JPH02188495A - Production of thin film of diamond or the like - Google Patents

Production of thin film of diamond or the like

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JPH02188495A
JPH02188495A JP1006293A JP629389A JPH02188495A JP H02188495 A JPH02188495 A JP H02188495A JP 1006293 A JP1006293 A JP 1006293A JP 629389 A JP629389 A JP 629389A JP H02188495 A JPH02188495 A JP H02188495A
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JP
Japan
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thin film
diamond
film
gas
carbon
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Application number
JP1006293A
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Japanese (ja)
Inventor
Nariyuki Hayashi
林 成幸
Toshimichi Ito
伊藤 利通
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Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve the adhesion and uniformity in thickness of the thin film by exciting a raw gas contg. a gaseous carbon source, and bringing the obtained gas into contact with a member having a protrusion on which the thin film is to be formed in the presence of an auxiliary member. CONSTITUTION:The member 1 having a protrusion 10 on which a thin film is to be formed is held on a support 20, and the tip of the auxiliary member 2 is set at the distance of <=5mm from the protrusion 10. The reaction chamber is kept at 10<-6>-10<3>Torr, the member 1 is kept at 300-1300 deg.C, the raw gas consisting of 0.1-90% gaseous carbon source (e.g. methane) and H2 is supplied at the flow rate of 1-1000SCCM, the gas obtained by exciting the raw gas with the plasma produced from a microwave oscillator is brought into contact with the member 1, and a diamond film and/or a diamondlike carbon film are formed.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はダイヤモンド類薄膜の製造方法に関し、さらに
詳しく言うと、薄膜被形成部材との密着性に優れると共
に膜厚の均一性に優れたダイヤモンド薄膜および/また
はダイヤモンド状炭素薄膜を、良好な再現性および安定
性の下に成膜することがてきて、たとえばマイクロトリ
ルや切削工具等の微小な端部な有する特殊形状の+8I
v被形成部材についても成膜条件を容易に制御しつつダ
イヤモンド薄膜および/またはダイヤモンド状炭素薄膜
からなる被YQ膜を形成することが可能なダイヤモンド
類薄膜の製造方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for producing a diamond-based thin film, and more specifically, the present invention relates to a method for producing a diamond-based thin film, and more specifically, a method for manufacturing a diamond-based thin film, and more specifically, a method for producing a diamond-based thin film, and more specifically, a method for producing a diamond-based thin film, and more specifically, a method for producing a diamond-based thin film, and more specifically, a method for producing a diamond-like thin film. Thin films and/or diamond-like carbon thin films can be deposited with good reproducibility and stability, for example, on special shaped +8I films with minute edges such as microtrills and cutting tools.
v The present invention relates to a method for producing a diamond-like thin film, which allows the formation of a YQ film consisting of a diamond thin film and/or a diamond-like carbon thin film while easily controlling the film forming conditions for a member to be formed.

[従来技術および発明が解決しようとする課題]近年、
ダイヤモンド薄膜および/またはダイヤモンド状炭素薄
膜を被覆することにより、たとえばマイクロドリル等の
切削工具類の切削性能および寿命等を改良する試みが数
多くなされている。
[Prior art and problems to be solved by the invention] In recent years,
Many attempts have been made to improve the cutting performance and life of cutting tools such as micro drills by coating them with diamond thin films and/or diamond-like carbon thin films.

そして、マイクロドリル等の切削工具類にダイヤモンド
薄膜および/またはダイヤモンド状炭素薄膜を被覆して
、切削性能および寿命等の改良を図るためには、マイク
ロドリル等の薄膜被形成部材との密着性に優れるととも
に、均一な膜厚を有するダイヤモンド薄膜および/また
はダイヤモンド状炭素薄膜をIl+模する必要がある。
In order to coat cutting tools such as micro drills with a diamond thin film and/or diamond-like carbon thin film to improve cutting performance and service life, it is necessary to It is necessary to imitate a diamond thin film and/or a diamond-like carbon thin film having an excellent and uniform thickness.

すなわち、膜厚が不均一であると、熱応力や内部応力に
急激な変化を生ずるのて、ダイヤモンド類薄膜が剥離し
易くて、所期の切削性能や寿命を有するダイヤモンド類
g膜付き切削工具類を得ることはてきない。
In other words, if the film thickness is non-uniform, a sudden change in thermal stress or internal stress occurs, and the diamond-like thin film is likely to peel off, making it impossible to obtain a cutting tool with a diamond-like film that has the desired cutting performance and life. I can't find anything similar.

そこて、切削工具類に均一な膜厚のダイヤモンド類薄膜
を形成するための提案が種々なされている。
Therefore, various proposals have been made for forming a diamond-like thin film of uniform thickness on cutting tools.

たとえば、特開昭63−166733号公報においては
、反応槽内に金属もしくはその金属化合物を均一に点在
した基板を配置して該基板を500乃至1300℃に加
熱した後、該反応槽内に少なくとも水素原子、炭素原子
、酸素原子を含むダイヤモンド生成用ガスを導入すると
ともに該ガスを活性化させて該基板表面にダイヤモンド
を析出させるダイヤモンド膜の製造方法が開示されてい
る。
For example, in JP-A No. 63-166733, a substrate on which metals or metal compounds thereof are uniformly dotted is placed in a reaction tank, the substrate is heated to 500 to 1300°C, and then the substrate is placed in the reaction tank. A method for manufacturing a diamond film is disclosed in which a diamond-forming gas containing at least hydrogen atoms, carbon atoms, and oxygen atoms is introduced and the gas is activated to deposit diamond on the surface of the substrate.

