JPH0269771U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0269771U JPH0269771U JP14913988U JP14913988U JPH0269771U JP H0269771 U JPH0269771 U JP H0269771U JP 14913988 U JP14913988 U JP 14913988U JP 14913988 U JP14913988 U JP 14913988U JP H0269771 U JPH0269771 U JP H0269771U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic circuit
- panel
- surface temperature
- infrared camera
- circuit panel
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を説明するための構
成図である。 １……電子回路パネル、２……本体装置又は試
験装置、３……赤外線カメラ、４……処理部、５
……表示部、６……パネル支持部、７……支持台
。
成図である。 １……電子回路パネル、２……本体装置又は試
験装置、３……赤外線カメラ、４……処理部、５
……表示部、６……パネル支持部、７……支持台
。
Claims (1)
- 電子回路パネルを所定位置に保持し動作させる
パネル支持部と、前記パネル支持部から所定の距
離に置かれ前記電子回路パネルの各部の表面温度
を感知、測定する赤外線カメラと、前記赤外線カ
メラにより測定された被測定電子回路のパネルの
各部の表面温度情報とあらかじめ前記赤外線カメ
ラで測定し記憶された正常な電子回路パネルの各
部の表面温度情報とを比較し不良箇所を抽出処理
するための処理部と、前記処理部からの情報によ
り電子回路パネル上の不良箇所を表示する表示部
とを備えたことを特徴とする電子回路パネルの不
良探索装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14913988U JPH0269771U (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14913988U JPH0269771U (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0269771U true JPH0269771U (ja) | 1990-05-28 |
Family
ID=31421097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14913988U Pending JPH0269771U (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0269771U (ja) |
-
1988
- 1988-11-15 JP JP14913988U patent/JPH0269771U/ja active Pending
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