JPH0197522A - Electric discharge pattern detecting device for electric discharge machine - Google Patents

Electric discharge pattern detecting device for electric discharge machine

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JPH0197522A
JPH0197522A JP25356587A JP25356587A JPH0197522A JP H0197522 A JPH0197522 A JP H0197522A JP 25356587 A JP25356587 A JP 25356587A JP 25356587 A JP25356587 A JP 25356587A JP H0197522 A JPH0197522 A JP H0197522A
Authority
JP
Japan
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discharge
voltage
time
sampling
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP25356587A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Kawamura
川村 英昭
Haruki Obara
小原 治樹
Toshiaki Otsuki
俊明 大槻
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Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
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Filing date
Publication date
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Priority to JP25356587A priority Critical patent/JPH0197522A/en
Publication of JPH0197522A publication Critical patent/JPH0197522A/en
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  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

PURPOSE:To facilitate selection of an optimum machining condition, by a method wherein an electric discharge pattern is displayed on a CRT display device, and in electric discharge the given number of times during on-time, a ratio between various electric discharge patterns is detected. CONSTITUTION:A gap voltage between a work and an electrode is detected by a detecting means (s), and a digital output signal therefrom is sampled at a given sampling period. An electric discharge waveform data is stored in a discrete manner in a sampling memory means (b), and an electric discharge waveform pattern is displayed on a CRT display device (d) by means of a control means (c). A plurality of sampling data during on-time are stored in the memory means (b), the data are discriminated and classified into electric discharge patterns by means of a discriminating means (e), a generation ratio between the electric discharge patterns is determined by a ratio calculating means (f), and the result is displayed on the CRT display device (d). This constitution enables facilitation of selection and setting of an optimum machining condition.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、型彫放電加工機やワイヤ放電加工機等の放電
加工機における各放電パターンの検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a detection device for each discharge pattern in an electric discharge machine such as a die-sinking electric discharge machine or a wire electric discharge machine.

従来の技術 放電加工機における放電加工状態を知るには、従来、シ
ョート検出手段によってワークと電極のショートを検出
したり、また、ワークと電極間の平均電圧を検出し、該
平均電圧より、無負荷放電かアーク放電か等を検出して
いた。
Conventional technology In order to know the electrical discharge machining status in an electrical discharge machine, conventionally, a short circuit between the workpiece and the electrode is detected using a short detection means, or an average voltage between the workpiece and the electrode is detected, and the average voltage is determined from the average voltage. It was detecting whether it was load discharge or arc discharge.

発明が解決しようとする問題点 ショート検出手段によるワークと電極のショート検出や
、ワークと電極間の平均電圧による無負荷放電やアーク
放電・の検出だけでは、正確な放電状態を検出すること
ができない。特に、ショートでもなく、無負荷放電でも
なく、さらに、アーク放電でもない通常な放電において
も、放電加工効率を向上させるには最適な放電状態、即
ち放電パターンがある。しかし、従来の方法では個々の
放電パターンを検出することができないという欠点があ
った。
Problems to be Solved by the Invention It is not possible to accurately detect the discharge state by simply detecting a short between the workpiece and the electrode using a short-circuit detection means, or detecting no-load discharge or arc discharge using the average voltage between the workpiece and the electrode. . In particular, even in normal discharge that is neither short-circuited nor no-load discharge nor arc discharge, there is an optimum discharge condition, ie, discharge pattern, for improving the discharge machining efficiency. However, conventional methods have the disadvantage that individual discharge patterns cannot be detected.

また、加工条件を決定する際においても、ショート放電
やアーク放電、無負荷放電が生じている割合いが重要な
決定要因となるが、従来はこれら割合いを正確に知るこ
とができず、オペレータの経験によって決定されている
Furthermore, when determining machining conditions, the rate at which short discharge, arc discharge, and no-load discharge occur is an important determining factor. determined by experience.

そこで、第1の発明の目的は各放電時の放電パターンを
表示できる放電パターン検出装置を提供することにある
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the first invention to provide a discharge pattern detection device capable of displaying a discharge pattern during each discharge.

また、第2の発明の目的は、放電パターンを複数のパタ
ーンに分類し、種類毎の放電パターンの発生割合を検出
するようにした放電パターン検出装置を提供することに
ある。
A second object of the invention is to provide a discharge pattern detection device that classifies discharge patterns into a plurality of patterns and detects the rate of occurrence of each type of discharge pattern.

問題点を解決するための手段 、 第1図は従来技術の問題点を解決するために第1の
発明が採用した手段のブロック図で、第1の発明は、ワ
ークと電極間の電圧を検出し、デジタル信°号で出力す
るギャップ電圧検出手段aと、所定サンプリング周期で
上記ギャップ電圧検出手段aからの出力電圧データを記
憶するサンプリングメモリ手段すと、CRT表示装@d
と、上記サンプリングメモリ手段すに記憶されたデータ
を読出し上記CRT表示装置dに上記データをグラフ表
示させる制御手段Cとを設け、放電波形パターンをCR
T表示表示装置衣示させることによって上記問題点を解
決した。
Means for Solving the Problems Figure 1 is a block diagram of the means adopted by the first invention to solve the problems of the prior art. The gap voltage detection means a outputs a digital signal, and the sampling memory means stores the output voltage data from the gap voltage detection means a at a predetermined sampling period.
and control means C for reading out the data stored in the sampling memory means and displaying the data as a graph on the CRT display device d, and controlling the discharge waveform pattern by CR.
The above problem was solved by displaying the T display device.

また、第2図は、第2の発明が従来技術の問題点を解決
するために採用した手段のブロック図で、第2の発明は
、ワークと電極間の電圧を検出し、デジタル信号で出力
するギャップ電圧検出手段aと、所定サンプリング周期
で上記ギャップ電圧検出手段aからの出力電圧データを
ワークと電極間に電圧印加されるオンタイムの複数オン
タイム分記憶するサンプリングメモリ出段すと、上記サ
ンプリングメモリ手段すに記憶された各オンタイムのサ
ンプリングデータと放電パターンを判別するための各種
パラメータ設定値とにより各オンタイムの放電パターン
を判別する判別手段eと、判別放電パターンの総数に対
する各放電パターンの割合を求める比率算出手段fとを
設けることによって上記問題点を解決した。
Moreover, FIG. 2 is a block diagram of the means adopted by the second invention to solve the problems of the prior art.The second invention detects the voltage between the workpiece and the electrode and outputs it as a digital signal. and a sampling memory that stores output voltage data from the gap voltage detection means a for a plurality of on-times during which a voltage is applied between the workpiece and the electrode at a predetermined sampling period. a discriminating means e for discriminating the discharge pattern of each on-time based on the sampling data of each on-time stored in the sampling memory means and various parameter setting values for discriminating the discharge pattern; The above problem was solved by providing a ratio calculation means f for determining the ratio of patterns.

作  用 第1の発明においては、ワークと電極間のキャップ電圧
は上記ギャップ電圧検出手段aで検出され、デジタル信
号に変換されて出力される。このギャップ電圧検出手段
aの出力信号を所定サンプリング周期でサンプリングし
てサンプリングメモリ手段すに記憶させる。その結果、
サンプリングメモリ手段す内にはワークと電極間の放電
波形のデータが離散的に記憶されていることとなる。そ
こで、制御手段Cが上記放電波形のデータを読出し、サ
ンプリング周期に対応して各サンプリング周期のデータ
を上記CRT表示装置dにグラフ表示させれば、CRT
表示装置dには放電波形パターンが表示されることとな
る。
Operation In the first invention, the cap voltage between the workpiece and the electrode is detected by the gap voltage detection means a, converted into a digital signal, and output. The output signal of the gap voltage detection means a is sampled at a predetermined sampling period and stored in the sampling memory means. the result,
Data of the discharge waveform between the workpiece and the electrode is discretely stored in the sampling memory means. Therefore, if the control means C reads the data of the discharge waveform and displays the data of each sampling period in a graph corresponding to the sampling period on the CRT display device d, the CRT
The discharge waveform pattern will be displayed on the display device d.

