JPH02504555A - レーダー雑音検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 レーダー雑音検査装置 １、　発明の分野 この発明はラジオ周波数信号に存在する雑音を測定する装置、特に、レーダー信 号に存在するランダム位相雑音を測定するレーダー雑音検査装置に関する。

２、　発明の背景 ラジオ周波数エネルギーを生成する発振器は、熱雑音、散弾雑音、フリッカ−雑 音を含む側波帯雑音を一般に生成する。

側波帯雑音はランダムであり、位相雑音と呼ばれる。

ラジオ周波数信号源に存在する位相雑音は、周波数変換、デジタル通信、アナロ グ通信などを含む幾つかの応用にとって重大率である。

位相雑音は、レーダー装置、特に、反射エコーの僅がな周波数偏倚を測定して標 的の速度を決定するドツプラーレーダー装置にとっても大きな関心事である。こ の周波数偏倚の測定に非相関技術（ｄｅｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ　ｔｅｃｈｎｌ ｑｕｅｓ）を用いると、標的信号は位相雑音により部分的に又は完全にマスクさ れてしまうことがある。

特定のシステムにより発生される位相雑音の量を最小にするには、位相雑音を測 定できると非常に有利である。このために、位相雑音を正確に測定できる装備が 必要である。

最も直接的な技術は、発振器のパワースペクトル密度を直接に測定する装置であ るスペクトル分析器に検査信号を接続することである。しかしながら、この方法 はダイナミックレンジ、スペクトル分析器の分解能、スペクトル分析器自体が発 生する位相雑音により制限されている。更に、この方法では周波数が搬送信号に 近い位相雑音を正確に測定することは難しい。

また、検査中の信号を中間周波数に下方変換する時間領域技術がある。中間周波 数信号を繰り返し測定するために高分解能周波数カウンタが用いられる。測定間 の周波数の相違は、位相雑音の量の計算に用いられる。

しかしながら、時間領域技術は周波数が搬送周波数とは実・　　　質的に異なる 位相雑音の測定には向いていない。また、この技術では周波数がフラットである かゆっくりと減少している位相雑音を測定することは難しい。

別の技術として、位相雑音が存在する搬送波を変調する技術がある。しかしなが ら、この技術は複雑な位相固定回路が必要である。更に、周波数が一定でない信 号源の場合には旨く作動しない。

更に別の技術として、周波数弁別器を用いるものがある。

この技術では、遅延ライン、位相器、検出器を用いてラジオ周波数信号源に存在 する位相雑音を非相関（ｄｅｃｏｒｒｅｌａｔｅ）にする。この技術では、位相 雑音はスペクトル分析器で都合よく測定することのできる基本帯域信号に変換さ れる。

周波数弁別器を用いる技術の一つの基本的問題点は、遅延素子による制約を受け ることである。

例えば、遅延素子として導波管が用いられた場合、１０マイクロセカンドもの長 さに亙って遅延させることは難しい。

同軸ケーブルを長くすれば遅延時間を長くすることができるが、損失が多くなる ので、レベルの低い雑音の測定が難しくなる。更に、同軸ケーブルは一般にかさ 張るので、遅延の長さを変更したくてもなかなかケーブルを変更することができ ない。

別の技術は、検査信号を低周波数と混合して、低混合周波数信号をデジタル、石 英、又は表面音響波（ＳＡＷ）の遅延ラインを介して伝送するものである。しか しながら、この技術は複雑な同期回路が必要であり、しばしば歪みが生じるので 好ましくなく、シかもかさ張る。

更に別の技術は遅延素子として空洞共振器を用いている。

しかしながら、この装置は低レベルの雑音の検出にも非常に高いＱが必要である 。残念ながら、高Ｑ共振器は非常に高価であり、振動に弱い。所望の周波数領域 にマツチさせるには機械的に調節しなければならない。

