JPH0269022A - Counter - Google Patents

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JPH0269022A
JPH0269022A JP63222061A JP22206188A JPH0269022A JP H0269022 A JPH0269022 A JP H0269022A JP 63222061 A JP63222061 A JP 63222061A JP 22206188 A JP22206188 A JP 22206188A JP H0269022 A JPH0269022 A JP H0269022A
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JP
Japan
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counter
input
divided
input switching
switching means
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Application number
JP63222061A
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Japanese (ja)
Inventor
Takaitsu Nakaya
崇巌 中家
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Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Publication of JPH0269022A publication Critical patent/JPH0269022A/en
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Abstract

PURPOSE:To test a counter in an extremely short time as compared with the test where the counter is tested es a whole by dividing the counter into plural divided counter sections and causing the divided counter sections to independently operate. CONSTITUTION:A whole counter section is divided into (n) pieces of counter sections 11-1n and input switching means 21--2n are respectively inserted into preceding stages of the counter sections 11-1n. The internal circuit of each input switching means 21-2n is switched between systems I and II based on control signals outputted from a control means 3. The control means 3 has at least two kinds of modes at the testing time. The control signals outputted from the control means 3 cause a 1st-stage input switching means 21 to select the system I and the means 22-2n of and after a 2nd stage to select a different system combination of the two kinds of nodes while a test is carried on. Therefore, test omission which is produced when the one piece of counter is tested in a divided state can be prevented surely and, in addition, the testing time can be reduced.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はカウンタに関し、特に、テスト機能を有するカ
ウンタに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a counter, and particularly to a counter having a test function.

(従来の技術) デジタル回路に使用されるカウンタは、他の半導体デバ
イスの大容量化に合せて長ビツト化という形で大容量化
が進められており、ビット数が増加すれば増加しただけ
厳密なテストが要求されるようになる。
(Prior art) The capacity of counters used in digital circuits has been increasing by increasing the length of bits in line with the increase in the capacity of other semiconductor devices. More tests will be required.

カウンタのテストは、基本的にカウンタがクロツク信号
にて動作するときの出力信号をチエツクすることにより
行なわれるが、16ビツトカウンタ。
Testing of the counter is basically done by checking the output signal when the counter operates with a clock signal, but this is a 16-bit counter.

24ビツトカウンタといった長ビツトカウンタの場合、
カウンタを最終段まで動作させるためには。
In the case of a long bit counter such as a 24-bit counter,
In order to operate the counter to the final stage.

16ビツトカウンタですら216回のクロックの入力が
必要となり、テスト時間が著しく長くなる。このため、
長ビットのカウンタの場合は、第4図に示されるように
、カウンタ40を複数段に分割してテストする。
Even a 16-bit counter requires 216 clock inputs, significantly increasing test time. For this reason,
In the case of a long bit counter, the counter 40 is divided into multiple stages and tested, as shown in FIG.

すなわち、16ビツトカウンタの場合は、そのカウンタ
40が例えば2個の8ビツトの分割カウンタ部401.
402に分割され、8ビツトカウンタ部40.。
That is, in the case of a 16-bit counter, the counter 40 is divided into two 8-bit divided counter sections 401 .
402, an 8-bit counter section 40. .

40□の間にデータセレクタ41が介設される。本来の
16ビツトカウンタとしての動作時には、データセレク
タ41はコントロール信号CNTLに従ってカウンタ部
4(Lの出力信号をカウンタ部40tに入力する。テス
ト時には、コントロール信号CNTLを制御することに
よりそれぞれの分割カウンタ部4Ch、40tにクロッ
ク信号CLKが入力され、2個の分割カウンタ部40.
.40□が独立に動作するのである。2個の8ビツトカ
ウンタ部40..40□が独立に動作すれば、クロック
入力の回数は28回となり、16ビツトカウンタとして
動作する場合と比べてテスト時間は大巾に短縮される。
A data selector 41 is interposed between 40□. When operating as an original 16-bit counter, the data selector 41 inputs the output signal of the counter section 4 (L) to the counter section 40t in accordance with the control signal CNTL.During a test, by controlling the control signal CNTL, the data selector 41 inputs the output signal of the counter section 4 (L) to the counter section 40t. A clock signal CLK is input to 4Ch and 40t, and two divided counter units 40.
.. 40□ operate independently. Two 8-bit counter sections 40. .. If 40□ operates independently, the number of clock inputs will be 28, and the test time will be greatly shortened compared to the case where it operates as a 16-bit counter.

