JPH0150999B2 - - Google Patents

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JPH0150999B2
JPH0150999B2 JP6120581A JP6120581A JPH0150999B2 JP H0150999 B2 JPH0150999 B2 JP H0150999B2 JP 6120581 A JP6120581 A JP 6120581A JP 6120581 A JP6120581 A JP 6120581A JP H0150999 B2 JPH0150999 B2 JP H0150999B2
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Japan
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circuit
data
ram
terminal
address
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JP6120581A
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Takashi Ito
Isamu Kobayashi
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Hitachi Ltd
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers

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  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、CMOS集積回路、特に比較的高電
圧で動作させられるRAM(ランダム・アクセ
ス・メモリ)の入出力端子と比較的低電圧の信号
が供給されるデータラインとを結合させるための
RAM入出力制御回路を持つCMOS集積回路に関
するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to input/output terminals of a CMOS integrated circuit, particularly a RAM (Random Access Memory) operated at a relatively high voltage, and a data line to which a relatively low voltage signal is supplied. to combine
It concerns a CMOS integrated circuit with a RAM input/output control circuit.

CMOS(Complementary Metal Oxde
Semiconductor)集積回路を使用する回路装置に
おいて、その消費電流は、実質的に、回路の種々
のノードに存在する浮遊容量、寄生容量等の容量
に流される充放電々流と、電源端子間に直列接続
されたPチヤンネルMOSFETとNチヤンネル
MOSFETとが信号の過渡期間において同時にオ
ン状態にされてしまうことによつて流されてしま
う貫通電流とによつて決められる。
CMOS (Complementary Metal Oxide)
In circuit devices that use integrated circuits (Semiconductor), the current consumption is essentially the charging and discharging current flowing through stray capacitances, parasitic capacitances, etc. that exist at various nodes of the circuit, and the current flowing in series between the power supply terminals. Connected P-channel MOSFET and N-channel
It is determined by the through current that flows when the MOSFETs are simultaneously turned on during the signal transition period.

上記充放電々流に基づく消費電流と貫通電流に
基づく消費電流とは、いずれも電源電圧を低下さ
せることによつて減少させることができる。
Both the current consumption based on the charging/discharging current and the current consumption based on the through current can be reduced by lowering the power supply voltage.

そこで、電子式時計や電子式卓上計算機のよう
な回路装置において、その消費電力ご減少させる
ために、例えば集積回路(IC)の内部回路を低
電源電圧で動作させることを考えることができ
る。
Therefore, in order to reduce the power consumption of circuit devices such as electronic watches and electronic desk calculators, it is possible to consider, for example, operating the internal circuits of integrated circuits (ICs) at a low power supply voltage.

第8図には、低消費電力にすることができる
ICのブロツクが示されている。同図において、
1は論理回路、2は上記論理回路1によつてアド
レスが指定されるRAM(ランダム・アクセス・
メモリ)、5は液晶表示装置(図示しない)を駆
動するための表示駆動回路、6は上記RAM2か
ら出力される表示データをレベル変換して上記表
示駆動回路5の入力端子に供給するためのレベル
変換回路である。なお、上記RAM2は、メモリ
アレイ及びアドレスデコーダ等を含む回路3と入
出力回路4とから構成されている。
Figure 8 shows that it is possible to reduce power consumption.
A block of IC is shown. In the same figure,
1 is a logic circuit, and 2 is a RAM (random access) whose address is specified by the logic circuit 1 above.
5 is a display drive circuit for driving a liquid crystal display device (not shown); 6 is a level converter for level-converting the display data output from the RAM 2 and supplying it to the input terminal of the display drive circuit 5; It is a conversion circuit. Note that the RAM 2 is composed of a circuit 3 including a memory array, an address decoder, etc., and an input/output circuit 4.

