JPH0254937B2 - - Google Patents

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JPH0254937B2
JPH0254937B2 JP60127358A JP12735885A JPH0254937B2 JP H0254937 B2 JPH0254937 B2 JP H0254937B2 JP 60127358 A JP60127358 A JP 60127358A JP 12735885 A JP12735885 A JP 12735885A JP H0254937 B2 JPH0254937 B2 JP H0254937B2
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JP
Japan
Prior art keywords
pattern
exposure
exposure beam
printing
control method
Prior art date
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Application number
JP60127358A
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Japanese (ja)
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JPS61284992A (en
Inventor
Koji Yao
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Priority to US06/861,721 priority patent/US4887225A/en
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Publication of JPH0254937B2 publication Critical patent/JPH0254937B2/ja
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Fax Reproducing Arrangements (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、例えばPWB(プリント配線基板)
の配線パターンを描くために使用されるラスター
プロツターや製版用精密露光機などのように、与
えられたドツトパターンデータにしたがつて露光
ビームをON/OFF制御しつつ主・副走査を行な
つて、所望のパターンを感光材料上に焼付ける露
光記録を行なうときの露光ビームの制御方法に関
する。
[Detailed Description of the Invention] (Industrial Application Field) This invention is applicable to, for example, PWB (printed wiring board)
A device that performs main and sub-scanning while controlling the exposure beam on and off according to the given dot pattern data, such as raster plotters used to draw wiring patterns and precision exposure machines for plate making. The present invention relates to a method of controlling an exposure beam when performing exposure recording for printing a desired pattern onto a photosensitive material.

(従来の技術とその問題点) 例えば、第12図に示すPWB配線パターンを
感光材料に焼付ける場合、自動製図機を用いたい
わゆるベクトル描画方式では、ランド→配線部分
→ランドのパターン通りに露光ヘツドをX,Y方
向に移動させつつランドパターンは所定形状のス
リツトを通してフラツシユ露光し、配線部パター
ンは所定形状のスリツトを通して連続露光する
か、または、ランドのパターンだけをあらかじめ
所定形状のスリツトを通して全部フラツシユ露光
し、その後各ランド間の配線部パターンを所定形
状のスリツトを通して連続露光することによつて
所望のパターンを形成していた。なおこれらパタ
ーンの形成の仕方の違いは、自動製図機に入力す
るデータの違いによるものである。この方式によ
れば、パターンは境界部分において凹凸なく滑ら
かに焼付けることができるが、焼付けに非常に時
間がかかる。
(Prior art and its problems) For example, when printing the PWB wiring pattern shown in Fig. 12 on a photosensitive material, the so-called vector drawing method using an automatic drawing machine exposes the pattern according to the pattern of land → wiring part → land. While moving the head in the X and Y directions, the land pattern is flash-exposed through a slit of a predetermined shape, and the wiring pattern is continuously exposed through a slit of a predetermined shape, or only the land pattern is completely exposed through a slit of a predetermined shape in advance. A desired pattern was formed by performing flash exposure and then continuously exposing the wiring pattern between each land through a slit of a predetermined shape. Note that the differences in how these patterns are formed are due to differences in the data input to the automatic drafting machine. According to this method, the pattern can be printed smoothly without unevenness at the boundary portion, but it takes a very long time to print the pattern.

そこで、例えばラスタープロツターを用いたい
わゆるラスタースキヤン方式と呼ばれる平面走査
あるいは円筒走査方式が開発されているが、この
方式は高速処理が可能である反面、主走査方向と
交差するパターン境界線が滑らかに焼付けできな
いという欠点がある。一般にラスタープロツタな
どの走査露光用の光源はガウス分布に近い光強度
分布を持つた微小スポツトの点減制御方式がとら
れており、このため主走査方向のパターンの境界
線は凹凸なく引くことができるが、その反面主走
査方向と交差するパターンの境界線は、露光ビー
ムによる焼付けスポツトが微小円形のため、第1
3図に示すように焼付けスポツト半径より少し少
さいくぼみが露光ビームの1ラインピツチごとに
多数発生するのである。露光ビームのピントがシ
ヤープで、感光材料のγ(ガンマ)特性が硬調で
あればほぼ第13図のように露光される。(第8
図、第10図、第11図も同様である。)PWB用
のパターンでは、特に縦線と横線の線幅の正確さ
と滑らかさが同時に要求されているため、第13
図のような境界線部分の凹凸は許容し難いものと
なる。
Therefore, for example, a plane scanning or cylindrical scanning method called the so-called raster scan method using a raster plotter has been developed, but while this method is capable of high-speed processing, the pattern boundary lines that intersect with the main scanning direction are smooth. The disadvantage is that it cannot be printed on. In general, a light source for scanning exposure such as a raster plotter uses a point reduction control method for minute spots with a light intensity distribution close to a Gaussian distribution, which makes it possible to draw pattern boundaries in the main scanning direction without any unevenness. However, on the other hand, the border line of the pattern that intersects with the main scanning direction is the first one because the printing spot by the exposure beam is a minute circle.
As shown in FIG. 3, a large number of depressions with a diameter slightly smaller than the printing spot radius are generated at each line pitch of the exposure beam. If the focus of the exposure beam is sharp and the γ (gamma) characteristic of the photosensitive material is high contrast, exposure will be performed approximately as shown in FIG. (8th
The same applies to FIGS. 10, 10, and 11. ) Patterns for PWB require accuracy and smoothness of line width, especially for vertical lines and horizontal lines, so the 13th
Irregularities in the boundary line portion as shown in the figure are unacceptable.

