JPH025231A - Optical pickup device - Google Patents
Optical pickup deviceInfo
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- JPH025231A JPH025231A JP63157253A JP15725388A JPH025231A JP H025231 A JPH025231 A JP H025231A JP 63157253 A JP63157253 A JP 63157253A JP 15725388 A JP15725388 A JP 15725388A JP H025231 A JPH025231 A JP H025231A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、コンパクトディスクプレーヤや光ビデオディ
スクプレーヤ等に用いられる光ピックアップ装置に関す
るものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an optical pickup device used in compact disc players, optical video disc players, and the like.
コンパクトディスクプレーヤ等に用いられる光ピックア
ップ装置において、回折素子を利用することにより光学
系の部品点数を削減する技術が従来より開発されている
。2. Description of the Related Art In optical pickup devices used in compact disc players and the like, techniques have been developed to reduce the number of parts in an optical system by using a diffraction element.
このような従来の光ピンクアンプ装置は、例えば第3図
に示すように、記録担体16による情報の再生を行うた
めに、レーザ光源となる半導体レーザ11と、回折素子
12・13と、コリメートレンズ14と、対物レンズ1
5と、受光素子17とを備えている。For example, as shown in FIG. 3, such a conventional optical pink amplifier device includes a semiconductor laser 11 serving as a laser light source, diffraction elements 12 and 13, and a collimating lens in order to reproduce information using a record carrier 16. 14 and objective lens 1
5 and a light receiving element 17.
受光素子17は、半導体レーザ11の側方に配置され、
第4図に示すように6つの受光部17a〜17fからな
る。このうち、受光部17a〜17dは、再生信号およ
びフォーカス誤差信号を検出し、また受光部17e・1
7fは、トラッキング誤差信号を検出する。The light receiving element 17 is arranged on the side of the semiconductor laser 11,
As shown in FIG. 4, it consists of six light receiving sections 17a to 17f. Among these, the light receiving sections 17a to 17d detect reproduction signals and focus error signals, and the light receiving sections 17e and 17d detect playback signals and focus error signals.
7f detects a tracking error signal.
半導体レーザ11から出射されたレーザ光は、回折素子
12によって回折され、3スポット法における再生信号
およびフォーカス誤差信号を検出するためのメインビー
ムと、トラッキング誤差信号を検出するための2つのサ
ブビームとに分離される。この分離された3つのレーザ
光は、回折素子13によってさらに回折され、コリメー
トレンズ14を通過し、対物レンズ15によって記録担
体16上に集光される。このとき、メインビームは、記
録担体16上のピットに集光され、サブビームは、メイ
ンビームが集光されたピントのトラック方向に沿った前
後位置に集光される。The laser beam emitted from the semiconductor laser 11 is diffracted by the diffraction element 12, and is divided into a main beam for detecting a reproduction signal and a focus error signal in the three-spot method, and two sub-beams for detecting a tracking error signal. separated. The three separated laser beams are further diffracted by the diffraction element 13, pass through the collimator lens 14, and are focused onto the record carrier 16 by the objective lens 15. At this time, the main beam is focused on a pit on the record carrier 16, and the sub-beam is focused on the front and rear positions along the track direction of the focal point where the main beam is focused.
メインビームおよびサブビームは、記録担体工6上に集
光されると同時に反射され、対物レンズ15およびコリ
メートレンズ14を通過し、回折素子13によって回折
される。そして、メインビームは、受光部17a〜17
dに集光され、2つのサブビームは、受光部17e−1
7fに集光される。受光部17e・17fは、受光した
光の光量に応じて出力するが、その出力信号を5e−8
fとすると、トラッキング誤差信号は(Se−3f)の
演算によって検出される。The main beam and the sub-beams are reflected onto the record carrier 6 at the same time, pass through the objective lens 15 and the collimating lens 14, and are diffracted by the diffraction element 13. The main beam is transmitted through the light receiving sections 17a to 17.
The two sub-beams are focused on the light receiving section 17e-1.
The light is focused on 7f. The light receiving units 17e and 17f output signals according to the amount of light received, and the output signals are
When f is the tracking error signal, the tracking error signal is detected by the calculation of (Se-3f).
