JPH02122718A - Semiconductor circuit device - Google Patents

Semiconductor circuit device

Info

Publication number
JPH02122718A
JPH02122718A JP63276810A JP27681088A JPH02122718A JP H02122718 A JPH02122718 A JP H02122718A JP 63276810 A JP63276810 A JP 63276810A JP 27681088 A JP27681088 A JP 27681088A JP H02122718 A JPH02122718 A JP H02122718A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mos transistor
channel mos
transistor
channel
latch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63276810A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Yamashita
山下 正之
Tatsunori Koshiyou
古庄 辰記
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP63276810A priority Critical patent/JPH02122718A/en
Publication of JPH02122718A publication Critical patent/JPH02122718A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

PURPOSE:To eliminate unstability in latch information and waste current consumption at the time of applying a power source by setting the threshold voltage of a first P-channel MOS transistor differently from that of a second P-channel MOS transistor. CONSTITUTION:Relation between the threshold voltage Vthp1 of the first P- channel MOS transistor 3 and the threshold voltage Vthp2 of the second P- channel MOS transistor 5 is set as ¦Vthp1¦>¦Vthp2¦. Thereby, when a high potential point 1 is increased and exceeds the voltage ¦Vthp2¦, a TR 5 is energized, and the potential of a node 8 rises to a level equivalent to the high potential point 1. At this time, a TR 3 is de-energized, and a node 7 remains at an L level. Furthermore, when the high potential point 1 is increased and exceeds the voltage ¦Vthp1¦, the node 8 increases following that increment, however, the TR 3 remains at a de-energized state since gate potential rises. Therefore, by changing the threshold voltages of the TRs 3 and 5 comprising a latch circuit, it is possible to eliminate the unstability in the latch information and the waste current consumption at the time of applying the power source.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明に半導体回路装置上で情報を記憶するためによく
使用されるラッチ回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a latch circuit that is often used to store information on a semiconductor circuit device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のラッチ回路としては2つのCMOSインバータ回
路の入出力端全相補接続した半導体回路装置の回路図を
第1図に示す回路があった。第1図において、(1)に
高電位点、(21に低電位点、(3)に第1のPチャネ
ル型MOSトランジスタ、+41i第1のNチャネル型
MOSトランジスタ、+51i第2のPチャネル型MO
Sトランジスタ、[61:第2のNチャネル型MO8)
ランジスタであり、それぞれ図に示すように接続されて
おり、トランジスタ(3)及び(4)で第1のCMOS
インバータ回路を構成し、またトランジスタ(5)及び
(6)で第2のインバータ回路を構成している。(7)
ハ第1のインバータの出力端であり、さらに第2のイン
バータの入力端でもある。(8)ニ第2のインバータの
出力端であり、さらに第1のインバータの入力端でもあ
る。(9)ニラッチ回路へ情報全伝達する念めのトラン
スファゲートとしてのNチャネル型MOS)ランジスタ
である。DO1iトランジスタ(9)のトランスファゲ
ート?ll1(lするゲート入力信号、(ll) [ラ
ッチ入力信号である。
As a conventional latch circuit, there is a circuit shown in FIG. 1, which is a circuit diagram of a semiconductor circuit device in which all input and output terminals of two CMOS inverter circuits are connected in a complementary manner. In FIG. 1, (1) is a high potential point, (21 is a low potential point, (3) is a first P-channel type MOS transistor, +41i is a first N-channel type MOS transistor, +51i is a second P-channel type MOS transistor) M.O.
S transistor, [61: second N-channel type MO8)
The transistors (3) and (4) are connected as shown in the figure, and the first CMOS
This constitutes an inverter circuit, and transistors (5) and (6) constitute a second inverter circuit. (7)
C is the output end of the first inverter, and is also the input end of the second inverter. (8) D is the output terminal of the second inverter, and is also the input terminal of the first inverter. (9) This is an N-channel type MOS (MOS) transistor that serves as a transfer gate for transmitting all information to the Nilatch circuit. Transfer gate of DO1i transistor (9)? ll1(l gate input signal, (ll) [latch input signal.

次に動作について説明する。まず、通常動作中において
ラッチ回路の第2のインバータの出力(8)に高電位(
以下“l H+“と称す)をラッチするにはラッチ入力
信号(1111低電位(以下”L“と称す)とし、トラ
ンスファゲート信号(10)を“°H′1とすると、ト
ランジスタ(9)が導通Lノード(7)がII L l
lとなる。すると第2のインバータの出方t81ic 
”H”となる。これにより第1のインバータの出力f7
1 i ”L”となる。
Next, the operation will be explained. First, during normal operation, the output (8) of the second inverter of the latch circuit is connected to a high potential (
To latch the latch input signal (hereinafter referred to as "l H+"), set the latch input signal (1111 low potential (hereinafter referred to as "L") and transfer gate signal (10) to "°H'1", then the transistor (9) Conduction L node (7) is II L l
It becomes l. Then, the output of the second inverter t81ic
It becomes "H". As a result, the output f7 of the first inverter
1 i becomes “L”.

