JPH0195301A - Self-tuning controller - Google Patents

Self-tuning controller

Info

Publication number
JPH0195301A
JPH0195301A JP25265887A JP25265887A JPH0195301A JP H0195301 A JPH0195301 A JP H0195301A JP 25265887 A JP25265887 A JP 25265887A JP 25265887 A JP25265887 A JP 25265887A JP H0195301 A JPH0195301 A JP H0195301A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
tuning
waveform
self
parameter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25265887A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruo Takatsu
春雄 高津
Asao Miyabe
宮部 朝雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP25265887A priority Critical patent/JPH0195301A/en
Publication of JPH0195301A publication Critical patent/JPH0195301A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To facilitate the operation of a self-tuning controller by superposing a step signal onto an operation signal which turns on a pointing means and therefore attaining a tuning action. CONSTITUTION:When an operator operates a pointing means 4, a step type signal is superposed on an operation signal and outputted to a controlled system. In this case, a parameter tuning means 3 observes the produced process value or the waveform of a deviation signal and tunes a PI arithmetic parameter. Thus a user can easily perform a tuning action as necessary with operation of the means 4.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、少なくとも比例(P)、積分(I)演算パラ
メータを最適な1直に自動的に調整するセルフチューニ
ング調節計に関し、更に詳しくは、プロセスを同定する
のに特別な信号を用いることなく、ランダムに発生する
外乱などの乱れの波形を認識してP、I演算パラメータ
を決定するようにしたヒルフチューニング調節計に関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a self-tuning controller that automatically adjusts at least proportional (P) and integral (I) calculation parameters to an optimal one-shift. This invention relates to a Hilf tuning controller that determines P and I calculation parameters by recognizing the waveform of disturbances such as randomly occurring disturbances, without using special signals to identify processes.

(従来の技術) フィードバック制御に用いられるブOt?ス用調節計と
して、PI演鋒パラメータを自動的にチューニングする
ようにしたセルフチューニング調節計が実用化されてい
る。これらのものの中で、制御mの挙動を観測するパタ
ーン認識手段を設け、ここでプロセスに外乱を与えるこ
となく、ランダムに発生する外乱等の制御系の乱れを認
識し、この認識結果を最適な応答モデルと比較し、パタ
ーンの認識結果が応答モデルに近づく様にIn 3mな
PII停パラメータを決定するようにしたものが脚光を
浴びている。
(Prior art) BuOt? used for feedback control? A self-tuning controller that automatically tunes the PI parameter has been put into practical use as a system controller. Among these, a pattern recognition means is provided to observe the behavior of the control m, and this recognizes disturbances in the control system such as randomly occurring disturbances without causing any disturbance to the process, and this recognition result is used to optimize the In comparison with a response model, a method in which the In 3m PII stop parameter is determined so that the pattern recognition result approaches the response model is attracting attention.

この様なセルフチューニング調節計としては、単行本 
ADA、、PTIVE  C0NTR0L  SYST
EMS、PERGAMON   PRESS。
For this kind of self-tuning controller, the book is
ADA,,PTIVE C0NTR0L SYST
EMS, PERGAMON PRESS.

1963年R’fTP1〜P18や、US  PATE
NT  No、4.602.326が公知である。
1963 R'fTP1-P18 and US PATE
NT No. 4.602.326 is known.

(発明が解決しようとづる問題点) ところで、この様なセルフチューニング調節計は、v4
wJ系の乱れを利用してPI演痒パラメータをチューニ
ングするように構成されているので、例えば、安定な性
質のプロセス(外乱が希にしか発生しないようなプロセ
ス)では、P■演算パラメータが多少いい加減な値であ
っても、制御が安定しているため、PI演算パラメータ
をチューニングする機会がない。
(Problem to be solved by the invention) By the way, such a self-tuning controller is
Since it is configured to tune the PI calculation parameter using disturbances in the wJ system, for example, in a process of stable nature (a process in which disturbances occur only rarely), the P calculation parameter may be slightly adjusted. Even if the value is sloppy, the control is stable, so there is no opportunity to tune the PI calculation parameters.

この為に将来外乱、変動等が発生したときに備えて予め
最適なPI演算パラメータをチューニングしておきたい
場合が生ずる。
For this reason, there may be cases where it is desired to tune the optimal PI calculation parameters in advance in case disturbances, fluctuations, etc. occur in the future.

