JPH0178903U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0178903U JPH0178903U JP1987175704U JP17570487U JPH0178903U JP H0178903 U JPH0178903 U JP H0178903U JP 1987175704 U JP1987175704 U JP 1987175704U JP 17570487 U JP17570487 U JP 17570487U JP H0178903 U JPH0178903 U JP H0178903U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reference pin
- base
- probe
- thickness measuring
- movable toward
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
第1図は本考案の装置の一例の縦断面図、第2
図は第1図のA−A断面図、第3図は第1図に示
した装置における測定時の状態を示す図面である
。 図中1は厚さ測定装置、2は被測定物、3は基
盤、4は開孔、5は基準ピン、6はプローブ、7
は厚さ測定具、8は押えピンをそれぞれ示す。
図は第1図のA−A断面図、第3図は第1図に示
した装置における測定時の状態を示す図面である
。 図中1は厚さ測定装置、2は被測定物、3は基
盤、4は開孔、5は基準ピン、6はプローブ、7
は厚さ測定具、8は押えピンをそれぞれ示す。
Claims (1)
- 被測定物を載置する基盤と、該基盤に形成され
た開孔部と、該開孔部に出入可能に設けられてお
り、基盤から突出した位置において基準点が設定
された基準ピンと、該基準ピンと対向する位置で
、基準ピンに向つて進退可能なプローブを有する
厚さ測定具と、該プローブの両側に設けられた進
退可能な被測定物押えピンとからなる厚さ測定装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987175704U JPH0178903U (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987175704U JPH0178903U (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0178903U true JPH0178903U (ja) | 1989-05-26 |
Family
ID=31467489
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987175704U Pending JPH0178903U (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0178903U (ja) |
-
1987
- 1987-11-17 JP JP1987175704U patent/JPH0178903U/ja active Pending