一方、第2の発明においては、上記サンプリングメモリ
手段す内に複数のオンタイムのサンプリングデータを格
納しておき、各オンタイム毎の放電波形パターンを上記
判別手段eで数種の放電パターンに判別分類し、判別し
た放電パターンの総数に対する各種放電パターンの数に
より、各放電パターンの発生割合を上記比率算出手段f
により求めることにより、ある所定期間における放電状
態を、その放電パターンの種類1割合により判断させ得
るようにした。
On the other hand, in the second invention, sampling data of a plurality of on-times are stored in the sampling memory means, and the discharge waveform pattern for each on-time is discriminated into several types of discharge patterns by the discriminating means e. The ratio calculation means f calculates the occurrence rate of each discharge pattern based on the number of various discharge patterns with respect to the total number of classified and discriminated discharge patterns.
By determining this, the discharge state during a certain predetermined period can be determined based on the proportion of the type of discharge pattern.

実施例 第1図は、本発明の一実施例の要部ブロック図である。Example FIG. 1 is a block diagram of essential parts of an embodiment of the present invention.

図中、1は安定化電源であり、該安定化電源1の出力は
シャット抵抗3、スイッチング素子としてのトランジス
タTri〜Tr3、電流制限抵抗R1〜R3、電極4と
ワーク5への印加電圧の極性を切換える切換スイッチS
Wを介して電極4とワーク5に印加されている。なお、
2は電源電圧平滑用のコンデンサである。一方、電極4
とワーク5間のギャップ電圧■。は、分圧抵抗R4゜R
5を介して検出され、A/D変換器6に入力され、該A
/D変換器6よりデジタル信号のギャップ電圧としてサ
ンプリングメモリ手段7に入力されるようになっている
。サンプリングメモリ手段7は放電パターンの検出制御
を行う中央処理装置(以下、CPUという)8にバス結
合され、さらに、該CPU8はバスアービタコントロー
ラ(以下、BACという)9を介して放電加工機を制御
する数値制御装置(以下、NC・装置という)10のC
PU11にバス結合されている。さらに、BAC9には
、後述するワーキングメモリWM、平均記憶用メモリA
M、データメモリDM等を有するNG装置のCPU11
及びCPU8の両方からアクセスできる共有RAM12
がバス結合され、また、オペレータパネルコントローラ
13を介してCRT表示装置付手動データ入力装置(以
下、CRT/MDIという)14が接続されている。
In the figure, 1 is a stabilized power supply, and the output of the stabilized power supply 1 is a shut resistor 3, transistors Tri to Tr3 as switching elements, current limiting resistors R1 to R3, and the polarity of the voltage applied to the electrode 4 and workpiece 5. Selector switch S
The voltage is applied to the electrode 4 and the workpiece 5 via W. In addition,
2 is a capacitor for power supply voltage smoothing. On the other hand, electrode 4
Gap voltage between and workpiece 5■. is the voltage dividing resistor R4゜R
5 and input to the A/D converter 6.
The digital signal is input from the /D converter 6 to the sampling memory means 7 as a gap voltage of the digital signal. The sampling memory means 7 is bus-coupled to a central processing unit (hereinafter referred to as CPU) 8 that performs discharge pattern detection control, and the CPU 8 further controls the electric discharge machine via a bus arbiter controller (hereinafter referred to as BAC) 9. Numerical control device (hereinafter referred to as NC/device) 10 C
It is bus-coupled to PU11. Furthermore, BAC9 includes a working memory WM, which will be described later, and an average memory memory A.
CPU 11 of the NG device having M, data memory DM, etc.
and a shared RAM 12 that can be accessed from both the CPU 8 and the CPU 8.
A manual data input device with a CRT display (hereinafter referred to as CRT/MDI) 14 is also connected via an operator panel controller 13 .

CPU8には出力回路15.インバータ16を介してC
PU8がサンプリングメモリ手段7のデータを読出すと
き出力されるリード信号がアンド回路17に出力される
ようになっており、該アンド回路17にクロックパルス
を発生するクロック回路18の出力及び上記トランジス
タTri〜Tr3をオン、オフさせるための2つのワン
ショットマルチバイブレータ等で構成されるオン・オフ
回路19のオン出力信号が入力されている。
The CPU 8 has an output circuit 15. C via inverter 16
A read signal output when the PU 8 reads data from the sampling memory means 7 is output to the AND circuit 17, and the output of the clock circuit 18 which generates a clock pulse to the AND circuit 17 and the transistor Tri An on-output signal from an on-off circuit 19 composed of two one-shot multivibrators and the like for turning on and off Tr3 is input.

そして、アンド回路17の出力は、サンプリングメモリ
手段7がA/D変換器6の出力を記憶するためのアドレ
スを指定するカウンタ20及びサンプリングメモリ手段
7の自込み指令入力端子に入力されるようになっている
。また、オン・オフ回路19のオン出力信号は該信号の
立上りでパルスを出力し、サンプリングメモリ手段7に
入力され、オンタイム開始を知らせるワンショットマル
チバイブレータ21が接続されている。
The output of the AND circuit 17 is inputted to a counter 20 that specifies an address for the sampling memory means 7 to store the output of the A/D converter 6, and to a self-instruction input terminal of the sampling memory means 7. It has become. Further, the on-output signal of the on-off circuit 19 outputs a pulse at the rising edge of the signal, and is inputted to the sampling memory means 7, to which is connected a one-shot multivibrator 21 that notifies the start of on-time.

なお、CPU8にバス結合されたROMで構成されるメ
モリ22は、該cpusが後述する放電パターン検出プ
ログラムを格納するプログラムメモリである。
Note that the memory 22 composed of a ROM connected to the CPU 8 via a bus is a program memory in which the CPU stores a discharge pattern detection program to be described later.

次に、ナンブリングメモリ手段7のサンプリングメモリ
SM、共有RAM12内に設けられたワーキングメモリ
WM、平均記憶用メモリAMの構成について説明する。
Next, the configurations of the sampling memory SM of the numbering memory means 7, the working memory WM provided in the shared RAM 12, and the average storage memory AM will be explained.

第4図はサンプリングメモリSMの構成を説明する説明
図で、該メモリSMにはリード用ポインタRPとライト
用ポインタWPを有し、リングバッファ状にデータが記
憶されるデータ部SMDと該データ部の先頭ビットに、
上記ワンショットマルチバイブレータ21からの信号が
入力されたとき、即ち、オン・オフ回路19のオン出力
開始時(オンタイム開始時)の最初のデータを書込むと
きにセットされるオンタイム開始フラグSFが設けられ
ている。そして、オンタイム期間中号ンブリングメモリ
手段7がサンプリング覆る数をnとすると(オンタイム
期間をTO,サンプリング周期を王とするとTo/T=
n) 、該サンプリングメモリSMの容のは、後述する
ワーキングメモリWMに取込むオンパルスの数CE以上
のサンプリングデータを記憶するだけの容fn(C[X
n以上)を有している。
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating the configuration of the sampling memory SM. The memory SM has a read pointer RP and a write pointer WP, and a data section SMD in which data is stored in a ring buffer shape; In the first bit of
On-time start flag SF is set when the signal from the one-shot multivibrator 21 is input, that is, when writing the first data at the start of the on-output of the on-off circuit 19 (at the start of on-time) is provided. Then, if the number of samplings carried out by the numbering memory means 7 during the on-time period is n, (if the on-time period is TO and the sampling period is the king, then To/T=
n), the sampling memory SM has a capacity fn(C[X
n or more).

第5図はワーキングメモリWMの構成の説明図で、該メ
モリWMにはワーキングメ[り用ポインタMPを有し、
放電パターンを検出しようとするオンパルスの数C4の
サンプリングデータを格納するだけの容gi(CE X
、n >を有するデータ部WMDを有している。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the structure of the working memory WM, which has a working memory pointer MP,
The capacity gi (CE
, n >.

第6図は平均記憶用メモリAMの構成の説明図で、該メ
モリAMには平均メモリ用ポインタAPを有し、1オン
パルス(オンタイム中)のサンプリングデータを記憶す
る容量nを有するデータ部AMCを有している。
FIG. 6 is an explanatory diagram of the configuration of the average storage memory AM, which includes an average memory pointer AP and a data section AMC having a capacity n for storing sampling data of one on-pulse (during on-time). have.

次に、各オンタイム中における放電パターンを判別し、
分類するための基準となる各種パラメータを第7図〜第
10図を参照しながら説明する。
Next, determine the discharge pattern during each on-time,
Various parameters serving as standards for classification will be explained with reference to FIGS. 7 to 10.

