JPH03143051A - Signal transmission technique - Google Patents

Signal transmission technique

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JPH03143051A
JPH03143051A JP21016590A JP21016590A JPH03143051A JP H03143051 A JPH03143051 A JP H03143051A JP 21016590 A JP21016590 A JP 21016590A JP 21016590 A JP21016590 A JP 21016590A JP H03143051 A JPH03143051 A JP H03143051A
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JP
Japan
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signal
driver
receiver
high frequency
noise margin
Prior art date
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Application number
JP21016590A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
J Lambert Craig
クレイグ ジェイ.ラムバート
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Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
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Publication date
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  • Dc Digital Transmission (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide a high noise margin, and to attain high frequency digital communication minimum in the influence of cross-talk, voltage level shit and high frequency attenuation by providing a high frequency driver, a single end transmission path connected with it, and ECL receiver. CONSTITUTION: A GaAs driver 41 transmits a single end signal to a receiver 42. The driver 41 has a high output voltage Voh and a low output voltage VoI, and a noise margin NML and a noise margin NMH in the receiver 42 are increased. Therefore, the signal is transmitted through the 'single end'. Thus, only the half number of mutual connecting lines can be necessitated, and the completeness of satisfactory and further satisfactory signal trnasmission can be maintained so that improvement can be attained. Also, this technique can be used in a high frequency automatic integrated circuit testing device and a system necessitating signal transmission with high completeness and high frequencies.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

産業上の利用分野 本発明は重子回路シ1rシの間のディジタル信呂伝送に
関連し、より詳細にCよ、G a A S %’i i
i2を用いるECL回路の間のシングルエンド1石送の
技術と方法に関する。 従来の技術及び課題 シャシの間にE CL (i gを送るときには、差分
信号伝送が通常は用いられる。テスト・システムの重昔
な電子回路は一般的に一緒にテスト・ヘッドに実装され
、相互接続線の数を最少限にでる。 これとは異なるテスターには概して性能の限界が見られ
る。 二つのシャシの間においてシングルエンドで転送された
ECL信弓の検出に1よ、雑音令裕の問題があり冑る。 、雑音金箔とは、伝送された信0の最大または最小の振
幅1と、高また(よ低状態を検出するのに必要なレベル
の間の差と定められる。 第1図では、駆動器11が受信器12にシングルエンド
信号を伝送している。駆動器11は、■(レベル出力電
圧O1と、高レベル出力電圧V。 hを有する。受信器12は、低レベル入力電h−シきい
値Vilと、高レベル入ノj電圧しきいl1rf Vh