3スポット法に基づいて正しくトラッキングされている
ときは、受光部L7e・17fに入射する光量が等しく
なり、両受光上記出力信号Se・Sfも等しくなるので
トラッキング誤差信号は0となる。逆に、トラッキング
が正しく行われていないときは、受光部17e・17f
に入射する光量が異なり、出力信号5e−5fも異なる
ので、トラッキング誤差信号がOにならない。このとき
は、トラッキング誤差信号がOになるようにトラッキン
グを行う。When tracking is performed correctly based on the three-spot method, the amounts of light incident on the light receiving sections L7e and 17f are equal, and the output signals Se and Sf for both light receptions are also equal, so the tracking error signal becomes 0. Conversely, when tracking is not performed correctly, the light receiving sections 17e and 17f
The tracking error signal does not become O because the amount of light incident on the two is different and the output signals 5e-5f are also different. At this time, tracking is performed so that the tracking error signal becomes O.
ところで、光ピツクアンプ装置のレーザ光源から出射さ
れるレーザ光の遠視野像は、第5図に示すように、光軸
を中心として光軸に直交しPN接合面11bに平行な方
向の短径と、これに直交する方向の長径とを有する楕円
形であるため、記録担体16上に集光されるレーザ光も
楕円形となる。このとき、半導体レーザ11に対して受
光素子17が設置される位置に応じて記録担体16上に
集光される°光スポットの状態が異なる。By the way, as shown in FIG. 5, the far-field image of the laser light emitted from the laser light source of the optical pickup device is centered on the optical axis and has a short axis in a direction perpendicular to the optical axis and parallel to the PN junction surface 11b. , and the major axis in a direction perpendicular to these, the laser beam focused on the record carrier 16 also has an elliptical shape. At this time, the state of the light spot focused on the record carrier 16 differs depending on the position where the light receiving element 17 is installed with respect to the semiconductor laser 11.
例えば、受光素子17を、半導体レーザ110PN接合
面11bと、発光点11aおよび受光素子17の中心を
結ぶ直線とのなす角をθとすると、この角度θが00あ
るいは180@となる位置に受光素子17が設置された
場合、記録担体16に集光される光スポットは、トラッ
ク方向(ピット列方向)に対して直交する方向に長い楕
円形となり、光スポットが隣のトランクにかかるため、
誤ったトラッキング誤差信号を検出するおそれがある。For example, if the angle between the semiconductor laser 110PN junction surface 11b and the straight line connecting the light emitting point 11a and the center of the light receiving element 17 is θ, the light receiving element 17 is located at a position where this angle θ is 00 or 180 @. 17 is installed, the light spot focused on the record carrier 16 becomes an ellipse long in the direction perpendicular to the track direction (pit row direction), and the light spot covers the adjacent trunk.
There is a risk that an incorrect tracking error signal will be detected.
また、上記の角度θが90’あるいは270゜と仏、る
位置に受光素子17が設置された場合、記411u体1
6に集光される光スポットは、トラック方向(ピント列
方向)と同じ方向に長い楕円形となり、ピントの長さを
読み取る分解能が悪化する。このため、受光素子17は
、再生信号の質を考慮して、角度θが90°の整数倍以
外の位置に設置されていた。In addition, when the light receiving element 17 is installed at a position where the above angle θ is 90' or 270°, the 411u body 1
The light spot focused on the lens 6 has an elliptical shape that is elongated in the same direction as the track direction (focus row direction), and the resolution for reading the focus length deteriorates. For this reason, the light receiving element 17 has been installed at a position where the angle θ is not an integral multiple of 90°, taking into account the quality of the reproduced signal.
ところが、上記従来の光ビックアンプ装置では、半導体
レーザ11より出射された光の一部は、回折素子12・
13、光学系を固定する部材、または、それらを保持す
るためのホルダー等によって反射されて、情報の再生等
に無関係ないわゆる迷光となる。特に、回折素子12・
13の反射による迷光は、広範囲に広がるため、その一
部が受光素子17に入射し出力信号として検出されてし
まう。However, in the conventional optical big amplifier device described above, a part of the light emitted from the semiconductor laser 11 is transmitted through the diffraction element 12.
