JPH0170144U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0170144U JPH0170144U JP1987166082U JP16608287U JPH0170144U JP H0170144 U JPH0170144 U JP H0170144U JP 1987166082 U JP1987166082 U JP 1987166082U JP 16608287 U JP16608287 U JP 16608287U JP H0170144 U JPH0170144 U JP H0170144U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- storage unit
- stores
- measuring instrument
- light emission
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
第1図は本考案の第1の実施例を示すブロツク
図、第2図は第1図の処理部を示すブロツク図、
第3図は処理方法の具体例を示す図、第4図は第
3図のP部詳細図、第5図は本考案の第2の実施
例における処理部を示すブロツク図、第6図は従
来例を示す図、第7図は従来の処理方法の具体例
を示す図、第8図a,bは第7図のP′部の詳細
図、第9図は従来の処理部を示すブロツク図であ
る。 1……マイコン、1a……波形処理部、1b…
…記憶部、1c……整形波形記憶部、1d……処
理ソフト、1e……制御部、2……モータ、3…
…発光素子、4……受光素子。
図、第2図は第1図の処理部を示すブロツク図、
第3図は処理方法の具体例を示す図、第4図は第
3図のP部詳細図、第5図は本考案の第2の実施
例における処理部を示すブロツク図、第6図は従
来例を示す図、第7図は従来の処理方法の具体例
を示す図、第8図a,bは第7図のP′部の詳細
図、第9図は従来の処理部を示すブロツク図であ
る。 1……マイコン、1a……波形処理部、1b…
…記憶部、1c……整形波形記憶部、1d……処
理ソフト、1e……制御部、2……モータ、3…
…発光素子、4……受光素子。
Claims (1)
- 光放射角度測定器において、放射角度に対する
光強度を記憶する記憶部と、前記記憶値より最小
自乗近似を用いてモデル波形に近似する処理ソフ
トと、近似整形した波形を記憶する整形波形記憶
部と、波形の処理を行う波形処理部とを有し、整
形波形より光放射角度を算出するようにしたこと
を特徴とする光放射角度測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16608287U JPH0533948Y2 (ja) | 1987-10-29 | 1987-10-29 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16608287U JPH0533948Y2 (ja) | 1987-10-29 | 1987-10-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0170144U true JPH0170144U (ja) | 1989-05-10 |
JPH0533948Y2 JPH0533948Y2 (ja) | 1993-08-27 |
Family
ID=31453151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16608287U Expired - Lifetime JPH0533948Y2 (ja) | 1987-10-29 | 1987-10-29 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0533948Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020532742A (ja) * | 2017-09-05 | 2020-11-12 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 非接触式ツールセッティング装置のビームプロファイルを評価するための装置および方法 |
-
1987
- 1987-10-29 JP JP16608287U patent/JPH0533948Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020532742A (ja) * | 2017-09-05 | 2020-11-12 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 非接触式ツールセッティング装置のビームプロファイルを評価するための装置および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0533948Y2 (ja) | 1993-08-27 |