上記回路1ないし3は、例えば1.5ボルトのよ
うな比較的低い電源電圧で動作させられる。これ
に対して、表示駆動回路5は、液晶表示装置によ
つて必要とされる信号レベルに応じて例えば3ボ
ルトのような比較的高い電源電圧で動作させられ
る。レベル変換回路6は、RAM2から出力され
る1.5ボルト系の信号を3ボルト系の信号に変換
するために上記表示駆動回路と同じ電源電圧で動
作させられる。
The circuits 1 to 3 described above are operated with relatively low supply voltages, such as 1.5 volts. In contrast, the display drive circuit 5 is operated at a relatively high supply voltage, for example 3 volts, depending on the signal level required by the liquid crystal display. The level conversion circuit 6 is operated at the same power supply voltage as the display drive circuit in order to convert the 1.5 volt signal outputted from the RAM 2 into a 3 volt signal.

第8図において、ICの内部回路1は、その電
源電圧が低いことによつて低消費電力である。
In FIG. 8, the internal circuit 1 of the IC has low power consumption due to its low power supply voltage.

しかしながら、第8図においては、レベル変換
回路5における単位回路を液晶表示装置の端子数
に対応したような数にしなければならない。上記
単位回路の数を著るしく増加させなければならな
いことによつて、ICの回路素子が著るしく増加
してしまう。
However, in FIG. 8, the number of unit circuits in the level conversion circuit 5 must correspond to the number of terminals of the liquid crystal display device. By significantly increasing the number of unit circuits, the number of circuit elements of the IC increases significantly.

これに対し、上記RAM2を比較的高い電源電
圧で動作させることができれば、上記レベル変換
回路6を省略することができるようになり、その
結果として回路素子数を減少させることができる
ようになる。しかしながら、この場合、低電圧系
の信号が供給されるデータバスDBSとRAM2の
入出力端子とを結合させなければならない。これ
に応じて、双方向動作のレベル変換回路が必要と
される。
On the other hand, if the RAM 2 can be operated at a relatively high power supply voltage, the level conversion circuit 6 can be omitted, and as a result, the number of circuit elements can be reduced. However, in this case, the data bus DBS to which low-voltage signals are supplied must be coupled to the input/output terminals of the RAM2. Accordingly, level conversion circuits with bidirectional operation are required.

従つて、この発明の目的は、レベル変換機能を
持つ、回路素子数の少ないCMOS集積回路を提
供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a CMOS integrated circuit having a level conversion function and having a small number of circuit elements.

この発明の他の目的は、低消費電力のCMOS
集積回路を提供することにある。
Another object of this invention is to provide a low power consumption CMOS
Its purpose is to provide integrated circuits.

この発明の他の目的は、RAMの低消費電力の
入出力回路を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a low power consumption input/output circuit for RAM.

以下実施例により本発明を詳細に説明する。 The present invention will be explained in detail below with reference to Examples.

第1図は、本発明の一実施例の回路構成図であ
る。
FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention.

同図において、1は論理回路、2はRAM、5
は表示駆動回路、6aないし6nはレベル変換回
路、7は電源回路、8は液晶表示装置である。図
示の回路1,2,5,6aないし6n及び7のた
めの各種の回路素子は、公知のCMOS集積回路
技術によつて、1つの半導体基板上に形成され
る。
In the figure, 1 is a logic circuit, 2 is a RAM, and 5 is a logic circuit.
6 is a display drive circuit, 6a to 6n are level conversion circuits, 7 is a power supply circuit, and 8 is a liquid crystal display device. The various circuit elements for the illustrated circuits 1, 2, 5, 6a to 6n and 7 are formed on one semiconductor substrate by known CMOS integrated circuit technology.

電源回路7は、電池Eから出力される電圧VS
を受けることによつて、比較的低い電圧VSS1、比
較的高い電圧VSS2及び表示駆動回路5によつて必
要とされる各種のレベルの電圧を出力する。この
電源回路7は、コンデンサの充電々圧を利用する
昇圧又は降圧回路のような回路によつて構成され
ることによつて、比較的低消費電力にすることが
できる。
The power supply circuit 7 receives the voltage V S output from the battery E.
It outputs a relatively low voltage V SS1 , a relatively high voltage V SS2 , and various levels of voltage required by the display drive circuit 5 by receiving the voltage V SS1 . This power supply circuit 7 can have relatively low power consumption by being configured with a circuit such as a step-up or step-down circuit that utilizes the charging voltage of a capacitor.

