JPH03108379A - 光伝導型赤外線検出器 - Google Patents
光伝導型赤外線検出器Info
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- JPH03108379A JPH03108379A JP1245045A JP24504589A JPH03108379A JP H03108379 A JPH03108379 A JP H03108379A JP 1245045 A JP1245045 A JP 1245045A JP 24504589 A JP24504589 A JP 24504589A JP H03108379 A JPH03108379 A JP H03108379A
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- crystal
- cdte
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- infrared ray
- ray detector
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- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims abstract description 19
- 229910004262 HgTe Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 4
- 230000035939 shock Effects 0.000 abstract 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 7
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- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は光伝導型赤外線検出器に関し、さらに詳しくは
薄膜化、広帯域化および低消費エネルギー化の実現され
た光伝導型赤外線検出器に関する。
薄膜化、広帯域化および低消費エネルギー化の実現され
た光伝導型赤外線検出器に関する。
[従来の技術]
従来のtlcdTe光伝導型赤外線検出器は、第2図に
示すように、サファイア基板5上にn型HqCdTeバ
ルク結晶6を接着剤8により接着し、電極9を設けてい
た。ここで同結晶の表面と裏面は陽極酸化膜7により保
護されている。
示すように、サファイア基板5上にn型HqCdTeバ
ルク結晶6を接着剤8により接着し、電極9を設けてい
た。ここで同結晶の表面と裏面は陽極酸化膜7により保
護されている。
さて同結晶に吸収された赤外線は過剰キャリアを生成し
、結晶の抵抗を減少させる。この抵抗減少分は電極9に
加えている一定電流により電圧変化として検出される(
エム・ニー・キンチとニス・アール・ボレロ:インフラ
レッド・フィツクス。
、結晶の抵抗を減少させる。この抵抗減少分は電極9に
加えている一定電流により電圧変化として検出される(
エム・ニー・キンチとニス・アール・ボレロ:インフラ
レッド・フィツクス。
1975年、15巻、111頁(H,A、に1nch
and S、 R。
and S、 R。
Borrello : Infrared Ph
ysics) 、 x ム 拳ニー・キンチ等:イン
フラレッド・フィツクス、 1977年。
ysics) 、 x ム 拳ニー・キンチ等:イン
フラレッド・フィツクス、 1977年。
17巻、127頁()1. A、に1nch et a
l : InfraredPhysics) )。
l : InfraredPhysics) )。
[発明が解決しようとする課題]
このような従来技術の場合、■同結晶は赤外線を吸収す
るのに充分な厚さ10IJJ11程度でなければならな
い、および■帯域は少数キャリアである正孔の移動度的
500cm”/V・Sで決まり、典型的には1MH2程
度である、という特徴がある。前者の場合、バルク結晶
を10庫まで薄くする際、研磨工程を含むため結晶に損
傷が入り感度が劣化しやすいという問題点がある。1麦
者についてはバイアスミ流を大きくすると帯域は広がる
が、ジュール熱発生のためレスポンシビテイが低下し、
かつ熱雑音が増加して結局感度が劣化するという問題点
がある。
るのに充分な厚さ10IJJ11程度でなければならな
い、および■帯域は少数キャリアである正孔の移動度的
500cm”/V・Sで決まり、典型的には1MH2程
度である、という特徴がある。前者の場合、バルク結晶
を10庫まで薄くする際、研磨工程を含むため結晶に損
傷が入り感度が劣化しやすいという問題点がある。1麦
者についてはバイアスミ流を大きくすると帯域は広がる
が、ジュール熱発生のためレスポンシビテイが低下し、
かつ熱雑音が増加して結局感度が劣化するという問題点
