JPH0290807A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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Publication number
JPH0290807A
JPH0290807A JP63241140A JP24114088A JPH0290807A JP H0290807 A JPH0290807 A JP H0290807A JP 63241140 A JP63241140 A JP 63241140A JP 24114088 A JP24114088 A JP 24114088A JP H0290807 A JPH0290807 A JP H0290807A
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JP
Japan
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circuit
flip
transmission gate
flop circuit
transmission
Prior art date
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Pending
Application number
JP63241140A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Matsumoto
松本 眞明
Ichiro Imaizumi
今泉 市郎
Hitoshi Kudo
均 工藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63241140A priority Critical patent/JPH0290807A/en
Publication of JPH0290807A publication Critical patent/JPH0290807A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To stabilize the action of a flip flop circuit by setting the size of the MOSFET of an input transmission gate which transmits an input signal larger than that of MOSFET constituting a corresponding holding transmission gate. CONSTITUTION:The flip flop circuit FFI included in a CMI(Coded Mark Inversion) CODEC included in an optical communication system is constituted by including two Bi.COMS inverter circuits BCN1 and BCN2 which are crossed and connected through a transmission gate TG2. The size of MOSFET constituting the input transmission gate is made larger compared to that of MOSFET constituting the holding transmission gate. Thus, the action of the flip flop circuit in a high frequency area can be stabilized, because the transmission characteristic of the flip flop circuit can be improved at a prescribed rate.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、半導体集積回路装置に関するもので、例え
ば、光通信システムに含まれるCMI(Coded  
Mark Inversion )コーデック(COD
E C: Coder−Decoder)等に利用して
特に有効な技術に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device.
Mark Inversion) codec (COD
The present invention relates to a technique that is particularly effective when used in EC (Coder-Decoder) and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

対をなすCMO3(相補型MO3)論理ゲート回路が伝
送ゲートを介して交差接続されてなるD型フリップフロ
フプ(ラッチ)回路がある。
There is a D-type flip-flop (latch) circuit in which a pair of CMO3 (complementary MO3) logic gate circuits are cross-connected via a transmission gate.

一方、光ファイバを伝送路とする光通信システムがある
。この光通信システムにおいて、伝達される通信データ
の符号形式を、CMI符号からNRZ (Non  R
eturn to  Zero )符号に又はNRZ符
号からCMI符号に変換するCMIコーデックがある。
On the other hand, there are optical communication systems that use optical fibers as transmission paths. In this optical communication system, the code format of transmitted communication data is changed from CMI code to NRZ (Non R
There is a CMI codec that converts from an NRZ code to a CMI code or from an NRZ code to a CMI code.

CMO3論理ゲート回路を基本構成とするD型フリップ
フロップ回路については、例えば、1983年12月5
日、−オーム社発行のr CMOS・IC活用マニュア
ル」第18頁〜第20頁に記載されている。
Regarding the D-type flip-flop circuit whose basic configuration is a CMO3 logic gate circuit, for example,
It is described on pages 18 to 20 of ``CMOS/IC Utilization Manual'' published by Ohm Publishing Co., Ltd.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

本願発明者等は、この発明に先立って、上記に記載され
るようなり型フリップフロップ回路を用いて上記CMI
コーデックを構成し、その低消費電力化を図ることを考
えた。しかし、このCMIコーデックは、高周波領域に
おける伝達特性が悪いため、さらに上記CMO3論理ゲ
ート回路に代えてBi−CMO3複合論理ゲート回路を
用いることとした。
Prior to the present invention, the inventors of the present application had developed the CMI circuit using the flip-flop circuit as described above.
We considered configuring a codec to reduce its power consumption. However, since this CMI codec has poor transfer characteristics in a high frequency region, it was decided to use a Bi-CMO3 composite logic gate circuit in place of the CMO3 logic gate circuit.

第7図には、上記Bi−CMO3複合論理ゲート回路と
してBi・CMOSインバータ回路を用いたマスター・
スレーブ型のDフリップフロップ回路FF3の回路図が
示されている。同図において、79717071回路F
F3は、Bi−C:MOSインバータ回路BCN9及び
BCNIOが伝送ゲートTG8を介して交差接続されて
なるマスターランチMLと、Bi・CMOSインバータ
回路BCNII及びBCN12が伝送ゲート10を介し
て交差接続されてなるスレーブラッチSLを含む、マス
ターランチMLの入力ノードは、伝送ゲートTG7を介
して回路のデータ入力端子りに結合され、その出力ノー
ドは、伝送ゲートTG9を介してスレーブランチSLの
入力ノードに結合される。上記伝送ゲー)TG7〜TG
IOは、それぞれ並列形態とされる一対のPチャンネル
MO3FET及びNチャンネルMO3FETにより構成
され、そのオン抵抗を決定する各MO3FETのサイズ
Sは、すべて同一とされる。
FIG. 7 shows a master circuit using a Bi-CMOS inverter circuit as the Bi-CMO3 composite logic gate circuit.
A circuit diagram of a slave type D flip-flop circuit FF3 is shown. In the same figure, 79717071 circuit F
F3 includes a master launch ML in which Bi-C:MOS inverter circuits BCN9 and BCNIO are cross-connected via a transmission gate TG8, and a master launch ML in which Bi-CMOS inverter circuits BCNII and BCN12 are cross-connected via a transmission gate 10. The input node of master launch ML, including slave latch SL, is coupled to the data input terminal of the circuit via transmission gate TG7, and its output node is coupled to the input node of slave branch SL via transmission gate TG9. Ru. Transmission game above) TG7~TG
The IO is composed of a pair of P-channel MO3FET and N-channel MO3FET, each of which is arranged in parallel, and the size S of each MO3FET, which determines its on-resistance, is all the same.