この後で、トランジスタ(9)ヲ非導通としてもノード
(7)及び(8)にそれぞれIILII 、 IIHI
+全安定的に維持し、すなわち出力f8Hc”’H”が
ラッチされることになる。第2のインバータの出力(8
)にL”iラッチする場合も同様にしてなされることに
なる。次に電源投入時例えば、高電位点(11がQVか
ら5vまで立上がる場合について説明する。
After this, even though the transistor (9) is non-conducting, IILII and IIHI are applied to the nodes (7) and (8), respectively.
+ is maintained completely stable, that is, the output f8Hc"'H" is latched. Output of the second inverter (8
) will be latched in the same way.Next, we will explain the case where, for example, the high potential point (11) rises from QV to 5V when the power is turned on.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来のラッチ回路では第1のPチャネル型トランジスタ
(3)と第2のPチャネル型トランジスタ(6)のしき
い値電圧に同一であり、さらに第1のNチャネル型トラ
ンジスタ(41と第2のNチャネル型トランジスタ(6
)のしきい値電圧も同一であす、このため電源投入時に
トランジスタ+31 、 +4+ 、 +51 、 t
elが同時に導通状態となり電源電流が増加し、なおか
つクラッチの情報が不安定となり、半導体回路装置を動
作する前に初期化する必要があつ念。
In the conventional latch circuit, the first P-channel transistor (3) and the second P-channel transistor (6) have the same threshold voltage, and the first N-channel transistor (41) and the second P-channel transistor (41) have the same threshold voltage. N-channel transistor (6
) are also the same, so when the power is turned on, the transistors +31, +4+, +51, t
el becomes conductive at the same time, the power supply current increases, and the clutch information becomes unstable, making it necessary to initialize the semiconductor circuit device before operating it.

この対策として框、第1のインバータ回路と第2のイン
バータ回路のしきい1直電圧?Pチヤネル型及びNチャ
ネル型トランジスタのトランジスタサイズすなわちチャ
ネル長、チャネル幅?に化させることにより異なるもの
とする方法があるが、この方法でもラッチの情報が安定
化するまでに無駄な電源電流が流れ、ラッチ情報の内容
がプロセス変動の影響を受は易いなどの間u点があった
As a countermeasure for this, the threshold 1 direct voltage of the first inverter circuit and the second inverter circuit? What is the transistor size of P-channel type and N-channel type transistors, that is, channel length and channel width? There is a method of making the data different by converting it to a different value, but even with this method, unnecessary power current flows until the latch information is stabilized, and the content of the latch information is easily affected by process fluctuations. There was a point.

本発明に上記のような間印点を解決するためになされた
もので、電源投入時に無駄な電源電流が流わ、ることな
く、初期のラッチ情報を任意に設定可能なラッチ回路を
得ることを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and to obtain a latch circuit that can arbitrarily set initial latch information without causing unnecessary power supply current to flow when the power is turned on. With the goal.

〔課題を解決するための手段および作用〕本発明に係る
ラッチ回路に第1のPチャネル型MO5トランジスタと
第20Pチヤネル型MO5トランジスタのしきい値電圧
を異なるものとし、電源投入時の前記トランジスタの導
通順序を設定確立することにより目的を達成しようとす
るものである。
[Means and effects for solving the problem] In the latch circuit according to the present invention, the threshold voltages of the first P-channel type MO5 transistor and the 20th P-channel type MO5 transistor are made different, so that the threshold voltage of the transistor when the power is turned on is The objective is to be achieved by setting and establishing the conduction order.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の一実施例を図について説明する。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図に本発明および従来と共通の第1および第2の2
つのインバータ回路の入出力端を相補接物した半導体回
路装置の回路図で、図中符号に前記従来のものと同一に
つき説明は省略する。
FIG. 1 shows the first and second two common to the present invention and the prior art.
This is a circuit diagram of a semiconductor circuit device in which the input and output terminals of two inverter circuits are connected complementary to each other, and since the reference numerals in the figure are the same as those of the conventional device, a description thereof will be omitted.

本発明に第1のPチャネルMO5)ランジスタ(31と
第2のPチャネルMOS)ランジスタ(5)のしきい値
電圧を異なるものとし、両トランジスタ(31、(51
の導通順序を相異させたものである。
In the present invention, the first P-channel MO5) transistor (31 and the second P-channel MOS) transistor (5) have different threshold voltages, and both transistors (31, (51)
The order of conduction is different.

