が銘記される
であろう。
Also, in U.S. Pat. No. 4,411,495, a liquid crystal material is dispersed in a layer of porous filter material made of cellulose ester, and the refractive index of the liquid crystal material is controlled by the application of an electric field to form a filter material. It is known to influence the selective transmission of light past a liquid crystal element by creating conditions that match or mismatch the refractive index of the liquid crystal element. If their refractive indices are matched, the device will be transparent, and under mismatched conditions it will be opaque to incident light. It will be noted that the change in refractive index is fundamental to the operability of the device constructed according to US Pat. No. 4,411,495.

〔従来技術〕[Prior art]

該液晶素子などの電気光学特性を評価するために、様々
な光散乱評価装置が存在し、たとえば、第1図に示され
るようなレーザーを用いた光散乱測定装置が、市販され
ており、たとえば、■オプテックのGP−5,CP−7
がその一例である。
In order to evaluate the electro-optical characteristics of liquid crystal elements, there are various light scattering evaluation devices. For example, a light scattering measuring device using a laser as shown in FIG. 1 is commercially available. , ■Optech GP-5, CP-7
is one example.

該装置においてはレーザー1からのレーザー光をミラー
2を経てサンプル3に入射し、その散乱光の強度の角度
分布をフォトダイオード4で検出し、該出力をDCアン
プ5に通した後、XYレコーダー6に出力するものであ
る。用途としては、l.散乱体の慣性半径の測定、2.
散乱体の形状(相関距離)の測定、3.相溶液の相関距
離の測定、4.粒径分布の測定である。
In this device, laser light from a laser 1 is incident on a sample 3 via a mirror 2, the angular distribution of the intensity of the scattered light is detected by a photodiode 4, the output is passed through a DC amplifier 5, and then an XY recorder is used. 6. As a use, l. Measuring the radius of inertia of the scatterer, 2.
Measuring the shape of the scatterer (correlation distance); 3. Measurement of correlation distance of phase solutions; 4. This is a measurement of particle size distribution.

又界面化学、高分子、生物、薬学、医学分野等において
、微粒子の表面科学を取り扱う基礎研究、応用研究への
適用を考えた散乱測定装置も多数市販されている。一例
としては、大塚電子■のELS−8φφがそうであるが
、ゼータ電位、電気移動度分布、移動度別粒径、粒径、
粒径分布が測定可能である。該装置は、概略において前
記GP一5,CP−7に類似しているが、角度分布は5
゜〜22゜を測定し、検出器としては、光電子増倍管を
用い、高速フーリエ変換等、高度なデータ処理を行ない
、前記評価を可能にせしめている。
In addition, there are many scattering measurement devices on the market that are designed to be applied to basic research and applied research dealing with the surface science of fine particles in the fields of surface chemistry, polymers, biology, pharmacy, medicine, etc. One example is Otsuka Electronics' ELS-8φφ, which has zeta potential, electrical mobility distribution, particle size by mobility, particle size,
Particle size distribution can be measured. The device is similar in general to the GP-5 and CP-7, but the angular distribution is
The above-mentioned evaluation is made possible by measuring angles of 22° to 22°, using a photomultiplier tube as a detector, and performing advanced data processing such as fast Fourier transform.

以上のように市販されている光散乱測定装置は?粒子高
分子の解析に用いられ、レーザー(ただし、レーザーを
用いない時もあるが)をサンプルに入射して散乱を発生
させ、評価している。
What are the commercially available light scattering measurement devices mentioned above? It is used to analyze particle polymers, and a laser (although sometimes no laser is used) is incident on the sample to generate scattering, which is then evaluated.

〔本発明が解■決しようとする問題点〕液晶素子は、透
過型表示を行うことができ、また、シャッター効果を利
用する表示板、窓、扉、壁にも利用されるが、該素子に
入射する光は連続的分布をもつ、太陽光あるいは室内照
明光であり、単色でない。したがって該素子を評価する
際には、太陽光あるいは室内照明光に近い分布を持つ白
色光を用いねば正しい評価が行なえない。また、単色を
該装置に入射させると、散乱光に干渉が発生し、角度分
布が白色光源の時とかなり異なったものとなる。
[Problems to be solved by the present invention] Liquid crystal elements can perform transmissive display and are also used for display boards, windows, doors, and walls that utilize the shutter effect. The light incident on the device has a continuous distribution, such as sunlight or indoor lighting, and is not monochromatic. Therefore, when evaluating the device, correct evaluation cannot be performed unless white light having a distribution close to that of sunlight or indoor lighting is used. Furthermore, when a monochromatic light is incident on the device, interference occurs in the scattered light, and the angular distribution becomes quite different from that of a white light source.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、可視光領域に連続的な分布を持つ白色光源と
レンズを用いた光学系によりビーム径の細い平行光を作
り、該平行光を光散乱物質に入射、散乱させ、散乱光お
よび透過光の強度の角度分布を測定することを特徴とす
る光散乱測定装置である。
The present invention creates parallel light with a narrow beam diameter using an optical system using a white light source with a continuous distribution in the visible light region and a lens, and the parallel light is incident on a light scattering material and scattered, thereby producing scattered light and transmitted light. This is a light scattering measurement device characterized by measuring the angular distribution of light intensity.