ところが、上記フリップフロップ回路FF3には、さら
に次のような問題点があることが判明した。すなわち、
フリップフロップ回路FF3を構成する伝送ゲー)TG
7及びTG9は、それを構成する各MO3FETのサイ
ズS等によって決まる所定のオン抵抗を有し、またノー
ドn2及びn3には、対応する伝送ゲートを構成するM
OSFETのゲート容量や対応するBi・CMOSイン
バータ回路の入力容量等を主とする寄生容量が結合され
る。このため、光通信システムの伝送レートがさらに高
速化されるのにともなって、フリップフロップ回路FF
3の伝達特性が悪化し、正常に動作できなくなる。その
結果、CMIコーデックの動作が不安定となり、CMI
コーデックを含む光通信システムの高速化が制限される
However, it has been found that the flip-flop circuit FF3 has the following problems. That is,
Transmission game (TG) that constitutes flip-flop circuit FF3
7 and TG9 have a predetermined on-resistance determined by the size S of each MO3FET that constitutes them, and nodes n2 and n3 have M
Parasitic capacitances mainly including the gate capacitance of the OSFET and the input capacitance of the corresponding Bi/CMOS inverter circuit are coupled. For this reason, as the transmission rate of optical communication systems becomes even faster, flip-flop circuits FF
3's transfer characteristics deteriorate, making it impossible to operate normally. As a result, the operation of the CMI codec becomes unstable and the CMI
This limits the speeding up of optical communication systems including codecs.

これに対処するため、本願発明者等は、上記伝送ゲート
TG7〜TGIOを構成するMOSFETのサイズSを
大きくし、そのオン抵抗を小さくすることを試みたが、
サイズSが大きくされることで逆に上記寄生容量の値が
増大し、高周波領域におけるフリップフロップ回路FF
3等の動作を安定化させるに至らなかった。
In order to deal with this, the inventors of the present application attempted to increase the size S of the MOSFETs forming the transmission gates TG7 to TGIO and reduce their on-resistance.
By increasing the size S, the value of the parasitic capacitance increases, and the flip-flop circuit FF in the high frequency region increases.
It was not possible to stabilize the operation of the 3rd class.

この発明の目的は、高周波領域における動作の安定化を
図ったフリップフロップ回路を提供することにある。こ
の発明の他の目的は、フリップフロップ回路を含むCM
Iコーデックの動作を安定化し、CMIコーデックを含
む光通信システムの伝送レートを高速化することにある
An object of the present invention is to provide a flip-flop circuit whose operation is stabilized in a high frequency region. Another object of the present invention is to provide a CM including a flip-flop circuit.
The objective is to stabilize the operation of the I codec and increase the transmission rate of an optical communication system including the CMI codec.

この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。
The above and other objects and novel features of this invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、光通信システムのCMIコーデック等に含ま
れるフリップフロップ回路を、保持用の伝送ゲートを介
して交差接続される第1及び第2のBl−CMO3複合
論理ゲート回路と、入力信号を上記第1のBi・CMO
Sインバータ回路の入力端子に伝達する入力用の伝送ゲ
ートとにより構成し、上記入力用の伝送ゲートを構成す
るMOSFETのサイズを、対応する上記保持用の伝送
ゲートを構成するMOSFETのサイズに比較して大き
くするものである。
That is, a flip-flop circuit included in a CMI codec or the like of an optical communication system is connected to first and second Bl-CMO3 composite logic gate circuits cross-connected via a holding transmission gate, and an input signal is connected to the first and second Bl-CMO3 composite logic gate circuits. Bi/CMO of
The size of the MOSFET constituting the input transmission gate is compared with the size of the MOSFET constituting the corresponding holding transmission gate. It is intended to be enlarged.

〔作  用〕[For production]

上記した手段によれば、所定の割合でソリツブフロップ
回路の伝達特性を改善できるため、高周波領域における
フリップフロップ回路の動作を安定化することができる
。これにより、フリップフロップ回路を含むCMIコー
デック等の動作を安定化し、CMIコーデックを含む光
通信システム等の伝送レートを高速化することができる
According to the above-described means, the transfer characteristics of the flip-flop circuit can be improved at a predetermined rate, so that the operation of the flip-flop circuit in a high frequency region can be stabilized. This makes it possible to stabilize the operation of a CMI codec, etc., including a flip-flop circuit, and to increase the transmission rate of an optical communication system, etc., including a CMI codec.

〔実施例〕〔Example〕

第1図には、この発明が通用されたフリップフロップ回
路FFIの一実施例の回路図が示されている。また、第
2図及び第3図には、第1図のソリツブフロップ回路F
FIの各安定状態における等価回路図がそれぞれ示され
、第5図及び第6図には、第1図のフリ7プフロツプu
路FFLに含マレるバイポーラ・CMOSインバータ回
路及び伝送ゲートの一実施例の回路図が示されている。
FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of a flip-flop circuit FFI to which the present invention is applied. In addition, FIGS. 2 and 3 also show the solid flop circuit F of FIG.
Equivalent circuit diagrams of the FI in each stable state are shown, and FIGS. 5 and 6 show the flip-flop u of FIG.
A circuit diagram of one embodiment of a bipolar CMOS inverter circuit and transmission gate included in the FFL circuit is shown.

これらの図に従って、この実施例のフリップフロップ回
路FFIの構成と動作の概要ならびにその特徴について
説明する。
According to these figures, the configuration and operation of the flip-flop circuit FFI of this embodiment will be outlined, as well as its characteristics.

この実施例のフリップフロップ回路FFIは、特に制限
されないが、光通信システム用のCMIコーデックに含
まれ、図示されない複数のソリツブフロップ回路ととも
に、CMIコーデックの符号化及び復号化回路を構成す
る。第1図ならびに第5図及び第6図に示される各回路
素子は、CMIコーデックを構成する他の回路素子とと
もに、特に制限されないが、単結晶シリコンのような1
個の半導体基板上において形成される。なお、以下の図
において、チャンネル(バンクゲート)部に矢印が付加
されるMOSFETはPチャンネル型であって、矢印の
付加されないNチャンネル間O3FETと区別して示さ
れる。また、図示されるバイポーラトランジスタは、す
べてNPN型トランジスタである。
Although not particularly limited, the flip-flop circuit FFI of this embodiment is included in a CMI codec for an optical communication system, and constitutes an encoding and decoding circuit of the CMI codec together with a plurality of solid flop circuits (not shown). Each circuit element shown in FIG. 1, FIG. 5, and FIG.
formed on a single semiconductor substrate. In the following figures, MOSFETs whose channel (bank gate) portions are marked with arrows are P-channel type, and are shown to be distinguished from N-channel O3FETs whose channel (bank gate) portions are not marked with arrows. Furthermore, all the illustrated bipolar transistors are NPN type transistors.