(発明が解決しようとする課題) ところが、複数の分割カウンタ部40.,40□が独立
に動作すると5分割カウンタ部40.,40□間で信号
が伝送されず、この部分にいわゆるテスト抜けが生じる
。前述したように、長ビットのカウンタは構造が複雑で
、ビット数の少ないカウンタよりもむしろ厳しいテスト
が要求される現状を考えると、このテスト抜けは大きな
問題である。
(Problem to be Solved by the Invention) However, when the plurality of divided counter units 40. , 40□ operate independently, the 5-division counter section 40. , 40□, and a so-called test failure occurs in this portion. As mentioned above, long-bit counters have complex structures and require more rigorous testing than counters with a small number of bits, so this missing test is a big problem.

本発明は、1個のカウンタを分割してテストしたときに
生じるテスト抜けを確実に防ぎ、なおかつテスト時間も
短いカウンタを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a counter that reliably prevents test omissions that occur when a single counter is divided and tested, and that requires a short test time.

(課題を解決するための手段) 本発明のカウンタは、1個のカウンタを複数の分割カウ
ンタ部に分割することによってテストを行う機能を有す
るカウンタであって、該分割カウンタ部間の各連結部に
介設され、制御信号に基づいて前段の分割カウンタ部の
出力信号及び被カウント信号のいずれかを後段の分割カ
ウンタ部に入力する入力切換手段、並びに全ての入力切
換手段に対して前段の分割カウンタ部の゛出力信号を後
段の分割カウンタに入力させる制御信号を与える第1の
モード、該入力切換手段の内の少なくとも1個の入力切
換手段に対して該被カウント信号を後段の分割カウンタ
部に入力させる制御信号を与え。
(Means for Solving the Problems) The counter of the present invention is a counter having a function of performing a test by dividing one counter into a plurality of divided counter sections, and each connecting section between the divided counter sections. input switching means for inputting either the output signal or the counted signal of the divided counter section in the preceding stage to the divided counter section in the subsequent stage based on the control signal, and the dividing means in the preceding stage for all input switching means. A first mode in which a control signal for inputting the output signal of the counter section to the subsequent divided counter is provided; Give a control signal to be input to.

他の入力切換手段に対して前段の分割カウンタ部の出力
信号を後段の分割カウンタ部に入力させる制御信号を与
える第2の動作モード、及び該第2の動作モードにおい
て該被カウント信号を後段の分割カウンタ部に入力する
入力切換手段を除く入力切換手段の内の少なくとも1個
の入力切換手段に対して該被カウント信号を後段の分割
カウンタ部に入力させる制御信号を与え、他の入力切換
手段に対して前段の分割カウンタ部の出力信号を後段の
分割カウンタ部に入力させる制御信号を与える第3の動
作モードを含む少なくとも3種類の動作モードを有する
制御手段を備えており、そのことにより上記目的が達成
される。
a second operation mode in which a control signal is given to the other input switching means to input the output signal of the preceding divided counter section to the subsequent divided counter section; A control signal is applied to at least one input switching means of the input switching means other than the input switching means input to the divided counter section, and the other input switching means inputs the counted signal to the subsequent divided counter section. The control means has at least three types of operation modes including a third operation mode that provides a control signal for inputting the output signal of the divided counter section in the preceding stage to the divided counter section in the subsequent stage. The purpose is achieved.

(作用) 第1図は本発明のカウンタの構成例を示すブロック図で
ある。
(Operation) FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a counter of the present invention.

第1図に示すカウンタにおいては、全体のカウンタ部が
n個のカウンタ部II〜1..に分割され。
In the counter shown in FIG. 1, the total counter section consists of n counter sections II to 1. .. divided into.

それぞれ分割カウンタ部II〜1□の前段に入力切換手
段21〜27が挿入されている。入力切換手段21〜汎
は、制御手段3が出力する制御信号に基づいて、内部回
路が系統■と系統■とに切換えられる。
Input switching means 21 to 27 are inserted upstream of the divided counter units II to 1□, respectively. The internal circuits of the input switching means 21 to 2 are switched between the system (2) and the system (2) based on the control signal output by the control means 3.