(発明の目的) それゆえに、この発明の目的は、ラスタースキ
ヤン方式の露光記録において、主走査方向と交差
するパターン境界線を滑らかに焼付けることがで
きる露光ビームの制御方法を提供することであ
る。
(Object of the Invention) Therefore, an object of the present invention is to provide an exposure beam control method that can smoothly print pattern boundaries intersecting the main scanning direction in raster scan exposure recording. .

(目的を達成するための手段) 上記目的を達成するため、この発明による露光
ビーム制御方法では、主走査方向と交差するパタ
ーン境界線の傾き角を検出し、検出した傾き角に
応じて少なくとも境界部分において露光ビームに
よる焼付けスポツト径を増大させるようにしてい
る。
(Means for Achieving the Object) In order to achieve the above object, in the exposure beam control method according to the present invention, the inclination angle of the pattern boundary line intersecting the main scanning direction is detected, and according to the detected inclination angle, at least the boundary line is The diameter of the printing spot by the exposure beam is increased in some areas.

(実施例) 以下の説明はPWBのパターンを焼付ける場合
について説明するが、もちろん入力信号を画像信
号とすることにより製版用精密露光機にも適用す
ることができる。
(Example) The following explanation will be made regarding the case of printing a PWB pattern, but of course the present invention can also be applied to a precision exposure machine for plate making by using an image signal as an input signal.

この発明では、第11図aに示すように、主走
査方向と交差するパターン境界部分において露光
ビームによる焼付けスポツト径を増大させ、比較
的滑らかな境界線を得るようにしている。このと
き、主走査方向と交差するパターンの境界線の滑
らかさと同時に細いパターンを高密度で焼付けら
れるようにするため、好ましくは第11図bに示
すように、主走査方向のパターンの左右両端以外
の焼付けスポツトについてのみ、スポツト径の制
御を行なう。第11図a,bの左右両端以外のス
ポツトは上端および下端においてスポツト径を増
大させているが、その中間はスポツト径を増大さ
せても、増大させなくてもよい。
In this invention, as shown in FIG. 11a, the diameter of the printing spot by the exposure beam is increased at the pattern boundary portion intersecting the main scanning direction, thereby obtaining a relatively smooth boundary line. At this time, in order to ensure the smoothness of the border line of the pattern that intersects with the main scanning direction and at the same time to print thin patterns with high density, preferably, as shown in FIG. The spot diameter is controlled only for the burned spots. The spots other than the left and right ends in FIGS. 11a and 11b have their spot diameters increased at the upper and lower ends, but the spot diameters may or may not be increased in the middle.

第1図は、この発明による露光ビーム制御方法
の一実施例を適用した円筒型ラスタープロツター
の回路構成を示すブロツク図である。計算機1と
接続された図示しない磁気記憶装置には、例えば
第12図のどの座標とどの座標とをどのような経
路で結べというデータ(複数のグクトルデータ)
が記憶されており、計算機1はこのデータを取り
込んで公知の方法でラスターデータ(第n番目の
ラスター(走査線)のどのタイミングはONか
OFFかというデータ)に変換し、これを走査順
に出力する。
FIG. 1 is a block diagram showing the circuit configuration of a cylindrical raster plotter to which an embodiment of the exposure beam control method according to the present invention is applied. In a magnetic storage device (not shown) connected to the computer 1, there is data (a plurality of vector data) indicating, for example, which coordinates in FIG. 12 should be connected by what route.
is stored, and the computer 1 imports this data and uses a known method to determine which timing of the raster data (nth raster (scanning line) is ON).
OFF data) and outputs this in scanning order.

ラインメモリ2は4ライン(走査線)分の容量
を有しており、計算器1から出力されるラスター
データは、メモリアドレス制御部3の制御の下
で、1ラインずつ順次ラインメモリM1〜M4に循
環して書き込まれていく。
The line memory 2 has a capacity for 4 lines (scanning lines), and the raster data output from the calculator 1 is sequentially transferred line by line to the line memories M1 to M1 under the control of the memory address control unit 3. It is written in circulation to M4 .

メモリアドレス制御部3は、図示しないたとえ
ば円筒型のラスタープロツタの回転ドラムに取付
けられたロータリエンコーダ4から第2図1,2
のスタートパルス(1パルス/回転)およびエン
コーダクロツク2を受け、これに基づいて3〜6
に示すような続出し/書込み制御信号(ハ
イで書込み指示、ローで読出し指示)および第7
図8のメモリアドレス制御信号を作成して、各ラ
インメモリM1〜M4に与える。第3図は、2−4
デコーダを用いた上記読出し/書込み制御信号
R/Wを作成するための回路構成の一例を示して
いる。
1 and 2 from a rotary encoder 4 attached to a rotating drum of a cylindrical raster plotter (not shown), for example.
Start pulse (1 pulse/rotation) and encoder clock 2 are received, and based on this, 3 to 6
Continuation/write control signal (high to instruct write, low to instruct to read) and the seventh
The memory address control signal shown in FIG. 8 is created and applied to each line memory M1 to M4 . Figure 3 shows 2-4
An example of a circuit configuration for creating the read/write control signal R/W using a decoder is shown.