上記論理回路1は、上記電源回路7から出力さ
れる低い電源電圧VSS1によつて動作させられ、上
記RAM2は、高い電源電圧VSS2によつて動作さ
せられる。
The logic circuit 1 is operated by a low power supply voltage V SS1 output from the power supply circuit 7, and the RAM 2 is operated by a high power supply voltage V SS2 .

上記論理回路1は、アドレスバスABSに結合
された複数のアドレス端子、4ビツト構成にされ
たデータバスDBSに結合されたデータ入出力端
子、及びRAM2のデータ入出力動作を制御する
ための制御端子を持つている。
The logic circuit 1 has a plurality of address terminals coupled to an address bus ABS, a data input/output terminal coupled to a data bus DBS having a 4-bit configuration, and a control terminal for controlling data input/output operations of the RAM 2. have.

上記論理回路1から出力されるVSS1系の、すな
わち1.5ボルト系のアドレス信号は、それぞれレ
ベル変換回路6aないし6kによつてVSS2系のす
なわち3ボルト系のアドレス信号に変換された上
で上記RAM2に供給される。
The V SS1 system, that is, 1.5 volt system address signal outputted from the logic circuit 1 is converted into the V SS2 system, that is, 3 volt system address signal by the level conversion circuits 6a to 6k, and then Supplied to RAM2.

また、読み出し制御信号aは上記RAM2に直
接に供給され、書き込み制御信号a′はレベル変換
回路6によつて3レベル系の信号a,に変換さ
れた上で上記RAM2に供給される。
Further, the read control signal a is directly supplied to the RAM 2, and the write control signal a' is converted by the level conversion circuit 6 into a three-level signal a, and then supplied to the RAM 2.

上記RAM2は、メモリアレイ及びアドレスデ
コーダ等から構成された回路3と入出力回路4と
から構成されている。
The RAM 2 is composed of a circuit 3 composed of a memory array, an address decoder, etc., and an input/output circuit 4.

特に制限されないが、上記回路3は、読み出し
専用のアドレス端子AaないしAiと、データ入出
力用のアドレス端子AlないしAkを持つ構成とさ
れる。
Although not particularly limited, the circuit 3 is configured to have read-only address terminals Aa to Ai and address terminals Al to Ak for data input/output.

後述する第4図の具体的回路例によつて更によ
く理解されるが、上記データ入出力用のアドレス
端子AlないしAkに加えられるアドレス信号によ
つてメモリアレイ内の4ビツト1組のメモリセル
が選択されるようにされる。この4ビツト1組の
メモリセルは、入出力回路4における単位回路4
1ないし44にそれぞれ結合される。
As will be better understood from the specific circuit example shown in FIG. 4, which will be described later, one set of 4-bit memory cells in the memory array is controlled by the address signal applied to the data input/output address terminals Al to Ak. is selected. This 4-bit set of memory cells serves as a unit circuit 4 in the input/output circuit 4.
1 to 44, respectively.

上記読み出し専用のアドレス端子AaないしAi
に加えられるアドレス信号によつてメモリアレイ
の行列配置される複数のメモリセルの内の一つの
行のメモリセルが同時に選択される。この一つの
行の複数のメモリセルのデータは、表示駆動回路
5に供給される。
The above read-only address terminals Aa or Ai
Memory cells in one row of a plurality of memory cells arranged in rows and columns of the memory array are simultaneously selected by address signals applied to the address signals. The data of the plurality of memory cells in one row is supplied to the display drive circuit 5.

入出力回路4は、レベル変換機能を持つように
される。
The input/output circuit 4 is configured to have a level conversion function.

