JPH02223868A - 電磁波シールド材のシールド効果測定治具 - Google Patents
電磁波シールド材のシールド効果測定治具Info
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- JPH02223868A JPH02223868A JP4463189A JP4463189A JPH02223868A JP H02223868 A JPH02223868 A JP H02223868A JP 4463189 A JP4463189 A JP 4463189A JP 4463189 A JP4463189 A JP 4463189A JP H02223868 A JPH02223868 A JP H02223868A
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Landscapes
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は電磁波シールド材のシールド効果測定治具に関
するものである。
するものである。
〈従来の技術〉
近来、電子関連機器の普及に伴い、電子機器から放射さ
れる電磁波ノイズが問題とされており、その対策として
種々の電磁波シールド材が開発されている。而して、電
子機器を適正に電磁波シールドするには、電磁波シール
ド材のシールド特性を正確に把握しておく必要がある。
れる電磁波ノイズが問題とされており、その対策として
種々の電磁波シールド材が開発されている。而して、電
子機器を適正に電磁波シールドするには、電磁波シール
ド材のシールド特性を正確に把握しておく必要がある。
従来、電磁波シールド材のシールド効果評価１台具とし
て、例えば、送信アンテナを、納めた窓つきボックスと
受信アンテナとを備え、シールド効果の評価には、を磁
波の放射電力を一定としてボックスの窓に電磁波シール
ド材の試料を装着した場合の受信アンテナの誘起電力Ｐ
１、試料を装着しなかった場合の受信アンテナの誘起電
力Ｐ０をそれぞれ測定し、ｓ＝ １ｏ ｉ ｏ ｇ ｐ
ｏ／ＰＩの値でシールド効果を評価するもの、同軸管型
であって、治具中央において外部導体と内部導体との間
に試料を装着した場合の出力電力Ｐ３、装着しなかった
場合の出力電力Ｐ、をそれぞれ測定して、上記Ｓを求め
るもの、或いは、？ｔｉｆｆ波放射用のＴＨＭセルと検
出用と７８Ｍセルとを窓を介して合体してなり、その窓
に試料を装着した場合の検出電力Ｐ１％装着しなかった
場合の検出電力Ｐ、をそれぞれ測定し、上記Ｓを求める
もの等が知られている。
て、例えば、送信アンテナを、納めた窓つきボックスと
受信アンテナとを備え、シールド効果の評価には、を磁
波の放射電力を一定としてボックスの窓に電磁波シール
ド材の試料を装着した場合の受信アンテナの誘起電力Ｐ
１、試料を装着しなかった場合の受信アンテナの誘起電
力Ｐ０をそれぞれ測定し、ｓ＝ １ｏ ｉ ｏ ｇ ｐ
ｏ／ＰＩの値でシールド効果を評価するもの、同軸管型
であって、治具中央において外部導体と内部導体との間
に試料を装着した場合の出力電力Ｐ３、装着しなかった
場合の出力電力Ｐ、をそれぞれ測定して、上記Ｓを求め
るもの、或いは、？ｔｉｆｆ波放射用のＴＨＭセルと検
出用と７８Ｍセルとを窓を介して合体してなり、その窓
に試料を装着した場合の検出電力Ｐ１％装着しなかった
場合の検出電力Ｐ、をそれぞれ測定し、上記Ｓを求める
もの等が知られている。
く解決しようとする課題〉
しかしながら、上記のＳ値は、例えば、試料の大きさ等
