JPH02291980A - Verification of logic circuit - Google Patents

Verification of logic circuit

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JPH02291980A
JPH02291980A JP1112587A JP11258789A JPH02291980A JP H02291980 A JPH02291980 A JP H02291980A JP 1112587 A JP1112587 A JP 1112587A JP 11258789 A JP11258789 A JP 11258789A JP H02291980 A JPH02291980 A JP H02291980A
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JP
Japan
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circuit
verification
logic
logic circuit
realized
Prior art date
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Pending
Application number
JP1112587A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomotaka Marui
智敬 丸井
Yoshihiro Ishida
芳弘 石田
Hiroyuki Oka
弘幸 岡
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JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Priority to CA002015421A priority patent/CA2015421A1/en
Priority to EP19900304570 priority patent/EP0403061A3/en
Priority to KR1019900005965A priority patent/KR900016862A/en
Publication of JPH02291980A publication Critical patent/JPH02291980A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable performing of evaluation of verifying work of a logic circuit and a test vector by converting a logic circuit designed into a circuit of a programable logic element to realize as actual circuit for verification. CONSTITUTION:A logic circuit 10 designed is converted to a circuit of a programable logic element (PLD), for example, using a developing tool 20. The circuit thus converted is realized as actual circuit for verification containing the PLD, for example, at least one microprocessor (CPU) chip 34 arranged almost at the center of a system board 32 and a programable one-board computer 30 containing a plurality of PLDs 36 arranged surrounding the perimeter of the CPU chip 34. Then, a function, timing and the like of th logic circuit 10 are verified with a tester 42 into which a test vector is inputted from a trouble simulator 40 using a circuit realized in the circuit 30 for verification.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

本発明は、設計された論理回路やそのテストベクター等
を、その各設計段階で、プログラマブル論理素子を用い
て実際に実現された回路を使って、短時間で検証、評価
することが可能な論理回路の検証方法に関するものであ
る.
The present invention provides a logic system that allows designed logic circuits and their test vectors to be verified and evaluated in a short time using circuits actually realized using programmable logic elements at each design stage. It is related to circuit verification methods.

【従来の技術】[Conventional technology]

大規模集積回路の多数の横成部品及びそれらの複雑な関
係が、各設計段階における全ての結果を設計者が予測す
るのをほとんど不可能にしている.更に、たとえ設計の
プロトタイブの段階であっても、設計ミスによって生じ
るコストは非常に高くなっている.このようなコストの
かかるエラーの可能性を最小にするべく、設計者か、非
常にコストのかかるシリコン製造にかかる前に、設計回
路を分析し、検証するコンピュータツールに対する要請
が非常に高くなっている. 従来のICの設計に際しては、設計者の頭の中にある抽
象的なアイデアの段階から、例えばブラックボックスの
組合わせであるアーキテクチャ仕様の段階(レジスタト
ランスファレベル( RT L ))へ移り、次いで、
例えば回路ブロックの組合わせであるスキマテツクな論
理設計Hfra(ゲートレベル)に移り、更に、例えば
トランジスタ回路の組合わせである回路設計段階(トラ
ンジスタレベル)に移り、更に、シリコン上のマスクレ
イアウト段階を経て具体化される.更に、完成した製品
に対する故障試験について設計する段階もある,従って
、大規模システムを設計し、それを実際の大規模集積回
路の組合わせで実現するときには、その様々な段階で設
計が正しく反映されているか否かを確める前記検証作業
が非常に重要である.従来の各設計段階における検証作
業は、例えば、設計者の頭の中にある最初の段階では、
設計者自身が、例えば頭の中で考えて検証作業を行う.