を有ηる。受イ1器12にお1ノるVilとVolの間
の差が、低レベル雑音余硲N M Lと定義される。受
信器1にお(ノるVihとVohの差(よ、高レベル雑
音余裕NMI+と定?返される。 駆動シャシから受信シャシまでには、Vee及びVcc
 (または接地)の差立と、温度の差立に対して粗位か
ある。これは、[ECl−のスイッチングしきいfI/
l V b b、及び駆動ゲートの出力電rt高及び低
のVoh、VOlを影響しく11る。これにより、シン
グルエンド信nを受信するとき、雑音余裕が劣化する。 また、二つの9119間の伝送線路にa31)る損失は
、伝送された信月を十分に減衰させ、雑音余裕の劣化を
引き起こり。もし向火が重大であれば、その[1、Yは
パルスもiiの精度もまたより高い周波数て゛影響され
る。差分駆動信号を受信することにより、電圧と温度に
関する雑音余裕の問題は、受信器がVcc、Vbb、ま
たは温度X;にかかわらず相捕入力間の差青を検出する
ので、存在しなくなる。 ゲートの保証された動作には、より小さいピーク・トウ
・ピーク電圧が必要なので、動作の最大周波数もまた増
加するであろう。差分ディジタルイ3母を伝送する際の
主な欠点は、二倍もの相互接続線が必要であることであ
る。必要な相互接続線の数が多くなるとぎ、これGi空
間と費用にとって潜在的な問題である。 第2図では、駆動2; 21 +よ、一方は出力汚Hが
VOIで他方はVohである真及び補数信号を、受信器
22に伝送する。受イ3器22は、高または低レベルが
伝送されたかどうかを検出するために、真及び7Ili
数信0の間の電圧差を検出しなIJればならない。 シャシの間にディジタル信号を送るとき、それらを差か
伝送することが好ましい。主な17シ1題は、シングル
エンドを駆動する際の、シャシの間のVCCと温度差に
関する雑音余裕の減少である。漏話も、信号伝送におい
て問題となり(;する。もしより対が差分信月に用いら
れたら、その時は真及び補数信目の両方が同様に影響さ
れるので、漏話Get問題にはならない。 第3図では、駆動器31は差分信号を、より対ケーブル
を介して受信器32に伝送する。漏話はより対ケーブル
に現れるであろうが、真及び補数信号は同様に影響され
、よって受信器32は、差分伝送された信号の間の差の
みを検知すればJ:い。 もし51つ伝送技術が用いられたなら(1!Jちバック
ブレーン、コオックス(coax)、リボン・ライン等
)、貞及び補数信月の両方は同様には影響され(−2い
であろうから、漏話は問題となろう、、差分受信器の利
1ε1は、シングルエンドの受信器の約二I、fSぐあ
り、よって差分受イ5冶の動作の最大周波数(よ、シン
グルエンド受信に:の釣二倍であるべきである。 人力信号のスルー・レートが各場合に対して同じである
と、k分受信器番よ、出力の状態に変化をもたらずのに
、約半分の人力信号のみを必要とする。 課題を解決するための手段及び作用 木光明は高い雑音余裕を提供し、また漏話、電圧レベル
・シフト、及び高周波数減衰の影響を最小限にづる、高
周波数ディジタル信8を伝送する方法を含む。これは、
信「Jが「シングルエンド1で送信され、よって半数の
相乃接続線しか必要とせず、また同時に、良いまたはよ
り良い信号伝送の完全性を維持するという点で、従来の
差分信G伝送方法よりも浸れている。この方法は、高周
波自動集積回路試験v4iffにおいて、また高い完全
性、高い周波数の信号伝送を必要とするシステムでも使
用され得る。 VLSIテスト・システムでは、GaASゲートを用い
て、テスト・ヘッドとテスト・システムの主サポート・
シャシの間のECLレベル信gを駆動する。この通路に
沿って発生するタイミング・スキューは、テスターのタ
イミング精度にとって重要である。テスト・ヘッド(よ
できる限り小さく形成され、テスターの需要な部分くフ
ォーマツター、受信器、ロジック、タイミング・バーニ
ヤ等)が、主フレーム・シャシに置かれることを必要と
する。タイミング・スキューとパルス幅劣化は、テスト
・ヘッドの寸法と相互接続線の故と同様、最小限に保た
れなければならない。伝送線路の一端においてG a 
A S駆動器でシングルエンド伝送技術を用いることは
、相互接続線の数を少なくし、またテスト・ヘッドの寸
法を最少限にするのを助ける。GaAS駆flI器はま
た、漏話、VCC及び温度差により発生するタインミン
グ・スキューをrd小限にするのをII)ノける。 木光明により(呈示される技術的利点及びその目的は、
図面とJ(に以下の発明の好ましい丈施例の説明から明
らかになろう。この発明の新、)な特徴は特許請求の範
Unに示される。 実節例 シャシの間でシングルエンドを駆動するには、rガビッ
ト10GOO2ゲー1−が用いられ1!7る。 これは差分量(ffl Z、またはシングルエンド・ラ
イン・ドライバとして用いられ114る。ギノJピッi
・・グー1−を駆動器をして用いるのには、二つの主な
利点がある。第一の利点は、ゲート(よ高周波数装置i
?fとして、例えばガリウム・ヒ化物で構成され、よっ
て信号のスルー・レートは、ECLよりもかなり速く、
例えば五倍も速い。これにJ、り信@tま、Vbbシフ
トや漏話によるタイミング・スキューに対して、それ程
敏感でなくなる。第二の利点は、信gの振幅がECLよ
りも大きいことでおる。これにより信号は、雑音余裕の
問題にそれ程敏感でなくなる。両方の利点lよ、相!1
接続に沿った員失によるパルス幅の劣化を減少させる。 第4図では、GaAS駆a器41がシングルエンド信号
を受信器42に伝送する。駆動器41は、第1図のED
L駆動駆動器上1も高いVOhと(1(いVOIを有す
る。これにより第1図の受信器12と比較して、受信器
42にお1プるNMLとNM口が増加する。ガリウム・
ヒ化物(GaAs)部分の電圧振幅は、1.0乃至1.
