JPH0213859A - Abnormality detection circuit of three-phase power supply voltage - Google Patents
Abnormality detection circuit of three-phase power supply voltageInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は三相fin電圧の異常検出回路に係り、特に三
相電源電圧の電圧低下及び位相変動等の異常を検出する
三相電源電圧の異常検出回路に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a three-phase fin voltage abnormality detection circuit, and particularly relates to a three-phase fin voltage abnormality detection circuit for detecting abnormalities such as voltage drops and phase fluctuations in the three-phase power supply voltage. This invention relates to an abnormality detection circuit.
三相電源電圧はモータなどの誘導負荷の電源電圧などに
多く利用されており、電圧低下あるいは相間ミスがある
とモータの所定の性能を確保できなくなる。このため、
三相電源電圧の低下や位相変動などが発生したときは、
これを異常として検出し、警報を出力することが重要と
なる。Three-phase power supply voltage is often used as the power supply voltage for inductive loads such as motors, and if there is a voltage drop or a phase error, it becomes impossible to ensure the specified performance of the motor. For this reason,
When a drop in three-phase power supply voltage or phase fluctuation occurs,
It is important to detect this as an abnormality and output a warning.
従来の三相電源電圧の異常検出回路は三相の電[電圧φ
A、φB及びφCを夫々半波整流した後加算して得た直
流電圧を第1の基準電圧と第1のコンパレータでレベル
比較し、この第1のコンパレータから正常時と異常時と
で異なる論理値の検出信号を取り出していた。この従来
回路によれば、三相のうち一相でも電源電圧が過大にな
ると、第1のコンパレータの出力が正常時と異なる。Conventional three-phase power supply voltage abnormality detection circuit detects three-phase power [voltage φ
The DC voltages obtained by half-wave rectifying A, φB, and φC and then adding them are compared in level with a first reference voltage and a first comparator, and the first comparator outputs different logics between normal and abnormal times. The value detection signal was extracted. According to this conventional circuit, when the power supply voltage of even one of the three phases becomes excessive, the output of the first comparator differs from the normal state.
また、三相の電源電圧φA〜φCのうちの一相φBを例
えば120′″位相シフトして所定の一相φAと同相と
した後加算し、その整流直流電圧を第2のコンパレータ
で第2の基準電圧とレベル比較して正常時と異常時とで
異なる論理値の検出信号を取り出していた。この従来回
路によれば、正常時は整流直1電圧が第2の基準電圧よ
り高電圧とな°す、位相変動が相間電圧に生じた場合は
整流直流電圧が第2の基準電圧より低電圧となるから第
2のコンパレータの出力信号レベルより位相変動の異常
を検出することができる。Further, one phase φB of the three-phase power supply voltages φA to φC is phase-shifted, for example, by 120'' to make it in phase with a predetermined one phase φA, and then added, and the rectified DC voltage is transferred to a second voltage by a second comparator. A detection signal with a different logical value is extracted depending on whether it is normal or abnormal by comparing the level with the reference voltage of In other words, when a phase fluctuation occurs in the interphase voltage, the rectified DC voltage becomes lower than the second reference voltage, so that an abnormality in the phase fluctuation can be detected from the output signal level of the second comparator.
更に、従来の異常検出回路は、三相の電源電圧φA〜φ
Cをまず加算し、次にその加算信号を整流してから第3
のコンパレータで第3の基準電圧とレベル比較する構成
のものもあった。この従来の異常検出回路によれば、三
相の電源電圧が正常のときは加算信号がゼロボルト付近
の電圧となるのに対し、各相の電gm圧の振幅が不均衡
となったときは上記加算信号の振幅が大となり、その整
流電圧が上昇するため、第3のコンパレータの出力信号
レベルにより、三相の電源電圧の振幅の不均衡の異常を
検出することができる。Furthermore, the conventional abnormality detection circuit has a three-phase power supply voltage φA to φ
C is first added, then the added signal is rectified, and then the third
Some had a configuration in which the level was compared with a third reference voltage using a comparator. According to this conventional abnormality detection circuit, when the three-phase power supply voltage is normal, the addition signal becomes a voltage near zero volts, but when the amplitude of the voltage gm voltage of each phase becomes unbalanced, Since the amplitude of the addition signal increases and its rectified voltage increases, it is possible to detect an abnormality in the imbalance of the amplitudes of the three-phase power supply voltages based on the output signal level of the third comparator.
