JPH027531Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH027531Y2 JPH027531Y2 JP5100183U JP5100183U JPH027531Y2 JP H027531 Y2 JPH027531 Y2 JP H027531Y2 JP 5100183 U JP5100183 U JP 5100183U JP 5100183 U JP5100183 U JP 5100183U JP H027531 Y2 JPH027531 Y2 JP H027531Y2
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Links
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
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- 210000005036 nerve Anatomy 0.000 description 16
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- 210000003298 dental enamel Anatomy 0.000 description 3
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- 241000894006 Bacteria Species 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、特に歯の診断に有効な超音波診断
装置に関するものである。
装置に関するものである。
一般に歯の内部は神経と神経部からの栄養補給
用の無数の、外径１〜２ミクロンの管で構成され
ている。
用の無数の、外径１〜２ミクロンの管で構成され
ている。
現在、虫歯等の治療を行う場合、歯の表面のエ
ナメル質、象牙質をある程度切削して、適切な治
療を行なつた後、冠をかぶせるようにしている。
ところが従来の治療方法には次のような問題があ
つた。
ナメル質、象牙質をある程度切削して、適切な治
療を行なつた後、冠をかぶせるようにしている。
ところが従来の治療方法には次のような問題があ
つた。
すなわち、歯を前面から見たとき、第２図に示
すように象牙質２の表面と神経１との間隔６はＸ
線撮影で判るが、第２図に示すように側面から見
たときの象牙質２の表面と神経１との間隔を測定
する方法がないため「経験と勘」によつて治療さ
れていた。したがつて神経部分に達するまで切削
することもあり、患者に不安感、不快感を与えた
り、また神経が露出した状態で冠をかぶせて治療
しておくと、将来、露出した部分から菌が侵入
し、内部にうみが生じたり、それが原因で二次的
発病の可能性もあつた。このように、患者に不安
感を与えない為には神経を取り除くことも考えら
れるが、神経を取り除くと歯の質がもろくなる欠
点があるため、最近ではできるだけ神経を取り除
くことなく歯を治療することが要求されている。
すように象牙質２の表面と神経１との間隔６はＸ
線撮影で判るが、第２図に示すように側面から見
たときの象牙質２の表面と神経１との間隔を測定
する方法がないため「経験と勘」によつて治療さ
れていた。したがつて神経部分に達するまで切削
することもあり、患者に不安感、不快感を与えた
り、また神経が露出した状態で冠をかぶせて治療
しておくと、将来、露出した部分から菌が侵入
し、内部にうみが生じたり、それが原因で二次的
発病の可能性もあつた。このように、患者に不安
感を与えない為には神経を取り除くことも考えら
れるが、神経を取り除くと歯の質がもろくなる欠
点があるため、最近ではできるだけ神経を取り除
くことなく歯を治療することが要求されている。
したがつて、象牙質を切削しすぎて神経を露出
することなく、また象牙質の厚みを一定値以上保
持する為、切削部分に於ける神経の有無と、神経
までの距離を超音波を用いて測定する装置が提案
されている。
することなく、また象牙質の厚みを一定値以上保
持する為、切削部分に於ける神経の有無と、神経
までの距離を超音波を用いて測定する装置が提案
されている。
以下、図を用いて説明する。
第１図は歯に冠をかぶせた歯の前面図、第２図
は象牙質を一部分切削し冠をかぶせた歯の側面
図、第３図は歯に冠をかぶせる前の歯の側面図を
示す。図中１は神経、２は象牙質、３は治療に用
いた冠である。４は歯茎の部分、５は象牙質２の
表面を覆つているエナメル質、６は歯を前面から
見たときの象牙質２表面から神経１までの距離で
ある。
は象牙質を一部分切削し冠をかぶせた歯の側面
図、第３図は歯に冠をかぶせる前の歯の側面図を
示す。図中１は神経、２は象牙質、３は治療に用
いた冠である。４は歯茎の部分、５は象牙質２の