がある。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決し、2
IJIn8!度の薄膜で広帯域の光伝導型赤外線検出器
を提供することにある。
IJIn8!度の薄膜で広帯域の光伝導型赤外線検出器
を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明は、Hc+TeとCdTeの超格子結晶を受光部
として有し、かつ該超格子結晶の両端面に電極を備えて
なることを特徴とする光伝導型赤外線検出器である。
として有し、かつ該超格子結晶の両端面に電極を備えて
なることを特徴とする光伝導型赤外線検出器である。
[作用]
本発明の光伝導型赤外線検出器の一例を第1図に示す。
この赤外線検出器は、CdTe基板1、CdTe緩衝層
2、HgTe−CdTe超格子結晶3および同超格子結
晶の傍に設けた電極4からなる。
2、HgTe−CdTe超格子結晶3および同超格子結
晶の傍に設けた電極4からなる。
さてHgTe−CdTe超格子結晶内のキャリアはHg
Te−CdTe界面に閉じ込められた、所謂2次元ガス
であり、その移動度は104 cm2 /v−5と高い
(ジエー・ピー・フオーリー:アイ・イー・イー・イー
・ジャーナル・オブ・クオンタム・エレクトロニクス、
1986年、 QE−22巻。
Te−CdTe界面に閉じ込められた、所謂2次元ガス
であり、その移動度は104 cm2 /v−5と高い
(ジエー・ピー・フオーリー:アイ・イー・イー・イー
・ジャーナル・オブ・クオンタム・エレクトロニクス、
1986年、 QE−22巻。
1656頁(J、 P、 Faurie:IEEE J
ournal of QtJan−tum Elect
ronics)) 。この値は、従来のHgcdTe光
伝導型赤外線検出器に用いられているn型HgCdTe
バルク結晶の少数キャリアである正孔の移動度500c
m2 / V −sより約20倍大きい。
ournal of QtJan−tum Elect
ronics)) 。この値は、従来のHgcdTe光
伝導型赤外線検出器に用いられているn型HgCdTe
バルク結晶の少数キャリアである正孔の移動度500c
m2 / V −sより約20倍大きい。
またHgTe−CdTe超格子の吸収係数は104cm
”と大きく(シー・イー・ジョーンズ等ニアブライド・
フィツクス・レターズ、 1985年、47巻、 1
40頁 (C,E、 Jones et al
: 八pp1. Phys。
”と大きく(シー・イー・ジョーンズ等ニアブライド・
フィツクス・レターズ、 1985年、47巻、 1
40頁 (C,E、 Jones et al
: 八pp1. Phys。
Lett、)) 、2卯という薄膜でも赤外線を十分吸
収して過剰キャリアを発生させることができる。
収して過剰キャリアを発生させることができる。
最後に赤外線検出器のカットオフ波長、つまりエネルギ
ーギャップはHgTe層の厚さで決まる(ジエー・ピー
・フオーリー:アイ・イー・イ・イー・ジャーナル拳オ
ブ・クオンタム・エレクトロニクス、 1986年、叶
−22巻、 1656頁(J、 P。
ーギャップはHgTe層の厚さで決まる(ジエー・ピー
・フオーリー:アイ・イー・イ・イー・ジャーナル拳オ
ブ・クオンタム・エレクトロニクス、 1986年、叶
−22巻、 1656頁(J、 P。
Faurie : IEEE Journal o
f Quantum Electron−+CS) )
。
f Quantum Electron−+CS) )
。
以上述べたf−1gTe−CdTe超格子の長所である
高い移動度と大きい吸収係数並びにエネルギーギャップ
がHgTe層の厚さで決まることを利用して、カットオ
フ波長チューナプルで広帯域の薄膜光伝導型赤外線検出
器を作ることができる。
高い移動度と大きい吸収係数並びにエネルギーギャップ
がHgTe層の厚さで決まることを利用して、カットオ
フ波長チューナプルで広帯域の薄膜光伝導型赤外線検出
器を作ることができる。
この赤外線検出器の動作原理を次に説明する。
HCJTe−CdTe超格子結晶に入射する赤外線は同
結晶中に過剰キャリアを生成する。同キャリアの発生に
起因する結晶の抵抗変化は、同超格子結晶の傍に設けた
電極4に流している一定電流によって電圧変化として検
出される。この光伝導型赤外線検出器において発生する
ジュール熱H3Lは次式で表される。
結晶中に過剰キャリアを生成する。同キャリアの発生に
起因する結晶の抵抗変化は、同超格子結晶の傍に設けた
電極4に流している一定電流によって電圧変化として検
出される。この光伝導型赤外線検出器において発生する
ジュール熱H3Lは次式で表される。
H3[=■S[2/R3[=IES[2WdS[/ρS
[ここで、VSLとEEstは各々電極4間の電圧と電
場、R3Lとρ8.は各々超格子結晶の抵抗と比抵抗、
並びにl、Wとds[は各々同電極間距離、同超格子結
晶の幅と厚さである。
[ここで、VSLとEEstは各々電極4間の電圧と電
場、R3Lとρ8.は各々超格子結晶の抵抗と比抵抗、
並びにl、Wとds[は各々同電極間距離、同超格子結