しかしながら、この方法によると、たとえば基板が平板
状の切削チップ等の平板状部材である場合には、たとえ
ば外部からの加熱、冷却等により基板温度を均一に制御
して、均一な厚みのダイヤモンド膜を形成することはあ
る程度可能であるものの、基板がマイクロドリルのよう
に凸状部(微小な端部)を有する非平板状部材である場
合には、外部からの加熱、冷却によっては基板温度な均
一に保つことは困難であるので、均一な厚みのダイヤモ
ンド膜を形成することはできない。
However, according to this method, when the substrate is a flat member such as a flat cutting tip, the substrate temperature is controlled uniformly by external heating or cooling, and a diamond film of uniform thickness is formed. Although it is possible to some extent to form a Since it is difficult to maintain uniformity, it is not possible to form a diamond film with a uniform thickness.

そこで、前記の方法において、基板が非平板状部材であ
る場合には5部材温度を均一に保つために、マイクロ波
加熱や高周波加熱などの部材の内部加熱方法の採用が必
要になる。このことから、部材加熱とプラズマ発生とを
同時に達成するマイクロ波プラズマCVD法は、これら
の部材への適用において非常に優れた方法である。
Therefore, in the above method, when the substrate is a non-flat member, it is necessary to employ a method of internally heating the member, such as microwave heating or high-frequency heating, in order to keep the temperature of the five members uniform. For this reason, the microwave plasma CVD method, which simultaneously achieves member heating and plasma generation, is an extremely excellent method for application to these members.

しかしながら、この方法において、マイクロ波プラズマ
の出力を低くすると、ダイヤモンド膜を形成することが
できなくなるし、マイクロ波プラズマの出力を高くする
と、薄膜被形成部材の端部にプラズマか局所的に集中し
て、この部分が異常に高温になるので、高温部の膜厚が
厚くなり、全体的に膜厚が不均一になって、実質的に薄
膜の形成が困難になったり、薄膜被形成部材との密着性
に優れたダイヤモンド膜の成膜ができなくなフたりする
。また、凸状の程度によっては薄膜被形成部材の凸状部
が溶融してしまうことがあるのが実情である。
However, in this method, if the output of the microwave plasma is lowered, it will not be possible to form a diamond film, and if the output of the microwave plasma is increased, the plasma will be locally concentrated at the edge of the member on which the thin film is to be formed. As this part becomes abnormally high temperature, the film thickness in the high temperature part becomes thicker, and the film thickness becomes uneven overall, making it substantially difficult to form a thin film or causing damage to the material on which the thin film is formed. It becomes impossible to form a diamond film with excellent adhesion, and the film swells. In addition, depending on the degree of convexity, the actual situation is that the convex portion of the member on which the thin film is formed may melt.

すなわち、気相法を採用する従来のダイヤモンド膜の製
造方法においては、たとえばマイクロドリルのようにs
IgB被形成部材が非平板状であってしかも凸状である
と、FJI!!!被形成部材との密着性に優れると共に
、膜Hの均一性に優れたダイヤモンド膜を、良好な再現
性および安定性の下に形成することが困難であるという
問題かある。
In other words, in the conventional diamond film manufacturing method that employs the vapor phase method, for example, the s
If the IgB forming member is non-flat and convex, FJI! ! ! There is a problem in that it is difficult to form a diamond film that has excellent adhesion to the member to be formed and excellent uniformity of the film H with good reproducibility and stability.

本発明は、前記の事情に基いてなされたものである。The present invention has been made based on the above circumstances.

本発明の目的は、QJ!!2被形成部材との密着性に優
れると共に均一な膜厚を有するダイヤモンド類薄膜を、
気相法により、良好な再現性および安定性の下に成膜す
ることができて、特にドリルや切削工具等の凸状部(微
小な端部)を有する特殊形状の薄膜被形成部材について
もJ&膜条件を容易に制御しつつダイヤモンド薄Ig!
および/またはダイヤモンド状炭素薄膜からなる高品質
の被覆膜を均一に形成することのできるダイヤモンド類
fi1膜の製造方法を提供することにある。
The purpose of the present invention is to provide QJ! ! 2. A diamond-like thin film that has excellent adhesion to the member on which it is formed and has a uniform thickness.
The vapor phase method allows film formation with good reproducibility and stability, and is particularly suitable for specially shaped parts with convex parts (microscopic edges) such as drills and cutting tools. J & Diamond thin Ig while easily controlling film conditions!
and/or to provide a method for producing a diamond-like fi1 film that can uniformly form a high-quality coating film made of a diamond-like carbon thin film.

[課題を解決するための手段] 前記課題を解決するために本発明者らか鋭意検討を重ね
た結果、気相法を採用するダイヤモンド類薄膜の製造方
法においては、特定の補助部材の存在下に、凸状部を有
する薄膜被形成部材(以下、単に薄膜被形成部材と称す
ることがある。)に、炭素源ガスを含有する原料ガスを
励起させて得られるガスを接触させると、たとえば薄膜
被形成部材がマイクロドリルのように微小な端部な有す
る部材であっても1部材端部へのプラズマの局所的な集
中を有効に防止することが可能であり、薄膜被形成部材
との密着性に優れると共に膜厚の均一なダイヤモンド膜
M膜および/またはダイヤモンド状炭素薄膜を、良好な
再現性および安定性の下に、成膜条件を容易に制御しつ
つ効率良く形成し得ることを見い出して、本発明に到達
した。
[Means for Solving the Problems] As a result of intensive studies by the present inventors to solve the above-mentioned problems, the present inventors have found that in the production method of a diamond thin film employing a vapor phase method, in the presence of a specific auxiliary member. For example, when a thin film forming member having a convex portion (hereinafter sometimes simply referred to as a thin film forming member) is brought into contact with a gas obtained by exciting a raw material gas containing a carbon source gas, a thin film is formed. Even if the member to be formed has a minute end, such as a micro drill, it is possible to effectively prevent local concentration of plasma on the end of one member, and it is possible to prevent the thin film from adhering to the member to be formed. We have discovered that it is possible to efficiently form a diamond M film and/or a diamond-like carbon thin film with excellent properties and uniform thickness with good reproducibility and stability, while easily controlling the film formation conditions. As a result, we have arrived at the present invention.