1段目の入力切換手段21は系統lでクロック信号CL
Kを被カウント信号として1段目の分割カウンタ部II
に入力し、系統■で入力信号l5IGを分割カウンタ部
1.に入力する。分割カウンタ部1+−1−の間に介在
する2段目以降の入力切換手段2□〜27は系統■でク
ロック信号CLKを被カウント信号として後段の分割カ
ウンタ部12〜lfiに入力し、系統■で前段の分割カ
ウンタ部1.〜17−8の出力O3I〜OS、Iをその
まま後段の分割カウンタ部1□〜1、にそれぞれ入力す
る。
The first stage input switching means 21 is connected to the clock signal CL in the system 1.
The first stage divided counter section II uses K as the signal to be counted.
The input signal l5IG is inputted to the divided counter section 1. in the system ■. Enter. The input switching means 2□ to 27 in the second and subsequent stages interposed between the divided counter sections 1+-1- input the clock signal CLK as a counted signal to the subsequent divided counter sections 12 to lfi in the system ■. The front division counter section 1. The outputs O3I~OS, I of ~17-8 are input as they are to the subsequent divided counter units 1□~1, respectively.

本来のカウンタとしての動作時には制御手段3は全ての
入力切換手段21〜2.に系統■を選択させる。このこ
とにより1分割カウンタ部1.〜17はカスケード接続
され、全体として1個のカウンタとして動作する。
When operating as an original counter, the control means 3 controls all the input switching means 21-2. Let the person select the system ■. This allows the 1-division counter section 1. 17 are connected in cascade and operate as one counter as a whole.

制御手段3はテスト時において少なくとも2種類のモー
ドを有する。制御手段3から出力される制御信号は、テ
スト中は1段目の入力切換手段2゜に系統Iを選択させ
、2段目以降の入力切換手段2□〜2nには下記の如く
2種類のモードにおいて異なるの系統組合せを選択させ
る。すなわち。
The control means 3 has at least two types of modes during testing. During the test, the control signal output from the control means 3 causes the first-stage input switching means 2° to select system I, and the second-stage and subsequent input switching means 2□ to 2n select two types of signals as shown below. Allows you to select different system combinations in the mode. Namely.

2段目以降の入力切換手段2□〜汎はいずれのモードに
おいても少なくとも1個は系統■を選択し、第1モード
、第2モードを通して見たときは少なくとも1種類のモ
ードにおいては系統■を選択する。換言すると、第1モ
ードで系統Iを選択した入力切換手段は、第2モードで
必ず系統■を選択する。
Input switching means 2□ to 2 in the second and subsequent stages select at least one system ■ in any mode, and when viewed through the first mode and second mode, select system ■ in at least one type of mode. select. In other words, the input switching means that selected system I in the first mode always selects system ■ in the second mode.

今、−例として、第1モードにおいて奇数段の分割カウ
ンタ部11+ 13+・・・の後段に設けられている入
力切換手段2□、24.・・・が系統■、を選択し。
Now, as an example, in the first mode, the input switching means 2□, 24, . ...selects the system ■.

偶数段の分割カウンタ部1□14.・・・の後段に設け
られている入力切換手段2 、t、 21.・・・が系
統■を選択したとする。また、第2モードにおいて奇数
段の分割カウンタ部11+ 1 ff+・・・の後段に
設けられている入力切換手段2□、24.・・・が系統
Iを選択し。
Even-numbered stage divided counter section 1□14. . . . Input switching means 2, t, 21. Suppose that ... selects system ■. Further, in the second mode, the input switching means 2□, 24 . ...selects system I.

偶数段の分割カウンタ部1□、14.・・・の後段に設
けられている入力切換手段2 s、 2 s、・・・が
系統■を選択したとする。
Even-numbered stage divided counter sections 1□, 14. It is assumed that the input switching means 2 s, 2 s, . . . provided at the subsequent stage of .

第1モードにおいてはクロック信号CLKが分割カウン
タ部1 =、 13.・・・に入力され2分割カウンタ
部1□、14.・・・にはカウンタ部11+ 13.・
・・からの出力信号OS!、053.・・・がそれぞれ
入力される。かくして1分割カウンタ部1.及び1□が
1個のカウンタ、分割カウンタ部13及び1.が1個の
カウンタ(以下同様)として動作する。
In the first mode, the clock signal CLK is divided by the divided counter section 1 =, 13. . . are input to the two-division counter sections 1□, 14. ... has a counter section 11+ 13.・
Output signal from ...OS! , 053. ... are input respectively. Thus, the 1-division counter section 1. and 1□ is one counter, divided counter section 13 and 1. operates as one counter (the same applies hereafter).

