JPH01304435A - Exposure controller - Google Patents

Exposure controller

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Publication number
JPH01304435A
JPH01304435A JP63136440A JP13644088A JPH01304435A JP H01304435 A JPH01304435 A JP H01304435A JP 63136440 A JP63136440 A JP 63136440A JP 13644088 A JP13644088 A JP 13644088A JP H01304435 A JPH01304435 A JP H01304435A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
distance
reflectance
exposure
strobe
value
Prior art date
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Pending
Application number
JP63136440A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Inoue
晃 井上
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP63136440A priority Critical patent/JPH01304435A/en
Publication of JPH01304435A publication Critical patent/JPH01304435A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Control For Cameras (AREA)

Abstract

PURPOSE:To inhibit photographing when it is out of a controllable exposure range by measuring distances between a stroboscope and an object and between the stroboscope and a reflector and reflectance and obtaining an appropriate exposure value. CONSTITUTION:A 1st range-finding part 40 which measures the object distance La, a 2nd range-finding part 42 which measures the reflector distance Lb and a reflectance measuring part 44 which measures the reflectance (n) of the reflector have common or individual light position elements and outputs therefrom are inputted in a diaphragm value arithmetic operation circuit 46 to obtain the appropriate diaphragm value FNo. A diaphragm control mechanism 50 controls a diaphragm blade 52 until an output from a diaphragm value encoder 54 becomes to coincide with the diaphragm value FNo so as to perform the control of exposure at the time of photographing with indirect lighting. When the diaphragm value FNo is out of the range of 'open stop value'-'minimum diaphragm value', the circuit 46 can not perform control and a warning is given with a lamp and a buzzer, etc., through a warning/inhibition part 56 to inhibit the action of the mechanism 50 or perform release lock, etc. Thus, the appropriate exposure can be accurately controlled.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は照射角度が可変のバウンスストロボに係り、
特に、その露出制御装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a bounce strobe with a variable irradiation angle.
In particular, it relates to the exposure control device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に、ストロボはカメラに内蔵されていたり、ホット
シューを介してカメラに接続されている。
Generally, strobes are built into the camera or connected to the camera via a hot shoe.

そのため、被写体に向けて照明光を直接照射して撮影を
行うと、ストロボの発光部と撮影レンズの光軸との間隔
が小さいため、いわゆる赤目現象が発生することがある
。また、直接照射の場合、被写体の後に壁があると、被
写体の影が壁に出てしまい、写真にもその影が写ってし
まう欠点がある。
Therefore, when photographing is performed by directly irradiating illumination light toward a subject, a so-called red-eye phenomenon may occur because the distance between the light emitting part of the strobe and the optical axis of the photographing lens is small. Furthermore, in the case of direct irradiation, if there is a wall behind the subject, the shadow of the subject will appear on the wall, and the shadow will also appear in the photograph.

これらの対策として、バウンスストロボによる間接照射
がある。バウンスストロボの照射角度は可変であるので
、天井や壁に向けてストロボを発光させ、その反射光で
被写体を間接照射して撮影を行なう。
As a countermeasure against these problems, there is indirect irradiation using a bounce strobe. Since the irradiation angle of a bounce strobe is variable, the strobe is emitted toward the ceiling or wall, and the reflected light is used to indirectly illuminate the subject to take pictures.

従来の間接照射の際の露出制御方法は、被写体からの反
射光を積分して、積分値が所定値に達した時点で発光を
停止する方法と、入射光式のフラッシュメータでテスト
発光させてから適正絞り値を求める方法があった。
Conventional exposure control methods for indirect illumination include integrating the reflected light from the subject and stopping the flash when the integrated value reaches a predetermined value, and firing a test flash using an incident light type flash meter. There was a method to find the appropriate aperture value from

