JPH0140038Y2 - - Google Patents

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JPH0140038Y2
JPH0140038Y2 JP2435682U JP2435682U JPH0140038Y2 JP H0140038 Y2 JPH0140038 Y2 JP H0140038Y2 JP 2435682 U JP2435682 U JP 2435682U JP 2435682 U JP2435682 U JP 2435682U JP H0140038 Y2 JPH0140038 Y2 JP H0140038Y2
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JP
Japan
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sample gas
gas
line
gas detection
air
Prior art date
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JP2435682U
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Japanese (ja)
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JPS58127355U (en
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は半導体式ガス検知装置に係り、詳しく
は半導体式ガス検知素子が可燃性ガス中に於いて
出力する出力信号によりガス濃度を検出する装置
に係るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor gas detection device, and more particularly to a device for detecting gas concentration in combustible gas based on an output signal output by a semiconductor gas detection element.

従来のガス検知装置においては、電気式ポンプ
によりサンプルガスを直接吸引して測定するもの
と、特開昭52−63398にみられるように半導体式
のガス検知素子を用い、圧搾空気をノズルから噴
出させ、この噴出エネルギーによりサンプルガス
を吸引するものとがある。
Conventional gas detection devices use electric pumps to directly draw in the sample gas for measurement, while others use semiconductor-type gas detection elements as seen in JP-A-52-63398 and eject compressed air from a nozzle. There are some types that use this ejection energy to suck the sample gas.

本考案は後者の圧搾空気を用いてサンプルガス
を吸引するサンプリング方式を採用したガス検知
装置の改良に関するものである。
The present invention relates to an improvement of a gas detection device that employs the latter sampling method of sucking a sample gas using compressed air.

すなわち、前記特開昭52−63398にみられるよ
うなサンプリング方式はサンプルガスの吸引に電
源を用いないという点に於いて効果的であるが、
半導体式のガス検知素子を用いてガス濃度を検出
すると、低濃度に対しても敏感に反応するため、
通常ガス雰囲気となりやすい箇所においては許容
範囲内の数値に対しても警報を発してしまう欠点
がある。又、半導体式のガス検知素子はサンプル
ガスの湿度に対して出力変化をおこす性質があ
る。
That is, the sampling method as seen in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 52-63398 is effective in that it does not use a power source to suck the sample gas, but
When detecting gas concentration using a semiconductor gas detection element, it reacts sensitively even to low concentrations.
Normally, in places where gas atmospheres are likely to occur, there is a drawback that an alarm is issued even for values within the permissible range. Further, the semiconductor type gas detection element has a property of causing an output change depending on the humidity of the sample gas.

本考案は斯かる点に鑑みて提案されるもので、
その目的の第1はサンプルガスを希釈用空気によ
り希釈化して低濃度サンプルガスの場合には反応
させないようにすることである。更に第2の目的
は上記希釈空気に除湿した乾燥空気を使用するこ
とによりサンプルガスの湿度を調整して湿度変化
による出力変化を最小限に抑制することである。
更に併せて、半導体センサーでは大きな出力変化
が得られないパーセントオーダーのガスを希釈し
てPPMオーダーとしてより大きな出力変化をお
こさせることにより警報設定点の安定化を図るこ
とである。
This invention is proposed in view of these points,
The first purpose is to dilute the sample gas with dilution air so that it will not react in the case of a low concentration sample gas. A second purpose is to adjust the humidity of the sample gas by using dehumidified dry air as the dilution air, thereby minimizing output changes due to changes in humidity.
In addition, the alarm set point can be stabilized by diluting the gas in the percent order, for which a large change in output cannot be obtained with a semiconductor sensor, and causing a larger change in output in the PPM order.

以下に本考案の構成を詳記すると、その構成要
旨は除湿器から出た計測用空気をエゼクタを介し
て排出する計測用空気ラインaと、サンプルガス
吸入部及びフイルタ並びに流量計を介して半導体
式ガス検知部に至り、更に前記計測用空気ライン
a内の負圧部に接続されたサンプルガスラインb
と、前記除湿器から出た計測用空気の一部を回収
し、この回収した計測用空気を流量計を介して前
記ガス検知部に入るサンプルガスに混合する希釈
用空気ラインcと、から成り、添付図面は実施例
を示したものである。
The configuration of the present invention will be described in detail below.The gist of the configuration is a measurement air line a that discharges measurement air from a dehumidifier via an ejector, a sample gas intake section, a filter, and a semiconductor via a flowmeter. a sample gas line b that reaches the formula gas detection section and is further connected to the negative pressure section in the measurement air line a;
and a dilution air line c that collects a portion of the measurement air discharged from the dehumidifier and mixes the collected measurement air with the sample gas entering the gas detection section via the flowmeter. , the accompanying drawings show examples.

