JPH03102311A - Light beam scanner - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
レーザダイオードおよびホログラム素子を用いた光ビー
ム走査装置に関し、
レーザダイオードを短時間で安定した設定温度に立ち上
げると共に、レーザダイオードを設定温度に立ち上げる
のに要する消費電力を低減することを目的とし、
レーザダイオードおよびホログラム素子を用いた光ビー
ム走査装置であって、前記レーザダイオードの温度を検
出する温度検出手段と、前記レーザダイオードにおける
複数の波長安定領域に対応する複数の温度を予め設定し
、前記検出されたレーザダイオードの温度に最も近い設
定温度を選択する設定温度選択手段と、前記検出された
レーザダイオードの温度と前記選択された設定温度とを
比較演算して、所定の制御信号を出力する演算制御手段
と、該演算制御手段の出力信号を受けて前記レーザダイ
オードを加熱または冷却して該レーザダイオードの温度
を前記選択された設定温度に一致させる温度可変手段と
を具備するように構或する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a light beam scanning device using a laser diode and a hologram element, the present invention provides a method for starting up the laser diode to a stable set temperature in a short time, and also for starting up the laser diode to the set temperature. A light beam scanning device using a laser diode and a hologram element, which aims to reduce the required power consumption, includes a temperature detection means for detecting the temperature of the laser diode, and a plurality of wavelength stable regions in the laser diode. a set temperature selection means for setting a plurality of corresponding temperatures in advance and selecting a set temperature closest to the detected temperature of the laser diode; and comparing the detected temperature of the laser diode and the selected set temperature. arithmetic control means for calculating and outputting a predetermined control signal; and heating or cooling of the laser diode in response to the output signal of the arithmetic control means so that the temperature of the laser diode matches the selected set temperature. The device is configured to include a temperature variable means.
本発明は、光ビーム走査装置に関し、特に、レーザダイ
オードおよびホログラム素子を用いた光ビーム走査装置
に関する。The present invention relates to a light beam scanning device, and particularly to a light beam scanning device using a laser diode and a hologram element.
近年、レーザプリンタ装置等の光ビーム走査装置として
、レーザダイオードおよびホログラム素子を使用したも
のが実用化されている。このようなレーザダイオードお
よびホログラム素子を使用した光ビーム走査装置におい
て、レーザダイオードから出射されるレーザ光は、安定
した波長を有していなければならず、そのため、レーザ
ダイオードの温度を一定に制御するようになされている
.そして、レーザダイオードの温度制御を短時間で且つ
少ない消費電力で行うことのできる光ビーム走査装置が
要望されている。In recent years, light beam scanning devices such as laser printer devices that use laser diodes and hologram elements have been put into practical use. In such a light beam scanning device using a laser diode and a hologram element, the laser light emitted from the laser diode must have a stable wavelength, so the temperature of the laser diode must be controlled to be constant. It is done like this. There is a need for a light beam scanning device that can control the temperature of a laser diode in a short time and with low power consumption.
第5図は従来の光ビーム走査装置の一例を示す図であり
、f・θ光学系を使用したものである。FIG. 5 is a diagram showing an example of a conventional light beam scanning device, which uses an f/θ optical system.
この従来の光ビーム走査装!(例えば、特開昭59−1
46069号公報参照)は、広<一般に使用されている
ものであり、光源にレーザダイオード101を用い、コ
リメート光学系100でコリメートされたビームを回転
多面鏡(ポリゴンミラー)102とf・θレンズ103
の組合せで感光体(フォトコンドラム)105等にライ
ン走査するようになされている。This conventional light beam scanning device! (For example, JP-A-59-1
46069) is widely used and uses a laser diode 101 as a light source, and a beam collimated by a collimating optical system 100 is transmitted to a rotating polygon mirror 102 and an f/θ lens 103.
A combination of the above is used to perform line scanning on the photoreceptor (photocondrum) 105, etc.
