JPH02176410A - Distance-image obtaining apparatus - Google Patents
Distance-image obtaining apparatusInfo
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- JPH02176410A JPH02176410A JP63334807A JP33480788A JPH02176410A JP H02176410 A JPH02176410 A JP H02176410A JP 63334807 A JP63334807 A JP 63334807A JP 33480788 A JP33480788 A JP 33480788A JP H02176410 A JPH02176410 A JP H02176410A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、立体計測装置に利用される距離画像取得装置
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a distance image acquisition device used in a stereoscopic measurement device.
物体などの三次元位置をテレビカメラから入力された画
像により求める装置として、距離画像取得装置が提案さ
れている(特開昭62−195379号明細書)、この
距離画像取得装置によりカメラから物体までの距離を求
める方法の一例を、第8図を参照して簡単に説明する。A distance image acquisition device has been proposed as a device for determining the three-dimensional position of an object, etc. from an image input from a television camera (Japanese Patent Application Laid-open No. 195379/1983). An example of a method for determining the distance will be briefly explained with reference to FIG.
カメラ3の異なる分光感度σ工、σ2を持つ2つのセン
サ5,6で取得された画像データは、A/D変換器7,
8を介して2つの画像メモリ9及び10の各画素毎に比
Rを次式に従って演算し、比画像を比画像メモリ12に
格納する。The image data acquired by the two sensors 5 and 6 having different spectral sensitivities σ and σ2 of the camera 3 are transferred to the A/D converter 7,
8, the ratio R is calculated for each pixel of the two image memories 9 and 10 according to the following equation, and the ratio image is stored in the ratio image memory 12.
ただし、
■、:点Pが撮像されたセンサ5の画素の出力I、:点
Pが撮像されたセンサ6の画素の出力平面19に白板を
置いて、第一の較正画像を取得した場合、関数演算部1
4は、スイッチ13を介し、比画像メモ1j12に格納
されている比画像から平面19における比Rの関数X、
(R)を求め、保持する。関数X、(R)は、観測され
たRat≦R≦R1の範囲で値を持つ。同様に、平面2
0に白板を置いて、第二の較性画像を取得した場合、関
数演算部15は、スイッチ13を介し、比画像メモリ1
2に格納されている比画像から平面20における比Rの
関数xi(R)を求め、保持する。関数X 、 (R)
は、Rbl≦R≦Rb2の範囲で値を持つ。However, when the first calibration image is obtained by placing a white board on the output plane 19 of the pixel of the sensor 6 where the point P is imaged, Function operation section 1
4 is a function X of the ratio R in the plane 19 from the ratio image stored in the ratio image memo 1j12 via the switch 13;
Find and hold (R). The function X, (R) has a value in the observed range of Rat≦R≦R1. Similarly, plane 2
When a second comparison image is obtained by placing a white board at
The function xi(R) of the ratio R in the plane 20 is obtained from the ratio image stored in 2 and held. Function X, (R)
has a value in the range of Rbl≦R≦Rb2.
回折位置較正部16は、関数X 、 (R)およびX5
(R)について、双方のRの定義域の重複部分のRにつ
いて、式(2)により、適当な定数Cを用いて、(X、
、Z、)、(X、、Z、)のペアを求め、式(3)及び
式(4)により回折位置(Xo、 Zo)を求める。較
正された回折位置(Xo、 Zo)は回折位置較正部1
6に保持される。The diffraction position calibration unit 16 uses functions X, (R) and X5
For (R), for the overlapping part of the domain of both R, using an appropriate constant C according to equation (2), (X,
, Z, ) and (X, , Z,) are determined, and the diffraction positions (Xo, Zo) are determined using equations (3) and (4). The calibrated diffraction positions (Xo, Zo) are transferred to the diffraction position calibration unit 1.
It is held at 6.
Z =a RX + b n (R=R1r R21・
・・)・・・・・・(3)
・・・・・・(4)
実際の物体2までの距離を測定する場合、実景が全く同
様に画像メモリ9及び10に得られ、比画像が比画像メ
モリ12に得られる。距離演算部17は、比画像メモリ
12から、画素毎に比RをX座標値と共にスイッチ13
を介して読み出し、回折位置較正部16に保持されてい
る回折位置(xo、 ze)と関数演算部14.15E
保持すしている関数X、(R)、 Xb(R)を用いて
式(5)または式(6)により、距離2を求め、距離画
像メモリ18に書き込む。Z = a RX + b n (R = R1r R21・
・・・)・・・・・・(3) ・・・・・・(4) When measuring the distance to the actual object 2, the actual scene is obtained in exactly the same way in the image memories 9 and 10, and the ratio image is The ratio image is obtained in the image memory 12. The distance calculation unit 17 outputs the ratio R for each pixel from the ratio image memory 12 to the switch 13 along with the X coordinate value.