又、次のRTLレベルでは、同じく設計者が頭の中で検
証作業を行ったり、あるいは、パソコンレベルのコンピ
ュータを使って、論理シミュレータにより、計算による
機能シミュレーション(RTLシミュレーション)を行
う。次のゲートレベルに関しても、パソコンレベルのコ
ンピュータを使って、論理シミュレータにより、計算に
よる機能シミュレーションを行う.次のトランジスタレ
ベルでは、パソコンレベルのコンピュータを使って、タ
イミングシミュレータにより、計算によるタイミング解
析を行う.更に、マスクレイアウ1へ段階では、中級レ
ベルのコンピュータを使って、マスクデータから回路を
抽出し、それに対してタイミングシミュレー夕により計
算によるタイミング解析を行う.又、最後の製品故障テ
ス1・段階に関しては、大型コンピュータやスーパーコ
ンピュータレベルのコンピュータを使い、例えば設計名
が生成したテストベクター(テストパターン)を用いて
、故障シミュレー夕による故障シミュレーション(フォ
ールトシミュレーション)を計算により行う.
The large number of integrated components and their complex relationships in large-scale integrated circuits make it nearly impossible for designers to predict all the outcomes at each design stage. Furthermore, the cost of design errors, even at the prototyping stage, is extremely high. To minimize the possibility of such costly errors, there is a great need for designers or computer tools to analyze and verify their designs before they go to very costly silicon fabrication. There is. When designing a conventional IC, the process moves from the stage of an abstract idea in the designer's head to the stage of architectural specifications (register transfer level (RTL)), which is a combination of black boxes, for example, and then
For example, we move on to the schematic logic design stage (gate level), which is a combination of circuit blocks, then move on to the circuit design stage (transistor level), which is a combination of transistor circuits, and then go through the mask layout stage on silicon. It becomes concrete. Furthermore, there is a stage in which failure tests are designed for the completed product. Therefore, when designing a large-scale system and realizing it by combining actual large-scale integrated circuits, it is important to ensure that the design is correctly reflected at various stages. The above-mentioned verification work to confirm whether or not the situation is true is extremely important. Conventional verification work at each design stage is, for example, at the initial stage in the designer's mind.
The designer himself, for example, thinks about it in his head and performs verification work.
At the next RTL level, the designer similarly performs verification work in his head, or performs functional simulation (RTL simulation) by calculation using a logic simulator using a personal computer level computer. Regarding the next gate level, we will perform a functional simulation by calculation using a logic simulator using a PC-level computer. At the next transistor level, we use a PC-level computer to perform calculation-based timing analysis using a timing simulator. Furthermore, in the mask layout 1 stage, a circuit is extracted from the mask data using an intermediate level computer, and a timing analysis is performed on it by calculation using a timing simulation. In addition, regarding the final product failure test stage 1, a large-scale computer or supercomputer-level computer is used to perform a failure simulation (fault simulation) using a test vector (test pattern) generated by the design name, for example. is done by calculation.

【発明が達成しようとする課題】[Problem to be achieved by the invention]

しかしながら、従来の検証作業においては、第9図に示
す如く、主にコンピュータ14の内部に実際には無い設
到回路(デザインデータ)10をモデル化し、そのモデ
ル16について、コンピュータ14が演算してシミュレ
ーションしているため、例えば10000ゲートの論理
シミュレーションをIMIPSマシンで行う場合には、
1時間以上の検証時間がかかり、更にトランジスタレベ
ル以上では、より多くの時間がかかる.又、設計者12
がコンピュータ14内に設計回路10をモデル化して入
力しているため、検証洩れや勘違いが避けられない.更
に、タイミング等に関して、実際との対応が十分でない
面がある等の問題点を有していた. ス、検証を行うためのテストベクターが適切なものであ
るか否かを評価するためには、モデル化された論理回路
の各部位に素子不良や断線等の内部故障を故意に発生さ
せて、当該テスI・ベクターによる故障検出率(故障検
出が考慮されていない回路の場合は、複合故障でない単
純故障で70%程度以上、故障検出が考慮された回路の
場合は、同じく単純故障で95%程度以上)等を調べる
必要があるが、モデル化された論理回路の各部位に一つ