この第5図に示す光ビーム走査装置に対して、より少な
い部品数で安定した光ビーム走査を行えるものとして第
6図の光ビーム走査装置(例えば、特開昭62−287
08号公報参照)が提案されている。In addition to the light beam scanning device shown in FIG. 5, the light beam scanning device shown in FIG.
(see Publication No. 08) has been proposed.
この光ビーム走査装置は、回転多面鏡102およびf・
θ光学系103の代わりにホログラム素子を使用するも
のである。すなわち、第6図に示す従来の光ビーム走査
装置は、レーザダイオード101から出射されたレーザ
光をホログラムレンズ105およびホログラムスキャナ
(ホログラムディスク)106の2つの光学部品だけを
使用して感光体104にライン走査するようになされて
いる。This light beam scanning device includes a rotating polygon mirror 102 and an f.
A hologram element is used instead of the θ optical system 103. That is, the conventional optical beam scanning device shown in FIG. 6 scans the laser beam emitted from the laser diode 101 onto the photoconductor 104 using only two optical components: the hologram lens 105 and the hologram scanner (hologram disk) 106. It is designed to scan lines.
上述したように、従来、レーザダイオードおよびホログ
ラム素子等の僅かな部品数で安定した光ビーム走査を行
える第6図に示されるような光ビーム走査装置が提案さ
れている。ところで、第6図の光ビーム走査装置のよう
に、レーザダイオード101から出射されたレーザ光の
集光およびライン走査する光学系に、ホログラム素子(
ホログラムレンズ105およびホログラムスキャナ10
6)を用いた場合、次の点に留意しなければならない。As described above, a light beam scanning device as shown in FIG. 6 has been proposed which can perform stable light beam scanning with a small number of components such as a laser diode and a hologram element. By the way, as in the light beam scanning device shown in FIG. 6, a hologram element (
Hologram lens 105 and hologram scanner 10
When using 6), the following points must be kept in mind.
まず、レーザダイオード101は、周囲の温度変化に応
じて発振波長の変動があり、光学系の特性を変化させる
要因となるため、レーザダイオード101の温度を安定
させて発振波長に一定に保持する必要がある。First, the oscillation wavelength of the laser diode 101 fluctuates depending on changes in the surrounding temperature, which causes changes in the characteristics of the optical system, so it is necessary to stabilize the temperature of the laser diode 101 and keep it constant at the oscillation wavelength. There is.
第7図は第6図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。同図に示されるように、従来の光ビーム
走査装置においては、レーザダイオード101を安定動
作させるための設定温度は、例えば、常温(20〜25
℃)内の一定の温度とされているため、周囲温度が如何
なる場合でも該■っの設定温度になるように、レーザダ
イオードの温度を調節する必要があった。FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of the light beam scanning device of FIG. 6. As shown in the figure, in the conventional optical beam scanning device, the set temperature for stably operating the laser diode 101 is, for example, room temperature (20 to 25
Since the temperature of the laser diode is set at a constant temperature within 1°C, it is necessary to adjust the temperature of the laser diode so that the set temperature is maintained no matter what the ambient temperature is.
ところで、レーザダイオード101の温度調節には、例
えば、ベルチェ素子等の電子冷却素子を用いて、周囲温
度およびレーザダイオード101自体の発熱による温度
上昇量を制御し、レーザダイオード101を一定温度に
維持して安定した波長のレーザ光を出射させるようにな
されている。しかし、光ビーム走査装置を使用する周囲
温度(5℃〜35℃)等の環境条件が変化し、レーザダ
イオード101を予め定められた1つの設定温度に立ち
上げるには或る程度の時間を要し、ウォーミングアップ
時間の超過など装置の基本仕様を満足できないという課
題がある。さらに、レーザダイオード101の温度を安
定化するためには、どのような周囲温度でも予め定めら
れた1つの設定温度に立ち上げなければならず、ペルチ
ェ素子等に流す電流により消費電力が極めて大きくなる
こεがある。By the way, to adjust the temperature of the laser diode 101, for example, a thermoelectric cooling element such as a Bertier element is used to control the ambient temperature and the amount of temperature rise due to heat generation of the laser diode 101 itself, and maintain the laser diode 101 at a constant temperature. It is designed to emit laser light with a stable wavelength. However, environmental conditions such as the ambient temperature (5°C to 35°C) where the optical beam scanning device is used change, and it takes a certain amount of time to bring the laser diode 101 up to one predetermined set temperature. However, there are problems in that the basic specifications of the device cannot be met, such as the warm-up time being exceeded. Furthermore, in order to stabilize the temperature of the laser diode 101, it is necessary to raise the temperature to a predetermined set temperature regardless of the ambient temperature, and the power consumption becomes extremely large due to the current flowing through the Peltier element, etc. There is this.