4ボルトの範σ(Iである。ECL部分の電汗振幅は、
0.6乃第10ポル1−の箱間である。ECLの最悪の
場合の雑音余裕(よ約140mv’c’ある。これには
、駆動及び受(六ゲート間のVccまたは温度スキュー
は含まれない。 スキューは雑音余裕を一方向において減少させ、また他
方向において増加さ吐る。GaAaに対するより悪い場
合の雑音余裕は約325mVであり、よってGaAS部
分には約200mVの雑音余裕の増加がある。GaAs
ゲートの立上り85間は150psとされ、一方ECL
ゲートは典型的に750psとされる。これはGaAs
ゲートが、ECLの五倍以上のスルー・レートを有する
ことを意味する。これにより(3aAs信号が、漏話や
Vbbシフトによるタイミング・スキューに対して。 それ程敏感でなくなる。相互接続路もまた、それに損失
があるので、タイミング・スキューを増す。 もしパルス幅が狭く、罰失が高G′Jれば、その時は立
上り端は、立下り端がqじるま8では、決してその最高
の振幅には達しないて゛あろう。これにより、立下り端
が予想よりも早くしきい(iffに達するので、タイミ
ング・スキューが生じる。これはパルス幅の劣化の原因
となる。 第5図では、減衰されたECLパルスが示される。線の
末端でパルスが辻する最高の振幅Iよ、駆動器のVOh
よりも小さい。立下り喘が生じるとき、vbbへのH,
?間は、最高の振幅が小さ°いために、少なく<Cる。 第6図で(よ、減衰されたGaAsパルスが示される。 線の末端でのその最8の振幅は、駆動器のVohよりも
小さいが、立下り端がご[じるとき、vbbへの時間は
、GaASのエツジ・レートがECLよりも著しく速い
ために、少なくなる。GaAS信弓は、スルー・レート
が非常に速いので、劣化がより少ないはずである。タイ
ム・ス4ニューは、最大振幅と、立下り端が生じる振幅
の間の差と、信号のスルー・レートをJ))けだものに
比例する。またGaAsの立上り/ls’7下り時間は
著しく速いので、動作の最高周波数
FIELD OF INDUSTRIAL APPLICATION The present invention relates to digital transmission between multiplex circuits, more particularly C, G a A S %'i i
This invention relates to a technique and method for single-ended single-stone feeding between ECL circuits using i2. BACKGROUND OF THE INVENTION Differential signal transmission is commonly used when transmitting ECL (i.e. g) between chassis. Minimize the number of connecting wires. Other testers generally have limited performance. 1. There is a problem.The noise threshold is defined as the difference between the maximum or minimum amplitude of the transmitted signal and the level required to detect a high (low) condition. In the figure, the driver 11 transmits a single-ended signal to the receiver 12. The driver 11 has a level output voltage O1 and a high level output voltage V. h. Input voltage h-threshold Vil and high level input voltage threshold l1rf Vh
have. The difference between Vil and Vol at receiver 12 is defined as the low-level noise residual NML. The difference between Vih and Voh (high level noise margin NMI+) is returned to the receiver 1. From the driving chassis to the receiving chassis, Vee and Vcc
(or ground) and the temperature difference. This is the switching threshold of [ECl- fI/
l V b b, and the output voltages rt high and low Voh and VOl of the drive gate are affected. This degrades the noise margin when receiving the single-ended signal n. In addition, the loss in the transmission line between the two 9119s sufficiently attenuates the transmitted signal, causing deterioration of the noise margin. If the oxidation is significant, the accuracy of the [1, Y pulse and ii will also be affected at higher frequencies. By receiving differential drive signals, noise margin issues with respect to voltage and temperature no longer exist because the receiver detects the difference between the phase capture inputs regardless of Vcc, Vbb, or temperature X. Since guaranteed operation of the gate requires a smaller peak-to-peak voltage, the maximum frequency of operation will also increase. The main drawback in transmitting differential digital signals is that twice as many interconnect lines are required. This is a potential problem for Gi space and cost as the number of interconnect lines required is large. In FIG. 2, drive 2; 21 + transmits true and complement signals to the receiver 22, one with the output signal H at VOI and the other at Voh. Receiver 22 uses true and 7Ili signals to detect whether a high or low level is transmitted.