〔発明が解決しようとするl1ffl)しかるに、上記
の従来の異常検出回路では、三相の電源電圧φA〜φC
の振幅だけが夫々同時に同じ程度低下した場合は、いず
れも異常を検出することができず、また相間の接続がφ
AとφCと逆相であったような場合も異常検出できなか
った。[l1ffl to be solved by the invention] However, in the above conventional abnormality detection circuit, the three-phase power supply voltage φA to φC
If only the amplitude of
Even when A and φC were in opposite phase, no abnormality could be detected.
すなわち、従来の異常検出回路は三相電源電圧のうち一
相又は二相の5m1t圧低下か、又は位相変動が逆転し
ない程度の位相変動など、限定した異常モードでしか異
常検出できなかった。That is, the conventional abnormality detection circuit could only detect an abnormality in limited abnormality modes, such as a 5mlt pressure drop in one or two phases of the three-phase power supply voltage, or a phase fluctuation that does not reverse the phase fluctuation.
このため、すべての異常モードに対して異常検出を行な
うためには、従来は複数の異常検出回路を用いなければ
ならなかった。Therefore, in order to perform abnormality detection for all abnormal modes, it has conventionally been necessary to use a plurality of abnormality detection circuits.
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので電圧変動や位
相変動のいずれの場合にも正確に異常検出できる三相′
Il源電圧の異常検出回路を提供することを目的とする
。The present invention has been made in view of the above points, and is a three-phase system that can accurately detect abnormalities in both voltage fluctuations and phase fluctuations.
An object of the present invention is to provide an abnormality detection circuit for Il source voltage.
(課題を解決するための手段)
上記目的達成のため、本発明は第1図に示す原理ブロッ
ク図の構成としたものである。同図中、5はレベル比較
回路で、三相Ti電源電圧各相毎に別々に単一の基準電
圧とレベル比較して各相に対応した第1乃至第3のパル
スを並列出力する。(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention has a configuration as shown in the principle block diagram shown in FIG. In the figure, reference numeral 5 denotes a level comparison circuit which compares the level of each phase of the three-phase Ti power supply voltage with a single reference voltage separately and outputs first to third pulses corresponding to each phase in parallel.
6はタイミングパルス発生回路で、第1のパルスに基づ
いて第1及び第2のタイミングパルスとパルス消滅信号
とを夫々発生する。この第1及び第2のタイミングパル
スはその前縁が正常時に前記第2及び第3のパルスのパ
ルス幅期間に夫々位置するようなタイミングで発生され
る。A timing pulse generation circuit 6 generates first and second timing pulses and a pulse extinction signal, respectively, based on the first pulse. The first and second timing pulses are generated at such timing that their leading edges are located in the pulse width periods of the second and third pulses, respectively, under normal conditions.
7はラッチ回路で、上記第1及び第2のタイミングパル
スの前縁で前記第2及び第3のパルスをラッチする。A latch circuit 7 latches the second and third pulses at the leading edges of the first and second timing pulses.
8は論理回路で、ラッチ回路7より出された2出力信号
と前記パルス消滅信号とを論理演算して正常時と異常時
とで論理値、の異なる異常検出信号を出力する。A logic circuit 8 performs a logical operation on the two output signals output from the latch circuit 7 and the pulse extinction signal, and outputs an abnormality detection signal having a different logical value depending on whether it is normal or abnormal.