要するに、低レベルの位相雑音、特に、周波数が搬送周波数に近い位相雑音を正 確に測定することのできる雑音検査装置が依然として必要であるということであ る。

発明の要約 この発明の一つの目的は、先行技術の有する上記及びその他の種々の問題点を解 決することである。

この発明の別の目的は、周波数が信号搬送波周波数に近い雑音を含む低レベルの 位相雑音を正確に測定できる簡単で安価な雑音検査装置を提供することである。

この発明の更に別の目的は、非常に広い帯域の周波数応答を有するレーダー雑音 検査装置を提供することである。

この発明の更に別の目的は、高効率であり、損失が主に遅延装置の長さの関数で はないレーダー雑音検査装置を提供することである。

この発明の更に別の目的は、検査対象である信号を損失無く少なくとも１０マイ クロセカンドだけ遅延させることのできるレーダー雑音検査装置を提供すること である。

この発明の以上の目的及び他の目的は、遅延ライン弁別器の遅延ラインにファイ バーオプティックケーブルを用いることにより達成される。即ち、レーザー光を 生成し、これをラジオ周波数検査信号により変調し、適切に遅延させるファイバ ーオプティックケーブルを介して伝達する。次に、遅延された変調レーザー光を 復調して、遅延されたレーダー信号を抽出してこれを更に処理するというもので ある。

較正信号を注入するための改善された技術も併せて開示する。

この発明の以上の及び他の目的、要件、長所は、以下の詳細な説明及び添付図面 を検討することにより明らかになる。

図面の簡単な説明 第１図は、この発明の好ましい実施例のブロック図、第２図は、レーザー光及び 間接変調技術を用いている第１図に示したファイバーオプティック遅延ラインシ ステムの絵画図、 第３図は、レーザー光を直接に変調する回路を示す概略図、第４図は、第２図に 示した光学的検出器を作動させてレーザー光を復調する回路を示す概略図、そし て第５図は、第１図に示した較正信号源を生成して注入する別の技術の概略図で ある。

好ましい実施例の詳細な説明 第１図はこの発明の好ましい実施例のブロック図である。

第１図に見られるように、レーダ発振機から出力される連続波などの検査信号は 、パワーディバイダ１に注入されて２つの成分に分割される。

パワーディバイダ１により得られた成分の一方は、ファイバーオブティクス遅延 ラインシステム２に供給されて所定時間だけ遅延される。

パワーディバイダ１により得られたの他方の成分は、典型的にはフェライト装置 である調整可能な位相器３に供給されて、調整可能な量だけ位相がシフトされる 。

ファイバーオブティクス遅延ラインシステム２により得られる遅延信号、及び調 整可能な位相器３により得られる位相がシフトされている信号は、共に混合機４ に供給される。混合ｔａ４の出力は、低雑音増幅器５により増幅されて、波形分 析器６により表示される。

調整可能な位相器３は、混合機４に供給されるラジオ周波数信号の位相がファイ バーオプティクス遅延ラインシステム２から混合機４に供給されるラジオ周波数 信号の位相に対して９０度ずれる・ように検査信号毎に調整される。このように 調整されると、ラジオ周波数入力信号に雑音がないときに、混合機４は位相検出 器として機能して、安定した状態の直流電流を出力する。

ラジオ周波数入力信号に雑音があるときには、雑音は先に調整可能な位相器３か ら混合機４に到着し、次にファイバーオブティクス遅延ラインシステム２から同 混合機に到着する。

この結果、位相が相対的に異なる両信号が混合機４に供給されることになる。こ の相違は直流電流の振幅の変化として混合機４の出力に反映される。

即ち、以上に述べたシステムでは、入力ラジオ周波数信号に存在する位相雑音が 非相関にされ、非相関にされた位相雑音が混合機４の直流電流出力の振幅の変化 として生成される。

これがどのように機能するかをより良く理解するために、１９８６年７月の刊行 物マイクロウエイブシステムズ・ニュース・アンド・コミュニケーション・テク ノロジー（第１６巻第７号）に掲載されているマイクロ波システムの位相雑音及 びその影響を参照されたい。

言うまでもなく低雑音増幅器５は抽出された位相雑音を増幅して、分析のために 波形分析器６に供給するだけである。

波形分析器６の典型はスペクトルアナライザーであり、位相雑音の周波数分布及 び分布の各部分の相対的振幅を図式に表示する。

定量分析は、ラジオ周波数入力信号の振幅に対する位相雑音の振幅を較正信号源 ７を用いて判定することによりなされる。

較正信号源７は、ラジオ周波数入力信号の大きさに対して大きさが正確に分かっ ている非常に低いレベルの、典型的には、６０ｄｂ以下の、雑音側帯域を生成す る発振器である。

この技術分野では公知のように、較正信号源７は入力検査信号を抽出し、抽出し た信号の位相を９０°ずらし、位相をずらした抽出信号を予想周波数の範囲内の 低周波数信号と混合して較正信号を生成する。予想周波数により位相雑音がテス ト搬送波からずらされる。混合された信号は、入力信号の振幅に対して公知の量 だけ減衰されて、カップラー８を介してパワーディバイダー１に供給される。