本発明の構成は、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起
して得られるガスを、凸状部を有する薄膜被形成部材の
前記凸状部に近接して設置した補助部材の存在下に、前
記Q脱液形成部材に接触させて、前記薄膜被形成部材に
ダイヤモンド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜を
形成することを特徴とするダイヤモンド類薄膜の製造方
法である。
The configuration of the present invention is to pump a gas obtained by exciting a raw material gas containing a carbon source gas in the presence of an auxiliary member installed close to the convex part of a thin film forming member having a convex part. This is a method for producing a diamond thin film, characterized in that a diamond film and/or a diamond-like carbon film is formed on the thin film forming member by bringing it into contact with the Q deliquid forming member.

本発明の方法においては、炭素源ガスを含有する原料ガ
スを反応室内に導入する。
In the method of the present invention, a raw material gas containing a carbon source gas is introduced into a reaction chamber.

使用に供される前記原料ガスは、少なくとも炭素源ガス
を含有するものであればよいが、少なくとも炭素原子と
水素原子とを含むガスが好ましくく、炭素原子と水素原
子と醸素原子とを含むガスは特に好ましい。
The raw material gas to be used may contain at least a carbon source gas, but preferably contains at least carbon atoms and hydrogen atoms, and preferably contains carbon atoms, hydrogen atoms, and nitrogen atoms. Gases are particularly preferred.

具体的には、前記原料ガスとして、たとえば炭素源ガス
と水素ガスとの混合ガス、含酸素炭化水素化合物ガスを
挙げることができる。
Specifically, examples of the raw material gas include a mixed gas of a carbon source gas and hydrogen gas, and an oxygen-containing hydrocarbon compound gas.

また、所望により、前記原料ガスとともに、不活性ガス
等のキャリヤーガスを用いることもできる。
Further, if desired, a carrier gas such as an inert gas may be used together with the raw material gas.

前記炭素源ガスとしては、各種炭化水素、含酸素化合物
、含窒素化合物等のガスを使用することができる。
As the carbon source gas, gases such as various hydrocarbons, oxygen-containing compounds, nitrogen-containing compounds, etc. can be used.

炭化水素化合物としては1例えばメタン、エタン、プロ
パン、ブタン等のパラフィン系炭化水素;エチレン、プ
ロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素:アセチ
レン、アリレン等のアセチレン系炭化水素;ブタジェン
等のジオレフィン系炭化水素二ジクロプロパン、シクロ
ブタン。
Examples of hydrocarbon compounds include paraffinic hydrocarbons such as methane, ethane, propane, and butane; olefinic hydrocarbons such as ethylene, propylene, and butylene; acetylenic hydrocarbons such as acetylene and arylene; diolefinic hydrocarbons such as butadiene; Hydrogen didichloropropane, cyclobutane.

シクロペンタン、シクロヘキサン等の脂環式炭化水素;
シクロブタジェン、ベンゼン、トルエン、キシレン、ナ
フタレン等の芳香族炭化水素;塩化メチル、臭化メチル
、塩化メチレン、四塩化炭素等のハロゲン化炭化水素な
どを挙げることができる。
Alicyclic hydrocarbons such as cyclopentane and cyclohexane;
Examples include aromatic hydrocarbons such as cyclobutadiene, benzene, toluene, xylene, and naphthalene; halogenated hydrocarbons such as methyl chloride, methyl bromide, methylene chloride, and carbon tetrachloride.

含酸素化合物としては、例えばアセトン、ジエチルケト
ン、ベンゾフェノン等のケトン類:メタノール、エタノ
ール、プロパツール、ブタノール等のアルコール類:メ
チルエーテル、エチルエーテル、エチルメチルエーテル
、メチルプロピルエーテル、エチルプロとルエーテル、
フェノールエーテル、アセタール、環式エーテル(ジオ
キサン、エチレンオキシド等)のエーテル類:アセトン
、ビナコリン、メチルオキシド、芳香族ケトン(アセト
フェノン、ベンゾフェノン等)、ジケトン、環式ケトン
等のケトン類:ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、
ブチルアルデヒド、ベンズアルデヒド等のアルデヒド類
;ギ酸、酢酸、プロピオン酸、°コハク酸、酪酸、シュ
ウ酸、酒石酸、ステアリン酸等の有a酸類:酢酸メチル
、酢酸エチル等の酸エステル類;エチレングリコール、
ジエチレングリコール等の二価アルコール類ニー酸化炭
素、二酸化炭素等を挙げることができる。
Examples of oxygen-containing compounds include ketones such as acetone, diethyl ketone, and benzophenone; alcohols such as methanol, ethanol, propatool, and butanol; methyl ether, ethyl ether, ethyl methyl ether, methyl propyl ether, ethyl propyl ether,
Ethers such as phenol ethers, acetals, and cyclic ethers (dioxane, ethylene oxide, etc.): Ketones such as acetone, vinacolin, methyl oxide, aromatic ketones (acetophenone, benzophenone, etc.), diketones, and cyclic ketones: formaldehyde, acetaldehyde,
Aldehydes such as butyraldehyde and benzaldehyde; alpha acids such as formic acid, acetic acid, propionic acid, succinic acid, butyric acid, oxalic acid, tartaric acid, and stearic acid; acid esters such as methyl acetate and ethyl acetate; ethylene glycol,
Examples include dihydric alcohols such as diethylene glycol, carbon dioxide, and carbon dioxide.

含窒素化合物としては、例えばトリメチルアミン、トリ
エチルアミンなどのアミン類等を挙げることができる。
Examples of the nitrogen-containing compound include amines such as trimethylamine and triethylamine.

また、前記炭素源ガスとして、単体ではないか、消防法
に規定される第4類危険物:ガソリンなどの第1石油類
、ケロシン、テレピン油、しょう脳油、松根油などの第
2石油類、重油などの第3石油類、ギヤー油、シリンダ
ー油などの第4石油類などのガスをも使用することかで
きる。また前記各種の炭素化合物を混合して使用するこ
ともできる。
In addition, the carbon source gas may be a single substance or a class 4 hazardous substance stipulated in the Fire Service Act: a class 1 petroleum such as gasoline, a class 2 petroleum such as kerosene, turpentine oil, pine oil, pine oil, etc. It is also possible to use gases such as tertiary petroleum oils such as heavy oil, tertiary petroleum oils such as gear oil and cylinder oil. It is also possible to use a mixture of the various carbon compounds mentioned above.

