JPH02217968A - Label inspecting device - Google Patents

Label inspecting device

Info

Publication number
JPH02217968A
JPH02217968A JP1038910A JP3891089A JPH02217968A JP H02217968 A JPH02217968 A JP H02217968A JP 1038910 A JP1038910 A JP 1038910A JP 3891089 A JP3891089 A JP 3891089A JP H02217968 A JPH02217968 A JP H02217968A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
label
inspection
image
brightness distribution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1038910A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Seisho Kawabata
川端 誠勝
Hiroyuki Hashimoto
弘之 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TAIYO ERETSUKUSU KK
Toyo Seikan Group Holdings Ltd
Original Assignee
TAIYO ERETSUKUSU KK
Toyo Seikan Kaisha Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TAIYO ERETSUKUSU KK, Toyo Seikan Kaisha Ltd filed Critical TAIYO ERETSUKUSU KK
Priority to JP1038910A priority Critical patent/JPH02217968A/en
Publication of JPH02217968A publication Critical patent/JPH02217968A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the generation of malfunction even when timing is slightly shifted due to the speed variation or the like of a conveyer by executing positioning by internal processing. CONSTITUTION:This label inspecting devices is constituted of a video camera 2, an image memory 3, an image processing part 4, the 1st and 2nd sampling pattern memories 5, 6, the 1st and 2nd inspected pattern memories 7, 8, the 1st and 2nd pattern contrasting parts 9, 10, a deviation detecting part 11, and a pattern detecting part 12. The lightness distribution pattern of an image in an inspection line parallel with the relative moving direction of a object to be inspected is obtained by means of the inspection line, and after executing positioning by internal processing, the obtained pattern is compared with a prescribed lightness distribution pattern. Even when the timing is slightly shifted due to the speed variation or the like of the conveyer, the generation of malfunction can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ラベルの検査装置に関し、さらに詳しくは
、容器(ガラスビン、プラスチックボトル、紙パツク、
金属缶等)に付されたラベル、印刷紋様等の位置や種類
の異常を検出することができる検査装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a label inspection device, and more particularly, to a label inspection device for containers (glass bottles, plastic bottles, paper packs, etc.).
The present invention relates to an inspection device that can detect abnormalities in the position and type of labels, printed patterns, etc. attached to metal cans, etc.

[従来の技術] 従来のラベル検査装置の一例では、第6図に示すように
、コンベアVにより搬送されているビンBがテレビカメ
ラの視野の所定位置に来たときに画像Gを捉え、画面中
の所定の6ケ所に設定したウィンドウW内についてラベ
ルLのエツジが存在するか否かを調べて、ラベルLのエ
ツジが全てのウィンドウW内に存在すればラベル貼着位
置が適正であると判定し、工・ノジが存在しないウィン
ドウWが一つでもあればラベル貼首位置か不適正である
と判定している。
[Prior Art] As shown in FIG. 6, an example of a conventional label inspection device captures an image G when a bin B being conveyed by a conveyor V comes to a predetermined position in the field of view of a television camera, and displays it on the screen. It is checked whether edges with label L exist in windows W set at six predetermined locations in the window W, and if edges with label L exist in all windows W, the label pasting position is determined to be appropriate. If there is even one window W in which there is no work or nozzle, it is determined that the label pasting position is inappropriate.

また、ラベルに対応するような所定位置にウィンドウM
を設定し、各ウィンドウM内の2値化面積値が所定の許
容範囲外であればラベルか汚れているか又は異種のラベ
ルであると判定している。
In addition, a window M is placed in a predetermined position corresponding to the label.
is set, and if the binarized area value within each window M is outside a predetermined tolerance range, it is determined that the label is dirty or a different type of label.

なお、CはラベルLの種類を表示するバーフードである
Note that C is a bar food that displays the type of label L.

[発明が解決しようとする課題] 上記従来のラベル検査装置には2つの問題点がある。[Problem to be solved by the invention] The conventional label inspection device described above has two problems.

第1の問題点は、画像Gを捉えるタイミングを適正にし
なければならず、もしコンベアVの速度変動等によりタ
イミングが少しでもずれると誤動作を引き起こす点であ
る。換言すれば、タイミングを厳正にするための複雑な
構成が必要となることである。
The first problem is that the timing for capturing the image G must be appropriate, and if the timing is even slightly off due to speed fluctuations of the conveyor V, malfunctions may occur. In other words, a complicated configuration is required to ensure strict timing.