較正信号はシステムにより位相雑音として解釈されて波形分析器に表示される。

検査信号に対する較正信号の大きさは正確に分かっているので、波形分析器に表 示される真実の位相雑音の大きさも容易に算出することができる。真実の位相雑 音の大きさは、較正源信号７の公知の大きさに（特定の表示された周波数帯域の ）位相雑音の表示された高さと較正信号の表示された高さとの比を掛けたもので あるに過ぎない。

第２図は、レーザー光及び間接変調技術を用いた第１図のファイバーオブティク ス遅延ラインシステム２の絵画図である。

ファイバーオブティクス遅延ラインシステム２は発光ダイオード２３を有してい る。発光ダイオードは公知のように電流が通過すると光を発する半導体装置であ る。どのような種類の発光ダイオードを用いても良いが、レーザー光を発するレ ーザーダイオードが好ましい。

発光されたレーザー光の振幅を一定にするためには、レーザーダイオード２３を 通過する電流を一定にしなければならない。

レーザーダイオード２３により発光されるレーザー光は、短いファイバーオプテ ィカルケーブル２７を介して光変調器２５に連結されている。

レーザーダイオード２３とファイバーオプティックケーブル２７との連結は、連 結部での信号の損失を最小限にするためにも高効率でなければならない。また、 この連結での反射を最小限に抑えて、システムの非線形特性を最小限にしなけれ ばならない。

連結部の損失及び反射を最小限に抑える技術は公知であり、この技術に従う必要 がある。あるいは、レーザーダイオード２３として予め「ピグテール」が取り付 けられているもの、即ち、短いファイバーオプティック材料が損失及び反射が最 小になるように製造者側により予め連結されているレーザーダイオードを購入す る。

好ましい実施例では光変調器２５としてＧｅｅ　　ｅｔａｌ、が１９８３年１２ 月１日のＡｐｐｌｉｅｄ　　Ｐｈｙｓｊｃ　　Ｌｅｔｔｅｒｓｍ４３巻９９８頁 〜１００巻真９８頁〜１０００頁　　ｂａｎｄ　　ｗｉｔｈ　　Ｅｌｅｃｔｒｏ −Ｏｐｔｉｃ　　Ｍｏｄｕｌａｔｏｒに記載しているＭ　ｏ　ｃ　ｋ　−Ｚｅｈ ｎｄｅｒ干渉計変調器を用いているが、別の種類のものを使用してもこの発明の 範囲内に属する。

本質的に、光変調器２５はニオブ塩酸リチウム電気工学クリスタル２９に埋め込 まれたチタニウム導波管２７内に光を通す装置である。光を変調するラジオ周波 数入力は第１図のパワーディバイダ１から供給される。ラジオ周波数入力は伝達 ライン３１を介して供給される。伝達ラインは一対の導電性共面ストリップライ ン３３及び３５の一端に連結されている。導電性共面ストリップライン３３及び ３５の他端は抵抗器３７により整合されて終了している。

導電性共面ストリップライン３３及び３５にラジオ周波数入力を印加することに より電界が生じ、両ライン間を通過する光の強度が電界の強度に従って変調され る。光変調器２５の構成及び動作に関する詳細についてはＧｅｅ　　ｅｔ　　ａ ｌ。

の記事を参照されたい。

光変調器２５の光出力３８はファイバーオプティックケーブル７の一端に連結さ れる。ファイバーオプティックケーブル７の他端は光検出器３９に連結されてい る。光検出器は公知のように光の強度に正比例する電圧を生成して遅延されたラ ジオ周波数を復調する半導体装置である。遅延されたラジオ周波数は第２図の混 合機４に供給される。別の復調技術を用いた場合もこの発明の範囲内に属するこ とはいうまでもない。

レーザーダイオード２３を用いているので、公知の技術を用いてファイバーオプ ティックケーブル７の出力を効率良く光検出器３９に連結して損失や反射を最小 にしなければならない。光検出器としては、ファイバーオプティック材料のピグ テールが効率良くしかも反射を押さえるように光検出器に予め取り付けられてい るものを購入することができる。製造業者により予めピグテールが取り付けられ ている光検出器を選択すると、ファイバーオプティックコネクタやファイバーオ プティックケーブルを効率良く接続するための他の公知技術を用いてファイバー オプティックケーブル７に簡単に接続することができる。