第2モードにおいては、クロック信号CLKが分割カウ
ンタ部I1.1□、14.・・・に入力され9分割カウ
ンタ部1 z、 14.・・・の出力信号os、、 o
s4.・・・がカウンタ部1s、1s、  ・・・に入
力される。その結果9分割カウンタ部1.が1個のカウ
ンタ、分割カウンタ1□部及び13が1個のカウンタ、
分割カウンタ部14及びl、が1個のカウンタ(以下同
様)として動作する。
In the second mode, the clock signal CLK is applied to the divided counter sections I1.1□, 14. . . are input into the 9-division counter section 1z, 14. ...'s output signal os,, o
s4. ... are input to the counter sections 1s, 1s, . As a result, the 9-division counter section 1. is one counter, divided counter 1□ section and 13 are one counter,
The divided counter units 14 and 1 operate as one counter (the same applies hereinafter).

以上のような2種類のモードで分割カウンタ部1、〜1
..を動作させてテストすれば4分割カウンタ部1.〜
17の間の各連結部はいずれかのモードで必ず連結され
、テスト抜けが生じない。テストに要するクロック入力
の回数は、16ビツトのカウンタを4個の4ビツトカウ
ンタ部に分割した場合で21′×2回となり1分割しな
い場合の216回に比べて大幅に削減される。
Divided counter sections 1, ~1 in two types of modes as described above.
.. .. If you operate and test the 4-division counter section 1. ~
Each connection between 17 is always connected in one of the modes, and no test omission occurs. The number of clock inputs required for the test is 21'×2 when the 16-bit counter is divided into four 4-bit counter sections, which is significantly reduced compared to 216 when the counter is not divided into one.

尚、初段の入力切換手段2.は必須ではない。In addition, the first stage input switching means 2. is not required.

入力切換手段2.を設けない場合には入力信号l5IG
を用いて分割カウンタ部11をテストすればよい。
Input switching means 2. If not provided, the input signal l5IG
The divided counter section 11 may be tested using the following.

(実施例) 本発明を実施例について以下に説明する。(Example) The invention will now be described with reference to examples.

第2図(a)に本発明の一実施例を示す。第2図に示す
カウンタは24ビツトカウンタであり、6個の4ビツト
カウンタ部Lot〜106に分割されている。
FIG. 2(a) shows an embodiment of the present invention. The counter shown in FIG. 2 is a 24-bit counter, and is divided into six 4-bit counter sections Lot to 106.

入力切換回路20.〜206は、第3図(a)に示され
るように、2個のANDゲート21a、 21bと1個
のORゲート22とからなり、入力端子A、  B、制
御端子C,Dおよび出力端子Eを有している。第3図(
b)に示される真理値表を参照して動作を説明すると。
Input switching circuit 20. 206 consists of two AND gates 21a, 21b and one OR gate 22, as shown in FIG. 3(a), and has input terminals A, B, control terminals C, D, and output terminal E. have. Figure 3 (
The operation will be explained with reference to the truth table shown in b).

制御端子C,Dに0,1がそれぞれ入力された時は、入
力端子Aに1が入力されてもANDゲー)21aからは
Oが出力され、入力端子Bに1が入力された時にのみA
NDゲート21bが1を出力し、これがORゲート22
を通して出力端子Eに出力される。つまり、この時は入
力端子Bへの入力が出力端子已に出力される。これが系
統■となる。他方、制御端子C,Dに1.0がそれぞれ
入力された時は。
When 0 and 1 are input to control terminals C and D, respectively, even if 1 is input to input terminal A, O is output from 21a, and A is output only when 1 is input to input terminal B.
ND gate 21b outputs 1, which is OR gate 22
It is output to output terminal E through. That is, at this time, the input to input terminal B is output to the output terminal. This becomes system ■. On the other hand, when 1.0 is input to control terminals C and D, respectively.

入力端子Aへの入力が出力端子已に出力される。An input to input terminal A is output to output terminal A.

