JPH02205885A - Electronic learning apparatus - Google Patents

Electronic learning apparatus

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Publication number
JPH02205885A
JPH02205885A JP33108388A JP33108388A JPH02205885A JP H02205885 A JPH02205885 A JP H02205885A JP 33108388 A JP33108388 A JP 33108388A JP 33108388 A JP33108388 A JP 33108388A JP H02205885 A JPH02205885 A JP H02205885A
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JP
Japan
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answer
data
learning
key
question
Prior art date
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Pending
Application number
JP33108388A
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Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Ozaki
隆弘 尾崎
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ROEHM PROPERTIES BV
Original Assignee
ROEHM PROPERTIES BV
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Publication date
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Publication of JPH02205885A publication Critical patent/JPH02205885A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To inexpensively improve learning efficiency by totalizing the self- evaluation results of rendered questions and setting the question rendering parameters of the rendered questions in accordance with the totalized contents. CONSTITUTION: The questions are rendered by a question rendering means in accordance with the learning data stored by a leaning memory in the electronic learning device 1 and thereafter, answers are displayed after lapse of, for example, the prescribed time or in response with the push of a prescribed key. A user considers the answers to the questions and views the answers. When the self-evaluation results of the results are inputted by self-evaluation input means 2, 4, the input results are totalized and stored as the self-evaluation results for the rendered questions in a learning memory means. The stored totalization contents are used for setting the question rendering patterns of the questions rendered by the question rendering means by a question rendering pattern setting means. Then, the self-evaluation results are reflected to the question rendering patterns from the next. As a result, the question rendering frequencies of the rendered questions not good in the evaluation results are increased or the repetitive rendering of the rendered questions not good in the evaluation results is made possible.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[産業上の利用分野] 本発明は、電子学習装置に関し、詳しくは、英単語、漢
字、歴史年表、数学公式、理科公式等の暗記に好適な電
子学習装置に関する。 〔従来の技術] 従来、単語等を暗記するため文具として単語カードがあ
るが、単語カードをめくることは煩雑であり、前回正答
か誤答かがわからないので、前回正答であったものまで
、もう1度解くことになり学習効率が悪かった。現在、
英語辞書カードも市販されているが、何万語も内蔵した
カードは試験には役にたたない。 更に、問題とこの問題に対する正答を含む複数の答えを
記載した問題カードに対して回答を行い結果に応じて音
声により正誤を判定するもの(特開昭6O−22288
5)、難易度に応じて区別されたカードが提案されてい
る(特開昭6l−11729)。しかし、1度正答を出
したものまで再度問題を解くことになるので、学習効率
が悪かった。 更に穴埋め問題に対し誤った問題のみを繰り返し学習す
る必要があり、解答時間の長くかかった問題■のみを繰
り返して練習する必要がある。 [発明が解決しようとする課題] そこで本発明の目的は、安価でかつ学習効率を飛躍的に
向上するのに好適な電子学習装置を提供することにある
。 [課題を解決するための手段] 従って前記目的を解決する本発明の要旨は、問題データ
と解答データとを含む所定の学習データを格納する学習
メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データ、それに続いて解答データを可
視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解
答データと問題データとを順次に可視出力する可視出力
部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置である。 又、少なくとも1つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、少なくとも正答キーと誤答キー
とを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
解答データと問題データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 1つの問題データについて少なくとも1つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、1つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置を要
旨とする。 更に、問題データと解答データとを含む所定の学習デー
タを格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解答
データと問題データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置を要旨とする。 [作用コ 本装置の作用は、問題データと解答データとを格納する
学習メモリから、まず問題データを読みだし可視出力し
、使用者がこれを見て答えを考える。ついで解答データ
を読みだして可視出力し、使用者が正答キーと誤答キー
の選択を行い、使用者の答えが解答と合っていると使用
者が正答キーを押し、答えが解答と合っていないと使用
者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対し使用者の
解答が正答であったか誤答であったかを識別できるよう
に(例えば識別信号をつけたり、別々の記・憶領域に格
納したり)し、こうして問題と解答を繰り返し、学習デ
ータの内、誤答であるもののみを識別する。 こうして誤答と識別された問題を自動的に順次に読みだ
し、正答、誤答キーの選択をおこない、正答キーに応答
して、その可視出力した誤答学習データを正答と識別し
、こうした制御を繰り返し、誤答となった学習データが
減少して行く。従って、誤答である問題のみを正答にな
るまで学習できるので、解答時間が短縮し学習効率が飛
躍的に向上する。 又、少なくとも1つの空欄勇断を含むいわゆる穴埋め問
題データと、空欄勇断に対応する解答データとを格納す
る学習メモリから、まず問題データを読みだし可視出力
し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで解答デー
タを読みだして可視出力し、使用者が正答キーと誤答キ
ーの選択を行い、使用者の答えが空欄の解答と合ってい
ると正答キーを押し空欄が解答で埋まり、答えが空欄の
解答と合っていないと誤答キーを押し空欄はそのままで
あり、1つの問題の空欄について少なくとも1つ誤答が
あると誤答、全部正解であると正答と識別できる。 次ぎに1つの問題文中の少なくとも1つの空欄が誤答で
あった問題のみを読みだし、正答、誤答キーの選択をお
こない、空欄勇断が全部正答で空欄がなくなると、その
可視出力した学習データを正答とみなして空欄勇断の残
っている学習データから識別し、その空欄の残っている
学習データが減少するように、このような処理を繰り返
し全問正答に近づいて行く。 従って、使用者は誤った問題のみを何らの労力も要せず
容易に学習でき、学習時間を大幅に短縮することができ
る。 更に、本装置の作用は、問題データと解答データとを格
納する学習メモリから、まず問題データを読みだし可視
出力し、使用者がこれを見て答えを考え、使用者は可視
出力した解答を見て正答キーと誤答キーの選択を行う。 ついで問題の表示から正答キーと誤答キーの応答までの
解答時間を計測し、解答時間に長時間を要した問題だけ
を識別する。このような問題だけを読みだし可視出力し
、再度、解答時間に長時間を要したものかどうか判断し
、短時間で解答に達すると、その可視出力した学習デー
タを解答に長時間を要した学習データから識別し、その
ような長時間を要した学習データが所定数に減少するま
でこのような処理を繰り返す。従って、問題が早く解け
るようになり学習効果を大幅に向上できる。 [実施例コ 以上説明した本発明の構成作用を一層明らかにするため
に、以下本発明の装置の好適な実施例について説明する
。第1図Aは本発明の第1実施例で、手帳型電子学習機
1を示し、正答キー2と誤答キー4と終了キー8と音声
キー10と表示キー12と切キー14と大キー16と選
択キー18と正答率キー20とアルファニューメリック
キー21とを備えるキーボード入力部22と、この入力
部22に応答して、後述のICカード24. 26から
交互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続いて解
答とを表示する表示部2日とを有している。 第1図B、  Cは、英単語ICカード24と歴史年表
ICカード26で、学習段階に応じて、所定の問題デー
タと解答データとを含む学習データを所定数格納してお
り、ICカード24.26は電子学習11!1の受は入
れgPJ23に挿入できる。 第2図は電子学習機1の内部構造で、この装置1は、キ
ーボード入力部22、表示部28、音声出力部29、周
知のCPU30、ROM32、RAM34、バックアッ
プRAM35を中心にこれらとバス36により接続する
カウンタ38、電源部40、タイマ42、コネクタ44
、インタフェース46.プリンタインターフェース48
から構成する。プリンタインタフェース4日はプリンタ
に接続可能であり、ROM32は学習制御プログラムを
記憶している。 この電子学習機1はICカード24と接続し、このIC
カード24は、周知のCPU50、ROM52、RAM
54を中心にこれらとバス56により接続するインタフ
ェース5Bから構成する。 ROM52は制御プログラムと英単語の問題データと解
答データとを所定数記憶している。 第3図は、ROM32とROM52に格納している学習
制御プログラムを示すメインルーチンのフローチャート
である。まずステップl(以下S1と略す)においては
、フラグ、カウンタ等の期間化を行い、S2は音声キー
10がオンしているかどうかを判断し、YESならS3
で音声出力部29をオンし、NOならS4でフラグFを
1に設定し、次の85は学習処理を行うサブルーチンで
ある。 第4図は、サブルーチンS5の処理を示すフローチャー
トであり、以下場合を分けて説明する。 ■第1回目の場合(フラグG=0の場合)。 まずS12はメニュー−の表示と選択を行い、第5図A
は、大キー16の押し下げにより現れるメニュー画面を
示し、選択キー18でカーソル60を移動しメニューを
選択できる。この画面では「1」が選択され、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに第5図B
のメニュー画面が現れ、中学の学年別に応じた英単語の
問題をカーソル60の移動で選択し、この画面では「2
」が選択され、中学2年程度の英単語を格納したROM
52のワードメモリ70の読みだしが可能となる。 第6図は、中学2年の学習レベルに対応するROM52
のワードメモリ70の内容を示し、ワードメモリ70は
P1〜P 3000番地、Q1〜03000番地まであ
り、各番地に対応してE1〜E3000.  Jl〜J
 3000までの6000個のデータを順次格納してい
る。E1〜E 3000は問題である英単語を示すデー
タで、J1〜J 3000はその解答である和文を示す
。 例えばP1番地には英単語データEl(例: beau
tiful)、Q1番地には、その訳語データJl(例
:美しい)1i:格納している。ROM52の図示せぬ
他のワードメモリには中学1年と中学3年と高校入試用
の英単語データを所定数格納している。 第4図に戻り、S14は、ROM52の最後の0300
0番地に入っている識別用のデータを読み出したかどう
かを判断することにより、ROM52の内容を1通り読
み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理である
のでNOと判断する。次の818はワードメモリ70か
ら英単語データE1を読みだし、読みだした英単語デー
タElを表示部28の問題欄に“beautiful”
と表示し、音声フラグFが0ならば、表示する文字を音
声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考え、正
答をみるため表示キー12を押すと、S20でYESと
判断し、次の922でQ1番地に格納されている訳語デ
ータJlを読みだして表示部2日の解答欄に“形容詞;
美しい′と表示するが、更に発音、類義語、反対語、文
例も同時に表示できるよう構成することができる。 使用者の答えが訳語データJ1と合っていないと使用者
は誤答キー°4を押し、S34でN01S24でYES
と判断し、最初の処理であるので826でNOと判断し
、第4図の928では、誤答回数Jを1増加する。S2
9では表示部2日に表示しているデータのPl、011
番左第7図のRAM35のエラーリストメモリ80のM
1番地に格納し、又、31Bの英単語の表示から表示キ
ー12の押し下げまでの使用者の解答時間T1をタイマ
42から読み出し、エラーリストメモリ80のM1番地
に格納する。次の930では終了キー8が押されていな
いのでNOと判断し、S32で全解答回数Iを1増加し
て31Bに戻り、91Bでは次の単語データE2をワー
ドメモリ70のP2番地から読みだし、その英単語デー
タE2を表示部2日に表示する。 そして使用者がこれを見て答えを考え正答を見るため、
表示キー12を押すと、S22で02番地の訳語データ
J2を読みだして、表示部28に表示し、音声フラグF
が0ならば音声出力する。使用者の答えが訳語データJ
2と同じ場合は、正答キー2を押し、S34でYESと
判断し、526でフラグGが1かどうか判断し最初の処
理なのでNOと判断し、S30.332を経て同様な処
理を繰り返す。このようにして誤答と判断した英単語デ
ータ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積さ
れて行きROM52のワードメモリ70のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、第7図に示すエラー
リストメモリ80のデータが600個になっており、使
用者は3000題の内、600題を誤答したことになる
。M2O3からM3O00までは空き領域であるが、も
し全問誤答の場合、誤答となった英単語と訳文データの
番地と解答時間が、M1〜M3000番地を満たすこと
になる。 途中で打ち切る場合は、S30でYESとなり、S40
では終了処理を行い、メツセージ「途中で終わりました
」を表示部28に表示する。フラグG=0と終了時の番
地をRAM35の図示せぬ終了メモリに格納しておくの
で、次回はその途中から始められるので便利である。1
回目を完全に終了してから終わる場合はフラグG=1と
設定されており、フラグG=1とエラーリストメモリ8
0の最初の番地とを終了メモリに格納する。 ■1回目を終えた後、2回目の最初から又は2回目の途
中から始める場合(フラグG=1の場合の処理) S12の処理を終えて、914.16を経て、S18で
RAM35の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをROM52のワードメモリ70から読みだ
す。S20で表示キー12を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はS34,336を経て9
3Bでエラーリストメモリ80から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はS24゜
S26,930.S32を経て91Bに戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ80から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすと340で終了処理を行い、表示部28に
メツセージ「全てが正答となりました」と表示し、°途
中で終わる場合はフラグG=Oと最後の番地を終了メモ
リに格納する。 ■プリント処理 S40が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、第3
図のメインルーチンにもどり、S6で図示せぬプリント
キーが押し下げされると87で印字処理を行い、本メイ
ンルーチンを終了する。 尚、第1実施例では、英単語の問題であったが、OX式
、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、理科数学公式
、漢字等に適用できることも勿論である。 第8図、第9A、  B、  C図は第2実施例であり
、第1実施例と異なるところは、RAM35にエラーリ
ストメモリ100に加えてコレクトリストメモリ90を
追加したものである。第8図は第4図と異なる個所を示
しており他のステップはほぼ共通であり、第8図で第1
回目に使用者の解答が正答であるときしこも正答データ
を952でコレクトリストメモリ90に識別可能に格納
できるようにしている。つまり正答であるデータと誤答
であるデータを分けてRAM35のコレクトリストメモ
リ90に552で、エラーリストメモリ100に828
でデータを格納できる。即ち、第1回目の処理が終了し
たとき、第9図Aのワードメモリ75から読みだしたデ
ータを、第9図Bのコレクトリストメモリ90と同図C
のエラーリストメモリ100に分けて格納する様子を示
す。 そして934で正答キー2を押し下げる毎に、表示中の
正答であると判断したデータを950でエラーリストメ
モリ100からコレクトリストメモリ90に転送し、エ
ラーリストメモリ100のデータを減少させて行く。 尚、コレクトリストメモリ90、エラーリストメモリ1
00を第1回目、第2回目等の繰り返し回数に応じてそ
れぞれ記憶しておくことも可能であり、何回目で正答に
達したかがわかる。 第10図は本発明の第3実施例であり、いわゆる穴埋め
問題に対する応用例である。第10図はワードメモリ1
70を示し、P1〜P300には問題データが、Qll
〜Q 3003には解答データが入り、Plには次のよ
うな間頚データに1が入っている。 郵便局へはどういったらいいですか。 Can  you  []  me  the[コ  
 to   the    []0ffice? 第11図はK 1のデータ構造を示し、データに11は
’Can  you″であり、α1.β1.rlは最初
の空欄に対応し、α1.β1.γ1はそれぞれ最初の位
置、空欄にはいる文字数、最後の位置を示し、解答デー
タLllの“tel!”に対応する。 データK]2は、 “me  the”であり、データ
α2.β2.γ2は2@目の空欄に対応し、解答データ
L12の“way”に対応する。データに13は1to
  the”であり、データα3.β3.γ3は3番目
の空欄に対応し、解答データL13の”Po5t 11
が対応し、データに14は“0ffice?”である。 Q11番地には解答データLitとして“telビ′が
、012番地には解答データL12として“way“が
、Q13番地には解答データL13として“Po5t”
が入っている。ここでカウンタCの内容は1つの問題デ
ータ中の空欄ケ所の数を示す。 第12図は、エラーリストメモリ180の内容を示し、
空欄勇断を正答すると、そこに解答データが入り、空欄
勇断が言呉答の時は空欄はそのままであり、正答すれば
するほどエラーリストメモリ180の内のデータ数とカ
ウンタCは減少して行く。 次ぎに第3実施例の内容を、第13図のサブフローチャ
ートに基づいて説明する。第1実施例の第4図のサブフ
ローチャートを図示のように1部変更したもので、31
6〜S30に代わり9300〜5400が加わっている
が、81B、20゜22.24はそのままであり、英単
語に代わり英語の文章が読みだされ表示部28に表示さ
れる。 まず5300でこれから表示する学習データについての
カウンタCの値をカウンタBに設定し、ここではカウン
タBは1つの問題文中の空欄勇断の数が解答のある毎に
減ってゆく様子を示すもので、残りの未解答の空欄勇断
の数を示す。第1実施例と同様に318〜S22で問題
と解答の表示が行われた後、S34で正答キー2が押さ
れると、5310でカウンタCとカウンタBとを1減少
し、5320で解答データをRAM340所定領域に転
送し、正答であればもう1度問題を解く必要はないから
5330で表示部28の問題文中の空欄[]を消去し、
そこに解答データを衷示する。一方、誤答キー4が押さ
れると、S24でYESとなり、5340で空欄はその
ままとし誤答回数Jを1増加し、カウンタBを1減少す
る。 5330又は5340の後は、5350でB=0となる
までループ処理(820〜5340)を行う。 5350でYESとなると、8360でG=1かどうか
判断し、Noならば8380でエラーリストメモリ18
0に問題データと解答データを格納し、5320でRA
M34に格納した解答データ(正答となったもの)を問
題データに転送し、その解答データは解答番地から消去
する。YESならばRAM34の解答データをエラーリ
ストメモリ180に転送し、既に問題データは格納され
ているから、問題データの格納は行わない。 例えば、第1間の3つの空欄の内、1.2番目の空欄が
誤答で3番目の空欄を正答したとすると011.12@
地のデータはそのままで、013番地のデータL13を
問題データに1のデータα3.β3.γ3へ転送して空
欄を埋め、問題データは次のように修正され’Po5t
”が現れる。  郵便局へはどういったらいいですか。 Can  you  []  me  the[コ  
    to      the      Po5t
Office? 尚、解答データの内、Li2は消去される。 続<3390でYES、即ち空欄に対し全部正答キー2
が押されると9400でエラーリストメモリ180かそ
のデータを消去する。例えば、第12図のP3番地のデ
ータは空領域となっており、これは第3間の3つの空欄
をすべて正答したためである。S30でNOの場合は、
1つの問題を終えたと判断し、S32へ飛び、■を1増
加して、次の問題文に移る。YESならS40へ飛ぶ。 こうして処理がつぎつぎに行われた結果の例が第12図
に示される。 第14図は、第4実施例を示し、第1実施例の第4図の
サブフローチャートの918〜S30を1部変更したも
ので、5500〜5520が新たに加わっている。即ち
、第1実施例では、誤答のもののみを正答になるまで繰
り返しているが、これに加えて第4実施例では、更に解
答に時間を要したものを選択して、正答かつ解答時間が
短くなるまで問題を繰り返し実行する。 5500でタイマ42が起動して、S20でYESなら
、5510でタイマ42をストップして解答時間データ
Tiを算出し、S22.S34のあと5520で解答時
間T1と所定時間Toを比較し、YESならS24.9
26を経て92Bで第7図のエラーリストメモリ80に
単語データ、訳文データとともに、解答時間データTi
を格納し、S29を行い、93Bを行い、S30へ飛び
、5520でNOなら936,33Bを行う。尚、正答
、誤答に拘らず、解答時間が長かったものを選択して、
繰り返して問題を解けるように設計変更できることは勿
論である。 第15図は、第5実施例であり、ICカード24.26
の学習データの範囲を使用者が自由に設定できるもので
あり、図示せぬ所定のキーが押されると本ルーチンが起
動し、学習データの区分、例えは中学の各学年の学期、
教科書の各セクション、歴史年表の年代等の一覧を表示
12Bに衷示し、5700でICカード24.26の表
面に設けた図示せぬ選択キーあるいはアルファニューメ
リ・ンクキー21で所望のレッスンを設定する。例えは
歴史年表で1500年から1650年までを学習したい