第7図は正常な放電パターンのギャップ電圧v6の波形
を示し、第8図は無負荷放電時、第9図はアーク放電時
、第10図はショート時の各放電パターンを示しており
、vOは安定化電源1の出力電圧を示し、Aはワーク5
と電極4間に絶縁が回復している状態で、ワーク5と電
極4間に電源電圧が印加されたとき、ワーク5と電極4
間に生じるギャップ電圧の幅を示しくVO−A)以上の
電圧があった場合、ワーク5と電極4間は絶縁が回復し
ているとする。また、B及びCは、オンタイムになって
からギャップ電圧が放電により立下る正常な時間幅を示
し、電圧印加から放電開始までの時間幅をWとすると、
B≦W≦Cであれば、正常な放電と判断するようにして
いる。また、E。
Figure 7 shows the waveform of gap voltage v6 in a normal discharge pattern, Figure 8 shows discharge patterns during no-load discharge, Figure 9 shows discharge patterns during arc discharge, and Figure 10 shows discharge patterns during short-circuit. indicates the output voltage of the stabilized power supply 1, and A indicates the output voltage of the workpiece 5.
When the power supply voltage is applied between the workpiece 5 and the electrode 4 with the insulation restored between the workpiece 5 and the electrode 4, the workpiece 5 and the electrode 4
It is assumed that the insulation between the workpiece 5 and the electrode 4 has been restored if there is a voltage equal to or higher than VO-A (which indicates the width of the gap voltage generated between the two electrodes). In addition, B and C indicate the normal time width in which the gap voltage falls due to discharge after the on-time, and if W is the time width from voltage application to the start of discharge, then
If B≦W≦C, it is determined that the discharge is normal. Also, E.

Dは、正常な放電における放Ti電流が流れているとき
のギャップ電圧■6の幅を示し、D≦v6≦E間にあれ
ば、正常放電と判断するようにしている。
D indicates the width of the gap voltage (6) when the discharge Ti current is flowing in normal discharge, and if it is between D≦v6≦E, it is determined that the discharge is normal.

第8図は、オンタイム中、ギャップ電圧が(Vo−A)
以上ある場合、即ち放電が生じないときで、これを無負
荷放電としている。
Figure 8 shows that the gap voltage is (Vo-A) during on-time.
When the above conditions exist, that is, when no discharge occurs, this is considered to be a no-load discharge.

第9図はアーク放電を示すもので、本実施例においては
、オンタイム開始時にギャップ電圧V。
FIG. 9 shows arc discharge, and in this embodiment, the gap voltage V at the start of on-time.

が電圧に、1間にしか上らず、即ち、K≦V6≦しであ
って、その後1サンプリング周期で最大F。
, the voltage increases only for one hour, that is, K≦V6≦, and then the maximum F in one sampling period.

最小Gの電圧降下が生じる場合をアーク放電と規定して
いる。
The case where a voltage drop of minimum G occurs is defined as arc discharge.

第10図はショート放電を示す図で、本実施例はオンタ
イム中ギャップ電圧v6が電圧H以下のときショート放
電としている。
FIG. 10 is a diagram showing a short discharge, and in this embodiment, a short discharge occurs when the gap voltage v6 is less than the voltage H during on-time.

なお、第7図〜第10図において、TO〜Tn−1はサ
ンプリング時を示すもので、ナンブリング周期TでTO
〜Tn−1までのn個のサンプリングデータを検出する
ようにしている。
In addition, in FIGS. 7 to 10, TO to Tn-1 indicate the sampling time, and TO is at the numbering period T.
It is designed to detect n pieces of sampling data from ~Tn-1.

次に、本実施例の動作を説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

まず、前述した各パラメータVo 、A、B、C。First, each of the aforementioned parameters Vo, A, B, and C.

D、E、F、G、HをCRT/MD I 14より入力
し、共有RAMのデータメモリに記憶させた侵放電加工
機を稼動し、オン・オフ回路19を作動させ、トランジ
スタTr1〜Tr3を介してワーク5と電極4間に電圧
を印加し、放電加工を開始すると、抵抗R4,R5で分
圧されたギャップ電圧■6はA/D変換器6でデジタル
信号に変換される。一方、CPU8がサンプリングメモ
リ手段8からデータを読み出さないときは、出力回路1
5にはリード信号は出されておらず、そのため、インバ
ータ16を介してアンド回路17にはHレベルの信号が
入力され、クロック回路18からクロック信号が入力さ
れているので、オン・オフ回路19からオンパルス出力
が出されると、アンド回路17からは、オンパルス期間
中、クロックパルスが出力され、リング状になったカウ
ンタ20とサンプリングメモリ手段の書込み指令端子に
入力される。そのため、カウンタ20は該クロックパル
スを計数し、書込みアドレスを指定するライト用ポイン
タWPを更新させる。一方、オンパルスの立上りによっ
てワンショットマルチバイブレータ21から出力パルス
が出力され、サンプリングメモリ手段7に入力され、こ
の信号により、オンタイム開始フラグSFをセットする
。その結果、サンプリングメモリ手段7はA/D変換器
6からのギャップ電圧■G゛のデジタル情報をクロック
回路18で設定された周期、即ち、サンプリング周期T
でメモリのデータ部SMDに書込むこととなる。この際
、オンパルスが出力された、その立上り時に出力される
ワンショットマルチバイブレータ21のパルスにより、
オンタイム後最初のデータ書込みアドレスのフラグビッ
トにはオンタイム開始フラグSFがセットされ、次に、
カウンタ20及びライト用ポインタWPで指定されるア
ドレス位置に順次データが書込まれていくことになる。
D, E, F, G, and H are input from the CRT/MD I 14 to operate the erosion discharge machine stored in the data memory of the shared RAM, operate the on/off circuit 19, and turn on the transistors Tr1 to Tr3. When a voltage is applied between the workpiece 5 and the electrode 4 via the gap voltage 6 to start electric discharge machining, the gap voltage 6 divided by the resistors R4 and R5 is converted into a digital signal by the A/D converter 6. On the other hand, when the CPU 8 does not read data from the sampling memory means 8, the output circuit 1
5, no read signal is output to the AND circuit 17, so an H level signal is input to the AND circuit 17 via the inverter 16, and a clock signal is input from the clock circuit 18, so the ON/OFF circuit 19 When an on-pulse output is output from the AND circuit 17, a clock pulse is output during the on-pulse period, and is input to the ring-shaped counter 20 and the write command terminal of the sampling memory means. Therefore, the counter 20 counts the clock pulses and updates the write pointer WP that specifies the write address. On the other hand, an output pulse is output from the one-shot multivibrator 21 due to the rise of the on-pulse, and is input to the sampling memory means 7, and this signal sets the on-time start flag SF. As a result, the sampling memory means 7 stores the digital information of the gap voltage ■G'' from the A/D converter 6 at a period set by the clock circuit 18, that is, at a sampling period T.
Then, it is written to the data section SMD of the memory. At this time, due to the pulse of the one-shot multivibrator 21 output at the rising edge of the on-pulse output,
The on-time start flag SF is set in the flag bit of the first data write address after on-time, and then,
Data is sequentially written to the address positions specified by the counter 20 and the write pointer WP.

そして、オン・オフ回路19からオンパルスが出力され
なくなると、アンド回路17は閉じ、クロック回路から
のクロックパルスを出力しなくなるので、サンプリング
メモリ手段7はデータの書込みを停止する。そして、再
びオン・オフ回路19からオンパルスが出力されると、
前述同様、最初のデータ書込みのアドレスのオンタイム
開始フラグSFをセットし、順次データを書込んでいく
Then, when the on-off circuit 19 no longer outputs the on-pulse, the AND circuit 17 closes and the clock circuit no longer outputs the clock pulse, so the sampling memory means 7 stops writing data. Then, when an on-pulse is output from the on-off circuit 19 again,
As described above, the on-time start flag SF of the address for the first data write is set, and data is sequentially written.

これは、サンプリングメモリ手段7はオンタイム期間中
、即ち、ワーク5と電極4間に電圧が印加されている期
間のみギャップ電圧のデータを書込むもので、前述した
ように、オンタイム期間をTXnとすると、サンプリン
グ周期Tでサンプリングするとn個のデータが得られる
ことになる。
This is because the sampling memory means 7 writes gap voltage data only during the on-time period, that is, the period when the voltage is applied between the workpiece 5 and the electrode 4, and as described above, the on-time period is TXn Then, if sampling is performed at the sampling period T, n pieces of data will be obtained.

