JPH0251390B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0251390B2
JPH0251390B2 JP59215723A JP21572384A JPH0251390B2 JP H0251390 B2 JPH0251390 B2 JP H0251390B2 JP 59215723 A JP59215723 A JP 59215723A JP 21572384 A JP21572384 A JP 21572384A JP H0251390 B2 JPH0251390 B2 JP H0251390B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
marking
mask
reflected
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59215723A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6194793A (en
Inventor
Noboru Morita
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP59215723A priority Critical patent/JPS6194793A/en
Publication of JPS6194793A publication Critical patent/JPS6194793A/en
Publication of JPH0251390B2 publication Critical patent/JPH0251390B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M5/00Duplicating or marking methods; Sheet materials for use therein
    • B41M5/24Ablative recording, e.g. by burning marks; Spark recording

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、マスクに文字や記号等を透孔によ
つて形成し、この透孔を透過するレーザビームに
よつてマーキングするレーザマーキング装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a laser marking device that forms characters, symbols, etc. on a mask through a hole, and marks the mask with a laser beam that passes through the hole.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

TEA CO2レーザ等を用いたレーザマーキング
装置は、一般に第2図に示すように構成されてい
る。すなわち、1はレーザ発振器で、2は出力側
ミラーである。この出力側ミラー2から出力され
たレーザビーム3はマスク4に照射されるように
なつている。このマスク4には第3図に示すよう
に、マーキングすべき文字、記号等が透孔5によ
つて形成され、この透孔5を透過したのち集光レ
ンズからなる結像光学系6によつて被マーキング
面7に結像されるように構成されている。そし
て、マスク4の透孔5がたとえば“A”であれ
ば、第3図の白抜き部分aはレーザビーム3が透
過するが、その他の部分bはレーザビーム3が反
射する。このマスク4はレーザビーム3を吸収し
ない材料、たとえばCO2レーザビームの場合には
銅板で形成されている。したがつて、マスク4の
透孔5を透過するレーザビーム3以外はほぼ同じ
強度で反射されてしまう。(反射光を3aで示す)
これはマスク4が光路8に対して垂直であるため
で、反射光3aは前記レーザ発振器1の出力側ミ
ラー2に戻る。このため、出力側ミラー2がレー
ザビーム3の反射光3aによつて損傷を与える原
因となつている。
A laser marking device using a TEA CO 2 laser or the like is generally configured as shown in FIG. That is, 1 is a laser oscillator, and 2 is an output side mirror. A laser beam 3 output from the output side mirror 2 is irradiated onto a mask 4. As shown in FIG. 3, characters, symbols, etc. to be marked are formed on this mask 4 through a through hole 5, and after passing through the through hole 5, an image forming optical system 6 consisting of a condenser lens is formed. The image is formed on the surface 7 to be marked. If the through hole 5 of the mask 4 is, for example, "A", the laser beam 3 will pass through the white portion a in FIG. 3, but will be reflected from the other portion b. This mask 4 is made of a material that does not absorb the laser beam 3, for example a copper plate in the case of a CO 2 laser beam. Therefore, all beams other than the laser beam 3 that passes through the through hole 5 of the mask 4 are reflected with substantially the same intensity. (Reflected light is shown by 3a)
This is because the mask 4 is perpendicular to the optical path 8, and the reflected light 3a returns to the output side mirror 2 of the laser oscillator 1. Therefore, the output side mirror 2 is damaged by the reflected light 3a of the laser beam 3.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は、前記事情に着目してなされたもの
で、その目的とするところは、レーザビームの光
路に設置されたマスクからの反射レーザビームに
よるレーザ発振器の損傷を防止するとともに、そ
の反射レーザビームを有効に利用してマーキング
できるレーザマーキング装置を提供することにあ
る。
This invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to prevent damage to a laser oscillator caused by the reflected laser beam from a mask installed in the optical path of the laser beam, and to prevent the reflected laser beam from damaging the laser oscillator. It is an object of the present invention to provide a laser marking device that can mark by effectively utilizing the laser marking device.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この発明は、前記目的を達成するために、レー
ザビームの光路にこのレーザビームに対して傾斜
する第1のマーキング用マスクを設けるととも
に、この第1のマーキング用マスクから反射する
反射レーザビームの反射光路にこの反射レーザビ
ームに対して傾斜する第2のマーキング用マスク
を設け、反射レーザビームを有効に利用すること
にある。
In order to achieve the above object, the present invention provides a first marking mask that is inclined with respect to the laser beam in the optical path of the laser beam, and also provides reflection of the reflected laser beam reflected from the first marking mask. A second marking mask that is inclined with respect to the reflected laser beam is provided in the optical path to effectively utilize the reflected laser beam.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説
明するが、レーザマーキング装置の基本的構成
は、従来と同一であるため同一番号を付して説明
を省略する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on the drawings, but since the basic configuration of the laser marking device is the same as that of the conventional one, the same reference numerals will be given and the explanation will be omitted.