本発明は、この様な要望に適ったセルフチューニング調
節計を実現することを目的とする。
An object of the present invention is to realize a self-tuning controller that meets these demands.

(問題点を解決するための手段) 第1図は、本発明装置の基本的な機能ブロック図である
。図において、1は制御対象〈プロセス)で、生産Iの
変化、制御目標値の変更、外乱等によってその動特性が
変化するものとする。2は制御対象からのプロセスmP
■と、制御口gmsvとの偏差信号DVに少なくとも比
例(P)、積分(I)演算を行い得られた操作信号MV
を前記制御対象1に出力するPI制御手段、3は前記プ
ロセス聞または偏差信号の波形を観測しその観測結果が
予め設定した応答目標になるように前記P【1!II 
m手段のP、I演算パラメータをチューニングするパラ
メータチューニング手段である。4は外部よりチューニ
ング動作を指示する指示手段、5は指示手段4からの信
号を受けステップ状の信号を前記操゛作信号MVに重畳
するステップ信号発生手段である。
(Means for Solving the Problems) FIG. 1 is a basic functional block diagram of the apparatus of the present invention. In the figure, 1 is a controlled object (process) whose dynamic characteristics change due to changes in production I, changes in control target values, disturbances, etc. 2 is the process mP from the controlled object
The operation signal MV obtained by performing at least proportional (P) and integral (I) calculations on the deviation signal DV between the control port gmsv and
The PI control means 3 outputs P[1! II
This is a parameter tuning means for tuning the P and I calculation parameters of the m means. Reference numeral 4 designates an instruction means for externally instructing a tuning operation, and reference numeral 5 designates a step signal generation means for receiving a signal from the instruction means 4 and superimposing a step-like signal on the operation signal MV.

(作用) 例えばオペレータが指示手段を操作すると、ステップ状
の信号が操作信号に重畳されて、制御対象に出力される
。パラメータチューニング手段はそのときに生ずるプロ
セス農または偏差信号の波形をI!測し、PI演算パラ
メータをチューニングする。
(Function) For example, when an operator operates the instruction means, a step-like signal is superimposed on the operation signal and output to the controlled object. The parameter tuning means converts the waveform of the process signal or deviation signal generated at that time into I! and tune the PI calculation parameters.

(実施例) 以下図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。(Example) Embodiments of the present invention will be described in detail below using the drawings.

第2図は、本発明の一実施例の構成ブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the present invention.

図において、6はセルフチューニング調節計であり、1
1J111対象1からのプロセスIPV。
In the figure, 6 is a self-tuning controller, and 1
1J111 Process IPV from object 1.

制御目標msvを入力し、操作信号MVを制御対象1に
対して出力する。この調節計において、61はプロセス
mpv、各種アナログ信号ei、制御口mm5vを順次
選択して入力するマルチプレフナ、62はマルチプレフ
ナ61で選択した信号を一つの入力するコンパレータ、
63はマイクロプロセッサで、コンパレータ62からの
信号等をを入力している。64はプロセッサからのデジ
タル信号をアナログ信号に変換するD/A変換器、65
はD/A変換器の出力を所定のタイミングで保持するサ
ンプルホールド回路で、その出力が制御対京1への操作
信@MVとなる。66はI10ボート、67は各種デー
タ等を格納したRAM。
The control target msv is input, and the operation signal MV is output to the controlled object 1. In this controller, numeral 61 is a multi-preflexor that sequentially selects and inputs the process mpv, various analog signals ei, and control port mm5v, and 62 is a comparator that inputs the signals selected by the multipreneur 61 into one input.
A microprocessor 63 inputs signals from the comparator 62 and the like. 64 is a D/A converter that converts the digital signal from the processor into an analog signal; 65
is a sample and hold circuit that holds the output of the D/A converter at a predetermined timing, and its output becomes the operation signal @MV to the control device 1. 66 is an I10 boat, and 67 is a RAM that stores various data.