ときは、1500と1650の数字キーを押せばよく、
英語の教科書のセクションでは選択キーを押してカーソ
ルで選ぶことができる。 次の8800では設定されたレッスンに対応する学習デ
ータの格納領域に関する設定データをRAM35に記・
憶し、この設定した学習データの格納領域以外からの学
習データの読み込みを禁止し、5900でICカード2
4又は26の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが
押されると、51000でその押し下げに応じて前記設
定データを変更し処理を終了する。こうして学習を始め
る前、学習途中、学習後に学習データの区分を自由に設
定変更することができるので、学習の自由度を大いに向
上させることができる。 尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形が可
能であり、例えば、英単語の問題の代わりに漢字、歴史
年表、数学公式、理科公式等の暗記用の学習データとし
てもよく、学習データを試験によくでる頻度順にROM
に格納しておいてもよく、回路をディスクリートな構成
にしてもよく、ICカードの方にバッファ・ンブRAM
を設は電池でバックアップしてもよく、全問正答まで行
くとゲームが楽しめるように構成してもよく、学習処理
の終了時に残りの問題数を表示し目標達成までどのくら
いかを示すように構成してもよく、問題データの表示後
、設定時間経過後に自動的に解答データを表示部に表示
してもよい。又、正答キー2、誤答キー4、終了キー8
、音声キー10、表示キー12、選択キー1日又は正解
率キー20をアルファニューメリックキー21が兼用し
てもよく、現在普及しつつある電子辞典としても活用で
きる。更に、バックアップRAMの内容を書換え可能と
し、使用者が問題と解答を自由に作成、追加、変更でき
るようにすることが可能である。 [発明の効果コ 本発明の効果は、誤答学習データを学習メモリから選択
的に順次に読みだし可視出力部に可視出力し、正答キー
に応答して、その誤答学習データを正答と識別し、誤答
学習データが少なくとも所定数になるまで制御している
ので、使用者は解答を誤った問題のみを何らの労力も要
せず繰り返し学習でき、学習時間を大幅に短縮すること
ができ、又、学習段階に応じて問題を選択できる。 次ぎに1つの問題文中の少なくとも1つの空欄が誤答で
あった問題を識別し、その空欄の残っている学習データ
を正解になるまで繰り返し学習ができるので、いわゆる
穴埋め問題に対する学習効果が大幅に上昇する。 更に、解答に長時間を要した学習データを学習メモリか
ら選択的に順次に読みだし可視出力部に可視出力し、キ
ーに応答して、早く解けた場合はその学習データを識別
可能とし、解答に長時間を要した学習データを少なくと
も所定数になるまで制御しているので、解答時間が制限
される試験に対しての学習効果が大幅に向上する。
[Industrial Field of Application] The present invention relates to an electronic learning device, and more particularly to an electronic learning device suitable for memorizing English words, kanji, historical chronology, mathematical formulas, science formulas, and the like. [Prior art] Conventionally, word cards have been used as stationery to memorize words, etc., but turning over the word cards is cumbersome and it is not possible to tell whether the answer was correct or incorrect the previous time. Learning efficiency was poor because you had to solve the questions once. the current,
English dictionary cards are also commercially available, but the cards that contain tens of thousands of words are useless for exams. In addition, there is a method in which the answer is given to a question card containing a question and a plurality of answers including the correct answer to the question, and the correctness is judged by voice according to the result (Japanese Patent Application Laid-Open No. 6O-22288
5) Cards classified according to difficulty level have been proposed (Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-11729). However, since students had to solve the questions again even if they had answered correctly once, learning efficiency was poor. In addition, it is necessary to repeatedly study only the incorrect fill-in-the-blank questions, and it is necessary to repeat and practice only the questions that took a long time to answer. [Problems to be Solved by the Invention] Therefore, an object of the present invention is to provide an electronic learning device that is inexpensive and suitable for dramatically improving learning efficiency. [Means for Solving the Problems] Therefore, the gist of the present invention for solving the above object is to provide a learning memory that stores predetermined learning data including question data and answer data, and at least a correct answer key and an incorrect answer key. an input section; in response to the input section, reading learning data from the learning memory, visually outputting question data and then answer data; and in response to the correct answer key or incorrect answer key, reading the next answer data; a visual output section that sequentially visually outputs and problem data; an identification means that responds to an incorrect answer key to identify the learning data as an incorrect answer; and reading out the incorrect answer learning data and sequentially outputting the learning data to the visual output section. The electronic learning device is characterized by comprising: an incorrect answer data control means that visually outputs the incorrect answer learning data to the correct answer key, identifies the incorrect answer learning data as a correct answer in response to the correct answer key, and reduces the incorrect answer learning data. . Further, an input unit including a learning memory that stores learning data including question data from which at least one portion has been deleted and answer data corresponding to the deleted portion, and at least a correct answer key and an incorrect answer key; In response to the above, the learning data is read from the learning memory, the question data and then the answer data are visually output, and the next answer data and question data are sequentially output in response to the correct answer key or the incorrect answer key. a visual output unit that visually outputs the data; an identification means that identifies the learning data as an incorrect answer when at least one incorrect answer key responds to one question data; and a wrong answer data control means for visually outputting the wrong answer learning data to identify the wrong answer learning data as a correct answer when a correct answer key responds to all deleted portions of one question data, and reducing the wrong answer learning data. The gist of this paper is an electronic learning device that is characterized by the following. Further, a learning memory for storing predetermined learning data including question data and answer data, an input section including at least a correct answer key and an incorrect answer key, and reading the learning data from the learning memory in response to the input section. a visual output unit that visually outputs the question data and then the answer data, and sequentially visually outputs the next answer data and question data in response to the correct answer key or the incorrect answer key; a measuring means for measuring the time from the visible output to the response of the correct answer key or the incorrect answer key; pls respond,
an identification means for identifying that the answer time of the learning data is long; reading out the long learning data and sequentially visually outputting it to the visual output section in response to the correct answer key or the incorrect answer key;
Abstract: An electronic learning device characterized by comprising: an answer time data control means that identifies the learning data as having a short answer time and reduces the long learning data when the answer time becomes less than the predetermined time. shall be. [Function] The function of this device is to first read the question data from the learning memory that stores the question data and answer data and output it visually, so that the user can look at it and think about the answer. Next, the answer data is read out and output visually, the user selects the correct answer key and the incorrect answer key, and when the user's answer matches the answer, the user presses the correct answer key, and the user selects the correct answer key and the incorrect answer key. If the user presses the wrong answer key, the user can visually output the question and identify whether the user's answer was correct or incorrect (for example, by attaching an identification signal or storing it in a separate memory area). In this way, the questions and answers are repeated to identify only incorrect answers from the learning data. In this way, the questions identified as incorrect answers are automatically read out sequentially, the correct answer key and the incorrect answer key are selected, and in response to the correct answer key, the visually outputted incorrect answer learning data is identified as the correct answer, and such control is performed. As the process is repeated, the amount of learning data with incorrect answers decreases. Therefore, only questions with incorrect answers can be studied until they become correct answers, so answering time is shortened and learning efficiency is dramatically improved. Also, first, question data is read out from a learning memory that stores so-called fill-in-the-blank question data including at least one blank answer and answer data corresponding to the blank answer, and is output visually so that the user can look at this and think about the answer. . Next, the answer data is read out and visually output, the user selects the correct answer key and the incorrect answer key, and if the user's answer matches the answer in the blank, press the correct answer key, the blank is filled in with the answer, and the answer is displayed. If the answer does not match the answer in the blank, the user presses the wrong answer key and the blank remains as is, and if there is at least one wrong answer for one question, the answer is incorrect, and if all the answers are correct, the answer is correct. Next, only the questions in which at least one blank in one question sentence was answered incorrectly are read out, and the correct answer or incorrect answer key is selected. When all the blanks are answered correctly and there are no blanks, the learning data is visually output. is regarded as a correct answer and identified from the remaining learning data with blank answers, and this process is repeated so that the remaining learning data with blanks decreases to get closer to correct answers for all questions. Therefore, the user can easily learn only the incorrect questions without any effort, and the learning time can be significantly shortened. Furthermore, the function of this device is to first read the problem data from the learning memory that stores the problem data and answer data, output it visually, the user looks at this and thinks about the answer, and the user then visually outputs the answer. Look and select the correct answer key and incorrect answer key. Next, the answer time from displaying the question to the response of the correct answer key and the incorrect answer key is measured, and only the questions that require a long answer time are identified. It reads out only such questions and visually outputs them, then judges again whether they took a long time to answer or not.If the answer is reached in a short time, then the visually output learning data is used to determine whether it took a long time to answer. This process is repeated until the learning data that required a long time is reduced to a predetermined number. Therefore, problems can be solved quickly and the learning effect can be greatly improved. [Embodiments] In order to further clarify the structure and operation of the present invention explained above, preferred embodiments of the apparatus of the present invention will be described below. FIG. 1A shows a first embodiment of the present invention, which shows a notebook-type electronic learning machine 1, including a correct answer key 2, an incorrect answer key 4, an end key 8, a voice key 10, a display key 12, an off key 14, and a large key. 16, a selection key 18, a correct answer rate key 20, and an alphanumeric key 21. In response to the input section 22, an IC card 24. The display section 26 reads out questions and answers alternately from 26, and has a display section 2 that displays the questions and then the answers. 1B and C show an English word IC card 24 and a historical chronology IC card 26, which store a predetermined number of learning data including predetermined question data and answer data according to the learning stage. 24.26 can be inserted into gPJ23 by receiving electronic learning 11!1. FIG. 2 shows the internal structure of the electronic learning machine 1. This device 1 mainly includes a keyboard input section 22, a display section 28, an audio output section 29, a well-known CPU 30, a ROM 32, a RAM 34, a backup RAM 35, and a bus 36. Counter 38, power supply unit 40, timer 42, connector 44 to be connected
, interface 46. Printer interface 48
Consists of. The printer interface 4 can be connected to a printer, and the ROM 32 stores a learning control program. This electronic learning machine 1 is connected to an IC card 24, and this
The card 24 includes a well-known CPU 50, ROM 52, and RAM.