第2図3〜6のタイミングより明らかなよう
に、ラインメモリM1〜M4のうちいずれか1つの
ラインメモリが1ライン分のデータを書込み中
は、他の3つのラインメモリは読出し状態とな
る。データの読出しおよび書込みは、第2図2の
エンコーダクロツク信号に同期して行なわれる。
As is clear from the timings in Figure 2 3 to 6, while any one of the line memories M 1 to M 4 is writing data for one line, the other three line memories are in the read state. Become. Data reading and writing are performed in synchronization with the encoder clock signal of FIG.

シフトレジスタ5は4個のシリアルレジスタを
含み、各シリアルレジスタはラインメモリM1
M4と1対1に接続されて、対応するラインメモ
リから読み出されるデータを3画素分だけ順次一
時記憶する。このようにして、シフトレジスタ5
には、3×3画素領域のデータが順番に一時記憶
されることになる。
The shift register 5 includes four serial registers, and each serial register is connected to a line memory M 1 to
It is connected one-to-one with M4 , and sequentially temporarily stores data for three pixels read from the corresponding line memory. In this way, shift register 5
, data of a 3×3 pixel area is temporarily stored in order.

パターン判別回路6は、上記3×3画素領域に
おけるデータに基づいて、主走査方向と交差する
露光パターン境界線が特定の傾き角を有している
かどうかを判別する。3×3画素領域において判
別可能な傾き角は第4図に示す10通り存在する
が、さらに多くの角度を検出したい場合は、判別
する画素数を多くして任意のm×n(m,n>3)
領域にまで拡張する必要がある。しかしながら、
例えばPWB用パターンの境界線の傾き角は何種
類かに定まつており、それ程多くの角度を検出す
る必要はない。また、検出すべき傾き角に応じ
て、判別するための画素数を増減してもよい。
The pattern determination circuit 6 determines whether the exposure pattern boundary line intersecting the main scanning direction has a specific inclination angle, based on the data in the 3×3 pixel area. There are 10 types of tilt angles that can be determined in a 3x3 pixel area as shown in Figure 4, but if you want to detect even more angles, increase the number of pixels to be determined and select an arbitrary mxn (m, n >3)
It is necessary to expand into other areas. however,
For example, there are several types of inclination angles of the boundaries of PWB patterns, and there is no need to detect that many angles. Furthermore, the number of pixels for determination may be increased or decreased depending on the tilt angle to be detected.

第4図おいて、太線で示した3×3の中心画素
がこれから出力しようとしている画素であり、こ
の画素を出力するにあたつて、検出した傾き角に
応じて、露光ビームによる焼付けスポツト径およ
びその出力タイミングを制御するのである。通常
ONパターンは露光中であることを示し、通常
OFFパターンは非露光中であることを示してい
る。また、通常以外のONパターンはこれから露
光を開始すべき位置の検出を示しており、通常以
外のOFFパターンはこれで露光を終了すべき位
置の検出を示している。
In Figure 4, the 3x3 central pixel indicated by the bold line is the pixel that is about to be output, and when outputting this pixel, the diameter of the printing spot by the exposure beam is determined according to the detected tilt angle. and controls its output timing. usually
The ON pattern indicates that exposure is in progress and is normally
The OFF pattern indicates non-exposure. Furthermore, an ON pattern other than normal indicates detection of a position at which exposure should start, and an OFF pattern other than normal indicates detection of a position at which exposure should end.

第5A図および第5B図は、一例として45゜ON
パターンおよび通常ON,OFFパターンの判別回
路をゲートを利用して構成した場合の回路図を示
しており、これら以外のパターン判別回路も同様
にして構成されるものである。第5A図の45゜ON
パターン判別回路において、ANDゲート51〜
54は右上りの45゜ONパターンの検出用であり、
ANDゲート55〜58は右下りの45゜ONパター
ンの検出用である。例えば右上り45゜ONパターン
の検出の場合、ANDゲート51〜54のうちの
いずれか1つがハイのメモリ読出し/書込み制御
信号に応答してハイとなり、そのANDゲ
ートに接続された3つのシフトレジスタ(SR1
〜SR4のうちの3つ)からの3×3画素データ
が右上り45゜ONパターンと一致したときに、その
ANDゲートから45゜ONパターン検出信号cが出
力される。第5B図の通常ON,OFFパターン判
別回路では、通常以外のパターン判別出力a〜h
を優先させるため、パターン判別出力a〜hがあ
るときにはANDゲート群59をローにして、通
常ON/OFFパターンの検出信号I,jが出力さ
れないようにしている。
Figures 5A and 5B are 45°ON as an example.
A circuit diagram is shown in which a pattern discrimination circuit and a normal ON/OFF pattern discrimination circuit are constructed using gates, and pattern discrimination circuits other than these are constructed in the same manner. 45°ON in Figure 5A
In the pattern discrimination circuit, AND gates 51 to
54 is for detecting the 45°ON pattern in the upper right corner,
AND gates 55 to 58 are for detecting a 45° ON pattern downward to the right. For example, in the case of detecting an upward-rightward 45° ON pattern, one of the AND gates 51 to 54 goes high in response to a high memory read/write control signal, and the three shift registers connected to that AND gate (SR1
When the 3x3 pixel data from ~3 of SR4 matches the 45° ON pattern in the upper right corner,
A 45°ON pattern detection signal c is output from the AND gate. In the normal ON/OFF pattern discrimination circuit shown in Figure 5B, the non-normal pattern discrimination outputs a to h
In order to give priority to the pattern discrimination outputs a to h, the AND gate group 59 is set low to prevent the normal ON/OFF pattern detection signals I and j from being output.