13. The light is reflected by the member that fixes the optical system, the holder for holding them, etc., and becomes so-called stray light that is unrelated to information reproduction, etc. In particular, the diffraction element 12.
Since the stray light reflected by 13 spreads over a wide range, a part of it enters the light receiving element 17 and is detected as an output signal.
この迷光は、第4図に示すように、半導体レーザ11の
出射光と同様に光強度が楕円状に分布しているため、受
光素子17を、角度θが90’の整数倍以外となる位置
に設置すると、受光部17e・17fに入射する迷光量
が異なり、トラッキング誤差信号にオフセットを生じる
。即ち、第4図に示すような受光素子17の配置によれ
ば、正しくトラッキングされているにもかかわらず、受
光部17e17fの出力信号5e−3fは、(Se<S
f)となって、トラッキング誤差信号(Se−3f)は
0にならないため、誤った位置にトラッキングを行うと
いう問題点を有していた。As shown in FIG. 4, the light intensity of this stray light is distributed in an ellipse like the light emitted from the semiconductor laser 11, so the light receiving element 17 is moved to a position where the angle θ is other than an integral multiple of 90'. , the amount of stray light incident on the light receiving sections 17e and 17f will be different, causing an offset in the tracking error signal. That is, according to the arrangement of the light receiving element 17 as shown in FIG.
f) and the tracking error signal (Se-3f) does not become 0, resulting in the problem that tracking is performed at an incorrect position.
また、ピックアップの小型化ならびに軽量化のためには
、半導体レーザ11に受光素子17を近づける必要があ
るが、回折素子12・13による迷光の光強度は、半導
体レーザの出射光と同様にガウス分布をしているため、
半導体レーザに受光素子が近づくほどその影響を受けて
オフセット量が大きくなるという問題点を有していた。Furthermore, in order to make the pickup smaller and lighter, it is necessary to bring the light receiving element 17 closer to the semiconductor laser 11, but the light intensity of the stray light from the diffraction elements 12 and 13 has a Gaussian distribution similar to the light emitted from the semiconductor laser. Because I am doing
The problem has been that the closer the light receiving element is to the semiconductor laser, the greater the amount of offset will be affected by the light receiving element.
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記の課題を解決
するために、レーザ光を出射するレーザ光源と、このレ
ーザ光源から出射された光を記録担体上に収束させるた
めのレンズ系と、記録担体からの反射光を検出する受光
素子と、レーザ光源から記録担体までの光路中に設けら
れ、レーザ光源から出射されたレーザ光を3スポット法
における3方向のレーザ光に分離する回折素子とを備え
た光ピンクアップ装置において、上記受光素子はトラッ
キング誤差を検出する2つの受光部を有し、この2つの
受光部の有効受光面積を互いに異ならせたことを特徴と
している。In order to solve the above problems, an optical pickup device according to the present invention includes a laser light source that emits laser light, a lens system that focuses the light emitted from the laser light source onto a record carrier, and a record carrier. and a diffraction element that is provided in the optical path from the laser light source to the record carrier and separates the laser light emitted from the laser light source into laser light in three directions in the three-spot method. In the optical pink-up device, the light-receiving element has two light-receiving sections for detecting tracking errors, and the two light-receiving sections have different effective light-receiving areas.
上記の構成により、トラッキング誤差を検出する2つの
受光部は、正しくトラッキングが行われているときに不
均一な光強度分布を有する迷光を受光しても、その受光
量が等しくなるように有効受光面積を互いに異ならせて
いるので、トラッキング誤差信号にオフセットを生じる
ことがなく正確なトラッキングを行うことができる。ま
た、受光素子の配置する位置を変更する場合は、その位
置において受光する迷光量を考慮して上記受光部の有効
受光面積を設定すれば良いので、受光素子をレーザ光源
に近づけることができ、光ピックアップ装置の小型化な
らびに軽量化を図ることができる。With the above configuration, the two light receiving sections that detect tracking errors receive effective light so that even if they receive stray light with an uneven light intensity distribution when tracking is performed correctly, the amount of received light is equal. Since the areas are different from each other, accurate tracking can be performed without causing an offset in the tracking error signal. Furthermore, when changing the position of the light receiving element, the effective light receiving area of the light receiving section can be set by considering the amount of stray light received at that position, so the light receiving element can be brought closer to the laser light source. The optical pickup device can be made smaller and lighter.