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

前者の被写体からの反射光を積分する方法では、被写体
の反射率を考慮していないので、反射率によって積分値
が影響を受けてしまう。そのため、被写体が白い場合、
その反射率が標準の反射率よりも高いので、積分完了す
るまでの時間が短く、露出アンプになり、白色が灰色っ
ぽく写し込まれてしまう。逆に、被写体が黒い場合、そ
の反射率が低いので、積分完了するまでの時間が長く、
露出オーバになり、やはり黒色が灰色っぽく写し込まれ
てしまう。
The former method of integrating the reflected light from the object does not take into account the reflectance of the object, so the integral value is affected by the reflectance. Therefore, if the subject is white,
Since its reflectance is higher than the standard reflectance, the time it takes to complete the integration is short, resulting in an exposure amplifier, which makes white appear grayish. Conversely, if the subject is black, its reflectance is low, so it takes a long time to complete the integration.
The image is overexposed, and black appears grayish.

後者のテスト発光する方法では、入射光式のフラッシュ
メータという特別な測定器を用意する必要があり、一般
の撮影には向いていない。
The latter method of firing a test flash requires the preparation of a special measuring device called an incident light type flash meter, and is not suitable for general photography.

この発明は上述した事情に対処すべくなされたもので、
バウンスストロボによる間接照射撮影の際の露出を被写
体の反射率によらず常に適正に制御できる簡単な構成の
露出制御装置を提供することである。
This invention was made to deal with the above-mentioned circumstances,
To provide an exposure control device with a simple configuration that can always appropriately control exposure during indirect irradiation photography using a bounce strobe, regardless of the reflectance of a subject.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この発明による露出制御装置はストロボと被写体との距
離、ストロボからの光を被写体に向けて反射する物体と
ストロボとの距離、物体の反射率を測定する測定部と、
これらの測定値から適正露出値を求める演算回路と、適
正露出値がカメラの制御可能な露出範囲以外の場合、警
告を発生、または撮影を禁止する警告/禁止部を具備す
る。
The exposure control device according to the present invention includes a measurement unit that measures the distance between the strobe and the subject, the distance between the strobe and an object that reflects light from the strobe toward the subject, and the reflectance of the object;
The camera includes an arithmetic circuit that calculates an appropriate exposure value from these measured values, and a warning/prohibition unit that issues a warning or prohibits photography if the appropriate exposure value is outside the controllable exposure range of the camera.

〔作用〕[Effect]

この発明によれば、ストロボと被写体との距離、ストロ
ボと反射物体との距離から間接照射の際のストロボから
の光の実際の光路長を求め、物体の反射率と直接照射の
際のガイドナンノくから間接照射の際のガイドナンバを
求め、これらから求めた間接照射の際の適正露出値がカ
メラの制御可能な露出範囲以外の場合、警告を発生、ま
たは撮影を禁止することにより、露出の不適正な撮影を
未然に防止することができる。
According to this invention, the actual optical path length of the light from the strobe during indirect irradiation is determined from the distance between the strobe and the subject and the distance between the strobe and the reflective object, and the reflectance of the object and the guide nanometer for direct irradiation are determined. If the appropriate exposure value for indirect illumination found from these is outside the camera's controllable exposure range, a warning will be issued or photography will be prohibited, allowing you to control the exposure. Inappropriate photography can be prevented.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照してこの発明による露出制御装置の実
施例を説明する。
Embodiments of an exposure control device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

一般に、フラッシュマチック撮影時の適正な絞り値FN
oはストロボのガイドナンノくをGN、被写体距離をD
とすると、次のように表わされる。
In general, the appropriate aperture value FN for flashmatic photography
o is the strobe's guide number GN, and D is the subject distance.
Then, it is expressed as follows.