表面を覆つているエナメル質、６は歯を前面から
見たときの象牙質２表面から神経１までの距離で
ある。
虫歯等の治療の際、歯科医では切削器具でエナ
メル質を切削し、次に象牙質をある程度切削して
治療を行うが、その際第１図に示す象牙質２表面
から神経１までの距離６についてはＸ線撮影を行
うことによつて容易に知ることができたが、第３
図の側面図に示す象牙質２から神経１までの距離
７については歯が並んでいる為、横方向からＸ線
で撮影することができず、今日まで測定すること
ができなかつた。
メル質を切削し、次に象牙質をある程度切削して
治療を行うが、その際第１図に示す象牙質２表面
から神経１までの距離６についてはＸ線撮影を行
うことによつて容易に知ることができたが、第３
図の側面図に示す象牙質２から神経１までの距離
７については歯が並んでいる為、横方向からＸ線
で撮影することができず、今日まで測定すること
ができなかつた。
第４図は上記距離７と、神経の有無を知るため
の歯科用超音波診断装置について説明する図であ
り、以下図によつて説明する。
の歯科用超音波診断装置について説明する図であ
り、以下図によつて説明する。
同図において８は歯部、１０は水等の接触媒質
９を介して歯の象牙質に対向して配置され、送信
部１１の送信信号を受けて超音波信号を発生する
超音波探触子、１２は基準信号発生部、１３は上
記探触子１０によつて得られた超音波エコー信号
を増巾する受信部、１４は上記受信部１３からの
超音波エコー信号をアナログ的に表示する為の表
示器（例えばブラウン管、液晶又はプラズマデイ
スプレイ等）、１５は基準信号発生部１２からの
信号２９で鋸歯状波３１を作り、これをアナログ
表示器１４の時間軸に加える為の掃引部、１６は
デイジタルデータ及び入力データを表示するデイ
ジタル表示器、１７は超音波エコー信号をサンプ
リングする為のゲート波形を発生するカウンター
部、１８はカウンター部１７のゲート波形にて超
音波エコー信号をサンプリングするとともに電圧
ホールドするサンプルホールド部、１９は上記サ
ンプルホールド電圧をデイジタル値に変換する
Ａ／Ｄ変換器、２０はＡ／Ｄ変換器１９により
Ａ／Ｄ変換されたデイジタルデータや制御信号を
一時ホールドするためのラツチ部、２１は外部か
らの入力を行なうキーボード、２２はキーボード
２１等の外部機器と制御器２４やメモリ部２３を
インターフエースするインターフエース部であ
る。上記メモリ部２３はデイジタルデータを一時
記憶するとともに制御器２４をコントロールする
ためのコントロール信号を記憶し、順次出力する
ようになつている。２５は受信部１３の出力、２
６は基準信号、２７はゲート信号である。
９を介して歯の象牙質に対向して配置され、送信
部１１の送信信号を受けて超音波信号を発生する
超音波探触子、１２は基準信号発生部、１３は上
記探触子１０によつて得られた超音波エコー信号
を増巾する受信部、１４は上記受信部１３からの
超音波エコー信号をアナログ的に表示する為の表
示器（例えばブラウン管、液晶又はプラズマデイ
スプレイ等）、１５は基準信号発生部１２からの
信号２９で鋸歯状波３１を作り、これをアナログ
表示器１４の時間軸に加える為の掃引部、１６は
デイジタルデータ及び入力データを表示するデイ
ジタル表示器、１７は超音波エコー信号をサンプ
リングする為のゲート波形を発生するカウンター
部、１８はカウンター部１７のゲート波形にて超
音波エコー信号をサンプリングするとともに電圧
ホールドするサンプルホールド部、１９は上記サ
ンプルホールド電圧をデイジタル値に変換する
Ａ／Ｄ変換器、２０はＡ／Ｄ変換器１９により
Ａ／Ｄ変換されたデイジタルデータや制御信号を
一時ホールドするためのラツチ部、２１は外部か
らの入力を行なうキーボード、２２はキーボード
２１等の外部機器と制御器２４やメモリ部２３を
インターフエースするインターフエース部であ
る。上記メモリ部２３はデイジタルデータを一時
記憶するとともに制御器２４をコントロールする
ためのコントロール信号を記憶し、順次出力する
ようになつている。２５は受信部１３の出力、２
６は基準信号、２７はゲート信号である。
さて探触子１０にて変換された超音波エコー２
５は受信部１３を介してアナログ表示器１４に表
示されるとともに第５図に示すようにカウンター
部１７に於いて送信の基準信号２６毎に所定時間
ずつシフトしながら発生するゲート信号２７をも
とにサンプルホールド部１８でサンプルホールド
され、Ａ／Ｄ変換器１９にてデイジタル信号に変
換され、ラツチ部２３にて一時保持される。Ａ／
Ｄ変換器２２の変換完了信号によりラツチ部２０
は解除され出力される。
５は受信部１３を介してアナログ表示器１４に表
示されるとともに第５図に示すようにカウンター
部１７に於いて送信の基準信号２６毎に所定時間
ずつシフトしながら発生するゲート信号２７をも
とにサンプルホールド部１８でサンプルホールド