本発明の一実施例を第1図および第2図に基づいて説明
すれば、以下の通りである。An embodiment of the present invention will be described below based on FIGS. 1 and 2.
第1図に示すように、光ピックアップ装置における半導
体レーザ1の前方には、回折素子2・3、コリメートレ
ンズ4および対物レンズ5が配置され、この半導体レー
ザ1から出射されたレーザ光を記録担体6に導くように
なっている。As shown in FIG. 1, in front of a semiconductor laser 1 in an optical pickup device, diffraction elements 2 and 3, a collimating lens 4, and an objective lens 5 are arranged, and the laser beam emitted from the semiconductor laser 1 is transferred to a record carrier. It is designed to lead to 6.
回折素子2は、半導体レーザ1から出射されたレーザ光
をO次回折光と±1次回折光に分離する。The diffraction element 2 separates the laser beam emitted from the semiconductor laser 1 into O-order diffraction light and ±1st-order diffraction light.
回折素子3は、回折素子2と同様に、レーザ光をO次回
折光と±1次回折光とに分離し、記録担体6からの反射
光に対して非点収差を与えて光軸外の受光素子7へ導く
ようになっている。Similar to the diffraction element 2, the diffraction element 3 separates the laser beam into O-order diffraction light and ±1st-order diffraction light, imparts astigmatism to the reflected light from the record carrier 6, and sends the light receiving element off the optical axis. It is designed to lead to 7.
受光素子7は、半導体レーザ1の側方に配置され、第2
図に示すように6つの受光部7a〜7fからなる。この
うち、受光部7a〜7dは、正方形の受光部が対角線に
よって分割された4つの受光部をなし、記録担体6から
の反射光の光強度によって再生信号およびフォーカス誤
差信号を検出する。また、受光部7e・7fは、それぞ
れ受光部73〜7dの両側に設けられ、記録担体6から
の反射光の光量によってトラッキング誤差信号を検出す
る。この受光部7e・7fは、合トラック時に入射する
光量が等しくなるように有効受光面積を互いに異ならせ
ている。The light receiving element 7 is arranged on the side of the semiconductor laser 1, and the second
As shown in the figure, it consists of six light receiving sections 7a to 7f. Among these, the light receiving sections 7a to 7d form four light receiving sections each having a square shape divided by diagonal lines, and detect a reproduction signal and a focus error signal based on the light intensity of the reflected light from the record carrier 6. Further, the light receiving sections 7e and 7f are provided on both sides of the light receiving sections 73 to 7d, respectively, and detect a tracking error signal based on the amount of reflected light from the record carrier 6. The light receiving sections 7e and 7f have different effective light receiving areas so that the amount of light incident thereon at the time of matching track is equal.
上記の構成において、半導体レーザ1から出射されたレ
ーザ光は、回折素子2によって回折され、3スポット法
における0次回折光(以下メインビーム)と±1次回折
光(以下サブビーム)とに分離される。この分離された
3つのビームは、回折素子3によってさらに回折され、
各ビームのO次回折光がコリメートレンズ4を通過し、
対物レンズ5によって記録担体6上に集光される。In the above configuration, the laser light emitted from the semiconductor laser 1 is diffracted by the diffraction element 2 and separated into 0th-order diffracted light (hereinafter referred to as main beam) and ±1st-order diffracted light (hereinafter referred to as sub-beams) in the three-spot method. These three separated beams are further diffracted by the diffraction element 3,
The O-order diffracted light of each beam passes through the collimating lens 4,
The light is focused onto a record carrier 6 by an objective lens 5.