ビーム制御信号作成部7は、パターン判別回路
6からのパターン判別信号a〜jに応じて、焼付
けスポツト径制御信号PおよびビームON/OFF
制御信号Qを作成する。そして、これらの制御信
号P,Qの内容に応じて、後述するようにAOM
(音響光学変調器)コントロール部8および
AOMドライバ9を介してAOM10を駆動する
ことによつて、検出したパターン境界線の角度に
応じた露光ビームによる焼付けスポツト径の制御
とその露光タイミングの制御を行うのである。
The beam control signal generation unit 7 controls the printing spot diameter control signal P and the beam ON/OFF according to the pattern discrimination signals a to j from the pattern discrimination circuit 6.
Create control signal Q. Then, depending on the contents of these control signals P and Q, the AOM
(Acousto-optic modulator) control section 8 and
By driving the AOM 10 via the AOM driver 9, the diameter of the printing spot by the exposure beam and the exposure timing are controlled in accordance with the angle of the detected pattern boundary line.

第6A図および第6B図は、ビーム制御信号作
成部7の一構成例を詳細に示す回路図であり、第
7図はその動作を示すタイミングチヤートであ
る。デコーダ601は、上記パターン判別信号a
〜jに応じて、カウンタ611〜614に与える
べきプリセツト値を決定する。このプリセツト値
は露光タイミングを補正するためのものであり、
したがつて第4図の各パターンに応じて異なる。
例えば、第8A図aに示すように、平行ON,
OFFパターンおいて境界部分の焼付けスポツト
径を2倍に増大する場合を考えてみる。この場合
は、第8A図bに示すように、2倍焼付けスポツ
ト径81の露光ビームは、通常焼付けスポツト径
82の露光ビームと比較して±T/2だけタイミ
ングを補正して照射する必要がある。ここでTは
1画素クロツク時間であり、所要タイミング補正
時間は焼付けスポツト径81,82の比に依存し
て変化するものである。また、45゜,26゜,33゜の各
ON,OFFパターンにおける上記第8A図と同様
の説明図が、それぞれ第8B図ないし第8D図に
示されている。これらの図面より、45゜ON,
OFFパターンに対する所要タイミング補正時間
は±√2/2・Tであり、26゜ON,OFFパター
ンに対する所要タイミング補正時間は±(√5−
2)/4・Tであり、また63゜ON,OFFパター
ンに対する所要タイミング補正時間は±√5/
2・Tであることがわかる。
6A and 6B are circuit diagrams showing in detail an example of the configuration of the beam control signal generating section 7, and FIG. 7 is a timing chart showing its operation. The decoder 601 receives the pattern discrimination signal a
Preset values to be given to counters 611-614 are determined according to j. This preset value is for correcting the exposure timing.
Therefore, it differs depending on each pattern in FIG.
For example, as shown in Figure 8A a, parallel ON,
Let us consider the case where the diameter of the burned spot at the boundary portion of the OFF pattern is doubled. In this case, as shown in FIG. 8A b, the exposure beam with a double printing spot diameter of 81 needs to be irradiated with timing corrected by ±T/2 compared to the exposure beam with a normal printing spot diameter of 82. be. Here, T is one pixel clock time, and the required timing correction time changes depending on the ratio of the printing spot diameters 81 and 82. Also, each of 45°, 26°, 33°
Explanatory diagrams similar to the above-mentioned FIG. 8A for ON and OFF patterns are shown in FIGS. 8B to 8D, respectively. From these drawings, 45°ON,
The required timing correction time for the OFF pattern is ±√2/2・T, and the required timing correction time for the 26°ON, OFF pattern is ±(√5−
2)/4・T, and the required timing correction time for the 63° ON/OFF pattern is ±√5/
It turns out that it is 2.T.

マイナスのタイミング補正があることを考慮し
て、基本プリセツト値(タイミング補正なしのと
きプリセツト値)として、例えば2Tを選択して
おく。この場合のデーコーダ601の入出力の関
係を示せば、以下のようになる。
Considering the possibility of negative timing correction, for example, 2T is selected as the basic preset value (preset value when no timing correction is required). The input/output relationship of the decoder 601 in this case is as follows.