第2の問題点は、ウィンドウWのサイズの設定が内器な
点である。すなわち、ウィンドウWのサイズを大きくす
ればラベルLの位置ずれの検出精度が低下し、ウィンド
ウWのサイズを小さくすれば上記タイミングの問題から
誤動作を引き起こし易くなってしまうので、その兼ね合
いか難しいことである。
The second problem is that the size of the window W is set internally. In other words, if the size of the window W is increased, the accuracy of detecting the positional shift of the label L will decrease, and if the size of the window W is decreased, malfunctions will be more likely to occur due to the timing problem mentioned above. be.

従って、この発明の目的とするところは、コンベア■の
速度変動等によりタイミングか少しずれることがあって
も誤動作を引き起こさず、ウィンドウWのサイズの問題
がなく、また、ラベルの位置と種類の同時検査を行うこ
とも1可能な検査装置を提供することにある。
Therefore, it is an object of the present invention to prevent malfunctions even if the timing is slightly off due to speed fluctuations of the conveyor, etc., to avoid problems with the size of the window W, and to ensure that the position and type of labels can be adjusted at the same time. The object of the present invention is to provide an inspection device that can perform inspections.

[課題を解決するための手段] この発明のラベルの検査装置は、相対移動する検査対象
の画像を得る撮像手段と、その撮像手段の画面中に設定
した前記相対移動の方向に平行な検査ラインにおける画
像の明度分布パターンと所定の明度分布パターンとを位
置合わせし且つ比較して位置補正量および/またはパタ
ーン一致度を出力するパターン対照手段と、位置補正量
および/またはパターン一致度に基づいて検査対象に付
したラベルの位置および/または種類の適否を判定する
判定手段とを具備してなることを構成上の特徴とするも
のである。
[Means for Solving the Problems] The label inspection apparatus of the present invention includes an imaging means for obtaining an image of a relatively moving inspection object, and an inspection line parallel to the direction of the relative movement set in the screen of the imaging means. pattern comparing means for aligning and comparing the brightness distribution pattern of the image with a predetermined brightness distribution pattern and outputting a position correction amount and/or pattern matching degree; A structural feature of the apparatus is that it includes a determination means for determining the suitability of the position and/or type of label attached to the inspection object.

なお、上記において「および/または」とは、いずれか
一方でも両方でもよいことを意味している。また、「ラ
ベル」とは、容器(ガラスビンプラスチックボトル、紙
パツク、金属缶等)に貼着したラベルはいうまでもなく
、容器に印刷lまた表示欄や紋様の如きものをも含む意
味である。
In addition, in the above, "and/or" means that either one or both may be used. In addition, the term "label" includes not only labels attached to containers (glass bottles, plastic bottles, paper packages, metal cans, etc.), but also anything printed on the container, such as display fields or patterns. .

[作用] この発明のラベルの検査装置では、検査対象の相対移動
の方向に平行な検査ラインを用いてその検査ラインにお
ける画像の明度分布パターンを得、内部処理により位置
合わせしてから所定の明度分布パターンと比較するから
、画像を得るタイミングが多少ずれても誤動作を引き起
こすことがない。
[Operation] The label inspection device of the present invention uses an inspection line parallel to the direction of relative movement of the inspection object to obtain the brightness distribution pattern of the image on the inspection line, aligns it by internal processing, and then adjusts the image to a predetermined brightness. Since it is compared with the distribution pattern, malfunctions will not occur even if the timing of image acquisition is slightly off.

また、ずれ1曲がりの検査にはウィンドウを用いないの
で、ウィンドウのサイズの問題かない。さらに、パター
ンの一致を判定するから、ラベル等の種類(内容)の検
査をも8易に行うことが出来る。
Further, since a window is not used for inspection of one deviation and one bend, there is no problem with the size of the window. Furthermore, since pattern matching is determined, the type (content) of labels, etc. can be easily inspected.