−68はマイクロプロセッサ63が行う主要動作のプロ
グラムを格納したROM169は例えばユーザがプロセ
スに応じて作成したプログラムを格納したROM、70
は表示キーボードで、これらはデータバス88を介して
マイクロプロセッサ63に結合している。外部よりチュ
ーニング動作を指示する指示手段4は、この表示キーボ
ードの一部に設けられて、いる。
-68 is a ROM 169 that stores programs for main operations performed by the microprocessor 63; a ROM 169 that stores programs created by the user according to the process;
are display keyboards which are coupled to microprocessor 63 via data bus 88. An instruction means 4 for instructing a tuning operation from the outside is provided in a part of this display keyboard.

ここでシステムROM6Bには、マイクロプロしツナ6
3が第1図に示すPI制御手段2、パラメータチューニ
ング手段3、ステップ信号発生手段5としての機能を行
うためのプログラムや、制御対@1の1&適応答モデル
のデータ等が格納されている。なお、システムROM6
8.ROM69は一つのROMで共用してもよい。
Here, the system ROM6B contains MicroPro Tuna 6
3 stores programs for performing the functions of the PI control means 2, parameter tuning means 3, and step signal generation means 5 shown in FIG. 1, and data of the 1&appropriate response model of the control pair @1. In addition, system ROM6
8. The ROM 69 may be shared by one ROM.

第3図は、このように構成した装置の動作の一例を示す
フローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing an example of the operation of the apparatus configured as described above.

マイクロプロセラ+J′63は、初めにシステムROM
68に格納されているシステムブOグラムに従ってマル
チプレクチ61に印加されているプロセスmpv、制御
目標値S■、その他のアナログ信号eiを順次選択して
取出し、これらの信号をコンパレータ62、マイクロプ
ロセッサ63、D/A変換器64で形成されるA/D変
換ループによって、それぞれデジタル信号に変換する(
ステップ1)。
MicroProcera+J'63 first has a system ROM
The process mpv, control target value S, and other analog signals ei applied to the multiplexer 61 are sequentially selected and taken out according to the system block diagram stored in the system block 68, and these signals are sent to the comparator 62 and the microprocessor 63. , are converted into digital signals by an A/D conversion loop formed by a D/A converter 64 (
Step 1).

次にプOセ、1iPVと!IJ ill 目標msvと
の偏差D■が所定の設定値幅DB内にはいっているかど
うか判断する(ステップ2)。ここ’t’ov>osの
時、次のステップ3に移る。ステップ3では、第1図に
おけるパラメータチューニング手段3として機能するシ
ステムプログラムに従って、プロセスff1PVまたは
偏差DVの波形観測を行い、観測波形のパターン分析を
行う。また、パターン分析が完了すると、l1i11波
形の評価指標の算出をし、それに基づいてPI演棹パラ
メータを算出し、このPI演算パラメータをPI制御手
段に設定(チューニング)する(ステップ4.5.6)
Next is PuOse, 1iPV! IJ ill It is determined whether the deviation D■ from the target msv is within a predetermined set value range DB (step 2). When 't'ov>os, the process moves to the next step 3. In step 3, waveform observation of the process ff1PV or deviation DV is performed according to the system program functioning as the parameter tuning means 3 in FIG. 1, and a pattern analysis of the observed waveform is performed. When the pattern analysis is completed, the evaluation index of the l1i11 waveform is calculated, the PI calculation parameters are calculated based on the evaluation index, and the PI calculation parameters are set (tuned) in the PI control means (step 4.5.6 )
.

次にP1tlJtlA手段2は、パラメータチューニン
グ手段3によって設定、変更されたP11パラメータを
用いPI演粋を行い(ステップ7)、演算結果を操作信
号MVとして制御対象1に出力する(ステップ8)。
Next, the P1tlJtlA means 2 performs PI calculation using the P11 parameters set and changed by the parameter tuning means 3 (step 7), and outputs the calculation result to the controlled object 1 as an operation signal MV (step 8).

ステップ2において、DV<DBのとき(偏差DVが所
定の設定値幅内に入っているとき)は、制御良好である
としてステップ21に移る。このステップ21では、指
示手段4がオンかどうかく指示手段4が操作されたかど
うか)判断する。
In step 2, when DV<DB (when the deviation DV is within a predetermined set value range), it is determined that the control is good and the process moves to step 21. In this step 21, it is determined whether the instruction means 4 is on or not (or whether the instruction means 4 is operated).

ここでNoど判断された場合は、ステップ8に移る。Y
ESと判断された場合、ステップ信号発生手段5は、ス
テップ状信号を操作信号MVに重畳させる(ステップ2
2)。
If the determination is No here, the process moves to step 8. Y
If it is determined that ES is the case, the step signal generating means 5 superimposes a step signal on the operation signal MV (step 2).
2).