入力(パターン判別信号)出力(プリセツト値) a(平行ON) 2T+1/2・T b(平行OFF) 2T−1/2・T c(45゜ON) 2T+√2/2・T d(45゜OFF) 2T−√2/2・T e(26゜ON) 2T+(√5−2)/4・T f(26゜OFF) 2T+(√5−2)/4・T g(63゜ON) 2T+√6/2・T h(63゜OFF) 2T−√6/2・T i(通常ON) 2T j(通常OFF) 出力なし 分周カウンタ602は、第1図のロータリエン
コーダ4からのエンコーダクロツク2を分周し
て、1画素クロツクずつ位相のずれた4相クロツ
ク11〜14を出力する。カウンタ611〜61
4は、4相クロツク11〜14をそれぞれロード
信号として受けて、そのときデーコダ601から
出力されている上記プリセツト値をロードする。
PLL回路603は、エンコーダクロツク2を逓
倍クロツク7を出力し、カウンタ611〜614
はこの逓倍クロツクに同期して、上記プリセツト
値をダウンカウントする。
Input (pattern discrimination signal) output (preset value) a (parallel ON) 2T+1/2・T b (parallel OFF) 2T−1/2・T c (45°ON) 2T+√2/2・T d (45° OFF) 2T−√2/2・T e(26°ON) 2T+(√5−2)/4・T f(26°OFF) 2T+(√5−2)/4・T g(63°ON) 2T + √6/2・T h (63° OFF) 2T−√6/2・T i (normally ON) 2T j (normally OFF) No output The frequency division counter 602 is the encoder from the rotary encoder 4 in Fig. 1. The clock 2 is frequency-divided to output four-phase clocks 11 to 14 whose phases are shifted by one pixel clock. Counter 611-61
4 receives the four-phase clocks 11 to 14 as load signals, respectively, and loads the preset value outputted from the decoder 601 at that time.
The PLL circuit 603 outputs a clock 7 that multiplies the encoder clock 2,
synchronizes with this multiplication clock and counts down the preset value.

いま、第7図8のアドレス信号に従つて読み出
された注目画素(これから出力しようとしている
画素であつて、3×3画素領域の中心画素)のデ
ータ9の内容が、例えば10に示すようにT0
T2期間およびT5〜T7期間においてON(すなわち
焼付け)であり、かつT0〜T2期間の焼付け部分
は45゜ONパターンで始まつて63゜OFFパターンで
終り、T5〜T7期間の焼付け部分は26゜ONパター
ンで始まつて45゜OFFパターンで終つたとする。
このとき、T0期間の最初の4相クロツク11に
より2T+√2/2・Tがカウンタ611にロー
ドされるとともに、c信号(45゜ONパターン検出
信号)がフリツプフロツプ621にラツチされ
て、ANDゲート631,651がハイ状態とな
る。そして、2T+√2/2・T経過した時点で、
カウンタ611からボローパルス15が出力さ
れ、このボローパルスは、ANDゲート631を
介してフリツプフロツプ641をセツトして、フ
リツプフロツプ641の出力信号16はハイとな
る。その後、3画素クロツク経路した時点(T3
期間の初め)で4相クロツク14が出力される
と、この4相クロツク14はフリツプフロツプ6
21をリセツトするとともにANDゲート651
を介してフリツプフロツプ641をリセツトし、
したがつてこの時点で、ANDゲート631,6
51はローになるとともに、フリツプフロツプ6
41の出力信号16はローとなる。
Now, the contents of the data 9 of the target pixel (the pixel that is about to be output, the center pixel of the 3×3 pixel area) read out according to the address signal in FIG. 7 and 8 are as shown in 10, for example. to T 0 ~
It is ON (i.e. burn-in) during the T 2 period and the T 5 - T 7 period, and the burn-in part of the T 0 - T 2 period starts with a 45° ON pattern and ends with a 63° OFF pattern, and T 5 - T 7 Assume that the baking portion of the period begins with a 26° ON pattern and ends with a 45° OFF pattern.
At this time, 2T+√2/2·T is loaded into the counter 611 by the first four-phase clock 11 in the T0 period, and the c signal (45° ON pattern detection signal) is latched into the flip-flop 621, and the AND gate 631 and 651 become high. Then, when 2T+√2/2・T has passed,
A borrow pulse 15 is output from the counter 611, and this borrow pulse sets the flip-flop 641 through the AND gate 631, so that the output signal 16 of the flip-flop 641 goes high. After that, the point at which 3 pixel clocks have passed (T 3
When the four-phase clock 14 is output at the beginning of the period), the four-phase clock 14 is output from the flip-flop 6.
21 and AND gate 651.
reset the flip-flop 641 via
Therefore, at this point, AND gates 631, 6
51 becomes low and flip-flop 6
The output signal 16 of 41 goes low.

また、T1期間の最初の4相クロツク12およ
びT2期間の最初の4相クロツク13の時点では、
ともに通常ONパターンが検出されるので、これ
らの4相クロツクによつてそれぞれカウンタ61
2,613に2Tがロードされ、上述と同様の動
作によつて、フリツプフロツプ642の出力信号
18がT3期間にハイとなり、フリツプフロツプ
643の出力信号20がT4期間にハイとなる。
Furthermore, at the time of the first four-phase clock 12 in the T1 period and the first four-phase clock 13 in the T2 period,
Since normal ON patterns are detected in both cases, each counter 61 is activated by these four-phase clocks.
By the same operation as described above, the output signal 18 of the flip-flop 642 goes high during the T 3 period, and the output signal 20 of the flip-flop 643 goes high during the T 4 period.

次に、T3期間の最初の4相クロツク14によ
り、2T−√6/2・Tカウンタ614にロード
されるとともに、h信号(63゜OFFパターン検出
信号)がフリツプフロツプ664にラツチされ、
このラツチ出力により、フリツプフロツプ644
が直ちにセツトされてその出力信号22がハイと
なり、また、ANDゲート674がハイとなる。
そして、2T−√6/2・T経過した時点で、カ
ウンタ614からボローパルス21が出力され、
このボローパルスはANDゲート674を介して
フリツプフロツプ644をリセツトして、フリツ
プフロツプ644の出力信号22はローとなる。
その後、3画素クロツク経過した時点(T6期間
の初め)で、4相クロツク13によりフリツプフ
ロツプ664がリセツトされて、ANDゲート6
74はローとなる。
Next, the first four-phase clock 14 of the T3 period loads the 2T-√6/2·T counter 614, and the h signal (63° OFF pattern detection signal) is latched into the flip-flop 664.
This latch output causes flip-flop 644
is immediately set and its output signal 22 goes high, and AND gate 674 goes high.
Then, when 2T−√6/2·T has elapsed, the counter 614 outputs a borrow pulse 21,
This borrow pulse resets flip-flop 644 through AND gate 674, and the output signal 22 of flip-flop 644 goes low.
Thereafter, when three pixel clocks have elapsed (at the beginning of the T6 period), the flip-flop 664 is reset by the four-phase clock 13, and the AND gate 664 is reset.
74 becomes low.