第1図および第2図中、11は第1のマーキン
グ用マスクであり、このマーキング用マスク11
にはマーキングしようとする文字、記号などが透
孔12によつて形成されている。そして、この第
1のマーキング用マスク11はレーザビーム3に
対して傾斜(角度Θ1)しており、第1のマーキ
ング用マスク11の透孔12を透過せずに反射さ
れた反射レーザビーム13は前記レーザビーム3
の光路8から外れるようになつている。そして、
この反射レーザビーム13の反射光路14にはこ
の反射レーザビーム13に対して傾斜(角度Θ2
して第2のマーキング用マスク15が配置されて
いる。この第2のマーキング用マスク15にはマ
ーキングしようとする文字、記号などが透孔16
によつて形成されている。さらに、この第2のマ
ーキング用マスク15の透孔16を透過した反射
レーザビーム13は集光レンズからなる結像光学
系17を介して第2の被マーキング面18に結像
されるように構成されている。
In FIGS. 1 and 2, 11 is a first marking mask, and this marking mask 11
Characters, symbols, etc. to be marked are formed in the through holes 12. The first marking mask 11 is inclined (angle Θ 1 ) with respect to the laser beam 3, and the reflected laser beam 13 is reflected without passing through the through hole 12 of the first marking mask 11. is the laser beam 3
It is arranged so that it deviates from the optical path 8 of. and,
The reflected optical path 14 of this reflected laser beam 13 has an angle (angle Θ 2 ) with respect to this reflected laser beam 13.
A second marking mask 15 is arranged. This second marking mask 15 has through holes 16 where characters, symbols, etc. to be marked are placed.
It is formed by. Further, the reflected laser beam 13 transmitted through the through hole 16 of the second marking mask 15 is configured to be imaged onto the second marking surface 18 via an imaging optical system 17 consisting of a condenser lens. has been done.

しかして、レーザ発振器1から発振されたレー
ザビーム3は出力側ミラー2から第1のマーキン
グ用マスク11に照射される。この第1のマーキ
ング用マスク11には文字、記号などの透孔12
が穿設されているため、レーザビーム3の一部は
透孔12を透過し、さらに結像光学系6を介して
第1の被マーキング面7に結像される。したがつ
て、第1の被マーキング面7には前記第1のマー
キング用マスク11の透孔12によつて得られた
マークが形成される。このとき、前記第1のマー
キング用マスク11に照射されたレーザビーム3
の一部、つまり透孔12から外れたレーザビーム
3は第1のマーキング用マスク11によつて反射
され、この反射レーザビーム13は第2のマーキ
ング用マスク15に照射される。反射レーザビー
ム13はレーザビーム3の広がりの不均一性およ
びマーキング用マスク11の表面粗さや平面度お
よび透孔5の幅がレーザビーム3の大きさと比較
して極めて小さいこと(1/40以下)などの原因
からマーキング用マスク15に到達するまでにそ
の強度分布が均一なレーザビームとなつている。
この第2のマーキング用マスク15にも透孔16
が穿設されているため、反射レーザビーム13の
一部は透孔16を透過し、さらに結像光学系17
を介して第2の被マーキング面18に結像され
る。
Thus, the laser beam 3 oscillated from the laser oscillator 1 is irradiated onto the first marking mask 11 from the output side mirror 2. This first marking mask 11 has through holes 12 for characters, symbols, etc.
, a portion of the laser beam 3 passes through the through hole 12 and is further imaged on the first marking surface 7 via the imaging optical system 6 . Therefore, a mark obtained by the through hole 12 of the first marking mask 11 is formed on the first marking surface 7 . At this time, the laser beam 3 irradiated onto the first marking mask 11
A part of the laser beam 3 that has come off the through hole 12 is reflected by the first marking mask 11, and this reflected laser beam 13 is irradiated onto the second marking mask 15. The reflected laser beam 13 has non-uniform spread of the laser beam 3, and the surface roughness and flatness of the marking mask 11 and the width of the through hole 5 are extremely small (1/40 or less) compared to the size of the laser beam 3. Due to these reasons, the laser beam has a uniform intensity distribution by the time it reaches the marking mask 15.
This second marking mask 15 also has through holes 16.
Since a hole is provided, a part of the reflected laser beam 13 passes through the through hole 16 and further passes through the imaging optical system 17.
The image is formed on the second marking surface 18 via.