The diffraction positions (xo, ze) read out through the diffraction position calibration unit 16 and the function calculation unit 14.15E
Using the retained functions X, (R), and Xb(R), the distance 2 is determined by equation (5) or equation (6) and written into the distance image memory 18.
以上の一連の動作の結果、距離画像メモリ18の各画素
には、カメラ3から物体2までの距離2が得られる。As a result of the above series of operations, the distance 2 from the camera 3 to the object 2 is obtained in each pixel of the distance image memory 18.
以上に述べた従来技術によると、スペクトルパタンの死
角により距離計測が不可能となる領域を軽減するために
は、2回以上の計測を要する。例えば、第9図において
領域Aはカメラから見えており、かつスペクトルパタン
か投射されているので計測可能である。しかし領域Bは
カメラから見えているが、スペクトルパタンか投射され
ていないので計測不可能である。領域A、B両方を計測
するためには、物体を回転するかカメラと投射装置を回
転して2回以上計測する必要があるので時間がかかる。According to the conventional technology described above, two or more measurements are required to reduce the area where distance measurement is impossible due to blind spots in the spectrum pattern. For example, in FIG. 9, region A is visible from the camera and a spectral pattern is projected thereon, so it can be measured. However, although region B is visible from the camera, it cannot be measured because no spectral pattern is projected. In order to measure both areas A and B, it is necessary to rotate the object or rotate the camera and the projection device and perform measurements two or more times, which takes time.
これは、特に人体など長時間一定の姿勢を保つことが困
難な物体の計測時に問題となる。This becomes a problem especially when measuring objects such as human bodies that are difficult to maintain a constant posture for long periods of time.
本発明の目的は、機械的な走査を行わずに、1回のみの
計測で、投射されるスペクトルパタンの死角によって生
じる計測不可能な領域を軽減できる距離画像取得装置を
提供することにある。An object of the present invention is to provide a distance image acquisition device that can reduce unmeasurable areas caused by blind spots in a projected spectral pattern by measuring only once without performing mechanical scanning.
本発明の距離画像取得装置は、物体に対して、多方向か
ら各方向固有の波長域のスペクトルパタンを投射する複
数のスペクトルパタン投射手段と、前記物体を撮影する
カメラと、前記カメラに具備した前記複数のスペクトル
パタン投射手段各々が有する固有の波長域と同じ波長域
にのみ感度を有する複数のセンサセットと、前記センサ
セット各々から得る画像データを用いて距離画像を求め
る複数の距離画像算出手段と、前記距離画像算出手段各
々から得る距離画像データを記憶する複数の距離画像メ
モリと、前記複数の距離画像メモリ各々の内容を一画面
に統合する距離画像データ統合手段と、前記距離画像デ
ータ統合手段から出力されるデータを記憶する距離画像
メモリを有している。The distance image acquisition device of the present invention includes: a plurality of spectral pattern projection means for projecting spectral patterns in wavelength ranges specific to each direction from multiple directions onto an object; a camera for photographing the object; A plurality of sensor sets having sensitivity only in the same wavelength range as the unique wavelength range of each of the plurality of spectral pattern projection means, and a plurality of distance image calculation means for calculating a distance image using image data obtained from each of the sensor sets. a plurality of distance image memories for storing distance image data obtained from each of the distance image calculation means; a distance image data integration means for integrating the contents of each of the plurality of distance image memories into one screen; and a distance image data integration means. It has a distance image memory for storing data output from the means.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
図において、スペクトルパタン投射装置32゜33は、
それぞれ波長λ1〜λ2、λ、〜λ、のスペクトルパタ
ンを物体2に同時に投射する。ただし、λ2くλ、であ
る。物体2はカメラ31により撮影され、光分岐素子2
8,29.30を介してセンサ24,25,26,27
上に像を結ぶ。センサ24.25及びセンサ26,27
から得る画像データは、それぞれ距離画像算出部34及
び35へ入力されて距離画像が算出され、結果を距離画
像メモ!J36,37へそれぞれ記憶する。距離画像メ
モ!J36,37のデータは、統合処理部38で一画面
に統合され、結果が、距離画像メモリ39へ記憶される
。In the figure, the spectral pattern projection devices 32 and 33 are
Spectral patterns of wavelengths λ1 to λ2, λ, and ˜λ are simultaneously projected onto the object 2, respectively. However, λ2 times λ. The object 2 is photographed by the camera 31, and the light branching element 2
Sensors 24, 25, 26, 27 via 8, 29, 30
Tie a statue on top. Sensors 24, 25 and sensors 26, 27
The image data obtained from the is input to the distance image calculation units 34 and 35, respectively, to calculate a distance image, and the results are recorded as a distance image memo! Store in J36 and J37, respectively. Distance image memo! The data of J36 and J37 are integrated into one screen by the integration processing unit 38, and the result is stored in the distance image memory 39.