ずつ故障を発生させて、テスI・ベクターを計算により
走らせる方式では、故障部位1個所毎にシミュレーショ
ン計算を繰返す必要がある.従って、例えば3秒程度の
テストベクターであっても、正確に故障検出率を評価し
て作成するには、年単位の計算が必要となっていた. 更に、装置テスト用入力パターン( D U T 一D
ev+ce LJnder  Testing入力パタ
ーン)を入力した時の比較基準となる出力パターンを得
る際にも、同機の計算が必要であり、やはり長い時間が
かかつていた, 一方、特開昭62−93736や特開昭63−1570
72、特に後者には、前記のようなソフトウエアシミュ
レータの代わりに、大規模回路の動作を確認するため、
必要な集積回路モジュールを措定し、指定された集積回
路モジュールのPLDに論理仕様に対応するコードデー
タを書き込んで作成したハードウエアシミュレータを用
いることが開示されている. しかしながら、該ハードウエアシミュレー夕においては
、PLD,EPROM,RAM等規則的なICを含み、
多種のシリーズ化した集積回路モジュールを運択的に付
加できるように構成していたため、論理回路によっては
不要な集積回路モジュールら多数ALLておく必要があ
り、ハードウエアシミュレー夕の構成が複雑となってい
た.本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされ
たもので、簡単な構成によって実現された実際の検証用
回路を使って、論理回路の検証作業を迅速に行うことが
可能な論理回路の検証方法を提洪することを第1の課題
とする. 本発明は、又、実際の検証用Ol!路を使って、テスト
ベクターの評価を迅速に行うことを可能とすることを第
2の課題とする. 本発明は、更に、実際の検証用回路を使って、DUT入
力パターン入力時の出力パターンを迅速に作成すること
を可能とすることを第3の課題とする.
However, in conventional verification work, as shown in FIG. For example, when performing a logic simulation of 10,000 gates on an IMIPS machine,
Verification takes more than an hour, and even more time is required for processes above the transistor level. Also, designer 12
Since the design circuit 10 is modeled and input into the computer 14, verification omissions and misunderstandings are inevitable. Furthermore, there were other problems, such as timing, etc., which did not adequately correspond to reality. In order to evaluate whether the test vectors for performing the Fault detection rate using the test I/vector (for circuits where fault detection is not taken into account, approximately 70% or more for simple faults that are not complex faults, and for circuits that take fault detection into account, 95% for simple faults as well) However, in the method of generating faults in each part of the modeled logic circuit one by one and running test I/vector calculations, simulation calculations are required for each fault part. It is necessary to repeat. Therefore, even for a test vector of about 3 seconds, calculations on a yearly basis are required to accurately evaluate and create a fault coverage rate. Furthermore, the input pattern for device testing (DUT 1D
ev+ce LJnder Testing input pattern) to obtain the output pattern to be used as a comparison standard required calculations on the same machine, which also took a long time. Showa 63-1570
72, especially for the latter, to check the operation of large-scale circuits instead of the software simulators mentioned above,
It is disclosed that a hardware simulator is used, which is created by assuming a necessary integrated circuit module and writing code data corresponding to logic specifications into the PLD of the specified integrated circuit module. However, the hardware simulator includes regular ICs such as PLD, EPROM, RAM, etc.
Since the configuration was such that a wide variety of integrated circuit modules could be optionally added in series, it was necessary to store a large number of integrated circuit modules that were not needed depending on the logic circuit, making the configuration of the hardware simulator complex. It was. The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional problems, and is a logic circuit that can quickly perform logic circuit verification using an actual verification circuit realized with a simple configuration. The first task is to propose a verification method. The present invention also provides practical verification Ol! The second challenge is to make it possible to quickly evaluate test vectors using A third object of the present invention is to make it possible to quickly create an output pattern when inputting a DUT input pattern using an actual verification circuit.