これらの炭素源ガスの中でも、常温で気体または蒸気圧
の高いメタン、エタン、プロパン等のパラフィン系炭化
水素;あるいはアセトン、ベンゾフェノン等のケトン類
、メタノール、エタノール等のアルコール類、−酸化炭
素、二酸化炭素ガス等の含酸素化合物か好ましい。
Among these carbon source gases, paraffin hydrocarbons such as methane, ethane, and propane, which are gases or have high vapor pressure at room temperature; or ketones such as acetone and benzophenone, alcohols such as methanol and ethanol, carbon oxide, and carbon dioxide. Oxygen-containing compounds such as carbon gas are preferred.

前記水素ガスには、特に制限がなく、たとえば石油類の
ガス化、天然ガス、水性ガスなどの変成、水の電解、鉄
と水蒸気との反応1石炭の完全ガス化などにより得られ
るものを充分に精製したものを用いることができる。
There are no particular restrictions on the hydrogen gas, and hydrogen gas obtained, for example, by gasification of petroleum, metamorphosis of natural gas, water gas, etc., electrolysis of water, reaction between iron and steam, complete gasification of coal, etc. is sufficient. It can be used after being purified.

前記水素ガスを構成する水素は励起されることにより原
子状水素を形成する。
Hydrogen constituting the hydrogen gas is excited to form atomic hydrogen.

この原子状水素は、硬質炭素の析出と同時に析出する黒
鉛構造の炭素等の非硬質炭素を除去する作用を有する。
This atomic hydrogen has the effect of removing non-hard carbon, such as graphite-structured carbon, which is precipitated at the same time as hard carbon is precipitated.

前記原料ガスの合計論量は、通常、1〜1.0003C
(:M、好ましくはlO〜ZOOSCCMである。
The total stoichiometric amount of the raw material gas is usually 1 to 1.0003C
(:M, preferably IO to ZOOSCCM.

また、前記原料ガスに炭素源ガスと水素ガスとの混合ガ
スを使用する場合の炭素源ガスと水素ガスとの混合比は
1通常、前記炭素源ガスと前記水素との合計流量に対し
て前記炭素源ガスの流量が0.1〜90%、好ましくは
0.2〜80%、さらに好ましくは0.2〜60%であ
る。
Further, when a mixed gas of carbon source gas and hydrogen gas is used as the raw material gas, the mixing ratio of carbon source gas and hydrogen gas is usually 1 to the total flow rate of carbon source gas and hydrogen. The flow rate of the carbon source gas is 0.1 to 90%, preferably 0.2 to 80%, and more preferably 0.2 to 60%.

混合ガス中の炭素源ガスの流量が0.1%よりも少ない
と、ダイヤモンド類薄膜が成膜されなかったり、ダイヤ
モンド類薄膜がたとえ成膜されてもその成膜速度が著し
く小さくなったりする。
If the flow rate of the carbon source gas in the mixed gas is less than 0.1%, a diamond-based thin film may not be formed, or even if a diamond-based thin film is formed, the deposition rate will be extremely low.

本発明の方法に3いて使用に供される前記vJ膜膜形形
成棒状部材材質には特に制限かなく、たとえばシリコン
、アルミニウム、チタン、タングステン、モリブデン、
コバルト、クロムなどの金属、これらの酸化物、窒化物
および炭化物、これらの合金、IC−Co系、wC−T
iC=Go系、WC−TiC−TaC−Co系などの超
硬合金、AIJ3− Fe系、 TiC−Ni系、Ti
C−Co系、TiC−TiN系、B、C−Fe系等のサ
ーメット、さらには各種ガラス、セラミックスや樹脂な
どの中から選ばれた任意のものを用いることができる。
There are no particular restrictions on the material of the vJ film forming rod-shaped member used in the method of the present invention, and examples thereof include silicon, aluminum, titanium, tungsten, molybdenum,
Metals such as cobalt and chromium, their oxides, nitrides and carbides, their alloys, IC-Co series, wC-T
iC=Go series, cemented carbide such as WC-TiC-TaC-Co series, AIJ3- Fe series, TiC-Ni series, Ti
Any cermet selected from C--Co, TiC--TiN, B, C--Fe, and other types of glasses, ceramics, resins, etc. can be used.

また、本発明の方法においては、後に詳述する補助部材
の存在下に成膜を行なうことにより、プラズマの局所的
な集中を有効に防止することができるので、前記凸状部
を有する薄膜被形成部材の形状についても、凸状の端部
を有するものであれば、特に制限はなく、たとえば丸棒
状、角棒状。
Furthermore, in the method of the present invention, by performing film formation in the presence of an auxiliary member, which will be described in detail later, local concentration of plasma can be effectively prevented. The shape of the forming member is also not particularly limited as long as it has a convex end; for example, it may be a round bar shape or a square bar shape.

円錐状、角錐状、バイブ状、ドリル状などの棒状や平板
状の部分に凸状部を有するものなど任意の形状のものを
用いることができる。いずれにしても、本発明の方法は
、プラズマの集中なり脱抜形成部材の外周に設けた従来
の保持部材たけでは防止することのできない形状のもの
に好適に適用することができる。
Any shape can be used, such as a rod shape such as a cone shape, a pyramid shape, a vibrator shape, a drill shape, or a flat plate shape having a convex portion. In any case, the method of the present invention can be suitably applied to plasma concentration which cannot be prevented by the conventional holding member provided on the outer periphery of the withdrawal forming member.