第1図において、ソリツブフロップ回路FFIは、特に
制限されないが、伝送ゲー)TG2 (第2の伝送ゲー
ト)を介して交差接続される2個のBi・CMOSイン
バータ回路BCNI  (第1のインバータ回路)及び
BCN2 (第2のインバータ回路)を含む、Bi・C
MOSインバータ回路BCNIの入力端子は、さらに伝
送ゲートTO1(第1の伝送ゲート)を介してソリツブ
フロップ回路FFIのデータ入力端子りに結合され、ま
たその出力端子は、フリップフロップ回路FFIの反転
出力端子Qに結合される。伝送ゲートTG1の反転制御
端子には内部クロック信号Cが供給され、その非反転制
御端子には、上記内部クロック信号Cの反転信号すなわ
ち反転内部クロック信号Cが供給される。同槌に、伝送
ゲートTG2の反転制御端子には反転内部クロック信号
Cが供給され、その非反転制御端子には内部クロック信
号Cが供給される。
In FIG. 1, the solid flop circuit FFI includes two Bi CMOS inverter circuits BCNI (first inverter circuit ) and BCN2 (second inverter circuit)
The input terminal of the MOS inverter circuit BCNI is further coupled to the data input terminal of the flip-flop circuit FFI via a transmission gate TO1 (first transmission gate), and its output terminal is the inverted output of the flip-flop circuit FFI. Coupled to terminal Q. An internal clock signal C is supplied to an inverted control terminal of the transmission gate TG1, and an inverted signal of the internal clock signal C, that is, an inverted internal clock signal C, is supplied to its non-inverted control terminal. Similarly, the inverted internal clock signal C is supplied to the inverted control terminal of the transmission gate TG2, and the internal clock signal C is supplied to its non-inverted control terminal.

ここで、BCNI及びBCN2等のBi・CMOSイン
バータ回路は、特に制限されないが、第5図に示される
ように、回路の接地電位と電源電圧Veeとの間にトー
テムポール形態に設けられる出力トランジスタT1及び
T2を含む。出力トランジスタTIのベースと入力端子
lとの間には、PチャンネルMO3FE’l’Q1及び
NチャンネルMO3FETQI 1からなるCMOSイ
ンバータ回路が設けられる。出力トランジスタT2のコ
レクタ及びベース間には、そのゲートが上記入力端子1
に共通結合されるNチャンネルMO3FETQ12が設
けられる。また、出力トランジスタT2のベースと回路
の電源電圧Veeとの間には、そのゲートが上記出力ト
ランジスタTIのベースに共通結合されるNチャンネル
MO3FETQI 3が設けられる。出力トランジスタ
T1のエミッタすなわち出力トランジスタT2のコレク
タは、出力端子0に結合される。
Here, the Bi-CMOS inverter circuits such as BCNI and BCN2 are not particularly limited, but as shown in FIG. and T2. A CMOS inverter circuit consisting of a P-channel MO3FE'l'Q1 and an N-channel MO3FET QI1 is provided between the base of the output transistor TI and the input terminal l. Between the collector and base of the output transistor T2, its gate is connected to the input terminal 1.
An N-channel MO3FET Q12 is provided which is commonly coupled to. Furthermore, an N-channel MO3FET QI3 whose gate is commonly coupled to the base of the output transistor TI is provided between the base of the output transistor T2 and the power supply voltage Vee of the circuit. The emitter of output transistor T1 and the collector of output transistor T2 are coupled to output terminal 0.

B 1−CMOSインバータ回路の入力信号lが回路の
電源電圧Veeのようなロウレベルとされるとき、出力
トランジスタTIは、そのベースが回路の接地電位のよ
うなハイレベルとされ、オン状態となる。また、入力信
号lがロウレベルとされることでMO3FETQI 2
がオフ状態となり、出力トランジスタTIのベースがハ
イレベルとされることでMO3FETQ13がオン状態
となる。
When the input signal l of the B1-CMOS inverter circuit is set to a low level such as the power supply voltage Vee of the circuit, the output transistor TI has its base set to a high level such as the ground potential of the circuit, and is turned on. In addition, since the input signal l is set to low level, MO3FETQI 2
is turned off, and the base of the output transistor TI is set to a high level, so that the MO3FETQ13 is turned on.

これにより、トランジスタT2は、そのベース電流が切
断されまたそのベース容量がディスチャージされるため
、カットオフ状態となる。したがって、Bi・CMOS
インバータ回路の出力信号〇は、出力トランジスタTI
を介して回路の接地電位が供給されることで、急速にハ
イレベルとなる。
As a result, the base current of the transistor T2 is cut off and its base capacitance is discharged, so that the transistor T2 enters a cut-off state. Therefore, Bi・CMOS
The output signal 〇 of the inverter circuit is the output transistor TI
When the ground potential of the circuit is supplied through the circuit, it rapidly becomes high level.

一方、B i −CMOSインバータ回路の入力信号i
が回路の接地電位のようなハイレベルとされるとき、出
力トランジスタT1は、そのベースがロウレベルとされ
、力7トオフ状態となる。また、入力信号lがハイレベ
ルとされることでMO3FETQ12がオン状態となり
、出力トランジスタTlのベースがロウレベルとされる
ことでMO5FETQ13がオフ状態となる。これによ
り、トランジスタT2は、出力信号0がロウレベルとさ
れるまでの間MO3FETQI 2を介してベース電流
が供給されるため、オン状態となる。したがって、Bi
・CMOSインバータ回路の出力信号0は、トランジス
タT2を介してディスチャージされ、急速にロウレベル
となる。
On the other hand, input signal i of B i -CMOS inverter circuit
When T1 is set to a high level such as the ground potential of the circuit, the base of the output transistor T1 is set to a low level, and the output transistor T1 is turned off. Further, when the input signal l is set to high level, MO3FETQ12 is turned on, and when the base of the output transistor Tl is set to low level, MO5FETQ13 is turned off. As a result, the transistor T2 is turned on because the base current is supplied through the MO3FET QI 2 until the output signal 0 is set to low level. Therefore, Bi
- The output signal 0 of the CMOS inverter circuit is discharged via the transistor T2 and quickly becomes a low level.

