JPH02186444A - Fault detecting system for digital signal processor - Google Patents
Fault detecting system for digital signal processorInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、ディジタル信号処理装置、とりわけ、ディジ
タルビデオ信号処理装置の調整、障害検出に有効な障害
検出方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a fault detection method effective for adjusting and detecting faults in digital signal processing devices, and particularly in digital video signal processing devices.
(従来の技術)
ディジタルビデオ信号のように、クロックの周波数が1
0MHz以上となる高速な信号を扱う装置の製作におい
ては、データ転送誤りを無くすために、データとクロッ
ク間の位相合わせやバスのインピーダンス整合等の調整
作業が必要となる。−般に、これらの作業は、オシミス
コープ醇の測定機器を用いて信号波形を見ながら最適な
波形が得られるように調整を行なっている。ところが、
ICの不良やクロストークによる転送誤りが発生してい
る場合は、個々のディジタル信号波形を観察しただけで
は障害箇所の発見は難しい。この様な場合は、出力ディ
ジタルビデオ信号をTVモニタに表示し、出力画面を直
接vt察した方が効率が上がる場合が多い。従って、ビ
デオ信号処理装置の調整では、先ず、TVモニタに出力
したビデオ信号を観察して障害箇所を推定し、その後に
、オシロスコープ等の測定機器を用いて詳細に調整、回
路修正する方法が採られている。(Prior art) Like a digital video signal, the clock frequency is 1.
In manufacturing a device that handles high-speed signals of 0 MHz or higher, adjustments such as phase alignment between data and clock and bus impedance matching are required in order to eliminate data transfer errors. -Generally, these operations are performed using measurement equipment such as an oscilloscope to observe the signal waveform and make adjustments to obtain the optimal waveform. However,
If a transfer error occurs due to a defective IC or crosstalk, it is difficult to find the location of the failure just by observing individual digital signal waveforms. In such cases, it is often more efficient to display the output digital video signal on a TV monitor and directly monitor the output screen. Therefore, when adjusting a video signal processing device, first, the video signal output to the TV monitor is observed to estimate the fault location, and then measurement equipment such as an oscilloscope is used to make detailed adjustments and circuit corrections. It is being
一般に、ディジタル信号処理装置の障害には、プリント
基板の配線の切れ等により、信号がハイレベルやローレ
ベルに固定化された静的な障害と、クロストーク、信号
線間ショート等の動作次に検出される動的な障害がある
。前者の静的な障害が画像データバスに生ずると、画像
信号の階調が落ちるため、TVモニタ画面上では疑似輪
郭の発生として観察され障害の検出が可能となる。しか
しながら、障害発生がLSBfl、l]のビットに起こ
ったときは、モニタ画面を観察しただけでは、疑似輪郭
の検出は難しい。また、どのビットに障害が在るかを特
定できない。一方、後者のような動的な障害では、画像
データに発生するエラーは、ランダムになるので、モニ
タ画面上には、インパルス性の雑音として観察される。In general, failures in digital signal processing equipment include static failures in which signals are fixed at high or low levels due to broken wiring on printed circuit boards, and operational failures such as crosstalk and shorts between signal lines. There are dynamic faults that are detected. If the former static fault occurs on the image data bus, the gradation of the image signal will drop, and this will be observed as a false contour on the TV monitor screen, making it possible to detect the fault. However, when a fault occurs in the bit of LSBfl,l], it is difficult to detect a false contour just by observing the monitor screen. Furthermore, it is not possible to specify which bit has a fault. On the other hand, in the case of a dynamic failure such as the latter, errors that occur in the image data are random, so they are observed as impulsive noise on the monitor screen.
しかしながら、この場合も、障害発生ビットがLSB側
のときには検出は難しく、また、どのビットに障害が在
るかを特定するのも不可能である。However, even in this case, it is difficult to detect when the faulty bit is on the LSB side, and it is also impossible to specify which bit is faulty.
(発明が解決しようとする課題)
以上の様に、TVモニタを用いた障害検出は、障害発生
ビット位置により検出が難しくなるので、障害の発生を
見のがしてしまう恐れがある。また、障害を検出できて
も、障害発生ビット位置を特定できないために、修正箇
所の発見に時間がかかるという問題がある。従って、本
発明は、TVモニタ等を用いた信号処理装置の障害検出
において、障害の発生ビット位置に依らず検出を可能と
し、依って、装置の調整、修正の効率を改善することを
目的としている。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, since fault detection using a TV monitor becomes difficult depending on the bit position where the fault occurs, there is a risk that the occurrence of the fault may be overlooked. Furthermore, even if a fault can be detected, the position of the bit where the fault has occurred cannot be specified, so there is a problem in that it takes time to find a correction location. Therefore, an object of the present invention is to make it possible to detect a fault in a signal processing device using a TV monitor or the like, regardless of the bit position where the fault occurs, thereby improving the efficiency of adjusting and correcting the device. There is.