【課題を解決するための手段】[Means to solve the problem]

本発明は、論理回路の検証方法において、設計された論
理回路を、プログラマブル論理素子の回路に変換し、該
変換された回路を、プログラマブル論理素子を含む実際
ジ)検証用回路に実現し、該検証用回路に実現された回
路を用いて、前記論理回路を検証することにより、前記
第1の課題を達成したものである. 又、前記検証用回路を、システムボードの略中央部に配
置された、少くとも一つのマイクロプロセッサチップと
、該マイクロプロセッサチップの周囲をほぼ取り囲むよ
うに配置された、複数のプログラマブル論理素子とを少
くとも含むプログラマブルなワンボードコンピュータと
したものである. 又、前記検証用回路に実現された回路を用いて、故障シ
ミュレーション用のテストベクターを評価することによ
り、前記第2の課題を達成したものである. 又、前記検証用回路に実現された回路を用いて、CUT
入力パターン入力時の前記論理回路の出力パターンを作
成することにより、前記第3の課題を達成したものであ
る。
The present invention is a logic circuit verification method that converts a designed logic circuit into a programmable logic element circuit, implements the converted circuit into an actual verification circuit including a programmable logic element, and The first problem is achieved by verifying the logic circuit using a circuit realized as a verification circuit. Further, the verification circuit may include at least one microprocessor chip disposed approximately in the center of a system board, and a plurality of programmable logic elements disposed substantially surrounding the microprocessor chip. It is a programmable one-board computer that includes at least one computer. Furthermore, the second problem has been achieved by evaluating test vectors for fault simulation using the circuit realized as the verification circuit. Also, using the circuit realized as the verification circuit, CUT
The third problem is achieved by creating an output pattern of the logic circuit when an input pattern is input.

【作用及び効果了 本発明においては、第1図に示す如く、設計された論理
回路(デザインデータ)10を、例えば開発ツール20
を用いてプログラマブル論理素子<PLD)の回路に変
換し、該変換された回路を、PLDを含む実際の検証用
回路、例えば、システムボード32の略中央部に配置さ
れた、少くとも1つく図では2つ)のマイクロプロセッ
サ(CPU)チツプ34と、該CPUチツプ34の周囲
をほぼ取り囲むように配置された、複数のPLD36と
を少くとも含むプログラマブルなワンボードコンピュー
タ30に実現し、該検証用回路(30)に実現された回
路を用いて、例えば故障シミュレ一夕40からテストベ
クターが入力されるテスタ42により、前記論理回路1
0の機能やタイミング等を検証するようにしている.こ
のように、論理回路10を箔単な構成の検証用回路《3
0》に実現して、実際の回路について検証作業を行うの
で、計算より遥かに早い実時間で検証を行うことができ
、検証作業を迅速に行うことができる.特に、実回路を
使っているので、間違える可能性が非常に少い.更に、
プログラマブル論理素子の回路を用いているので、慣成
が簡単なだけでなく、股計された論理回路を検証用回路
に変換するのが容易である. 又、検証用回路として前記プログラマブルワンボードコ
ンピュータ30を用いた場合には、任意の検証用回路を
容易に実現することができる.本発明で検証可能な論理
回路10、即ちデザインデータとしては、例えば前記R
TLであれば、コンピュータの過程を設計するための手
続の一つである、N ick T redennick
氏の提唱するフローチャート法によるデータ(COMP
UTER81.12  PP87−102参照)や、任
意の動作記述言語を用いたデータが使用可能である.又
、前記ゲートレベルであれば、例えば回路ブロックの組
合わせを表わしたスキマテイツクデー夕が使用可能であ
る.又、前記1・ランジスタレベルであれば、例えばト
ランジスタ回路図のデータが使用可能である.又、前記
マスクレイアウトレベルであれば、例えばマスクレイア
ウトから抽出した回路素子の組合わせによる回路データ
を用いることができる. 更に、製品が設計通りに作られており、素子不良や断線