次に、TGI及びTG2等の伝送ゲートは、特に制限さ
れないが、第6図に示されるように、それぞれ並列形態
とされる一対のPチャンネルMO3FETQ2及びNチ
ャンネルMO3FETQI4を含む、PチャンネルMO
3FETQ2のゲートは、伝送ゲートの反転制御端子と
され、例えば反転内部クロ7り信号C等が供給される。
Next, transmission gates such as TGI and TG2 are not particularly limited, but as shown in FIG.
The gate of the 3FET Q2 is used as an inversion control terminal of a transmission gate, and is supplied with, for example, an inverted internal clock signal C or the like.

また、NチャンネルMO3FETQI lのゲートは、
伝送ゲートの非反転制御端子とされ、例えば内部クロッ
ク信号C等が供給される。
In addition, the gate of N-channel MO3FETQI l is
It serves as a non-inverting control terminal of the transmission gate, and is supplied with, for example, an internal clock signal C.

例えば内部クロンク信号Cが回路の接地電位のようなハ
イレベルとされるとき、反転内部クロック信号Cは回路
の電源電圧Veeのようなロウレベルとされ、伝送ゲー
トを構成するMO3FETQ2及びC14はともにオン
状態となる。これにより、伝送ゲートは、伝達状態とさ
れ、入方信号監は、MOSFETQ2及びC14のしき
い値電圧の影響を受けることなく伝達される。一方、内
部クロック信号Cがロウレベルとされるとき、反転内部
クロック借集7はハイレベルとされ、伝送ゲートを構成
するMO3FETQ2及びC144*ともにオフ状態と
なる。これにより、伝送ゲートは非伝達状態とされる。
For example, when the internal clock signal C is set to a high level such as the ground potential of the circuit, the inverted internal clock signal C is set to a low level such as the power supply voltage Vee of the circuit, and MO3FETs Q2 and C14 forming the transmission gate are both in the on state. becomes. As a result, the transmission gate is placed in a transmission state, and the incoming signal is transmitted without being affected by the threshold voltages of MOSFETs Q2 and C14. On the other hand, when the internal clock signal C is set to a low level, the inverted internal clock signal 7 is set to a high level, and both MO3FETs Q2 and C144* forming the transmission gate are turned off. This puts the transmission gate into a non-transmission state.

この実施例のフリップフロップ回路FFIにおいて、上
記伝送ゲートTGlを構成するMOSFETのサイズS
lは、特に制限されないが、上記伝送ゲートTG2を構
成するMOSFETのサイズS2の4倍とされる。言い
換えるならば、伝送ゲー)TG2を構成するMOSFE
TのサイズS2は、特に制限されないが、従来のままと
され、伝送ゲートTGIを構成するMOSFETのサイ
ズS1のみが4倍とされる。
In the flip-flop circuit FFI of this embodiment, the size S of the MOSFET constituting the transmission gate TGl is
l is not particularly limited, but is set to be four times the size S2 of the MOSFET constituting the transmission gate TG2. In other words, the MOSFEs that make up the transmission game) TG2
Although the size S2 of T is not particularly limited, it remains the same as before, and only the size S1 of the MOSFET constituting the transmission gate TGI is quadrupled.

第1図において、内部クロンク信号Cがロウレベルとさ
れ反転内部クロック信号Cがハイレベルとされるとき、
フリップフロップ回路FFIでは伝送ゲートTG1が伝
達状態とされ、伝送ゲートTG2は非伝達状態とされる
。これにより、データ入力端子りに供給される入力信号
は、第2図に示されるように、伝送ゲートTGIのオン
抵抗R1を介してBi・CMOSインバータ回路BCN
lの入力端子に伝達される。このとき、ノードn1には
、伝送ゲートTGl及びTG2を構成するMOSFET
のゲート容量を主とする寄生容量c1及びC2と、ノー
ドn1に関する配線容量及びBi・CMOSインバータ
回路BCNIの入力容量を主とする寄生容11c3が結
合される。したがって、フリップフロップ回路F’FI
の伝達特性に影響を与える時定数でlは、 τ1−Rlx (CI+02+03) となる、ここで、伝送ゲートTG1を構成するMOSF
ETのサイズS1は、前述のように、従来すなわち伝送
ゲートTG2を構成するMO3FETのサイズS2の4
倍とされる。このため、伝送ゲートTG1のオン抵抗R
1ならびに寄生容量C1は、従来すなわち伝送ゲー)T
G20オン抵抗R2ならびに寄生容量C2に対して、は
ぼ、R1−R2/4 CI−4XC2 なる関係となる。ところが、伝送ゲー)TGIのオン抵
抗R1と寄生容量CIのM!(RIXCI)は、周知の
ように、伝送ゲートTGIを構成するMOSFETのサ
イズS1に関係なく、はぼ一定となる。また、Bi・C
MOSインバータ回路BCNIを構成するMOSFET
は従来と同じサイズとされるため、寄生容11c3の値
は変化しない。
In FIG. 1, when the internal clock signal C is set to low level and the inverted internal clock signal C is set to high level,
In the flip-flop circuit FFI, the transmission gate TG1 is in a transmitting state, and the transmission gate TG2 is in a non-transmitting state. As a result, the input signal supplied to the data input terminal is transferred to the Bi-CMOS inverter circuit BCN via the on-resistance R1 of the transmission gate TGI, as shown in FIG.
is transmitted to the input terminal of l. At this time, the node n1 has MOSFETs forming the transmission gates TG1 and TG2.
The parasitic capacitances c1 and C2 mainly consisting of the gate capacitance of , and the parasitic capacitance 11c3 mainly consisting of the wiring capacitance related to the node n1 and the input capacitance of the Bi/CMOS inverter circuit BCNI are coupled. Therefore, flip-flop circuit F'FI
l is the time constant that affects the transfer characteristics of τ1−Rlx (CI+02+03), where
As mentioned above, the size S1 of the ET is equal to 4 of the size S2 of the conventional MO3FET constituting the transmission gate TG2.
It is said to be doubled. Therefore, the on-resistance R of transmission gate TG1
1 and parasitic capacitance C1 are conventional (transmission game) T
With respect to G20 on-resistance R2 and parasitic capacitance C2, the relationship is approximately R1-R2/4 CI-4XC2. However, transmission game) TGI's on-resistance R1 and parasitic capacitance CI M! As is well known, (RIXCI) remains approximately constant regardless of the size S1 of the MOSFET that constitutes the transmission gate TGI. Also, Bi・C
MOSFETs that make up the MOS inverter circuit BCNI
has the same size as the conventional one, so the value of the parasitic capacitance 11c3 does not change.