次にパラメータチューニング手段3は、プロセスff1
PVまたは偏差DBの波形観測を行い、そのパターンを
分析しくステップ23)、この分析結果に基づいてPI
演算パラメータを演算し、とのPI演惇パラメータをP
I制御手段2に設定する(ステップ24)。
Next, the parameter tuning means 3 processes the process ff1
Observe the waveform of PV or deviation DB, analyze the pattern (Step 23), and perform PI based on this analysis result.
Compute the calculation parameters and set the PI performance parameters of P
I control means 2 (step 24).

以上のステップ22〜24の動作によって、制御が良好
状態にあっても、指示手段4の操作により、将来の外乱
、変動等に備えて予め最適なPI演詐パラメータをチュ
ーニングしておくことができる。
Through the operations of steps 22 to 24 described above, even if the control is in a good state, the optimum PI fraud parameters can be tuned in advance by operating the instruction means 4 in preparation for future disturbances, fluctuations, etc. .

第4図は動作の一例を示すタイムチャートである。T1
のタイミングで指示手段4をオンに操作すると、(a)
に示すように操作信号MVにステップ信号MOが重畳さ
れる。ここでステップ信号MOの大きさと方向く極性)
は、予め制御対象1の性質におおじで決めておくものと
する。
FIG. 4 is a time chart showing an example of the operation. T1
When the instruction means 4 is turned on at the timing of (a)
The step signal MO is superimposed on the operation signal MV as shown in FIG. Here, the magnitude and direction of the step signal MO (polarity)
shall be determined in advance based on the characteristics of the controlled object 1.

また、このステップ信号の発生は、例えば、T1のタイ
ミングで、PI制御手段2が、MC>Oのとき、積分項
←積分項計算値++?1c 1MO<Oのとき、積分項
←積分項計算値−IMclのような計算を行うことで出
力する事ができる。
Further, this step signal is generated, for example, at timing T1, when the PI control means 2 determines, when MC>O, integral term←integral term calculated value++? When 1c 1MO<O, it is possible to output by performing a calculation such as integral term←integral term calculated value−IMcl.

操作信号MVにスフフッ13号福喝−仁¥・が重畳され
ると、プロセスmpvには、(b)に示すような変動波
形が観測される。パラメータチューニング手段3は、こ
の変動波形を観測し、波形分析を行い、T2のタイミン
グでこの波形分析を完了し、PI演算パラメータを算出
するとともに、これをPI制御手fR2に設定する。
When the operation signal MV is superimposed with Sfufu No. 13 Fukuyaku-Jin\, a fluctuating waveform as shown in (b) is observed in the process mpv. The parameter tuning means 3 observes this fluctuating waveform, performs a waveform analysis, completes this waveform analysis at timing T2, calculates a PI calculation parameter, and sets it in the PI control hand fR2.

丁2のタイミングでの波形T2測の結果、更にチューニ
ングが必要なときは、引き続いて波形観測を偏差が小さ
く、安定するまで継続しチューニングを行う。以上のよ
うな動作が終了すると、チューニング要求前の状態に戻
る。
If further tuning is required as a result of waveform T2 measurement at timing 2, waveform observation is continued and tuning is performed until the deviation is small and stable. When the above operations are completed, the state returns to the state before the tuning request.

なお、上記ではチューニング要求があったときステップ
信号を1回だけ出力するようにしたものであるが、第5
図に示すように1回のチューニング要求で、数回ステッ
プ状の信号を発生□するようにしてもよい。
Note that in the above example, the step signal is output only once when a tuning request is made, but the fifth step signal is output only once.
As shown in the figure, a step signal may be generated several times with one tuning request.

第6図は、パラメータチューニング手段3における波形
観測手法の一例を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of a waveform observation method in the parameter tuning means 3.

ここではステップ状の信号を印加してからの偏差信号の
応答波形を示しており、始めは大きく変動するが、PI
IJm手段2の動作によって次第に変化が小さくなって
やがて零に収束する。
This shows the response waveform of the deviation signal after applying a step signal, and although it fluctuates greatly at the beginning, the PI
Due to the operation of the IJm means 2, the change gradually becomes smaller and eventually converges to zero.