データ10のT3〜T4期間のように通常OFFパ
ターンが検出される場合には、そのパターン検出
信号jはOFFパターン検出信号に対して作用す
るフリツプフロツプ661〜664のデータ入力
端子Dに与えられておらず、したがつてこのとき
フリツプフロツプ641〜644はセツトされる
ことはなく、その出力信号はローのままである。
When a normal OFF pattern is detected, such as during the T 3 to T 4 period of data 10, the pattern detection signal j is applied to the data input terminals D of flip-flops 661 to 664 that act on the OFF pattern detection signal. Therefore, flip-flops 641-644 are not set at this time and their output signals remain low.

以下、上述と同様の動作によつて、データ10
のT5〜T7のON期間に対応して、フリツプフロ
ツプ642の出力信号18がT7期間の一部にお
いてハイとなり、フリツプフロツプ643の出力
信号20がT8期間においてハイとなり、フリツ
プフロツプ644の出力信号22がT9期間にお
いてハイとなり、フリツプフロツプ641の出力
信号16がT8期間およびT9期間の一部において
ハイとなる。このようにして得られるフリツプフ
ロツプ641〜644の出力信号16,18,2
0,22のORをとることにより、23に示すビ
ームON/OFF制御信号Qを得ることができる。
Hereinafter, by the same operation as described above, data 10
Corresponding to the ON period from T5 to T7 , the output signal 18 of the flip-flop 642 goes high during a part of the T7 period, the output signal 20 of the flip-flop 643 goes high during the T8 period, and the output signal of the flip-flop 644 goes high during the T8 period. 22 is high during period T9 , and the output signal 16 of flip-flop 641 is high during period T8 and part of period T9 . Output signals 16, 18, 2 of flip-flops 641 to 644 obtained in this way
By ORing 0 and 22, a beam ON/OFF control signal Q shown in 23 can be obtained.

第6B図はスポツト径制御信号Pを得るための
構成を示しているが、フリツプフロツプ621′
〜624′のデータ入力端子Dに通常ONパター
ン検出信号iが入力されていない点を除いて、第
6A図の構成と同様である。したがつて、フリツ
プフロツプ641′〜644′からの出力信号は、
フリツプフロツプ641〜644のハイ出力信号
のうち通常ONパターン検出信号iに対応するも
の(出力信号18のT3期間、出力信号20のT4
期間、出力信号20のT8期間、出力信号22の
T9期間)を除いたものとなる。したがつて、デ
ータ10に対するスポツト径制御信号Pは、24
に示すような信号となる。
FIG. 6B shows a configuration for obtaining the spot diameter control signal P, in which the flip-flop 621'
The configuration is similar to that of FIG. 6A, except that the normal ON pattern detection signal i is not input to the data input terminal D of ~624'. Therefore, the output signals from flip-flops 641' to 644' are
Among the high output signals of flip-flops 641 to 644, those corresponding to the normal ON pattern detection signal i ( T3 period of output signal 18, T4 period of output signal 20 )
period, T of output signal 20 8 period, of output signal 22
T9 period). Therefore, the spot diameter control signal P for data 10 is 24
The signal will be as shown in .

第9図は、AOMコントロール部8を詳細に示
す回路図である。セレクタ91は、上記スポツト
径制御信号PおよびビームON/OFF制御信号Q
により、下記の表に基づき、スイツチSW1〜
SW3を選択する。
FIG. 9 is a circuit diagram showing the AOM control section 8 in detail. The selector 91 receives the spot diameter control signal P and the beam ON/OFF control signal Q.
Based on the table below, switch SW1~
Select SW3.

P Q SW選択 ハイ ハイ SW1−ON ロー ハイ SW2−ON ロー ロー SW3−ON ハイ ロー SW3−ON SW1がONのときは、増幅器92を通じて正
規(標準)より高い電圧VLがAOMドライバ9に
与えられ、AOM10により制御されるビームの
パワーは大きくなり、露光による焼付けスポツト
径は大となる。SW2がONのときは、増幅器9
3を通じて正規(標準)の電圧VSがAOMドライ
バ9に与えられ、ビームのパワーは正規の状態と
なつて、焼付けスポツト径は正規の大きさとな
る。SW3がONのときはO電圧となり、ビーム
はOFFとなる。したがつて、10のデータの場
合には、AOMドライバ9の入力信号は26に示
すようになり、最終的には25のビーム軌跡が描
かれることになる。
P Q SW selection High High SW1−ON Low High SW2−ON Low Low SW3−ON High Low SW3−ON When SW1 is ON, a voltage V L higher than the normal (standard) voltage is applied to the AOM driver 9 through the amplifier 92. , the power of the beam controlled by the AOM 10 increases, and the diameter of the printing spot due to exposure increases. When SW2 is ON, amplifier 9
3, a regular (standard) voltage V S is applied to the AOM driver 9, the beam power becomes the regular state, and the printing spot diameter becomes the regular size. When SW3 is ON, the voltage is O and the beam is OFF. Therefore, in the case of 10 data, the input signal of the AOM driver 9 becomes as shown in 26, and 25 beam trajectories are finally drawn.