正常時には前記第1及び第2のタイミングパルスの各前
縁はレベル比較回路5からの第2及び第3のパルスのパ
ルス幅期間内に位置するため、ラッチ回路7からは第2
のパルスと第3のパルスの各パルス幅期間の論理レベル
が夫々取り出される。Under normal conditions, each leading edge of the first and second timing pulses is located within the pulse width period of the second and third pulses from the level comparison circuit 5, so the latch circuit 7 outputs the second timing pulse.
The logic level of each pulse width period of the second pulse and the third pulse is respectively taken out.
またパルス消滅信号は出力されない。従って、ラッチ回
路7からの2出力信号が論理回路8で論理演算され、正
常時には常に第1の論理値の異常検出信号が取り出され
る。Further, no pulse extinction signal is output. Therefore, the two output signals from the latch circuit 7 are logically operated by the logic circuit 8, and the abnormality detection signal of the first logical value is always taken out during normal operation.
これに対して、三相M源電圧のうち少なくとも一相の電
源電圧がレベル比較回rH5内の単一の基準電圧以下に
低下すると、前記第1乃至第3のパルスのうち少なくと
もどれか一つが発生しなくなる。このため、前記第1及
び第2のタイミングパルスが正常に発生されなくなるか
、又は前記第2及び第3のパルスのうち少なくともいず
れか一方が存在しなくなるか、又はパルス消滅信号が発
生される。従って、ラッチ回路7からの2出力信号の論
理値は正常時と異なり、論理回路8からは正常時と異な
る第2の論理値の信号が異常検出信号として取り出され
る。On the other hand, when the power supply voltage of at least one phase of the three-phase M power supply voltage drops below the single reference voltage in the level comparison circuit rH5, at least one of the first to third pulses is It will no longer occur. Therefore, the first and second timing pulses are not normally generated, at least one of the second and third pulses ceases to exist, or a pulse extinction signal is generated. Therefore, the logic values of the two output signals from the latch circuit 7 are different from those in the normal state, and a signal with a second logic value different from the normal state is taken out from the logic circuit 8 as an abnormality detection signal.
また、三相電源電圧の位相変動が生じた場合は前記第1
及び第2のタイミングパルスの前縁が前記第2及び第3
のパルス幅期間内に位置しなくなる。これは相聞接続が
逆相となるようにした位相変動の場合であっても同様で
ある。従って、この位相変動発生時にもラッチ回路7の
出力信号の少なくとも一方は正常時と異なる論理値とな
るので、論理回路8からは正常時と異なる第2の論理値
の異常検出信号が取り出される。In addition, if a phase fluctuation occurs in the three-phase power supply voltage, the first
and the leading edge of the second timing pulse is the second and third timing pulse.
is no longer located within the pulse width period of . This is the same even in the case of phase fluctuation in which the phase-to-phase connections are in opposite phases. Therefore, even when this phase fluctuation occurs, at least one of the output signals of the latch circuit 7 has a logic value different from the normal state, so that an abnormality detection signal having a second logic value different from the normal state is taken out from the logic circuit 8.
第2図は本発明の一実施例の回路系統図を示す。 FIG. 2 shows a circuit diagram of an embodiment of the present invention.
同図中、第1図と同一構成部分には同一符号を付し、そ
の説明を省略する。第2図において、10〜13は夫々
端子で、端子10.11及び12はΔ結線されている、
例えばAo 115V、 400Hzの三相NWA’
R圧φA、φB、φCが入力され、端子13はニュート
ラルとされている。端子13は接地され、また端子10
.11.12との間に各々入力負荷抵抗R+ 、R2及
びR3が接続されている。In the figure, the same components as in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted. In FIG. 2, 10 to 13 are terminals, respectively, and terminals 10, 11 and 12 are Δ-connected.
For example, Ao 115V, 400Hz three-phase NWA'
R pressures φA, φB, and φC are input, and the terminal 13 is set to neutral. Terminal 13 is grounded and terminal 10
.. Input load resistors R+, R2, and R3 are connected between 11 and 11 and 12, respectively.