また、明度分布パターン波形のレベルの急変する部分(
立上がり部分または立下がり部分)からラベルのエツジ
を検出できるので、これをタイミングフラグとして利用
すれば、ラベルの所望部分に正確に対応づけて画面中に
ウィンドウを形成できることとなり、異種ラベル、汚れ
の検査を精度高く行えるようになる。
In addition, the part where the level of the brightness distribution pattern waveform changes suddenly (
Since the edge of the label can be detected from the rising or falling part), by using this as a timing flag, it is possible to form a window on the screen that corresponds accurately to the desired part of the label, making it possible to inspect foreign labels and dirt. You will be able to do this with high precision.

[実施例] 以下、実施例に基づきこの発明をさらに詳説する。なお
、これによりこの発明か限定されるものではない。
[Examples] Hereinafter, the present invention will be explained in further detail based on Examples. Note that this invention is not limited to this.

第1図に示すラベルの検査装置1において、ビデオカメ
ラ2は、ビンBを搬送するコンベア〜パLの所定領域を
監視している。すなわち、ビデオカメラ2で得た画像は
、画像メモリ3に常時:叩き込まれている。
In the label inspection apparatus 1 shown in FIG. 1, a video camera 2 monitors a predetermined area between the conveyor L and the conveyor L that conveys the bottles B. That is, images obtained by the video camera 2 are always stored in the image memory 3.

画像処理部4は、第2図に示すように画面中の所定の2
ケ所に設定されているビンBの移動ノ)向に平行な検査
ラインSL、S2における画像Gの明度分布パターンを
チエツクしている。
As shown in FIG. 2, the image processing unit 4
The brightness distribution pattern of the image G on the inspection lines SL and S2 parallel to the direction of movement of the bin B is checked.

ビンBかないときの明度分布パターンはバックライト(
図示省略)の明度の一様分布となるが、ビンBが画面に
入−)で来るとその部分の明度が丁がるので、画面中に
おけるビンBの位置を知ることが出来る。
The brightness distribution pattern when there is no bin B is the backlight (
The brightness distribution is uniform (not shown), but when the bin B enters the screen at the point (-), the brightness of that part becomes even, so the position of the bin B in the screen can be known.

ビンBが画面の略中夫に来ると、画像処理部4は、その
時の検査ラインS1およびS2における画像Gの明度分
布パターンを抽出する。
When the bin B comes to approximately the center of the screen, the image processing unit 4 extracts the brightness distribution pattern of the image G on the inspection lines S1 and S2 at that time.

そして、このラベルの検査装置1が「標本モード」にさ
れているときは、第1I!i]目に抽出した明度分布パ
ターンは第1標本パターンメモリ5および第2標本パタ
ーンメモリ6にそれぞれ記憶させ、第2回目以降に抽出
した明度分布パターンは、先に第1標本パターンメモリ
5および第2標本パターンメモリ6にそれぞれ記憶させ
た明度分布パターンと位置合わせ(ビンBの画像部分の
位置合わせ。端部で対応のない部分を生じたときはバッ
クライトの明度とする。以下同じ。)を?1つでから加
算シて第1標本パターンメモリ5および第2標本パター
ンメモリ6にそれぞれ記憶させる。所定の回数になると
、第1標本パターンメモリ5および第2標本パターンメ
モリ6にそれぞれ記憶させたものを所定の回数で除算し
てモ均明度を算出し、これを第1標本パターンメモリ5
および第2標本パターンメモリ6にそれぞれ記憶させる
。したかって、正しいラベルを適正な位置に貼nしたビ
ンを所定回数流すことで、チエツクの基準となる平均的
な明度分布パターンが第1標本パターンメモリ5および
第2標本パターンメモリ6にそれぞれ設定されることと
なる。
When the label inspection device 1 is in the "specimen mode", the first I! The brightness distribution pattern extracted at the time i] is stored in the first sample pattern memory 5 and the second sample pattern memory 6, respectively, and the brightness distribution pattern extracted from the second time onwards is first stored in the first sample pattern memory 5 and the second sample pattern memory 6. Alignment with the brightness distribution patterns stored in the two-sample pattern memory 6 (alignment of the image portion of bin B. If an uncorresponding portion occurs at the edge, the brightness of the backlight is used. The same applies hereinafter). ? The first sample pattern memory 5 and the second sample pattern memory 6 respectively store the resultant sample pattern memory 5 and the second sample pattern memory 6. When a predetermined number of times is reached, the values stored in the first sample pattern memory 5 and the second sample pattern memory 6 are divided by the predetermined number of times to calculate the uniform lightness, and this is stored in the first sample pattern memory 5.
and stored in the second sample pattern memory 6, respectively. Therefore, by passing a bottle with a correct label pasted at an appropriate position a predetermined number of times, an average brightness distribution pattern that serves as a reference for checking is set in the first sample pattern memory 5 and the second sample pattern memory 6, respectively. The Rukoto.