本発明は、上述した従来の光ビーム走査装置が有する課
題に鑑み、レーザダイオードを短時間で安定した設定温
度に立ち上げると共に、レーザダイオードを設定温度に
立ち上げるのに要する消費電力を低減することを目的と
する.
〔課題を解決するための手段)
第F図は本発明に係る光ビーム走査装置の原理を示すブ
ロック図である。In view of the above-mentioned problems with the conventional light beam scanning device, the present invention aims to start up a laser diode to a stable set temperature in a short time, and reduce the power consumption required to start up the laser diode to the set temperature. With the goal. [Means for Solving the Problems] FIG. F is a block diagram showing the principle of a light beam scanning device according to the present invention.
本発明によれば、レーザダイオード1およびホログラム
素子を用いた光ビーム走査装置であって、前記レーザダ
イオード1の温度を検出する温度検出手段2と、前記レ
ーザダイオードlにおける複数の波長安定領域に対応す
る複数の温度を予め設定し、前記検出されたレーザダイ
オード1の温度に最も近い設定温度を選択する設定温度
選択手段3と、前記検出されたレーザダイオード1の温
度と前記選択された設定温度とを比較演算して、所定の
制御信号を出力する演算制御千段4と、該演’g制御手
段4の出力信号を受けて前記レーザダイオードlを加熱
または冷却して該レーザダイオード1の温度を前記選択
された設定温度に一致させる温度可変千段5とを具備す
る光ビーム走査装置が提供される。According to the present invention, there is provided a light beam scanning device using a laser diode 1 and a hologram element, and the temperature detection means 2 detects the temperature of the laser diode 1, and the laser diode 1 corresponds to a plurality of stable wavelength regions. a set temperature selection means 3 for setting a plurality of temperatures in advance to select a set temperature closest to the detected temperature of the laser diode 1; an arithmetic control stage 4 which compares and calculates and outputs a predetermined control signal; A light beam scanning device is provided, which includes a temperature variable stage 5 that matches the selected set temperature.
本発明の光ビーム走査装置によれば、温度検出千段2に
よりレーザダイオードIの温度が検出され、設定温度選
択千段3により検出されたレーザダイオードlの温度に
最も近い設定温度が選択される。ここで、設定温度選択
千段3には、レーザダイオードlにおける複数の波長安
定領域に対応する複数の温度を予め設定されていて、こ
れら複数の設定温度からレーザダイオード1の温度に最
も近い設定温度が選択されることになる.さらに、演算
制御手段4により検出されたレーザダイオードIの温度
と選択された設定温度とが比較演算され、所定の制御信
号が出力される。そして、演算制御手段4の出力信号が
供給された温度可変手段5によりレーザダイオード1が
加熱または冷却され、該レーザダイオードlの温度が上
記選択された設定温度に一致するように調節される。According to the light beam scanning device of the present invention, the temperature detection stage 2 detects the temperature of the laser diode I, and the set temperature selection stage 3 selects the set temperature closest to the detected temperature of the laser diode I. . Here, in the set temperature selection stage 3, a plurality of temperatures corresponding to a plurality of wavelength stable regions in the laser diode l are set in advance, and from these plural set temperatures, the set temperature closest to the temperature of the laser diode 1 is selected. will be selected. Further, the temperature of the laser diode I detected by the calculation control means 4 is compared with the selected set temperature, and a predetermined control signal is output. Then, the laser diode 1 is heated or cooled by the temperature variable means 5 to which the output signal of the arithmetic control means 4 is supplied, and the temperature of the laser diode 1 is adjusted to match the selected set temperature.