またR4〜RI2は夫々分圧抵抗で、抵抗R4゜Rs及
びRmの接続点には抵抗分圧により所定のレベルとされ
た第1相の電源電圧(第3図にaで示す)が取り出され
、また抵抗Re 、Ry及びRs+の接続点、並びに抵
抗Rs、Rs及びRI2の接続点には抵抗分圧により所
定のレベルとされた第2相、第3祖の電源電圧(第3図
にす、cで示す)が夫々取り出される。Further, R4 to RI2 are voltage dividing resistors, respectively, and the first phase power supply voltage (indicated by a in Fig. 3), which is set to a predetermined level by resistor voltage division, is taken out at the connection point of resistors R4゜Rs and Rm. , and the connection point of the resistors Re, Ry, and Rs+, and the connection point of the resistors Rs, Rs, and RI2 are connected to the second and third phase power supply voltages (as shown in Figure 3), which are set to predetermined levels by resistor voltage division. , c) are taken out, respectively.
レベル比較回路5はコンパレータ14.15及び16と
、単一の基準電圧l117とより構成されており、コン
パレータ14.15及び16により三相各相の電a電圧
と基準電圧1117よりの基準電圧Evとを夫々レベル
比較する。The level comparison circuit 5 is composed of comparators 14, 15 and 16, and a single reference voltage l117. Compare the levels of each.
また、タイミングパルス発生回路6は3段縦続接続され
た単安定マルチバイブレータ(以下、rM、M、Jと記
す)18.19及び23とM。The timing pulse generation circuit 6 includes monostable multivibrators (hereinafter referred to as rM, M, and J) 18, 19, 23, and M connected in cascade in three stages.
・M、18の出力信号を位相反転するインバータ20と
よりなる。M、M、18は入力パルスの前縁(ここでは
立ち上がり)でトリガされて所定の幅TW +のパルス
を出力する。M、M、19は入力パルスの後縁(ここで
は立ち下がり)でトリガされて所定の幅TW2のパルス
を出力する1M。- Consists of an inverter 20 that inverts the phase of the output signal of M, 18. M, M, 18 are triggered by the leading edge (rising edge in this case) of the input pulse and output a pulse of a predetermined width TW +. M, M, 19 are 1M that are triggered by the trailing edge (falling edge in this case) of the input pulse and output a pulse with a predetermined width TW2.
M、23は時定数が入力電源電圧の一周期より長い所定
の時定数に設定されており、入力パルスが所定の時定数
以上の間隔で入力されたときのみ“し”レベルの信号を
出力するリトリガラプル型である。M, 23 has a time constant set to a predetermined time constant longer than one cycle of the input power supply voltage, and outputs a signal at the "yes" level only when input pulses are input at intervals longer than the predetermined time constant. It is a retrigger pull type.
ラッチ回路7はDタイプフリップ70ツブ21及び22
からなり、また論理回路8は3人力AND回路24より
構成されている。The latch circuit 7 is a D type flip 70 tube 21 and 22
The logic circuit 8 is composed of a three-person AND circuit 24.
次に本実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.
■ 正常時
コンパレータ14.15及び16の各非反転入力端子に
は、第3図にa、b及びCで示す如く、互いに同一振幅
で、位相が120°ずつ異なる三相各相の電源電圧が入
力され、ここで基準電圧Evとレベル比較される。この
基準電圧Evは第3図に破線で示す如く正常時の電源電
圧a、b及びCの正のピーク値よ・つやや小なる値に設
定されている。従って、コンパレータ14.15及び1
6がらは、第3図にd、e及びfで示す如く、入力電源
電圧の位相に対応した位相及び周波数で、幅が比較的短
い第1乃至第3のパルスが並列に取り出される。■ During normal operation, each of the non-inverting input terminals of the comparators 14, 15 and 16 receives power supply voltages for each of the three phases, which have the same amplitude but differ in phase by 120°, as shown by a, b, and C in Figure 3. The voltage is input and the level is compared with the reference voltage Ev. This reference voltage Ev is set to a value slightly smaller than the positive peak values of the power supply voltages a, b, and C during normal operation, as shown by the broken line in FIG. Therefore, comparators 14, 15 and 1
As shown by d, e, and f in FIG. 3, first to third pulses having relatively short widths are taken out in parallel at a phase and frequency corresponding to the phase of the input power supply voltage.