「標本モード」による上記平均的な明度分布パターンの
設定が終ると、ラベル等の検査装置1を「検査モード」
にする。すると、画像処理部4は、検査ラインS1およ
びS2における画像Gの明度分布パターンを抽出した後
、その抽出した明度分布パターンを第1被検パターンメ
モリ7および第2被検パターンメモリ8にそれぞれ記憶
させる。
After setting the above average brightness distribution pattern in "sample mode", switch the inspection device 1 for labels etc. to "inspection mode".
Make it. Then, the image processing unit 4 extracts the brightness distribution pattern of the image G on the inspection lines S1 and S2, and then stores the extracted brightness distribution pattern in the first test pattern memory 7 and the second test pattern memory 8, respectively. let

明度分布パターンが第1被検パターンメモリ7に記憶さ
れると、第1パターン灼照部9は、第1標本パターンメ
モリ5と第1被検パターンメモリ7にそれぞれ記憶され
た明度分布パターンの位置合わせを行って、その位置合
わせのために要したズレ量をズレ検査部11に出力する
と共に、パターンの一致度を算出してその一致度をパタ
ーン検査部12に出力する。
When the brightness distribution pattern is stored in the first test pattern memory 7, the first pattern cauterization unit 9 determines the position of the brightness distribution pattern stored in the first sample pattern memory 5 and the first test pattern memory 7, respectively. After alignment, the amount of deviation required for the alignment is output to the deviation inspection section 11, and the degree of matching of the patterns is calculated and the degree of coincidence is output to the pattern inspection section 12.

同様に、明度分布パターンが第2被検パターンメモリ8
に記憶されると、第2パターン対照部1Oは、第2標本
パターンメモリ6と第2被検ベターンメモリ8にそれぞ
れ記憶された明度分布パターンの(tB、6わせを行っ
て、その位置合わせのために要したズレ量をズレ検査部
11に出力すると共に、パターンの一致度を算出してそ
の一致度をパターン検査部12に出力する。
Similarly, the brightness distribution pattern is stored in the second test pattern memory 8.
When the brightness distribution patterns are stored in the second sample pattern memory 6 and the second sample pattern memory 8, the second pattern comparison unit 1O aligns the brightness distribution patterns (tB, 6) stored in the second sample pattern memory 6 and the second sample pattern memory 8, respectively. The amount of deviation required for this is output to the deviation inspection section 11, and the degree of matching of the patterns is calculated and the degree of matching is output to the pattern inspection section 12.

ズレ検査部11は、第1パターン対照部9からのズレh
1と第2パターン対照部10からのズレ14の大きさを
所定の許容値に比較する(横ズレの検出)とともに、そ
れらのズレ計の差を所定の訪客(−に比較する(回転ズ
レの検出)。そして、ズレ111の大きさかいずれも所
定の許容値内であり且つズレ量の差が所定の許容範囲内
であれば横ズレおよび回転ズレなしと判定し、そうでな
ければラベル不適正と判定し、判定結果を表示部(図示
省略)に出力する。
The deviation inspection section 11 detects the deviation h from the first pattern comparison section 9.
The size of the deviation 14 from the first and second pattern comparison parts 10 is compared with a predetermined tolerance value (lateral deviation detection), and the difference between these deviation meters is compared to a predetermined visitor (-) (rotational deviation detection). Then, if both the size of the deviation 111 is within a predetermined tolerance and the difference in the amount of deviation is within a predetermined tolerance, it is determined that there is no horizontal or rotational deviation, and if not, the label is judged to be inappropriate. The determination result is output to a display unit (not shown).