It is necessary to detect the voltage difference between the numbers 0 and 0. When sending digital signals between chassis, it is preferable to transmit them differentially. The main problem is the reduced noise margin with respect to VCC and temperature differences between the chassis when driving single-ended. Crosstalk can also be a problem in signal transmission (;). If a twisted pair is used for a differential signal, then both the true and complement signals are affected in the same way, so there is no crosstalk Get problem. Part 3 In the figure, the driver 31 transmits the differential signal via the twisted pair cable to the receiver 32. Although crosstalk will appear on the twisted pair cable, the true and complement signals are similarly affected and thus the receiver 32 If only the difference between the differentially transmitted signals is detected, the Crosstalk would be a problem since both the signal and complement signal would be similarly affected (-2), the gain of the differential receiver 1ε1 is about 2 I, fS of the single-ended receiver, and thus The maximum frequency of operation of the differential receiver (for single-ended reception) should be twice that of the maximum frequency of operation of the differential receiver. If the slew rate of the human signal is the same for each case, then Therefore, only about half the human signal is required without causing any change in the state of the output. A method for transmitting high frequency digital signals 8 that minimizes the effects of shifting and high frequency attenuation.
Traditional differential signal G transmission methods in that the signal 'J' is transmitted single-ended, thus requiring only half as many signal connections, and at the same time maintaining good or better signal transmission integrity. This method can be used in high frequency automatic integrated circuit testing v4iff and also in systems requiring high integrity, high frequency signal transmission. In VLSI test systems, GaAS gates are used to Primary support for test heads and test systems
Drives the ECL level signal g between the chassis. The timing skew that occurs along this path is important to the tester's timing accuracy. It requires that the test head (made as small as possible and the non-essential parts of the tester such as the formatter, receiver, logic, timing vernier, etc.) be placed on the main frame chassis. Timing skew and pulse width degradation, as well as test head dimensions and interconnect lines, must be kept to a minimum. At one end of the transmission line, Ga
Using single-ended transmission techniques in the AS driver reduces the number of interconnect lines and also helps minimize the size of the test head. The GaAS driver also helps minimize timing skew caused by crosstalk, VCC, and temperature differences. By Komei Ki (the technical advantages presented and their purpose are:
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS New features of the invention are set forth in the claims. To drive the single end between the example chassis, an r-gabit 10GOO2-gabit 1!7 is used. This is used as a differential quantity (ffl Z, or single-ended line driver).
There are two main advantages to using Goo1- as a driver. The first advantage is that the gate (high frequency device i
? f is composed of, for example, gallium arsenide, and the signal slew rate is therefore much faster than that of ECL.
For example, five times faster. This also makes it less sensitive to timing skew due to Vbb shifts and crosstalk. The second advantage is that the amplitude of signal g is larger than ECL. This makes the signal less sensitive to noise margin issues. The best of both worlds, Ai! 1
Reduces pulse width degradation due to loss along the connection. In FIG. 4, GaAS driver 41 transmits a single-ended signal to receiver 42. In FIG. The driver 41 is the ED shown in FIG.
The L drive driver 1 also has a high VOh and low VOI. This increases the NML and NM input to the receiver 42 compared to the receiver 12 of FIG.
The voltage amplitude of the arsenide (GaAs) part is 1.0 to 1.
The range of 4 volts is σ (I. The electrophoresis amplitude of the ECL part is
It is between the boxes of 0.6 and 10th pole 1-. ECL's worst-case noise margin (approximately 140 mv'c') does not include Vcc or temperature skew between the drive and receiver gates. Skew reduces noise margin in one direction and The worse case noise margin for GaAa is about 325 mV, so there is an increase in noise margin of about 200 mV for the GaAs part.