これによって、レーザダイオード1を短時間で安定した
設定温度(複数の設定温度の内の何れかlつ)に立ち上
げると共に、レーザダイオード1を設定温度に立ち上げ
るのに要する消費電力を低減することができる。As a result, the laser diode 1 can be raised to a stable set temperature (one of a plurality of set temperatures) in a short time, and the power consumption required to raise the laser diode 1 to the set temperature can be reduced. I can do it.
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明に係る光ビーム走査装置の
一実施例を説明する。[Embodiment] Hereinafter, an embodiment of a light beam scanning device according to the present invention will be described with reference to the drawings.
まず、本発明の特徴を説明する前に、本発明が適用され
る光ビーム走査装置の一例を述べる。First, before explaining the features of the present invention, an example of a light beam scanning device to which the present invention is applied will be described.
本発明が適用されるのは、上述した第6図に示すレーザ
ダイオードおよびホログラム素子を有する光ビーム走査
装置と同様な装置である。すなわち、第6図において、
レーザダイオード101から出射されたレーザ光は、ホ
ログラムを表面に形或したホログラムレンズ105に入
射し、さらに、ホログラムレンズ105からのレーザ光
は、ホログラムが形威され回転しているディスク(ホロ
グラムスキャナ)106に入射する。さらに、ホログラ
ムスキャナ106を通ったレーザ光は、例えば、感光体
(フォトコンドラム)104上にライン走査される。The present invention is applied to a device similar to the light beam scanning device having the laser diode and hologram element shown in FIG. 6 described above. That is, in Fig. 6,
The laser beam emitted from the laser diode 101 enters a hologram lens 105 that has a hologram formed on its surface, and further, the laser beam from the hologram lens 105 enters a rotating disk (hologram scanner) on which a hologram is formed. 106. Further, the laser beam that has passed through the hologram scanner 106 is line-scanned, for example, onto a photoreceptor (photocondrum) 104.
ここで、ホログラムレンズ105を通ったレーザ光は、
ホログラムスキャナ106を通った後の走査ビームの収
差を補正する波面とされている。Here, the laser beam passing through the hologram lens 105 is
It is a wavefront that corrects aberrations of the scanning beam after passing through the hologram scanner 106.
以下、本発明に係る光ビーム走査装置の−実施例を詳述
する。Embodiments of the optical beam scanning device according to the present invention will be described in detail below.
第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示すブ
ロック図であり、同図におけるレーザダイオード1は、
第6図のレーザダイオード101に対応し、第2図中の
レーザダイオード1から出射したレーザ光は、第2図に
は示されていないホロダラム素子(第6図中のホログラ
ムレンズ105およびホログラムスキャナ106)へ送
達されることになる。FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the light beam scanning device of the present invention, and the laser diode 1 in the figure is
Corresponding to the laser diode 101 in FIG. 6, the laser light emitted from the laser diode 1 in FIG. ) will be delivered to.
第2図に示されるように、本実施例の光ビーム走査装置
は、温度検出素子(サーごスタ)2と、設定温度選択部
3と、演算制御部4と、電子冷却素子(ペルチェ素子)
5とを備えている。As shown in FIG. 2, the light beam scanning device of this embodiment includes a temperature detection element (therago star) 2, a set temperature selection section 3, an arithmetic control section 4, and an electronic cooling element (Peltier element).
5.