次に第1図の距離画像取得装置の動作について、第2図
〜第7図を参照して説明する。スペクトルパタン投射装
置32.33から投射されるスペクトルパタンの波長域
は、それぞれλ1〜λ2、λ、〜λ4である(λ2〈λ
、)。このスペクトルパタン投射装置32.33を用い
て物体2を同時に照射し、この実景をカメラ31で撮影
する。カメラ31に内蔵しているセンサ24,25,2
6.27はそhぞれ第2図、第3図、第4図、第5図に
示すような分光感度σ3.σ4.σ5.σ6を有してい
る。Next, the operation of the distance image acquisition device shown in FIG. 1 will be explained with reference to FIGS. 2 to 7. The wavelength ranges of the spectral patterns projected from the spectral pattern projection devices 32 and 33 are λ1 to λ2, λ, to λ4, respectively (λ2<λ
,). The object 2 is simultaneously irradiated using the spectral pattern projection devices 32 and 33, and the actual scene is photographed by the camera 31. Sensors 24, 25, 2 built into the camera 31
6.27 is the spectral sensitivity σ3.h as shown in FIGS. 2, 3, 4, and 5, respectively. σ4. σ5. It has σ6.
図より明らかなように、センサ24,25はスペクトル
パタン投射装置32の波長域に対してのみ感度を有し、
センサ26,27はスペクトルパタン投射装置330波
長域に対してのみ感度を有している。したがって、セン
サ24,25ではスペクトルパタン投射装置32から投
射されたスペクトルパタンのみが検知され、センサ26
,27ではスペクトルパタン投射装置33から投射され
たスペクトルパタンのみが検知されるので、互いに他の
投射装置からのスペクトルパタンは検知されない。従っ
てセンサ24,25の出力とセンサ26.27の出力は
、互いに独立に、公知の事実(特開昭62−19537
90号明細書)を用いて、距離画像算出部34.35に
おいて処理され、次のように各々の距離画像を得ること
ができる。As is clear from the figure, the sensors 24 and 25 are sensitive only to the wavelength range of the spectral pattern projection device 32,
Sensors 26, 27 are sensitive only to the spectral pattern projection device 330 wavelength range. Therefore, the sensors 24 and 25 detect only the spectrum pattern projected from the spectrum pattern projection device 32, and the sensor 26 detects only the spectrum pattern projected from the spectrum pattern projection device 32.
, 27, only the spectral pattern projected from the spectral pattern projection device 33 is detected, so that the spectral patterns from the other projection devices are not detected. Therefore, the outputs of the sensors 24 and 25 and the outputs of the sensors 26 and 27 are independent of each other, based on the known fact (Japanese Unexamined Patent Publication No. 62-19537
90) in the distance image calculation units 34 and 35, and each distance image can be obtained as follows.
まず、実際の測定に先立ち、スペクトルパタンの回折位
置を求める。第6図において、カメラ31の異なる分光
感度σ1.σ4のセンサで取得された画像データは、A
/D変換器7,8を介して2つの画像メモリ9及び1o
の各画素毎に比Rを(1)式に従って演算し、比画像を
比画像メモリ12に格納する。First, prior to actual measurement, the diffraction position of the spectral pattern is determined. In FIG. 6, the camera 31 has different spectral sensitivities σ1. The image data acquired by the sensor of σ4 is A
/D converters 7, 8 to two image memories 9 and 1o
The ratio R is calculated for each pixel according to equation (1), and the ratio image is stored in the ratio image memory 12.