The period between gate rise and 85 is 150 ps, while ECL
The gate is typically 750 ps. This is GaAs
This means that the gate has a slew rate that is five times greater than the ECL. This makes the 3aAs signal less sensitive to timing skew due to crosstalk and Vbb shifts. The interconnect path also adds to the timing skew because it has losses. If G'J is high, then the rising edge will never reach its highest amplitude until after the falling edge. This causes the falling edge to occur earlier than expected. iff is reached, resulting in a timing skew, which causes pulse width degradation. In Figure 5, an attenuated ECL pulse is shown. The highest amplitude I at which the pulse crosses at the end of the line Yo, VOh of the driver
smaller than When a falling wheeze occurs, H to vbb,
? In the interval, the maximum amplitude is small, so it is less than <C. In Figure 6, a damped GaAs pulse is shown. Its amplitude at the end of the line is less than the Voh of the driver, but when the falling edge approaches The time is less because the edge rate of GaAS is significantly faster than ECL. GaAS Shinkyu should experience less degradation since the slew rate is much faster. The difference between the amplitude and the amplitude at which the falling edge occurs is proportional to the slew rate of the signal. Also, the rise/ls'7 fall times of GaAs are extremely fast, so the highest operating frequency

【よより速い。 以上の説明に関連して更に以下の項を開示する。 (1)  駆動器への入力信号以上の周波数応答を右す
るサポート・シャシの中の駆動器と、高周波数駆動器に
接続されたシングルエンド伝送線路と、 シングルエンド伝送線路に接続されたテスト・ヘッドの
中のECL受信忍を含む、 テスト・システムのサポート・シャシとテスト・ヘッド
の間の伝送線路システム。 (2)  (1)項に記載した伝送線路システムにJ3
いて、高周波数駆動器IよGaAS装蛸を含む。 (3)  (1)項に記載した伝送線路システムにおい
て、高周波yil駆動器は、塁準゛市圧差と高周波7i
l損失によるスイッチングしきい値エラーを埋め含わせ
るため、大き仔信g振齢を提供する。 (4)  <1)項に記載した伝送線路システムにおい
て、高周波数駆#J器は、低目漏話また1、1塁準電圧
差によるパルス劣化やタイミング・エラーを最少限にす
るため、高速の信】j伝送を提供する。 (5)  (1)頂に記載した方法において、テスト信
号はディジタル信局である。 (6)  サポート・シャシの中のG a A s 罠
fIJ器と、GaAS駆動:5:に接続されたシングル
エンド伝送線路と、 シングルエンド転送線路に接続されたテスト・ヘッドの
中のECL受信器を含む、 テスト・システムのサポート・シャシとテスト・ヘッド
の間の伝送線路システム。 (7)  (61項に記載した伝送線路システムにおい
て、l!2周波V、駆動器は、幇準電圧差と高周波数0
失によるスイッチングしきい賄エラーを押め合わせるた
め、大きな信l振幅を提供づる。 (81(6)項に記載した伝送線路システムにおいて、
高周波数駆動:Sは、信号漏話または1.(準Xr玉差
によるパルス劣化やタイミング・エラーを最少限にする
ため、高速の低目伝送を提供プる。 (9)  テスト・システムを、シングルエンド伝送線
路でテスト・ヘッドに接続し、 高周波数駆動:Sで信0を駆動して、テス]−・ヘッド
に送信し、 ECL受信器で7ス1〜信月を受イ警することを含む、 テスト・システムとテスト・ヘッドの間でテスト信号を
伝送する方法。 (10)  (9)項に記載した方法において、高周波
数駆動器はGaAs装謂である。 (11)  (9)項に記載した方法において、GaA
S駆#!J器は、基準電圧差と高周波数n失によるスイ
ッチングしきい値エラーを埋め合わせるため、大きな信
号振幅を提供する。 (12)  (91項に記載した方法において、高周波
数駆vJ器は、信号漏話または棋準電圧差によるパルス
劣化やタイミング・エラーを最少限にするため、高速の
信弓伝送を提供する。 (13)  f9)項に記載した方法において、テスト
信尽はディジタル前月である。 (14)  m頂に記載した伝送システムにおいて、!