これによつて、論理回路1から出力されるデー
タ信号はデータバスDBSを介してRAM2に書き
込むことができるようになり、また論理回路1に
よつて演算処理すべき種々のデータをRAM2か
ら上記データバスDBSに供給することができる
ようになる。更に上記データの書き込み及び読み
出し動作と独立に、表示すべきデータを上記
RAM2から出力させることができるようにな
る。
As a result, the data signal output from the logic circuit 1 can be written to the RAM 2 via the data bus DBS, and various data to be processed by the logic circuit 1 can be transferred from the RAM 2 to the above data. The bus will be able to supply DBS. Furthermore, the data to be displayed is
It becomes possible to output from RAM2.

表示駆動回路5は、一方において上記RAM2
からVSS2系の表示データ信号を受け、他方におい
て電源回路7から多値の電圧を受けることによつ
て、液晶表示装置8を駆動するため駆動信号を出
力する。
The display drive circuit 5 is connected to the RAM 2 on the one hand.
By receiving a V SS2 system display data signal from the power supply circuit 7 and a multi-value voltage from the power supply circuit 7, a drive signal is outputted to drive the liquid crystal display device 8.

液晶表示装置8は、特に制限されないが日字状
に配置された複数の表示セグメントによつて数字
の1桁を表示させるような構成とされている。
The liquid crystal display device 8 is configured to display one digit of a number using a plurality of display segments arranged in a diagonal pattern, although this is not particularly limited.

第2図には、第1図のレベル変換回路6aない
し6nの具体的回路例が示されている。レベル変
換回路は、図示のようにnチヤンネル
MOSFETQ1、Q2、PチヤンネルMOSFEQ2、Q4
及び低電源電圧VSS1によつて動作させられるイン
バータ回路IVから構成されている。インバータ
回路IVは、第3図のように相補型MOSFETQ5
Q6から構成される。
FIG. 2 shows a specific circuit example of the level conversion circuits 6a to 6n in FIG. 1. The level conversion circuit is an n-channel as shown in the diagram.
MOSFETQ 1 , Q 2 , P channel MOSFEQ 2 , Q 4
and an inverter circuit IV operated by a low power supply voltage V SS1 . The inverter circuit IV consists of complementary MOSFETQ 5 as shown in Figure 3.
Consists of Q6 .

上記レベル変換回路において、MOSFETQ1
Q2の相互、及びQ3とQ4の相互は図示のような回
路接続によつてそれぞれ相補的にスイツチ動作さ
せられる。その結果、入力端子INに供給される
VSS1系の信号に応じて、出力端子OUTには上記
入力端子の信号と同相でありかつVSS2系に変換さ
れた信号が出力される。出力端子には、
VSS2系の逆相の信号が出力される。
In the above level conversion circuit, MOSFETQ 1 and
Q 2 and Q 3 and Q 4 are mutually switched in a complementary manner by circuit connections as shown. As a result, the
In response to the V SS1 system signal, a signal that is in phase with the signal at the input terminal and converted to the V SS2 system is output to the output terminal OUT. The output terminal has
V The opposite phase signal of the SS2 system is output.

なお、例えば第3図のインバータ回路の電源端
子に電圧VSS2を供給するようにし、しかも
MOSFETQ5とQ6の大きさを適当に設定すること
によつて、このインバータ回路からVSS2系の信号
を出力させることができる。しかしながら、この
場合、入力信号の最大値がVSS1系の値に制限され
るので、MOSFETQ5を完全にオフ状態にさせる
ことができなくなつてくる。その結果、入力信号
がVSS1レベルのとき直列接続のMOSFETQ5とQ6
が同時にオン状態とされ、電源端子間に無駄な電
流を流させるような電流通路が構成される。その
ため、低消費電力であるというCMOS回路の利
点を生かせなくなつてくる。
For example, the voltage V SS2 is supplied to the power supply terminal of the inverter circuit shown in Fig. 3, and
By appropriately setting the sizes of MOSFETs Q5 and Q6 , it is possible to output a V SS2 system signal from this inverter circuit. However, in this case, since the maximum value of the input signal is limited to the value of the V SS1 system, it becomes impossible to completely turn off MOSFET Q5 . As a result, when the input signal is at V SS1 level, the series connected MOSFETs Q 5 and Q 6
are turned on at the same time, forming a current path that causes unnecessary current to flow between the power supply terminals. As a result, it becomes impossible to take advantage of the CMOS circuit's advantage of low power consumption.