54 and an interface 5B connected to these via a bus 56. The ROM 52 stores a predetermined number of control programs, English word question data, and answer data. FIG. 3 is a flow chart of the main routine showing the learning control program stored in the ROM 32 and ROM 52. First, in step l (hereinafter abbreviated as S1), flags, counters, etc. are converted into periods, and in S2 it is determined whether the voice key 10 is on, and if YES, S3
The voice output unit 29 is turned on in step S4, and if the answer is NO, flag F is set to 1 in step S4.The next step 85 is a subroutine for performing learning processing. FIG. 4 is a flowchart showing the processing of subroutine S5, and each case will be explained separately below. ■For the first time (when flag G=0). First, S12 displays and selects a menu, and
shows a menu screen that appears when the large key 16 is pressed, and the menu can be selected by moving the cursor 60 using the selection key 18. On this screen, "1" is selected, and questions about Japanese translations of English words are asked as described later. Next, Figure 5B
A menu screen will appear, and you can move the cursor 60 to select the English vocabulary problem that corresponds to your junior high school grade.
” is selected and a ROM containing English words for second year junior high school students.
52 word memories 70 can be read out. Figure 6 shows ROM52 corresponding to the second year of middle school learning level.
The word memory 70 has addresses P1 to P3000, Q1 to 03000, and E1 to E3000. corresponding to each address. Jl~J
6000 pieces of data up to 3000 are stored sequentially. E1 to E 3000 are data indicating the English words that are the questions, and J1 to J 3000 are the data that indicate the Japanese sentences that are the answers. For example, address P1 contains English word data El (e.g. beau
tiful), and the translated word data Jl (eg, beautiful) 1i: is stored at address Q1. Other word memories (not shown) in the ROM 52 store a predetermined number of English word data for the first year of junior high school, third year of junior high school, and high school entrance exams. Returning to FIG. 4, S14 is the last 0300 of the ROM52.
By determining whether or not the identification data contained in address 0 has been read, it is determined whether the contents of the ROM 52 have been read one time.Since this is the first processing, the determination is NO. The next step 818 reads the English word data E1 from the word memory 70, and displays the read English word data El in the question field of the display section 28 as "beautiful".
is displayed, and if the audio flag F is 0, the characters to be displayed are output as audio. When the user looks at this and thinks about the answer, and presses the display key 12 to see the correct answer, the user judges YES in S20, and in the next step 922 reads out the translation data Jl stored at address Q1 and displays it on the display. In the answer column on the 2nd day, there was “adjective;
``Beautiful'' is displayed, but it can also be configured to display pronunciation, synonyms, antonyms, and example sentences at the same time. If the user's answer does not match the translated word data J1, the user presses the wrong answer key °4 and selects N01 in S34 and YES in S24.
Since this is the first process, the answer is NO at 826, and the number of incorrect answers J is increased by 1 at 928 in FIG. S2
9 is the Pl of the data displayed on the display section 2nd, 011
M of the error list memory 80 of the RAM 35 in Figure 7 on the far left
Also, the user's answer time T1 from the display of the English word 31B to the depression of the display key 12 is read from the timer 42 and stored at address M1 of the error list memory 80. At the next step 930, the end key 8 is not pressed, so it is determined NO, and at S32 the total answer count I is increased by 1 and the process returns to 31B. At 91B, the next word data E2 is read from address P2 of the word memory 70. , displays the English word data E2 on the display section 2. Then, the user looks at this, thinks about the answer, and sees the correct answer.
When the display key 12 is pressed, the translation data J2 at address 02 is read out in S22, displayed on the display section 28, and the audio flag F is read out.
If is 0, audio is output. User's answer is translation data J
If it is the same as 2, press the correct answer key 2, determine YES in S34, determine whether flag G is 1 in 526, determine NO since this is the first process, and repeat the same process through S30.332. In this way, the addresses and answer times corresponding to the English word data and translation data determined to be incorrect answers are accumulated, and when all the data in the word memory 70 of the ROM 52 is read out and all answers have been answered, the state shown in FIG. 7 is as follows. There are 600 pieces of data in the error list memory 80, which means that the user answered 600 questions incorrectly out of 3000 questions. The area from M2O3 to M3O00 is an empty area, but if all the questions are answered incorrectly, the addresses and answer times of the English word and translation data for which the answer was incorrect will fill addresses M1 to M3000. If you want to cancel midway, select YES in S30 and select S40.
Then, a termination process is performed, and the message "Completed halfway" is displayed on the display section 28. Since the flag G=0 and the end address are stored in the end memory (not shown) of the RAM 35, it is convenient because the next time the process can be started from the middle. 1
If the process ends after the cycle is completely completed, flag G=1 is set, and flag G=1 and error list memory 8 are set.
The first address of 0 is stored in the end memory. ■When starting from the beginning of the second time or from the middle of the second time after completing the first time (processing when flag G = 1) After completing the process of S12, after passing through 914.16, in S18, the end memory of the RAM 35 is stored. The English word data corresponding to the address stored in is read out from the word memory 70 of the ROM 52. Press the display key 12 in S20, and if the translated word data is displayed and the user's answer is correct, go to S34 and 336 and press 9.
At step 3B, the address corresponding to the data for which the answer was correct this time is deleted from the error list memory 80. In case of wrong answer, S24°S26,930. Returning to 91B via S32, the same process is repeated, and each time there is a correct answer, data is reduced from the error list memory 80, and when the data becomes zero, the user knows that he/she has answered all the questions correctly. Become. When the end key is pressed, the end process is performed in step 340, and the message ``All answers were correct'' is displayed on the display section 28. If the end is ended midway, the flag G=O and the last address are stored in the end memory. ■When the print process S40 ends, the learning process routine ends and the third
Returning to the main routine shown in the figure, when a print key (not shown) is pressed down in S6, printing processing is performed in 87, and the main routine ends. In the first embodiment, the problem was about English words, but it can also be applied to OX formulas, multiple choice formulas, historical chronology, science/mathematics formulas, Chinese characters, etc. 8, 9A, B, and C show a second embodiment, which differs from the first embodiment in that a correct list memory 90 is added to the RAM 35 in addition to an error list memory 100. Figure 8 shows the different parts from Figure 4, and the other steps are almost the same.
When the user's answer is correct for the first time, the correct answer data can also be stored in the correct list memory 90 in an identifiable manner at 952. In other words, data for correct answers and data for incorrect answers are separated into 552 data in the correct list memory 90 of the RAM 35, and 828 data in the error list memory 100.
You can store data in . That is, when the first processing is completed, the data read from the word memory 75 in FIG. 9A is transferred to the collect list memory 90 in FIG.
This shows how the error list is stored separately in the error list memory 100. Each time the correct answer key 2 is pressed in 934, the data judged to be the correct answer being displayed is transferred from the error list memory 100 to the correct list memory 90 in 950, and the data in the error list memory 100 is decreased. In addition, the collection list memory 90 and the error list memory 1
It is also possible to store 00 according to the number of repetitions, such as the first time, the second time, etc., and it is possible to know how many times a correct answer has been reached. FIG. 10 shows a third embodiment of the present invention, which is an example of application to a so-called fill-in-the-blank problem. Figure 10 shows word memory 1
70, and problem data is shown in P1 to P300, Qll
~Q 3003 contains answer data, and Pl contains 1 for the following intercervical data. How should I go to the post office? Can you [] me the [ko
to the []office? Figure 11 shows the data structure of K 1, where 11 in the data is 'Can you', α1.β1.rl corresponds to the first blank, α1.β1.γ1 are the first positions, and the blanks are Indicates the number of characters present, the last position, and “tel!” in the answer data Lll. ”.Data K]2 is “me the”, data α2.β2.γ2 corresponds to the 2nd @ blank, and corresponds to “way” in answer data L12.
the”, and the data α3.β3.γ3 corresponds to the third blank, and the answer data L13 “Po5t 11
corresponds to the data, and the data 14 is "0ffice?". Address Q11 has "telbi'" as answer data Li, address 012 has "way" as answer data L12, and address Q13 has "Po5t" as answer data L13.
Contains. Here, the contents of counter C indicate the number of blank spaces in one question data. FIG. 12 shows the contents of the error list memory 180,
If you answer the blank question correctly, the answer data will be entered there, and if the blank question is the answer, the blank will remain as it is, and the more you answer correctly, the more the number of data in the error list memory 180 and the counter C will decrease. . Next, the contents of the third embodiment will be explained based on the subflowchart of FIG. 13. This is a sub-flowchart in FIG. 4 of the first embodiment with a part changed as shown in the figure.
Although 9300 to 5400 are added in place of 6 to S30, 81B and 20°22.24 remain as they are, and English sentences are read out and displayed on the display section 28 instead of English words. First, in step 5300, set the value of counter C for the learning data to be displayed in counter B. Here, counter B indicates how the number of blank yakudan in one question sentence decreases each time there is an answer. Indicates the number of remaining unanswered blanks. As in the first embodiment, after the question and answer are displayed in steps 318 to S22, when the correct answer key 2 is pressed in step S34, counter C and counter B are decremented by 1 in 5310, and answer data is displayed in 5320. The question is transferred to a predetermined area of the RAM 340, and if the answer is correct, there is no need to solve the question again, so the blank space [ ] in the question text on the display section 28 is erased using 5330.
Show the answer data there. On the other hand, when the wrong answer key 4 is pressed, the answer is YES in S24, and the blank field is left blank in 5340, the number of wrong answers J is incremented by 1, and the counter B is decremented by 1. After 5330 or 5340, loop processing (820-5340) is performed until B=0 at 5350. If YES at 5350, determine whether G=1 at 8360, and if No, store error list memory 18 at 8380.
Store question data and answer data in 0, and RA in 5320.