晶の幅と厚さである。
比較のため、従来型の光伝導型赤外線検出器に発生する
ジュール熱を同様に表す。
ジュール熱を同様に表す。
HB =VB 2/RB=IIEB 2wdB/ρ8両
2式の比は以下のようになる H8「/HB= (H8,/dB)(ρ、/ρst、> (E8./E8
)2ここで従来型と本発明の光伝導型赤外線検出器の帯
域、つまり応答速度を等しくした場合を考える。
2式の比は以下のようになる H8「/HB= (H8,/dB)(ρ、/ρst、> (E8./E8
)2ここで従来型と本発明の光伝導型赤外線検出器の帯
域、つまり応答速度を等しくした場合を考える。
この条件はキャリア寿命が等しいことと同等である。言
い換えると大きい電場の場合、キレリアの速度(V)が
等しければ応答速度、つまり帯域も等しい。従って、こ
の条件は次式で表される。
い換えると大きい電場の場合、キレリアの速度(V)が
等しければ応答速度、つまり帯域も等しい。従って、こ
の条件は次式で表される。
V 3m’μ5LESL・VB=μBEBV SL””
V B この式を用いるとジュール熱の比は次のようになる。
V B この式を用いるとジュール熱の比は次のようになる。
H3[/H8=
(H8,/d、)(ρB/ρ、1)(μ、/μs、)2
ここで以前にも述べたように本発明の光伝導型赤外線検
出器において、d31=2脚およびμ3.=1040m
2/V−5程度、一方、従来の光伝導型赤外線検出器に
おいてはdB=101JIr1およびμB−500cm
2 /V・S程度である。またρSL〜ρBである。こ
れらを上式に代入すると、次の関係を得る。
ここで以前にも述べたように本発明の光伝導型赤外線検
出器において、d31=2脚およびμ3.=1040m
2/V−5程度、一方、従来の光伝導型赤外線検出器に
おいてはdB=101JIr1およびμB−500cm
2 /V・S程度である。またρSL〜ρBである。こ
れらを上式に代入すると、次の関係を得る。
H31/ HB 〜5 X 10−’
この関係から分かるように、本発明の光伝導型赤外線検
出器において発生するジュール熱は、従来のものに比べ
て約3桁小さい。その結果、従来問題になっていた、大
きいバイアス電流におけるレスポンシビテイの減少や熱
雑音の増大が見られなくなる。
出器において発生するジュール熱は、従来のものに比べ
て約3桁小さい。その結果、従来問題になっていた、大
きいバイアス電流におけるレスポンシビテイの減少や熱
雑音の増大が見られなくなる。
[実施例]
次に本発明の実施例について、図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例の概略断面図である。
本実施例の光伝導型赤外線検出器は、面方位が(111
)BのCdTe基板1上にまずCdTe緩衝層2を形成
し、更にその上にHgTe−CdTeの超格子結晶3を
250対成長させたものである。基板の厚さは1mll
11CdTe緩衝層の厚さは3000人、HQTeの厚
さは50人およびCdTeの厚さは30人、従って超格
子の厚さは2卯である。HgTeの厚さ50人は、液体
窒素温度でエネルギーギャップ120meV 、つまり
カットオフ波長にして10.3期に対応する。電極4を
形成する前には、同電極部の超格子結晶を基板位置まで
エツチングする。その後、リフトオフ法によりCr/A
U電極を蒸着する。この際、エツチングされたCdTe
基板にまずCrが500人程0、次にAuが2卯蒸着さ
れる。この赤外線検出器の電極間距離と幅は、ともに2
01mである。
)BのCdTe基板1上にまずCdTe緩衝層2を形成
し、更にその上にHgTe−CdTeの超格子結晶3を
250対成長させたものである。基板の厚さは1mll
11CdTe緩衝層の厚さは3000人、HQTeの厚
さは50人およびCdTeの厚さは30人、従って超格
子の厚さは2卯である。HgTeの厚さ50人は、液体
窒素温度でエネルギーギャップ120meV 、つまり
カットオフ波長にして10.3期に対応する。電極4を
形成する前には、同電極部の超格子結晶を基板位置まで
エツチングする。その後、リフトオフ法によりCr/A
U電極を蒸着する。この際、エツチングされたCdTe
基板にまずCrが500人程0、次にAuが2卯蒸着さ
れる。この赤外線検出器の電極間距離と幅は、ともに2
01mである。
この赤外線検出器にE3.= 10 V/cmの電場を
加えたところ、従来のHgCdTe光伝導型赤外線検出
器に比べて約1桁広い50)IHzの帯域が得られた。
加えたところ、従来のHgCdTe光伝導型赤外線検出
器に比べて約1桁広い50)IHzの帯域が得られた。
また発生したジュール熱は非常に小さく、8nWであっ
た。さらにレスボンシビティと雑音のバイアス電場依存
性を測定したところ、高いバイアス電場におけるレスポ
ンシビテイの低下と熱雑音の増大は全く見られなかった
。
た。さらにレスボンシビティと雑音のバイアス電場依存
性を測定したところ、高いバイアス電場におけるレスポ