第4図には、RAM2における回路3の具体的
回路例が示されている。同図において、MS1ない
しMSoはメモリセルであり、図示のようにフリツ
プフロツプ回路を構成するMOSFETQ7ないし
Q10、伝送ゲートMOSFETQ11、Q12、及びクロ
ツクドインバータ回路CI4から構成されている。
FIG. 4 shows a specific circuit example of the circuit 3 in the RAM 2. In the figure, MS 1 to MS o are memory cells, and MOSFETQ 7 to MOSFET Q 7 to constitute a flip-flop circuit as shown in the figure.
Q 10 , transmission gate MOSFETs Q 11 and Q 12 , and a clocked inverter circuit CI 4 .

同一行に配置されたメモリセルMS1ないしMSo
におけるクロツクドインバータ回路CI4のクロツ
ク入力端子は読み出し用ワード線WH1に共通接続
され、また伝送ゲートMOSFETQ11、Q12のゲー
トは、入出力用ワード線WL1に共通接続されてい
る。
Memory cells MS 1 to MS o arranged in the same row
The clock input terminals of the clocked inverter circuit CI 4 are commonly connected to the read word line W H1 , and the gates of the transmission gate MOSFETs Q 11 and Q 12 are commonly connected to the input/output word line W L1 .

1つのメモリセル例えばS1及びそれと同一列に
配置された図示しないメモリセルは、その入出力
端子がデータ線D10、D11に共通接続され、また
そのクロツクドインバータ回路の出力端子が共通
接続されている。
One memory cell, for example S1 , and a memory cell (not shown) placed in the same column as it, have their input/output terminals commonly connected to the data lines D10 and D11 , and the output terminals of their clocked inverter circuits are commonly connected. It is connected.

各データ線D10ないしDo1は、それぞれカラム
スイツチ用MOSFETQ13ないしQ16を介して共通
データ線CD0、CD1に結合されている。
Each data line D 10 to D o1 is coupled to common data lines CD 0 and CD 1 via column switch MOSFETs Q 13 to Q 16 , respectively.

上記共通データ線CD0及びCD1は、入出力回路
10を介して入出力端子I/Oに結合されてい
る。
The common data lines CD 0 and CD 1 are coupled to the input/output terminal I/O via the input/output circuit 10 .

読み出し用ワード線WH1ないしWHnを駆動する
ためにアドレスデコーダ回路DEC1が設けられ、
また入出力ワード線WL1ないしWLn及びカラムス
イツチ用MOSFETを駆動するためにアドレスデ
コーダ回路DEC2が設けられている。
An address decoder circuit DEC 1 is provided to drive the read word lines W H1 to W Hn ,
Further, an address decoder circuit DEC2 is provided to drive input/output word lines W L1 to W Ln and column switch MOSFETs.

上記各列のメモリセルにおけるクロツクドイン
バータ回路の共通接続された出力端子は、第1図
の表示駆動回路5の入力端子に結合され、入出力
端子I/Oは、入出力回路4に結合される。
The commonly connected output terminals of the clocked inverter circuits in the memory cells in each column are coupled to the input terminals of the display drive circuit 5 shown in FIG. 1, and the input/output terminals I/O are coupled to the input/output circuit 4. be done.

第5図には、第1図の入出力回路4における1
つの単位回路41の具体的回路図が示されてい
る。
In FIG. 5, 1 in the input/output circuit 4 of FIG.
A specific circuit diagram of one unit circuit 41 is shown.