このとき、メインビームはピット上に集光され、サブビ
ームは、メインビームが集光された位置に対してトラッ
ク方向に大きく、かつラジアル方向に僅かにずれて集光
される。At this time, the main beam is focused on the pit, and the sub-beam is focused largely in the track direction and slightly shifted in the radial direction with respect to the position where the main beam is focused.
メインビームおよびサブビームは、記録担体6に集光さ
れると同時に反射され、対物レンズ5およびコリメート
レンズ4を通過し、回折素子3によって回折され、各ビ
ームの1次回折光が受光素子7に導かれる。メインビー
ムは、受光素子7の受光部7a〜7dに導かれ、これら
受光部7a〜7dを分割する対角線の交点に集光される
一方、サブビーム゛は、受光素子7の受光部7e・7f
に導かれて集光される。The main beam and sub-beams are focused on the record carrier 6 and simultaneously reflected, pass through the objective lens 5 and the collimating lens 4, are diffracted by the diffraction element 3, and the first-order diffracted light of each beam is guided to the light receiving element 7. . The main beam is guided to the light receiving parts 7a to 7d of the light receiving element 7 and is focused at the intersection of the diagonal lines dividing these light receiving parts 7a to 7d, while the sub beams are guided to the light receiving parts 7e and 7f of the light receiving element 7.
The light is guided and focused.
受光部7a〜7dは、受光した光の光量を光電変換して
出力するが、受光部7a〜7fの各出力信号を5a−3
rとすると、フォーカス信号は、非点収差法に基づき(
(Sa+5c)−(Sb+5d))の演算によって検出
される。また、トラッキング誤差信号は、3スポット法
に基づき(Se−3r)の演算によって検出され、さら
に、再生信号は、(Sa+Sb+Sc+Sd)の演算に
よって検出される。The light receiving sections 7a to 7d photoelectrically convert the amount of light received and output the same, and each output signal of the light receiving sections 7a to 7f is converted to a signal 5a to 3.
If r, the focus signal is based on the astigmatism method (
It is detected by the calculation (Sa+5c)-(Sb+5d)). Further, the tracking error signal is detected by the calculation of (Se-3r) based on the three-spot method, and the reproduced signal is further detected by the calculation of (Sa+Sb+Sc+Sd).
3スポット法に基づいて正しくトラッキングが行われて
いる場合は、受光部7e・7fが受光する光量は等しく
なる必要があるが、受光部7e・7fは、記録担体6の
反射光以外に回折素子2・3からの反射光も受光してお
り、この反射光の光強度分布は、第2図に示すように、
楕円状となって均一でないため、受光部7e・7fの再
出力信号に差が生じてトラッキング誤差信号にオフセン
トを生じる。このため、受光素子7が配置された位置に
おいて受光部7e・7fが受光する光の光量が等しくな
るように受光部7e・7fの有効受光面積を互いに異な
らせて、トラッキング誤差信号にオフセットが生じない
ようにしている。When tracking is performed correctly based on the three-spot method, the amount of light received by the light receiving sections 7e and 7f needs to be equal; The reflected light from 2 and 3 is also received, and the light intensity distribution of this reflected light is as shown in Figure 2.
Since it has an elliptical shape and is not uniform, a difference occurs in the re-output signals of the light receiving sections 7e and 7f, causing an offset in the tracking error signal. For this reason, the effective light-receiving areas of the light-receiving parts 7e and 7f are made different from each other so that the amount of light received by the light-receiving parts 7e and 7f is equal at the position where the light-receiving element 7 is arranged, and an offset occurs in the tracking error signal. I try not to.
なお、本実施例においては、フォーカス誤差検出法に非
点収差法を用いているが、本発明はこれに限らず他のフ
ォーカス誤差検出法を用いてもよい。In this embodiment, the astigmatism method is used as the focus error detection method, but the present invention is not limited to this, and other focus error detection methods may be used.