温度検出素子2は、レーザダイオード1の温度を検出す
るためのものであり、例えば、レーザダイオード1が設
けられているハウジング(図示しない)に取り付けられ
、該ハウジングの温度を検出するようになされている。The temperature detection element 2 is for detecting the temperature of the laser diode 1, and is, for example, attached to a housing (not shown) in which the laser diode 1 is provided, and configured to detect the temperature of the housing. There is.
設定温度選択部3には、第3図を参照して後述するレー
ザダイオードlにおける複数の波長安定領域に対応する
複数の温度を予め設定され、これら複数の設定温度から
レーザダイオード1の検出温度に最も近い設定温度が選
択されるようになされている。The set temperature selection section 3 is preset with a plurality of temperatures corresponding to a plurality of stable wavelength regions of the laser diode 1, which will be described later with reference to FIG. The closest set temperature is selected.
演算制御部4の構成は、従来のものと同様であり、減算
部41.42.47.増幅部43.45および電流切換
増幅部44.46を備えている。この演算制御部4にお
いて、温度検出素子5で検出されたレーザダイオードl
の温度と、設定温度選択部3で選択された設定温度とが
比較演算され、所定の制御電流が電子冷却素子5に供給
されて、レーザダイオード1が加熱または冷却される。The configuration of the arithmetic control section 4 is the same as that of the conventional one, and includes subtraction sections 41, 42, 47. It includes an amplification section 43.45 and a current switching amplification section 44.46. In this calculation control unit 4, the laser diode l detected by the temperature detection element 5 is
, and the set temperature selected by the set temperature selection section 3 are compared, a predetermined control current is supplied to the electronic cooling element 5, and the laser diode 1 is heated or cooled.
これにより、レーザダイオード1の温度は、設定温度選
択部3で選択された設定温度に一致するように調節され
ることになる。Thereby, the temperature of the laser diode 1 is adjusted to match the set temperature selected by the set temperature selection section 3.
第3図はレーザダイオードの温度特性を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the temperature characteristics of a laser diode.
同図に示されるように、レーザダイオード1は、該レー
ザダイオードの温度(レーザダイオードlを含むハウジ
ングの温度)が上昇するにつれて、その発振波長が長波
長側に移動し、また、或る温度において発振波長に急激
な変化(モードホップ)がみられる。ここで、設定温度
選択部3において予め設定する温度は、波長の変動が小
さい領域(波長安定領域)の略中央の温度とするのが好
ましい。このように、レーザダイオードは、温度変化に
対して、複数の波長安定領域を有している。具体的に、
通常、光ビーム走査装置が使用され得る周囲の環境温度
(例えば、5〜35℃)において、例えば、レーザダイ
オードlは3つの波長安定領域を有している。ここで、
これら3つの波長安定領域におけるレーザダイオードの
波長はそれぞれ異なっているが、各波長安定領域では、
中心温度(第3図中の参照符号^,B,C)に対してプ
ラスマイナス数度の範囲で波長が略一定となる。As shown in the figure, as the temperature of the laser diode 1 (temperature of the housing containing the laser diode 1) increases, its oscillation wavelength shifts to the longer wavelength side, and at a certain temperature, the oscillation wavelength shifts to the longer wavelength side. A sudden change (mode hop) is observed in the oscillation wavelength. Here, it is preferable that the temperature preset in the set temperature selection section 3 be set to a temperature approximately at the center of a region (wavelength stable region) in which wavelength fluctuations are small. In this way, the laser diode has a plurality of wavelength stable regions against temperature changes. specifically,
Typically, at the ambient temperature in which the light beam scanning device may be used (eg, 5-35° C.), the laser diode I, for example, has three wavelength stability regions. here,
The wavelength of the laser diode in these three wavelength stable regions is different, but in each wavelength stable region,
The wavelength is approximately constant within a range of plus or minus several degrees with respect to the center temperature (reference symbols ^, B, and C in FIG. 3).
そして、前述したように、設定温度選択部3に予め設定
される複数の波長安定領域に対応する複数の温度は、第
3図中の参照符号A. B, Cに相当する温度である
。As described above, the plurality of temperatures corresponding to the plurality of wavelength stable regions preset in the set temperature selection section 3 are indicated by the reference numeral A in FIG. This temperature corresponds to B and C.