他方、パターン検査部12は、第1パターン対照部9か
らの一致度と第2パターン対照部10からの一致度とを
それぞれ所定の許容値に比較する(縦ズレおよび種類相
違の検出)。そして、両Jjとら許容値内であれば縦ズ
レおよび種類相違なしと判定し、いずれかでも許容値外
であればラベル不適正と判定し、判定結果を表示部(図
示省略)に出力する。
On the other hand, the pattern inspection section 12 compares the matching degree from the first pattern comparing section 9 and the matching degree from the second pattern comparing section 10 with respective predetermined tolerance values (detection of vertical deviation and type difference). Then, if both Jj and Jj are within the allowable value, it is determined that there is no vertical deviation or type difference, and if either of them is outside the allowable value, it is determined that the label is inappropriate, and the determination result is output to a display section (not shown).

そこで、例えば第3図に示すようなうベルLが回転ズレ
しているビンBが来た場合、平均的なラベル位置(二点
鎖線)からのラベルI7の貼着位置のズレ口は、検査ラ
インS1についてと検査ラインS2についてとて大きさ
がそれぞれ許容値内であっても、符号が逆なので両ズレ
ロの差が所定の許容範囲外となるから、ラベル不適正と
ill定する。
For example, when a bottle B with a rotational misalignment of the bell L as shown in FIG. Even if the magnitudes of line S1 and inspection line S2 are within the allowable values, since the signs are opposite, the difference between the two values is outside the predetermined allowable range, so it is determined that the label is inappropriate.

なお、ラベルLの明度分布パターンは第2図のものと略
一致するので、一致度は許容値内となり、縦ズレおよび
種類相違なしと判定する。
Note that since the brightness distribution pattern of the label L substantially matches that shown in FIG. 2, the degree of matching is within the allowable value, and it is determined that there is no vertical shift or type difference.

次に、例えば第4図に示すようなビン]3が来た場合、
ズレ口の大きさがいずれも所定の許容値内であり■つズ
レ量の差が所定の許容範囲内であるから、横ズレおよび
回転ズレなしと判定するが、検査ラインS1についての
明度分布パターンが第2図のものとバーコードC部分に
おいて不一致なので、ラベル不適正と判定する。
Next, if a bottle] 3 as shown in Fig. 4 comes, for example,
Since the sizes of the misalignment openings are all within the predetermined tolerance and the difference in the amount of misalignment is within the predetermined tolerance, it is determined that there is no lateral misalignment or rotational misalignment, but the brightness distribution pattern for the inspection line S1 Since the barcode does not match the one in FIG. 2 in the C portion of the barcode, it is determined that the label is inappropriate.

さらに、画像処理部4は、第5図に示すように、検査ラ
インS1についての明度分布パターンの急変部分からラ
ベルLのエツジEを検出し、この点Eを基準位置として
予め設定された所定の相対位置にウィンドウMを形成す
る。そし5て、それらウィンドウM内の2値化面積値を
算出し、初期設定された許容範囲と比較して、許容範囲
内であれば異常なし、許容範囲外であれば異種ラベルで
あるか又は汚れかある異常ありとの出力を送出する。
Furthermore, as shown in FIG. 5, the image processing unit 4 detects an edge E of the label L from a sudden change part of the brightness distribution pattern for the inspection line S1, and sets a predetermined edge E with this point E as a reference position. A window M is formed at a relative position. Then, calculate the binarized area values within these windows M and compare them with the initially set tolerance range. If it is within the tolerance range, there is no abnormality, and if it is outside the tolerance range, it is determined that it is a different label or Sends output indicating that there is dirt or abnormality.

以−にのように、このラベルの検査装置1によれば、容
易に内部処理で位置合わせを行えるので、コンベアVの
速度変動等によりタイミングが少しずれることがあって
も誤動作を引き起こさない。
As described above, according to this label inspection apparatus 1, alignment can be easily performed by internal processing, so even if the timing is slightly shifted due to speed fluctuations of the conveyor V, malfunctions will not occur.

また、ラベルの貼着位置と種類の同時検査を行えるよう
になる。
Additionally, it becomes possible to simultaneously inspect the label attachment position and type.