(課題を解決するための手段)
このために、本発明は、ディジタル信号処理装置にテス
ト用のディジタル信号を与えるテストパタン発生手段と
、前記ディジタル信号処理装置の出力を巡回シフトする
巡回シフト回路と、前記巡回シフト回路の出力をアナロ
グ信号に変換するディジタルアナログ変換器と、前記デ
ィジタルアナログ変換器の出力を表示する手段から構成
させる障害検出方式を提供している。(Means for Solving the Problem) To this end, the present invention provides a test pattern generating means for supplying a test digital signal to a digital signal processing device, a cyclic shift circuit for cyclically shifting the output of the digital signal processing device, and a cyclic shift circuit for cyclically shifting the output of the digital signal processing device. , provides a failure detection method comprising a digital-to-analog converter for converting the output of the cyclic shift circuit into an analog signal, and means for displaying the output of the digital-to-analog converter.
(作用)
前述した様に、TVモニタを用いて障害を検出する際の
問題は、障害がディジタル信号のLSB側に起こったと
き、目視では検出しにくいことによる。(Function) As mentioned above, the problem with detecting a fault using a TV monitor is that when a fault occurs on the LSB side of a digital signal, it is difficult to detect visually.
逆にいえば、障害が常にMSHに表れていれば、エラー
発生画素の輝度値は明暗反転に近い変化を示すこととな
り、検出は容易になる。従って本発明では、モニタ画面
に表示する際にビット操作を行ない、信号処理装置の出
力のうち指定したビットをMSBとしてディジタルアナ
ログ変換している。In other words, if a fault always appears in the MSH, the brightness value of the error pixel will show a change close to brightness reversal, making detection easier. Therefore, in the present invention, bit manipulation is performed when displaying on a monitor screen, and designated bits of the output of the signal processing device are converted into digital-to-analog conversion as MSB.
また、テストパタン発生器により、特定のディジタルテ
ストパタンを安定して繰返し発生させ、目視による障害
検出を更に容易なものとすることができる。Further, the test pattern generator can stably and repeatedly generate a specific digital test pattern, thereby making visual failure detection easier.
(実施例)
第1図は、本発明による実時間動画処理装置の一実施例
である。図において、1は、ディジタルテストパタン発
生器、2は巡回型の多桁シフタ、3は調整を行なうディ
ジタル信号処理装置、4はディジタルアナログ変換器、
5はTVモニタである。(Embodiment) FIG. 1 shows an embodiment of a real-time video processing device according to the present invention. In the figure, 1 is a digital test pattern generator, 2 is a cyclic multi-digit shifter, 3 is a digital signal processing device for adjustment, 4 is a digital-to-analog converter,
5 is a TV monitor.
テストパタン発生器1は、予めテストパタンが告:き込
まれたフレームメモリを内蔵し、図示せずも外部より供
給される同期信号に同期して8ビット精度のビデオ信号
を順次読み出す。読み出されたディジタルビデオ信号は
、ディジタル信号処理装置3に入力される。ディジタル
信号処理装置3は、装置内で検証対象となるバスを介し
て入力されたディジタルビデオ信号をそのまま出力する
。出力されたビデオ信号は、多桁シフタ2を介した後、
ディジタルアナログ変換器4でアナログ信号に変換され
TVモニタ5に表示される。The test pattern generator 1 has a built-in frame memory in which a test pattern is stored in advance, and sequentially reads out an 8-bit precision video signal in synchronization with a synchronization signal supplied from an external source (not shown). The read digital video signal is input to the digital signal processing device 3. The digital signal processing device 3 directly outputs the digital video signal input via the bus to be verified within the device. After the output video signal passes through the multi-digit shifter 2,
The signal is converted into an analog signal by the digital-to-analog converter 4 and displayed on the TV monitor 5.