これが系統■となる。制御端子C,Dに0,0または1
,1がそれぞれ入力される状況は、この実施例では出現
しない。
This becomes system ■. 0, 0 or 1 to control terminals C and D
, 1, respectively, does not appear in this embodiment.

上記入力切換回路20.〜206は第2図(a)に示さ
れるように分割カウンタ部10+〜106の前段にそれ
ぞれ挿入されている。これらの入力切換回路201〜2
0.のうち、入力切換回路201 においては入力端子
Aに入力信号l5IG、入力端子Bにテスト時における
被カウント信号としてのクロック信号CLK 。
The above input switching circuit 20. 206 are respectively inserted before the divided counter sections 10+ to 106, as shown in FIG. 2(a). These input switching circuits 201-2
0. In the input switching circuit 201, the input terminal A receives the input signal 15IG, and the input terminal B receives the clock signal CLK as a signal to be counted during testing.

制御端子C,Dに制御回路30からの制御信号がそれぞ
れ入力される。また出力端子Eからの出力信号が1段目
の分割カウンタ部10.に入力される。
Control signals from the control circuit 30 are input to control terminals C and D, respectively. Further, the output signal from the output terminal E is transmitted to the first stage divided counter section 10. is input.

2段目以降の入力切換手段20.〜206においては入
力端子Aに前段の分割カウンタ部10.〜10sからの
出力信号0SI−ossがそれぞれ入力され、入力端子
Bに被カウント信号としてのクロック信号CLX 、制
御端子C,Dに制御回路30からの制御信号がそれぞれ
入力される。入力切換回路20□〜20゜の出力端子E
からの出力信号は2段目以降の分割カウンタ部10□〜
10.にそれぞれ入力される。
Second and subsequent stage input switching means 20. 206, the input terminal A is connected to the previous stage divided counter section 10. The output signal 0SI-oss from ~10s is inputted, the clock signal CLX as a counted signal is inputted to the input terminal B, and the control signal from the control circuit 30 is inputted to the control terminals C and D, respectively. Output terminal E of input switching circuit 20□~20°
The output signal from the second and subsequent stage divided counter sections 10□~
10. are input respectively.

制御回路30はANDゲート31,2個のNOTゲート
32a、32bおよび4個のEXCLUSIVE−OR
ゲート(以下r EX−ORゲート」と略称する) 3
3a、33b、33c、33dからなる。制御回路30
に入力される2種類の信号T、、 T!のうち、信号T
、は入力切換回路201の制御端子り、  NOTゲー
ト32aおよびANDゲート31に入力される。NOT
ゲート32aの出力は入力切換回路20、の制御端子C
およびEX−ORゲート33a 、 33b 。
The control circuit 30 includes an AND gate 31, two NOT gates 32a, 32b, and four EXCLUSIVE-ORs.
Gate (hereinafter abbreviated as EX-OR gate) 3
It consists of 3a, 33b, 33c, and 33d. Control circuit 30
Two types of signals T,, T! Of these, signal T
, are the control terminals of the input switching circuit 201, and are input to the NOT gate 32a and the AND gate 31. NOT
The output of the gate 32a is the control terminal C of the input switching circuit 20.
and EX-OR gates 33a, 33b.

33c、 33dにそれぞれ入力される。ANDゲート
31の出力はNOTゲート32bに入力されるほか、入
力切換回路20z、204.206(D制御端子りと、
  EX−ORゲート33a 、 33cに入力される
。NOTゲート32bの出力は入力切換回路 20□、
20..20.の制御端子C及びEX−ORゲート33
b、33d 定入力される。EX−ORゲート33a、
 33b、 33c、 33dの出力はそれぞれ入力切
換回路20.の制御端子C,D、入力切換回路20.の
制御端子C,Dに入力される。
33c and 33d, respectively. The output of the AND gate 31 is input to the NOT gate 32b, and is also input to the input switching circuits 20z, 204, 206 (D control terminal,
It is input to EX-OR gates 33a and 33c. The output of NOT gate 32b is input switching circuit 20□,
20. .. 20. control terminal C and EX-OR gate 33
b, 33d Constant input. EX-OR gate 33a,
The outputs of 33b, 33c, and 33d are respectively connected to input switching circuits 20. control terminals C, D, input switching circuit 20. It is input to control terminals C and D of.

第2図(a)に示すカウンタの動作を第2図(b)の真
理値表を参照して以下に説明する。
The operation of the counter shown in FIG. 2(a) will be explained below with reference to the truth table shown in FIG. 2(b).