第1のパルスdはM、M、18に印加され、これをその
立ち上がりでトリガして第3図にQで示す如く、パルス
幅TW Iの正極性パルスを発生させる。この正極性パ
ルス9の立ち下がりが第2のパルスeのパルス幅の略中
火に位置するように、上記パルス幅T W 1が設定さ
れ、ている。The first pulse d is applied to M, M, 18 and is triggered at its rising edge to generate a positive pulse of pulse width TWI, as shown by Q in FIG. The pulse width T W 1 is set so that the falling edge of the positive pulse 9 is located at approximately the middle of the pulse width of the second pulse e.
このパルスqはM、M、19に印加され、これをその立
ち下がりでトリガしてこれより第3図にhで示す如く、
パルス幅TW2の負極性パルスを発生出力させる。この
負極性パルスhの立ち上がりが第3のパルスfのパルス
幅の略中火に位置するように、上記パルス幅T W z
の値が設定されて・いる、 上記のパルスQはインバー
タ20により位相反転されて第3図にiで示す如き波形
の第1のタイミングパルスとしてDタイプフリップ70
ツブ 21のクロック入力端子に印加される。また、こ
れと同時に前記負極性パルスhが第2のタイミン
グパルスとしてDタイプフリップ70ツブ22のクロッ
ク入力端子に印加される。This pulse q is applied to M, M, 19, and is triggered at the falling edge of the pulse q, as shown by h in FIG.
A negative polarity pulse with a pulse width TW2 is generated and output. The pulse width T W z is adjusted so that the rise of this negative pulse h is located at approximately the middle of the pulse width of the third pulse f.
The above pulse Q, in which the value of
It is applied to the clock input terminal of knob 21. At the same time, the negative pulse h is applied as a second timing pulse to the clock input terminal of the D-type flip 70 tube 22.
Dタイプフリップ70ツブ21.22はその各データ入
力端子に第2のパルス幅期間3のパルスfが印加されて
おり、上記パルスi、hの立ち上がりエツジでパルスe
、fを各々ラッチして得た信号をそのQ出力端子より出
力する。従って、Oタイプフリップ70ツブ21のQ出
力端子からは第3図にjで示す如く第2のパルスeのパ
ルス幅期間の“H”レベルをラッチして得た“H”レベ
ルの信号が取り出され、またDタイプフリップフロツブ
22のQ出力端子からは第3図にkで示す如く、第3の
パルスfのパルス幅期間の“H“レベルをラッチして得
たH”レベルの信号が取り出される。The D-type flip 70 tubes 21 and 22 have a pulse f of a second pulse width period 3 applied to each data input terminal, and a pulse e is applied at the rising edge of the pulses i and h.
, f are latched and the obtained signals are outputted from their Q output terminals. Therefore, the "H" level signal obtained by latching the "H" level during the pulse width period of the second pulse e is taken out from the Q output terminal of the O type flip 70 tube 21, as shown by j in FIG. Also, from the Q output terminal of the D-type flip-flop 22, as shown by k in FIG. taken out.