によって変動し、電磁波シールド材の真のシールド効果
を表わしているものではなく、当該Ｓ値でシールド効果
を評価しても、適正な評価をなし得す、補正を必要とす
る。
によって変動し、電磁波シールド材の真のシールド効果
を表わしているものではなく、当該Ｓ値でシールド効果
を評価しても、適正な評価をなし得す、補正を必要とす
る。
ところで、最近、上記電磁波シールド材の電磁波シール
ド効果の測定法として、電磁波シールド材の伝達インピ
ーダンスを測定する手法が公表されている。その測定原
理の内容は、第５図に示す伝達インピーダンス測定系に
おいて、供試電磁波シールド材Ｔ°の壁面に沿って流れ
る電流を１、電圧を第５図のように■とし、 ■ ＺＬ−−□■ 誕 から、伝達インピーダンス２１を求め、シールド効果Ｓ
を 第２式からも求めるということにある。ここにＺｗは空
間インピーダンス（３７７Ω）である。
ド効果の測定法として、電磁波シールド材の伝達インピ
ーダンスを測定する手法が公表されている。その測定原
理の内容は、第５図に示す伝達インピーダンス測定系に
おいて、供試電磁波シールド材Ｔ°の壁面に沿って流れ
る電流を１、電圧を第５図のように■とし、 ■ ＺＬ−−□■ 誕 から、伝達インピーダンス２１を求め、シールド効果Ｓ
を 第２式からも求めるということにある。ここにＺｗは空
間インピーダンス（３７７Ω）である。
而して、この伝達インピーダンス法においては、テスト
試料の大きさを変えてもシールド効果Ｓは変わらず、前
述した他の測定方法によるＳ値の場合のように補正を必
要とせず、その測定値Ｓから適正に電磁波シールド材の
シールド効果を評価できる。しかしながら、この伝達イ
ンピーダンス法は、原理が公表されているに過ぎず、測
定治具の構成は明らかにされていない。
試料の大きさを変えてもシールド効果Ｓは変わらず、前
述した他の測定方法によるＳ値の場合のように補正を必
要とせず、その測定値Ｓから適正に電磁波シールド材の
シールド効果を評価できる。しかしながら、この伝達イ
ンピーダンス法は、原理が公表されているに過ぎず、測
定治具の構成は明らかにされていない。
本発明の目的は、電磁波シールド材の伝達インピーダン
スを容易、かつ高精度で測定できる治具を提供すること
にある。
スを容易、かつ高精度で測定できる治具を提供すること
にある。
く課題を解決するための手段〉
本発明に係る電磁波シールド材のシールド効果測定治具
は、互に突合される同軸型治具片からなり、一方または
両方の治具片の内部導体を、互に摺動自在に接続された
ヘッド部材とリード部材とから構成し、両治具片間に配
される試料の外周部を両治具片の外部導体で挟持し、同
試料の内周部を一方の内部導体の上記ヘッド部と他方の
内部導体とで挟持することを特徴とする構成である。
は、互に突合される同軸型治具片からなり、一方または
両方の治具片の内部導体を、互に摺動自在に接続された
ヘッド部材とリード部材とから構成し、両治具片間に配
される試料の外周部を両治具片の外部導体で挟持し、同
試料の内周部を一方の内部導体の上記ヘッド部と他方の
内部導体とで挟持することを特徴とする構成である。
〈実施例の説明〉
以下、本発明の実施例について説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す上半部欠切側面図であ
る。
る。
第１図において、Ａ−Ｂは同軸型治具片である。
ｌａは治具片への外部導体であり、一端にフランジｌｌ
ａを備え、他端にＮＪココネクター１２ａを備えている
。２ａは治具片Ａの内部導体であり、ヘッド部２１ａと