また、第8B図、第8D図のような形成すべき
パターンの傾きが副走査方向に対して傾きが大き
いとき、上述の方法でパターンを形成しても、な
お境界線の一部に凹凸が発生することがあるの
で、更にパターンを滑かに焼付ける方法について
説明する。
Furthermore, when the inclination of the pattern to be formed is large with respect to the sub-scanning direction as shown in FIGS. 8B and 8D, even if the pattern is formed using the above method, there may still be unevenness on a part of the boundary line. Since this may occur, we will explain how to print the pattern smoothly.

第10A図は、第8B図の改良に関するもので
あり、パターン形成時に左端から2本目のライン
(走査線)以外は前述の通り露光する。左端から
2本目のラインについては、前述の露光ビームを
ONするタイミングを前述のタイミングよりT/
2時間早くするとともに、露光ビームの中心が左
端と左端から2本目のラインの中央に位置するよ
うに、AOMに印加する信号の周波数を変え偏向
角をT/2時間のみ制御し、露光ビームの軌跡が
点線で示したようになるよう露光した後、以下は
前述のように露光し、更に凹凸を小さくするもの
である。
FIG. 10A relates to an improvement of FIG. 8B, and when forming a pattern, the lines other than the second line (scanning line) from the left end are exposed as described above. For the second line from the left end, use the exposure beam described above.
The timing to turn on is T/ from the timing mentioned above.
At the same time, the frequency of the signal applied to the AOM is changed and the deflection angle is controlled only by T/2 hours so that the center of the exposure beam is located between the left end and the second line from the left end. After exposure is performed so that the locus is as shown by the dotted line, subsequent exposure is performed as described above to further reduce the unevenness.

同様に、第10B図は、第8D図の改良に関す
るものであり、パターン形成時に左端から2本目
のライン以外は前述の通り露光する。左端から2
本目のラインについては、前述の露光ビームを
ONするタイミングを前述のタイミングよりT時
間早くするとともに、露光ビームの中心が左端と
左端から2本目のラインの中央に位置するよう
に、AOMに印加する信号の周波数を変え偏向角
をT時間のみ制御し、露光ビームの軌跡が点線で
示したようになるよう露光した後、以下は前述の
ように露光し、更に凹凸を小さくするものであ
る。
Similarly, FIG. 10B relates to an improvement on FIG. 8D, and when forming a pattern, the lines other than the second line from the left end are exposed as described above. 2 from the left
For the main line, use the exposure beam described above.
In addition to setting the timing to turn on T hours earlier than the above-mentioned timing, the frequency of the signal applied to the AOM is changed so that the center of the exposure beam is located between the left end and the second line from the left end, and the deflection angle is changed only by T time. After controlling and exposing so that the locus of the exposure beam becomes as shown by the dotted line, the following exposure is performed as described above to further reduce the unevenness.

以上は、パターン形成のON側に適用した例で
あるが、このような手段はパターンの形成の
OFF側にも適用できる。
The above is an example of applying it to the ON side of pattern formation, but such means can also be applied to the ON side of pattern formation.
It can also be applied to the OFF side.

なお、上述の説明におけるパターン判別および
焼付けスポツト径の制御ならびに露光のタイミン
グ制御を計算機を用いたソフトウエアにより行な
うことも可能であり、また焼付けスポツト径の変
化は、ビームパワーの変化によることなく、ズー
ムレンズを用いるなどして光学的に行なうことも
可能である。
Note that it is also possible to perform pattern discrimination, control of the printing spot diameter, and exposure timing control in the above explanation using software using a computer, and changes in the printing spot diameter can be made without changing the beam power. It is also possible to perform this optically using a zoom lens or the like.

さらに、上述の説明では1本ビームによる焼付
けについて述べたが、マルチビームによる焼付け
にこの発明を適用する場合は、各チヤネル毎に上
述のような制御回路を設ければよい。
Further, although the above description has been made regarding printing using a single beam, when the present invention is applied to printing using multiple beams, a control circuit as described above may be provided for each channel.