一方、M、M、23は電源電圧の一周期より長い所定の
時定数に設定されているリトリガラブル型単安定マルチ
バイブレータであり、ff1J![圧の周期に等しい周
期で入力される前記パルスhの立ち上がりでトリガされ
ることにより、常時“H#レベルの信号を出力している
。このM、M、23の出力信号は3人力AND回路24
の一入力端子に印加される。On the other hand, M, M, 23 are retriggerable monostable multivibrators whose time constant is set to a predetermined time constant longer than one cycle of the power supply voltage, and ff1J! [By being triggered by the rising edge of the pulse h which is input at a period equal to the period of the pressure, a signal of "H# level" is always output. 24
is applied to one input terminal of
前記信号j及びkは夫々上記M、M、23の出力信号と
共に3人力AND回路24に供給され、ここで論理積を
とられて第3図に2で示す如き信号とされ、出力端子2
5へ出力される。このようにして、正常時にはAND回
路24より出力端子25へは電源電圧の一周期より若干
短い期間経過後は“H”レベルに保持された信号乏が取
り出される。The signals j and k are supplied to a three-man power AND circuit 24 together with the output signals of M, M, and 23, respectively, where they are ANDed to produce a signal as shown at 2 in FIG.
5. In this way, under normal conditions, a signal that is held at the "H" level is output from the AND circuit 24 to the output terminal 25 after a period slightly shorter than one cycle of the power supply voltage.
■ 異常時
例えば電源電圧すだけが低下し、その正のピーク値が基
準電圧Ev未満となると、コンパレータ15からはパル
スeが取り出されず、コンパレータ15の出力信号はロ
ーレベルのままとなる。従って、Dタイプフリップフロ
ップ21の出力信号は常に“し”レベルとなるため、出
力端子25には“L”レベルの異常検出信号が取り出さ
れる。(2) In the event of an abnormality, for example, when the power supply voltage drops and its positive peak value becomes less than the reference voltage Ev, the pulse e is not taken out from the comparator 15, and the output signal of the comparator 15 remains at a low level. Therefore, since the output signal of the D-type flip-flop 21 is always at the "high" level, the abnormality detection signal at the "L" level is taken out at the output terminal 25.
次に、三相の電源電圧a、b及びCが同時に低下し、い
ずれもその正のピーク値が基準電圧Ev未満となった場
合について説明する。このときは、コンパレータ14.
15及び16の各出力信号はすべて“L”レベルとなる
ため、M、M、18及び19はトリガされずパルスi、
hが発生しない。Next, a case will be described in which the three-phase power supply voltages a, b, and C decrease simultaneously and their positive peak values become less than the reference voltage Ev. In this case, comparator 14.
Since the respective output signals of 15 and 16 are all at "L" level, M, M, 18 and 19 are not triggered and the pulses i,
h does not occur.
このため、M、M、23もトリガされなくなるため、そ
のM、M、23の出力信号はその所定の時定数経過後、
それまでの“H”レベルから“L”レベルへ変化し、次
にトリガされるまでその状態を保持する。Therefore, since M, M, and 23 are also no longer triggered, the output signals of M, M, and 23 will be changed after the predetermined time constant.
It changes from the previous "H" level to "L" level and maintains that state until the next trigger.
従って、AND回路24の出力信号は上記M。Therefore, the output signal of the AND circuit 24 is M.
M、23からの“L”レベルのパルス消滅信号により、
Dタイプフリップ70ツブ21及び22のQ出力信号の
論理値に無関係に“L″レベルなり、出力端子25には
“L″レベル異常検出信号を出力する。Due to the “L” level pulse extinction signal from M, 23,
The D type flip 70 attains the "L" level regardless of the logic value of the Q output signals of the knobs 21 and 22, and outputs the "L" level abnormality detection signal to the output terminal 25.
なお、−相のflf&電圧aだけが低下した場合も、上
記と同様にM、M、23の出力信号が“L″レベルなる
ので、出力端子25へ“Lルベルの異常検出信号を出力
することができる。Note that even if only the -phase flf & voltage a decreases, the output signals of M, M, and 23 will be at the "L" level in the same way as above, so the abnormality detection signal of "L level" will be output to the output terminal 25. I can do it.