第4図に示すように、1回のオンタイムのデータはオン
タイム開始フラグSFがセットされたアドレスから、次
にオンタイム開始フラグSFがセットされている前のア
ドレスまでで、この間にn個のデータが記憶されること
となる。
As shown in Fig. 4, one on-time data is from the address where the on-time start flag SF is set to the next address before the on-time start flag SF is set, and during this period, n pieces of data are stored. data will be stored.

このようにして、サンプリングメモリ手段7のサンプリ
ングメモリSMには、ワーク5と電極4間に電圧が印加
されるオンタイムにおけるギャップ電圧のみがリングバ
ッファ的に順次循環して記゛憶されている。
In this way, the sampling memory SM of the sampling memory means 7 stores only the gap voltage during the on-time when the voltage is applied between the workpiece 5 and the electrode 4 while being sequentially circulated like a ring buffer.

そこで、次に、放電パターンの検出動作について第7図
〜第9図のCPIJ8の動作処理70−チャートと共に
説明する。
Therefore, next, the discharge pattern detection operation will be explained with reference to the operation process 70-charts of the CPIJ8 shown in FIGS. 7 to 9.

まず、この放電パターン検出処理は、第7図に示すよう
に大別して、サンプリングメモリSMから各オンタイム
のサンプリングデータを取出し、放電パターン及び平均
パターンの表示を行う処理ステップS1と、放電パター
ンの分類及び表示を行う処理ステップS2とに分かれる
First, as shown in FIG. 7, this discharge pattern detection process is roughly divided into a processing step S1 in which sampling data of each on-time is retrieved from the sampling memory SM and displaying a discharge pattern and an average pattern, and a process step S1 in which discharge pattern classification is performed. and a processing step S2 for displaying.

まず、放電パターンを求めるステップS1の処理を第8
図(a)、(b)のフローチャートと共に説明する。
First, the process of step S1 for determining the discharge pattern is performed in the eighth step.
This will be explained with reference to the flowcharts in FIGS. (a) and (b).

オペレータがCRT/MD I 14を操作し、放電パ
ターン表示モードにして、放電パターン表示指令を入力
すると、cpuaはBAC9を介して、共有RAM12
中の平均記憶用メモリAMをクリアし、ワーキングメモ
リ用ポインタMPを10」にセットしく8101)、リ
ード信号を出力する(8102)。リード信号が出力さ
れると、出力回路15.インバータ16を介してアンド
回路17をmじるから、アンド回路17からは出力が停
止し、そのため、サンプリングメモリ手段7のA/D変
換器6からのデータの書込みは停止する。
When the operator operates the CRT/MD I 14 to set it to the discharge pattern display mode and inputs a discharge pattern display command, the CPUA transfers data to the shared RAM 12 via the BAC 9.
Clears the average storage memory AM in the memory, sets the working memory pointer MP to 10'' (8101), and outputs a read signal (8102). When the read signal is output, the output circuit 15. Since the AND circuit 17 is inputted via the inverter 16, the output from the AND circuit 17 is stopped, and therefore, writing of data from the A/D converter 6 of the sampling memory means 7 is stopped.

cpusはサンプリングメモリSMの現在のライト用ポ
インタWPの値から、読取るべきオンタイム数C分のア
ドレス(EExn)より手前のアドレスをサーチし、オ
ンタイム開始フラグSFが「1」にセットされているア
ドレスを探し、5F=1のアドレスを読出し、そのアド
レスをリード用ポインタRPにセットする。即ち、現在
のオンタイムよりCE個前のオンタイム開始時のサンプ
リングデータが書込まれているアドレスをリード用ポイ
ンタRPにセットする(S103)。次に、該リード用
ポインタRPでセットされたアドレスのオンタイム開始
フラグSFが「1」か否か判断しく8104)、最初は
「1」であるから、ステップ5105で平均メモリ用ポ
インタAPを「0」にセットし、当該アドレスのサンプ
リングメモリSM(RP)のデータをワーキングメモリ
WMのポインタ(始めはステップ5101で「0」にセ
ットされている)で示すアドレスWM(MP)に格納し
、さらに、平均記憶用メモリAMのポインタAPで示す
アドレス(始めはステップ5105で「0」にセットさ
れている)に該サンプリングメモリのデータSM (R
P)を加算し、該アドレスΔM(AP)に格納する(8
106)。次に、平均メモリ用ポインタAPの値を基準
(横軸)にして、当該サンプリングメモリのアドレスR
Pの値を、点と折線でCR1画面に表示する(S107
)。この場合、1回目のオンタイムのオンタイム開始直
後のサンプリングデータが点としてCR1画面に表示さ
れる。次に、各ポインタMP。
The cpus searches for an address before the address (EExn) corresponding to the on-time number C to be read from the current write pointer WP value of the sampling memory SM, and the on-time start flag SF is set to "1". Search for an address, read the address of 5F=1, and set that address in the read pointer RP. That is, the address where the sampling data at the start of the on-time CE times before the current on-time is written is set in the read pointer RP (S103). Next, it is determined whether the on-time start flag SF of the address set by the read pointer RP is "1" (8104), and since it is initially "1", the average memory pointer AP is set to "1" in step 5105. 0", and stores the data of the sampling memory SM (RP) at the address in the address WM (MP) indicated by the working memory WM pointer (initially set to "0" in step 5101), and further , data SM (R
P) is added and stored in the address ΔM(AP) (8
106). Next, using the value of the average memory pointer AP as a reference (horizontal axis), address R of the sampling memory is
The value of P is displayed on the CR1 screen as a dot and a broken line (S107
). In this case, sampling data immediately after the start of the first on-time is displayed as a point on the CR1 screen. Next, each pointer MP.

RP、APを「1」インクリメントしく8108)、ワ
ーキングメモリ用ポインタMPがワーキングメモリWM
の全アドレスCE X nの値になったか否か、即ち、
読取るオンタイムの数分のデータがワーキングメモリW
Mに格納されたか判断しく5109)、ポインタMPの
値がCExnの値に達してなければ、再びステップ81
04以下の処理を行う。次のステップ5104では、オ
ンタイム開始フラグSFが「1」でないから、ステップ
5104からステップ8106へ移行し、ワーキングメ
モリWMの次のアドレスにサンプリングデータを書込み
、平均記憶用メモリAMの次のアドレスにサンプリング
データを加算し、CRTにそのデータ値を点で表示し、
先に表示されていた点と線で結ぶ。さらに、各ポインタ
を「1」インクリメントし、以下、順次同じ処理を繰返
す。そして、再びオンタイム開始フラグSFが「1」に
なったサンプリングメモリSMのアドレスが読まれると
、平均メモリ用ポインタAPを「0」にセットしく81
05)、以下同じ処理を繰返し、ワーキングメモリ用ポ
インタMPが読取るべきオンタイム数C4分のサンプリ
ングデータを格納したことを示す値Cr x nになる
と、このステップ8104〜5109の処理を終える。
RP and AP are incremented by 1 (8108), and working memory pointer MP is set to working memory WM.
Whether or not all the addresses of CE X n have reached the value of
The data for the number of on-times to be read is in the working memory W.
5109), and if the value of the pointer MP has not reached the value of CExn, the process returns to step 81.
04 Perform the following processing. In the next step 5104, since the on-time start flag SF is not "1", the process moves from step 5104 to step 8106, writes the sampling data to the next address of the working memory WM, and writes the sampling data to the next address of the average storage memory AM. Add the sampling data and display the data value as a dot on the CRT,
Connect it with the previously displayed point with a line. Furthermore, each pointer is incremented by "1", and the same process is repeated sequentially. Then, when the address of the sampling memory SM where the on-time start flag SF becomes "1" is read again, the average memory pointer AP is set to "0".
05), the same processing is repeated thereafter, and when the working memory pointer MP reaches a value Cr x n indicating that sampling data for the on-time number C4 to be read has been stored, the processing of steps 8104 to 5109 is finished.

その結果、ワーキングメモリWMには各オンタイムにお
けるサンプリングデータn個が読取るべきオンタイム数
C5個格納されたこととなり、また、平均記憶用メモリ
AMには、オンタイム開始からの各サンプリング時のデ
ータが各サンプリング時角に加算されて記憶されている
こととなり、さらに、CR1画面には各オンタイムにお
けるサンプリングデータの値が折線で表示される。即ち
、各オンタイムの放電波形のパターンが同位相で表示さ
れることとなる。
As a result, the working memory WM stores n pieces of sampling data at each on-time, the number of on-times C5 to be read, and the average storage memory AM stores data at each sampling time from the start of the on-time. is added to each sampling time angle and stored, and the value of the sampling data at each on-time is displayed as a broken line on the CR1 screen. That is, the discharge waveform patterns of each on-time are displayed in the same phase.