等の内部故障が無いかテストするための故障テストレベ
ルであれば、任意の段附のデザインデータから任意の方
法、例えばシミュレーションエンジン、故障シミュレー
夕、テストベクタージエネレータ等で生成した製品テス
トデータ《テストベクター44》が使用可能である.即
ち、第2図に示す如く、故障を故意に発生させた回路を
実13l(30)に組んで実験できるので、秒単位、分
単位のテストベクトルが実時間で評価できる.従って、
従来は1年以上かかつていた晟終段講のテストベクター
も迅速に評価して作成することができる. 更に、第3図に示す如く、装置テスト用入力パターン<
DUT入力パターン》46人力時の出力パターン48も
、実時間で極めて迅速に作成することができる. 【実施例】 以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る. 本発明に係る検証方法には、例えば第4図に示す如く、
設計者が設計した論理回路を入力するための入力インタ
ーフエイス装置50と、例えば従来の論理回路とPLD
の回路の組合わせの変換データが蓄積されたデータベー
ス52と、該データベース52に蓄積されたデータを利
用して、前記入力インターフエイス装置50から入力さ
れた論理回路をPLDの回路に変換する演算部54と、
該演算部ラ4によって変換された回路を、PLDを含む
実際の検証用回路、例えば前記プログラマブルワンボー
ドコンピュータ30に実現するための、書込制御回路5
6及び書込装置58とからなる開発ツール20が用いら
れる. 前記データベース52には、例えば第5図に示す如く、
各設計段階[例えばブロックダイヤグラムやフローチャ
ート、状態遷移表、状態遷移図等を含む論理設計レベル
、現状を表わすCSコードや次の状態を表わすNSコー
ドを含む定義式で表現された機能記述を含むハードウエ
ア記述言語(HDL)レベル、シンボルで表現されたス
キマテイツクダイヤグラムを含むスキマテイツクレベル
]における従来の部分(周辺)回路のデザインとそれを
実現したトランジスタレベルのPLD回路のデータの組
合わせ、例えばどのマイクロプロセッサをいくつ使用し
たか、周辺のチップ《メモリ、TTL,PLD)は、何
でいくつ使ったか、それらをどのように配線接続したか
等のデータが、設計資産としてライブラリ化され、対応
する部分回路毎に多数蓄積されている. 従って、前記演算部54は、例えば第6図に示す如く、
入力された論理回路10を分割した部分回路A,B,C
,D,Eに対応する実回路を、データベース52から選
択的に取出し、前記ワンボードコンピュータ30内のP
LDにそれぞれ別付けていくことにより、回路の配置及
び配線を決定する. なお、実回路への変換に際しては、例えば論理設計レベ
ルのデータを直接実回路化するのは困難な場合らあるの
で、まず前記データを一旦HDLレベルに落し、該HD
Lレベルのデータを実回路に変換するようにしてもよい
. このようにして、プログラマブルワンボードコンピュー
タ30上に実現された検証用回路に、前記テスタ42よ
りテスト信号が入力され、これによって、実回路を使っ
た実時間の検証作業が行われる. 又、テストベクターの故障検出率等を評価する際には、
第2図に示した如く、デザインデータの代わりに、素子
不良や断線等の内部故障を故意に発生させた故障回路デ
ータを用いて、前記ワンボ一ドコンピュータ30に該故
障回路を実現し、該故障回路にテストベクターを入力す
れば、テストベクターの故障検出率等を実時間で迅速に
評価することができる. ス、DUT入カパターンに対する出力パターンを作成す
る際には、第3図に示した如く、ワンボードコンピュー
タ30に実現された検証用回路にD t,l T人カパ
ターンを入力すれば、対応する出力パターンを実時間で
迅速に得ることができる.従って、入出力パターンの組
合わせ等も容易に得ることができる. なお、前記実施例においは、実際の検証用回路として、
2つのCPUと多数のPLDからなるプログラマブルワ
ンボードコンピュータ30が用いられていたが、検証用
回路の種類はこれに限定されない.例えば第7図に示す
変形例の如く、PLD36の数を更に増やして、前記C
PU34を例えば二重に取り囲むようにすると共に、そ
の一部、例えば4隅に、PLD36の内部回路を定義す
るための外付けのメモリ素子、例えばFROM38を配
置したものを用いなり、第8図に示す他の変形例の如く
、CPU34の周囲をほぼ取り囲むように配置された、
複数のく図では9個)の大規模プログラマブル論理素子
(PLD)36Aと、該大規模PLD36Aの外側に配
置された、複数(図では28個)の小規gPLD36B
とから構成されたものを用いることができる.第8図の
例では、通常、高機能が要求される、例えばコブロセサ
用の大規模PLI)36AをCPU34の近くに配置し
ているので、効率良く高速動作が可能であり、階層福遣
システムに好適である.勿論、前記大規模PLD36A
又は小規模PLD36Bの一部を、第7図の例と同様の
F R O M 3 8で置換えることも可能である. 又、マイクロプロセッサチップを、メモリや入出力を除
いた中心コアだけのものとすることも可能である.この
場合には、通常のマイクロプロセッサに含まれるメモリ
や入出力回路を周辺のPLDで構成することができるの
で、特に、CPUの開発に有効である. 又、前記PLDとして、コンピュータシステム用のメモ
リを含むものを用いることもできる.この場合には、コ
ンピュータシステムのメモリがPしDに内蔵されるので
、アクセスが速く高速動作が可能である.勿論、PLD
とは独立して、システムボード上に外付けでDRAM,
ROM等のコンピュータシステム用のメモリを設けても
よい.