(発明の効果) 以上説明したように、この発明によれば、主走
査方向と交差するパターン境界線の傾き角を検出
してその角度に応じて焼付けスポツト径を増大さ
せるようにしているので、ラスタースキヤン方式
の露光記録を行なう場合に、主走査方向と交差す
るパターン境界線を滑らかに焼付けることがで
き、特にPWBパターンの焼付けに有効であると
ともに、焼付けられたPWBパターンの寸法精度
の向上を図ることができる。また、製版用精密露
光機などにおいても文字とか画像などのエツジの
品質および寸法精度の向上を図ることができる。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the inclination angle of the pattern boundary line intersecting the main scanning direction is detected and the printing spot diameter is increased in accordance with the detected angle. When performing exposure recording using the raster scan method, pattern boundaries that intersect with the main scanning direction can be printed smoothly, which is particularly effective for printing PWB patterns, and improves the dimensional accuracy of printed PWB patterns. can be achieved. Furthermore, the quality and dimensional accuracy of edges such as characters and images can be improved in precision exposure machines for plate making and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明による露光ビーム制御方法の
一実施例を示すブロツク図、第2図は第1図の動
作を示すタイミングチヤート、第3図は読出し/
書込み制御信号の作成回路の一例を示す回路図、
第4図は判別パターンを示す説明図、第5A図お
よび第5B図はゲートを利用したパターン判別回
路の一例を示す回路図、第6A図および第6B図
はビーム制御信号作成部の一構成例を示す回路
図、第7図は第6A図および第6B図の動作を示
すタイミングチヤート、第8A図、第8B図、第
8C図および第8D図は露光タイミング補正の説
明図、第9図はAOMコントロール部を詳細に示
す回路図、第10A図および第10B図はそれぞ
れ第8B図および第8D図を更に滑らかに焼付け
るため露光タイミング補正に加え露光ビームの位
置を所望時間だけ移動させた場合の説明図、第1
1図はこの発明による焼付けスポツト径の制御の
説明図、第12図はPWB配線パターンの説明図、
第13図は従来のラスタースキヤン方式による焼
付けの説明図である。 1……計算機、2……ラインメモリ、3……メ
モリアドレス制御部、4……ロータリエンコー
ダ、5……シフトレジスタ、6……パターン判別
回路、7……ビーム制御信号作成部、8……
AOMコントロール部、9……AOMドライバ、
10……AOM。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the exposure beam control method according to the present invention, FIG. 2 is a timing chart showing the operation of FIG. 1, and FIG.
A circuit diagram showing an example of a write control signal generation circuit,
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a discrimination pattern, FIGS. 5A and 5B are circuit diagrams showing an example of a pattern discrimination circuit using gates, and FIGS. 6A and 6B are an example of the configuration of a beam control signal generation section. 7 is a timing chart showing the operation of FIGS. 6A and 6B, FIGS. 8A, 8B, 8C and 8D are explanatory diagrams of exposure timing correction, and FIG. 9 is a timing chart showing the operation of FIGS. 6A and 6B. The detailed circuit diagrams of the AOM control section, Figures 10A and 10B, are the same as Figures 8B and 8D, respectively. In order to print even more smoothly, in addition to correcting the exposure timing, the position of the exposure beam is moved by the desired amount of time. Explanatory diagram, 1st
Fig. 1 is an explanatory diagram of the control of the burning spot diameter according to the present invention, Fig. 12 is an explanatory diagram of the PWB wiring pattern,
FIG. 13 is an explanatory diagram of printing using the conventional raster scan method. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Computer, 2... Line memory, 3... Memory address control section, 4... Rotary encoder, 5... Shift register, 6... Pattern discrimination circuit, 7... Beam control signal generation section, 8...
AOM control section, 9...AOM driver,
10...AOM.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 与えられたドツトパターンデータにしたがつ
て露光ビームをON/OFF制御しつつ主・副走査
を行ない、所望のパターンを感光材料上に焼付け
るラスタースキヤン方式の露光記録において、主
走査方向と交差するパターン境界線の傾き角を検
出し、検出した傾き角に応じて少なくともその境
界部分において露光ビームによる焼付けスポツト
径を増大させるように制御を行なうようにしたこ
とを特徴とする、露光ビーム制御方法。 2 焼付けスポツト径の制御と同時に露光タイミ
ングを制御する、特許請求の範囲第1項記載の露
光ビーム制御方法。 3 主走査方向のパターン境界線の左右両端以外
の焼付けスポツトについてスポツト径の制御を行
なう、特許請求の範囲第1項記載の露光ビーム制
御方法。 4 複数の所望の露光ビームの焼付けスポツト径
の制御を同時に行ない、マルチビームで露光す
る、特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれ
かに記載の露光ビーム制御方法。 5 主走査方向と交差するパターン境界線の焼付
けスポツトについて露光ビームの位置を移動させ
る、特許請求の範囲第1項記載の露光ビーム制御
方法。 6 焼付けスポツト径の制御はビームの強さを変
化させることによつて行なう、特許請求の範囲第
1項ないし第5項のいずれかに記載の露光ビーム
制御方法。
[Claims] 1. In exposure recording using a raster scan method in which a desired pattern is printed on a photosensitive material by performing main and sub-scanning while controlling ON/OFF of an exposure beam according to given dot pattern data. , the inclination angle of the pattern boundary line intersecting the main scanning direction is detected, and control is performed to increase the diameter of the printing spot by the exposure beam in at least the boundary portion in accordance with the detected inclination angle. , an exposure beam control method. 2. The exposure beam control method according to claim 1, wherein the exposure timing is controlled at the same time as the printing spot diameter is controlled. 3. The exposure beam control method according to claim 1, wherein the diameter of the printing spots other than the left and right ends of the pattern boundary line in the main scanning direction is controlled. 4. The exposure beam control method according to any one of claims 1 to 3, wherein the printing spot diameters of a plurality of desired exposure beams are controlled simultaneously and exposure is performed using multiple beams. 5. The exposure beam control method according to claim 1, wherein the position of the exposure beam is moved with respect to a printing spot on a pattern boundary line intersecting the main scanning direction. 6. The exposure beam control method according to any one of claims 1 to 5, wherein the printing spot diameter is controlled by changing the beam intensity.
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