次に、−相の電m電圧、例えば電源電圧aが過大な値と
なった場合について説明する。このときは前記パルスd
の立ち上がりが第3図に示したものよりかなり前にくる
ため、パルスqの立ち下がりがパルスeのパルス幅期間
にはずれて位置し、かつ、パルスhの立ち上がりがパル
スfのパルス幅期間にはずれた位置にくる。Next, a case will be described in which the -phase electric m voltage, for example, the power supply voltage a, becomes an excessive value. At this time, the pulse d
Since the rising edge of pulse q comes much earlier than that shown in Fig. 3, the falling edge of pulse q is positioned outside the pulse width period of pulse e, and the rising edge of pulse h is positioned outside the pulse width period of pulse f. come to a certain position.
従って、このときDタイプフリップフロップ21及び2
2の各Q出力信号は“L″レベルなるため、出力端子2
5に“し”レベルの異常検出信号が出力される。Therefore, at this time, the D type flip-flops 21 and 2
Since each Q output signal of 2 is at "L" level, output terminal 2
5, an abnormality detection signal of "HI" level is output.
以上は電圧変動の異常の場合の説明であるが、次に位相
変動の異常時について説明する。例えば、電源電圧すが
?!源電圧Gの位置まで120°位相変動した場合、パ
ルスd、fは正常時と同じ位相で発生するが、パルスe
がパルスでと同相で発生する。このため、パルスiの立
ち上がり時点で番よコンパレータ15の出力信号は“L
”レベルなので、Dタイプフリップ70ツブ21の出力
信号は“L”レベルとなり、出力端子25には“L”レ
ベルの異常検出信号が取り出される。The above is a description of the case where the voltage fluctuation is abnormal. Next, the case where the phase fluctuation is abnormal will be described. For example, what about the power supply voltage? ! When the phase shifts by 120° to the position of source voltage G, pulses d and f are generated with the same phase as in normal times, but pulse e
occurs in phase with the pulse. Therefore, at the rising edge of pulse i, the output signal of the comparator 15 is “L”.
” level, the output signal of the D type flip 70 knob 21 becomes the “L” level, and an “L” level abnormality detection signal is taken out from the output terminal 25.
また、位相が逆転した場合も上記と同様にコンパレータ
14〜16の出力パルスの位相が第3図に示したものと
異なってしまい、′L”レベルの異常検出信号が得られ
る。Further, even if the phases are reversed, the phases of the output pulses of the comparators 14 to 16 will be different from those shown in FIG. 3 in the same way as described above, and an abnormality detection signal of 'L' level will be obtained.
なお、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、例えばM、M、の代りにシステムクロックを計数する
カウンタを用いるようにしてもよく、またM、M、23
の入力はM、M、18又Cよコンパレータ14より得る
ようにしてもよく、その他種々の変形例が考えられるも
のである。Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and for example, a counter that counts the system clock may be used in place of M, M, and M, M, 23.
The inputs M, M, 18 or C may be obtained from the comparator 14, and various other modifications are possible.
上述の如く、本発明によれば、三相電源電圧が各相略同
時に低下する場合を含む電源電圧変動や位相逆転も含む
位相変動等の異常に対し、所定論理値の異常検出信号を
正確に発生出力することができ、また従来にくらべて回
路構成1部品点数を簡略化でき、よって三相モータの相
順による回転方向や電圧低下による回転速度変動が生じ
たときに、モータの回転性能を確保するような用途に適
用して好適である等の特長を有するものである。As described above, according to the present invention, an abnormality detection signal of a predetermined logical value can be accurately detected in response to abnormalities such as power supply voltage fluctuations, including when the three-phase power supply voltage decreases substantially simultaneously, and phase fluctuations, including phase reversal. In addition, the number of parts per circuit configuration can be simplified compared to conventional circuits, and the rotational performance of the motor can be improved when the rotational direction due to the phase order of a three-phase motor or the rotational speed fluctuates due to voltage drop. It has features such as being suitable for applications such as securing.