こうして、CE個の放電パターンがCRTに表示された
後、CPU8はリード信号の出力を停止させ(8110
)、その結果、サンプリングメモリ手段7は再びA/D
変換器の出力データをサンプリング周期毎取込み、メモ
リSMに書込む動作を開始する。一方、CPU8は平均
メモリ用ポインタAPを「0」にセットし、平均記憶用
メモリAMの「0」番地より該番地に記憶された当該サ
ンプリング周期におけるC4個のオンタイムの総加算値
をCEで割り、当サンプリング周期の平均値を求め、該
番地に記憶しく8112)、CR1画面にこの記憶した
平均値を、平均メモリ用ポインターAPを基準(横幅)
にして点表示を行い(S113)、平均メモリ用ポイン
タAPを「1」インクリメントしく8114)、該平均
メモリ用ポインタAPが1オンタイムにおけるサンプリ
ング数nに達するまで、ステップ8112〜S115の
処理を行い、CRT表示に表示された点を順次線で結ん
だ折線で平均放電パターンを表示する。
In this way, after CE discharge patterns are displayed on the CRT, the CPU 8 stops outputting the read signal (8110
), so that the sampling memory means 7 again
The operation of taking in the output data of the converter every sampling period and writing it into the memory SM is started. On the other hand, the CPU 8 sets the average memory pointer AP to "0", and calculates the total sum of the C4 on-times in the sampling period stored at the address "0" of the average memory memory AM by CE. 8112), calculate the average value for the current sampling period, and store it at the address (8112), and display the stored average value on the CR1 screen with reference to the average memory pointer AP (width).
and displays a point (S113), increments the average memory pointer AP by "1" (8114), and performs steps 8112 to S115 until the average memory pointer AP reaches the number of samples n in one on-time. , the average discharge pattern is displayed as a broken line connecting the points displayed on the CRT display in sequence.

特に、この平均放電パターンの表示は、各オンタイムに
おGする放電パターンの表示とは色を変えて表示するよ
うにする。
In particular, the average discharge pattern is displayed in a different color from the display of the discharge pattern that is generated at each on-time.

かくして、各オンタイムにおける放電パターンC1個と
これらの平均の放電パターンがCRT画面に表示され、
この放電パターン表示の処理(Sl)は終了する。
In this way, one discharge pattern C for each on-time and the average discharge pattern of these are displayed on the CRT screen,
This discharge pattern display process (Sl) ends.

この放電パターン表示処理が終了すると、CPU8は、
第13図に示す放電パターンの分類処理を開始する。ま
ず、ワーキングメモリ用ポインタMP、無負荷放電をカ
ウントする無負荷カウンタC2,正常放電をカウントす
る正常カウンタCN、アーク放電をカウントするアーク
カウンタCA、ショートをカウントするショートカウン
タC8,上記無負荷、正常、アーク、ショートの各放電
以外の放電をカウントするカウンタC1,放電の総数(
オンタイム数)をカウントするC8を全で「0」にセッ
トしく5201)、ワーキングメモリWMのワーキング
メモリ用ポインタMPで示すアドレスのデータを読出し
、該データの値が(Vo−A)の値より大きいか判断す
る(S202)。即ち、最初のポインタMPの値はf’
OJで、ワーキングメモリWMに格納した1回目のオン
タイムの開始時のサンプリングデータが始めに読み出さ
れるので、この値が(VO−A)より大きい場合は第7
図、第8図に示すように正常放電か無負荷放電のとぎで
あり、小さいときは第9図、第10図に示すアーク放電
かショート放電のときであり、この場合は第13図(b
)で示す処理へ移行する。
When this discharge pattern display process is finished, the CPU 8
The discharge pattern classification process shown in FIG. 13 is started. First, the working memory pointer MP, the no-load counter C2 that counts no-load discharges, the normal counter CN that counts normal discharges, the arc counter CA that counts arc discharges, the short counter C8 that counts short-circuits, and the above-mentioned no-load, normal , a counter C1 that counts discharges other than arc and short discharges, and a total number of discharges (
5201), read the data at the address indicated by the working memory pointer MP in the working memory WM, and make sure that the value of the data is greater than the value of (Vo-A). It is determined whether it is large (S202). That is, the value of the first pointer MP is f'
In OJ, the sampling data at the start of the first on-time stored in the working memory WM is read out first, so if this value is larger than (VO - A), the 7th
As shown in Figures 9 and 8, this is the end of normal discharge or no-load discharge, and when it is small, it is arc discharge or short discharge as shown in Figures 9 and 10, and in this case, Figure 13 (b
).

そこで、Vo−A≦WM(MP)であり、正常または無
負荷放電の場合には、ワーキングメモリ用ポインタMP
に「1」加算しく8203)、ワーキングメモリWMよ
り次のアドレスのデータ(次のサンプリングデータ)を
読出し、該データWM(MP)がVO−Aより大きいか
否か判断しく5204)、大きければポインタMPを「
1」インクリメントし、該ポインタMPの値が既に検討
したオンタイムの数G、(始めはステップ5201で「
0」にセットされている)分のサンプル数Cxnに今回
の1オンタイムのサンプル数n賛 を加算した値に達したか否か判断しく8206>、達し
てなければ、ステップ8204〜8206の処理を繰返
す。即ち、ギャップ電圧V。が電圧印加によりVo−A
以上に立上り、放電が開始され、該ギャップ電圧V6が
VO−A以下になるときをステップ8204〜8206
の処理で判断し、ワーキングメモリ用ポインタMPの値
が(C,xn+n)となり、オンタイム期間中、ギャッ
プ電圧voの値WM(MP)が(Vo−A)以上である
と、M8図に示すような放電を生じない無負荷放電であ
るため、無負荷カウンタC7をカウントアツプする(S
207)。一方、ステップ8204〜5206の処理を
繰返し中、WM(MP)の値(ギャップ電圧V。の値)
がVo −A以下になると放電が生じたのであり、この
場合は正常放電を判断する第13図(C)で示す処理へ
と移行する。
Therefore, if Vo-A≦WM(MP) and in the case of normal or no-load discharge, the working memory pointer MP
8203), reads the data at the next address (next sampling data) from the working memory WM, and judges whether the data WM (MP) is larger than VO-A (5204). If it is, the pointer is MP as “
1'' is incremented, and the value of the pointer MP is the number of on-times G that has already been considered.
It is determined whether the value obtained by adding the number of samples Cxn for the current 1 on-time to the number of samples Cxn (set to "0") has been reached 8206>, and if not, the processing of steps 8204 to 8206 is performed. Repeat. That is, the gap voltage V. is Vo-A due to voltage application.
Steps 8204 to 8206 indicate when the gap voltage V6 rises above VO-A, discharge is started, and the gap voltage V6 becomes VO-A or less.
As shown in diagram M8, the value of the working memory pointer MP becomes (C, xn+n) and the value WM (MP) of the gap voltage vo is greater than (Vo-A) during the on-time period. Since this is a no-load discharge that does not cause such discharge, the no-load counter C7 is counted up (S
207). On the other hand, while repeating the processing of steps 8204 to 5206, the value of WM (MP) (value of gap voltage V.)
When the voltage becomes less than Vo -A, discharge has occurred, and in this case, the process shifts to the process shown in FIG. 13(C) for determining normal discharge.

無負荷放電であり、S負荷カウンタC2をカウントアツ
プした(8207)後、CPU8はステップ8224 
(第13図(d)参照)へ進み、カウンタC,4をカウ
ントアツプし、該カウンタCI!Iの値が読取るべきオ
ンタイムの数CEに達したか否か判断しく8225)、
fしてなければ、次のオンタイムの立上り時のサンプリ
ングデータが格納′されているワーキングメモリWMの
アドレスを示すようにワーキングメモリ用ポインタMP
をCu X nにセットしく8226>、再びステップ
8202以下の処理を行う。
It is a no-load discharge, and after counting up the S load counter C2 (8207), the CPU 8 returns to step 8224.
(See FIG. 13(d)), counts up the counter C, 4, and increments the counter CI! It is necessary to judge whether the value of I has reached the number of on-times CE to be read (8225),
If not, the working memory pointer MP is set to indicate the address of the working memory WM where the sampling data at the rising edge of the next on-time is stored.
is set to Cu X n (8226), and the processing from step 8202 onwards is performed again.