特に、前記薄膜被形成部材かトリルなどの切削工具や歯
科用工具であると、本発明の方法により得られるダイヤ
モンド薄膜および/またはダイヤモンド状炭素[1を形
成してなる前記薄膜被形成部材を、そのまま切削工具や
歯科用工具として用いることが可能である。
In particular, when the thin film forming member is a cutting tool such as a trill or a dental tool, the thin film forming member formed with a diamond thin film and/or diamond-like carbon [1] obtained by the method of the present invention, It can be used as is as a cutting tool or dental tool.

そのような工具類としては、たとえばソリッドトリル、
ミクロンドリル等の穴あけ工具ニ一般旋削用、カッター
用等の特殊形状のチップ;エンドミル、バイトなどの各
種切削工具および歯科用ドリル、スケラーチ・ンブ等の
歯科用工具を好適例として挙げることができる。
Examples of such tools include solid trills,
Suitable examples include drilling tools such as micron drills, tips with special shapes for general lathes, cutters, etc.; various cutting tools such as end mills and bits; and dental tools such as dental drills and skelatch bars.

本発明の方法においては、前記凸状部を有する11i膜
被形成部材の前記凸状部に近接して設こした補助部材の
存在下に、主として前記9脱液形成部材の前記凸状部に
、前記原料ガスを励起して得られるガスを接触させて、
前記薄膜被形成棒状部材にダイヤモンド薄膜および/ま
たはダイヤモンド状炭素薄膜を形成する。
In the method of the present invention, in the presence of an auxiliary member provided close to the convex part of the 11i film forming member having the convex part, the convex part of the 9 deliquing forming member is , bringing into contact the gas obtained by exciting the source gas,
A diamond thin film and/or a diamond-like carbon thin film is formed on the rod-shaped member on which the thin film is to be formed.

すなわち、本発明の方法においては、第1図に示すよう
に、たとえばマイクロ波プラズマCVD装置において、
凸状部lOを有するg脱液形成部材lを、支持台20上
に保持し、さらに凸状部10に近接して補助部材2を設
こすることが重要である。
That is, in the method of the present invention, as shown in FIG. 1, for example, in a microwave plasma CVD apparatus,
It is important to hold the liquid removal forming member 1 having the convex portion 10 on the support stand 20 and to provide the auxiliary member 2 close to the convex portion 10.

ここで、「近接して」とは、薄膜被形成部材lの凸状部
1Q付近のプラズマを有効に分散させることのできる距
離てあり、 fi薄膜被形成部材の凸状部lOと補助部
材2の端部との距離は、通常、5mm以内、好ましくは
3mm以内である。この距離か5 m mを超えると、
補助部材2によっては、薄膜被形成部材1の凸状部lO
にプラズマか局所的に集中するのを有効に防止すること
ができないことがある。
Here, "close" means a distance that can effectively disperse the plasma near the convex part 1Q of the thin film forming member l, and fi the convex part lO of the thin film forming member l and the auxiliary member 2. The distance from the end of the base is usually within 5 mm, preferably within 3 mm. If this distance exceeds 5 mm,
Depending on the auxiliary member 2, the convex portion lO of the thin film forming member 1
It may not be possible to effectively prevent plasma from concentrating locally.

上述のように設置される補助部材2は、たとえば第2図
に示すように、凸状部10を有する薄膜被形成部材lの
凸状部lO付近のプラズマAを分散させて、凸状部10
にプラズマか局所的に集中するのを防止する機能乃至作
用を有する。
The auxiliary member 2 installed as described above, for example, as shown in FIG.
It has the function or effect of preventing local concentration of plasma.

このような機能乃至作用を有する補助部材2を形成する
材料としては、特に制限はなく、たとえばシリコン、ア
ルミニウム、チタン、タングステン、モリブデン、コバ
ルト、クロムなどの金属、これらの酸化物、窒化物およ
び炭化物、これらの合金、W(ニーCo系、WC−Ti
C−Co系、WC−TiC−TaC−Co系などの超硬
合金等を好適に使用することができる。
The material for forming the auxiliary member 2 having such functions and actions is not particularly limited, and examples include metals such as silicon, aluminum, titanium, tungsten, molybdenum, cobalt, and chromium, and oxides, nitrides, and carbides of these metals. , these alloys, W (nee Co-based, WC-Ti
Cemented carbide such as C-Co type, WC-TiC-TaC-Co type, etc. can be suitably used.

そして、たとえば前記薄膜被形成部材がWC−C。For example, the member on which the thin film is formed is WC-C.

系、WC−Tic−Go系、WC−TiC−TaC−G
o系などの超硬合金からなる場合には、これらの超硬合
金を用いるというように、前記薄膜被形成部材の形成材
料と同一もしくは類似の物性を有する材料で前記補助部
材を形成することは好ましい、前記補助部材の形成材料
が、前記凸状部を有する薄膜被形成部材の形成材料と同
一もしくは類似の物性、特に熱的、電気的物性を有する
材料であると、本発明の製造方法においてプラズマの局
所的な集中をさらに効果的に防止することができるから
である。したがって、たとえば誘電率の近似した材料を
組合せて選定することが好ましい。
system, WC-Tic-Go system, WC-TiC-TaC-G
When the auxiliary member is made of a cemented carbide such as an o-based cemented carbide, it is not possible to form the auxiliary member with a material having the same or similar physical properties as the material for forming the thin film member, such as using such a cemented carbide. Preferably, in the manufacturing method of the present invention, the material forming the auxiliary member is a material having the same or similar physical properties, particularly thermal and electrical properties, as the material forming the thin film forming member having the convex portion. This is because local concentration of plasma can be more effectively prevented. Therefore, it is preferable to select a combination of materials having similar dielectric constants.

また、前記補助部材を形成する材料の形態としては、た
とえば線材、網材、板材、棒材などの形態のうち、前記
薄膜被形成部材の形状に適するものを選択して使用する
ことがてきる。
Further, as the form of the material forming the auxiliary member, a material suitable for the shape of the member on which the thin film is formed can be selected and used from among forms such as a wire, a net, a plate, and a bar. .