The answer data (correct answer) stored in M34 is transferred to the question data, and the answer data is deleted from the answer address. If YES, the answer data in the RAM 34 is transferred to the error list memory 180, and since the question data has already been stored, the question data is not stored. For example, if you answered incorrectly in the 1st and 2nd blanks out of the 3 blanks in the first room and answered correctly in the 3rd blank, then 011.12@
Leave the data at address 013 as it is, and use the data L13 at address 013 as the question data and data α3. β3. Transfer it to γ3 and fill in the blanks, and the problem data is modified as follows: 'Po5t
” appears. How should I go to the post office? Can you [] me the [ko]?
to the Po5t
Office? Note that among the answer data, Li2 is deleted. YES for continuation <3390, i.e. all correct answers key 2 for blank spaces
When is pressed, the error list memory 180 or its data is erased at 9400. For example, the data at address P3 in FIG. 12 is an empty area, and this is because all three blanks in the third space have been answered correctly. If NO in S30,
It is determined that one question has been completed, the process jumps to S32, ■ is incremented by 1, and the process moves to the next question statement. If YES, jump to S40. FIG. 12 shows an example of the results obtained by performing the processing one after another in this manner. FIG. 14 shows a fourth embodiment, in which parts 918 to S30 of the subflow chart of FIG. 4 of the first embodiment are partially changed, and 5500 to 5520 are newly added. That is, in the first embodiment, only the incorrect answers are repeated until the correct answer is obtained, but in addition to this, in the fourth embodiment, the answers that took more time are selected and the answer is correct and the answer time is increased. Repeat the problem until it becomes shorter. The timer 42 is started at 5500, and if YES at S20, the timer 42 is stopped at 5510 and answer time data Ti is calculated, S22. After S34, answer time T1 and predetermined time To are compared at 5520, and if YES, S24.9
26 and 92B, the answer time data Ti is stored in the error list memory 80 in FIG. 7 together with the word data and translation data.
is stored, performs S29, performs 93B, jumps to S30, and if NO at 5520, performs 936 and 33B. In addition, regardless of whether the answer is correct or incorrect, select the one that took the longest time to answer.
Of course, the design can be changed so that the problem can be solved repeatedly. FIG. 15 shows the fifth embodiment, in which the IC card 24.26
The user can freely set the range of learning data, and when a predetermined key (not shown) is pressed, this routine starts and divides the learning data, for example, the semester of each grade in junior high school,
Display a list of each section of the textbook, the year of the historical chronology, etc. on the display 12B, and set the desired lesson using the selection key (not shown) provided on the surface of the IC card 24, 26 or the alphanumeric key 21 at 5700. do. For example, if you want to study the historical timeline from 1500 to 1650, you can press the number keys 1500 and 1650.
In the English textbook section, you can press the selection key and select with the cursor. In the next step 8800, setting data regarding the learning data storage area corresponding to the set lesson is written in the RAM 35.
5900, prohibits the reading of learning data from other than the set learning data storage area, and
When a lesson change key (not shown) provided on the surface of 4 or 26 is pressed, the setting data is changed in accordance with the press at 51000, and the process ends. In this way, the classification of learning data can be freely changed before starting learning, during learning, and after learning, so the degree of freedom in learning can be greatly improved. Note that various modifications can be made without departing from the gist of the present invention; for example, instead of English word problems, it may be used as learning data for memorizing kanji, historical chronology, mathematical formulas, science formulas, etc. , ROM of learning data in order of frequency of appearance in the exam
The circuit may be stored in a discrete circuit, and the IC card may have a buffer or RAM.
The system may be backed up by a battery, and may be configured so that the game becomes enjoyable when all questions are answered correctly, and the number of remaining questions is displayed at the end of the learning process to show how far it is until the goal is achieved. Alternatively, answer data may be automatically displayed on the display section after a set time has elapsed after displaying the question data. Also, correct answer key 2, incorrect answer key 4, end key 8
, the voice key 10, the display key 12, the selection key 1 day, or the correct answer rate key 20 may also be used by the alphanumeric key 21, and it can also be used as an electronic dictionary, which is currently becoming popular. Furthermore, the contents of the backup RAM can be rewritten, allowing the user to freely create, add, and change questions and answers. [Effects of the Invention] The effects of the present invention are that the incorrect answer learning data is selectively and sequentially read out from the learning memory, visually outputted to the visual output section, and in response to the correct answer key, the incorrect answer learning data is identified as the correct answer. Since the incorrect answer learning data is controlled until it reaches at least a predetermined number, the user can repeatedly learn only the questions for which the answer was incorrect without any effort, and the learning time can be significantly shortened. Also, you can select questions according to your learning stage. Next, it is possible to identify questions in which at least one blank in one question sentence is an incorrect answer, and to repeatedly learn the remaining training data for that blank until the correct answer is obtained, greatly increasing the learning effect for so-called fill-in-the-blank questions. Rise. Furthermore, the learning data that took a long time to answer are selectively and sequentially read out from the learning memory and visually outputted to the visual output section, and when the answer is answered quickly, the learning data can be identified and the answer can be displayed. Since the learning data that took a long time to prepare is controlled until it reaches at least a predetermined number, the learning effect for exams where answering time is limited is greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図A、  B、  Cは本発明の一実施例としての
電子学習機とICカードの正面図、第2図はICカード
の内部構造図、第3図は第1実施例のメインフローチャ
ート、第4図は同実施例のサブフローチャート、第5図
A、  Bは同実施例のメニュー画面の説明図、第6図
はで同実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第7
図は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図
、第8図は第2実施例のサブフローチャート、第9図A
、  B。 Cは同実施例のワードメモリとコレクトリストメモリと
エラーリストメモリの内容を示す説明図、第10図は第
3実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第11図
は同実施例のデータに1の内容を示す説明図、第12図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第13図は同実施例のサブフローチャート、第14図は
第4実施例のサブフローチャート、第15図は第5実施
例のサブフローチャートを各々示す。 1・・・電子学習装置 2・・・正答キー 4・・・誤答キー 22・・・キーボード入力部 2日・・・表示部 30・・・CPU 32.52・・・ROM 70.75.170・・・ワードメモリ80.100.
180・・・エラーリストメモリ90・・・コレクトリ
ストメモリ 代理人 弁理士 定立 勉(ばか2名)第 図 第5図 (A) CB) 第6図 ワードメモリ 第8図 第7図 エラーリストメモリ 第14図 手 続 補 正 書 第15図 平成2年3月20日 2゜ 3゜ 昭和63年特許願第331083号 発明の名称 電子学習装置 補正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所    オランダ国 1071 ディージエイム
セウムブレイン 11 名 称    レーム プロパティズ ピーブイ代表者
 ティングシエング リン 4、代理人  〒460 住 所     名古屋市中区錦二丁目9番27号アム
ステルダム 補正命令の日付    自発 6、 補正により珊加する請求項の数    27、 
補正の対象 明細書の[特許請求の範囲J、rF!!明の詳細な説明
]第7図。 8、 補正の内容 の欄及び図面の 全文訂正明細書 1、発明の名称 電子学習装置 2、特許請求の範囲 2 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリか″ら学習デー
タを読みだし、問題データ、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
固層データと醒芥データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置。 3 少なくとも1つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、少なくとも正答キーと誤答キー
とを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
即題データと解答データとを順次に可視出力する可視出
力部と。 1つの問題データについて少なくとも1つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、1つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置。 4 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の耐層
データと解答データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答ギー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置。 データ それに いて 答データを可 出 し前記正答
キーまたは誤答キーに応答して次の間3、発明の詳細な
説明 [産業上の利用分野] 本発明(上電子学習装看に関し、詳しく(ヨ 英単語、
漢字、歴史年表、数学公人理科公式等の暗記に好適な電
子学習装置に関する。 [従来技術及び発明が解決しようとする課題]従来、単
語等を暗記するため文具として単語カードがあるが、単
語カードをめくることは煩雑であり、前回正答か誤答か
がわからないので、前回正答であったものまで、もう1
度解くことになり学習効率が悪かった。現在、英語辞書
カードも市販されているが、何万語も内蔵したカードは
試験には役にたたない。 更1:、問題とこの問題に対する正答を含む複数の答え
を記載した問題カードに対して回答を行い結果に応じて
音声により正誤を判定するもの(特開昭6O−2228
85)、難易度に応じて区別されたカードが提案されて
いる(特開昭6l−11729)。しかし、1度正答を
出したものまで再度問題を解くことになるので、学習効
率が悪かった。 更に穴埋め問題1こ対し誤った問題のみを繰り返し学習
する必要があり、解答時間の長くかかった問題をのみを
繰り返して練習する必要がある。 そこで本発明の目的は、安価でかつ学習効率を飛躍的に
向上するのに好適な電子学習装置を提供することにある
。 [課題を解決するための手段] 前記目的を解決する第1発明の電子学習装置(友問題デ
ータと解答データとを含む所定の学習データを格納する
学習メモリと、該学習メモリの学習データに基づいて、
問題を出題し、ついで解答を表示する出題手段と、出題
手段による出題の解答結果の自己評価結果を入力するた
めの自己評価入力手段と、該自己評価入力手段に応じて
、出題の自己評価結果を集計する学習記憶手段と、該学
習記憶手段の集計内容に基づいて、前記出題手段による
出題の出題パターンを設定する出題パターン設定手段と
を備えることを要旨とする。 第2発明の電子学習装置(表問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入
力部に応答して、前記学習メモリから学習データを読み
だし、問題データ、それに続いて解答データを可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題デー
タと解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、
誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、この誤答学習データを読みだし前記可視出
力部に順次に可視出力し、前記正答キーに応答して、そ
の誤答学習データを正答と識別し、前記誤答学習データ
を減少させる誤答データ制御手段とを備えることを要旨
とする。 第3発明の電子学習装置は、少なくとも1つの部分を削
除した問題データと、その削除部分に対応する解答デー
タとを含む学習データを格納する学習メモリと、少なく
とも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入力
部に応答して、前記学習メモリから学習データを読みだ
し、問題データと、それに続いて解答データを可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題デー
タと解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、
1つの問題データについて少なくとも1つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に
可視出力し、1つの問題データについて全ての削除部分
に対して正答キーが応答すると、その誤答学習データを
正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答デ
ータ制御手段とを備えることを要旨とする。 第4発明の電子学習装置(よ問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、この入
力部に応答して、学習メモリから学習データを読みだし
、問題データと、それに続いて解答データを可視出力し
、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の問題データ
と解答データとを順次に可視出力する可視出力部と、前
記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キー
の応答までの時間を計測する計測手段と、この解答時間
を所定時間と比較し、解答時間が所定時間以上であると
、前記正答キー又は誤答キーに応答して、その学習デー
タの解答時間が長いと識別する識別手段と、この長時間
学習データを読みだし前記可視出力部に順次に可視出力
し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、その解答時
間が前記所定時間以下となると、その学習データの解答
時間が短かいと識別し、前記長時間学習データを減少さ
せる解答時間データ制御手段とを備えることを要旨とす
る。 第5発明の電子学習装置1山問題データと解答データと
を含む所定の学習データを格納する学習メモリと、少な
くとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、前記学
習メモリから学習データを読み出し、問題データ、それ
に続いて解答データを可視出力し、前記正答キーまたは
誤答キーに応答して次の問題データと解答データとを順
次可視出力する可視出力部と、前記誤答キーに応答して
、直前に出題された学習データを誤答と識別する識別手
段と、前記誤答と識別された学習データを再土題の対象
とする再出題設定手段とを備えることを要旨とする。 [作用] 第1発明の電子学習装置は、学習メモリが格納する学習
データに基づいて、出題手段が問題を出題する。この出
題後、出題手段は、例えば所定時間の経過後、若しくは
所定キーの押しに応答して、次に解答を表示する。ここ
で、使用者が問題に対する解答を考え、ついで解答を見
て、その結果の自己評価結果が、自己評価入力手段より
入力されると、この入力結果が学習記憶手段に出題に対
する自己評価結果として集計さ札記憶される。この記憶
された集計内容は、出題パターン設定手段によって、出
題手段による出題の出題パターンの設定に用いられる。 したがって、自己評価結果が、次からの出題パターンに
反映される。これにより、例えば、自己評価の結果、評
価結果の良くない出題の出題頻度を多くしたり、評価結
果の良くない出題を繰り返し出題することができる。 第2発明の電子学習装置1友問題データと解答データと
を格納する学習メモリから、まず問題データを読みだし
可視出力し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで
解答データを読みだして可視出力し、使用者が正答キー
と誤答キーの選択を行い、使用者の答えが解答と合って
いると使用者が正答キーを押し、答えが解答と合ってい
ないと使用者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対
し使用者の解答が正答であったか誤答であったかを識別
できるように(例えば識別信号をつけたり、別々の記憶
領域に格納したり)し、こうして問題と解答を繰り返し
、学習データの内、誤答であるもののみを識別する。 こうして誤答と識別された問題を自動的に順次に読みだ
し、正答、誤答キーの選択をおこない、正答キーに応答
して、その可視出力した誤答学習データを正答と識別し
、こうした制御を繰り返し、誤答となった学習データが
減少して行く。従って、誤答である問題のみを正答にな
るまで学習できるので、解答時間が短縮し学習効率が飛
躍的に向上する。 第3発明の電子学習装置(友少なくとも1つの空欄勇断
を含むいわゆる穴埋め問題データと、空欄勇断に対応す
る解答データとを格納する学習メモリから、まず問題デ
ータを読みだし可視出力し、使用者がこれを見て答えを
考える。ついで解答データを読みだして可視出力し、使
用者が正答キーと誤答キーの選択を行い、使用者の答え
が空欄の解答と合っていると正答キーを押し空欄が解答
で埋まり、答えが空欄の解答と合っていないと誤答キー
包押し空欄はそのままであり、1つの間顕の空欄につい
て少なくとも1つ誤答があると誤答、全部正解であると
正答と識別できる。 次ぎに1つの問題文中の少なくとも1つの空欄が誤答で
あった問題のみを読みだし、正答、誤答キーの選択をお
こない、空欄勇断が全部正答で空欄がなくなると、その
可視出力した学習データを正答とみなして空欄勇断の残
っている学習データから識別し、その空欄の残っている
学習データが減少するように、このような処理を繰り返
し全問正答に近づいて行く。 従って、使用者は誤った問題のみを伺らの労力も要せず
容易に学習でき、学習時間を大幅に短縮することができ
る。 第4発明の学習装置(友問題データと解答データとを格
納する学習メモリから、まず問題データを読みだし可視
出力し、使用者がこれを見て答えを考え、使用者は可視
出力した解答を見て正答キーと誤答キーの選択を行う。 ついで問題の表示から正答キーと誤答キーの応答までの
解答時間を計測し、解答時間に長時間を要した問題だけ
を識別する。このような問題だけを読みだし可視出力し
、再度、解答時間に長時間乞要したものかどうか判断し
、短時間で解答に達すると、その可視呂′力した学習デ
ータを解答に長時間を要した学習データから識別し、そ
のような長時間を要した学習データが所定数に減少する
までこのような処理を繰り返す。従って、問題が早く解
けるようになり学習効果を大幅に向上できる。 第5発明の電子学習装置は、問題データと解答データと
を格納する学習メモリから、まず問題データを読みだし
可視出力し、使用者がこれを見て答えを考える。ついで
解答データを読みだして可視出力し、使用者が正答キー
