JPH0132367Y2 - - Google Patents

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JPH0132367Y2
JPH0132367Y2 JP20227283U JP20227283U JPH0132367Y2 JP H0132367 Y2 JPH0132367 Y2 JP H0132367Y2 JP 20227283 U JP20227283 U JP 20227283U JP 20227283 U JP20227283 U JP 20227283U JP H0132367 Y2 JPH0132367 Y2 JP H0132367Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 技術分野 本考案は、半導体集積回路に生じたラツチアツ
プを自動的にリセツトするようにした半導体集積
回路のラツチアツプリセツト回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] Technical Field The present invention relates to a latch-up presetting circuit for a semiconductor integrated circuit that automatically resets a latch-up that occurs in a semiconductor integrated circuit.

背景技術 テレビジヨン受像機には、様々な半導体集積回
路が用けられているが、例えば電源のオン・オフ
や選局或いは音量調節等を制御するためのマイク
ロコンピユータ用半導体集積回路は、受像管の放
電によりラツチアツプすることがある。このラツ
チアツプは、特にCMOSIC等が、そのデバイス
構造上存在する寄生サイリスタが、外部からのサ
ージによつてトリガされることにより発生するも
のであり、過電流破壊を招く危険な状態といえ
る。
Background Art Various semiconductor integrated circuits are used in television receivers. For example, semiconductor integrated circuits for microcomputers that control power on/off, channel selection, volume adjustment, etc. are used in picture tubes. may latch up due to discharge. This latch-up occurs when a parasitic thyristor existing in the device structure of a CMOSIC is triggered by an external surge, and can be said to be a dangerous condition that can lead to overcurrent destruction.

この過電流破壊を防止するため、従来例えば第
1図に示す如く、半導体集積回路1の電源端子
VDDと電源回路2の間に電流制限抵抗R0を介在せ
しめて電流制限する方法が採られている。
In order to prevent this overcurrent breakdown, conventionally, for example, as shown in FIG.
A method is adopted in which a current limiting resistor R 0 is interposed between V DD and the power supply circuit 2 to limit the current.

しかるに、この従来方法は、過電流破壊は防止
することができるが、一旦ラツチアツプが発生し
てしまうと、電源回路2そのものをオフにしなけ
れば、ラツチアツプを解除することができない。
特に、前述のテレビジヨン受像機等において、タ
イマ機構付きのマイクロコンピユータを使用して
いるような場合は、このラツチアツプの発生によ
りマイクロコンピユータは動作しなくなつてしま
う。通常、テレビジヨン受像機のすべての電源を
オフするスイツチは、タイマ機能をもつマイクロ
コンピユータへの通電を確保するため、キヤビネ
ツト背面に設けてあることが多く、このことを知
つているユーザであれば、キヤビネツト背面の電
源スイツチをオフすることにより、タイマ機能を
復活させることができるが、このことを知らない
ユーザは、故障したものと思い込んでしまい、サ
ービスマンによる修理が可能であるにしても、製
品に対するユーザの信頼を失ないやすい等の欠点
があつた。
However, although this conventional method can prevent overcurrent damage, once a latch-up occurs, the latch-up cannot be released unless the power supply circuit 2 itself is turned off.
Particularly, when a microcomputer with a timer mechanism is used in the above-mentioned television receiver, etc., the microcomputer becomes inoperable due to the occurrence of this latch-up. Normally, the switch that turns off all power to a television receiver is often located on the back of the cabinet in order to ensure power is supplied to the microcomputer that has a timer function. , the timer function can be restored by turning off the power switch on the back of the cabinet, but users who do not know this may assume that there is a failure, and even if a service person can repair it, There were drawbacks such as the tendency for users to lose trust in the product.

考案の開示 本考案は、上記欠点を除去したものであり、半
導体集積回路に発生したラツチアツプを検出し、
半導体集積回路の電源端子を一旦接地したあと、
接地解除することにより、ラツチアツプのリセツ
トを自動化するようにした半導体集積回路のラツ
チアツプリセツト回路を提供することを目的とす
る。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention eliminates the above-mentioned drawbacks, and detects latch-ups occurring in semiconductor integrated circuits.
After grounding the power supply terminal of the semiconductor integrated circuit,
It is an object of the present invention to provide a latch-up reset circuit for a semiconductor integrated circuit, which automates the reset of a latch-up by releasing the ground.

この目的を達成するため、本考案は、ラツチア
ツプが発生すると、電源を一旦オフにしないと該
ラツチアツプをリセツトすることができない半導
体集積回路と、該半導体集積回路の電源端子に接
続され、ラツチアツプの発生を検知して作動し、
前記電源端子を接地し、かつ接地後の時間経過と
ともに接地を解除するリセツト回路とから構成し
たことを要旨とするものである。
In order to achieve this objective, the present invention provides a semiconductor integrated circuit which cannot be reset without turning off the power supply when a latch-up occurs, and a semiconductor integrated circuit that is connected to the power supply terminal of the semiconductor integrated circuit, Detects and operates,
The main feature is that the power supply terminal is grounded and includes a reset circuit that releases the grounding as time elapses after the power terminal is grounded.