次に動作について説明する。第1図において、電源投入
時例えば、高電位点11)がOvから5■まで立上がる
場合に初期ラッチ情報としてラッチ回路の出力(8)に
IIHII kラッチする場合について説明する。この
場合に、第1のPチャネル型トランジスタ(3)のしき
い値電圧(vthp+)と第2のPチャネル型トランジ
スタ(5)のしきい値電圧(Vthp2)との関係を次
il1式のように設定すればよい。
Next, the operation will be explained. In FIG. 1, a case will be described where IIHIIk is latched to the output (8) of the latch circuit as initial latch information when, for example, the high potential point 11) rises from Ov to 5■ when the power is turned on. In this case, the relationship between the threshold voltage (vthp+) of the first P-channel transistor (3) and the threshold voltage (Vthp2) of the second P-channel transistor (5) is expressed as the following equation il1. You can set it to .

1Vthpl I(V) > 1Vthp21 (v)
       ・il+このように設定することにより
、高電位点il+が増加しIVthp21 (V:)を
超えると第2のPチャネル型トランジスタ(6)が導通
し、ノード(8)の電位を高電位点fi+と等しいレベ
ルまで上昇させる。この時、第1のPチャネル型トラン
ジスタ(3)ハ非導通であり、ノード(7)はIIL”
のままである。さらに、高電位点+11が増加しIVt
hpl I CM) f超えると/ −Ft81にそれ
に追随して上昇していくが、第1のPチャネル型トラン
ジスタ+31 rr、ゲート電位が上昇しているため非
導通のままとなる。また、ノード(8)の上昇により第
1のNチャネル型トランジスタ(4)が導通するのでノ
ード(7)ニ強制的に°L″となる。すると、第2のN
チャネル型トランジスタ!61 +’! 非4 Aのま
まとなりノード(81U ”H”を維持する。このよう
にして電源投入時の“H°゛ラッチが安定になされるも
のであり、さらにトランジスタi3) 、 (41ある
いぼトランジスタ+51 、 +61が同時に導通する
ことがなく無駄な電源電流の発生もない。この動作を示
す波形図を第2図に示す。図において、0卸」電位点(
11の信号波形、咥にラッチ回路出力ノード(8)の出
力波形、Q41に電源電流波形を示す。また、電源投入
時に初期ラッチ情報としてラッチ回路の出す(8)に”
L”iラッチする場合ぼ、第1のPチャネル型トランジ
スタ(3)のしきい値電圧(Vthpl )と第2のP
チャネル型トランジスタ(5)のしきい値電圧(Vt 
hp 2 )との関係全次(21式のように設定すわば
よい IVthpH(:V’)<  1Vthp21 (V)
         =121このように設定することに
より°“H”ラッチ時と同様にして゛°L°°ラッチが
可能となる。′−また、通常動作時についてに前記従来
のものと全く同様になされるものである。
1Vthpl I (V) > 1Vthp21 (v)
・il+ By setting il+ in this way, when the high potential point il+ increases and exceeds IVthp21 (V:), the second P-channel transistor (6) becomes conductive, and the potential of the node (8) becomes the high potential point fi+. raise it to a level equal to At this time, the first P-channel transistor (3) is non-conductive, and the node (7) is IIL"
It remains as it is. Furthermore, the high potential point +11 increases and IVt
hpl I CM) When f exceeds / -Ft81 follows and increases, but the first P-channel transistor +31 rr remains non-conductive because its gate potential has increased. Further, as the first N-channel transistor (4) becomes conductive due to the rise in the node (8), the node (7) is forcibly turned to °L''.
Channel type transistor! 61 +'! The non-4 A remains and the node (81U maintains "H". In this way, the "H°" latch is made stable when the power is turned on, and furthermore, the transistor i3), (41 or warp transistor +51, +61 are not conductive at the same time, and no wasteful power supply current is generated.A waveform diagram showing this operation is shown in Figure 2.
11, the output waveform of the latch circuit output node (8) is shown in the mouth, and the power supply current waveform is shown in Q41. In addition, the latch circuit outputs (8) as initial latch information when the power is turned on.
When latching L"i, the threshold voltage (Vthpl) of the first P-channel transistor (3) and the second P-channel transistor (3)
Threshold voltage (Vt) of channel type transistor (5)
hp 2 ) and the total order (just set it as in equation 21) IVthpH (:V') < 1Vthp21 (V)
=121 By setting in this way, it becomes possible to latch "L" in the same way as when latching "H". '-Also, during normal operation, this is done in exactly the same way as the conventional one.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば、ラッチ回路を構成するP
チャネル型MOS)ランジスタのしAい直電圧kW化さ
せることにより、電源投入時のラッチ情報の不安定性や
無駄な電流消費をなくし、さらに電源投入時のラッチ情
報まで任意に設定可能となり、その効果に大きい。
As described above, according to the present invention, P
By increasing the direct voltage of the transistor (channel type MOS) to kW, instability of the latch information and wasteful current consumption at power-on are eliminated, and even the latch information at power-on can be arbitrarily set. big.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図に従来及び本発明共通のラッチ回路の回路図、第
2図に本発明のラッチ回路の動作−を示す波形図である
。 図において、(1)に高電位点、(2(に低電位点、(
3)。 (5)にPチャネル型MOS)ランジスタ、+4+ 、
 telはNチャネル型MOSトランジスタ、+9)i
Nチャネル型MOSトランジスタを示す。
FIG. 1 is a circuit diagram of a latch circuit common to the conventional latch circuit and the present invention, and FIG. 2 is a waveform diagram showing the operation of the latch circuit of the present invention. In the figure, (1) is a high potential point, (2( is a low potential point, (
3). (5) P channel type MOS) transistor, +4+,
tel is an N-channel MOS transistor, +9)i
An N-channel MOS transistor is shown.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 同一基体上にPチャネル型MOSトランジスタとNチャ
ネル型MOSトランジスタを有するCMOS回路で、第
1のPチャネル型MOSトランジスタと第1のNチャネ
ル型MOSトランジスタのゲート及びドレイン端をそれ
ぞれ共通接続した第1のインバータ回路と、第2のPチ
ャネル型MOSトランジスタと第2のNチャネル型MO
Sトランジスタのゲート及びドレイン端をそれぞれ共通
接続した第2のインバータ回路からなり、第1のインバ
ータ回路のゲート入力を第2のインバータ回路のドレイ
ン出力とし、さらに第1のインバータ回路のドレイン出
力を第2のインバータ回路のゲート入力とした半導体回
路装置において、前記第1のPチャネル型MOSトラン
ジスタと第2のPチャネル型MOSトランジスタのしき
い値電圧を異なるものとしたことを特徴とする半導体回
路装置。
A CMOS circuit having a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor on the same substrate, the first P-channel MOS transistor and the first N-channel MOS transistor having their respective gate and drain ends connected in common. an inverter circuit, a second P-channel type MOS transistor, and a second N-channel type MO
It consists of a second inverter circuit in which the gate and drain ends of the S transistors are respectively connected in common, the gate input of the first inverter circuit is used as the drain output of the second inverter circuit, and the drain output of the first inverter circuit is used as the drain output of the second inverter circuit. 2. A semiconductor circuit device as a gate input of an inverter circuit, characterized in that the first P-channel MOS transistor and the second P-channel MOS transistor have different threshold voltages. .
JP63276810A 1988-10-31 1988-10-31 Semiconductor circuit device Pending JPH02122718A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63276810A JPH02122718A (en) 1988-10-31 1988-10-31 Semiconductor circuit device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63276810A JPH02122718A (en) 1988-10-31 1988-10-31 Semiconductor circuit device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02122718A true JPH02122718A (en) 1990-05-10