したがって、上記(1)式により得られる時定数τ1は
、従来の時定数をτ0とするとき、 の割合で小さくされる。その結果、フリップフロップ回
路FFIの高周波領域における伝達特性は改善され、そ
の動作が安定化される。
Therefore, the time constant τ1 obtained by the above equation (1) is reduced by the following ratio, where the conventional time constant is τ0. As a result, the transfer characteristics of the flip-flop circuit FFI in the high frequency range are improved and its operation is stabilized.

一方、内部クロック信号Cがハイレベルとされ反転内部
クロック信号Cがロウレベルとされると、伝送ゲートT
’CIは卵伝達状態とされ、代わって伝送ゲー) T 
G 2が伝達状態とされる。したがって、Bl−C:M
OSインバータ回路BCNI及びBCN2は、第3図に
示されるように、伝送ゲートTG2のオン抵抗R2を介
してラッチ状態とされ、直前の入力fδ号のレベルを保
持する。その結果、フリツブフロップ回路計’Flの反
転出力端子Qには、内部クロック信号Cが次にロウレベ
ルとされるまでの間、上記直前の入力16号の反転信号
が出力される。このとき、上記ノードnlには、上記寄
生容RC1−C3が同様に結合されるが、Bi・CMO
Sインバータ回路B回路計N 2及び伝送ゲー)Te3
はデータ保持経路を形成するためのものであることから
、フリップフロップ回路FFlの高周波領域にお;ノる
伝達特性はさほど影響を受けない。
On the other hand, when the internal clock signal C is set to high level and the inverted internal clock signal C is set to low level, the transmission gate T
'CI is considered an egg transmission state, and is replaced by a transmission game) T
G2 is placed in a transmission state. Therefore, Bl-C:M
As shown in FIG. 3, the OS inverter circuits BCNI and BCN2 are brought into a latched state via the on-resistance R2 of the transmission gate TG2, and hold the level of the previous input fδ. As a result, the inverted signal of the previous input No. 16 is outputted to the inverted output terminal Q of the flip-flop circuit 'F1 until the internal clock signal C is set to the low level next time. At this time, the parasitic capacitances RC1-C3 are similarly coupled to the node nl, but the Bi・CMO
S inverter circuit B circuit total N2 and transmission game) Te3
Since this is for forming a data holding path, the transfer characteristics of the flip-flop circuit FFl in the high frequency range are not affected much.

第4図には、この発明が適用されたフリップフロップ回
路のもう一つの実施例の回路図が示されている。この実
施例のフリップフロップ回路FF2は、特に制限されな
いが、上記第1図のフリップフロップ回路FFIととも
に、光通信システムのCMIコーデックに含まれる。
FIG. 4 shows a circuit diagram of another embodiment of a flip-flop circuit to which the present invention is applied. Although not particularly limited, the flip-flop circuit FF2 of this embodiment is included in the CMI codec of the optical communication system together with the flip-flop circuit FFI of FIG. 1 above.

第4図において、フリップフロップ回路FF2は、Bi
・CMOSインバータ回路BCN3 (第1のインバー
タ回路)及びBCN4 (第2のインバータ回路)が伝
送ゲートTG4 (第2の伝送ゲート)を介して交差接
続されてなるマスターランチMLと、Bi・CMOSイ
ンバータ回路BCN5(第1のインバータ回路)及びB
CN6 (第2のインバータ回路)が伝送ゲートTG6
(第2の伝送ゲート)を介して交差接続されてなるスレ
ーブラッチSLとを含む、Bi・CMOSインバータ回
路BCN3の入力端子は、さらに伝送ゲートTG3(第
1のインバータ回路)を介してデータ入力端子りに結合
され、その出力端子は、さらに伝送ゲートTG5(第1
の伝送ゲート)を介してB i −CMOSインバータ
回路BCN5の入力端子に結合される。Bi・CMOS
インバータ回路BCN5の出力端子は、非反転出力端子
Qに結合されるとともに、B i −CMOSインバー
タ回路BCN7の入力端子に結合される。Bi・CMO
Sインバータ回路BCN7の出力端子は、反転出力端子
Qに結合される。
In FIG. 4, the flip-flop circuit FF2 has Bi
- A master launch ML in which CMOS inverter circuits BCN3 (first inverter circuit) and BCN4 (second inverter circuit) are cross-connected via transmission gate TG4 (second transmission gate), and a Bi CMOS inverter circuit. BCN5 (first inverter circuit) and B
CN6 (second inverter circuit) is transmission gate TG6
The input terminal of the Bi/CMOS inverter circuit BCN3, which includes a slave latch SL cross-connected via a transmission gate TG3 (second transmission gate), is further connected to a data input terminal via a transmission gate TG3 (first inverter circuit). and its output terminal is further coupled to a transmission gate TG5 (first
transmission gate) to the input terminal of the B i -CMOS inverter circuit BCN5. Bi・CMOS
The output terminal of the inverter circuit BCN5 is coupled to the non-inverting output terminal Q and also to the input terminal of the B i -CMOS inverter circuit BCN7. Bi・CMO
The output terminal of the S inverter circuit BCN7 is coupled to the inverting output terminal Q.

伝送ゲー)Te3の反転制御端子には、内部クロック信
号Cが供給され、その非反転制御端子には、上記内部ク
ロック信号CのBi・CMOSインバータ回路B回路計
CN8反転信号すなわち反転内部クロック信号Cが供給
される。同様に、伝送ゲー)Te4の反転制御端子には
、反転内部クロック信号Cが供給され、その非反転制御
端子には、内部クロック信号Cが供給される。一方、伝
送ゲートTG5の反転制御端子には、反転内部クロック
信号Cが供給され、その非反転制御端子には、内部クロ
ック信号Cが供給される。同様に、伝送ゲートTG6の
反転制御端子には、内部クロック信号Cが供給され、そ
の非反転制御端子には、反転内部クロック信号Cが供給
される。
The internal clock signal C is supplied to the inversion control terminal of the transmission game Te3, and its non-inversion control terminal receives the Bi/CMOS inverter circuit B circuit total CN8 inversion signal of the internal clock signal C, that is, the inversion internal clock signal C. is supplied. Similarly, the inverted internal clock signal C is supplied to the inverted control terminal of the transmission game Te4, and the internal clock signal C is supplied to its non-inverted control terminal. On the other hand, an inverted internal clock signal C is supplied to an inverted control terminal of the transmission gate TG5, and an internal clock signal C is supplied to its non-inverted control terminal. Similarly, an internal clock signal C is supplied to an inverted control terminal of the transmission gate TG6, and an inverted internal clock signal C is supplied to its non-inverted control terminal.