制御回路30に入力される信号T1が0の時には。When the signal T1 input to the control circuit 30 is 0.

信号T2のレベルに関係なくネット34a、 34b、
 34cにおける信号が1.0.1になる。その結果、
入力切換回路20.、20.、204.20.の制御端
子C,Dには1.0がそれぞれ入力される。入力切換回
路2oz。
Nets 34a, 34b, regardless of the level of signal T2.
The signal at 34c becomes 1.0.1. the result,
Input switching circuit 20. , 20. , 204.20. 1.0 is input to control terminals C and D, respectively. Input switching circuit 2oz.

20、においてはEX−ORゲート33a 、 33c
のいずれにも0.1の入力の組が、またEX−ORゲー
ト33b 、 33dのいずれにも1.1の入力の組が
入力されることから、制御端子C,Dに1. 0がそれ
ぞれ入力される。制御端子C,Dに1.  Oがそれぞ
れ入力されると、入力切換回路20□〜206において
は出力端子已に入力端子Aからの信号が出力される。す
なわち、系統■が選択される。その結果、6個の分割カ
ウンタ部10.〜10&はカスケード接続され。
20, EX-OR gates 33a, 33c
Since a set of inputs of 0.1 is input to each of the EX-OR gates 33b and 33d, and a set of inputs of 1.1 is input to both of the EX-OR gates 33b and 33d, 1.1 is input to the control terminals C and D. 0 is input respectively. 1 to control terminals C and D. When O is inputted, the signal from the input terminal A is outputted to the output terminals of the input switching circuits 20□ to 206. In other words, system ■ is selected. As a result, six divided counter sections 10. ~10& are cascaded.

入力信号l5IGに応じて通常の24ビツトカウンタと
しての動作が行なわれる。
It operates as a normal 24-bit counter in response to input signal l5IG.

テストは信号T1が1の時に行なわれる。すなわち、信
号T1が1で信号T2がOの時は、ネッ)34a。
The test is performed when signal T1 is 1. That is, when the signal T1 is 1 and the signal T2 is O, NET) 34a.

34b、 34cにおける信号がそれぞれ0,0.1と
なる。その結果、入力切換回路20.においては制御端
子C,Dに0,1がそれぞれ入力される。入力切換回路
20.、20.、20.においては制御端子C,Dに1
.0がそれぞれ入力される。入力切換回路203゜20
、においでは、  EX−ORゲート33a 、 33
cに0,0の入力の組が、又EX−ORゲー) 33b
、 33dに1. 0の入力の組がそれぞれ入力される
ので、制御端子C,Dに0. 1がそれぞれ入力される
The signals at 34b and 34c become 0 and 0.1, respectively. As a result, the input switching circuit 20. In this case, 0 and 1 are input to control terminals C and D, respectively. Input switching circuit 20. , 20. , 20. In this case, 1 is connected to control terminals C and D.
.. 0 is input respectively. Input switching circuit 203゜20
, in the case of smell, EX-OR gate 33a, 33
A pair of inputs of 0 and 0 in c is also an EX-OR game) 33b
, 1 on 33d. Since each set of 0 inputs is input, 0.0 is input to control terminals C and D. 1 is input respectively.

制御端子C,Dに0.1がそれぞれ入力される入力切換
回路20..20..20sにおいては、入力端子Bに
入力されるクロック信号CLKが出力端子Eから出力さ
れて分割カウンタ部101. Lot、 10sに入力
される。すなわち、系統Iが選択される。制御端子C,
Dに1.0がそれぞれ入力される入力切換回路20□、
20..20.においては、入力端子Aに入力される信
号が出力端子Eより出力されるので9分割カウンタ部1
0+、 10+、 10s ノ出力信号OSI、 O5
:1. O3Sがそれぞれ後段のカウンタ部10z、 
10.、10.に入力される。すなわち、系統■が選択
される。かくして1分割カウンタ部10.及び10□2
分割カウンタ部10.及び104.並びに分割カウンタ
部10s及びlO4がそれぞれ連結されて1個の8ビツ
トカウンタを構成し、テストが行なわれる。以上が第1
モードによるテストである。
An input switching circuit 20 in which 0.1 is input to control terminals C and D, respectively. .. 20. .. At 20s, the clock signal CLK input to the input terminal B is output from the output terminal E, and the clock signal CLK is output from the output terminal E to the divided counter section 101. Lot, input in 10s. That is, system I is selected. control terminal C,
Input switching circuit 20□, in which 1.0 is input to D, respectively.
20. .. 20. , the signal input to input terminal A is output from output terminal E, so the 9-division counter section 1
0+, 10+, 10s output signal OSI, O5
:1. O3S is a counter section 10z in the latter stage, respectively.
10. , 10. is input. In other words, system ■ is selected. Thus, the 1-division counter section 10. and 10□2
Divided counter section 10. and 104. The divided counter sections 10s and 1O4 are each connected to form one 8-bit counter, and a test is performed. The above is the first
This is a mode test.