され、Ａ／Ｄ変換器１９にてデイジタル信号に変
換され、ラツチ部２３にて一時保持される。Ａ／
Ｄ変換器２２の変換完了信号によりラツチ部２０
は解除され出力される。
上記Ａ／Ｄ変換器１９の変換完了信号が出力さ
れる毎に制御器２４はメモリー部２３のｎ個の記
憶回路へ順次記憶すべく制御信号を出力し、上記
ラツチ部２０から出力されたデイジタル信号は上
記制御信号によりメモリー部２３のｎ番地の記憶
回路へ記憶される。制御器２４は上記メモリー部
２３へ記憶されたデイジタル信号をもとに第１回
目に最大となつたデータの番地P1と２回目とな
つたデータの番地P2を前のデータと順次比較し
ながら検出し、WT＝VEL
れる毎に制御器２４はメモリー部２３のｎ個の記
憶回路へ順次記憶すべく制御信号を出力し、上記
ラツチ部２０から出力されたデイジタル信号は上
記制御信号によりメモリー部２３のｎ番地の記憶
回路へ記憶される。制御器２４は上記メモリー部
２３へ記憶されたデイジタル信号をもとに第１回
目に最大となつたデータの番地P1と２回目とな
つたデータの番地P2を前のデータと順次比較し
ながら検出し、WT＝VEL
Claims (1)
- 基準信号を発生する基準信号発生部と、上記基
準信号発生部の基準信号をもとにして送信信号を
発生する送信部と、上記送信部の出力信号を超音
波信号に変換して被検材に超音波を入射させると
ともに、上記被検材からの反射波を電気信号に変
換する探触子と、上記探触子からの電気信号を増
巾する受信部と、上記基準信号発生部からの基準
信号をもとにして鋸歯状波を発生する掃引部と、
上記受信部の出力信号を表示するアナログ表示器
と、上記基準信号発生部の基準信号を所定数カウ
ントするとともに上記カウント値の時間別に対応
したゲートを発生するカウンター部と、上記カウ
ンター部のゲート出力信号と上記受信部の出力信
号をもとにしてゲート内受信部出力信号の最大値
をホールドするホールド部と、上記ホールド部の
出力信号をデイジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換
部と、上記Ａ／Ｄ変換部の出力信号及びカウンタ
ー部への設定値をラツチするラツチ部と、上記
Ａ／Ｄ変換部のデジタル出力信号を記憶するメモ
リ部と、上記カウンタ部のカウント数及びカウン
ト開始時間等を設定するとともに、上記メモリ部
に記憶された上記Ａ／Ｄ変換部のデイジタル出力
信号をデイジタル表示するデイジタル表示器に表
示させる為の制御信号を設定する入力手段と、上
記入力手段及び上記デイジタル表示器と、上記メ
モリ部とをインターフエースするインターフエー
ス部と、上記ラツチ部及びメモリ部、インターフ
エース部を選択し、データの送受を行う制御信号
を発生するとともに、上記ラツチ部から出力され
る上記Ａ／Ｄ変換部のデイジタル信号をもとに超
音波伝播時間及び振巾の演算を行う制御器と、上
記基準信号発生部からの基準信号に対してｎ（ｎ
は２以上の整数）倍の周波数とｍ（ｍは２以上の
整数）段階の振幅を有する校正信号を発生する校
正信号発生部と、上記入力手段により上記校正信
号発生部からの校正信号と上記受信部からの出力
信号を切換えて上記アナログ表示器に与えるため
の切換器とを備えたことを特徴とする超音波診断
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5100183U JPS59156609U (ja) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5100183U JPS59156609U (ja) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59156609U JPS59156609U (ja) | 1984-10-20 |
| JPH027531Y2 true JPH027531Y2 (ja) | 1990-02-22 |
Family
ID=30181431
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5100183U Granted JPS59156609U (ja) | 1983-04-06 | 1983-04-06 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59156609U (ja) |
-
1983
- 1983-04-06 JP JP5100183U patent/JPS59156609U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59156609U (ja) | 1984-10-20 |
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