平面19に白板を置いて、第一の較正画像を取得した場
合、関数演算部14は、スイッチ13を介し、比画像メ
モリ12に格納されている比画像から平面19における
比Rの関数x、t (R)を求め、保持する。関数X−
+(R)は、観測されたR、□1≦R≦R11□の範囲
で値を持つ。同様に、平面2oに白板を置いて、第二の
較正画像を取得した場合、関数演算部15は、スイッチ
13を介し、比画像メモリ12に格納されている比画像
がら平面2oにおける比Rの関数Xb+(R)を求め、
保持する。関数x b+ (R)は、R61、≦R≦R
bl□の範囲で値を持つ。When a white board is placed on the plane 19 and the first calibration image is acquired, the function calculation unit 14 calculates the function x of the ratio R on the plane 19 from the ratio image stored in the ratio image memory 12 via the switch 13. Find and hold t(R). Function X-
+(R) has a value in the range of observed R, □1≦R≦R11□. Similarly, when a white board is placed on the plane 2o and a second calibration image is acquired, the function calculation section 15 uses the ratio image stored in the ratio image memory 12 via the switch 13 to calculate the ratio R on the plane 2o. Find the function Xb+(R),
Hold. The function x b+ (R) is R61, ≦R≦R
It has a value in the range of bl□.
回折位置較正部16は、関数X、l (R)およびXb
l(R)について、双方のRの定義域の重複部分のRに
ついて、式(2)により、適当な定数Cを用いて、(X
、、Z、)、(X、、Z、)のベアを求め、式(3)及
び式(4)により回折位置(X o+ 、 Z o+)
を求める。The diffraction position calibration unit 16 calculates the functions X, l (R) and Xb
For l(R), for R in the overlapped domain of both R, using an appropriate constant C according to equation (2), (X
,,Z,), (X,,Z,), and calculate the diffraction position (X o+ , Z o+) using equations (3) and (4).
seek.
較正された回折位置(Xo+、 Zo+)は回折位置較
正部16に保持される。The calibrated diffraction positions (Xo+, Zo+) are held in the diffraction position calibration section 16.
次に、スペクトルパタン投射装置33の回折位置(X、
、、Z、2)を求める。この場合も上述の回折位置(X
o+、 Zo+)を求める方法の説明において、σ8.
σ4. X、+(R)、 Xbl(R)、 R,ll、
R,12゜Rb + + + Rb + t r X
a + r Z o 1をそれぞれ、σ5+ σ8+
X、2(R)、 Xbz(R) 、 R−21、R−2
□r Rb2z Rb22゜XO2,z02と読み代え
るだけで全く同様に求められる。Next, the diffraction position (X,
,,Z,2) is found. In this case as well, the above-mentioned diffraction position (X
o+, Zo+), σ8.
σ4. X, +(R), Xbl(R), R,ll,
R, 12°Rb + + + Rb + t r X
a + r Z o 1, respectively, σ5+ σ8+
X, 2(R), Xbz(R), R-21, R-2
□r Rb2z Rb22°XO2, z02 can be obtained in exactly the same way.
このようにして、それぞれの回折位置を求めた後、実際
の物体2の距離画像計測を行う。After determining each diffraction position in this manner, distance image measurement of the actual object 2 is performed.
実際の物体2までの距離を測定する場合、カメラ31の
異なる分光感度σ1.σ、のセンサで取得された実景の
画像データは、A/D変換器7,8から画像メモリ9及
び10に得られ、比画像が比画像メモリ12に得られる
。距離演算部17は、比画像メモリ12から、画素毎に
比RをX座標値と共にスイッチ13を介して読み出し、
回折位置較正部16に保持されている回折位置(Xo+
、 Zoo)と関数演算部14.15に保持されている
関数X、1(R)、 X、1(R)を用いて式(5)ま
たは(6)により、距離2を求め、距離画像メモリ36
に書き込む。When measuring the distance to the actual object 2, the camera 31 has different spectral sensitivities σ1. The image data of the actual scene acquired by the sensor σ is obtained from the A/D converters 7 and 8 to the image memories 9 and 10, and the ratio image is obtained to the ratio image memory 12. The distance calculation unit 17 reads out the ratio R for each pixel together with the X coordinate value from the ratio image memory 12 via the switch 13,
The diffraction position (Xo+
, Zoo) and the functions X, 1(R), 36
write to.