本考案によれば、半導体集積回路の電源端子に
リセツト回路を接続し、ラツチアツプの発生を検
知し、電源端子を接地するとともに、接地後の時
間経過に従つて接地を解除する構成としたから、
例えば半導体集積回路のデバイス構造上存在する
寄生サイリスタが、外部からのサージによりトリ
ガされたためにラツチアツプが発生したような場
合、半導体集積回路の電源を一旦オフにしなくと
も、実質上電源オフの状態とし得、ユーザの手を
一切借りることなく正常動作への復帰が可能であ
り、従つて例えば受像管の放電によるラツチアツ
プが予想されるテレビジヨン受像機用の半導体集
積回路に好適である等の優れた効果を奏する。
According to the present invention, a reset circuit is connected to the power supply terminal of the semiconductor integrated circuit, detects the occurrence of latch-up, grounds the power supply terminal, and releases the grounding as time elapses after grounding.
For example, if a parasitic thyristor existing in the device structure of a semiconductor integrated circuit is triggered by an external surge and a latch-up occurs, the power to the semiconductor integrated circuit can be effectively turned off even if the power is not turned off once. It is possible to return to normal operation without any help from the user, and is therefore suitable for semiconductor integrated circuits for television receivers, where latch-up due to discharge of the picture tube is expected. be effective.

考案を実施するための最良の形態 以下、本考案の実施例について、第2図を参照
して説明する。第2図は、本考案の半導体集積回
路のラツチアツプリセツト回路の一実施例を示す
回路構成図である。第2図中、第1図と同一構成
部分には、同一符号が付してある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, an embodiment of the invention will be described with reference to FIG. 2. FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the latch-up preset circuit of the semiconductor integrated circuit of the present invention. In FIG. 2, the same components as in FIG. 1 are given the same reference numerals.

第2図中、11は、リセツト回路で、電流制限
抵抗R0の両端に接続してある。このリセツト回
路11は、半導体集積回路1に生じたラツチアツ
プを検出するためのトランジスタQ1及び半導体
集積回路1の電源端子VDDを接するためのトラン
ジスタQ2を有している。トランジスタQ1は、エ
ミツタ端子とベース端子がそれぞれ抵抗R1,R2
を介して電源回路2に接続されており、コレクタ
端子はトランジスタQ2のベース端子に接続され
ている。トランジスタQ2は、コルクタ端子が電
源端子VDDに接続されており、エミツタ端子は接
地されている。電源端子VDDとトランジスタQ1
ベース端子間には、電解コンデンサCが接続して
ある。
In FIG. 2, 11 is a reset circuit connected to both ends of the current limiting resistor R0 . This reset circuit 11 has a transistor Q 1 for detecting a latch-up occurring in the semiconductor integrated circuit 1 and a transistor Q 2 for connecting the power supply terminal V DD of the semiconductor integrated circuit 1 . Transistor Q 1 has emitter and base terminals connected to resistors R 1 and R 2 respectively.
The collector terminal is connected to the base terminal of the transistor Q2 . The corctor terminal of the transistor Q2 is connected to the power supply terminal VDD , and the emitter terminal is grounded. An electrolytic capacitor C is connected between the power supply terminal VDD and the base terminal of the transistor Q1 .

いま、半導体集積回路1内の寄生サイリスタ
が、外部からのサージによつてトリガされ、ラツ
チアツプが発生したとする。この場合、ラツチア
ツプの発生とともに電源端子VDDを流れる電流が
大幅に増加するため、電源端子VDDの電位は降下
する。その結果、電解コンデンサCを介してトラ
ンジスタQ1のベース電位も低下し、まずトラン
ジスタQ1が導通する。そして、トランジスタQ1
の導通にひき続いてトランジスタQ2が導通し、
電源端子VDDは接地される。これにより、半導体
集積回路1は、実質的に電源オフの状態とされる
ため、ラツチアツプがリセツトされることにな
る。
Suppose now that the parasitic thyristor in the semiconductor integrated circuit 1 is triggered by an external surge and a latch-up occurs. In this case, as the latch-up occurs, the current flowing through the power supply terminal V DD increases significantly, so the potential of the power supply terminal V DD drops. As a result, the base potential of the transistor Q 1 also decreases via the electrolytic capacitor C, and the transistor Q 1 becomes conductive first. And transistor Q 1
Following the conduction of Q 2 , transistor Q 2 conducts;
Power supply terminal V DD is grounded. As a result, the semiconductor integrated circuit 1 is substantially turned off, so that the latch-up is reset.