具体的には、たとえば前記薄膜被形成部材がマイクロト
リルであるときには、t&材、網材を好適に使用するこ
とか可能であり、線材は特に好適に使用することができ
る。
Specifically, for example, when the member on which the thin film is to be formed is microtrill, T& material or net material can be preferably used, and wire material can be particularly preferably used.

本発明の方法においては、前記補助部材を前述のように
設置することにより、前記薄膜被形成部材の端部にプラ
ズマが局所的に集中するのを防止して、局所的な異常高
温化による端部の融解や部分的な厚膜化を防ぎ、密着性
および膜厚の均一性に優れたダイヤモンド薄膜および/
またはダイヤモンド状炭素薄膜を製造することができる
In the method of the present invention, by installing the auxiliary member as described above, it is possible to prevent plasma from locally concentrating on the edge of the thin film forming member, and to prevent plasma from locally concentrating on the edge of the thin film forming member. A thin diamond film and/or diamond film with excellent adhesion and uniform thickness prevents melting and thickening of the film.
Alternatively, a diamond-like carbon thin film can be produced.

前記原料ガスを励起する手段には、気相法によりダイヤ
モンドg膜および/またはダイヤモンド状炭素薄膜を形
成することのできる方法であれば、特に制限はなく、た
とえば直流または交流アーク放電によりプラズマ分解す
る方法、高周波誘導放電によりプラズマ分解する方法、
マイクロ波放電によりプラズマ分解する方法(ECR−
CVD法を含む、)あるいはプラズマ分解をイオン室ま
たはイオン銃で行なわせ、電界によりイオンを引き出す
イオンビーム法、熱フィラメントによる加熱により熱分
解する熱分解法(EACVD法を含む、)などのいずれ
をも採用することができる。これら各種の励起手段の中
でも、マイクロ波プラズマC・VD法、高周波プラズマ
CVD法を採用すると、特に効果的である。
The means for exciting the raw material gas is not particularly limited as long as it can form a diamond g film and/or a diamond-like carbon thin film by a vapor phase method, such as plasma decomposition by direct current or alternating current arc discharge. method, plasma decomposition method using high frequency induced discharge,
Method of plasma decomposition by microwave discharge (ECR-
(including the CVD method), an ion beam method in which plasma decomposition is performed in an ion chamber or an ion gun, and ions are extracted by an electric field, and a thermal decomposition method (including the EACVD method), in which the ions are thermally decomposed by heating with a hot filament. can also be adopted. Among these various excitation means, it is particularly effective to employ the microwave plasma C/VD method and the high frequency plasma CVD method.

本発明の方法においては、以下の条件下に反応が進行し
て、プラズマが局所的に集中するのを防止しつつ前記薄
膜被形成部材上に、前記f!I膜被膜成形成部材密着性
に優れると共に膜厚の均一性に優れたダイヤモンド類薄
膜が析出する。
In the method of the present invention, the reaction proceeds under the following conditions, and the f! A diamond-like thin film with excellent adhesion to the I-film coating member and excellent uniformity of film thickness is deposited.

すなわち、本発明の方法においては、前記薄膜被形成部
材の温度を、通常、300〜1,300℃、好ましくは
500〜1,100℃に設定する。
That is, in the method of the present invention, the temperature of the thin film-formed member is usually set at 300 to 1,300°C, preferably 500 to 1,100°C.

この温度が300℃より低いと、ダイヤモンド類薄膜の
析出速度が遅くなったり、丼硬質炭素を多量に含んだ膜
が形成されることがある。一方、1:100℃より高く
しても、それに見合った効果は奏されず、エネルギー効
率の点で不利となる。
If this temperature is lower than 300° C., the precipitation rate of the diamond thin film may be slowed down, or a film containing a large amount of hard carbon may be formed. On the other hand, even if the temperature is higher than 1:100°C, no commensurate effect will be achieved and this will be disadvantageous in terms of energy efficiency.

そして、本発明の方法においては、成膜段階において、
前記薄膜被形成部材の温度を前記の範囲で変更してもよ
いが、通常は、前記の範囲で一定に保つことか好ましい
。特に前記薄膜被形成部材の温度分布を前記の範囲て一
定に保つことにより、前記薄膜被形成部材との密着性お
よび膜厚の均一性がさらに優れたダイヤモンド類H膜を
得ることができる。
In the method of the present invention, in the film forming step,
Although the temperature of the member on which the thin film is to be formed may be changed within the above range, it is usually preferable to keep it constant within the above range. In particular, by keeping the temperature distribution of the thin film forming member constant within the above range, it is possible to obtain a diamond-like H film with even better adhesion to the thin film forming member and uniformity of film thickness.

反応圧力は1通常、10−’ 〜10’ torr、好
ましくは1G−’torr〜760torrである。
The reaction pressure is usually 10-' to 10' torr, preferably 1 G-' torr to 760 torr.

なお、本発明の方法において1反応圧力を1 torr
よりも低く設定する場合には1反応室内に磁場を加えた
状態で、前記原料ガスを励起するのが好ましい、したが
って、この場合には、前記原料ガスの励起手段にECR
(電子サイクロトロン)−CVD法を好適に採用するこ
とができる。
In addition, in the method of the present invention, one reaction pressure is 1 torr.
When setting the value lower than , it is preferable to excite the raw material gas while applying a magnetic field within one reaction chamber. Therefore, in this case, the ECR is used as the excitation means for the raw material gas.
(Electron cyclotron)-CVD method can be suitably employed.

反応圧力が10−’torrよりも低いと、ダイヤモン
ド類薄膜の析出速度が遅くなったり、ダイヤモンド類薄
膜が析出しなくなったりすることがある。
If the reaction pressure is lower than 10-'torr, the deposition rate of the diamond-like thin film may be slowed or the diamond-like thin film may not be deposited.

一方、 103torrより高くしてもそれに見合った
効果は奏されないことかある。
On the other hand, even if it is made higher than 103 torr, the effect commensurate with that may not be achieved.