GN−FNo  −D            −(1
)第1図に間接照射の概念図を示す。間接照射の場合、
ストロボからの光は一度反射物体14で反射してから被
写体12に到達するので、(1)式における被写体距離
りはストロボ10と実際の被写体12との距MLaでは
なく、ストロボ10と仮想の被写体12aとの距離Lc
である。ここで、実際の被写体12と反射物体14との
距離と、仮想の被写体12aと反射物体14との距離は
ともに距離Lbである。距離Lcは次のように表わされ
る。
GN-FNo-D-(1
) Figure 1 shows a conceptual diagram of indirect irradiation. In the case of indirect irradiation,
Since the light from the strobe reaches the subject 12 after being reflected by the reflective object 14, the subject distance in equation (1) is not the distance MLa between the strobe 10 and the actual subject 12, but the distance between the strobe 10 and the virtual subject 12. Distance Lc from 12a
It is. Here, both the distance between the actual subject 12 and the reflective object 14 and the distance between the virtual subject 12a and the reflective object 14 are distances Lb. The distance Lc is expressed as follows.

L c −L a / c o sθ      ・ 
(2)−2Lb/sinθ     −(2a)ストロ
ボ10の間接照射の際の照射角度θはLaとLbから次
のように表わされる。
L c - L a / c o sθ ・
(2) -2Lb/sin θ -(2a) The irradiation angle θ during indirect irradiation of the strobe 10 is expressed as follows from La and Lb.

θ−t a n’  (2Lb/La)   −(3)
また、間接照射時のガイドナンバGNnは直接照射の場
合のガイドナンバGNoに反射物体の反射率n(所定の
入射エネルギに対する反射エネルギの比)を乗じて求め
られ、次のように表される。
θ-tan' (2Lb/La) -(3)
Further, the guide number GNn for indirect irradiation is obtained by multiplying the guide number GNo for direct irradiation by the reflectance n (ratio of reflected energy to predetermined incident energy) of the reflecting object, and is expressed as follows.

直接照射の場合のガイドナンバGNoは予め決まってい
る。
The guide number GNo in the case of direct irradiation is determined in advance.

G N n = Ji X G N o       
−(4)(1)式のDに(2)式、または(2a)式の
Lcを代入し、(1)式のGNに(4)式のGNnを代
入することにより、間接照射に於ける適正な絞り値FN
oは次のように表わされる。
G N n = Ji X G N o
-(4) By substituting Lc in equation (2) or equation (2a) for D in equation (1) and GNn in equation (4) for GN in equation (1), indirect irradiation can be performed. Appropriate aperture value FN
o is expressed as follows.

(2)式を代入した場合: F N o −G N n / L c−fTxGNo
xcos  θ+La −5X G N o + L a Xcos 1jan’  (2L b/ L a)l−
(5)(2a)式を代入した場合: F N o −G N n / L c−5XGNox
sinθ÷2Lb −(’;; x c、 N O+ 2 L bXsin
 fjan’  (2L b/L a)l−(6)すな
わち、(5)式、または(6)式から間接照射時の適正
絞り値FNoは被写体距離La、反射物体距離Lb、反
射物体の反射率nと、ガイドナンバ(直接照射時)GN
oとから求めることができる。ガイドナンバ(直接照射
時)は既知であるため、間接照射時の適正絞り値FNo
を求めるためには、被写体距離La、反射物体距離Lb
When formula (2) is substituted: F No − G N n / L c−fTxGNo
xcos θ+La -5X G No + La Xcos 1jan' (2L b/ La) l-
(5) When formula (2a) is substituted: F No -G N n /L c-5XGNox
sinθ÷2Lb −(';; x c, N O+ 2 L bXsin
fjan' (2L b/L a) l - (6) In other words, from equation (5) or equation (6), the appropriate aperture value FNo for indirect illumination is the subject distance La, the reflective object distance Lb, and the reflectance of the reflective object. n and guide number (during direct irradiation) GN
It can be found from o. Since the guide number (during direct irradiation) is known, the appropriate aperture value FNo.
In order to find the object distance La, the reflective object distance Lb
.

反射物体の反射率nがわかればよい。It is only necessary to know the reflectance n of the reflective object.

次に、被写体距離La、反射物体距離Lb、反射物体の
反射率nの求め方を説明する。ここでは、PSD (光
位置検出素子)を(り用する方法を説明する。
Next, how to obtain the subject distance La, the reflective object distance Lb, and the reflectance n of the reflective object will be explained. Here, a method using a PSD (optical position detection device) will be explained.