第２図に絵画的に示した変調技術は、光が生成されてから光の強度が変調される ので、間接変調として知られている。

第３図は第１図に示した光源及び変調器５の別の実施例の概略図である。この実 施例では直接変調技術が用いられている。光の強度は光がまさに生成される瞬間 に変調される。

第３図は、一端が接地され、他端がコンデンサー４１及びインダクター４３に接 続されているレーザーダイオード２３を有している。コンデンサー４１の他端は 入力ラジオ周波数信号に、インダクター４３の他端は一定の直流電流ＩＢの供給 源にそれぞれ接続されている。

この構成はバイアスティーネットワークとして知られている。

一定の直流電流ＩＢの目的は、レーザーダイオード２３にバイアスを掛けて変調 中にレーザーダイオードのリニア領域が常に作動するようにすることである。こ の電流の正確な量は使用するレーザーダイオード２３に従って変化するが、７０ 〜１００ミリアンペアがバイアス電流の典型である。

コンデンサー４１の目的は、ラジオ周波数信号がレーザーダイオード２３を通過 できるようにすること、及びラジオ周波数源により直流バイアス電流が偏倚しな いようにすることである。この静電容量の正確な値は信号の相対的な大きさ及び 周波数に従って変化するが、１００ピコファラッド台が静電容量の典型である。

インダクター４３は基本的にコンデンサー２５とは逆の機能を果たす。即ち、イ ンダクター４３はバイアス電流がレーザーダイオード２３を通過できるようにす る一方で、コンデンサー４１から供給されるラジオ周波数が電流源により排出さ れることを防止する。インダクター４３の値は信号の相対的な大きさ及び周波数 に従って変化するが、１マイクロヘンリーがその典型である。

レーザーダイオード２３の光出力は、第２図と同様の技術及び配慮によりファイ バーオプティックケーブル７に連結される。

遅延量は言うまでもなくファイバーオプティックケーブル７の長さに正比例する 。実際には、必要に応じて様々な長さに簡単に切り替えられるようになっている 。

長い遅延が好ましいことがしばしばあるが、このような場合には、ファイバーオ プティックケーブル７をコイルのように巻いて検査装置のサイズを小さくする。

どのように巻いても良いが、好ましい実施例では−巻きの半径を１インチに維持 している。さもなければ、好ましくない損失のレベルが増大するかも知れないか らである。

ファイバーオプティックケーブル７の材料としは、損失、歪み、分散を最小にす るものが選択される。このことは、一般に、ケーブルの直径をレーザー光の波長 にマツチさせ、「単一モード」ファイバーオプティック材料を用いることを意味 する。

レーザーダイオード２３により照射されるレーザー光は、典型的には、８５マイ クロメートルと波長が非常に短い。長い波長のレーザー光を使用することもでき るが、波長が長いとファイバーオプティック材料内で損失し、分散が増大する。

第４図は第２図の光検出器３９の操作に用いられる回路の好ましい実施例の概略 図である。第４図に示すように、ファイバーオプティックケーブル７の他端は光 検出器３９に接続されている。光検出器の一端は接地されている。光検出器３９ の他端はコンデンサー４５及びインダクター４７に接続されている。コンデンサ ー４５の他端はラジオ周波数プリアンプ４９に、インダクター４７の他端は一定 の負の直流電流電圧−ｖＢの供給源に接続されている。

レーザーダイオード２３と同じように、光検出器３９にバイアスを加えて、常に リニア領域で作動するようにしておく必要がある。しかしながら、レーザーダイ オード２３とは異なり、バイアスの目的は高周波特性を準なう接合容量を減少さ せることである。これはバイアスネットワークとしても知られている前記回路を 介して一定の負の電圧−ｖＢを光検出器３９に供給することによりなされる。負 の電圧め正確な量は、使用する光検出器並びに信号の大きさ及び周波数に従って 変化するが、典型的には１０〜２０ボルトである。

インダクター４７及びコンデンサー４５は、第３図のインダクター４３及びコン デンサー４１と同様な機能を果たす。

即ち、インダクター４７は逆バイアス電圧が光検出器３９を通過することを許す が、復調されたレーザー光のラジオ周波数成分が電圧源により負荷されることを 防止する。同様に、コンデンサー４５は復調されたラジオ周波数がプリアンプ４ ５に入ることを許すが、プリアンプ４５が逆バイアス電圧に影響を及ぼすことを 防止する。インダクター４７及びコンデンサー４５の正確な値は信号の正確な周 波数及び大きさに依存しているが、１マイクロヘンリー及び１００ピコフアラツ ドがそれぞれの典型例である。