第4図は第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。同図に示されるように、本実施例の光ビ
ーム走査装置は、設定温度選択部3において、例えば、
3つの波長安定領域に対応する3つの温度A,B,Cが
予め設定されており、サSスタ等の温度検出素子2で検
出したレーザダイオード1 (または、レーザダイオー
ドを含むハウジング)の温度に最も近い設定温度が選択
される。具体的に、検出されたレーザダイオード1の温
度が高温ならば設定温度Cが選択され、レーザダイオー
ドエの温度が常温ならば設定温度Bが選択され、そして
、レーザダイオード1の温度が低温ならば設定温度Aが
選択されるようになされている。FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the light beam scanning device of FIG. 2. As shown in the figure, in the light beam scanning device of this embodiment, in the set temperature selection section 3, for example,
Three temperatures A, B, and C corresponding to three wavelength stable regions are set in advance, and the temperature of the laser diode 1 (or the housing containing the laser diode) detected by the temperature detection element 2 such as a sustainer is The closest set temperature is selected. Specifically, if the detected temperature of the laser diode 1 is high, the set temperature C is selected, if the temperature of the laser diode 1 is room temperature, the set temperature B is selected, and if the temperature of the laser diode 1 is low, the set temperature C is selected. The set temperature A is selected.
そして、演算制御部4で制御されるベルチェ素子等の温
度可変素子(電子冷却素了〉5によって、レーザダイオ
ード1 (または、レーザダイオードを含むハウジング
)の温度が設定温度選択部3により選択された設定温度
に一致するように温度調節されるようになされている。Then, the temperature of the laser diode 1 (or the housing containing the laser diode) is selected by the set temperature selection unit 3 by a temperature variable element (electronic cooling element) 5 such as a Bertier element controlled by the arithmetic control unit 4. The temperature is adjusted to match the set temperature.
これによって、レーザダイオード1を短時間で安定した
設定温度(具体的に、設定温度A,B,Cの内レーザダ
イオード1の温度に最も近い温度)に立ち上げて安定し
た波長のレーザ光を出射させることができる。さらに、
レーザダイオード1は、該レーザダイオードの温度に最
も近い設定温度に立ち上げられることになるので、その
温度調節のために電子冷却素子5が消費する電力を最小
限に抑えることができる。As a result, the laser diode 1 is brought up to a stable set temperature in a short time (specifically, the temperature closest to the temperature of the laser diode 1 among the set temperatures A, B, and C) and emits laser light with a stable wavelength. can be done. moreover,
Since the laser diode 1 is heated to a set temperature closest to the temperature of the laser diode, the power consumed by the electronic cooling element 5 for temperature adjustment can be minimized.
以上、詳述したように、本発明の光ビーム走査装置は、
レーザダイオードの複数の波長安定領域に対応させた複
数の温度を予め設定し、検出されたレーザダイオードの
温度に最も近い設定温度を選択して該レーザダイオード
の温度をその選択された設定温度に一致させるように調
節することによって、レーザダイオードを短時間で安定
した設定温度に立ち上げると共に、レーザダイオードを
設定温度に立ち上げるのに要する消費電力を低減するこ
とができる。As described above in detail, the light beam scanning device of the present invention includes:
Multiple temperatures corresponding to multiple wavelength stability regions of the laser diode are set in advance, and the set temperature closest to the detected laser diode temperature is selected to match the temperature of the laser diode to the selected set temperature. By adjusting the temperature, the laser diode can be raised to a stable set temperature in a short time, and the power consumption required to raise the laser diode to the set temperature can be reduced.