図に於いて、aは計測用空気ラインを示し、こ
の空気ラインaには空気乾燥(除湿)用の除湿器
1とエゼクタ2が挿入してあり、計測用空気は圧
搾されて除湿器1、エゼクタ2に至り、そそして
排気される。
In the figure, a indicates an air line for measurement, and a dehumidifier 1 and an ejector 2 for air drying (dehumidification) are inserted into this air line a, and the air for measurement is compressed. It reaches the ejector 2 and is then exhausted.

bはサンプルガスラインにして、この先端には
サンプルガス吸入部3が、そして中間にはフイル
タ4、流量計5、半導体式のガス検知素子を内蔵
したガス検知部6が挿入され、終端は前記エゼク
タ2の負圧部に接続されている。
b is a sample gas line, and a sample gas suction part 3 is inserted at the tip of this line, a gas detection part 6 containing a filter 4, a flowmeter 5, and a semiconductor type gas detection element is inserted in the middle, and the end is the same as above. It is connected to the negative pressure section of the ejector 2.

cは希釈用空気ラインにして、この希釈用空気
ラインcは前記計測用空気ラインa内を流れる除
湿空気の一部を取り出し、これを流量計7を介し
てサンプルガスラインbにおいてガス検知部6に
入るサンプルガス中に混合し、サンプルガスを希
釈化するもので、希釈濃度は流量計5,7により
夫々監視されている。
c is a dilution air line, and this dilution air line c takes out a part of the dehumidified air flowing in the measurement air line a, and sends it to the sample gas line b via the flowmeter 7 to the gas detection unit 6. It is mixed into the sample gas entering the sample gas to dilute the sample gas, and the diluted concentration is monitored by flow meters 5 and 7, respectively.

本考案は以上の如き構成から成り、計測用空気
ラインaに対しては圧搾空気が供給され、この圧
搾空気は除湿器1に於いて除湿され、ラインaを
介してエゼクタ2を通り排気される。この圧搾空
気の流れにより、エゼクタ2内の負圧部に負圧作
用が起き、ここに接続されたサンプルガスライン
bの吸入部3からサンプルガスを吸引する。吸引
されたサンプルガスはフイルタ4を通り、流量計
5を介し、ガス検知部6に至る。そして、このガ
ス検知部6に至る前に希釈空気ラインcを介して
送り込まれた除湿した希釈空気と混合する。
The present invention has the above-mentioned configuration. Compressed air is supplied to the measurement air line a, and this compressed air is dehumidified in the dehumidifier 1 and exhausted through the ejector 2 via the line a. . This flow of compressed air causes a negative pressure effect on the negative pressure section within the ejector 2, and the sample gas is sucked from the suction section 3 of the sample gas line b connected thereto. The sucked sample gas passes through a filter 4, a flowmeter 5, and a gas detection section 6. Then, before reaching the gas detection unit 6, it is mixed with dehumidified diluted air sent through the diluted air line c.

以上の作用によりガス検知部6においては希釈
されたサンプルガスを基にその濃度を測定するも
ので、本考案によれば次の如き効果を期待するこ
とができる。
Due to the above-described operation, the gas detection section 6 measures the concentration of the diluted sample gas, and according to the present invention, the following effects can be expected.

除湿された希釈用空気によりサンプルガスの
濃度を希釈するので、この希釈化率により反応
点をPPMからLELレベルまで任意に設定する
ことができると共に反応(警報)の安定化を図
ることができる。
Since the concentration of the sample gas is diluted with the dehumidified dilution air, the reaction point can be arbitrarily set from the PPM to the LEL level depending on the dilution rate, and the reaction (alarm) can be stabilized.

除湿された希釈用空気によりサンプルガスの
温度、湿度を調整し、安定させることができる
ので、サンプルガスの温度、湿度にそれ程影響
されない検知ができる。
Since the temperature and humidity of the sample gas can be adjusted and stabilized using the dehumidified dilution air, detection can be performed that is not significantly affected by the temperature and humidity of the sample gas.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図は本考案を実施したガス検知装置の概略系統
図である。 a……計測用空気ライン、b……サンプルガス
ライン、c……希釈用空気ライン、1……除湿
器、2……エゼクタ、3……吸入部、4……フイ
ルタ、6……ガス検知部。
The figure is a schematic system diagram of a gas detection device implementing the present invention. a...Measurement air line, b...Sample gas line, c...Dilution air line, 1...Dehumidifier, 2...Ejector, 3...Suction part, 4...Filter, 6...Gas detection Department.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 除湿器から出た計測用空気をエゼクタを介して
排出する計測用空気ラインaと、 サンプルガス吸入部及びフイルタ並びに流量計
を介して半導体式ガス検知部に至り、更に前記計
測用空気ラインa内の負圧部に接続されたサンプ
ルガスラインbと、 前記除湿器から出た計測用空気の一部を回収
し、この回収した計測用空気を流量計を介して前
記ガス検知部に入るサンプルガスに混合する希釈
用空気ラインcと、 から成る半導体式ガス検知装置。
[Scope of Claim for Utility Model Registration] A measurement air line a that discharges measurement air from a dehumidifier via an ejector, and a semiconductor gas detection unit via a sample gas suction unit, filter, and flowmeter, Further, a sample gas line b connected to the negative pressure part in the measurement air line a and a part of the measurement air coming out of the dehumidifier are collected, and the collected measurement air is passed through a flowmeter. A semiconductor gas detection device comprising: a dilution air line c that mixes with the sample gas entering the gas detection section.
JP2435682U 1982-02-23 1982-02-23 Semiconductor gas detection device Granted JPS58127355U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2435682U JPS58127355U (en) 1982-02-23 1982-02-23 Semiconductor gas detection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2435682U JPS58127355U (en) 1982-02-23 1982-02-23 Semiconductor gas detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58127355U JPS58127355U (en) 1983-08-29
JPH0140038Y2 true JPH0140038Y2 (en) 1989-12-01

Family

ID=30036361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2435682U Granted JPS58127355U (en) 1982-02-23 1982-02-23 Semiconductor gas detection device

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JP (1) JPS58127355U (en)

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Publication number Publication date
JPS58127355U (en) 1983-08-29

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