[Operation and Effect End] In the present invention, as shown in FIG. 1, a designed logic circuit (design data) 10 is transferred to a development tool 20,
The converted circuit is converted into a circuit of a programmable logic element <PLD) using In this case, a programmable one-board computer 30 including at least two microprocessor (CPU) chips 34 and a plurality of PLDs 36 arranged almost surrounding the CPU chip 34 is realized. Using the circuit implemented in the circuit (30), the logic circuit 1 is tested by a tester 42 to which a test vector is input from, for example, a fault simulation 40.
I am trying to verify the functions and timing of 0. In this way, the logic circuit 10 is constructed as a verification circuit <<3> with a simple configuration.
0》 and perform verification work on the actual circuit, verification can be performed in real time, which is much faster than calculation, and verification work can be performed quickly. In particular, since it uses an actual circuit, there is very little chance of making a mistake. Furthermore,
Since it uses a programmable logic element circuit, it is not only easy to get used to it, but also easy to convert the designed logic circuit into a verification circuit. Further, when the programmable one-board computer 30 is used as a verification circuit, any verification circuit can be easily realized. As the logic circuit 10, that is, the design data that can be verified in the present invention, for example, the above-mentioned R
In the case of TL, Nick T redennick is one of the procedures for designing computer processes.
Data based on the flowchart method proposed by Mr.
UTER81.12 PP87-102) or data using any behavioral description language can be used. Furthermore, at the gate level, for example, a schematic data representing a combination of circuit blocks can be used. Furthermore, if it is at the transistor level (1), for example, data of a transistor circuit diagram can be used. Further, at the mask layout level, for example, circuit data based on a combination of circuit elements extracted from the mask layout can be used. Furthermore, if the product is made according to the design and is at the failure test level to test whether there are any internal failures such as element defects or disconnections, then the design data at any stage can be analyzed using any method, such as a simulation engine, Product test data (Test Vector 44) generated by failure simulators, test vector generators, etc. can be used. That is, as shown in Fig. 2, it is possible to conduct an experiment by assembling a circuit in which a failure has been intentionally caused in an actual 13l (30), so that test vectors in seconds or minutes can be evaluated in real time. Therefore,
It is now possible to quickly evaluate and create test vectors for the final lecture, which previously took more than a year. Furthermore, as shown in FIG. 3, the device test input pattern <
DUT input pattern》46 Output pattern 48 when using human power can also be created extremely quickly in real time. [Embodiments] Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The verification method according to the present invention includes, for example, as shown in FIG.
An input interface device 50 for inputting a logic circuit designed by a designer, for example, a conventional logic circuit and a PLD.
a database 52 in which conversion data of combinations of circuits are stored; and an arithmetic unit that converts a logic circuit input from the input interface device 50 into a PLD circuit using the data stored in the database 52. 54 and
A write control circuit 5 for realizing the circuit converted by the arithmetic unit La 4 into an actual verification circuit including a PLD, for example, the programmable one-board computer 30.