同図において、41aは書き込み用書き込み制
御回路である。この書き込み制御回路41aは、
直列接続されたクロツクドインバータ(clocked
inverter)回路CI2及びCI3から構成されている。
上記クロツクドインバータ回路には、高電源電圧
VSS2及びクロツク信号としてレベル変換回路6n
によつてVSS2系レベルに変換された書き込み用信
号bが供給される。41cは読み出し用クロツク
ドインバータ回路、41bはレベル変換回路であ
る。
In the figure, 41a is a write control circuit for writing. This write control circuit 41a is
Clocked inverters connected in series
inverter) circuits CI 2 and CI 3 .
The above clocked inverter circuit requires high power supply voltage.
Level conversion circuit 6n as V SS2 and clock signal
The write signal b converted to the V SS2 level by is supplied. 41c is a clocked inverter circuit for reading, and 41b is a level conversion circuit.

上記レベル変換回路41bは、図示のように直
列接続されたnチヤンネルMOSFET5A、pチ
ヤンネルMOSFET5B及び5Cから構成されて
いる。上記MOSFET5A及び5Cのゲートは書
き込み信号入力端子に接続されている。前記
MOSFET5BのゲートはデータバスDBSに接続
されている。読み出し用クロツクドインバータ回
路41cは、RAM2における回路3の入出力端
子I/OとバスDBSの間に書き込み用書き込み
用制御回路41aと並列に接続されている。また
前記書き込み用書き込み用制御回路41bは入出
力端子I/Oとレベル変換器41bのMOSFET
5AとMOSFET5Bの共通接続点Aに接続され
ている。なお、上記点Aには回路の浮遊容量及び
寄生容量等によつて実質的に構成されるコンデン
サ6が配設されている。第6図には、クロツクド
インバータ回路の具体的回路例が示されている。
The level conversion circuit 41b is composed of an n-channel MOSFET 5A and p-channel MOSFETs 5B and 5C connected in series as shown. The gates of the MOSFETs 5A and 5C are connected to a write signal input terminal. Said
The gate of MOSFET5B is connected to the data bus DBS. The read clocked inverter circuit 41c is connected in parallel with the write control circuit 41a between the input/output terminal I/O of the circuit 3 in the RAM 2 and the bus DBS. Furthermore, the write control circuit 41b for writing includes MOSFETs for the input/output terminal I/O and the level converter 41b.
It is connected to the common connection point A of MOSFET 5A and MOSFET 5B. Note that a capacitor 6 substantially constituted by stray capacitance, parasitic capacitance, etc. of the circuit is disposed at the point A. FIG. 6 shows a specific example of a clocked inverter circuit.

第7図は、上記第5図の回路の動作を説明する
ためのタイムチヤートであり、aは読み出し制御
信号、bは書き込み制御信号、cは書き込み制御
回路5の点Aの電位波形、dは入力データの波形
である。
FIG. 7 is a time chart for explaining the operation of the circuit shown in FIG. 5, in which a is a read control signal, b is a write control signal, c is a potential waveform at point A of the write control circuit 5, and d is a This is the waveform of input data.

次に、第5図の回路の動作を説明する。 Next, the operation of the circuit shown in FIG. 5 will be explained.

第5図において、データをRAM2に書き込む
場合は、書き込み信号が入力端子5Dに入力さ
れる。その信号が第7図のイのようにハイ(H)
レベルのとき、MOSFET5Aはオン、PMOS5
Cはオフ状態となる。従つてコンデンサ6が電源
VSS2にまで充電される。
In FIG. 5, when writing data to the RAM 2, a write signal is input to the input terminal 5D. The signal is high (H) as shown in Figure 7.
When level, MOSFET5A is on, PMOS5
C is turned off. Therefore, capacitor 6 is the power source.
Charged to V SS2 .