これらのことから、内部クロック信号Cがロウレベルと
され、反転内部クロ7り信号Cがハイレベルとされると
き、伝送ゲー)Te3及びTe3が伝達状態とされ、伝
送ゲートTG4及びTe3は非伝達状態とされる。その
結果、データ入力端子りに供給される入力信号がマスタ
ーラッチMLに取り込まれ、スレーブラッチSLはデー
タ保持状態とされる。一方、内部クロック信号Cがハイ
レベルとされ、反転内部クロック信号Cがロウレベルと
されるとき、伝送ゲー)Te3及びTe3は非伝達状態
とされ、代わって伝送ゲートTG4及びTe3が伝達状
態とされる。その結果、マスターラッチMLはデータ保
持状態とされ、このマスターラッチMLに保持される直
前の入力信号がスレーブランチSLに伝達される。つま
り、フリップフロップ回路FF2は、内部クロック信号
Cがロウレベルとされることで入力信号をマスターラン
チMLに取り込み、内部クロック信号Cがハイレベルと
されることでそれをスレーブランチSLに伝達するマス
ター・スレーブ型のDフリップフロップ回路として機能
する。
From these facts, when the internal clock signal C is set to low level and the inverted internal clock signal C is set to high level, transmission gates Te3 and Te3 are set to the transmitting state, and transmission gates TG4 and Te3 are set to the non-transmitting state. It is said that As a result, the input signal supplied to the data input terminal is taken into the master latch ML, and the slave latch SL is brought into a data holding state. On the other hand, when the internal clock signal C is set to a high level and the inverted internal clock signal C is set to a low level, the transmission gates Te3 and Te3 are set to a non-transmitting state, and the transmission gates TG4 and Te3 are set to a transmitting state instead. . As a result, master latch ML is brought into a data holding state, and the input signal immediately before being held in master latch ML is transmitted to slave branch SL. In other words, the flip-flop circuit FF2 receives the input signal into the master branch ML when the internal clock signal C is set to a low level, and transmits it to the slave branch SL when the internal clock signal C is set to a high level. It functions as a slave type D flip-flop circuit.

この実施例において、マスターラッチMLの入力用伝送
ゲートTG3を構成するMOS F ETのサイズS3
は、特に制限されないが、対応する保持用伝送ゲートT
G4を構成するMOSFETのサイズS4の4倍とされ
る。同様に、スレーブラッチSLの入力用伝送ゲートT
G5を構成するMOSFETのサイズS5は、対応する
保持用伝送ゲートTG6を構成するMOSFETのサイ
ズS6の4倍とされる。このため、この実施例のフリッ
プフロップ回路FF2では、上記第1図の実施例と同様
な効果が得られ、その高周波領域における伝達特性が改
善される。これにより、上記第1図のフリップフロップ
回路FFIならびにこの実施例のフリップフロップ回路
FF2を含むCMIコーデックは、その動作が安定化さ
れ、CMIコーデックを含む光通信システムの伝送レー
トが高速化されるものとなる。
In this embodiment, the size S3 of the MOS FET constituting the input transmission gate TG3 of the master latch ML is
is not particularly limited, but the corresponding holding transmission gate T
The size is assumed to be four times the size S4 of the MOSFET constituting G4. Similarly, input transmission gate T of slave latch SL
The size S5 of the MOSFET constituting G5 is four times the size S6 of the MOSFET constituting the corresponding holding transmission gate TG6. Therefore, in the flip-flop circuit FF2 of this embodiment, the same effect as that of the embodiment shown in FIG. 1 can be obtained, and the transfer characteristic in the high frequency region is improved. As a result, the operation of the CMI codec including the flip-flop circuit FFI of FIG. 1 and the flip-flop circuit FF2 of this embodiment is stabilized, and the transmission rate of the optical communication system including the CMI codec is increased. becomes.

以上のように、この実施例のCM!コーデックは、複数
のD型フリップフロップ回路及びマスター・スレーブ型
のDフリップフロップ回路が組み合わされてなる符号化
及び復号化回路を備える。
As mentioned above, the CM of this example! The codec includes an encoding/decoding circuit that is a combination of a plurality of D-type flip-flop circuits and a master-slave type D flip-flop circuit.

これらのフリップフロップ回路は、保持用伝送ゲートを
介して交差接続される第1及び第2のBl・CMO5複
合論理ゲート回路と、入力信号を上記第1のB i−C
MO3複合論理ゲート回路の入力端子に伝達する入力用
伝送ゲートとをそれぞれ含む、この実施例において、各
フリップフロップ回路の入力用伝送ゲートを構成するM
OSFETのサイズは、対応する保持用伝送ゲートを構
成するMOSFETのサイズの4倍とされる。言い換え
るならば、各フリップフロップ回路の保持用伝送ゲート
を構成するMOSFETのサイズは従来のままとされ、
対応する入力用伝送ゲートを構成するMOS F ET
のサイズのみ4倍とされる。このため、各フリップフロ
ップ回路の伝達特性を左右する時定数は、上記(2)式
に示される所定の割合で小さくされる。その結果、各フ
リップフロップ回路の高周波V4域における伝達特性が
改善され、その動作が安定化される。これにより、フリ
ップフロップ回路を含むCMIコーデックの動作が安定
化され、CMIコーデックを含む光通信システムの伝送
レートが高速化される。
These flip-flop circuits connect first and second Bl/CMO5 composite logic gate circuits cross-connected via holding transmission gates, and input signals to the first B i-C
In this embodiment, the input transmission gate of each flip-flop circuit includes an input transmission gate that transmits data to the input terminal of the MO3 composite logic gate circuit.
The size of the OSFET is four times the size of the MOSFET constituting the corresponding holding transmission gate. In other words, the size of the MOSFET constituting the holding transmission gate of each flip-flop circuit remains the same as before,
MOS FET that constitutes the corresponding input transmission gate
Only the size of is quadrupled. Therefore, the time constant that influences the transfer characteristics of each flip-flop circuit is reduced by a predetermined ratio shown in equation (2) above. As a result, the transfer characteristics of each flip-flop circuit in the high frequency V4 range are improved, and its operation is stabilized. As a result, the operation of the CMI codec including the flip-flop circuit is stabilized, and the transmission rate of the optical communication system including the CMI codec is increased.