リード部２２ａとを備え、リード部２２ａは外部導体の
コネクタ一部り２ａ内に絶縁体３ Ｌ ａ ％例えばテ
フロンによって同軸状に保持しである。２３ａはヘッド
部に設けた螺子穴である。ｌｂは治具片Ｂの外部導体で
あり、一端にはフランジｌｌｂを、他端にはＮＪコネク
ター部を１２ｂをそれぞれ備えている。２ｂは治具片の
内部導体であり、ソケット部２２１を有するリード部材
２２ｂとスリ割りを設けたピン部２１１を有するヘッド
部材２１ｂとから構成し、リード部材２２ｂを外部導体
のコネクタ一部１２ｂ内に絶縁体３１ｂによって同軸状
に保持し、リード部材２２ｂのソケット部２２１にヘッ
ド部材２１ｂのピン部２１１を摺動自在に差込接続しで
ある。
ａを備え、他端にＮＪココネクター１２ａを備えている
。２ａは治具片Ａの内部導体であり、ヘッド部２１ａと
リード部２２ａとを備え、リード部２２ａは外部導体の
コネクタ一部り２ａ内に絶縁体３ Ｌ ａ ％例えばテ
フロンによって同軸状に保持しである。２３ａはヘッド
部に設けた螺子穴である。ｌｂは治具片Ｂの外部導体で
あり、一端にはフランジｌｌｂを、他端にはＮＪコネク
ター部を１２ｂをそれぞれ備えている。２ｂは治具片の
内部導体であり、ソケット部２２１を有するリード部材
２２ｂとスリ割りを設けたピン部２１１を有するヘッド
部材２１ｂとから構成し、リード部材２２ｂを外部導体
のコネクタ一部１２ｂ内に絶縁体３１ｂによって同軸状
に保持し、リード部材２２ｂのソケット部２２１にヘッ
ド部材２１ｂのピン部２１１を摺動自在に差込接続しで
ある。
２３ｂはヘッド部材２１ｂに突設した螺子部であり、一
方の内部導体ヘッド部２１ａの螺子穴２３ａに螺結しで
ある。ｒ・（ｒ）は各内部導体２ａ・（２ｂ）のリード
部２２ａ・（２２ｂ）の途中にろう接した抵抗器であり
、その抵抗値は、測定系特性インピーダンス（５０Ω）
に等しくしである。
方の内部導体ヘッド部２１ａの螺子穴２３ａに螺結しで
ある。ｒ・（ｒ）は各内部導体２ａ・（２ｂ）のリード
部２２ａ・（２２ｂ）の途中にろう接した抵抗器であり
、その抵抗値は、測定系特性インピーダンス（５０Ω）
に等しくしである。
３２ａ・３２ｂは抵抗器部分の補強用絶縁体、例えば、
高密度ポリエチレン、ポリスチロール等であり、この部
分インピーダンスの補正用としても機能している。４は
両外部導体のフランジを締結せるボルト・ナツト、Ｔは
供試体である。
高密度ポリエチレン、ポリスチロール等であり、この部
分インピーダンスの補正用としても機能している。４は
両外部導体のフランジを締結せるボルト・ナツト、Ｔは
供試体である。
治具に供試体（電磁波シールド材の試料）を装着するに
は、治具片Ａのヘッド部螺子穴２３ａに、他方の治具片
Ｂの構成要素であるヘッド部材２１ｂの螺子部２３ｂを
螺合し、供試体Ｔの内周部を挟持する。この螺合調部に
よって、供試体′１゛の内周部をヘッド部２１ａ・２１
ｂ間に充分な接触圧で挟持できる０次いで、ヘッド部材
２１ｂのビン部２１１上に治具片Ｂにおける内部導体２
ｂ Ｉノード部材２２ｂのソケット部２２１を挿通・
し、而るのち、ヘッド部材２１ｂのピン部２１１を軸と
して治具片Ａ−Ｂを相対的に回転させ、両外部導体２ａ
・２ｂのフランジｌｌａ・ｌｌｂのボルト孔を位置合せ
し、両フランジ１ｌａｌｌｂをボルト・ナツト４の締付
けによって連結する。
は、治具片Ａのヘッド部螺子穴２３ａに、他方の治具片
Ｂの構成要素であるヘッド部材２１ｂの螺子部２３ｂを
螺合し、供試体Ｔの内周部を挟持する。この螺合調部に
よって、供試体′１゛の内周部をヘッド部２１ａ・２１