巡回型の多桁シフタは、第2図に記す論理表に基づいた
動作をする。第2図では、3本の制御信号s2.s1.
soが、いづれもローレベル(= ”ooo”)のとき
は、8ビツトの出力データY = (y7y6y5y4
ya y2y1yo)は、8ビツトの入力データA =
(a7 a5 a5 a4 a3 a2 a 1aO
)と同じビット並びとなる。従って、出力信号のMSB
(y7)には、入力信号のMSB(a7)がそのまま出
力される。また、s2+s1+”0が、いづれもハイレ
ベル(=”111”)のときは、入力信号のLSB(a
o)が、出力MSB(y7)として出力される。このよ
うに、3ビツトの制御信号S二(s2.sl 、s□)
の値によって入力信号のa7〜aQの任意のビットが出
力のMSBとして出力される。このような機能をもつ巡
回型の多桁シフタは、アドバンストマイクロデバイス社
のデータブックであるバイポーラマイクロプロセッサロ
ジックアンドインタフェースの1985年版、9−32
項から9−37項に記載されたAm25S10を用いて
構成できる。8ビツトの巡回型シフタは、Am25S1
0を4個用いて構成でき、第2図に示した論理動作は、
同データブック9.35項に応用例として記載された回
路構成のままで実現される。The cyclic multi-digit shifter operates based on the logic table shown in FIG. In FIG. 2, three control signals s2. s1.
When so is all low level (= "ooo"), 8-bit output data Y = (y7y6y5y4
ya y2y1yo) is 8-bit input data A =
(a7 a5 a5 a4 a3 a2 a 1aO
) has the same bit order. Therefore, the MSB of the output signal
The MSB (a7) of the input signal is output as is at (y7). Furthermore, when s2+s1+"0 are all at high level (="111"), the LSB (a
o) is output as the output MSB (y7). In this way, the 3-bit control signal S2 (s2.sl, s□)
Depending on the value of , arbitrary bits of a7 to aQ of the input signal are output as the MSB of the output. A cyclic multi-digit shifter with such a function is described in the 1985 edition of Bipolar Microprocessor Logic and Interface, a data book by Advanced Micro Devices, Inc., 9-32.
It can be configured using Am25S10 described in Sections 9-37. The 8-bit cyclic shifter is Am25S1.
The logic operation that can be configured using four 0s and shown in Figure 2 is as follows.
It is realized using the same circuit configuration as described as an application example in Section 9.35 of the same data book.
次に、テストパタン発生器1から発生される画像データ
の構成例について述べる。出力ビデオ信号は多桁シフタ
2によってビット操作されてからTVモニタ5に出力さ
れるため、巡回シフト後の画像が、容易に類推できるバ
タンか便利である。ここでは、第3図に示すように、”
10101010’”(16進で”AA”′)と’01
010101”(16進で“55”)の2種の画素値の
みからなる画像信号を大カバタンとして与える。このと
き、巡回シフト量が偶数のときは、テストパタン発生器
1から発生された信号が劣化無く多桁シフタ2に入力さ
れれば、背景部分の輝度値と図形領域の輝度値は各々変
化しないので、巡回シフト後の画像データは入力と同じ
となる。即ち、ディジタル信号処理装置3に障害が無い
限り、多桁シフタ2の出力は、テストパタン発生器1の
出力と同じとなる。一方、巡回シフト量が奇数の時は、
”10101010’”は’01010101”に、“
’01010101”は“10101010”に各々変
換されるので、障害が発生していない場合は、テストパ
タン発生器1が発生するテストパタンとは背景領域と図
形領域の輝度値が丁度入替わった信号が多桁シフタ2の
出力として得られる。但し、シフト量が偶数、奇数いづ
れの場合であっても、背景領域と図形領域の輝度値の差
は等しい。Next, an example of the structure of image data generated from the test pattern generator 1 will be described. Since the output video signal is bit-manipulated by the multi-digit shifter 2 and then output to the TV monitor 5, it is convenient that the image after the cyclic shift is a bang that can be easily inferred. Here, as shown in Figure 3,
10101010'"("AA"' in hexadecimal) and '01
An image signal consisting of only two types of pixel values: 010101"("55" in hexadecimal) is given as a large kabatan. At this time, when the cyclic shift amount is an even number, the signal generated from the test pattern generator 1 is If the image data is input to the multi-digit shifter 2 without deterioration, the luminance value of the background part and the luminance value of the graphic area do not change, so the image data after cyclic shift is the same as the input. As long as there is no failure, the output of the multi-digit shifter 2 will be the same as the output of the test pattern generator 1.On the other hand, when the cyclic shift amount is an odd number,
"10101010'" becomes '01010101', "
'01010101' is converted to '10101010', so if no fault has occurred, the test pattern generated by test pattern generator 1 is a signal in which the luminance values of the background area and figure area are exactly swapped. It is obtained as the output of the multi-digit shifter 2. However, regardless of whether the shift amount is an even number or an odd number, the difference in luminance value between the background area and the graphic area is the same.