ラツチアツプがリセツトされると、半導体集積
回路1は正常動作に復帰するが、電源端子VDD
まだ接地状態にある。しかし、トランジスタQ2
による接地後、電解コンデンサCは、低抗R2
介して充電され始めているため、トランジスタ
Q1のベース電位は徐々に回復しつつある。従つ
て、時間の経過とともに、トランジスタQ1のベ
ース電圧が一定値を越えると、トランジスタQ1
とともにトランジスタQ2も非導通とされ、同時
に電源端子VDDも接地状態を解除される。それに
より、ユーザの手を煩わすことなく、半導体集積
回路1のラツチアツプの自動リセツトが行なわれ
る。
When the latch-up is reset, the semiconductor integrated circuit 1 returns to normal operation, but the power supply terminal VDD is still grounded. But transistor Q 2
After grounding by, the electrolytic capacitor C starts to charge through the low resistor R2 , so the transistor
The base potential of Q 1 is gradually recovering. Therefore, over time, when the base voltage of transistor Q 1 exceeds a certain value, transistor Q 1
At the same time, the transistor Q 2 is also rendered non-conductive, and at the same time, the power supply terminal V DD is also released from the grounded state. Thereby, the latch-up of the semiconductor integrated circuit 1 is automatically reset without bothering the user.

このように、リセツト回路11は、ラツチアツ
プが予想される半導体集積回路1に好適であり、
特に受像管の放電によるサージを受けやすい選局
用或い音量調節用等のマイクロコンピユータに組
み込まれた半導体集積回路等に好適である。
In this way, the reset circuit 11 is suitable for the semiconductor integrated circuit 1 where latch-up is expected.
It is particularly suitable for semiconductor integrated circuits incorporated in microcomputers for channel selection, volume adjustment, etc., which are susceptible to surges due to discharge from picture tubes.

以上説明したように、上記構成になる半導体集
積回路のリセツト回路によれば、半導体集積回路
1の電源端子VDDにリセツト回路11を接続し、
ラツチアツプの発生を検知し、電源端子VDDを接
地するとともに、接地後の時間経過に従つて接地
を解除する構成としたから、例えば半導体集積回
路1のデバイス構造上存在する寄生サイリスタ
が、外部からのサージによりトリガされたために
ラツチアツプが発生したような場合、半導体集積
回路1の電源回路2を一旦オフにしなくとも、実
質上電源オフの状態とし得、ユーザの手を一切借
りることなく正常動作への復帰が可能であり、従
つて例えば受像管の放電によるラツチアツプが予
想されるテレビジヨン受像機用の半導体集積回路
に好適である。
As explained above, according to the reset circuit for the semiconductor integrated circuit having the above configuration, the reset circuit 11 is connected to the power supply terminal V DD of the semiconductor integrated circuit 1,
Since the structure is configured to detect the occurrence of latch-up, ground the power supply terminal V DD , and release the grounding as time passes after the grounding, for example, a parasitic thyristor that exists in the device structure of the semiconductor integrated circuit 1 can be removed from the outside. If a latch-up occurs due to a surge in the semiconductor integrated circuit 1, the power supply circuit 2 of the semiconductor integrated circuit 1 can be effectively turned off without having to be turned off once, and normal operation can be resumed without any user intervention. Therefore, it is suitable for semiconductor integrated circuits for television receivers in which latch-up due to discharge of a picture tube is expected, for example.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の過電流防止対策を施した半導
体集積回路の一例を示す回路構成図、第2図は、
本考案の半導体集積回路のラツチアツプリセツト
回路の一実施例を示す回路構成図である。 1……半導体集積回路、2……電源回路、11
……リセツト回路、VDD……電源端子。
Figure 1 is a circuit configuration diagram showing an example of a semiconductor integrated circuit with conventional overcurrent prevention measures, and Figure 2 is
1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of a latch-up preset circuit for a semiconductor integrated circuit according to the present invention; FIG. 1... Semiconductor integrated circuit, 2... Power supply circuit, 11
...Reset circuit, V DD ...Power supply terminal.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] ラツチアツプが発生すると、電源を一旦オフに
しないと該ラツチアツプをリセツトすることがで
きない半導体集積回路と、該半導体集積回路の電
源端子に接続され、ラツチアツプの発生を検知し
て作動し、前記電源端子を接地し、かつ接地後の
時間経過とともに接地を解除するリセツト回路と
から構成してなる半導体集積回路のラツチアツプ
リセツト回路。
When a latch-up occurs, the latch-up cannot be reset unless the power supply is turned off once.It is connected to the semiconductor integrated circuit and the power supply terminal of the semiconductor integrated circuit, and is activated upon detecting the occurrence of the latch-up, and resets the power supply terminal. A latch-up preset circuit for a semiconductor integrated circuit comprising a reset circuit that is grounded and then released from the ground as time passes after grounding.
JP20227283U 1983-12-31 1983-12-31 Latch-up preset circuit for semiconductor integrated circuits Granted JPS60113650U (en)

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JPS60113650U JPS60113650U (en) 1985-08-01
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0783551B2 (en) * 1989-02-16 1995-09-06 株式会社日立製作所 Semiconductor device protection device, overcurrent detection circuit, latch-up detection device

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JPS60113650U (en) 1985-08-01

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