変形実施例としては、コンベヤVによる移動量を検出す
るエンコーダや、ビンBか所定位置に到達したことを検
出する光電スイッチ等を設け、それらの外部信号をタイ
ミングフラグとして利用して、明度分布パターンを抽出
したり、ウィンドウを形成したり、先述した内部的なタ
イミングフラグと比較するものが挙げられる。これによ
れば、背景とビンBの明度差が少なく画像中におけるビ
ンBの位置を明度から知ることが困難な場合にも対応で
きるようになる。さらに、明度からはビンBとラベルL
とを区別しにくい場合や、ラベルがなくて直にビンBに
バーコードCあるいは何らかのマークが付されている場
合にも、好適に種類検査を行えるようになる。
As a modified embodiment, an encoder for detecting the amount of movement by the conveyor V, a photoelectric switch for detecting that the bin B has reached a predetermined position, etc. are provided, and these external signals are used as timing flags to determine the brightness distribution pattern. Examples include extracting the timing flag, forming a window, and comparing it with the internal timing flag mentioned above. According to this, it becomes possible to cope with the case where the difference in brightness between the background and the bin B is small and it is difficult to know the position of the bin B in the image from the brightness. Furthermore, from the brightness, bin B and label L
Even in cases where it is difficult to distinguish between the two types, or where there is no label and a barcode C or some other mark is directly attached to the bottle B, the type can be suitably inspected.

以1、ラベルの検査について述へたか、当検査は容器(
ガラス、プラスチック1紙、金属等)への彫刻1印刷に
ついても行うことかできる。
1. I mentioned the label inspection, but this inspection is for containers (
It is also possible to print engravings on glass, plastic, paper, metal, etc.

[発明の効果] この発明のラベルの検査装置によれば、容易に内部処理
で位置合わせを行えるので、コンベア〜′の速度変動等
によりタイミングが少しずれることがあっても誤動作を
引き起こさない。
[Effects of the Invention] According to the label inspection device of the present invention, alignment can be easily performed by internal processing, so even if the timing is slightly shifted due to speed fluctuations of the conveyor ~', malfunctions will not occur.

また、ラベルに対応した正確な位置にウィンドウを形成
できるので、検査精度を向上することができる。
Furthermore, since the window can be formed at an accurate position corresponding to the label, inspection accuracy can be improved.

さらに、ラベルの位置と種類の同時検査を行うことが可
能となる。
Furthermore, it becomes possible to simultaneously inspect the position and type of the label.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明のラベルの検査装置の一実施例のブロ
ック図、第2図は画面と検査ラインを示す概念図、第3
図はラベルか回転ズレを起こしているビンの外観図、第
4図はラベルの種類か川辺しているビンの外観図、第5
図はウィンドウを形成した状態の第2図相当図、第6図
は従来のラベルの検査装置ffの方式を説明するための
概念図である。 ・・第2被検パターンメモリ ・・第1パターン対11α部 0・・第2パターン対照部 1・・ズレ検出部 2・・・パターン検出部。 (符号の説明) 1・・・ラベル等の検査装置 2・・・ビデオカメラ 4・・・画像処理部 5・・・第1標本パターンメモリ 6・・・第2標本パターンメモリ 7・・・第1被検パターンメモリ
Fig. 1 is a block diagram of an embodiment of the label inspection device of the present invention, Fig. 2 is a conceptual diagram showing the screen and inspection line, and Fig. 3 is a conceptual diagram showing the screen and inspection line.
Figure 4 is an external view of a bottle with a misaligned label, Figure 4 is an external view of a bottle with a misaligned label, and Figure 5
The figure is a diagram corresponding to FIG. 2 with a window formed, and FIG. 6 is a conceptual diagram for explaining the method of the conventional label inspection apparatus ff. ...Second test pattern memory...First pattern pair 11α section 0...Second pattern comparison section 1...Misalignment detection section 2...Pattern detection section. (Explanation of symbols) 1... Inspection device for labels etc. 2... Video camera 4... Image processing unit 5... First sample pattern memory 6... Second sample pattern memory 7... 1 Test pattern memory