なお、ステップ3206.5207.8224゜522
5の処理をしてステップ8226の処理を行う場合は、
すでにステップ5205でワーキングメモリ用ポインタ
MPはCu X nの値になっているが、後述するその
他の放電を検出した時のためにステップ8226でワー
キングメモリ用ポインタMPをCl4xnにセットする
ものである。
In addition, step 3206.5207.8224゜522
When performing the process in step 5 and then the process in step 8226,
Although the working memory pointer MP has already been set to the value Cu X n in step 5205, the working memory pointer MP is set to Cl4xn in step 8226 in case another discharge is detected, which will be described later.

一方、ステップ5202でA゛ンタイム同始直後のギャ
ップ電圧を後述するアドレスMPのワーキングメモリW
Mの記憶値がVo −Aに達していなかった場合、即ち
、第9図、第10図に示すように、オンタイム開始時に
ギャップ電圧v6がVO−八に達しないとき、cpus
は第13図(b)で示すショート、アーク放電検出処理
を開始する。
On the other hand, in step 5202, the gap voltage immediately after the start of A time is determined by the working memory W at the address MP, which will be described later.
If the stored value of M has not reached Vo -A, that is, as shown in FIGS. 9 and 10, when the gap voltage v6 does not reach VO-8 at the start of the on-time,
starts the short circuit/arc discharge detection process shown in FIG. 13(b).

まず、当該アドレスのオンタイム開始時のサンプリング
データWM(MP)が設定された電圧K。
First, the voltage K to which the sampling data WM (MP) at the start of the on-time of the address is set.

L間にあるか否か判断しく8208)、この間にあれば
、ワーキングメモリ用ポインタMPを「1」インクリメ
ントしく5209)、該ポインタMPで示ずアドレスよ
りサンプリングデータWM(MP)を読出し、この読出
した値が1つ前のサンプリングデータWM(MP−1)
から設定した設定最大電圧降下ff1Fを減算した値よ
りも大きく、また、1つ前のサンプリングデータWM(
MP−1)から設定最小電圧降下ff1Gを減算した値
より小さいか否か判断する(8210)。YESであれ
ばポインタMPを「1」インクリメントしく5211)
、該ポインタMPが次のオンタイムの開始後の最初のサ
ンプリングデータを格納したアドレスを示す値C,xn
+nに達していないか判断しく8212)、当該オンタ
イムの最後のサンプリングデータを格納するアドレス値
に達するまでステップ8210〜5212の処理を繰返
す。即ち、当該オンタイムにおける各サンプリングデー
タが設定された最大電圧降下Fより大きく、最小電圧降
下Gより小さい値で降下しているか否か判断する。そし
て、ステップ82.10でNOの場合、即ち、電圧降下
率が設定範囲F、G間にないときは、アーク放電ではな
く、その他の放電としてステップ8223 (第13図
(d)参照)へ移行する。
If it is between L 8208), the working memory pointer MP is incremented by "1" 5209), and the sampling data WM (MP) is read from the address not indicated by the pointer MP. Sampling data WM (MP-1) with the previous value
is larger than the value obtained by subtracting the set maximum voltage drop ff1F from , and the previous sampling data WM (
It is determined whether the voltage is smaller than the value obtained by subtracting the set minimum voltage drop ff1G from MP-1) (8210). If YES, increment pointer MP by "1" 5211)
, a value C,xn indicating the address where the pointer MP stores the first sampling data after the start of the next on-time.
+n has not been reached (8212), and the processes of steps 8210 to 5212 are repeated until the address value for storing the last sampling data of the on-time is reached. That is, it is determined whether each sampling data at the on-time has dropped by a value greater than the set maximum voltage drop F and smaller than the minimum voltage drop G. If NO in step 82.10, that is, if the voltage drop rate is not between the set ranges F and G, the process proceeds to step 8223 (see Fig. 13(d)) as other discharge rather than arc discharge. do.

また、当該オンタイムのすべてのサンプリングデータに
ついて電圧降下率が設定範囲F、G間であると判断され
たときはステップ5213へ移行し、アーク放電として
、アークカウンタCAをrIJカウントアツプし、ステ
ップ8224 (第13図(d)参照)へ進む。
Further, when it is determined that the voltage drop rate is between the set ranges F and G for all sampling data of the on-time, the process moves to step 5213, the arc counter CA is incremented by rIJ as arc discharge, and step 8224 (See FIG. 13(d)).

また、ステップ8208で当該オンタイムの最初のサン
プリングデータWM(MP)が設定電圧に、L内でなか
った場合は、CPLJ8は次に該データWM(MP)が
ショートを検出するために設定された電圧H以下か否か
判断しく8214)、電圧H以下ならば、ワーキングメ
モリ用ポインタMPを「1」インクリメントしく821
5)、当該オンタイムの全サンプリングデータを読んだ
か、即ち、ポインタMPがC,lXn+nの値に達した
か否か判断し、この値に達するまでステップ8214〜
8216の処理を繰返し、オンタイム期聞中のすべての
サンプリングデータWM(MP)がすべて電圧H以下で
あると、ショートを計数するショートカウンタC8を「
1」加算し、ステップ5224へ移行する。また、オン
タイム中、1つでもサンプリングデータWM(MP)が
電圧Hを越えていると、この場合もその他の放電として
ステップ5223へ移行する。
In addition, if the first sampling data WM (MP) of the on-time is not within the set voltage or L in step 8208, the CPLJ8 is set so that the data WM (MP) is next set to detect a short circuit. It is determined whether the voltage is below H (8214), and if it is below voltage H, the working memory pointer MP is incremented by "1" (821).
5) Determine whether all the sampling data of the on-time has been read, that is, whether the pointer MP has reached the value of C, l
8216 is repeated, and if all the sampling data WM (MP) during the on-time period are below the voltage H, the short counter C8 that counts short circuits is set to "
1'' is added and the process moves to step 5224. Furthermore, if even one sampled data WM (MP) exceeds the voltage H during the on-time, this case is also treated as another discharge and the process moves to step 5223.

再び第13図(a)にもどり、各オンタイムの最初のサ
ンプリングデータが、即ち、ギャップ電圧VG カ(V
o −A ) fr越えていて(S202)、その後の
サンプリングデータが該(Vo−A)を越えているか否
か順次ステップ8204〜8206の繰返し処理で判断
している中に、1つでも(Vo−A)より小さくなると
(8204)、即ち、放電が生じギャップ電圧が下がる
と、CPU8はステップ8218へ進み、該放電が生じ
たときが設定された時間B、C内か否か判断する。即ち
、現在のワーキングメモリ用ポインタMPから当該オン
タイム開始時の該ポインタMPの値を減算した値(この
値はオンタイム開始から何個口のサンプリングかを示す
値である)が設定された時間B、Cをサンプリング周期
で割った値(設定された時間B、Cに対応するオンタイ
ム開始からのサンプリングの数)間にあるか否か判断し
く8218)、この間にあれば、正常放電パターンと設
定した範囲内で放電が生じていることを意味するので、
ステップ5219へ移行し、ステップ8219〜522
1の処理で以後のサンプリングデータWM(MP)の値
が放電電流が流れている間のギャップ電圧■Gが設定値
り、E間にあるか否か判断し、すべてのデータが設定値
り、E間のギVツブ電圧■6であると、正常放電をカウ
ントする正常カウンタC,4を力1ンントアップし、ス
テップ5224へ移行する。また、ステップ8218で
放電によるギt7ツブ電圧の立下りが設定時間B。
Returning again to FIG. 13(a), the first sampling data of each on-time is the gap voltage VG (V
o - A ) fr (S202), and whether or not the subsequent sampling data exceeds the (Vo-A) is determined by sequentially repeating steps 8204 to 8206. -A) (8204), that is, when a discharge occurs and the gap voltage decreases, the CPU 8 proceeds to step 8218 and determines whether or not the time when the discharge occurs is within the set times B and C. In other words, the value obtained by subtracting the value of the pointer MP at the start of the on-time from the current working memory pointer MP (this value indicates how many samples have been sampled since the start of the on-time) is set at time B. , C divided by the sampling period (the number of samplings from the start of the on-time corresponding to the set times B and C) (8218), and if it is between these values, it is set as a normal discharge pattern. This means that discharge is occurring within the range.
Move to step 5219 and step 8219 to 522
In the process of 1, it is determined whether the value of the subsequent sampling data WM (MP) is between the set value and the gap voltage G while the discharge current is flowing, and all data are equal to the set value. If the voltage between E and V is 6, the normal counters C and 4 for counting normal discharges are incremented by 1 increment, and the process moves to step 5224. Further, in step 8218, the fall of the voltage at the t7 point due to discharge occurs for a set time B.