本発明に係る光ピンクアップ装置は、以上のように、レ
ーザ光を出射するレーザ光源と、このレーザ光源から出
射された光を記録担体上に収束させるためのレンズ系と
、記録担体からの反射光を検出する受光素子と、レーザ
光源から記録担体までの光路中に設けられ、レーザ光源
から出射されたレーザ光を3スポット法における3方向
のレーザ光に分離する回折素子とを備えた光ピンクアッ
プ装置において、上記受光素子は、トラッキング誤差を
検出する2つの受光部を存し、この2つの受光部の有効
受光面積を互いに異ならせた構成である。As described above, the optical pink-up device according to the present invention includes a laser light source that emits laser light, a lens system that focuses the light emitted from the laser light source onto a record carrier, and a lens system that focuses the light emitted from the laser light source on a record carrier. Optical pink that includes a light receiving element that detects light and a diffraction element that is provided in the optical path from the laser light source to the record carrier and separates the laser light emitted from the laser light source into laser light in three directions in the three-spot method. In the close-up device, the light-receiving element has two light-receiving sections for detecting tracking errors, and the two light-receiving sections have different effective light-receiving areas.
これにより、トラッキング誤差を検出する2つの受光部
が受光する迷光量は等しくなるので、トラッキング誤差
信号にオフセットが生じなくなる。As a result, the amounts of stray light received by the two light receiving sections that detect the tracking error become equal, so that no offset occurs in the tracking error signal.
したがって、良好なトラッキング誤差信号を得ることが
でき、3スポット法の信頼性を容易に向上できるという
効果を奏する。Therefore, it is possible to obtain a good tracking error signal, and the reliability of the three-spot method can be easily improved.
第1図および第2図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第1図は光ピックアップ装置の構成を示す説明図
、第2図は受光素子の構成および受光素子とレーザ光源
との位置関係を示す説明図である。
第3図ないし第5図は従来例を示すものであって、第3
図は光ピツクアンプ装置の構成を示す説明図、第4図は
受光素子の構成および受光素子とレーザ光源との位置関
係を示す説明図、第5図はレーザ光源の出射光の遠視野
像を示す説明図である。
1は半導体レーザ、2・3は回折素子、4はコリメート
レンズ、5は対物レンズ、7は受光素子、7a〜7fは
受光部である。
第
図
寓
図
第
図
第
図
第
図1 and 2 show an embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is an explanatory diagram showing the configuration of an optical pickup device, and FIG. 2 is an explanatory diagram showing the configuration of a light receiving element and the relationship between the light receiving element and a laser light source. It is an explanatory view showing the positional relationship of. Figures 3 to 5 show conventional examples.
The figure is an explanatory diagram showing the configuration of the optical pick amplifier device, Figure 4 is an explanatory diagram showing the configuration of the light receiving element and the positional relationship between the light receiving element and the laser light source, and Figure 5 is a far field image of the light emitted from the laser light source. It is an explanatory diagram. 1 is a semiconductor laser, 2 and 3 are diffraction elements, 4 is a collimating lens, 5 is an objective lens, 7 is a light receiving element, and 7a to 7f are light receiving sections. Fig. Fig. Fig. Fig. Fig. Fig. Fig.
Claims (1)
から出射された光を記録担体上に収束させるためのレン
ズ系と、記録担体からの反射光を検出する受光素子と、
レーザ光源から記録担体までの光路中に設けられレーザ
光源から出射されたレーザ光を3スポット法における3
方向のレーザ光に分離する回折素子とを備えた光ピック
アップ装置において、上記受光素子は、トラッキング誤
差を検出する2つの受光部を有し、この2つの受光部の
有効受光面積が互いに異なるように形成されていること
を特徴とする光ピックアップ装置。1. A laser light source that emits laser light, a lens system that focuses the light emitted from the laser light source onto a record carrier, and a light receiving element that detects reflected light from the record carrier;
The laser beam provided in the optical path from the laser light source to the record carrier and emitted from the laser light source is
In an optical pickup device including a diffraction element that separates laser beams into directional laser beams, the light receiving element has two light receiving sections for detecting tracking errors, and the effective light receiving areas of the two light receiving sections are different from each other. An optical pickup device characterized in that:
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63157253A JPH0675292B2 (en) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | Optical pickup device |
EP94201533A EP0612064B1 (en) | 1988-06-23 | 1989-06-23 | An optical pickup apparatus |
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