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の一実施例の回路系統図、第3図は第2
図の動作説明用タイムチャートである。
図において、
5はレベル比較回路、
6はタイミングパルス発生回路、
7はラッチ回路、
8は論理回路、
・14〜16はコンパレータ、
17は基準電圧源
を示す。
特許出願人 富 士 通 株式会社
第2図の動作悦明用りイム+ヤード
寓3 面
杢任五月の、轡、理70・ツク図
第1図Fig. 1 is a principle block diagram of the present invention, Fig. 2 is a circuit system diagram of an embodiment of the present invention, and Fig. 3 is a block diagram of the principle of the present invention.
It is a time chart for explaining the operation of the figure. In the figure, 5 is a level comparison circuit, 6 is a timing pulse generation circuit, 7 is a latch circuit, 8 is a logic circuit, 14 to 16 are comparators, and 17 is a reference voltage source. Patent Applicant: Fujitsu Ltd. Figure 2: Motion Eclipse Use Im + Yard Fable 3 Men's Job May, 轡, Logic 70/Tsuku Figure 1
Claims (1)
比較して各相に対応した第1乃至第3のパルスを並列に
出力するレベル比較回路(5)と、該レベル比較回路(
5)より取り出された該第1乃至第3のパルスのうち、
該第1のパルスに基づいて、正常時に該第2のパルスの
パルス幅期間に前縁が位置する第1のタイミングパルス
と、該第3のパルスのパルス幅期間に前縁が位置する第
2のタイミングパルスと、該第1のパルスが一定期間以
上入力されなくなったときにのみ所定論理値となるパル
ス消滅信号とを夫々発生するタイミングパルス発生回路
(6)と、 該タイミングパルス発生回路(6)からの該第1のタイ
ミングパルスの前縁で前記第2のパルスをラッチすると
共に、該第2のタイミングパルスの前縁で前記第3のパ
ルスをラッチするラッチ回路(7)と、 該ラッチ回路(7)の2出力信号と前記パルス消滅信号
とを論理演算して正常時と異常時とで論理値の異なる異
常検出信号を出力する論理回路(8)とよりなることを
特徴とする三相電源電圧の異常検出回路。[Claims] A level comparison circuit (5) that compares the level of each phase of a three-phase power supply voltage with a single reference voltage separately and outputs first to third pulses corresponding to each phase in parallel. and the level comparison circuit (
5) Of the first to third pulses extracted from
Based on the first pulse, a first timing pulse whose leading edge is located in the pulse width period of the second pulse under normal conditions, and a second timing pulse whose leading edge is located in the pulse width period of the third pulse. a timing pulse generation circuit (6) that generates a timing pulse and a pulse extinction signal that becomes a predetermined logical value only when the first pulse is not input for a certain period of time; ) latching the second pulse at the leading edge of the first timing pulse from ) and latching the third pulse at the leading edge of the second timing pulse; A logic circuit (8) that performs a logical operation on the two output signals of the circuit (7) and the pulse extinction signal and outputs an abnormality detection signal having a different logical value depending on whether it is normal or abnormal. Phase power supply voltage abnormality detection circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16442488A JPH0213859A (en) | 1988-07-01 | 1988-07-01 | Abnormality detection circuit of three-phase power supply voltage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16442488A JPH0213859A (en) | 1988-07-01 | 1988-07-01 | Abnormality detection circuit of three-phase power supply voltage |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0213859A true JPH0213859A (en) | 1990-01-18 |
Family
ID=15792889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16442488A Pending JPH0213859A (en) | 1988-07-01 | 1988-07-01 | Abnormality detection circuit of three-phase power supply voltage |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0213859A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8193827B2 (en) | 2001-05-15 | 2012-06-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Measuring method, inspection method, inspection device, semiconductor device, method of manufacturing a semiconductor device, and method of manufacturing an element substrate |
-
1988
- 1988-07-01 JP JP16442488A patent/JPH0213859A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8193827B2 (en) | 2001-05-15 | 2012-06-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Measuring method, inspection method, inspection device, semiconductor device, method of manufacturing a semiconductor device, and method of manufacturing an element substrate |
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