以上の一列の動作の結果、距離画像メモリ36の各画素
には、カメラ31から物体2までの距離2が得られる。As a result of the above series of operations, the distance 2 from the camera 31 to the object 2 is obtained in each pixel of the distance image memory 36.
次に、カメラ31の異なる分光感度σ1.σ6のセンサ
で取得された画像データは、上述したσ、。Next, the different spectral sensitivities σ1 of the camera 31. The image data acquired by the sensor σ6 is σ, as described above.
σ4のセンサで取得された画像データに対する説明にお
いて、(Iss (141XIIIJ Zoo、x、+
(tt)。In the explanation of the image data acquired by the σ4 sensor, (Iss (141XIIIJ Zoo, x, +
(tt).
x b 1(R)、距離画像メモリ36をそれぞれσ6
.σ6゜X@2. Z6!、 X−z(R)、 Xb2
(R)、距離画像メモリ37と読みかえるだけで全く同
様に、並列に処理される。x b 1(R), distance image memory 36 respectively σ6
.. σ6゜X@2. Z6! , X-z(R), Xb2
(R), just read it as distance image memory 37, and it is processed in parallel in exactly the same way.
さて、距離画像メモリ36及び37に得られた距離画像
は、それぞれ、領域A21及び領域B22までの距離を
計測している。統合処理部38では、距離画像メモリ3
6及び37の各画素毎に画素値、すなわち計測された距
離を読みだし、計測値の有無を計測値有無判定部40に
て判定し、計測値がある場合はその値を距離画像メモリ
39へ転送する。このとき、重複して計測された領域C
42の距離は、平均値算出部41において平均値を求め
、その結果を転送する。Now, the distance images obtained in the distance image memories 36 and 37 measure the distance to the area A21 and area B22, respectively. In the integrated processing unit 38, the distance image memory 3
The pixel value, that is, the measured distance, is read out for each pixel of 6 and 37, and the presence or absence of the measurement value is determined by the measurement value presence/absence determining unit 40. If there is a measurement value, the value is stored in the distance image memory 39. Forward. At this time, the area C that was measured redundantly
As for the distance 42, an average value is calculated by an average value calculation unit 41, and the result is transferred.
以上の一連の動作の結果、−回のみの測定で、スペクト
ルパタンの死角によって生じる計測不可能な領域が軽減
された距離画像が、距離画像メモリ39に得られる。As a result of the series of operations described above, a distance image in which unmeasurable areas caused by blind spots in the spectral pattern are reduced is obtained in the distance image memory 39 with only one measurement.
なお、上述の例では、スペクトルパタン投射装置と対応
するセンサセットの組が2組の場合につき説明したが、
3組以上の場合も同じ要領で容易に実施でき、同じ効果
が得られることは明かである。Note that in the above example, the case where there are two sets of spectral pattern projection devices and corresponding sensor sets has been explained.
It is clear that the same procedure can be easily carried out in the case of three or more groups, and the same effect can be obtained.
以上説明したように、本発明は、相異なる方向から、複
数のスペクトルパタン投射装置によって各装置固有のス
ペクトルパタンを同時に物体に投射し、その実景を、各
スペクトルパタン固有の波長域にのみ感度を有する複数
のセンサセットで同時に撮像し、その画像データを用い
て距離画像を算出することにより、−回のみの計測にお
いてもスペクトルパタンの死角の発生が軽減され、その
結果、計測不可能な領域を軽減できる効果がある。As explained above, the present invention simultaneously projects spectral patterns specific to each device onto an object from different directions using a plurality of spectral pattern projection devices, and displays the actual scene with sensitivity only to the wavelength range specific to each spectral pattern. By simultaneously capturing images with multiple sensor sets and calculating a distance image using the image data, the occurrence of blind spots in the spectral pattern is reduced even when measuring only - times, and as a result, it is possible to eliminate areas that cannot be measured. It has a mitigating effect.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図、
第3図、第4図、第5図は第1図に示したセンサの分光
感度の例、第6図は第1図に示した距離画像算出部のブ
ロック図の例、第7図は第1図に示した統合処理部のブ
ロック図の例、第8図は従来の技術の説明図、第9図は
発明が解決しようとする課題の説明図である。
1.32.33・・・・・・スペクトルパタン投射装置
、2・・・・・・物体、3,31・・・・・・カメラ、
5,6,24゜25.26.27・・・・・・センサ、
7. 訃−・−・−A/D変換器、9,10・・・・・
・画像メモリ、11・・・・・・比画像演算部、12・
・・・・・比画像メモリ、13・・・・・・スイッチ、
14.15・・・・・・関数演算部、16・・・・・・
回折位置較正部、17・・・・・・距離演算部、18,
36゜37.39・・・・・・距離画像グモリ、19.