ｂ間に充分な接触圧で挟持できる０次いで、ヘッド部材
２１ｂのビン部２１１上に治具片Ｂにおける内部導体２
ｂ Ｉノード部材２２ｂのソケット部２２１を挿通・
し、而るのち、ヘッド部材２１ｂのピン部２１１を軸と
して治具片Ａ−Ｂを相対的に回転させ、両外部導体２ａ
・２ｂのフランジｌｌａ・ｌｌｂのボルト孔を位置合せ
し、両フランジ１ｌａｌｌｂをボルト・ナツト４の締付
けによって連結する。
供試体Ｔが電磁波シールドガスケット材である場合は、
第２図に示すように両治具片Ａ−Ｂの内部導体？ａ・２
ｂとも、互に摺動自在に接続されたヘッド部材とリード
部材とから構成し、両治具片Ａ−Ｂ間に金属板（銅板）
ｍを配し、この金属板ｍと各外部導体のフランジ１ｌａ
−１１ｂとの間でそれぞれガスケット供試体′ｒ・′Ｉ
゛を挟持する。
第２図に示すように両治具片Ａ−Ｂの内部導体？ａ・２
ｂとも、互に摺動自在に接続されたヘッド部材とリード
部材とから構成し、両治具片Ａ−Ｂ間に金属板（銅板）
ｍを配し、この金属板ｍと各外部導体のフランジ１ｌａ
−１１ｂとの間でそれぞれガスケット供試体′ｒ・′Ｉ
゛を挟持する。
この場合、各ガスケット供試体Ｔ・（Ｔ）の厚みに応じ
て、各治具片Ａ・（Ｂ）の外部導体１ａ・（１ｂ）が＋
Ｘ・（−）＠向にずれるが、各内部導体２ａ・（２ｂ）
の摺動接続部によってこのずれを吸収できる。
て、各治具片Ａ・（Ｂ）の外部導体１ａ・（１ｂ）が＋
Ｘ・（−）＠向にずれるが、各内部導体２ａ・（２ｂ）
の摺動接続部によってこのずれを吸収できる。
上記において、一方の内部導体のヘッド部材を他方の内
部導体のヘッド部材に結着する構成は上記螺結方式に限
定されるものではなく、ヘッド部とヘッド部材との間で
試料を所定の接触圧で挟持できるものであればよい、上
記の両外部導体を連結する構成も上記フランジ方式に限
定されるものではなく、両外部導体の着脱が可能であれ
ば、適宜の構成をなし得る。
部導体のヘッド部材に結着する構成は上記螺結方式に限
定されるものではなく、ヘッド部とヘッド部材との間で
試料を所定の接触圧で挟持できるものであればよい、上
記の両外部導体を連結する構成も上記フランジ方式に限
定されるものではなく、両外部導体の着脱が可能であれ
ば、適宜の構成をなし得る。
上記抵抗器はできるだけ供試試料の近傍に設けることが
好ましく、抵抗器と供試体との間隔は使用最高周波数の
波長の０．２倍以下とすることが望ましい、使用周波数
が低く、治具の大きさが波長に較べて十分に小さい場合
には、抵抗器を省略することもできる。
好ましく、抵抗器と供試体との間隔は使用最高周波数の
波長の０．２倍以下とすることが望ましい、使用周波数
が低く、治具の大きさが波長に較べて十分に小さい場合
には、抵抗器を省略することもできる。
本発明の治具を用いて電磁波シールド材のシールド効果
を測定するには、治具に試料をセットしたのち、治具の
一方のコネクター口に発振器を、他方のコネクター口に
電圧計をそれぞれ接続し、試料の伝達インピーダンスを
測定すればよい。
を測定するには、治具に試料をセットしたのち、治具の
一方のコネクター口に発振器を、他方のコネクター口に
電圧計をそれぞれ接続し、試料の伝達インピーダンスを
測定すればよい。
第３図は、その等価回路を示し、■は同軸型測定治具に
対応する部分、■は発振器側、■は電圧計側である。Ｚ
ｏは測定系の特性インピーダンスを、「は抵抗器の抵抗
を、２１は試料の伝達インピーダンスを、ｖｌは発振器
出力電圧を、ｖ８は測定電圧を、■は試料に流れる電流
を、■は試料にかかる電圧をそれぞれ示している（なお