パラメータチューニング手段3は、この偏差信号Dvの
挙動を観測しており、この信号波形の第1のピーク([
)Vl)が観測された時点(第1ピークの発生時点)t
lから続く、第2のピーク(DV2>が観測される時点
(第2ピークの発生時点)t2までの偏差信号に係わる
面積A1と、第2ピークの発生時点t2から続く、t2
+(t2−tl)の時点(t2からt2−tlだけ経過
゛した点)までの偏差信号Dvに係わる面積A2とを演
算する。そして、これらの面積A1.A2を用いて、A
1.A2のレシオ(AR)を算出する。
The parameter tuning means 3 observes the behavior of this deviation signal Dv, and the first peak ([
) Vl) was observed (time of occurrence of the first peak) t
The area A1 related to the deviation signal from 1 to the time point t2 at which the second peak (DV2> is observed (the time point at which the second peak occurs)) and t2, which continues from the time point t2 at which the second peak occurs.
+(t2-tl) (a point after t2-tl has elapsed from t2), the area A2 related to the deviation signal Dv is calculated. And these areas A1. Using A2, A
1. Calculate the A2 ratio (AR).

面積A1.A2及び面積レシオARの算出式を(I)、
(2)、(3)式にそれぞれ示づ。
Area A1. The formula for calculating A2 and area ratio AR is (I),
These are shown in equations (2) and (3), respectively.

△1=J″″ (DVl−DV) d t      
1舌I ここで、(I)式の演算式は、第6図において斜線を施
した面積A1を求めるものであり、(2)式の演算式は
、第6図において斜線を施した面積Δ2を求めるもので
ある。
△1=J″″ (DVl-DV) d t
1 tongue I Here, the calculation formula of equation (I) is to find the area A1 shaded in FIG. 6, and the calculation formula of equation (2) is to calculate the area Δ2 shaded in FIG. This is what we seek.

また、最大行き過ぎ層(オーバシュート)OVSを(4
)式の演算式によって求める。
In addition, the maximum overshoot layer (overshoot) OVS is (4
) is calculated using the arithmetic expression of Eq.

0VS=−DV2/DV1        4また、振
動周期Tpを(5)式の8Iii式によって求める。
0VS=-DV2/DV1 4Furthermore, the vibration period Tp is determined by Equation 8Iiii of Equation (5).

Tp=2・<t2−tl)         5このよ
・)にして求められた面積レシオAR,オーバシュート
ovs1ti勤周期Tpの各情報を観測波形の評価指標
として、これらが所定の希望値となるようにPI演算パ
ラメータをチューニングする。
Tp=2・<t2−tl) 5 This information is used as an evaluation index for the observed waveform, such as the area ratio AR and overshoot period Tp, which are obtained using Tune the PI calculation parameters.

なお、面積レシオARを評価指標の一つとすると、観測
波形の中に含まれるノイズの影費を受けないと言う特徴
がある。
Note that if the area ratio AR is used as one of the evaluation indicators, it has the characteristic that it is not influenced by noise included in the observed waveform.

(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、例えばユ
ーザがチューニングを必要と感じたとき、指示手段を操
作することで容易にチューニング動作をさせることがで
きるもので、外乱が希にしか生じないようなプロセスに
も、安心してセルフチューニング調節計を適用すること
ができる。
(Effects of the Invention) As described above in detail, according to the present invention, when the user feels that tuning is necessary, for example, the user can easily perform the tuning operation by operating the instruction means, and Self-tuning controllers can be used with confidence even in processes where problems occur only rarely.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明装置の基本的な機能ブロック図、第2図
は本発明の一実施例の構成ブロック図、第3図は本発明
装置の動作の一例を示すフローチャート、第4図は動作
の一例を示すタイムチャート、第5図は他の動作の一例
を示すタイムチャート、第6図はパラメータチューニン
グ手段3における波形観測・手法の一例を示す説明図で
ある。 1・・・制御対象 2・・・PI制御手段 3・・・パラメータチューニング手段 4・・・指示手段 5・・・ステップ信号発生手段 第1図 第2図 第3図 二、’、   6   Q
Fig. 1 is a basic functional block diagram of the device of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of the configuration of an embodiment of the invention, Fig. 3 is a flowchart showing an example of the operation of the device of the present invention, and Fig. 4 is the operation. 5 is a time chart showing an example of another operation, and FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of waveform observation/method in the parameter tuning means 3. 1...Controlled object 2...PI control means 3...Parameter tuning means 4...Instruction means 5...Step signal generation means Fig. 1 Fig. 2 Fig. 3 Fig. 2, ', 6 Q