第５図は、第１図の較正信号源７の別の開発及び注入技術である。

第５図に示すように、較正信号源５５からの信号は低雑音増幅器５に直接に注入 される。

第５図の実施例で使用される較正信号を生成するために、ラジオ周波数検査信号 はカップラー５１により抽出されて検出器５３に供給される。検出器はラジオ周 波数検査信号の大きさに比例した大きさの直流電流信号を生成する。引き続いて 、検出器９で生成された直流電流は較正信号源５５に供給される。この実施例の 較正信号源５５は、直流電流信号の大きさから公知の量だけ減衰された大きさ、 典型的には６０ｄｂの範囲の低周波信号、を生成するだけである。第１図に示し た較正信号源７があるので、低周波信号の周波数は、位相雑音をテスト搬送波か らオフセットする予期された周波数の範囲内に選択されている。

以上に述べた第５図の技術を用いると、ハードウェアはより簡単になり、費用が 安くなる。しかしながら、周波数弁別器により生じる検査信号レベルの変更を考 慮しないので、表示された位相雑音の振幅を決定するには、多少複雑な計算が必 要である。

即ち、較正信号は表示された較正信号の高さ対位相雑音信号の高さの割合を掛け た検査信号から単に減衰された量ではない。むしろ、この計算をしてから、周波 数弁別により生じる減衰（又は増幅）を更に掛けたものである。この後者の要素 は、第５図のシステムにより表示された較正信号の高さと第１図のシステムによ り表示された較正信号の高さとを比較することにより、簡単に確かめることがで きる。テスト入力信号の大きさは各測定中周−であることは言うまでもない。

後者の要素が一旦決まれば、後の測定総べてに適用することができる。

以上に述べた検査装置はレーダー信号の位相雑音の測定に有益であることをこれ までに述べてきたが、ラジオ周波数信号の別の種類の様々な雑音の測定にも有効 に使用することができる。更に、この発明の特定の実施例のみを述べたに過ぎな いが、この発明は他の実施態様、方法、パラメータにも様々に適用可能であり、 この発明は次の請求の範囲によってのみ定義付けられ、制限されるものである。

国際調査報告 国際調査報告

Claims (28)