第2図はPSDの断面構造を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the cross-sectional structure of the PSD.

PSDは高比抵抗n層(1層)の表面に高比抵抗層のp
″″層を、裏面に高比抵抗層のn子局を配した構造にな
っている。PSD表面の一点Qに光スポットを照射した
ときに生成された電子−正孔対のうちpn接合に達した
ギヤリアは高比抵抗層のp−層で光の入射点Qから取出
し電極A、Bまでの距離に逆比例して分割され、それぞ
れの電極A。
PSD is a high resistivity layer on the surface of a high resistivity n layer (1 layer).
It has a structure in which n slave stations with a high resistivity layer are arranged on the back side of the ``'' layer. Among the electron-hole pairs generated when a light spot is irradiated on one point Q on the PSD surface, the gearia that has reached the p-n junction is taken out from the light incident point Q in the p-layer of the high resistivity layer and sent to the electrodes A and B. Divide each electrode in inverse proportion to the distance to A.

Bから取出される。従って、これらの電流値より光の入
射点Qの位置を求めることができる。
taken out from B. Therefore, the position of the light incident point Q can be determined from these current values.

光スポットの入射により半導体内に発生したキャリアは
空乏層内の電界でドリフトされ、正孔はp−層へ、電子
はn層(i層)へ達する。p−層に注入された正孔は抵
抗R1,R2を流れる成分に分割され、電流II、I2
として電極A、Bより取出される。
Carriers generated in the semiconductor by the incidence of a light spot are drifted by the electric field in the depletion layer, and holes reach the p- layer and electrons reach the n-layer (i-layer). The holes injected into the p-layer are divided into components flowing through resistors R1 and R2, and currents II and I2 are generated.
It is taken out from electrodes A and B as.

電極A、Bの中点から光入射点Qまでの距離をX1点Q
から電極Aまでの抵抗をR1、点Qから電極Bまでの抵
抗をR2、電極A、B間の距離をΩ、電極A、B間の抵
抗をRpとすると、II。
The distance from the midpoint of electrodes A and B to the light incident point Q is X1 point Q
If the resistance from point Q to electrode A is R1, the resistance from point Q to electrode B is R2, the distance between electrodes A and B is Ω, and the resistance between electrodes A and B is Rp, II.

I2は次のように表わされる。I2 is expressed as follows.

11− (R2/Rp)  I o    ・・・(7
)I2= (R1/Rp)To    ・・・(8)1
o−11+I2       −(9)表面抵抗層の比
抵抗の分布が一様であれば、抵抗R1,R2は点Qから
電極A、Bまでの距離に比例して、次のように表わすこ
とができる。
11- (R2/Rp) Io...(7
)I2=(R1/Rp)To...(8)1
o-11+I2-(9) If the distribution of resistivity of the surface resistance layer is uniform, resistances R1 and R2 are proportional to the distance from point Q to electrodes A and B and can be expressed as follows. .

R1−(Rp/2)fl+ (2X/1))l・・・(
10)R2−(Rp/2)[1−(2X/42 ))・
・・(11)(10)、(11)式を(7)、(8)式
に代入すると、次の関係が得られる。
R1-(Rp/2)fl+ (2X/1))l...(
10) R2-(Rp/2)[1-(2X/42))・
...(11) By substituting equations (10) and (11) into equations (7) and (8), the following relationship is obtained.

1 1 =  (1/2)fl −(2X/R)11 
 。
1 1 = (1/2)fl - (2X/R)11
.

・・・ (12) 12− (1/2)II + (2X/R月■0・・・
 (13) ここで、光の入射点Qの位置と、電流Ioの値に影響さ
れないでXを検出するには、Xを出力電流II、12の
比として以下のような正規化演算で表わせばよい。
... (12) 12- (1/2)II + (2X/R month■0...
(13) Here, in order to detect X without being affected by the position of the light incident point Q and the value of the current Io, if X is expressed as the ratio of the output current II, 12 by the following normalization calculation good.