6 and a writing device 58 are used. The database 52 includes, for example, as shown in FIG.
Each design stage [e.g. logical design level including block diagrams, flowcharts, state transition tables, state transition diagrams, etc., hardware including functional descriptions expressed in definition formulas including CS code representing the current state and NS code representing the next state] A combination of the conventional partial (peripheral) circuit design at the software description language (HDL) level and the schematic diagram including schematic diagrams expressed in symbols and the data of the transistor-level PLD circuit that realized it. For example, data such as which microprocessors and how many were used, how many peripheral chips (memory, TTL, PLD) were used, how they were wired, etc., is compiled into a library as design assets and can be handled accordingly. A large number of data are accumulated for each partial circuit. Therefore, as shown in FIG. 6, the calculation section 54, for example,
Partial circuits A, B, and C obtained by dividing the input logic circuit 10
, D, E are selectively retrieved from the database 52, and the actual circuits corresponding to P in the one-board computer 30 are
By attaching each to the LD separately, the layout and wiring of the circuit are determined. When converting to an actual circuit, for example, it may be difficult to directly convert data at the logic design level into an actual circuit, so first, the data is reduced to the HDL level, and then converted to the HDL level.
It is also possible to convert L level data into an actual circuit. In this way, a test signal is input from the tester 42 to the verification circuit implemented on the programmable one-board computer 30, thereby performing real-time verification using the actual circuit. Also, when evaluating the fault coverage rate of test vectors,
As shown in FIG. 2, instead of design data, faulty circuit data in which internal faults such as element failures and disconnections are intentionally generated is used to realize the faulty circuit in the one-board computer 30. By inputting a test vector into a faulty circuit, the fault coverage rate of the test vector can be quickly evaluated in real time. When creating an output pattern for a DUT input pattern, as shown in FIG. You can quickly obtain the desired output pattern in real time. Therefore, combinations of input and output patterns can be easily obtained. In addition, in the above embodiment, as an actual verification circuit,
Although a programmable one-board computer 30 consisting of two CPUs and many PLDs was used, the type of verification circuit is not limited to this. For example, as in the modification shown in FIG. 7, the number of PLDs 36 is further increased, and the C
For example, the PU 34 is surrounded twice, and an external memory element, for example, a FROM 38, for defining the internal circuit of the PLD 36 is placed in a part of the PU 34, for example, at the four corners, as shown in FIG. As in the other modified example shown, the CPU 34 is arranged so as to almost surround it.
A plurality of large-scale programmable logic devices (PLDs) 36A (9 pieces in the figures) and a plurality (28 pieces in the figures) of small-scale gPLDs 36B arranged outside the large-scale PLD 36A.
You can use something composed of . In the example shown in Fig. 8, the large-scale PLI 36A (for example, for Cobrosesa) that normally requires high functionality is placed near the CPU 34, so it can operate efficiently and at high speed, making it suitable for the hierarchical benefit system. It is suitable. Of course, the large-scale PLD36A
Alternatively, it is also possible to replace a part of the small-scale PLD 36B with a FROM38 similar to the example shown in FIG. It is also possible to make a microprocessor chip just the central core, excluding memory and input/output. In this case, the memory and input/output circuits included in a normal microprocessor can be configured with peripheral PLDs, which is particularly effective for the development of CPUs. Further, as the PLD, one including a memory for a computer system can also be used. In this case, since the memory of the computer system is built into P and D, access is quick and high-speed operation is possible. Of course, PLD
Independently from the external DRAM on the system board,
Memory for the computer system, such as ROM, may also be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第3図は、本発明に係る論理回路の検証方法
の概略を説明するための線図、第4図は、本発明を実施
するための装置の構成を示すブロック線図、 第5図は、前記装置に備えられているデータベースの例
を示す線図、 第6図は、前記実施例における、論理回路をPLDu路
に変換する方法を説明するための線図、第7図及び第8
図は、検証用回路の変形例の構成をそれぞれ示す平面図
、 第9図は、従来の検証作業の概略を説明するための線図
である. 10・・・論理回路(デザインデータ)、20・・・開
発ツール、 30・・・プログラマブルワンボードコンピュータ、3
2・・・システムボード、 34・・・マイクロプロセッサ(CPU)チップ、36
、36A、36B ・・・プログラマブル論理索予(PLD)、42・・・
テスタ、 44・・・テストベクター 46・・・装置テスト用(DUT)入方パターン、48
・・・出力パターン.