【特許請求の範囲】
1. １．検査信号に存在する雑音を分析する雑音検査装置であり、 ａ．光を発生する発光手段と、 ｂ．発光手段に連結されて発光手段により発生された光を検査信号により変調す る変調手段と、ｃ．両端を有し、その内の一端が変調された光に連結されている ファイバーオプティックケーブルを備え、変調手段に連結されて変調された光を 遅延する遅延手段と、ｄ．フアイバーオプティックケーブルの他端に連結されて 復調された光から遅延検査信号を抽出する復調手段と、ｅ．検査信号及び遅延検 査信号に連結されて、検査信号に存在する雑音を抽出する検出手段とを具備する 雑音検査装置。
2. ２．発光手段はレーザー光を発生することを特徴とする請求項１に記載の雑音検 査装置。
3. ３．発光手段は更にレーザーダイオードを有し、変調手段はレーザーダイオード に接続されたバイアスティーネットワークを有していることを特徴とする請求項 ２に記載の雑音検査装置。
4. ４．バイアスティーネットワークはコンデンサー及びインダクターを有しており 、両者は共に一端がレーザーダイオードに接続されていて、コンデンサーの他端 は検査信号に、インダクターの他端は一定の直流電流源にそれぞれ接続されてい ることを特徴とする請求項３に記載の雑音検査装置。
5. ５．フアイバーオプティックケーブルはレーザー光の周波数にマッチした直径を 有していることを特徴とする請求項２に記載の雑音検査装置。
6. ６．変調手段は光が生じる瞬間に光の強度を変調することを特徴とする請求項１ に記載の雑音検査装置。
7. ７．復調手段は光検出器を有していることを特徴とする請求項１に記載の雑音検 査装置。
8. ８．復調手段は光検出器に接続されているバイアスティーネットワークを更に有 していることを特徴とする請求項７に記載の雑音検査装置。
9. ９．バイアスティーネットワークはコンデンサー及びインダクターを有しており 、両者はいずれも一端が光検出器に接続されており、コンデンサーの他端は復調 されたラジオ周波数出力を供給するために接続され、インダクターの他端は一定 の直流電流電圧源に接続されていることを特徴とする請求項８に記載の雑音検査 装置。
10. １０．発光手段は実質的に一定の強度の光を発生し、変調手段は光が発生されて から光を変調することを特徴とする請求項１に記載の雑音検査装置。
11. １１．変調手段はレーザー光に一対の電極内を通過させる装置を有しており、電 極には検査信号に実質的に比例した強度の電位が印加されていることを特徴とす る請求項１０に記載の雑音検査装置。
12. １２．変調手段は干渉計変調器を有していることを特徴とする請求項１１に記載 の雑音検査装置。
13. １３．干渉計変調器は光学的クリスタル内に埋め込まれた導波管を有しているこ とを特徴とする請求項１２に記載の雑音検査装置。
14. １４．導波管はチタニウムで形成されており、光学的クリスタルはニオブ塩酸リ チウムで形成されていることを特徴とする請求項１３に記載の雑音検査装置。
15. １５．ファイバーオプティックケーブルはコイル状になっており、コイルのどの 部分も半径が１インチ未満の円弧を有していないことを特徴とする請求項１に記 載の雑音検査装置。
16. １６．ファイバーオプティックケーブルは単一モード型であることを特徴とする 請求項１に記載の雑音検査装置。
17. １７．検出手段は遅延手段に接続されている混合機を有していることを特徴とす る請求項１に記載の雑音検査装置。
18. １８．検出手段は検査信号及び混合機に接続されて、遅延手段から混合機に供給 される遅延された検査信号に対して位相が実質的に９０度ずれている信号を混合 機に供給する位相器を有していることを特徴とする請求項１７に記載の雑音検査 装置。
19. １９．較正信号源を更に有していることを特徴とする請求項１に記載の雑音検査 装置。
20. ２０．較正信号源は検査信号が変調手段に入る前に検査信号に付加されることを 特徴とする請求項１９に記載の雑音検査装置。
21. ２１．付加はカップラーによりなされることを特徴とする請求項１９に記載の雑 音検査装置。
22. ２２．検出手段の出力に接続された低雑音ビデオ増幅器を更に有し、較正信号源 は低雑音ビデオ増幅器に直接注入されることを特徴とする請求項１９に記載の雑 音検査装置。
23. ２３．較正信号源の振幅は検査信号の振幅から実質的に減衰されることを特徴と する請求項２２に記載の雑音検査装置。
24. ２４．検査信号及び較正信号源に接続されて、振幅が検査信号の振幅に比例して いて較正信号源の振幅を制御する直流電流信号を生成する第２検出手段を更に有 していることを特徴とする請求項２３に記載の雑音検査装置。
25. ２５．ａ．検査信号に接続されて検査信号を２つに分割して、一方を変調手段に 供給し、他方を検出手段に供給するパワードライバーと、 ｂ．検出手段の出力に接続された低雑音増幅器と、ｃ．低雑音増幅器の出力に接 続された波形分析器とを更に備えたことを特徴とする請求項１に記載の雑音検査 装置。
26. ２６．波形分析器はスペクトル波分析器であることを特徴とする請求項２５に記 載の雑音検査装置。
27. ２７．ａ．検査信号に存在する雑音を非相関にし、出力を有する周波数弁別器と 、 ｂ．検査信号に接続されて、振幅が検査信号の振幅に比例している直流電流信号 を生成する検出手段と、ｃ．検出手段により生成された直流電流信号、及び周波 数分析器の出力に接続されて、振幅が直流電流信号の振幅に比例しているが、所 定量だけ直流電流信号よりも実質的に減衰されている較正信号を生成する較正信 号手段とを備え、検査信号に存在する雑音を分析する雑音検査装置。
28. ２８．ａ．レーザー光を生成するレーザーダイオードと、 ｂ．検査信号に接続され、レーザーダイオードが生成するレーザー光を検査信号 により変調する変調手段と、ｃ．両端を有し、一端が変調レーザー光に接続され 、レーザー光の周波数にマッチした直径を有し、単一モード型であり、コイル状 に巻き付けられているがコイルのどの部分も半径が１インチ未満の円弧を形成し ていないファイバーオブティックケーブルと、 ｄ．フアイバーオプティックケーブルの他端に接続され、変調されたレーザー光 から遅延された検査信号を抽出する検出器と、 ｅ．検査信号に接続されて、検出器から供給される遅延された検査信号に対して 位相が実費的に９０度ずれた信号を生成する位相器と、 ｆ．位相器の出力及び検出器の出力に接続されて、検査信号に存在する雑音を抽 出する混合機とを備え、検査信号に存在する雑音を分析する雑音検査装置。