JPH0197268U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0197268U JPH0197268U JP19435187U JP19435187U JPH0197268U JP H0197268 U JPH0197268 U JP H0197268U JP 19435187 U JP19435187 U JP 19435187U JP 19435187 U JP19435187 U JP 19435187U JP H0197268 U JPH0197268 U JP H0197268U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- semiconductor device
- test board
- power supply
- device test
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第1図はこの考案の一実施例を示す図、第2図
は従来の半導体装置試験基板を示す図である。ま
た、第3図は第1図および第2図に示す円A内の
詳細図である。 図において、6は電源ライン、21はヒユーズ
、22は基板である。なお、図中、同一符号は同
一、又は相当部分を示す。
は従来の半導体装置試験基板を示す図である。ま
た、第3図は第1図および第2図に示す円A内の
詳細図である。 図において、6は電源ライン、21はヒユーズ
、22は基板である。なお、図中、同一符号は同
一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試験すべき半導体装置が装着されるととも
に電流が供給される複数の電源ラインと、この電
源ラインに設けられ、前記半導体装置にその定格
以上の電流が流れたとき、電源ラインへの電流の
供給を遮断する電流遮断手段を備えた半導体装置
試験基板。 (2) 電流遮断手段はヒユーズであることを特徴
とする実用新案登録請求の範囲第1項記載の半導
体装置試験基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19435187U JPH0197268U (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19435187U JPH0197268U (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0197268U true JPH0197268U (ja) | 1989-06-28 |
Family
ID=31485082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19435187U Pending JPH0197268U (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0197268U (ja) |
-
1987
- 1987-12-21 JP JP19435187U patent/JPH0197268U/ja active Pending