8動志の周波数応答tit、5の因子の分だけ入力信ぢ
を上のする。 (15)二つのシャシ間におけるディジタル前月のシン
グルエンド伝送(よ、高周波数及び完全性の高いパルス
伝送にはGaAs駆勅器駆動用し、シングルエン113
月を離れているEC1人力に駆動し、従来の差分信0伍
送技術よりも0碓で、相方接続線が少なくて済む、より
高速で上り高い振幅の信号を提供する。 区内の簡titな説明 第1図は従来の技術のシングルエンドECL伝送線路を
示り図。 第2図は従来の技tfiの差分ECI伝送線路を承り図
。 第3図はより対を用いた、差分ECL伝送線路を示す図
。 第4図は本発明のシングルエンドGaAS仏送線路を示
す図。 第5図は減衰されたECLパルスと比較した、理論上の
ECLパルスを示す図。 第6図は減衰されたGaASパルスと比較した、理論上
のGaAsパルスを示づ図。 主々?LQの説明 11.21,31,41 :駆動器 12.22,32,42:受信器
[Yo faster. In connection with the above description, the following sections are further disclosed. (1) A driver in a support chassis that has a frequency response greater than the input signal to the driver, a single-ended transmission line connected to the high-frequency driver, and a test line connected to the single-ended transmission line. Transmission line system between the test system support chassis and the test head, including the ECL receiver in the head. (2) J3 in the transmission line system described in (1)
The high frequency driver I includes a GaAS device. (3) In the transmission line system described in (1), the high frequency yil driver has a high frequency 7i
In order to compensate for the switching threshold error due to loss, a large amount of signal is provided. (4) In the transmission line system described in <1), the high-frequency driver #J is designed to provide high-speed [Transmission]J provides transmission. (5) (1) In the method described at the top, the test signal is a digital communication station. (6) A GaAs trap fIJ device in the support chassis, a single-ended transmission line connected to the GaAS drive: 5:, and an ECL receiver in the test head connected to the single-ended transfer line. including the transmission line system between the test system's support chassis and the test head. (7) (In the transmission line system described in paragraph 61, the l!2 frequency V, the driver has a standard voltage difference and a high frequency 0
It provides a large signal amplitude to compensate for switching threshold errors due to switching errors. (In the transmission line system described in Section 81(6),
High frequency drive: S is signal crosstalk or 1. (Provides high-speed, low-level transmission to minimize pulse degradation and timing errors due to quasi-Xr signal differences.) (9) Connect the test system to the test head with a single-ended transmission line, Frequency drive: between the test system and the test head, including driving the signal 0 with S, transmitting it to the test head, and receiving the signal 7 through the ECL receiver with the ECL receiver. A method of transmitting a test signal. (10) In the method described in (9), the high frequency driver is GaAs equipped. (11) In the method described in (9), the high frequency driver is GaAs equipped.
S drive #! J devices provide large signal amplitudes to compensate for switching threshold errors due to reference voltage differences and high frequency n losses. (12) (In the method described in paragraph 91, the high-frequency VJ device provides high-speed signal transmission to minimize pulse degradation and timing errors due to signal crosstalk or voltage differences. ( 13) In the method described in section f9), the test credit is the digital previous month. (14) In the transmission system described at the top of m,!
The frequency response of the 8-movement wave, tit, increases the input signal by a factor of 5. (15) Digital single-ended transmission between two chassis (for high-frequency and high-integrity pulse transmission, a single-end 113
The EC, which is located on the moon, is powered by one person and provides a higher-speed, higher-amplitude signal that requires less connection lines than conventional differential signal transmission technology. Brief description of the area Figure 1 shows a conventional single-ended ECL transmission line. Figure 2 is a diagram of a conventional TFI differential ECI transmission line. FIG. 3 is a diagram showing a differential ECL transmission line using twisted pairs. FIG. 4 is a diagram showing a single-end GaAS transmission line of the present invention. FIG. 5 shows a theoretical ECL pulse compared to an attenuated ECL pulse. FIG. 6 shows a theoretical GaAs pulse compared to an attenuated GaAS pulse. Mainly? LQ description 11.21, 31, 41: Driver 12.22, 32, 42: Receiver

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)駆動器への入力信号以上の周波数応答を有するサ
ポート・シャシの中の駆動器と、高周波数駆動器に接続
されたシングルエンド伝送線路と、 シングルエンド伝送線路に接続されたテスト・ヘッドの
中のECL受信器を含む、 テスト・システムのサポート・シャシとテスト・ヘッド
の間の伝送線路システム。
(1) A driver in a support chassis with a frequency response greater than or equal to the input signal to the driver, a single-ended transmission line connected to the high-frequency driver, and a test head connected to the single-ended transmission line. A transmission line system between the support chassis of the test system and the test head, including the ECL receiver in the test system.
JP21016590A 1989-08-09 1990-08-08 Signal transmission technique Pending JPH03143051A (en)

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US39174589A 1989-08-09 1989-08-09

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