ここで、信号処理装置3の障害により、出力ビデオ信号
のあるビットがハイレベルもしくはローレベルに固定化
しているとすれば、多桁シフタ2の巡回シフト量に依存
して背景領域と図形領域の輝度値の差に変動が生ずる。Here, if a certain bit of the output video signal is fixed at high level or low level due to a failure in the signal processing device 3, the difference between the background area and the graphic area depends on the cyclic shift amount of the multi-digit shifter 2. Fluctuations occur in the difference in brightness values.
特に、多桁シフタ2の出力のMSBとして障害発生ビッ
トを選択したときは、背景領域と図形領域の輝度のMS
Bが同じとなるので、両者の輝度値の差が極端に少なく
なる。従って、このときにMSBとして選択しているビ
ットには、障害が発生していると推定して良い。In particular, when the fault occurrence bit is selected as the MSB of the output of multi-digit shifter 2, the MSB of the luminance of the background area and graphic area
Since B is the same, the difference in brightness values between the two becomes extremely small. Therefore, it may be assumed that a fault has occurred in the bit selected as the MSB at this time.
また、クロストークのような動的な障害に対しても、障
害が発生しているピントをMSBとして選択したときに
最もインパルス性雑音が頻繁に観察されることから、障
害発生ビットを推定が可能となる。Furthermore, even for dynamic disturbances such as crosstalk, it is possible to estimate the faulty bit because impulsive noise is most frequently observed when the focal point where the fault occurs is selected as the MSB. becomes.
このように、出力TVモニタ画面を観測しながら多桁シ
フタ2のシフト量を選択することによって障害発生ビッ
トの推定が容易となる。更に、テストパタン発生器1の
ディジタルテストパタンを、書き換え可能な構成とする
と、障害発生箇所の推定結果に基づいたテストパタンの
更新が可能となり、検出した障害箇所の特定や原因の解
明に必要な情報を詳細に得ることができる。In this way, by selecting the shift amount of the multi-digit shifter 2 while observing the output TV monitor screen, it becomes easy to estimate the faulty bit. Furthermore, if the digital test pattern of the test pattern generator 1 is configured to be rewritable, it becomes possible to update the test pattern based on the results of estimating the location of the fault, which is necessary for identifying the detected fault location and elucidating the cause. You can get detailed information.
(発明の効果)
本発明によれば、障害発生しているビット位置に依らず
検出を容易とし、検出効率を上げることができる。また
、シフト量の設定を変えながら出力画像を観察すること
によって、障害ビット位置の特定も容易になる。(Effects of the Invention) According to the present invention, it is possible to easily detect a fault regardless of the bit position where the fault has occurred, and to improve the detection efficiency. Furthermore, by observing the output image while changing the shift amount setting, it becomes easy to identify the faulty bit position.
第1図は、本発明の一実施例を示す図。第2図、第3図
は、実施例の動作を説明する図である。図において、
lは、テストパタン発生器、2は、多桁シフト回路、3
は、ディジタル信号処理装置、4は、ディジタルアナロ
グ変換器、5は、TVモニタ。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention. FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining the operation of the embodiment. In the figure, l is a test pattern generator, 2 is a multi-digit shift circuit, and 3 is a test pattern generator.
is a digital signal processing device; 4 is a digital-to-analog converter; and 5 is a TV monitor.
Claims (1)
タして障害を検出する方式であって、前記ディジタル信
号処理装置にテスト用のディジタル信号を与えるテスト
パタン発生手段と、前記ディジタル信号処理装置の出力
を巡回シフトする巡回シフト回路と、前記巡回シフト回
路の出力をアナログ信号に変換するディジタルアナログ
変換器と、前記ディジタルアナログ変換器の出力を表示
する手段から構成される障害検出方式。This method detects a failure by monitoring the multivalued digital output of a digital signal processing device, the method comprising: a test pattern generating means for supplying a test digital signal to the digital signal processing device; A fault detection system comprising: a cyclic shift circuit that performs cyclic shifting; a digital-analog converter that converts the output of the cyclic shift circuit into an analog signal; and means for displaying the output of the digital-analog converter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1006186A JPH02186444A (en) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | Fault detecting system for digital signal processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1006186A JPH02186444A (en) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | Fault detecting system for digital signal processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02186444A true JPH02186444A (en) | 1990-07-20 |
Family
ID=11631526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1006186A Pending JPH02186444A (en) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | Fault detecting system for digital signal processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02186444A (en) |
-
1989
- 1989-01-12 JP JP1006186A patent/JPH02186444A/en active Pending
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