、同軸型治具の特性インピーダンスを発振器の特性イン
ピーダンス、電圧計インピーダンスに整合させるように
、同軸の内外導体径を設定しである）。
対応する部分、■は発振器側、■は電圧計側である。Ｚ
ｏは測定系の特性インピーダンスを、「は抵抗器の抵抗
を、２１は試料の伝達インピーダンスを、ｖｌは発振器
出力電圧を、ｖ８は測定電圧を、■は試料に流れる電流
を、■は試料にかかる電圧をそれぞれ示している（なお
、同軸型治具の特性インピーダンスを発振器の特性イン
ピーダンス、電圧計インピーダンスに整合させるように
、同軸の内外導体径を設定しである）。
Ｖ−２Ｖ、 ■
ンスを測定すれば、前記第２式によってシールド効果Ｓ
を測定できる。
を測定できる。
値を５０Ω、治具の外部導体の内径を３８．８■、外部
導体のコネクタ一部内径を１４．０閤、内部導体のヘッ
ド部またはヘッド部材の外径を１６．９園、内部導体の
リード部またはリード部材の外径を６．１■試料から抵
抗器までの距離を４５．０閣として、次の各′を磁波シ
ールド材についての伝達インピーダンスの周波数特性を
測定した結果であり、１００１００Ｏといった高周波数
帯でも安定した測定値を得ることができた。
導体のコネクタ一部内径を１４．０閤、内部導体のヘッ
ド部またはヘッド部材の外径を１６．９園、内部導体の
リード部またはリード部材の外径を６．１■試料から抵
抗器までの距離を４５．０閣として、次の各′を磁波シ
ールド材についての伝達インピーダンスの周波数特性を
測定した結果であり、１００１００Ｏといった高周波数
帯でも安定した測定値を得ることができた。
（１）ニッケルメッキ処理を施した多数の微細孔を有す
る鉄箔であり、厚さ０．１０ｍｍ、孔径２゜０腫、開口
率５８％。
る鉄箔であり、厚さ０．１０ｍｍ、孔径２゜０腫、開口
率５８％。
（■）同上、厚さ０．１０閣、孔径１．７閤、開口率４
０％。
０％。
（ｆｆｌ）同上、厚さｏ、ｉｏ鴎、孔径１．０■、開口
率１９％。
率１９％。
（■）ニッケルメッキ処理を施した無孔の鉄箔であり、
厚さ、０．１Ｏ−０ （Ｖ）銅をメツキしたポリエステル不織布であり、厚さ
８４μｍ、表面抵抗０．０３Ω／口。
厚さ、０．１Ｏ−０ （Ｖ）銅をメツキしたポリエステル不織布であり、厚さ
８４μｍ、表面抵抗０．０３Ω／口。
第４図は、上記第１図において、抵抗器の抵抗（Ｖｌ）
表面を防錆処理した厚さ３５μｍの銅箔の裏面に厚さ３
０μｍの粘着層を付与。
表面を防錆処理した厚さ３５μｍの銅箔の裏面に厚さ３
０μｍの粘着層を付与。
〈発明の効果〉
本発明に係る電磁波シールド材のシールド効果測定治具
は上述した通りの構成であり、伝達インピーダンスの測
定により、前記第２弐から真のシールド効果を把握でき
る。特に、少なくとも一方の治具片における内部導体を
互に摺動自在に接続せるヘッド部材とリード部材とによ
り構成して、一方の治具片における内部導体のヘッド部
材と他方の治具片における内部導体のヘッド部との間で
試料の内周部を挟持できるようにしであるから、両治具
片の外部導体の連結状態に左右されることなく、試料の
内周部を充分な接触面圧で挟持でき、この箇所における
測定電流密度が高いにもかかわらず接触抵抗を安定な抵
抗に保持できるから、安定した測定値を得ることができ
る また、両方の治具片における内部導体を、互に摺動
自在に接続せるヘッド部材とリード部材とによって構成
したものにおいては、外部導体間の間隔を内部導体間の
間隔より広くしても、この間隔の差を摺動接続部で吸収
できるから、外部導体間に電磁波シールド材を配してそ
のシールド材のシールド効果をも測定できる。
