JPH03117750U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH03117750U JPH03117750U JP2626590U JP2626590U JPH03117750U JP H03117750 U JPH03117750 U JP H03117750U JP 2626590 U JP2626590 U JP 2626590U JP 2626590 U JP2626590 U JP 2626590U JP H03117750 U JPH03117750 U JP H03117750U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- moisture
- infrared
- measurement
- measuring device
- measurement object
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第１図はこの考案に係る水分測定装置の一実施
例を示す概略的断面図、第２図は第１図の水分測
定装置に用いられる赤外線式水分計を示す構成図
、第３図はこの考案に係る水分測定装置の他の実
施例を示す斜視図、第４図乃至第８図はこの考案
に係る水分測定装置の他の実施例を示す概略構成
図、第９図および第１０図はこの考案に用いられ
る測定対象物有無判別機構の他の例を示す概略構
成図である。 １……測定対象物、４ａ……赤外線透過部、５
，３３……赤外線式水分計、３１，３２，３６，
３７，３８……均し機構、３５，３９，４０……
測定対象物有無判別機構。なお、図中、同一符号
は同一、又は相当部分を示す。
例を示す概略的断面図、第２図は第１図の水分測
定装置に用いられる赤外線式水分計を示す構成図
、第３図はこの考案に係る水分測定装置の他の実
施例を示す斜視図、第４図乃至第８図はこの考案
に係る水分測定装置の他の実施例を示す概略構成
図、第９図および第１０図はこの考案に用いられ
る測定対象物有無判別機構の他の例を示す概略構
成図である。 １……測定対象物、４ａ……赤外線透過部、５
，３３……赤外線式水分計、３１，３２，３６，
３７，３８……均し機構、３５，３９，４０……
測定対象物有無判別機構。なお、図中、同一符号
は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 測定対象物の表面が平坦化状態で接触する
測定対象物接触部に配置された赤外線透過部と、
この赤外線透過部を介して赤外線を上記測定対象
物に照射して、該測定対象物の水分含有率を測定
する赤外線式水分計とを備えた水分測定装置。 (2) 測定対象物を搬送させながら測定対象物の
表面を平坦に均す均し機構と、この均し機構によ
つて表面が平坦に均された測定対象物に赤外線を
照射し、上記測定対象物の水分含有率を測定する
赤外線水分計とを備えた水分測定装置。 (3) 上記測定対象物を搬送する搬送路には測定
対象物の有無を判別し、かつ上記赤外線式水分計
の動作を制御する測定対象物有無判別機構を設け
たことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第１
項または第２項記載の水分測定装置。 (4) 上記赤外線式水分計は赤外線を吸収して水
分測定を行う水分測定部と測定対象物の色度測定
を行う色度測定部とで構成されたことを特徴とす
る実用新案登録請求の範囲第１項または第２項記
載の水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2626590U JPH03117750U (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2626590U JPH03117750U (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03117750U true JPH03117750U (ja) | 1991-12-05 |
Family
ID=31529170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2626590U Pending JPH03117750U (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03117750U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013515248A (ja) * | 2009-12-22 | 2013-05-02 | ビューラー・アクチエンゲゼルシャフト | 揺動可能な生成物を測定するための装置及び方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61209340A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-09-17 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
| JPS62228934A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-07 | Inoue Japax Res Inc | 汚泥含水率測定方法 |
| JPS6363949A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Yokogawa Electric Corp | シ−ト状物体の特性測定装置 |
-
1990
- 1990-03-15 JP JP2626590U patent/JPH03117750U/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61209340A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-09-17 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
| JPS62228934A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-07 | Inoue Japax Res Inc | 汚泥含水率測定方法 |
| JPS6363949A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Yokogawa Electric Corp | シ−ト状物体の特性測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013515248A (ja) * | 2009-12-22 | 2013-05-02 | ビューラー・アクチエンゲゼルシャフト | 揺動可能な生成物を測定するための装置及び方法 |
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