ンシビテイの低下と熱雑音の増大は全く見られなかった
。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、ト1gTe−C
dTe超格子結晶を光伝導型赤外線検出器の受光部にす
ることにより、同結晶の吸収係数が大きいことを利用し
て結晶を薄膜化することができ、かつ移動度が大きいこ
とを用いて広帯域化することができる。その結果、従来
型と本発明の検出器の帯域を同じにした場合、結晶内で
発生するジュール熱について本発明のほうが約3桁低く
なる。また高いバイアス電場におけるレスポンシビティ
の低下と熱雑音の増大が認められない等の効果を有する
。
dTe超格子結晶を光伝導型赤外線検出器の受光部にす
ることにより、同結晶の吸収係数が大きいことを利用し
て結晶を薄膜化することができ、かつ移動度が大きいこ
とを用いて広帯域化することができる。その結果、従来
型と本発明の検出器の帯域を同じにした場合、結晶内で
発生するジュール熱について本発明のほうが約3桁低く
なる。また高いバイアス電場におけるレスポンシビティ
の低下と熱雑音の増大が認められない等の効果を有する
。
第1図は本発明の一実施例の概略断面図、第2図は従来
技術による光伝導型赤外線検出器の一例の概略断面図で
ある。 1 ・Cd T e I板 2−Cd T e緩!
7層3−HQ T e −Cd T e超格子結晶4.
9・・・電極 5・・・サファイア基板6・・
・n型HgCdTeバルク結晶 7・・・陽極酸化膜 8・・・接着剤
技術による光伝導型赤外線検出器の一例の概略断面図で
ある。 1 ・Cd T e I板 2−Cd T e緩!
7層3−HQ T e −Cd T e超格子結晶4.
9・・・電極 5・・・サファイア基板6・・
・n型HgCdTeバルク結晶 7・・・陽極酸化膜 8・・・接着剤
Claims (1)
- (1)HgTeとCdTeの超格子結晶を受光部として
有し、かつ該超格子結晶の両端面に電極を備えてなるこ
とを特徴とする光伝導型赤外線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1245045A JPH03108379A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 光伝導型赤外線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1245045A JPH03108379A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 光伝導型赤外線検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03108379A true JPH03108379A (ja) | 1991-05-08 |
Family
ID=17127763
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1245045A Pending JPH03108379A (ja) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | 光伝導型赤外線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03108379A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015019088A (ja) * | 2009-05-26 | 2015-01-29 | ユニバーシティ オブ ソウル インダストリー コーポレーション ファウンデーション | 光検出器 |
US9397249B2 (en) | 2009-07-06 | 2016-07-19 | University Of Seoul Industry Cooperation Foundation | Photodetector capable of detecting long wavelength radiation |
-
1989
- 1989-09-22 JP JP1245045A patent/JPH03108379A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015019088A (ja) * | 2009-05-26 | 2015-01-29 | ユニバーシティ オブ ソウル インダストリー コーポレーション ファウンデーション | 光検出器 |
US9397249B2 (en) | 2009-07-06 | 2016-07-19 | University Of Seoul Industry Cooperation Foundation | Photodetector capable of detecting long wavelength radiation |
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