と誤答キーの選択を行い、使用者の答えが解答と合って
いると使用者が正答キーを押し、答えが解答と合ってい
ないと使用者が誤答キーを押し、可視出力した問題に対
し使用者の解答が誤答であったかを識別する。 こうして誤答と識別された問題を再出題設定手段が再出
題の対象とする。したがって、誤答である問題が繰り返
し再出題さ狛、効率的な学習が行われる。 [実施例] 以上説明した本発明の構成作用を一層明らかにするため
に、以下本発明の装置の好適な実施例について説明する
。第1図Aは本発明の第1実施例で、手帳型電子学習機
]を示し、正答キー2と誤答キー4と終了キー8と音声
キー]Oと表示キー12と切キー]4と入キー16と選
択キー18と正答率キー20とアルファニューメリック
キー21とを備えるキーボード入力部22と、この入力
部22に応答して、後述のICカード24.26から交
互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続いて解答
とを表示する表示部28とを有している。正答キー2ど
誤答キー4と(よ 自己評価入力手段に相当する。 第1図B、  C1:lj、、英単語ICカード24と
歴史年表ICカード26で、学習段階に応じて、所定の
問題データと解答データとを含む学習データを所定数格
納しており、ICカード24.26は電子学習機1の受
は入れ部23に挿入できる。 第2図は電子学習機1の内部構造で、この装置1は、キ
ーボード入力部22、表示部28、音声出力部29、周
知(7)CPL130、ROM32J  RAM34、
バックアップRAM35を中心にこれらとバス36によ
り接続するカウンタ38、電源部40、タイマ42、コ
ネクタ44、インタフェース46.プリンタインターフ
ェース48から構成する。プリンタインタフェース48
はプリンタに接続可能であり、ROM32は学習制御プ
ログラムを記憶している。 この電子学習機1はICカード24と接続し、このIC
カード24は、周知のCPU50.ROM52、RAM
54を中心にこれらとバス56により接続するインタフ
ェース58から構成する。 ROM52は制御プログラムと英単語の問題データと解
答データとを所定数記憶している。 第3図F  ROM32とROM521:格納シテいる
学習制御プログラムを示すメインルーチンのフローチャ
ートである。まずステップ] (以下S1と略す)にお
いては、フラグ、カウンタ等の初期化を行い、S2は音
声キー10がオンしているかどうかを判断し、YESな
らS3で音声出力部29をオンし、NoならS4でフラ
グFを1に設定し、次の85は学習処理を行うサブルー
チンである。 第4図は、サブルーチンS5の処理を示すフローチャー
トであり、以下場合を分けて説明する。 ■第1回目の場合(フラグG=0の場合)。 まずS12はメニューの表示と選択を行い、第5図Aは
、入キー16の押し下げにより現れるメニュー画面を示
し、選択キー18でカーソル60を移動しメニューを選
択できる。この画面では「]」が選択さ′h、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに第5図B
のメニュー画面が現ね、中学の学年別に応じた英単語の
問題をカーソル60の移動で選択し、この画面では「2
」が選択さ札中学2年程度の英単語を格納したROM5
2のワードメモリ70の読みたしが可能となる。 第6図は、中学2年の学習レベルに対応するROM52
のワードメモリ7oの内容を示し、ワードメモリ70ハ
P 1〜P3000番地、01〜03000番地まであ
り、各番地に対応してE1〜E3000.’ J 1〜
J 3000までの6000個のデータを順次格納して
いる。E1〜E 3000は問題である英単語を示すデ
ータで、J1〜J 3000はその解答である和文を示
す。 例えばP1番地には英単語データEl(例: beau
tiful)、01番地に(よ その訳語データJ1(
例:美しい)を格納している。ROM52の図示せぬ他
のワードメモリには中学1年と中学3年と高校入試用の
英単語データを所定数格納している。 第4図に戻り、514(山 ROM52の最後の030
00番地に入っている識別用のデータ色読み出したかど
うかを判断することにより、ROM52の内容を1通り
読み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理であ
るのでNoと判断する。次の318はワードメモリ70
から英単語データE1を読みだし、読みだした英単語デ
ータE1を表示部28の問題欄に“beaut i f
uビと表示し、音声フラグFが0ならば、表示する文字
を音声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考え
、正答をみるため表示キー12を押すと、S20でYE
Sと判断し、次の322で011番左格納されている訳
語データJ1を読みだして表示部28の解答欄に“形容
詞;美しい”と表示するが、更に発音、類義語、反対語
、文例も同時に表示できるよう構成することができる。 使用者の答えが訳語データJ1と合っていないと使用者
は誤答キー4を押し、S34でNo、S24でYESと
判断し、最初の処理であるので826でNoと判断し、
第4図の328で(友誤答回数Jを1増加する。S29
では表示部28に表示しているデータのPl、011番
左第7図のRAM35のエラーリストメモリ80のM1
1番上格納し、又、S18の英単語の表示から表示キー
12の押し下げまでの使用者の解答時間T1をタイマ4
2から読み出し、エラーリストメモリ80のM11番上
格納する。次の330では終了キー8が押されていない
のでNoと判断し、S32で全解答回数1を1増加して
318に戻り、518では次の単語データE2をワード
メモリ70のP2番地がら読みだし、その英単語データ
E2を表示部28(二表示する。 そして使用者がこれを見て答えを考え正答を見るため、
表示キー12を押すと、S22で02番地の訳語データ
J2を読みだして、表示部28に表示し、音声フラグF
が0ならば音声出力する。使用者の答えが訳語データJ
2と同じ場合は、正答キー2を押し、S34でYESと
判断し、S26でフラグGが1かどうか判断し最初の処
理なのでNOと判断し、S30.S32を経て同様な処
理を繰り返す。このようにして誤答と判断した英単語デ
ータ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積さ
れて行きROM52のワードメモリ70のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、第7図に示すエラー
リストメモリ80のデータが600個になっており、使
用者は3000題の内、600題を誤答したことになる
。M6旧からM3000までは空き領域であるが、もし
全問誤答の場合、誤答となった英単語と訳文データの番
地と解答時間が、M1〜M3000番地を満たすことに
なる。 途中で打ち切る場合は、S30でYESとなり、S40
では終了処理を行い、メツセージ「途中で終わりました
」を表示部28に表示する。フラグG=Oと終了時の番
地をRAM35の図示せぬ終了メモリに格納しておくの
で、次回はその途中から始められるので便利である。1
回目を完全に終了してから終わる場合はフラグG=1と
設定されており、フラグG=1とエラーリストメモリ8
0の最初の番地とを終了メモリに格納する。これにより
、次回からの出題(良前回まで誤答であった出題が再出
題の対象とさ札 これが出題パターンとして設定される
。 ■11回目終えた後、2回目の最初から又は2回目の途
中から始める場合(フラグG=1の場合の処理) S12の処理を終えて、S14,16を経て、S18で
RAM35の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをROM52のワードメモリ70から読みだ
す。S20で表示キー]2を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はS34.S36を経てS
38でエラーリストメモリ80から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はS24゜
S26.S30.S32を経て818に戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ80から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすと840で終了処理を行い、表示部28に
メツセージ「全てが正答となりました」と表示し、途中
で終わる場合はフラグG=Oと最後の番地を終了メモリ
に格納する。これらにより、前回誤答であった出題が再
出題の対象とさね、繰り返し出題されるという出題パタ
ーンが設定さお、これに基づいて問題が出題される。 ■プリント処理 S40が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、第3
図のメインルーチンにもどり、S6で図示せぬプリント
キーが押し下げされると87で印字処理を行い、本メイ
ンルーチンを終了する。 尚、第1実施例では、英単語の問題であったが、OX式
、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、理科数学公民
漢字等に適用できることも勿論である。 第8図、第9A、  B、  C図は第2実施例であり
、第1実施例と異なるところは、RAM35にエラーリ
ストメモリ100に加えてコレクトリストメモリ90を
追加したものである。第8図は第4図と異なる個所を示
しており他のステップはほぼ共通であり、第8図で第1
回目に使用者の解答が正答であるときにも正答データを
852でコレクトリストメモリ90に識別可能に格納で
きるようにしている。つまり正答であるデータと誤答で
あるデータを分けてRAM35のコレクトリストメモノ
90にS52で、エラーリストメモリ1001:S28
でデータを格納できる。即ち、第1回目の処理が終了し
たとき、第9図Aのワードメモリ75から読みだしたデ
ータを、第9図Bのコレクトリストメモリ90と同図C
のエラーリストメモリ100に分けて格納する様子を示
す。 そしてS34で正答キー2を押し下げる毎に、表示中の
正答であると判断したデータをS50でエラーリストメ
モリ100からコレクトリストメモリ90に転送し、エ
ラーリストメモリ100のデータを減少させて行く。 尚、コレクトリストメモリ90、エラーリストメモリ1
00を第1回目、第2回目等の繰り返し回数に応じてそ
れぞれ記憶しておくことも可能であり、何回目で正答に
達したかがわかる。 第10図は本発明の第3実施例であり、いわゆる穴埋め
問題に対する応用例である。第10図はワードメモリ1
70を示し、P1〜P300には問題データが、011
〜03003には解答データが入り、Plには次のよう
な問題データに1が入っている。 郵便局へはどういったらいいですか。 Can  you  []  me  the[]to
the[] 0ffice? 第11図はに1のデータ構造を示し、データに11はC
an  you”であり、α1.β1.γ1は最初の空
欄に対応し、αl、β1.γ1はそれぞれ最初の位置、
空欄にはいる文字数、最後の位置を示し、解答データL
llの“tel ビに対応する。 データに12は、   me  the”であり、デー
タα2.β2.γ2は2番目の空欄に対応し、解答デー
タL12の“way”に対応する。データに13は“t
o  the”であり、データα3.β3.γ3は3番
目の空欄に対応し、解答データL13の“Po5t11
が対応し、データに14は“0ffice’i’”であ
る。Q11番地には解答データLllとして“telf
”が、012番地(二は解答データL12としてway
”が、013番地には解答データL13として“Po5
t”が入っている。ここでカウンタCの内容は1つの問
題データ中の空欄ケ所の数を示す。 第12図は、エラーリストメモリ180の内容を示し、
空欄勇断を正答すると、そこに解答データが入り、空欄
勇断が誤答の時は空欄はそのままであり、正答すればす
るほどエラーリストメモリ]80の内のデータ数とカウ
ンタCは減少して行次ぎに第3実施例の内容を、第13
図のサブフローチャートに基づいて説明する。第1実施
例の第4図のサブフローチャートを図示のように1部変
更したもので、S16〜S30に代わり3300〜54
00が加わっているが、S18,20゜22.24はそ
のままであり、英単語に代わり英語の文章が読みだされ
表示部28に表示される。 まず5300でこれから表示する学習データについての
カウンタCの値をカウンタBに設定し、ここではカウン
タBは1つの問題文中の空欄勇断の数が解答のある毎に
減ってゆく様子を示すもので、残りの未解答の空欄勇断
の数を示す。第1実施例と同様にS18〜S22で問題
と解答の表示が行われた後、S34で正答キー2が押さ
れると、5310でカウンタCとカウンタBとを1減少
し、5320で解答データをRAM34の所定領域に転
送し、正答であればもう1度問題を解く必要はないから
5330で表示部28の問題文中の空欄[コを消去し、
そこに解答データを表示する。一方、誤答キー4が押さ
れると、S24でYESとなり、5340で空欄はその
ままとし誤答回数Jを1増加し、カウンタBを1減少す
る。 5330又は5340の後は、5350で8=0となる
までループ処理(820〜S 340)を行う。 5350でYESとなると、8360でG=1かどうか
判断し、NOならば8380でエラーリストメモリ18
0に問題データと解答データを格納し、5320でRA
M34に格納した解答データ(正答となったもの)を問
題データに転送し、その解答データは解答番地から消去
する。YESならばRAM34の解答データをエラーリ
ストメモリ180に転送し、既に問題データは格納され
ているから、問題データの格納は行わない。 例え[1第1間の3つの空欄の内、1,2番目の空欄が
誤答で3番目の空欄を正答したとするとQll、12番
地のデータはそのままで、013番地のデータL13を
問題データに1のデータα3.β3.γ3へ転送して空
欄を埋め、問題データは次のように修正され“Po5t
”が現れる。   郵便局゛へはどういったらいいです
か。 Can  you  []  me  the[]  
 to  the  Po5tOffice? 尚、解答データの内、Li2は消去される。 続<3390でYES、即ち空欄に対し全部正答キー2
が押されると8400でエラーリストメモリ]80から
そのデータを消去する。例え(f、。 第12図のP3番地のデータは空領域となっており、こ
れは第3間の3つの空欄をすべて正答したためである。 S30でNOの場合は、1つの問題を終えたと判断し、
S32へ飛び、 Iを1増加して、次の問題文に移る。 YESならS40へ飛、汎 こうして処理がつぎつぎに
行われた結果の例が第12図に示される。 第14図は、第4実施例を示し、第1実施例の第4図の
サブフローチャートのS18〜S30を1部変更したも
ので、5soo〜5520が新たに加わっている。即ち
、第1実施例で(表誤答のもののみを正答になるまで繰
り返しているが、これに加えて第4実施例では、更に解
答に時間を要したものを選択して、正答かつ解答時間が
短くなるまで問題を繰り返し実行する。 5500でタイマ42が起動シテ、S20でYESなら
、5510でタイマ42をストップして解答時間データ
T1を算出し、S22.S34のあと5520で解答時
間Tiと所定時間Toを比較し、YESならS24.S
26を経rs 28テ第7図のエラーリストメモリ80
に単語データ、訳文データとともに、解答時間データT
iを格納し、S29を行い、838を行い、S30へ飛
び、5520でNoならS36,838を行う。尚、正
答、誤答に拘らず、解答時間が長かったものを選択して
、繰り返して問題を解けるように設計変更できることは
勿論である。 第15図(よ第5実施例であり、ICカード24.26
の学習データの範囲を使用者が自由に設定できるもので
あり、図示せぬ所定のキーが押されると本ルーチンが起
動し、学習データの区分、例えば中学の各学年の学期、
教科書の各セクション、歴史年表の年代等の一覧を表示
部28に表示し、5700でICカード24.26の表
面に設けた図示せぬ選択キーあるいはアルファニューメ
リックキー21で所望のレッスンを設定する。例えば歴
史年表で1500年から1650年までを学習したいと
き[;j1500と1650の数字キーを押せばよく、
英語の教科書のセクションでは選択キーを押してカーソ
ルで選ぶことができる。 次の8800では設定されたレッスンに対応する学習デ
ータの格納領域に関する設定データをRAM35に記憶
し、この設定した学習データの格納領域以外からの学習
データの読み込みを禁止し、5900でIcカード24
又は26の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが押
されると、51000でその押し下げに応じて前記設定
データを変更し処理を終了する。こうして学習を始める
前、学習途中、学習後に学習データの区分を自由に設定
変更することができるので、学習の自由度を大いに向上
させることができる。 尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形が可
能であり、例え[瓜英単語の問題の代わりに漢字、歴史
年表、数学公人理科公式等の暗記用の学習データとして
もよく、学習データを試験によくでる頻度順にROMに
格納しておいてもよく、回路をディスクリートな構成に
してもよく、ICカードの方にバックアップRAMを設
は電池でバックアップしてもよく、全問正答まで行くと
ゲームが楽しめるように構成してもよく、学習処理の終
了時に残りの問題数を表示し目標達成までどのくらいか
を示すように構成してもよく、問題データの表示後、設
定時間経過後に自動的に解答データを表示部に表示して
もよい。又、正答キー2、誤答キー4、終了キー8、音
声キー]O1表示キー12、選択キー18又は正解率キ
ー20をアルファニューメリックキー21が兼用しても
よく、現在普及しつつある電子辞典としても活用できる
。更に、バックアップRAMの内容を書換え可能とし、
使用者が問題と解答を自由に作成、迫力l 変更できる
ようにすることが可能である。 [発明の効果] 第1発明の電子学習装置]戴問題に対する解答の結果を
自己評価し、この自己評価の結果をデータとして取り込
むよう構成されている。したがって、使用者(表解答の
綴をそのままキーボードにタイピングしたり、複数の解
答の中から択一したりすることなく、自己評価結果だけ
を入力するだけでよい。この結果、出題に対する解答を
考えついたその時点で、速やかにデータを入力でき、出
題の処理速度が高なるというきわめて優れた効果を奏す
る。また、自己評価の結果が出題パターンに反映される
。これにより、自己評価結果を考慮した出題パターンを
設定して、学習効果を最も高くすることができる。 第2発明の電子学習装置1表誤答学習データを学習メモ
リから選択的に順次に読みだし可視比力部に可視出力し
、・正答キーに応答して、その誤答学習データを正答と
識別し、誤答学習データが少なくとも所定数になるまで
制御しているので、使用者は解答を誤った問題のみを何
らの労力も要せず繰り返し学習でき、学習時間を大幅に
短縮することができ、又、学習段階に応じて問題を選択
できる。 第3発明の電子学習装置は、1つの問題文中の少なくと
も1つの空欄が誤答であった問題E識別し、その空欄の
残っている学習データを正解になるまで繰り返し学習が
できるので、いわゆる穴埋め問題に対する学習効果が大
幅に上昇する。 第4発明の電子学習装置(飄解答に長時間を要した学習
データを学習メモリから選択的1こ順次1こ読みだし可
視出力部1こ可視出力し、キーに応答して、早く解けた
場合はその学習データを識別可能とし、解答に長時間を
要した学習データを少なくとも所定数になるまで制御し
ているので、解答時間が制限される試験に対しての学習
効果が大幅に向上する。 第5発明の電子学習装置(飄誤答と識別された学習デー
タを再出題の対象とし、再出題とされた問題を繰り返し
出題する。したがって、使用者は解答を誤った問題のみ
を何らの労力も要せず繰り返し学習でき、学習時間を大
幅1こ短縮するこ゛とができる。
Figures 1A, B, and C are front views of an electronic learning machine and an IC card as an embodiment of the present invention, Figure 2 is an internal structure diagram of the IC card, and Figure 3 is a main flowchart of the first embodiment. FIG. 4 is a sub-flowchart of the same embodiment, FIGS. 5A and B are explanatory diagrams of the menu screen of the same embodiment, FIG. 6 is an explanatory diagram showing the contents of the word memory of the same embodiment, and FIG.
The figure is an explanatory diagram showing the contents of the error list memory of the same embodiment, FIG. 8 is a subflow chart of the second embodiment, and FIG. 9A
,B. C is an explanatory diagram showing the contents of the word memory, correct list memory, and error list memory of the same embodiment, FIG. 10 is an explanatory diagram showing the contents of the word memory of the third embodiment, and FIG. 11 is the data of the same embodiment. 12 is an explanatory diagram showing the contents of the error list memory of the same embodiment,
FIG. 13 shows a sub-flowchart of the same embodiment, FIG. 14 shows a sub-flowchart of the fourth embodiment, and FIG. 15 shows a sub-flowchart of the fifth embodiment. 1... Electronic learning device 2... Correct answer key 4... Wrong answer key 22... Keyboard input section 2... Display section 30... CPU 32.52... ROM 70.75. 170...Word memory 80.100.
180...Error list memory 90...Collection list memory Agent Patent attorney Tsutomu Sadatsu (2 idiots) Figure 5 (A) CB) Figure 6 Word memory Figure 8 Figure 7 Error list memory Figure 14 Procedural amendment Figure 15 March 20, 1990 2゜3゜1986 Patent Application No. 331083 Name of the invention Electronic learning device Relationship with the case of the person making the amendment Patent applicant address Netherlands 1071 Dee G.I.M.S. Brain 11 Name: Rehm Properties P.V. Representative: Ting Xieng Lin 4, Agent: 460 Address: 9-27 Nishiki 2-chome, Naka-ku, Nagoya Date of Amsterdam Amendment Order Voluntary 6, Request for addition by amendment Number of terms: 27,
[Claim J, rF! of the specification subject to amendment] ! [Detailed explanation of light] FIG. 8. Column for contents of amendment and full text of drawings Correction specification 1, Title of invention electronic learning device 2, Claim 2 A learning memory for storing predetermined learning data including question data and answer data, and at least correct answers. an input section including a key and an incorrect answer key; a visual output section for sequentially visually outputting the next solid data and waste data in response to an answer key; an identification means for identifying the learning data as an incorrect answer in response to an incorrect answer key; an incorrect answer data control means for reading answer learning data and sequentially visually outputting it to the visible output section, identifying the incorrect answer learning data as a correct answer in response to the correct answer key, and reducing the incorrect answer learning data; 3. A learning memory that stores learning data including question data from which at least one portion has been deleted and answer data corresponding to the deleted portion; and at least a correct answer key and an incorrect answer key. an input unit comprising: in response to the input unit, reads learning data from the learning memory, visually outputs question data and subsequently answer data, and in response to the correct answer key or the incorrect answer key; a visual output unit that sequentially visually outputs the following immediate question data and answer data; an identification means that identifies the learning data as an incorrect answer when at least one incorrect answer key responds to one question data; The answer learning data is read out and sequentially visually output to the visual output section, and when the correct answer key responds to all deleted parts for one question data, that incorrect answer learning data is identified as a correct answer, and the incorrect answer learning data is 4. An electronic learning device comprising: a learning memory that stores predetermined learning data including question data and answer data; and at least a correct answer key and an incorrect answer key. an input section; in response to this input section, learning data is read out from the learning memory; problem data and subsequently answer data are visually output; and in response to the correct answer key or incorrect answer key, the next layer is read out; a visual output unit that sequentially visually outputs data and answer data; a measuring means that measures the time from the visible output of the question data to the response of the correct answer key or the incorrect answer key; and a comparison of this answer time with a predetermined time. If the answer time is longer than a predetermined time, in response to the correct answer key or the incorrect answer key,