以下、第2図,第3図および第4図を用いて本発明を説
明する。第2図は、光学系および電気系を含めた測定装
置の全体ブロック図で、本体7には、白色光源、平行ビ
ームを得るためのレンズ系、液晶素子などの試料を保持
するための試料台、およびフォトダイオードなどからな
る検出器が含まれている。本体7に接続されているコン
トローラー8は、零体7内の検出器10(第3図)から
の出力信号を受けて、この信号をプリアンプに通した後
、ログアンプに入れて対数出力を得、これをX二Yレコ
ーダー9に送る。なお、コントローラー8は、前記の対
数出力をコンピュータに送ることあるいは必要に応じて
対数出力だけでなく、オリジナルの線形出力をコンピュ
ータ・レコーダに送ることも可能である。さらにコント
ローラー8は、検出器を回転させるための信号も送るよ
うになっている。
The present invention will be explained below with reference to FIGS. 2, 3, and 4. Figure 2 is an overall block diagram of the measuring device including the optical system and electrical system. , and a detector consisting of a photodiode, etc. A controller 8 connected to the main body 7 receives an output signal from a detector 10 (Fig. 3) in the zero body 7, passes this signal through a preamplifier, and then inputs it into a log amplifier to obtain a logarithmic output. , and sends this to the X2Y recorder 9. Note that the controller 8 can send the logarithmic output to the computer or, if necessary, send not only the logarithmic output but also the original linear output to a computer recorder. Furthermore, the controller 8 is adapted to send a signal for rotating the detector.

第3図は、本体7に含まれる光学系の一部である検出器
部分周りを示すもので、検出器10が支持台11の上に
摺動可能に支持されており、支持台11は軸12を中心
としてモータl3などにより回転可能に基台14に枢着
されている。試料台15は支持架台16に支持されてお
り、試料台l5の後にレンズ系17、白色光源18が連
接され、千行光が試料台の試料S(第4図)に入射され
るようになっている。検出器10は支持台11の回転に
より+90゜〜−90゜回転可能であるが、少しスペー
スを大きくすればより大きな範囲で回転が可能である。
FIG. 3 shows the area around the detector part, which is a part of the optical system included in the main body 7. The detector 10 is slidably supported on a support base 11, and the support base 11 has an axis. It is pivotally connected to the base 14 so as to be rotatable about the base 12 by a motor l3 or the like. The sample stage 15 is supported by a support pedestal 16, and a lens system 17 and a white light source 18 are connected behind the sample stage 15, so that a thousand beams of light are incident on the sample S (FIG. 4) on the sample stage. ing. The detector 10 can be rotated by +90° to -90° by rotating the support base 11, but it can be rotated over a wider range if the space is made a little larger.

また、検出器10を支持台11上で摺動させることによ
り、検出器と試料S(第4図)間の距離を変化させるこ
とができ、散乱分布の重要な因子の一つである検出角を
変化させることが可能となる。
Furthermore, by sliding the detector 10 on the support base 11, the distance between the detector and the sample S (Fig. 4) can be changed, and the detection angle, which is one of the important factors of scattering distribution, can be changed. It becomes possible to change the

第4図は、光源l8およびレンズ系l7を示す図であり
、白色光源18は、キセノン,ハロゲンなどのランプの
光源であり、効率よく活用するため、レンズ系16の逆
側にミラーを設置することが望ましい。また、ハロゲン
,キセノンは紫外光をかなり含むのでフィルターを光路
の途中に入れてもよい。
FIG. 4 is a diagram showing a light source 18 and a lens system 17. The white light source 18 is a light source of a lamp such as xenon or halogen, and in order to utilize it efficiently, a mirror is installed on the opposite side of the lens system 16. This is desirable. Furthermore, since halogen and xenon contain a considerable amount of ultraviolet light, a filter may be inserted in the optical path.