次に、第7図bのロのようにロウレベルにされ
ると、これに応じてMOSFET5Aがオフ状態に
され、MOFET5Cがオン状態にされる。このと
き、データバスDBSにおけるデータ信号が代7
図dに示されるようにロウレベルであれば、
MOSFET5Bもオン状態にされていることにな
る。その結果、コンデンサ6の充電々荷が放電さ
せられ、A点の電位はほゞ0ボルトのハイレベル
にされる。クロツクドインバータ回路CI2及びCI3
は、第6図のような構成にされているとによつ
て、制御信号bがハイレベルにされるとそれにお
けるMOSFETQ18及びQ19がオン状態にされる。
そのため、上記A点におけるハイレベル信号が書
き込み用制御回路41aを介して入出力端子I/
Oに供給されることになる。
Next, when the MOSFET 5A is set to a low level as shown in FIG. 7B (b), the MOSFET 5A is turned off and the MOFET 5C is turned on. At this time, the data signal on the data bus DBS is
If it is low level as shown in figure d,
This means that MOSFET 5B is also turned on. As a result, the charge in the capacitor 6 is discharged, and the potential at point A is brought to a high level of approximately 0 volts. Clocked inverter circuits CI 2 and CI 3
is configured as shown in FIG. 6, so that when the control signal b is set to high level, MOSFETs Q18 and Q19 are turned on.
Therefore, the high level signal at the point A is transmitted to the input/output terminal I/O via the write control circuit 41a.
It will be supplied to O.

上記とは逆に、データバスDBSにおけるデー
タ信号がハイレベルであれば、MOSFET5Bは
オフ状態に維持され、これに応じて、A点の電位
はコンデンサ6によつてVSS2のロウレベルに維持
される。従つて、入出力端子I/Oには、制御回
路41aからロウレベルの信号が供給される。
Contrary to the above, if the data signal on the data bus DBS is at a high level, MOSFET 5B is maintained in the off state, and accordingly, the potential at point A is maintained at the low level of V SS2 by the capacitor 6. . Therefore, a low level signal is supplied to the input/output terminal I/O from the control circuit 41a.

その結果、RAM2内のメモリセルには、上記
データバスDBSにおけるデータ信号レベルに対
応されたデータが書き込まれることになる。
As a result, data corresponding to the data signal level on the data bus DBS is written into the memory cells in the RAM 2.

読み出し制御信号aが第7図aに示されたよう
にハイレベルにされると、クロツクドインバータ
回路41cが動作状態にされる。その結果、メモ
リセルから入出力端子I/Oに供給されたデータ
信号は上記クロツクドインバータ回路41cを介
して、データバスDBSに供給されることになる。
なお、クロツクドインバータ回路41cにおい
て、第6図のMOSFETQ17及びQ20に対応される
ようなMOSFETは、入出力端子I/Oに供給さ
れる信号がVSS2系のレベルであるので、充分に相
補的にスイツチ動作する。また第6図の
MOSFETQ18、Q19に対応するようなMOSFET
は、電源電圧がVSS1であるので、VSS1系のレベル
の読み出し制御信号によつて充分にスイツチ動作
する。
When the read control signal a is set to a high level as shown in FIG. 7a, the clocked inverter circuit 41c is activated. As a result, the data signal supplied from the memory cell to the input/output terminal I/O is supplied to the data bus DBS via the clocked inverter circuit 41c.
In the clocked inverter circuit 41c, MOSFETs such as those corresponding to MOSFETs Q17 and Q20 in FIG . The switch operates in a complementary manner. Also, in Figure 6
MOSFETs such as those compatible with MOSFETQ 18 and Q 19
Since the power supply voltage is V SS1 , the switching operation is sufficiently performed by the read control signal at the level of the V SS1 system.