Family

ID=17574702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63276810A Pending JPH02122718A (en) 1988-10-31 1988-10-31 Semiconductor circuit device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02122718A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000285670A (en) * 1999-03-26 2000-10-13 Nec Corp Semiconductor memory
JP2006305649A (en) * 2005-04-26 2006-11-09 Kyocera Corp Throw-away tip, tip holder, and rotary cutting tool provided with the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000285670A (en) * 1999-03-26 2000-10-13 Nec Corp Semiconductor memory
JP2006305649A (en) * 2005-04-26 2006-11-09 Kyocera Corp Throw-away tip, tip holder, and rotary cutting tool provided with the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1589414A (en) Fet driver circuits
US4176289A (en) Driving circuit for integrated circuit semiconductor memory
JPS61136316A (en) Level shifting circuit
JPS6160614B2 (en)
KR890009003A (en) Semiconductor integrated circuit
KR960032900A (en) Input buffer circuit for semiconductor integrated circuit
KR950022092A (en) Comparator circuit
KR100197998B1 (en) Low power loss input buffer of semiconductor device
US4446383A (en) Reference voltage generating circuit
KR0126911B1 (en) Circuit and method for voltage reference generating
US4071784A (en) MOS input buffer with hysteresis
US4894559A (en) Buffer circuit operable with reduced power consumption
JPH05264612A (en) Comparator circuit
US4705965A (en) Interference free D-type flip-flop
US4516225A (en) MOS Depletion load circuit
US5886931A (en) Data determining circuitry and data determining method
JPH02122718A (en) Semiconductor circuit device
EP0651311A2 (en) Self-exciting constant current circuit
US5255222A (en) Output control circuit having continuously variable drive current
US4697108A (en) Complementary input circuit with nonlinear front end and partially coupled latch
KR970003257A (en) Semiconductor memory device
JPH07191065A (en) Integrated comparator circuit
JP2865486B2 (en) Semiconductor storage device
KR0172379B1 (en) Voltage level detector
JP2936474B2 (en) Semiconductor integrated circuit device