第1図は本発明に係る光ビーム走査装置の原理を示すブ
ロソク図、
第2図は本発明の光ビーム走査装置の一実施例を示すブ
ロフク図、
第3図はレーザダイオードの温度特性を示す図、第4図
は第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するための図
、
第5図は従来の光ビーム走査装置の一例を示す図、
第6図は従来の光ビーム走査装置の他の例を示す図、
第7図は第6図の光ビーム走査装置の動作を説明するた
めの図である。
(符号の説明)
l・・・レーザダイオード、
2・・・温度検出手段、
3・・・設定温度選択手段、
4・・・演算制御手段、
5・・・温度可変手段。
レーザダイオードの温度特性を示す図
第2図の光ビーム走査装置の動作を説明するだめの図シ
よ
l,
賢介Fig. 1 is a block diagram showing the principle of the light beam scanning device according to the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing an embodiment of the light beam scanning device according to the present invention, and Fig. 3 is a block diagram showing the temperature characteristics of the laser diode. 4 is a diagram for explaining the operation of the light beam scanning device shown in FIG. 2, FIG. 5 is a diagram showing an example of a conventional light beam scanning device, and FIG. 6 is a diagram showing an example of a conventional light beam scanning device. FIG. 7 is a diagram illustrating the operation of the light beam scanning device shown in FIG. 6, showing another example. (Explanation of symbols) 1... Laser diode, 2... Temperature detection means, 3... Set temperature selection means, 4... Arithmetic control means, 5... Temperature variable means. A diagram showing the temperature characteristics of a laser diode. A diagram explaining the operation of the light beam scanning device shown in Figure 2.
Claims (1)
いた光ビーム走査装置であって、前記レーザダイオード
の温度を検出する温度検出手段(2)と、 前記レーザダイオードにおける複数の波長安定領域に対
応する複数の温度を予め設定し、前記検出されたレーザ
ダイオードの温度に最も近い設定温度を選択する設定温
度選択手段(3)と、前記検出されたレーザダイオード
の温度と前記選択された設定温度とを比較演算して、所
定の制御信号を出力する演算制御手段(4)と、 該演算制御手段の出力信号を受けて前記レーザダイオー
ドを加熱または冷却して該レーザダイオードの温度を前
記選択された設定温度に一致させる温度可変手段(5)
とを具備する光ビーム走査装置。 2、前記温度検出手段はサーミスタを備え、前記レーザ
ダイオードを含むハウジングの温度を検出し、前記温度
可変手段はペルチエ素子を備え、該ハウジングの温度を
調節するようになっている請求項第1項に記載の光ビー
ム走査装置。[Claims] 1. A light beam scanning device using a laser diode (1) and a hologram element, comprising: temperature detection means (2) for detecting the temperature of the laser diode; and a plurality of wavelengths in the laser diode. set temperature selection means (3) for presetting a plurality of temperatures corresponding to stable regions and selecting the set temperature closest to the detected temperature of the laser diode; a calculation control means (4) which compares and calculates a preset temperature and outputs a predetermined control signal; Temperature variable means (5) for matching the selected set temperature
A light beam scanning device comprising: 2. The temperature detecting means includes a thermistor to detect the temperature of the housing containing the laser diode, and the temperature variable means includes a Peltier element to adjust the temperature of the housing. The optical beam scanning device described in .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1240143A JPH03102311A (en) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | Light beam scanner |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1240143A JPH03102311A (en) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | Light beam scanner |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03102311A true JPH03102311A (en) | 1991-04-26 |
Family
ID=17055137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1240143A Pending JPH03102311A (en) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | Light beam scanner |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03102311A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0668640A1 (en) * | 1994-02-22 | 1995-08-23 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Method for the generation of Ultra-short optical pulses |
-
1989
- 1989-09-18 JP JP1240143A patent/JPH03102311A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0668640A1 (en) * | 1994-02-22 | 1995-08-23 | CSELT Centro Studi e Laboratori Telecomunicazioni S.p.A. | Method for the generation of Ultra-short optical pulses |
US5548603A (en) * | 1994-02-22 | 1996-08-20 | Cselt-Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni S.P.A. | Method for the generation of ultra-short optical pulses |
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