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、相対移動する検査対象の画像を得る撮像手段と、そ
の撮像手段の画面中に設定した前記相対移動の方向に平
行な検査ラインにおける画像の明度分布パターンと所定
の明度分布パターンとを位置合わせし且つ比較して位置
補正量および/またはパターン一致度を出力するパター
ン対照手段と、位置補正量および/またはパターン一致
度に基づいて検査対象に付したラベルの位置および/ま
たは種類の適否を判定する判定手段とを具備してなるこ
とを特徴とするラベルの検査装置。
1. Aligning an imaging means for obtaining an image of a relatively moving inspection object and a predetermined brightness distribution pattern with an image brightness distribution pattern on an inspection line parallel to the direction of the relative movement set on the screen of the imaging means and a pattern comparison means for comparing and outputting a position correction amount and/or pattern matching degree, and determining suitability of the position and/or type of label attached to the inspection target based on the position correction amount and/or pattern matching degree. What is claimed is: 1. A label inspection device comprising: determination means for determining a label;
JP1038910A 1989-02-18 1989-02-18 Label inspecting device Pending JPH02217968A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1038910A JPH02217968A (en) 1989-02-18 1989-02-18 Label inspecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1038910A JPH02217968A (en) 1989-02-18 1989-02-18 Label inspecting device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02217968A true JPH02217968A (en) 1990-08-30

Family

ID=12538356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1038910A Pending JPH02217968A (en) 1989-02-18 1989-02-18 Label inspecting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02217968A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992010810A1 (en) * 1990-12-06 1992-06-25 Omron Corporation Method of correcting shading and device therefor
JPH0546735A (en) * 1991-08-07 1993-02-26 Kanebo Ltd Device for inspecting label
JP2013073452A (en) * 2011-09-28 2013-04-22 Nihon Yamamura Glass Co Ltd Boxed article inspection method and boxed article inspection device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60222980A (en) * 1984-03-12 1985-11-07 テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド Apparatus and method of automatically inspecting print label
JPS635243A (en) * 1986-06-25 1988-01-11 Hitachi Ltd System for detecting bending of ic lead

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60222980A (en) * 1984-03-12 1985-11-07 テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド Apparatus and method of automatically inspecting print label
JPS635243A (en) * 1986-06-25 1988-01-11 Hitachi Ltd System for detecting bending of ic lead

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992010810A1 (en) * 1990-12-06 1992-06-25 Omron Corporation Method of correcting shading and device therefor
US5621824A (en) * 1990-12-06 1997-04-15 Omron Corporation Shading correction method, and apparatus therefor
JPH0546735A (en) * 1991-08-07 1993-02-26 Kanebo Ltd Device for inspecting label
JP2013073452A (en) * 2011-09-28 2013-04-22 Nihon Yamamura Glass Co Ltd Boxed article inspection method and boxed article inspection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7276380B2 (en) Transparent liquid inspection apparatus, transparent liquid inspection method, and transparent liquid application method
US20060147092A1 (en) Intelligent digital graphics inspection system and method
CN101444779A (en) Magnet size automatic measuring and sorting unit
CN101566582A (en) Medicine bottle label information online detection system in powder injection production based on mechanical vision
JPH0143347B2 (en)
JP2012132929A (en) Label inspection method and apparatus
US5187573A (en) Inspection method and apparatus
JPH02217968A (en) Label inspecting device
US6229608B1 (en) Procedure and system for inspecting a component with leads to determine its fitness for assembly
WO2000078116A1 (en) Procedure and system for inspecting a component with leads to determine its fitness for assembly
JP2012098306A (en) Method and device for inspecting label
JP3041800B1 (en) Bottle misalignment inspection device
JP2506201B2 (en) Goods inspection equipment
JP2758550B2 (en) Appearance inspection device
JP2735964B2 (en) Label inspection device
JP2960672B2 (en) Filling amount inspection device
JPH07140088A (en) Correcting method for unit shift amount of appearance-inspection camera in circuit board inspection device
JPH03237570A (en) Method and device for inspecting code-printed face
JPH07243808A (en) Method and apparatus for inspection of label as well as lebel image processor
JP2000088555A (en) Inspection method for position deviation of character and figure and device thereof
KR930017129A (en) Appearance inspection method and apparatus for semiconductor package
JPH0341577A (en) Discriminating method for circular body
JPS60210745A (en) Visual sensor system
JPH04115145A (en) Inspecting apparatus for electronic component mounting
JPH11173817A (en) Dimension measuring method and equipment used in its execution