反応時間は、前記薄膜被形成部材の温度、反応圧力、必
要とする膜厚などにより相違するので一部に決定するこ
とはできない、したがって、最適時間を適宜に選定すれ
ばよい。
The reaction time cannot be determined in part because it varies depending on the temperature of the member on which the thin film is to be formed, the reaction pressure, the required film thickness, etc. Therefore, the optimum time may be selected as appropriate.

本発明の方法によると、たとえば薄膜被形成部材が、マ
イクロトリルのように微小な端部な有するものであって
も、この端部にプラズマが局所的に集中するのを防止し
て、異常発熱、異常成膜の発生がなく、密着性および膜
厚の均一性に優れた高品質のダイヤモンド類薄膜を、良
好な再現性および安定性の下に、成膜条件を容易に制御
しつつ効率良く製造することがてきる。
According to the method of the present invention, even if the member to be formed with a thin film has minute edges such as microtrills, it is possible to prevent plasma from locally concentrating on these edges and cause abnormal heat generation. , we can efficiently produce high-quality diamond-based thin films with excellent adhesion and uniform thickness without abnormal film formation, with good reproducibility and stability, and by easily controlling film-forming conditions. It can be manufactured.

このようにして得られるダイヤモンド類薄膜は、特に切
削工具や歯科用工具等の切削工具類に好適に利用可能で
あるばかりではなく、たとえば凸状部を有する特殊形状
の耐摩耗性機械部品等の各種部材のハードコーティング
材や電子材料などに好適に利用可能である。
The diamond-based thin film obtained in this way is not only particularly suitable for use in cutting tools such as cutting tools and dental tools, but also for use in specially shaped wear-resistant mechanical parts having convex portions, etc. It can be suitably used as a hard coating material for various parts, electronic materials, etc.

[実施例] 次いて1本発明の実施例および比較例を示し、この発明
についてさらに具体的に説明する。
[Example] Next, an example of the present invention and a comparative example will be shown to further specifically explain the present invention.

(実施例1) We−6%Co組成を持つプリント基板穴あけ加工用ミ
ニトリル(JIS KIOφ=2.0)を薄膜被形成部
材としてマイクロ波プラズマCVD装置の反応室内に設
置するとともに、このミニドリルの端部に2■の11r
1隙をおいて直径1.DIのタングステン線からなる補
助部材を第1図に示したように設置した。
(Example 1) A mini-drill for drilling holes in printed circuit boards (JIS KIOφ=2.0) having a We-6%Co composition was installed in the reaction chamber of a microwave plasma CVD apparatus as a thin film forming member, and the end of this mini-drill was Part 2■11r
Diameter 1 with 1 gap. An auxiliary member consisting of DI tungsten wire was installed as shown in FIG.

次いで、この反応室内に、−酸化炭素5%および水素ガ
ス95%からなる混合ガスを流量101005eの割合
で導入し1反応室内の圧力40torr、薄膜被形成部
材温度900°Cの条件下に、周波数2.45Gllz
のマイクロ波M、源の出力を70Wに設定した。
Next, a mixed gas consisting of 5% -carbon oxide and 95% hydrogen gas was introduced into the reaction chamber at a flow rate of 101005e, and the frequency was increased under the conditions of the pressure in the reaction chamber of 40 torr and the temperature of the thin film forming member of 900°C. 2.45Gllz
Microwave M, the output of the source was set to 70W.

この条件でマイクロ波放電方式によるプラズマ処理を6
時間行なって、薄膜付きプリント基板穴あけ加工用ミニ
ドリルを製造した。
Under these conditions, plasma treatment using the microwave discharge method was performed for 6 days.
Over time, we manufactured a mini drill for drilling holes in printed circuit boards with thin films.

なお、プリント基板穴あけ加工用ミニトリルからなる薄
膜被形成用部材は、洗炸を行なってから使用した。
Note that the member for forming a thin film, which was made of a mini-trill for drilling holes in printed circuit boards, was used after being washed.

反応終r後、得られた61H付きプリント基板穴あけ加
工用ドリルを反応室から取り出して、薄膜についてラマ
ン分光分析を行なったところ、1333csiの位置に
ダイヤモンドに起因するシャープなピークが認められた
After the reaction was completed, the obtained 61H printed circuit board drilling drill was taken out of the reaction chamber and the thin film was subjected to Raman spectroscopy, and a sharp peak due to diamond was observed at a position of 1333 csi.

また、この薄膜の各部の膜厚は、4〜4.5pmてり、
均一性に優れるものであった。
In addition, the film thickness of each part of this thin film is 4 to 4.5 pm,
It had excellent uniformity.

(実施例2) 前記実施例1において、混合ガスの流量を100scc
■から50secmに変えるとともに、部材温度を90
(1℃から950℃に変えたほかは、前記実施例1と同
様にして実施した。
(Example 2) In Example 1, the flow rate of the mixed gas was set to 100 scc.
In addition to changing the speed from ■ to 50 seconds, the member temperature was increased to 90 seconds.
(Execution was carried out in the same manner as in Example 1 except that the temperature was changed from 1°C to 950°C.

反応絆了後、得られた薄膜付きプリント基板穴あけ加工
用ミニトリルを反応室から取り出して。
After the reaction is complete, take out the obtained mini-trill for drilling holes in printed circuit boards with thin film from the reaction chamber.

薄膜についてラマン分光分析を行なったところ、133
3csi−’の位置にダイヤモンドに起因するシャープ
なピークが認められた。
When Raman spectroscopy was performed on the thin film, 133
A sharp peak due to diamond was observed at a position of 3 csi-'.

また、このFIHの各部の膜厚は、7〜By−mであり
、均一性に優れるものであった。
Further, the film thickness of each part of this FIH was 7 to By-m, and had excellent uniformity.

(比較例1) 前記実施例1において、プリント基板穴あけ加工用ミニ
ドリルからなる′R膜膜形形成部材端部に補助部材を設
置しなかったほかは、前記実施例1と同様にしてfrj
膜付きプリント基板穴あけ加工用ミニドリルを製造した
(Comparative Example 1) In the same manner as in Example 1, frj
We manufactured a mini drill for drilling holes in printed circuit boards with membranes.