以上、説明したように、本発明によれば、
RAMのデータ送出側のレベル変換器を除去し、
RAMのデータ入出力側に、書き込み時にはレベ
ル変換器を介してデータレベルを上げて書き込
み、読み出し時にはクロツクドインバータを介し
てデータレベルを下げて読み出すようにしたの
で、RAMを小型にし、大きい電源を必要とする
配線の本数を少くすることができる。その結果、
電源を小さくすることができる。
As explained above, according to the present invention,
Remove the level converter on the data sending side of RAM,
On the data input/output side of the RAM, when writing, the data level is increased through a level converter and when it is written, the data level is lowered and read out through a clocked inverter. The number of wires required can be reduced. the result,
The power supply can be made smaller.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明の実施例の回路ブロツク
図、第2図はレベル変換回路の回路図、第3図は
インバータ回路の回路図、第4図はRAMの回路
図、第5図は入出力端子の回路図、第6図はクロ
ツクドインバータ回路の回路図、第7図は第6図
の回路の動作を説明するためのタイミングチヤー
ト図、第8図はICの回路ブロツク図である。 2…RAM、3…書き込み制御回路、VSS2…書
き込み制御回路の電源、CI1〜CI3…クロツクドイ
ンバータ、DBS…バス、41b…レベル変換回
路、5B,5C…PMOS、VSS2…レベル変換器の
電源。
Fig. 1 is a circuit block diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a circuit diagram of a level conversion circuit, Fig. 3 is a circuit diagram of an inverter circuit, Fig. 4 is a circuit diagram of a RAM, and Fig. 5 is a circuit diagram of an input circuit. Figure 6 is a circuit diagram of the output terminal, Figure 6 is a circuit diagram of a clocked inverter circuit, Figure 7 is a timing chart for explaining the operation of the circuit in Figure 6, and Figure 8 is a circuit block diagram of the IC. . 2...RAM, 3...Write control circuit, V SS2 ...Write control circuit power supply, CI 1 to CI 3 ...Clocked inverter, DBS...Bus, 41b...Level conversion circuit, 5B, 5C...PMOS, V SS2 ...Level Transducer power supply.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 比較的少数の第1データ端子とアドレス端子
と比較的多数の第2データ端子とを有し比較的高
電圧で動作されるRAMと、比較的低電圧で動作
される論理回路と、上記論理回路から出力され低
電圧系のアドレス信号を上記アドレス端子に供給
する高電圧系のアドレス信号に変換する複数の第
1CMOSレベル変換回路と、上記論理回路から出
力される低電圧系のデータ信号を上記第1データ
端子に供給する高電圧系のデータ信号に変換する
複数の第2CMOSレベル変換回路と、上記第1デ
ータ端子のデータ信号を上記論理回路に供給する
信号供給回路とからなることを特徴とする
CMOS集積回路。 2 上記アドレス端子は、上記第1データ端子と
上記RAMにおけるメモリセルとを結合せしめる
ための第1アドレス端子と、上記第2データ端子
と上記RAMにおけるメモリセルとを結合せしめ
るための第2アドレス端子からなることを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載のCMOS集積回
路。 3 上記第2データ端子は、比較的高電圧で動作
される標示駆動回路の入力端子に直接結合されて
なることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載
のCMOS集積回路。 4 上記信号供給回路は、CMOS構成のクロツ
クドインバータからなることを特徴とする特許請
求の範囲第1項ないし第3項のうちの1に記載の
記載のCMOS集積回路。
[Claims] 1. A RAM that has a relatively small number of first data terminals and address terminals and a relatively large number of second data terminals and is operated at a relatively high voltage, and a RAM that is operated at a relatively low voltage. a logic circuit; and a plurality of circuits that convert a low-voltage address signal output from the logic circuit into a high-voltage address signal to be supplied to the address terminal.
a CMOS level conversion circuit; a plurality of second CMOS level conversion circuits that convert low voltage data signals output from the logic circuit into high voltage data signals supplied to the first data terminal; and a signal supply circuit that supplies the data signal of the terminal to the logic circuit.
CMOS integrated circuit. 2 The address terminals include a first address terminal for coupling the first data terminal and a memory cell in the RAM, and a second address terminal for coupling the second data terminal and a memory cell in the RAM. A CMOS integrated circuit according to claim 1, characterized in that the CMOS integrated circuit comprises: 3. The CMOS integrated circuit of claim 2, wherein the second data terminal is directly coupled to an input terminal of a sign drive circuit operated at a relatively high voltage. 4. The CMOS integrated circuit according to claim 1, wherein the signal supply circuit comprises a clocked inverter having a CMOS configuration.
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