0間にない場合、及びステップ5219で放電電流が流
れているときのギャップ電圧■Gが設定範囲り、E内に
ないようなサンプリングデータWM(MP)が検出され
たときには、その他の放電としてステップ$223へ移
行する。ステップ5223ではその仙の放電をカウント
するカウンタC[をカウントアツプし、ステップ522
4へ移行する。ステップ5224では前述したように、
読取ったオンタイムのカウンタC14を「1」カウント
アツプし、該カウンタC,4の値が読取るべきオンタイ
ムの数C[(ワークメモリに、格納されている全オンタ
イムの数)に達するまで、ステップ8226で、次のオ
ンタイムの開始直後のサンプリングデータを格納するア
ドレスにワーキングメモリ用ポインタMPをセットし、
即ち、ポインタMPにCW×nの値をセットする。
If the gap voltage ■G when the discharge current is flowing is within the set range and sampling data WM (MP) which is not within E is detected in step 5219, the step is performed as another discharge. Move to $223. In step 5223, a counter C[ for counting the discharge of the cell is counted up, and in step 522
Move to 4. In step 5224, as described above,
Count up the read on-time counter C14 by "1" until the value of the counter C,4 reaches the number of on-times to be read C [(the total number of on-times stored in the work memory). In step 8226, the working memory pointer MP is set to the address where sampling data immediately after the start of the next on-time is stored;
That is, the value of CW×n is set in the pointer MP.

なお、無負荷カウンタC7,アークカウンタC、ショー
トカウンタC、正常カウンタCN八S をカウントアツプした(8207.5213゜3217
.5222)ときは、当該オンタイムにおけるすべての
サンプリングデータを読出しワーキングメモリ用ポイン
タMPは、°これらのカウンタc  、c  、cS、
cNをカウントアツプするA 時点で次のオンタイム開始直後のり゛ンプリングデータ
が格納されているアドレスCI4×nの値になっており
、ステップ8226で再度該ポインタMPをCl4xn
の値にセットする必要がないが、その他の放電の場合は
、オンタイム期間中のナンブリングデータの1つでも設
定条件を満足しなかったとぎにカウンタC4をカウント
アツプし、ステップ5224.8225.8226と進
むため、ステップ8226で次のオンタイム開始直後の
サンプリングデータを格納するアドレスCイ×nにワー
キングメモリ用ポインタMPをセットするものである。
In addition, the no-load counter C7, arc counter C, short counter C, and normal counter CN8S were counted up (8207.5213°3217
.. 5222), all sampling data at the on-time are read and the working memory pointer MP is set to these counters c , c , cS,
At the point A when cN is counted up, the value of the address CI4xn where the ripple data immediately after the start of the next on-time is stored is reached, and in step 8226, the pointer MP is again set to Cl4xn.
However, in the case of other discharges, when even one of the numbering data during the on-time period does not satisfy the set condition, the counter C4 is counted up and the steps 5224, 8225, . In order to proceed to step 8226, the working memory pointer MP is set at the address Cxn where sampling data immediately after the start of the next on-time is stored.

かくして、読出したオンタイムを計数するカウンタCい
の値が設定された読取るべきオンタイムの数C5に達し
たとき(8225)、CPU8は放電パターンの割合の
算出を行う(8227)。
Thus, when the value of the counter C that counts the read on-times reaches the set number C5 of on-times to be read (8225), the CPU 8 calculates the ratio of the discharge pattern (8227).

即ち、全オンタイムの数CEで、正常カウンタC、無負
荷カウンタC7,アークカウンタCA。
That is, the total on-time number CE is the normal counter C, the no-load counter C7, and the arc counter CA.

ショートカウンタC8,その他の放電を計数するカウン
タC1の各位を割り、100を乗じて各放電パターンの
割合を%表示でCRT画面に表示する。
The short counter C8 and the counter C1 for counting other discharges are divided and multiplied by 100 to display the percentage of each discharge pattern on the CRT screen.

なお、ステップ5227で求められた正常、無負荷、ア
ーク、ショートの各放電の割合より放電加工条件を自動
的に変更させて、最適値になるように自動制御するよう
にこれらのデータを利用しでもよい。
In addition, these data are used to automatically change the electrical discharge machining conditions based on the proportions of normal, no-load, arc, and short-circuit discharges determined in step 5227, and to automatically control the discharge machining conditions to the optimum values. But that's fine.

発明の効果 第1の発明においては、放電パターンがCRT画面に表
示されるため、オペレータは現在の放電が最適なものか
否か簡単に判断でき、加工条件の設定変更に役立つ。
Effects of the Invention In the first invention, since the discharge pattern is displayed on the CRT screen, the operator can easily determine whether the current discharge is optimal or not, which is useful for changing the settings of machining conditions.

また、第2の発明においては、所定回のオンタイム中の
放電において、各種放電パターンの割合が検出されるか
ら、この割合が加工条件を選択する判断要因として利用
でき、最適加工条件の選択が容易となる。
In addition, in the second invention, since the ratio of various discharge patterns is detected in the discharge during the predetermined on-time, this ratio can be used as a determining factor for selecting machining conditions, and the optimum machining conditions can be selected. It becomes easier.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、第1の発明が従来技術の問題点を解決するた
めに採用した手段のブロック図、第2図は、第2の発明
が従来技術の問題点を解決するために採用した手段のブ
ロック図、第3図は本発明の一実施例の要部ブロック図
、第4図は同実施例のサンプリングメモリの構成説明図
、第5図は同実施例のワーキングメモリの構成説明図、
第6図は同実施例の平均記憶用メモリの構成説明図、第
7図〜第10図は放電パターンを特定するためのパラメ
ータを説明するための放電パターンの例を示す図、第1
1図は、同実施例が行う放電パターン検出の処理フロー
チャートの概要を示す図、第12図(a)、(b)は同
実施例における放電パターン表示処理のフローチャート
、第13図(、a)〜(d)は同実m例における放電パ
ターン分類処理のフローチャートである。 4・・・電極、5・・・ワーク、6・・・A/D変換器
、7・・・サンプリングメモリ手段、8・・・中火処理
表示装置(CPU) 、9・・・バスアービタコントロ
ーラ、10・・・数値制御装置、12・・・共有RAM
、14・・・CRT表示装置付手動データ入力装置、1
9・・・オン・オフ回路、WM・・・ワーキングメモリ
、AM・・・平均記憶用メモリ、RP・・・リード用ポ
インタ、WP・・・ライト用ポインタ、MP・・・ワー
キングメモリ用ポインタ、AP・・・平均メモリ用ポイ
ンタ。 M 1 口 第7 図       第 80 第11 図 第 12図(b) ! 13図(al
FIG. 1 is a block diagram of the means adopted by the first invention to solve the problems of the prior art, and FIG. 2 is a block diagram of the means adopted by the second invention to solve the problems of the prior art. 3 is a block diagram of a main part of an embodiment of the present invention, FIG. 4 is an explanatory diagram of the configuration of the sampling memory of the embodiment, FIG. 5 is an explanatory diagram of the configuration of the working memory of the embodiment,
FIG. 6 is an explanatory diagram of the configuration of the average storage memory of the same embodiment; FIGS. 7 to 10 are diagrams showing examples of discharge patterns for explaining parameters for specifying discharge patterns;
FIG. 1 is a diagram showing an outline of a process flowchart for detecting a discharge pattern performed in the same embodiment, FIGS. 12(a) and (b) are a flowchart for discharge pattern display processing in the same embodiment, and FIG. -(d) are flowcharts of discharge pattern classification processing in the same example m. 4... Electrode, 5... Work, 6... A/D converter, 7... Sampling memory means, 8... Medium heat processing display unit (CPU), 9... Bus arbiter controller , 10... Numerical control device, 12... Shared RAM
, 14...Manual data input device with CRT display device, 1
9...On/off circuit, WM...working memory, AM...average storage memory, RP...read pointer, WP...write pointer, MP...working memory pointer, AP: Pointer for average memory. M 1 Mouth Figure 7 Figure 80 Figure 11 Figure 12 (b)! Figure 13 (al