得られた薄膜付きプリント基板穴あけ加工用ミニドリル
を反応室から取り出して、薄膜についてラマン分光分析
を行なったところ、13:13cm−’の位置にダイヤ
モンドに起因するシャープなピークが認められた。
When the obtained mini-drill for drilling holes in a printed circuit board with a thin film was taken out from the reaction chamber and Raman spectroscopic analysis was performed on the thin film, a sharp peak due to diamond was observed at a position of 13:13 cm-'.

また、この薄膜の各部の膜厚は、0〜7μmであり、薄
膜が形成されない部分もあって前記実施例1乃至2で得
られたダイヤモンド薄膜付きプリント基板穴あけ加工用
ミニドリルの薄膜に比較して不均一なものであるととも
に′AgIし易いものてあった。
Furthermore, the film thickness of each part of this thin film is 0 to 7 μm, and there are some parts where the thin film is not formed, so compared to the thin film of the mini drill for drilling holes in printed circuit boards with a diamond thin film obtained in Examples 1 and 2. It was not only non-uniform but also susceptible to 'AgI.

(評価) 実施例1、実施例2および比較例1の結果から1本発明
の方法によると、薄膜被形成部材との密着性および膜厚
の均一性の優れたダイヤモンドFIJWJが得られるこ
とを確認した。
(Evaluation) From the results of Example 1, Example 2, and Comparative Example 1, it was confirmed that according to the method of the present invention, diamond FIJWJ with excellent adhesion to the thin film member and uniformity of film thickness could be obtained. did.

[発明の効果] 本発明によると、 (1)  凸状部(微小な端部)を有する薄膜被形成部
材の前記凸状部に近接して設置した補助部材の存在下に
、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得られるガ
スを、前記薄膜被形成部材に接触させるので、薄膜被形
成部材が、たとえばマイクロドリルのように微小な端部
な有する部材であっても、端部付近のプラズマを分散さ
せることがてきて、この端部にプラズマか局所的に集中
するのを有効に防止することができる、 (2)シたがって、均一なプラズマによりl8Iv被形
成部材を均一に加熱することが回部になるので、凸状部
における過熱による溶融や異常成膜による厚膜化を防止
することがてき、薄膜被形成部材との密着性および膜厚
の均一性の優れたダイヤモン薄膜および/またはダイヤ
モンド状炭素薄膜を形成することかできるとともに、 (3)  再現性および安定性に優れて、しかも成膜条
件の制御が容易であるので、非平板状の特殊形状を有す
る11i膜被形成部材にも、高品質のダイヤモンド類薄
膜からなる被Wi膜を形成することが可能である、 等の利点を有する工業的に有用なダイヤモンド類薄膜の
製造方法を提供することができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, (1) A carbon source gas is introduced in the presence of an auxiliary member installed close to the convex portion of a thin film forming member having a convex portion (fine end portion). Since the gas obtained by exciting the raw material gas contained therein is brought into contact with the member on which the thin film is formed, even if the member on which the thin film is to be formed has a minute end, such as a microdrill, there will be no damage near the end. (2) Therefore, uniform plasma can uniformly heat the l8Iv forming member. This prevents the convex parts from melting due to overheating or thickening the film due to abnormal film formation, resulting in a diamond thin film with excellent adhesion to the member on which the thin film is formed and uniform film thickness. and/or can form a diamond-like carbon thin film, and (3) has excellent reproducibility and stability, and can easily control film-forming conditions. It is possible to provide an industrially useful method for producing a diamond-like thin film, which has the following advantages: it is possible to form a Wi film made of a high-quality diamond-like thin film also on a forming member.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の製造方法においてマイクロ波プラズマ
CVD装りを用いた場合のi8M膜被形成部材と補助部
材との関係の一例を示す説tJI図、第2図は同じく薄
膜被形成部材の端部付近のプラズマの分散状態を示す説
明図である。 l・・・薄膜被形成部材、2・・・補助部材。 10・・・凸状部 第1図 第2図 手続補正書
FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the relationship between the i8M film-formed member and the auxiliary member when microwave plasma CVD equipment is used in the manufacturing method of the present invention, and FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a dispersion state of plasma near an end. 1... Thin film formed member, 2... Auxiliary member. 10... Convex portion Figure 1 Figure 2 Procedure amendment

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得られ
るガスを、凸状部を有する薄膜被形成部材の前記凸状部
に近接して設置した補助部材の存在下に、前記薄膜被形
成部材に接触させて、前記薄膜被形成部材にダイヤモン
ド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜を形成するこ
とを特徴とするダイヤモンド類薄膜の製造方法。
(1) A gas obtained by exciting a raw material gas containing a carbon source gas is applied to the thin film coating in the presence of an auxiliary member installed close to the convex part of the thin film forming member having a convex part. A method for producing a diamond-like thin film, comprising forming a diamond film and/or a diamond-like carbon film on the thin film forming member in contact with a forming member.
JP1006293A 1989-01-13 1989-01-13 Production of thin film of diamond or the like Pending JPH02188495A (en)

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EP90100625A EP0378230A1 (en) 1989-01-13 1990-01-12 Method of and apparatus for producing diamond thin films
KR1019900000370A KR940003099B1 (en) 1989-01-13 1990-01-13 Method of and apparatus for producing diamond thin films
CA002007780A CA2007780A1 (en) 1989-01-13 1990-01-15 Method of and apparatus for producing diamond thin films
US07/813,041 US5258206A (en) 1989-01-13 1991-12-23 Method and apparatus for producing diamond thin films

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5304249A (en) * 1990-05-25 1994-04-19 Idemitsu Petrochemical Company Limited Suscepter device for the preparation of a diamond film-coated body

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US5304249A (en) * 1990-05-25 1994-04-19 Idemitsu Petrochemical Company Limited Suscepter device for the preparation of a diamond film-coated body

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