以上の本実施例に示されるように、この発明を光通信シ
ステムに含まれるCMIコーデック等の半導体集積回路
装置に通用することで、次のような作用効果が得られる
。すなわち、 (11光通信システムのCMIコーデック等に含まれる
フリップフロップ回路を、保持用伝送ゲートを介して交
差接続される第1及び第2のB i −C@O8複合論
理ゲート回路と、入力信号を上記第1のBi−CMO3
複合論理ゲート回路に伝達する入力用伝送ゲートとによ
り構成し、上記入力用伝送ゲートを構成するMOSFE
Tのサイズを、対応する上記保持用伝送ゲートを構成す
るMOSFETのサイズに比較して大きくすることで、
フリップフロップ回路の伝達特性を左右する時定数を所
定の比率で小さくすることができる。
As shown in the above embodiment, by applying the present invention to a semiconductor integrated circuit device such as a CMI codec included in an optical communication system, the following effects can be obtained. That is, (11) a flip-flop circuit included in a CMI codec, etc. of an optical communication system is connected to first and second B i -C@O8 composite logic gate circuits cross-connected via a holding transmission gate, and an input signal. The above first Bi-CMO3
a MOSFE comprising an input transmission gate for transmitting data to a composite logic gate circuit, and constituting the input transmission gate;
By increasing the size of T compared to the size of the MOSFET that constitutes the corresponding holding transmission gate,
The time constant that influences the transfer characteristics of the flip-flop circuit can be reduced by a predetermined ratio.

(2)上記(11項により、フリップフロップ回路の高
周波ffI域における伝達特性を改善し、その動作を安
定化できるという効果が得られる。
(2) According to the above item (11), it is possible to improve the transfer characteristics of the flip-flop circuit in the high frequency ffI range and to stabilize its operation.

(3)上記+11項及び(2)項により、フリップフロ
ップ回路を含むCMIコーデックの動作を安定化できる
という効果が得られる。
(3) The above +11 term and (2) term provide the effect that the operation of the CMI codec including the flip-flop circuit can be stabilized.

(43上記(11項〜(3ン項により、CMIコーデッ
クを含む光通信システム等の伝送レートを高速化できる
という効果が得られる。
(43) Items 11 to 3 above have the effect of increasing the transmission rate of an optical communication system including a CMI codec.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、第1図及び第
4図の実施例において、Bi・CMOSインバータ回路
BCNI及びBCN2ならびにBCN3〜BCN8は、
その−部あるいは全部を例えばCMOSインバータ回路
に置き換えることもよい、また、これらの実施例におい
て、入力用伝送ゲートを構成するMOSFETと保持用
伝送ゲートを構成するMOSFETのサイズ比は、任意
の値を採ることができるし、例えばマスターランチML
とスレーブラッチSLとで異なるサイズ比とすることも
よい、伝送ゲー)TGI〜TG6は、Pチ+ンネルMO
3FET又はNチャンネルMO3FETの一方のみによ
り構成されることもよい、第4図において、スレーブラ
ンチを構成するBi・CMOSインバータ回路BCN5
及びBCN6を、例えば2人力のBi・CMOSナント
ゲート回路に置き換えることで、フリップフロップ回路
FF2に強制セント又はリセント機能を持たせることも
よい、第5図のバイポーラ・CMOSインバータ回路に
おいて、MO3FETQ13のゲートは、トランジスタ
T2のコレクタに結合してもよい、さらに、第1図及び
第4図に示されるフリップフロップ回路の具体的な構成
ならびにその論理条件等は、種々の実施形態を採りうる
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that this invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. For example, in the embodiments of FIGS. 1 and 4, the Bi-CMOS inverter circuits BCNI and BCN2 and BCN3 to BCN8 are
Part or all of it may be replaced with, for example, a CMOS inverter circuit. In addition, in these embodiments, the size ratio of the MOSFET that constitutes the input transmission gate and the MOSFET that constitutes the holding transmission gate may be set to any value. For example, Master Lunch ML
Transmission game) TGI to TG6 may have different size ratios for slave latch SL and slave latch SL.
In FIG. 4, the Bi CMOS inverter circuit BCN5 constituting the slave branch may be composed of only one of the 3FET and the N-channel MO3FET.
In the bipolar CMOS inverter circuit shown in FIG. may be coupled to the collector of the transistor T2.Furthermore, the specific configuration of the flip-flop circuit shown in FIGS. 1 and 4, its logical conditions, etc. can take various embodiments.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である光通信システムのC
MIコーデックに通用した場合について説明したが、そ
れに限定されるものではなく、例えば、同様なフリップ
フロップ回路を搭載する各種専用論理集積回路等にも通
用できる0本発明は、少なくともインバータ回路及び伝
送ゲートを基本構成とするフリップフロップ回路ならび
にこのようなフリップフロップ回路を含む半導体集積回
路装置に広く通用できる。
The above explanation will mainly focus on the invention made by the present inventor, which is the field of application of the optical communication system.
Although the description has been made of the case where the present invention is applicable to an MI codec, it is not limited thereto, and can also be applicable to various dedicated logic integrated circuits equipped with similar flip-flop circuits. The present invention can be widely used in flip-flop circuits having the basic configuration as well as semiconductor integrated circuit devices including such flip-flop circuits.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、光通信システムのCMIコーデック等に
含まれるフリップフロップ回路を、保持用伝送ゲートを
介して交差接続される第1及び第2のB i −CMO
3複合論理ゲート回路と、入力信号を上記第1のB l
 −CMO3複合論理ゲート回路に伝達する入力用伝送
ゲートとにより構成し、上記入力用伝送ゲートを構成す
るMOSFETのサイズを、対応する上記保持用伝送ゲ
ートを構成するMOSFETのサイズに比較して大きく
することで、フリップフロップ回路の高周波領域におけ
る伝達特性を改善し、その動作を安定化できる。これに
より、フリップフロップ回路を含むCMIコーデックの
動作を安定化し、CMIコーデンクを含む光通信システ
ム等の伝送レートを高速化できる。
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. That is, a flip-flop circuit included in a CMI codec or the like of an optical communication system is connected to first and second B i -CMOs that are cross-connected via a holding transmission gate.
3 composite logic gate circuit and the input signal to the first B l
- An input transmission gate for transmitting data to the CMO3 composite logic gate circuit, and the size of the MOSFET constituting the input transmission gate is larger than the size of the MOSFET constituting the corresponding holding transmission gate. As a result, the transfer characteristics of the flip-flop circuit in the high frequency region can be improved and its operation can be stabilized. As a result, the operation of the CMI codec including the flip-flop circuit can be stabilized, and the transmission rate of an optical communication system including the CMI codec can be increased.