平行光を得るためのレンズ系は、たとえば、白色光源1
8に一番近いところに[50の50φの両凸レンズ19
があり、[30の30φの両凸レンズ20、100倍対
物レンズ21,  2.5倍投映レンズ22、f30の
20φの片凸レンズ23が順次設置されている。レンズ
系の次にコリメータ24が置かれ、コリメータ径を変化
させることで、5φ〜1φの平行光が得られる。平行光
のスポットサイズはコリメータ24から少くとも40c
mの距離において変化はない。
A lens system for obtaining parallel light is, for example, a white light source 1
8, there is a 50φ biconvex lens 19 in [50]
A 30φ biconvex lens 20, a 100x objective lens 21, a 2.5x projection lens 22, and a 20φ single convex lens 23 are installed in this order. A collimator 24 is placed next to the lens system, and by changing the diameter of the collimator, parallel light of 5φ to 1φ can be obtained. The spot size of the parallel light is at least 40c from the collimator 24.
There is no change at a distance of m.

検出器10としては、フォトダイオードの他に光電子増
倍管を用いることもできる。
As the detector 10, a photomultiplier tube can also be used in addition to a photodiode.

また、試料Sとして液晶素子を用いる場合は、電圧を印
加する必要があるので、そのための電源ケーブルが導入
できるようになっている。さらに、試料台,検出器の部
分は密閉され、外光が遮へいされる。出力信号をコンピ
ュータに導入するときはA/Dコンバータを用いればよ
く、この時、角度分布のデータはフロッピーディスクな
どにセーブされる。
Furthermore, when a liquid crystal element is used as the sample S, it is necessary to apply a voltage, so a power cable for this purpose can be introduced. Furthermore, the sample stage and detector are sealed and shielded from external light. An A/D converter may be used to input the output signal to the computer, and at this time, the data of the angular distribution is saved on a floppy disk or the like.

以上のようにして、可視光領域に連続的な分布を持つ白
色光源とレンズを用いた光学系によりビ−ム径の細い千
行光を作り、該平行光を光散乱物質に入射、散乱させ、
散乱光及び透過光の強度の角度分布を測定することを特
徴とする光散乱測定装置が達威される。
As described above, a thousand lines of light with a narrow beam diameter are created by an optical system using a white light source with a continuous distribution in the visible light region and a lens, and the parallel light is incident on a light scattering substance and scattered. ,
A light scattering measuring device is achieved which is characterized by measuring the angular distribution of the intensity of scattered light and transmitted light.

〔評価例l] 米国特許第4,435,047号、同第4,671.6
18号に基づき前記、光散乱型液晶素子を製作し、本発
明の装置により、評価を行なうと、第5図のような角度
分布が得られた。縦軸は光出力のLOGスケールで横軸
は角度をあらわす。ここで液晶素子はO V,IOV,
30Vの500Hz Sin波で駆動したもので、0゜
の出力には30VとO■ではかなり、大きな差が見られ
る。電圧を印加することにより、透明度が向上し、した
かて0゜の出力、つまり、多くは、透過光が増大してい
る。
[Evaluation Example 1] U.S. Patent No. 4,435,047, U.S. Patent No. 4,671.6
When the above-mentioned light scattering type liquid crystal element was manufactured based on No. 18 and evaluated using the apparatus of the present invention, an angular distribution as shown in FIG. 5 was obtained. The vertical axis represents the LOG scale of the optical output, and the horizontal axis represents the angle. Here, the liquid crystal elements are OV, IOV,
It was driven by a 30V 500Hz sine wave, and there is a fairly large difference in the output at 0° between 30V and O■. By applying a voltage, the transparency is improved and the output at 0°, that is, the transmitted light is increased in most cases.

第5図においては干渉による振動が見られず、同様に作
った他のサンプルと比較が行ないやすい。
In FIG. 5, no vibration due to interference is seen, making it easy to compare with other similarly made samples.

第5図の例では10’以内の散乱光が電圧を印加するこ
とで増加していることが容易に理解できるが、これに振
動があると、容易に判断が行なえない。又、これら液晶
素子は白色光に対する散乱が問題であり、単色光では完
全でない。
In the example of FIG. 5, it is easy to understand that the scattered light within 10' increases by applying a voltage, but if there is vibration in this, it is difficult to judge easily. Furthermore, these liquid crystal elements have a problem with scattering of white light, and are not perfect with monochromatic light.

以上のことから、本発明による測定装置が該液晶素子の
評価に有効であることが理解できるが、液晶素子だけで
なく他の白色光による散乱を問題にする試料の評価にも
活用できる。
From the above, it can be seen that the measuring device according to the present invention is effective for evaluating the liquid crystal element, but it can also be used for evaluating not only liquid crystal elements but also other samples in which scattering by white light is a problem.