1 to 3 are diagrams for explaining the outline of a logic circuit verification method according to the present invention, and FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of an apparatus for implementing the present invention. 5 is a diagram showing an example of a database provided in the device; FIG. 6 is a diagram illustrating a method of converting a logic circuit into a PLDu path in the embodiment; FIGS. 8th
The figures are plan views showing the configurations of modified examples of the verification circuit, and FIG. 9 is a diagram for explaining the outline of conventional verification work. 10...Logic circuit (design data), 20...Development tool, 30...Programmable one-board computer, 3
2... System board, 34... Microprocessor (CPU) chip, 36
, 36A, 36B...Programmable logic device (PLD), 42...
Tester, 44... Test vector 46... Device test (DUT) input pattern, 48
...Output pattern.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)設計された論理回路を、プログラマブル論理素子
の回路に変換し、 該変換された回路を、プログラマブル論理素子を含む実
際の検証用回路に実現し、 該検証用回路に実現された回路を用いて、前記論理回路
を検証することを特徴とする論理回路の検証方法。
(1) Convert the designed logic circuit into a programmable logic element circuit, realize the converted circuit into an actual verification circuit including the programmable logic element, and convert the realized circuit into the verification circuit. A method for verifying a logic circuit, characterized in that the logic circuit is verified using the following method.
(2)請求項1において、前記検証用回路が、システム
ボードの略中央部に配置された、少くとも一つのマイク
ロプロセッサチップと、該マイクロプロセッサチップの
周囲をほぼ取り囲むように配置された、複数のプログラ
マブル論理素子とを少くとも含むプログラマブルなワン
ボードコンピュータであることを特徴とする論理回路の
検証方法。
(2) In claim 1, the verification circuit includes at least one microprocessor chip located approximately in the center of the system board, and a plurality of verification circuits located substantially surrounding the microprocessor chip. A method for verifying a logic circuit, comprising: a programmable one-board computer including at least a programmable logic element.
(3)請求項1又は2において、前記検証用回路に実現
された回路を用いて、故障シミュレーション用のテスト
ベクターを評価することを特徴とする論理回路の検証方
法。
(3) A logic circuit verification method according to claim 1 or 2, characterized in that a test vector for fault simulation is evaluated using a circuit realized in the verification circuit.
(4)請求項1又は2において、前記検証用回路に実現
された回路を用いて、装置テスト用入力パターン入力時
の前記論理回路の出力パターンを作成することを特徴と
する論理回路の検証方法。
(4) A method for verifying a logic circuit according to claim 1 or 2, characterized in that an output pattern of the logic circuit when an input pattern for device testing is input is created using a circuit realized in the verification circuit. .
JP1112587A 1989-04-27 1989-05-01 Verification of logic circuit Pending JPH02291980A (en)

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US07/513,625 US5253181A (en) 1989-04-27 1990-04-24 Programmable one-board computer, and methods of verification of logic circuit and alteration to actual circuit using the programmable one-board computer
CA002015421A CA2015421A1 (en) 1989-04-27 1990-04-25 Programmable one-board computer, and methods of verification of logic circuit and alteration to actual circuit using the programmable one-board computer
EP19900304570 EP0403061A3 (en) 1989-04-27 1990-04-26 A single-board computer incorporating programmable logic devices and its use in the automatic implementation and testing of logic circuits
KR1019900005965A KR900016862A (en) 1989-04-27 1990-04-27 Programmable single board computer and actual circuit conversion method and verification method of logic circuit using the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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