(12−11)/ (I2+I 1) =(Ω/2)・X        ・・・(14)(1
4)式から入射スポット光の大きさに依存せずに、入1
=1位置Xを知ることができる。
(12-11)/ (I2+I 1) = (Ω/2)・X ... (14) (1
4) From equation 4, it can be seen that the input 1
=1 Position X can be known.

第3図はこのようなPSDを用いた距離Mj定の原理図
である。
FIG. 3 is a diagram showing the principle of determining the distance Mj using such a PSD.

PSD38とI RED等の赤外線発光素子30とを互
いに基線長Sだけ離して配置し、I RED30、PS
D38の上に焦点距/!/l f (1) し> 7:
 32 。
A PSD 38 and an infrared light emitting element 30 such as an I RED are placed apart from each other by a baseline length S, and the I RED 30,
Focal length above D38/! /l f (1) > 7:
32.

36をそれぞれ設ける。ここで、レンズ36とPSD3
8の間隔はfである。
36 are provided respectively. Here, lens 36 and PSD3
The interval between 8 and 8 is f.

被測定物34までの距離をLとし、I RED30を点
灯させた時のPSD38の電極A、Bの電流値の変化量
を11.12とすると、(14)式から距離り、は次の
ように求めることができる。
If the distance to the object to be measured 34 is L, and the amount of change in the current value of electrodes A and B of the PSD 38 when the I RED 30 is turned on is 11.12, the distance from equation (14) is as follows. can be asked for.

L−5−f/X −5−f・ (2/Ω)・ f(12−11)/(12+11)! ・・・ (15) ここで、S、f、Ωは定数であるので、PSDの電流変
化all、I2のみでLを求めることができる。
L-5-f/X -5-f・(2/Ω)・f(12-11)/(12+11)! (15) Here, since S, f, and Ω are constants, L can be obtained only from the PSD current changes all and I2.

また、IREDを点灯させた時の電流変化量の和1 o
 −I 1. + I 2はI REDの波長に対する
反射率nに比例した値になる。つまり、 1o−11+l2 clcn             −(16)このよ
うに、PSDの出力電流)1.I2から被写体距離L 
a %反射物体距離Lb、反射物体の反射率口を求める
ことができる。
Also, the sum of the amount of current change when IRED is turned on is 1 o
-I 1. + I 2 is a value proportional to the reflectance n for the wavelength of I RED. That is, 1o-11+l2 clcn - (16) thus, the output current of the PSD)1. Subject distance L from I2
a % reflective object distance Lb and the reflectance of the reflective object can be determined.

第4図は第1実施例のブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of the first embodiment.

被写体距離Laを測定する第1測距部40、反射物体距
離Lbを測定する第2測距部42、反射物体の反射率n
を測定する反射率測定部44の出力が絞り値演算回路4
6に入力される。第1測距部40、第211111距部
42、反射率測定部44はPSDを持つ必要があるが、
第2測距部42と反射率測定部44は共通のPSDを持
てばよい。
A first distance measuring section 40 that measures the object distance La, a second distance measuring section 42 that measures the reflective object distance Lb, and a reflectance n of the reflective object.
The output of the reflectance measurement section 44 that measures the aperture value calculation circuit 4
6 is input. The first distance measuring section 40, the 211111th distance measuring section 42, and the reflectance measuring section 44 need to have PSD,
The second distance measuring section 42 and the reflectance measuring section 44 only need to have a common PSD.

さらに、第1、第2測距部40,42は独自にPSDを
持たないで、オートフォーカス回路用のPSDと共通で
もよい。
Furthermore, the first and second distance measuring sections 40 and 42 may not have their own PSDs, but may be common to the PSD for the autofocus circuit.

絞り値演算回路46は(5)式、または(6)式に応じ
て適正絞り値FNoを求める。この演算は複雑であるの
で、La、Lb、nに基づくテーブルを用意しておいて
、これから求めてもよい。
The aperture value calculation circuit 46 calculates the appropriate aperture value FNo according to equation (5) or equation (6). Since this calculation is complicated, a table based on La, Lb, and n may be prepared and calculated from this.