an identification means for identifying that the answer time of the learning data is long; reading out the long learning data and sequentially visually outputting it to the visual output section in response to the correct answer key or the incorrect answer key;
An electronic learning device characterized by comprising: an answer time data control means that identifies the learning data as having a short answer time and reduces the long learning data when the answer time becomes less than the predetermined time. 3. Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The invention (industrial application field) will be described in detail regarding the present invention (electronic learning device). ,
This invention relates to an electronic learning device suitable for memorizing kanji, historical chronology, mathematics, public figures, science formulas, etc. [Prior Art and Problems to be Solved by the Invention] Conventionally, word cards have been used as stationery for memorizing words, etc., but flipping over the word cards is cumbersome and it is difficult to tell whether the answer was correct or incorrect last time. One more thing until what was
I had to solve the questions over and over again, which made learning less efficient. Currently, English dictionary cards are commercially available, but the cards, which contain tens of thousands of words, are useless for exams. Further 1: Answers are made to a question card containing a question and a plurality of answers including the correct answer to the question, and the correctness is judged by voice according to the result (Japanese Unexamined Patent Publication No. 6O-2228
85), cards that are differentiated according to the difficulty level have been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 61-11729). However, since students had to solve the questions again even if they had answered correctly once, learning efficiency was poor. Furthermore, it is necessary to repeatedly study only the incorrect questions for each fill-in-the-blank question, and it is necessary to repeat and practice only the questions that took a long time to answer. SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide an electronic learning device that is inexpensive and suitable for dramatically improving learning efficiency. [Means for Solving the Problems] The electronic learning device of the first invention that solves the above object (a learning memory that stores predetermined learning data including companion question data and answer data, and a learning device based on the learning data of the learning memory) hand,
A question-taking means for asking questions and then displaying the answers, a self-evaluation input means for inputting the self-evaluation results of the answers to the questions by the question-taking means, and a self-evaluation result for the questions according to the self-evaluation input means. The gist of the present invention is to include a learning storage means for totaling up the learning storage means, and a question pattern setting means for setting a question pattern for questions to be asked by the question setting means based on the total contents of the learning storage means. An electronic learning device according to a second aspect of the invention (an input unit comprising a learning memory storing predetermined learning data including table question data and answer data, and at least a correct answer key and an incorrect answer key, and in response to the input unit, A visual output that reads learning data from the learning memory, visually outputs question data and then answer data, and sequentially visually outputs the next question data and answer data in response to the correct answer key or incorrect answer key. Department and
an identification means for identifying the learning data as an incorrect answer in response to the incorrect answer key; and an identification means for reading out the incorrect answer learning data and sequentially visually outputting it to the visual output section; The gist of the present invention is to include an incorrect answer data control means for identifying answer learning data as correct answers and reducing the incorrect answer learning data. An electronic learning device according to a third aspect of the invention includes a learning memory that stores learning data including question data from which at least one portion has been deleted and answer data corresponding to the deleted portion, and at least a correct answer key and an incorrect answer key. an input section; in response to the input section, learning data is read from the learning memory; question data and subsequently answer data are visually output; and in response to the correct answer key or the incorrect answer key, the next question is read out; a visible output unit that sequentially visually outputs the data and answer data;
When at least one incorrect answer key responds to one question data, an identification means identifies the learning data as an incorrect answer, reads out this incorrect answer learning data, sequentially visually outputs it to the visual output section, and outputs one question data. When a correct answer key responds to all the deleted portions of , the incorrect answer learning data is identified as a correct answer, and the incorrect answer learning data is reduced. An electronic learning device according to a fourth aspect of the invention (including a learning memory for storing predetermined learning data including question data and answer data, an input section including at least a correct answer key and an incorrect answer key, and in response to the input section, Visual output that reads learning data from the learning memory, visually outputs question data and then answer data, and sequentially visually outputs the next question data and answer data in response to the correct answer key or incorrect answer key. a measuring means for measuring the time from the visual output of the question data to the response of the correct answer key or the incorrect answer key; an identification means for identifying that the answer time of the learning data is long in response to the correct answer key or the incorrect answer key; The object of the present invention is to include an answer time data control means that, in response to an answer key, identifies that the answer time of the learning data is short when the answer time becomes less than the predetermined time, and reduces the long learning data. The electronic learning device of the fifth invention includes a learning memory for storing predetermined learning data including one set of question data and answer data, an input section comprising at least a correct answer key and an incorrect answer key, a visual output unit that reads data, visually outputs question data and then answer data, and sequentially visually outputs the next question data and answer data in response to the correct answer key or the incorrect answer key; and the incorrect answer key. The object of the present invention is to include an identification means for identifying learning data that was given immediately before as an incorrect answer in response to the question, and a re-examination setting means for making the learning data that has been identified as an incorrect answer as a subject for re-examination. [Operation] In the electronic learning device of the first invention, the question setting means asks questions based on the learning data stored in the learning memory. In response to the key press, the answer is then displayed.Here, the user thinks about the answer to the question, then looks at the answer, and the resulting self-evaluation result is inputted from the self-evaluation input means. , this input result is tallied and stored as a self-evaluation result for the questions in the learning storage means.The stored tally contents are used by the question pattern setting means to set the question pattern of the questions by the question asking means. , the self-evaluation results are reflected in the next question pattern.As a result, for example, as a result of the self-evaluation, questions with poor evaluation results may be asked more frequently, or questions with poor evaluation results may be asked repeatedly. be able to. Electronic learning device 1 of the second invention First, question data is read out from a learning memory that stores question data and answer data and is visually output, and the user looks at this and thinks about the answer. Next, the answer data is read out and output visually, the user selects the correct answer key and the incorrect answer key, and when the user's answer matches the answer, the user presses the correct answer key, and the user selects the correct answer key and the incorrect answer key. If the user presses the wrong answer key, the user can visually output the question and identify whether the user's answer was correct or incorrect (for example, by attaching an identification signal or storing it in a separate storage area). Then, by repeating the questions and answers in this way, only the incorrect answers in the learning data are identified. In this way, the questions identified as incorrect answers are automatically read out sequentially, the correct answer key and the incorrect answer key are selected, and in response to the correct answer key, the visually outputted incorrect answer learning data is identified as the correct answer, and such control is performed. As the process is repeated, the amount of learning data with incorrect answers decreases. Therefore, only questions with incorrect answers can be studied until they become correct answers, so answering time is shortened and learning efficiency is dramatically improved. The electronic learning device of the third invention (friend) first reads out question data from a learning memory that stores so-called fill-in-the-blank question data including at least one blank answer and answer data corresponding to the blank answer and outputs it visually, so that the user can Look at this and think about the answer.Then, the answer data is read out and output visually, the user selects the correct answer key and the incorrect answer key, and if the user's answer matches the blank answer, press the correct answer key. The blank is filled with an answer, and if the answer does not match the answer in the blank, press the wrong answer key and the blank remains as it is. It can be identified as a correct answer.Next, read out only the questions in which at least one blank in one question sentence is an incorrect answer, select the correct answer or incorrect answer key, and when all the blanks are correct and there are no blanks, the The visually outputted learning data is regarded as a correct answer and is distinguished from the remaining learning data with blank answers, and this process is repeated so that the remaining blank learning data decreases to get closer to correct answers for all questions. Therefore, the user can easily learn only the incorrect questions without any effort, and the learning time can be significantly shortened. First, the question data is read out from the learning memory and output visually, and the user looks at this and thinks about the answer.The user looks at the visually outputted answer and selects the correct answer key and the wrong answer key. The answer time from the display to the response of the correct answer key and the incorrect answer key is measured, and only the questions that took a long time to answer are identified. Only such questions are read out and visually output, and the answer time is calculated again. If the answer is reached in a short time, the learning data that has been visually recognized is identified