20・・・・・・平面、21・・・・・・領域A122
・・・・・・領域B、23・・・・・・カメラ視野、4
.28,29.30・・・・・・光分岐素子、34.3
5・・・・・・距離画像算出部、38・・・・・・統合
処理部、40・・・・・・計測値有無判定部、41・・
・・・・平均値算出部、42・・・・・・領域C0代理
人 弁理士 内 原 晋
菓
t
■
箒
図
芹
凹
蓬
!
羊
茶
回
茶
蘭
滞9
回FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG.
Figures 3, 4, and 5 are examples of the spectral sensitivity of the sensor shown in Figure 1, Figure 6 is an example of the block diagram of the distance image calculation section shown in Figure 1, and Figure 7 is the An example of a block diagram of the integrated processing unit shown in FIG. 1, FIG. 8 is an explanatory diagram of the conventional technology, and FIG. 9 is an explanatory diagram of the problem to be solved by the invention. 1.32.33...spectral pattern projection device, 2...object, 3,31...camera,
5,6,24゜25.26.27...Sensor,
7. Death------A/D converter, 9, 10...
・Image memory, 11... Ratio image calculation section, 12.
... Ratio image memory, 13 ... Switch,
14.15...Function operation section, 16...
Diffraction position calibration unit, 17...Distance calculation unit, 18,
36°37.39・・・Distance image Gumori, 19.
20... Plane, 21... Area A122
......Area B, 23...Camera field of view, 4
.. 28, 29.30... Optical branching element, 34.3
5...Distance image calculation unit, 38...Integration processing unit, 40...Measurement value presence/absence determination unit, 41...
...Average value calculation department, 42...Area C0 agent Patent attorney Shinka Uchihara ■ Broom drawing Seri-kuho! Sheep tea ceremony 9 times
Claims (1)
を異なる分光感度のセンサを有するカメラによって撮像
し、各画素について、物体までの距離を求める距離画像
取得装置において、 多方向から各方向固有の波長域のスペクトルパタンを、
同時に物体に投射する複数のスペクトルパタン投射手段
と、 前記複数のスペクトルパタン投射手段各々が有する固有
の波長域に対してのみ感度を有する複数のセンサセット
を具備したカメラと、 前記カメラに具備された複数のセンサセットの出力によ
り物体までの距離を求める各センサセットに対応した複
数の処理手段と、 前記複数の処理手段から得る複数の距離画像を一つの距
離画像に統合する統合処理手段とを備えることを特徴と
する距離画像取得装置。[Claims] A distance image acquisition device that projects a separated spectral pattern onto an object, captures this image with a camera having sensors with different spectral sensitivities, and calculates the distance to the object for each pixel, comprising: The spectral pattern of the wavelength range specific to each direction is
a camera comprising: a plurality of spectral pattern projection means that simultaneously project images onto an object; a plurality of sensor sets that are sensitive only to specific wavelength ranges of each of the plurality of spectral pattern projection means; A plurality of processing means corresponding to each sensor set that calculates the distance to an object from the output of the plurality of sensor sets, and an integrated processing means that integrates a plurality of distance images obtained from the plurality of processing means into one distance image. A distance image acquisition device characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63334807A JP2629926B2 (en) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Range image acquisition device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63334807A JP2629926B2 (en) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Range image acquisition device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02176410A true JPH02176410A (en) | 1990-07-09 |
JP2629926B2 JP2629926B2 (en) | 1997-07-16 |
Family
ID=18281447
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63334807A Expired - Lifetime JP2629926B2 (en) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Range image acquisition device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2629926B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264862A (en) * | 2008-04-24 | 2009-11-12 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Three-dimensional shape measuring method and device |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63334807A patent/JP2629926B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009264862A (en) * | 2008-04-24 | 2009-11-12 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Three-dimensional shape measuring method and device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2629926B2 (en) | 1997-07-16 |
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