したがつて、第1のマーキング用マスク11に
よつて反射された反射レーザビーム13がレーザ
発振器1の出力側ミラー2に戻ることはなく、出
力側ミラー2の損傷を未然に防止することができ
るとともに、その反射レーザビーム13によつて
別の被マーキング面18にマーキングすることが
でき、2ケ所で同時にマーキングが可能となり、
レーザビームを有効に利用できる。
Therefore, the reflected laser beam 13 reflected by the first marking mask 11 does not return to the output side mirror 2 of the laser oscillator 1, and damage to the output side mirror 2 can be prevented. At the same time, another marking target surface 18 can be marked with the reflected laser beam 13, and marking can be performed at two places simultaneously.
Laser beams can be used effectively.

なお、前記一実施例においては、第1のマーキ
ング用マスク11の反射レーザビーム13を第2
のマーキング用マスク15に照射し、第2の被マ
ーキング面18に結像するようにしたが、第2の
マーキング用マスク15の反射レーザビームを利
用して第3のマーキングを行なうこともできる。
In the above embodiment, the reflected laser beam 13 of the first marking mask 11 is
Although the laser beam is irradiated onto the marking mask 15 and is imaged onto the second marking surface 18, the third marking can also be performed using the reflected laser beam from the second marking mask 15.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、この発明によれば、レー
ザビームの光路にこのレーザビームに対して傾斜
する第1のマーキング用マスクを設けるととも
に、この第1のマーキング用マスクから反射する
反射レーザビームの反射光路にこの反射レーザビ
ームに対して傾斜する第2のマーキング用マスク
を設けたから、反射レーザビームによるレーザ発
振器の損傷を未然に防止することができるととも
に、反射レーザビームによつて第2のマーキング
が同時に行なえ、レーザビームを有効に利用する
ことができるという効果を奏する。
As explained above, according to the present invention, the first marking mask that is inclined with respect to the laser beam is provided in the optical path of the laser beam, and the reflected laser beam that is reflected from the first marking mask is reflected. Since the second marking mask that is inclined with respect to the reflected laser beam is provided in the optical path, it is possible to prevent the laser oscillator from being damaged by the reflected laser beam, and also to prevent the second marking from being caused by the reflected laser beam. This can be done simultaneously and the laser beam can be used effectively.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示すレーザマー
キング装置全体の構成図、第2図は従来のレーザ
マーキング装置の構成図、第3図はマスクの正面
図である。 1……レーザ発振器、3……レーザビーム、
6,17……結像光学系、7,18……被マーキ
ング面、8,14……光路、11……第1のマー
キング用マスク、12……透孔、13……反射レ
ーザビーム、15……第2のマーキング用マス
ク。
FIG. 1 is a block diagram of an entire laser marking device showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a conventional laser marking device, and FIG. 3 is a front view of a mask. 1... Laser oscillator, 3... Laser beam,
6, 17... Imaging optical system, 7, 18... Surface to be marked, 8, 14... Optical path, 11... First marking mask, 12... Through hole, 13... Reflected laser beam, 15 ...Second marking mask.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 レーザ発振器から発振されたレーザビームを
光路に設置したマスクの透孔から透過したのち結
像光学系によつて被マーキング面に結像するレー
ザマーキング装置において、前記レーザビームの
光路にこのレーザビームに対して傾斜して設けら
れ第1の被マーキング面に結像される透孔を有す
る第1のマーキング用マスクと、この第1のマー
キング用マスクの透孔から外れたレーザビームが
反射する反射レーザビームの反射光路にこの反射
レーザビームに対して傾斜して設けられ第2の被
マーキング面に結像される透孔を有する第2のマ
ーキング用マスクとを具備したことを特徴とする
レーザマーキング装置。
1 In a laser marking device in which a laser beam oscillated from a laser oscillator is transmitted through a hole in a mask installed in the optical path and then imaged on the surface to be marked by an imaging optical system, this laser beam is placed in the optical path of the laser beam. a first marking mask having a through hole which is provided at an angle with respect to the first marking target surface and which is imaged on the first marking surface; and a laser beam reflected from the through hole of the first marking mask. Laser marking characterized by comprising a second marking mask having a through hole provided in the reflected optical path of the laser beam at an angle with respect to the reflected laser beam and whose image is focused on the second marking surface. Device.
JP59215723A 1984-10-15 1984-10-15 Laser marking device Granted JPS6194793A (en)

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JP59215723A JPS6194793A (en) 1984-10-15 1984-10-15 Laser marking device

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JPS6194793A JPS6194793A (en) 1986-05-13
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ID=16677111

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JPS58162348A (en) * 1982-03-23 1983-09-27 Toshiba Corp Laser printing device

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JPS6194793A (en) 1986-05-13

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