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ワークと電極間の電圧を検出し、デジタル信号で
出力するギャップ電圧検出手段と、所定サンプリング周
期で上記ギャップ電圧検出手段からの出力電圧データを
記憶するサンプリングメモリ手段と、CRT表示装置と
、上記サンプリングメモリ手段に記憶されたデータを読
出し上記CRT表示装置に上記データをグラフ表示させ
る制御手段とを有し、放電波形パターンをCRT表示装
置に表示するようにした放電加工機における放電パター
ン検出装置。
(1) Gap voltage detection means for detecting the voltage between the workpiece and the electrode and outputting it as a digital signal; sampling memory means for storing output voltage data from the gap voltage detection means at a predetermined sampling period; and a CRT display device. , a control means for reading data stored in the sampling memory means and displaying the data in a graph on the CRT display, and displaying a discharge waveform pattern on the CRT display. Device.
(2)上記サンプリングメモリ手段はワークと電極間に
電圧が印加されるオンタイムのサンプリングデータを複
数オンタイム分記憶する記憶容量を有し、上記制御手段
は、上記CRT表示装置に複数の放電波形パターンを位
相を合致させて同時に表示するようにした特許請求の範
囲第1項記載の放電加工機における放電パターン検出装
置。
(2) The sampling memory means has a storage capacity for storing sampling data for a plurality of on-times when a voltage is applied between the workpiece and the electrode, and the control means displays a plurality of discharge waveforms on the CRT display device. An electric discharge pattern detection device for an electric discharge machine according to claim 1, wherein the patterns are displayed at the same time in phase with each other.
(3)上記サンプリングメモリ手段はリングバッファ状
に構成され、各オンタイムの電圧データを所定量循環し
て記憶する特許請求の範囲第2項記載の放電加工機にお
ける放電パターン検出装置。
(3) The electric discharge pattern detection device for an electric discharge machine according to claim 2, wherein the sampling memory means is configured in a ring buffer shape, and stores a predetermined amount of voltage data of each on-time in circulation.
(4)上記制御手段はオンタイム開始からのサンプリン
グ周期毎に複数のオンタイムのサンプリングデータの平
均値を求め、該平均値をCRT表示装置にグラフ表示さ
せ、平均放電波形パターンを表示するようにした特許請
求の範囲第2項または第3項記載の放電加工機における
放電パターン検出装置。
(4) The control means calculates an average value of a plurality of on-time sampling data every sampling period from the start of on-time, displays the average value in a graph on a CRT display device, and displays an average discharge waveform pattern. A discharge pattern detection device for an electrical discharge machine according to claim 2 or 3.
(5)ワークと電極間の電圧を検出し、デジタル信号で
出力するギャップ電圧検出手段と、所定サンプリング周
期で上記ギャップ電圧検出手段からの出力電圧データを
ワークと電極間に電圧印加されるオンタイムの複数オン
タイム分記憶するサンプリングメモリ手段と、上記サン
プリングメモリ手段に記憶された各オンタイムのサンプ
リングデータと放電パターンを判別するための各種パラ
メータ設定値とにより、各オンタイムの放電パターンを
判別する判別手段と、判別放電パターンの総数に対する
各放電パターンの割合を求める比率算出手段とを設けた
放電加工機における放電パターン検出装置。
(5) A gap voltage detection means that detects the voltage between the workpiece and the electrode and outputs it as a digital signal, and an on-time in which the output voltage data from the gap voltage detection means is applied at a predetermined sampling period between the workpiece and the electrode. A discharge pattern for each on-time is determined based on a sampling memory means for storing a plurality of on-times, and sampling data for each on-time stored in the sampling memory means and various parameter setting values for determining the discharge pattern. A discharge pattern detection device for an electric discharge machine, comprising a discrimination means and a ratio calculation means for calculating the ratio of each discharge pattern to the total number of discharge patterns to be discriminated.
(6)上記判別しようとする放電パターンの種類を、正
常放電、無負荷放電、アーク放電、ショート放電及び他
の放電の5種類とした特許請求の範囲第5項記載の放電
加工機における放電パターン検出装置。
(6) The discharge pattern in the electric discharge machine according to claim 5, wherein the types of discharge patterns to be determined are five types: normal discharge, no-load discharge, arc discharge, short discharge, and other discharges. Detection device.
(7)上記判別手段は、正常放電を、オンタイム開始時
から電源電圧に近い設定所定電圧以上の電圧が所定時間
、継続した後電圧が低下し、設定所定電圧幅内でオンタ
イム終了まで持続することによって判別し、無負荷放電
を、オンタイム期間中電源電圧に近い所定電圧以上の電
圧が持続することによつて判別し、アーク放電を、オン
タイム開始時の電圧がアーク検出用に設定された所定の
電圧幅内であり、その後一サンプリング周期角に設定所
定範囲内の電圧降下であることによって判別し、ショー
ト放電を、オンタイム期間中ショート検出用に設定され
た所定電圧以下の電圧であることによつて判別し、上記
正常、無負荷、アーク、ショート以外の放電はその他の
放電と判別するようにした特許請求の範囲第6項記載の
放電加工機における放電パターン検出装置。
(7) The above-mentioned discriminating means determines that the normal discharge is a voltage that is equal to or higher than a set predetermined voltage close to the power supply voltage from the start of the on-time, continues for a predetermined time, and then the voltage decreases and continues within the set predetermined voltage range until the end of the on-time. No-load discharge is determined by the persistence of a voltage equal to or higher than a predetermined voltage close to the power supply voltage during the on-time period, and arc discharge is determined by the fact that the voltage at the start of the on-time is set for arc detection. It is determined that the voltage drop is within a predetermined voltage width and then within a predetermined range set in one sampling period angle, and a short discharge is determined by detecting a voltage that is less than a predetermined voltage set for short detection during the on-time period. 7. The discharge pattern detection device for an electrical discharge machine according to claim 6, wherein discharges other than normal, no-load, arc, and short are distinguished from other discharges.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0335931A (en) * 1989-06-30 1991-02-15 Toshiba Corp Discharge analysing device
JPH0335929A (en) * 1989-06-30 1991-02-15 Toshiba Corp Signal sampling device
JPH0335940A (en) * 1989-06-30 1991-02-15 Toshiba Corp Disconnection predicting device
JPH04269119A (en) * 1991-02-26 1992-09-25 Mitsubishi Electric Corp Discharge processing device
JP2009166190A (en) * 2008-01-17 2009-07-30 Mitsubishi Electric Corp Wire electric discharge machining apparatus
JP2012045662A (en) * 2010-08-26 2012-03-08 Fanuc Ltd Wire electric discharge machine capable of detecting machining state

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58143274A (en) * 1982-02-22 1983-08-25 Seikosha Co Ltd Waveform display
JPS59192421A (en) * 1983-04-15 1984-10-31 Mitsubishi Electric Corp Method of electric discharge machining
JPS6284917A (en) * 1985-10-08 1987-04-18 Amada Co Ltd Abnormal discharge preventing method and its device for electric discharge machine

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58143274A (en) * 1982-02-22 1983-08-25 Seikosha Co Ltd Waveform display
JPS59192421A (en) * 1983-04-15 1984-10-31 Mitsubishi Electric Corp Method of electric discharge machining
JPS6284917A (en) * 1985-10-08 1987-04-18 Amada Co Ltd Abnormal discharge preventing method and its device for electric discharge machine

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0335931A (en) * 1989-06-30 1991-02-15 Toshiba Corp Discharge analysing device
JPH0335929A (en) * 1989-06-30 1991-02-15 Toshiba Corp Signal sampling device
JPH0335940A (en) * 1989-06-30 1991-02-15 Toshiba Corp Disconnection predicting device
JPH04269119A (en) * 1991-02-26 1992-09-25 Mitsubishi Electric Corp Discharge processing device
JP2009166190A (en) * 2008-01-17 2009-07-30 Mitsubishi Electric Corp Wire electric discharge machining apparatus
JP2012045662A (en) * 2010-08-26 2012-03-08 Fanuc Ltd Wire electric discharge machine capable of detecting machining state
US8975554B2 (en) 2010-08-26 2015-03-10 Fanuc Corporation Wire electric discharge machine capable of detecting machining state

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