第1モードによるテストが終了すると、信号T1が1の
ままで信号T2が1に切り換えられる。これによりネッ
ト34a、 34b、 34cにおける信号は0,1゜
Oとなり、制御端子C,Dに入力される信号は。
When the test in the first mode is completed, the signal T2 is switched to 1 while the signal T1 remains 1. As a result, the signals at the nets 34a, 34b, and 34c become 0.1°O, and the signals input to the control terminals C and D are as follows.

入力切換回路201においては0,1.入力切換回路2
0□、 204.206においても0.1となる。入力
切換回路203.205においては、  EX−ORゲ
ート33a 、 33cのいずれにも0.1の入力の組
が、  EX−ORゲート33b、33dのいずれにも
0,0の入力の組が入力されることから、制御端子C,
Dに1.0がそれぞれ入力され、系統■が選択される。
In the input switching circuit 201, 0, 1 . Input switching circuit 2
0□, 204.206 is also 0.1. In the input switching circuits 203 and 205, a set of inputs of 0.1 is input to both EX-OR gates 33a and 33c, and a set of inputs of 0,0 is input to both EX-OR gates 33b and 33d. Therefore, the control terminal C,
1.0 is input to each D, and system ■ is selected.

か(して1分割カウンタ部10.及び10bがそれぞれ
1個のカウンタ、分割カウンタ部10□及び103が1
個の8ビツトカウンタ、分割カウンタ部104及び10
.が1個の8ビツトカウンタとして動作する。以上が第
2モードによるテストである。
(Then, the 1-divided counter sections 10. and 10b each have 1 counter, and the divided counter sections 10□ and 103 have 1 counter.
8-bit counters, divided counter sections 104 and 10
.. operates as one 8-bit counter. The above is the test in the second mode.

第1モードによるテストの終了後、第2モードに切り換
えてテストを行なえば2分割カウンタ部10、〜10.
の各連結箇所はいずれかのモードで必ず連結されるので
、テスト抜けが生じない。テストに要するクロック入力
の回数は第1モードにおいて2a回、第2モードにおい
て2a回であり。
After the test in the first mode is completed, if the test is performed by switching to the second mode, the two-division counter sections 10, -10.
Since each connection point is always connected in one of the modes, no test omissions occur. The number of clock inputs required for the test is 2a times in the first mode and 2a times in the second mode.

合計で2@X2=29回にすぎない。The total was only 2@X2 = 29 times.

上述した実施例は、24ビツトのカウンタを6分割する
場合の例であるが、カウンタの長さおよび分割段数はこ
の実施例に限定されない。また、テストのモードは2種
類としているが、3モ一ド以上としてもよい。入力切換
回路および制御回路についても、上記実施例に示す以外
のロジック回路で構成することが可能である。
Although the above-described embodiment is an example in which a 24-bit counter is divided into six, the length of the counter and the number of division stages are not limited to this embodiment. Further, although there are two types of test modes, three or more modes may be used. The input switching circuit and the control circuit can also be constructed from logic circuits other than those shown in the above embodiments.

(発明の効果) 本発明のカウンタは、このようにカウンタを複数個の分
割カウンタ部に分割して独立動作させることにより、カ
ウンタを全体として動作させてテストするよりもはるか
に短時間でテストを行なうことができ、なおかつ独立動
作でテストを行なうときに問題となるテスト抜けを確実
に防止することができるものであり、カウンタのテスト
能率向上および品質向上に大きな効果を奏する。
(Effects of the Invention) By dividing the counter into a plurality of divided counter sections and operating them independently, the counter of the present invention can be tested in a much shorter time than testing by operating the counter as a whole. Moreover, it is possible to reliably prevent test omissions, which are a problem when performing tests in independent operations, and is highly effective in improving counter test efficiency and quality.