【図面の簡単な説明】 第1図は、この発明が通用されたフリップフロップ回路
の一実施例を示す回路図、 第2図は、第1図のフリップフロップ回路の第1の安定
状態を示す等価回路図、 第3図は、第1図のフリップフロップ回路の第2の安定
状態を示す等価回路図、 第4図は、この発明が通用されたフリップフロップ回路
のもう一つの実施例を示す回路図、第5図は、第1図及
び第4図のフリップフロップ回路に含まれるBi・CM
OSインバータ回路の一実施例を示す回路図、 第6図は、第1図及び第4図のフリップフロップ回路に
含まれる伝送ゲートの一実施例を示す回路図、 第7図は、従来のフリップフロップ回路の−例を示す回
路図である。 FFI〜FF3・・・フリツブフロップ回路、マスター
ランチML・・・、スレーブランチSL・・・、BCN
I〜BCN14・・・Bi・CMOSインバータ回路、
TGI−TGIO・・・伝送ゲート。 ’I”1−T2・・・NPN型バイポーラトランジスタ
、Ql−Q2・・・Pチャ7ネルMO3FET、 Ql
 1〜Ql 3 ・・・Nチャ7ネルMo5FLuT、
R1−R2・−・オン抵抗、C1−C4−・・寄生容量
。 第 図
[Brief Description of the Drawings] Fig. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a flip-flop circuit to which the present invention is applied, and Fig. 2 shows a first stable state of the flip-flop circuit of Fig. 1. Equivalent circuit diagram: FIG. 3 is an equivalent circuit diagram showing the second stable state of the flip-flop circuit shown in FIG. 1; FIG. 4 shows another embodiment of the flip-flop circuit to which the present invention is applied. The circuit diagram, FIG. 5, shows the BiCM included in the flip-flop circuits of FIGS. 1 and 4.
FIG. 6 is a circuit diagram showing an example of a transmission gate included in the flip-flop circuits of FIGS. 1 and 4; FIG. 7 is a circuit diagram showing an example of a conventional flip-flop circuit. FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a pull-up circuit. FFI to FF3...flip flop circuit, master launch ML..., slave launch SL..., BCN
I~BCN14...Bi/CMOS inverter circuit,
TGI-TGIO...Transmission gate. 'I'1-T2...NPN type bipolar transistor, Ql-Q2...P channel 7 channel MO3FET, Ql
1~Ql 3...N channel 7 channel Mo5FLuT,
R1-R2--on resistance, C1-C4--parasitic capacitance. Diagram

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、所定のクロック信号に従って選択的に伝達状態とさ
れる第1の伝送ゲートと、その入力端子が上記第1の伝
送ゲートを介して回路のデータ入力端子に結合される第
1の論理ゲート回路と、その入力端子が上記第1の論理
ゲート回路の出力端子に結合される第2の論理ゲート回
路と、上記第2の論理ゲート回路の出力端子と上記第1
の論理ゲート回路の入力端子との間に設けられ上記第1
の伝送ゲートと相補的に伝達状態とされる第2の伝送ゲ
ートとを含む第1のフリップフロップ回路を具備し、か
つ上記第1の伝送ゲートを構成するMOSFETのサイ
ズが上記第2の伝送ゲートを構成するMOSFETのサ
イズに比較して大きくされることを特徴とする半導体集
積回路装置。 2、上記第1のフリップフロップ回路は、上記第1のフ
リップフロップ回路と同様な回路構成とされかつ上記ク
ロック信号の反転信号に従って同期動作される第2のフ
リップフロップ回路と直列形態とされることで、マスタ
ー・スレーブ型の第3のフリップフロップ回路を構成す
るものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の半導体集積回路装置。 3、上記第1ないし第3のフリップフロップ回路は、光
通信システムのCMIコーデックに含まれるものであっ
て、上記第1及び第2の論理ゲート回路は、Bi・CM
OSインバータ回路であることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載の半導体集積回路装置。
[Claims] 1. A first transmission gate that is selectively put into a transmission state according to a predetermined clock signal, and its input terminal is coupled to a data input terminal of a circuit via the first transmission gate. a first logic gate circuit, a second logic gate circuit whose input terminal is coupled to an output terminal of the first logic gate circuit, an output terminal of the second logic gate circuit and the first logic gate circuit;
and the input terminal of the logic gate circuit.
a first flip-flop circuit including a second transmission gate that is set in a complementary state to a transmission gate, and the size of the MOSFET constituting the first transmission gate is the same as that of the second transmission gate. A semiconductor integrated circuit device characterized in that the size of the semiconductor integrated circuit device is larger than that of a MOSFET constituting the device. 2. The first flip-flop circuit has a circuit configuration similar to that of the first flip-flop circuit, and is connected in series with a second flip-flop circuit that operates synchronously in accordance with an inverted signal of the clock signal. 2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the semiconductor integrated circuit device constitutes a master-slave type third flip-flop circuit. 3. The first to third flip-flop circuits are included in a CMI codec of an optical communication system, and the first and second logic gate circuits are Bi-CM.
3. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the semiconductor integrated circuit device is an OS inverter circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0955643A (en) * 1995-08-08 1997-02-25 Lg Semicon Co Ltd Timer oscillation circuit

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