は上述した通りの構成であり、伝達インピーダンスの測
定により、前記第２弐から真のシールド効果を把握でき
る。特に、少なくとも一方の治具片における内部導体を
互に摺動自在に接続せるヘッド部材とリード部材とによ
り構成して、一方の治具片における内部導体のヘッド部
材と他方の治具片における内部導体のヘッド部との間で
試料の内周部を挟持できるようにしであるから、両治具
片の外部導体の連結状態に左右されることなく、試料の
内周部を充分な接触面圧で挟持でき、この箇所における
測定電流密度が高いにもかかわらず接触抵抗を安定な抵
抗に保持できるから、安定した測定値を得ることができ
る また、両方の治具片における内部導体を、互に摺動
自在に接続せるヘッド部材とリード部材とによって構成
したものにおいては、外部導体間の間隔を内部導体間の
間隔より広くしても、この間隔の差を摺動接続部で吸収
できるから、外部導体間に電磁波シールド材を配してそ
のシールド材のシールド効果をも測定できる。
第１図は本発明の一実施例を示す説明図、第２図は同上
実施例における試料装着状態の別例を示す説明図、第３
図は同上実施例の電気的等価回路図、第４図は同上実施
例による測定した試料の伝達インピーダンス特性を示す
図表、第５図は伝達インピーダンス法の原理を示す説明
図である。 Ａ−Ｂ・・・・・・治具片、 １ａ・１ｂ・・・・・
・外部導体、２ａ・２ｂ・・・・・・内部導体、 ２１ｂ・・・・・・内部導体２ｂのヘッド部材、２２ｂ
・・・・・・内部導体のリード部材、 ′ｒ・・・・・
・試料。
実施例における試料装着状態の別例を示す説明図、第３
図は同上実施例の電気的等価回路図、第４図は同上実施
例による測定した試料の伝達インピーダンス特性を示す
図表、第５図は伝達インピーダンス法の原理を示す説明
図である。 Ａ−Ｂ・・・・・・治具片、 １ａ・１ｂ・・・・・
・外部導体、２ａ・２ｂ・・・・・・内部導体、 ２１ｂ・・・・・・内部導体２ｂのヘッド部材、２２ｂ
・・・・・・内部導体のリード部材、 ′ｒ・・・・・
・試料。
Claims (2)
- （１）、互に突合される同軸型治具片からなり、一方の
治具片の内部導体を、互に摺動自在に接続されたヘッド
部材とリード部材とから構成し、両治具片間に配される
試料の外周部を両治具片の外部導体で挟持し、同試料の
内周部を一方の内部導体の上記ヘッド部と他方の内部導
体とで挟持することを特徴とする電磁波シールド材のシ
ールド効果測定治具。 - （２）、請求項（１）において、両方の治具片の内部導
体を、互に摺動自在に接続されたヘッド部材とリード部
材とから構成したことを特徴とする電磁波シールド材の
シールド効果測定治具。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1044631A JP2523361B2 (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | 電磁波シ―ルド材のシ―ルド効果測定治具 |
| US07/482,802 US5061899A (en) | 1989-02-23 | 1990-02-21 | Transfer impedance testing fixture for electromagnetic wave shielding material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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