4 ゛ の  な蕾゛日 第1図は本発明のカウンタの一構成例を示すブロック図
、第2図(a)および(b)はそれぞれ本発明の一実施
例の構成を示す回路図およびその動作の説明に供する真
理値表、第3図(a)およびΦ)はそれぞれその実施例
に用いられる入力切換回路の構成を示す回路図およびそ
の動作を示す真理値表、第4図は従来例を示すブロック
図である。
Figure 1 is a block diagram showing an example of the configuration of a counter according to the present invention, and Figures 2 (a) and (b) are circuit diagrams showing the configuration of an embodiment of the present invention, respectively. 3(a) and Φ) are a circuit diagram showing the configuration of the input switching circuit used in the embodiment and a truth table showing its operation, and FIG. 4 is a conventional example. FIG.

1、〜1.%、101〜10.・・・分割カウンタ部、
2+〜27・・・入力切換手段、3・・・制御手段、2
0.〜20.・・・入力切換回路、30・・・制御回路
1, ~1. %, 101-10. ...Divided counter section,
2+ to 27... Input switching means, 3... Control means, 2
0. ~20. ...Input switching circuit, 30...Control circuit.

第3図 <a>Figure 3 <a>

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、1個のカウンタを複数の分割カウンタ部に分割する
ことによってテストを行う機能を有するカウンタであっ
て、 該分割カウンタ部間の各連結部に介設され、制御信号に
基づいて前段の分割カウンタ部の出力信号及び被カウン
ト信号のいずれかを後段の分割カウンタ部に入力する入
力切換手段、並びに 全ての入力切換手段に対して前段の分割カウンタ部の出
力信号を後段の分割カウンタに入力させる制御信号を与
える第1のモード、該入力切換手段の内の少なくとも1
個の入力切換手段に対して該被カウント信号を後段の分
割カウンタ部に入力させる制御信号を与え、他の入力切
換手段に対して前段の分割カウンタ部の出力信号を後段
の分割カウンタ部に入力させる制御信号を与える第2の
動作モード、及び該第2の動作モードにおいて該被カウ
ント信号を後段の分割カウンタ部に入力する入力切換手
段を除く入力切換手段の内の少なくとも1個の入力切換
手段に対して該被カウント信号を後段の分割カウンタ部
に入力させる制御信号を与え、他の入力切換手段に対し
て前段の分割カウンタ部の出力信号を後段の分割カウン
タ部に入力させる制御信号を与える第3の動作モードを
含む少なくとも3種類の動作モードを有する制御手段を
備えたカウンタ。
[Claims] 1. A counter having a function of performing a test by dividing one counter into a plurality of divided counter parts, the counter having a function of performing a test by dividing one counter into a plurality of divided counter parts, the counter having a function of performing a test by dividing one counter into a plurality of divided counter parts, the counter being provided with a control signal at each connection part between the divided counter parts. input switching means for inputting either the output signal or the counted signal of the previous-stage divided counter section to the subsequent-stage divided counter section based on a first mode for providing a control signal to be input to the divided counter of at least one of the input switching means;
A control signal is given to one input switching means to input the counted signal to the subsequent divided counter section, and the other input switching means inputs the output signal of the previous divided counter section to the subsequent divided counter section. at least one input switching means out of the input switching means excluding the input switching means for inputting the counted signal to the subsequent divided counter section in the second operation mode; A control signal is given to input the counted signal to the divided counter section in the subsequent stage, and a control signal is given to the other input switching means to input the output signal of the divided counter section in the former stage to the divided counter section in the subsequent stage. A counter comprising a control means having at least three operating modes including a third operating mode.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5339343A (en) * 1991-05-29 1994-08-16 Sharp Kabushiki Kaisha Counter circuit with or gates interconnecting stages to provide alternate testing of odd and even stages during test mode
US9695737B2 (en) 2010-08-20 2017-07-04 Ge Jenbacher Gmbh & Co Og Prechamber system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5339343A (en) * 1991-05-29 1994-08-16 Sharp Kabushiki Kaisha Counter circuit with or gates interconnecting stages to provide alternate testing of odd and even stages during test mode
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