C評価例2〕 第2〜4図の装置で光源としてはハロゲン12v,lO
OWを用いビーム径を4φとし、センサーとしては浜松
フォトニクス製 S 1226を用いた。又、フィルタ
ーとしてメリオグレス社製03FCG 165を試料入
射前の光路に設置し、可視光だけを、入射させた。米国
特許第4,435,047号、同4,671.618号
に基づいた2種のサンプルを評価した駆動条件は前述と
同じで、0, 10, 30V,  500Hz, S
in波を用いた。それぞれのサンプルをA,Bとする。
C evaluation example 2] Using the apparatus shown in Figures 2 to 4, the light source was halogen 12V, 1O.
The beam diameter was 4φ using OW, and S1226 manufactured by Hamamatsu Photonics was used as the sensor. Further, as a filter, 03FCG 165 manufactured by Meliogres was installed in the optical path before the sample was incident, and only visible light was allowed to enter. The driving conditions for evaluating the two types of samples based on U.S. Pat.
In wave was used. Let the respective samples be A and B.

第5図の試料は平均粒子径が第6図のBより小さい O゜でのコントラスト(30V出力/OV出力)として
は、A,Bほぼ同程度であるが、八の方がOvでの曇り
度が大きく、透過が少ない。
The sample in Figure 5 has a smaller average particle diameter than B in Figure 6, and the contrast at 0° (30V output/OV output) is almost the same as that of A and B. High visibility and low penetration.

又、サンプルBでは、20度以下での散乱光の大きな変
化がAと異なり見られない。以上のような測定結果が該
液晶装置の解析に有効となる。
Further, in sample B, unlike sample A, no large change in scattered light at 20 degrees or less is observed. The above measurement results are effective for analysis of the liquid crystal device.

〔効 果〕〔effect〕

本発明による可視光領域に連続的な分布を持つ白色光源
とレンズを用いた光学系によりビーム径の細い平行光を
作り、該平行光を光散乱物質に入射、散乱させ、散乱光
及び透過光の強度の角度分布を措定することを特徴とす
る光散乱測定装置は液晶の装置の評価に有効で、特に単
色光でないため、干渉が生じず、適確に評価が行なえる
。又、液晶装置もそうであるが、白色光の散乱を問題に
する他の試料にも有効である。
According to the present invention, parallel light with a narrow beam diameter is created using an optical system using a white light source with a continuous distribution in the visible light region and a lens, and the parallel light is incident on a light scattering material and scattered, thereby producing scattered light and transmitted light. A light scattering measuring device that is characterized by determining the angular distribution of intensity is effective for evaluating liquid crystal devices.In particular, since the light is not monochromatic, no interference occurs and accurate evaluation can be performed. In addition to liquid crystal devices, this method is also effective for other samples where scattering of white light is a problem.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の光散乱測定装置のブロック図、第2図
は光学系、電気系を含めた本発明による装置の概略を示
すブロック図、第3図(A)および(B)は光学系の一
部である検出器部分周りを示す図で、(A)は平面図、
(B)は側面図、第4図、光源およびレンズ系の配置図
、第5図および第6図は測定結果を表わす図である。 1・・・レーザ、4・・・フォトダイオード、6・・・
X−Yレコーダー、7・・・本体、8・・・コントロー
ラ、9・・・X−Yレコーダー、10・・・検出器、l
1・・・支持台、15・・・試料台、18・・・光源、
19〜23・・・レンズ、S・・・試料 第3図 13 1Z )4 第4図 始5図 −30’ −20’ −IQ” O0 IO@ 20m 30’ 一角度一 第6図 一角度 手続補正書伯発) 平成3年2月20日
FIG. 1 is a block diagram of a conventional light scattering measuring device, FIG. 2 is a block diagram showing an outline of the device according to the present invention including an optical system and an electrical system, and FIGS. 3 (A) and (B) are optical This is a diagram showing the surroundings of the detector part, which is a part of the system, (A) is a plan view;
(B) is a side view, FIG. 4 is a layout diagram of a light source and a lens system, and FIGS. 5 and 6 are diagrams showing measurement results. 1...Laser, 4...Photodiode, 6...
X-Y recorder, 7...Main body, 8...Controller, 9...X-Y recorder, 10...Detector, l
1... Support stand, 15... Sample stand, 18... Light source,
19-23...Lens, S...Sample Fig. 3 13 1Z) 4 Fig. 4 Start Fig. 5 - 30'-20'-IQ" O0 IO@ 20m 30' One angle one Fig. 6 One angle procedure Revised scrip) February 20, 1991

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1)可視光領域に連続的な分布を持つ白色光源とレンズ
を用いた光学系によりビーム径の細い平行光を作る手段
、該平行光を光散乱物質に入射、散乱させ、散乱光およ
び透過光の強度の角度分布を測定する手段を有すること
を特徴とする光散乱測定装置。
1) Means for creating parallel light with a narrow beam diameter using an optical system using a white light source with a continuous distribution in the visible light region and a lens, making the parallel light incident on a light scattering substance and scattering it to produce scattered light and transmitted light. 1. A light scattering measuring device comprising means for measuring the angular distribution of intensity of the light.
JP30204189A 1989-11-22 1989-11-22 Light-scattering measuring apparatus Pending JPH03163334A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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