Claims (1)

【特許請求の範囲】 制御対象からのプロセス量と制御目標値との偏差信号に
少なくとも比例(P)、積分(I)演算を行い得られた
操作信号を前記制御対象に出力するPI制御手段と、前
記プロセス量または偏差信号の波形を観測しその観測結
果が予め設定した応答目標になるように前記PI制御手
段のP、I演算パラメータをチューニングするパラメー
タチューニング手段とを備えた調節計であつて、 外部よりチューニング動作を指示する指示手段と、この
指示手段からの信号を受けステップ状の信号を前記操作
信号に重畳するステップ信号発生手段とを設けたことを
特徴とするセルフチューニング調節計。
[Scope of Claims] PI control means for performing at least proportional (P) and integral (I) calculations on the deviation signal between the process amount from the controlled object and the control target value and outputting the obtained operation signal to the controlled object; , a controller comprising parameter tuning means for observing the waveform of the process quantity or deviation signal and tuning the P and I calculation parameters of the PI control means so that the observed result becomes a preset response target. . A self-tuning controller comprising: instruction means for externally instructing a tuning operation; and step signal generation means for receiving a signal from the instruction means and superimposing a step-like signal on the operation signal.
JP25265887A 1987-10-07 1987-10-07 Self-tuning controller Pending JPH0195301A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25265887A JPH0195301A (en) 1987-10-07 1987-10-07 Self-tuning controller

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25265887A JPH0195301A (en) 1987-10-07 1987-10-07 Self-tuning controller

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0195301A true JPH0195301A (en) 1989-04-13

Family

ID=17240420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25265887A Pending JPH0195301A (en) 1987-10-07 1987-10-07 Self-tuning controller

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0195301A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5691896A (en) * 1995-08-15 1997-11-25 Rosemount, Inc. Field based process control system with auto-tuning
US5812428A (en) * 1995-09-22 1998-09-22 Rosemount Inc. Process controller having non-integrating control function and adaptive bias
US5818714A (en) * 1996-08-01 1998-10-06 Rosemount, Inc. Process control system with asymptotic auto-tuning

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61226803A (en) * 1985-03-30 1986-10-08 Toshiba Corp Process control device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61226803A (en) * 1985-03-30 1986-10-08 Toshiba Corp Process control device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5691896A (en) * 1995-08-15 1997-11-25 Rosemount, Inc. Field based process control system with auto-tuning
US5812428A (en) * 1995-09-22 1998-09-22 Rosemount Inc. Process controller having non-integrating control function and adaptive bias
US5818714A (en) * 1996-08-01 1998-10-06 Rosemount, Inc. Process control system with asymptotic auto-tuning

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3798426A (en) Pattern evaluation method and apparatus for adaptive control
JP2882586B2 (en) Adaptive control device
JPH02188801A (en) Parameter evaluation technique for closed loop apparatus
US5251124A (en) Fuzzy controller apparatus and method for steady state control
JPH0195301A (en) Self-tuning controller
CA2297289C (en) Method for preventing windup in pid controllers employing nonlinear gain
JP2802791B2 (en) Self tuning controller
JPH0610761B2 (en) Controller
JPH08110802A (en) Pid controller
JP2643506B2 (en) Predictive controllers for industrial processes
JPS62241006A (en) Auto-tuning controller
SU1385122A1 (en) System for identification of parameters of multidimensional nonlinear dynamic object
JPS6258002B2 (en)
JPH06131001A (en) Controller
JP2760034B2 (en) Fuzzy inference device
JP2839490B2 (en) Process control equipment
JP3012713B2 (en) Waveform identification system
JP2757039B2 (en) Self tuning controller
JPH06208403A (en) Control device
JPH02273804A (en) Parameter control method for pid controller
JP2828768B2 (en) Fuzzy knowledge construction device
JPS6258001B2 (en)
JPH08314504A (en) Pid-imc interface device and imc controller
JPH0793005A (en) Controller
JPH0769722B2 (en) Self-tuning controller