from the learning data that took a long time to answer, and the learning data that took a long time to answer is identified. This process is repeated until the number is reduced to a predetermined number. Therefore, the problems can be solved quickly and the learning effect can be greatly improved. First, the question data is read out from the memory and output visually, and the user looks at it and thinks about the answer.Then, the answer data is read out and outputted visually, and the user selects the correct answer key and the incorrect answer key, and uses it. If the user's answer matches the answer, the user presses the correct answer key, and if the answer does not match the answer, the user presses the wrong answer key, and the user's answer is visually output. The re-examination setting means makes the questions identified as incorrect answers subject to re-examination. Therefore, questions with incorrect answers are repeatedly re-posed, resulting in efficient learning. [Example] In order to further clarify the configuration and operation of the present invention described above, preferred embodiments of the apparatus of the present invention will be described below. FIG. 1A shows a first embodiment of the present invention, which shows a notebook-type electronic learning machine], a correct answer key 2, an incorrect answer key 4, an end key 8, a voice key]O, a display key 12, an off key]4, and a A keyboard input section 22 includes an input key 16, a selection key 18, a correct answer rate key 20, and an alphanumeric key 21, and in response to this input section 22, questions and answers are read alternately from an IC card 24 and 26, which will be described later. However, it has a display section 28 that displays the question and then the answer. Correct answer key 2, wrong answer key 4 (y) Corresponds to self-evaluation input means. A predetermined number of learning data including question data and answer data are stored, and the IC cards 24 and 26 can be inserted into the receiving part 23 of the electronic learning machine 1. Fig. 2 shows the internal structure of the electronic learning machine 1. This device 1 includes a keyboard input section 22, a display section 28, an audio output section 29, a well-known (7) CPL 130, a ROM 32J RAM 34,
A counter 38, a power supply section 40, a timer 42, a connector 44, an interface 46 . It consists of a printer interface 48. printer interface 48
can be connected to a printer, and the ROM 32 stores a learning control program. This electronic learning machine 1 is connected to an IC card 24, and this
The card 24 is a well-known CPU 50. ROM52, RAM
54 and an interface 58 connected to these via a bus 56. The ROM 52 stores a predetermined number of control programs, English word question data, and answer data. FIG. 3F is a flowchart of a main routine showing a learning control program stored in ROM 32 and ROM 521. First, in step] (hereinafter abbreviated as S1), flags, counters, etc. are initialized, and S2 determines whether the voice key 10 is turned on. If YES, the voice output section 29 is turned on in S3, and the If so, the flag F is set to 1 in S4, and the next step 85 is a subroutine for performing learning processing. FIG. 4 is a flowchart showing the processing of subroutine S5, and each case will be explained separately below. ■For the first time (when flag G=0). First, in step S12, a menu is displayed and selected, and FIG. 5A shows a menu screen that appears when the input key 16 is pressed, and the menu can be selected by moving the cursor 60 using the selection key 18. On this screen, ``]'' is selected, and questions about Japanese translations of English words are asked as described below. Next, Figure 5B
A menu screen will appear, and you can move the cursor 60 to select the English word problem that corresponds to your junior high school grade.
" is selected. ROM5 stores English words for second year junior high school students.
It becomes possible to read the second word memory 70. Figure 6 shows ROM52 corresponding to the second year of middle school learning level.
The word memory 70 has addresses P1 to P3000, addresses 01 to 03000, and E1 to E3000. corresponding to each address. 'J1~
6000 pieces of data up to J3000 are sequentially stored. E1 to E 3000 are data indicating the English words that are the questions, and J1 to J 3000 are the data that indicate the Japanese sentences that are the answers. For example, address P1 contains English word data El (e.g. beau
tiful), at address 01 (Yo's translation data J1 (
Example: Beautiful). Other word memories (not shown) in the ROM 52 store a predetermined number of English word data for the first year of junior high school, third year of junior high school, and high school entrance exams. Returning to Figure 4, 514 (mountain 030 at the end of ROM52)
By determining whether or not the identification data color stored at address 00 has been read, it is determined whether the contents of the ROM 52 have been read once. Since this is the first processing, the determination is No. The next 318 is word memory 70
Read the English word data E1 from
If the voice flag F is 0, the characters to be displayed are output as voice. Then, the user looks at this, thinks about the answer, and presses the display key 12 to see the correct answer.
S is determined, and in the next step 322, the translation data J1 stored on the leftmost side of 011 is read out and "adjective;beautiful" is displayed in the answer column of the display section 28, but it also includes pronunciation, synonyms, antonyms, and sentence examples. It can be configured so that they can be displayed simultaneously. If the user's answer does not match the translation data J1, the user presses the wrong answer key 4, determines No in S34, YES in S24, and determines No in 826 since it is the first process,
At 328 in FIG. 4 (increase the number of incorrect answers J by 1. S29
Now, Pl of the data displayed on the display unit 28, M1 of the error list memory 80 of the RAM 35 on the leftmost side of 011 in FIG.
The timer 4 stores the user's answer time T1 from the display of the English word in S18 until the depression of the display key 12.
2 and stored in the top M11 of the error list memory 80. At the next step 330, the end key 8 is not pressed, so it is determined as No, and at S32 the total answer count 1 is increased by 1 and the process returns to 318. At 518, the next word data E2 is read from address P2 of the word memory 70. , the English word data E2 is displayed on the display section 28 (2). Then, in order for the user to look at this, think about the answer, and check the correct answer,
When the display key 12 is pressed, the translation data J2 at address 02 is read out in S22, displayed on the display section 28, and the audio flag F is read out.
If is 0, audio is output. User's answer is translation data J
2, press the correct answer key 2, determine YES in S34, determine whether flag G is 1 in S26, determine NO since it is the first process, and determine NO in S30. Similar processing is repeated through S32. In this way, the addresses and answer times corresponding to the English word data and translation data determined to be incorrect answers are accumulated, and when all the data in the word memory 70 of the ROM 52 is read out and all answers have been answered, the state shown in FIG. 7 is as follows. There are 600 pieces of data in the error list memory 80, which means that the user answered 600 questions incorrectly out of 3000 questions. The area from M6 old to M3000 is an empty area, but if all the questions are answered incorrectly, the addresses and answer times of the English words and translation data for which the answers were incorrect will fill addresses M1 to M3000. If you want to cancel midway, select YES in S30 and select S40.
Then, a termination process is performed, and the message "Completed halfway" is displayed on the display section 28. Since the flag G=O and the end address are stored in the end memory (not shown) of the RAM 35, it is convenient that the next time the process can be started from the middle. 1
If the process ends after the cycle is completely completed, flag G=1 is set, and flag G=1 and error list memory 8 are set.
The first address of 0 is stored in the end memory. As a result, questions from the next time (questions that were answered incorrectly in the previous exam will be re-asked) This will be set as the question pattern. ■After the 11th time, from the beginning of the second time, or in the middle of the second time. When starting from Press the display key]2 in S20, and if the translated word data is displayed and the user's answer is correct, go to S34 and S36.
At step 38, the address corresponding to the data for which the answer was correct this time is deleted from the error list memory 80. If the answer is wrong, S24°S26. S30. The process returns to 818 via S32, and the same process is repeated, and each time there is a correct answer, the data is reduced from the error list memory 80, and when the data becomes zero, the user knows that he/she has answered all the questions correctly. Become. When the end key is pressed, the end process is performed at 840, and the message ``All answers were correct'' is displayed on the display section 28. If the end is ended midway, the flag G=O and the last address are stored in the end memory. As a result, a question pattern is set in which questions that were answered incorrectly last time are re-asked, and questions are asked based on this pattern. ■When the print process S40 ends, the learning process routine ends and the third
Returning to the main routine shown in the figure, when a print key (not shown) is pressed down in S6, printing processing is performed in 87, and the main routine ends. In the first embodiment, the problem was English words, but it can also be applied to OX type, multiple choice type, historical chronology, science, mathematics, civics, kanji, etc. 8, 9A, B, and C show a second embodiment, which differs from the first embodiment in that a correct list memory 90 is added to the RAM 35 in addition to an error list memory 100. Figure 8 shows the different parts from Figure 4, and the other steps are almost the same.
Even when the user's answer is correct for the first time, the correct answer data can be stored in the correct list memory 90 in an identifiable manner at step 852. In other words, the correct answer data and the incorrect answer data are separated and stored in the correct list memo 90 of the RAM 35 in the error list memory 1001:S28.
You can store data in . That is, when the first processing is completed, the data read from the word memory 75 in FIG. 9A is transferred to the collect list memory 90 in FIG.
This shows how the error list is stored separately in the error list memory 100. Each time the correct answer key 2 is pressed in S34, the data judged to be the correct answer being displayed is transferred from the error list memory 100 to the correct list memory 90 in S50, and the data in the error list memory 100 is decreased. In addition, the collection list memory 90 and the error list memory 1
It is also possible to store 00 according to the number of repetitions, such as the first time, the second time, etc., and it is possible to know how many times a correct answer has been reached. FIG. 10 shows a third embodiment of the present invention, which is an example of application to a so-called fill-in-the-blank problem. Figure 10 shows word memory 1
70, problem data is shown in P1 to P300, and 011
~03003 contains answer data, and Pl contains 1 for the following question data. How should I go to the post office? Can you [] me the [] to
the[]office? Figure 11 shows the data structure of 1, and the data 11 is C
any you”, α1.β1.γ1 corresponds to the first blank, αl and β1.γ1 are the first position,
Indicates the number of characters in the blank, the last position, and answer data L
Corresponds to "tel bi" of ll. The data 12 is "me the", and the data α2. β2. γ2 corresponds to the second blank field and corresponds to “way” of the answer data L12. 13 is “t” in the data
o the", data α3.β3.γ3 corresponds to the third blank, and "Po5t11" of answer data L13
corresponds, and the data 14 is "Office'i'". Address Q11 contains “telf” as answer data Lll.
” is address 012 (the second is way as answer data L12)
”, but address 013 contains “Po5” as answer data L13.
t" is entered. Here, the contents of counter C indicate the number of blank spaces in one question data. FIG. 12 shows the contents of error list memory 180,
If you answer a blank question correctly, the answer data will be entered there, and if the blank question is a wrong answer, the blank will remain as it is. Next, the contents of the third example will be explained in the 13th example.
This will be explained based on the sub-flowchart in the figure. This is a partial change of the sub-flowchart in FIG. 4 of the first embodiment as shown, and 3300-54 instead of S16-S30.
00 has been added, but S18, 20°22.24 remain unchanged, and instead of English words, English sentences are read out and displayed on the display section 28. First, in step 5300, set the value of counter C for the learning data to be displayed in counter B. Here, counter B indicates how the number of blank yakudan in one question sentence decreases each time there is an answer. Indicates the number of remaining unanswered blanks. As in the first embodiment, after the questions and answers are displayed in S18 to S22, when the correct answer key 2 is pressed in S34, the counters C and B are decremented by 1 in 5310, and the answer data is displayed in 5320. It is transferred to a predetermined area of the RAM 34, and if the answer is correct, there is no need to solve the problem again.
The answer data will be displayed there. On the other hand, when the wrong answer key 4 is pressed, the answer is YES in S24, and the blank field is left blank in 5340, the number of wrong answers J is incremented by 1, and the counter B is decremented by 1. After 5330 or 5340, loop processing (820 to S340) is performed until 8=0 at 5350. If YES in 5350, determine whether G=1 in 8360, and if NO, error list memory 18 in 8380.
Store question data and answer data in 0, and RA in 5320.
The answer data (correct answer) stored in M34 is transferred to the question data, and the answer data is deleted from the answer address. If YES, the answer data in the RAM 34 is transferred to the error list memory 180, and since the question data has already been stored, the question data is not stored. For example, if you answered incorrectly in the 1st and 2nd blanks and answered correctly in the 3rd blank among the 3 blanks between 1 data α3. β3. Transfer it to γ3 and fill in the blanks, and the problem data is corrected as follows and “Po5t
” appears. How should I go to the post office? Can you [] me the []
to the Po5tOffice? Note that among the answer data, Li2 is deleted. YES for continuation <3390, i.e. all correct answers key 2 for blank spaces
When is pressed, the data is deleted from the error list memory 8400. For example (f,. The data at address P3 in Figure 12 is an empty area, and this is because all three blanks in the third space have been answered correctly. If NO in S30, it means that one problem has been completed. judge,
Jump to S32, increment I by 1, and move on to the next question statement. If YES, the process jumps to S40. An example of the result of the processing performed one after another in this way is shown in FIG. FIG. 14 shows a fourth embodiment, in which S18 to S30 of the subflow chart of FIG. 4 of the first embodiment are partially changed, and 5soo to 5520 are newly added. In other words, in the first embodiment, only the incorrect answers in the table are repeated until the correct answers are obtained, but in addition to this, in the fourth embodiment, the answers that took more time are selected, and the answers are correct and answered. Repeat the problem until the time becomes shorter. If the timer 42 starts at 5500 and YES at S20, the timer 42 is stopped at 5510 and answer time data T1 is calculated. After S22 and S34, the answer time Ti is calculated at 5520. and the predetermined time To, and if YES, S24.S
26 through rs 28 te Error list memory 80 in Figure 7
In addition to word data and translation data, answer time data T
Store i, perform S29, perform 838, jump to S30, and if No at 5520, perform S36 and 838. Of course, the design can be changed so that the question that takes the longest answer time is selected regardless of whether the answer is correct or incorrect, and the question can be solved repeatedly. Figure 15 (This is the fifth embodiment, IC card 24.26
The user can freely set the range of the learning data, and when a predetermined key (not shown) is pressed, this routine starts and sets the range of the learning data, for example, the semester of each grade in junior high school,
A list of each section of the textbook, the year of the historical chronology, etc. is displayed on the display section 28, and the desired lesson is set using the selection key or alphanumeric key 21 (not shown) provided on the surface of the IC card 24, 26 at 5700. . For example, if you want to study the historical timeline from 1500 to 1650, just press the number keys 1500 and 1650.
In the English textbook section, you can press the selection key and select with the cursor. Next, at 8800, setting data regarding the learning data storage area corresponding to the set lesson is stored in the RAM 35, reading of learning data from other than the set learning data storage area is prohibited, and at 5900, the IC card 24 is
Alternatively, when a lesson change key (not shown) provided on the surface of 26 is pressed, the setting data is changed in accordance with the press at 51000, and the process ends. In this way, the classification of learning data can be freely changed before starting learning, during learning, and after learning, so the degree of freedom in learning can be greatly improved. It should be noted that various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. Often, learning data can be stored in ROM in the order of frequency that appears on the test, the circuit can be configured as a discrete circuit, backup RAM can be installed in the IC card, or backup can be done with a battery. The game may be configured so that you can enjoy the game when you get to the correct answer, or the number of remaining questions may be displayed at the end of the learning process to show how close you are to achieving the goal. After displaying the question data, you can set the The answer data may be automatically displayed on the display unit after a period of time has elapsed. In addition, the alphanumeric key 21 may also serve as the correct answer key 2, wrong answer key 4, end key 8, voice key]O1 display key 12, selection key 18, or correct answer rate key 20, which is useful for electronic dictionaries that are currently becoming popular. It can also be used as Furthermore, the contents of the backup RAM can be rewritten,
It is possible for users to freely create and change questions and answers. [Effects of the Invention] Electronic learning device of the first invention] The electronic learning device is configured to self-evaluate the results of the answers to the questions and to import the results of this self-evaluation as data. Therefore, the user only needs to input the self-evaluation results without having to type the spelling of the answers in the table as they are on the keyboard or choosing from multiple answers. At that point, data can be entered quickly, which has an extremely excellent effect of increasing the processing speed of questions.In addition, the results of self-evaluation are reflected in the question pattern.This allows for The learning effect can be maximized by setting the question pattern.The electronic learning device of the second invention selectively and sequentially reads out the wrong answer learning data in Table 1 from the learning memory and visually outputs it to the visible specific force section. - In response to the correct answer key, the incorrect answer learning data is identified as the correct answer, and control is performed until the number of incorrect answer learning data reaches at least a predetermined number, so the user only has to pay attention to questions for which he/she answered incorrectly. The electronic learning device of the third invention allows for repeated learning without the need for repetition, greatly shortening the learning time, and selecting questions according to the learning stage. Since it is possible to identify the problem E that was the answer and repeatedly learn the learning data that remains in the blank until the correct answer is obtained, the learning effect for so-called fill-in-the-blank problems is greatly increased. The learning data that took a long time to solve is selectively read out one by one from the learning memory, one by one is outputted visually, and in response to a key, if the solution can be solved quickly, the learning data can be identified, and the answer can be displayed. Since the learning data that took a long time to complete is controlled until it reaches at least a predetermined number, the learning effect for tests whose answering time is limited is greatly improved. The learning data that has been identified as an answer is targeted for re-examination, and the re-exposed questions are asked repeatedly.Therefore, the user can repeatedly learn only the questions for which he or she answered incorrectly without any effort, reducing learning time. It is possible to significantly shorten the time by one.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図A、  B、  Cは本発明の一実施例としての
電子学習機とICカードの正面図、第2図はICカード
の内部構造図、第3図は第1実施例のメインフローチャ
ート、第4図は同実施例のサブフローチャート第5図A
、  Bは同実施例のメニュー画面の説明図、第6図は
で同実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第7図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第8図は第2実施例のサブフローチャート、第9図A、
  B。 Cは同実施例のワードメモリとコレクトリストメモリと
エラーリストメモリの内容を示す説明図、第10図は第
3実施例のワードメモリの内容を示す説明図、第11図
は同実施例のデータに1の内容を示す説明図、第12図
は同実施例のエラーリストメモリの内容を示す説明図、
第13図は同実施例のサブフローチャート、第14図は
第4実施例のサブフローチャート、第15図は第5実施
例のサブフローチャートを各々示す。 ]・・・電子学習装置 2・・・正答キー 4・・・誤答キー 22・・・キーボード入力部 28・・・表示部 30・・・CPU 32.52・・・ROM 70.75. 170・・・ワードメモリ80.100
,180・・・エラーリス90・・・コレクトリストメ
モリ トメモリ
Figures 1A, B, and C are front views of an electronic learning machine and an IC card as an embodiment of the present invention, Figure 2 is an internal structure diagram of the IC card, and Figure 3 is a main flowchart of the first embodiment. FIG. 4 is a sub-flowchart of the same embodiment.
, B is an explanatory diagram of the menu screen of the same embodiment, FIG. 6 is an explanatory diagram of the contents of the word memory of the same embodiment, and FIG. 7 is an explanatory diagram of the contents of the error list memory of the same embodiment.
FIG. 8 is a sub-flowchart of the second embodiment, FIG. 9A,
B. C is an explanatory diagram showing the contents of the word memory, correct list memory, and error list memory of the same embodiment, FIG. 10 is an explanatory diagram showing the contents of the word memory of the third embodiment, and FIG. 11 is the data of the same embodiment. 12 is an explanatory diagram showing the contents of the error list memory of the same embodiment,
FIG. 13 shows a sub-flowchart of the same embodiment, FIG. 14 shows a sub-flowchart of the fourth embodiment, and FIG. 15 shows a sub-flowchart of the fifth embodiment. ]...Electronic learning device 2...Correct answer key 4...Wrong answer key 22...Keyboard input section 28...Display section 30...CPU 32.52...ROM 70.75. 170...Word memory 80.100
, 180...Error list 90...Collection list memory memory

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データ、それに続いて解答データを可
視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解
答データと問題データとを順次に可視出力する可視出力
部と、 誤答キーに応答して、その学習データを誤答と識別する
識別手段と、 この誤答学習データを読みだし前記可視出力部に順次に
可視出力し、前記正答キーに応答して、その誤答学習デ
ータを正答と識別し、前記誤答学習データを減少させる
誤答データ制御手段とを備えることを特徴とする電子学
習装置。 2 少なくとも1つの部分を削除した問題データと、そ
の削除部分に対応する解答データとを含む学習データを
格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、前記学習メモリから学習データ
を読みだし、問題データと、それに続いて解答データを
可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の
解答データと問題データとを順次に可視出力する可視出
力部と、 1つの問題データについて少なくとも1つの誤答キーが
応答すると、その学習データを誤答と識別する識別手段
と、 この誤答学習データを読みだし可視出力部に順次に可視
出力し、1つの問題データについて全ての削除部分に対
して正答キーが応答すると、その誤答学習データを正答
と識別し、前記誤答学習データを減少させる誤答データ
制御手段とを備えることを特徴とする電子学習装置。 3 問題データと解答データとを含む所定の学習データ
を格納する学習メモリと、 少なくとも正答キーと誤答キーとを備える入力部と、 この入力部に応答して、学習メモリから学習データを読
みだし、問題データと、それに続いて解答データを可視
出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して次の解答
データと問題データとを順次に可視出力する可視出力部
と、 前記問題データの可視出力から前記正答キー又は誤答キ
ーの応答までの時間を計測する計測手段と、 この解答時間を所定時間と比較し、解答時間が所定時間
以上であると、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その学習データの解答時間が長いと識別する識別手段と
、 この長時間学習データを読みだし前記可視出力部に順次
に可視出力し、前記正答キー又は誤答キーに応答して、
その解答時間が前記所定時間以下となると、その学習デ
ータの解答時間が短かいと識別し、前記長時間学習デー
タを減少させる解答時間データ制御手段とを備えること
を特徴とする電子学習装置。
[Scope of Claims] 1. A learning memory that stores predetermined learning data including question data and answer data; an input section including at least a correct answer key and an incorrect answer key; a visual output unit that reads the learning data from the memory, visually outputs the question data and then the answer data, and sequentially visually outputs the next answer data and question data in response to the correct answer key or the incorrect answer key; , an identification means for identifying the learning data as an incorrect answer in response to the incorrect answer key; and an identification means for reading out the incorrect answer learning data and sequentially visually outputting it to the visual output section, and in response to the correct answer key, identifying means for identifying the learning data as an incorrect answer; An electronic learning device characterized by comprising: wrong answer data control means for identifying wrong answer learning data as correct answers and reducing the wrong answer learning data. 2. A learning memory for storing learning data including question data from which at least one portion has been deleted and answer data corresponding to the deleted portion; an input section comprising at least a correct answer key and an incorrect answer key; In response, the learning data is read from the learning memory, the question data and then the answer data are visually output, and the next answer data and question data are sequentially output in response to the correct answer key or the incorrect answer key. a visual output section for visually outputting; an identification means for identifying learning data as an incorrect answer when at least one incorrect answer key responds to one question data; and an incorrect answer data control means that visually outputs and identifies the incorrect answer learning data as a correct answer when a correct answer key responds to all deleted portions of one question data, and reduces the incorrect answer learning data. An electronic learning device featuring: 3. a learning memory that stores predetermined learning data including question data and answer data; an input unit that includes at least a correct answer key and an incorrect answer key; and in response to the input unit, reads the learning data from the learning memory , a visual output unit that visually outputs question data and then answer data, and sequentially visually outputs the next answer data and question data in response to the correct answer key or the incorrect answer key; a measuring means for measuring the time from the output to the response of the correct answer key or the incorrect answer key; and a measuring means that compares this answer time with a predetermined time, and if the answer time is longer than the predetermined time, responds to the correct answer key or the incorrect answer key. do,
an identification means for identifying that the answer time of the learning data is long; reading out the long learning data and sequentially visually outputting it to the visual output section in response to the correct answer key or the incorrect answer key;
An electronic learning device characterized by comprising: an answer time data control means that identifies the learning data as having a short answer time and reduces the long learning data when the answer time becomes less than the predetermined time.
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