求められた適正絞り値データFNoは絞り制御機構50
に入力される。
The obtained appropriate aperture value data FNo is determined by the aperture control mechanism 50.
is input.

絞り制御機構50は絞り値エンコーダ54の出力が適正
絞り値データFNoと一致するまで、絞り羽IJI 5
2を制御する。これにより、間接照射撮影の際の露出制
御が可能となる。
The aperture control mechanism 50 adjusts the aperture blades IJI 5 until the output of the aperture value encoder 54 matches the appropriate aperture value data FNo.
Control 2. This makes it possible to control exposure during indirect irradiation photography.

絞り値演算回路46には開放/最小絞り値入力部48、
警告/禁止部56も接続される。開放/最小絞り値入力
部48は絞り羽根52の開放絞り値、最小絞り値を絞り
値演算回路46に供給する。
The aperture value calculation circuit 46 includes an open/minimum aperture value input section 48;
A warning/inhibition section 56 is also connected. The open/minimum aperture value input section 48 supplies the aperture value and the minimum aperture value of the aperture blades 52 to the aperture value calculation circuit 46 .

ズームレンズにおいてズーミングによって開放絞り値が
変化する場合は、それに応じて入力値が変化する。
When the aperture value of a zoom lens changes due to zooming, the input value changes accordingly.

絞り値演算回路46で求めた適正絞り値FN。The appropriate aperture value FN obtained by the aperture value calculation circuit 46.

が絞り羽根52の開放絞り値よりも小さい場合は、絞り
を開放しても、露出アンプになる。逆に、適正絞り値F
Noが絞り羽根52の最小絞り値よりも大きい場合は、
絞りを最小に絞っても、露出オーバになる。そのため、
絞り値演算回路46は求めた絞り値FNoが「開放絞り
値」〜「最小絞り値」の範囲以外である場合は制御不可
能であるので、警告/M止部56を介してランプ、ブザ
ー等により警告を発生、絞り制ga機構50の動作を禁
止、またはレリーズロック等を行なう。これにより、適
正露出でない撮影を未然に防止できる。
is smaller than the open aperture value of the aperture blades 52, even if the aperture is opened, the exposure becomes amplified. On the other hand, the appropriate aperture value F
If No is larger than the minimum aperture value of the aperture blades 52,
Even if you close the aperture to the minimum, the image will be overexposed. Therefore,
Since the aperture value calculation circuit 46 cannot control when the obtained aperture value FNo is outside the range of "open aperture value" to "minimum aperture value", a lamp, buzzer, etc. A warning is issued, the operation of the aperture control GA mechanism 50 is prohibited, or the release is locked. This makes it possible to prevent photographing without proper exposure.

第4図の各構成要素ブロックのうち絞り制御機構50、
絞り値エンコーダ54以外は、ス)0ボ側に設けられて
いても、カメラ側に設けられていてもよい。すなわち、
ストロボは単体のものでも、カメラに内蔵のものでもよ
い。ただし、ストロボをカメラ本体から離れた位置に設
ける場合は、測距部40,42、反射率測定部44はス
トロボ側に設ける必要がある。
Among the component blocks in FIG. 4, the aperture control mechanism 50,
The components other than the aperture value encoder 54 may be provided on the S)0 side or on the camera side. That is,
The strobe can be a standalone flash or one built into the camera. However, when the strobe is provided at a position away from the camera body, the distance measuring sections 40, 42 and the reflectance measuring section 44 need to be provided on the strobe side.

このように第1実施例によれば、PSDを用いてストロ
ボと被写体との距離、ストロボと反射物体との距離、及
び反射物体の反射率を求めることにより、簡単な構成で
、間接照射の際のストロボから被写体までの実際の光路
長に応じた適正絞り値を求めることができるとともに、
これが制御可能な絞り値範囲以外の場合は、警告の発生
、または撮影動作を禁止することにより、露出制御の失
敗を未然に防止できる。
According to the first embodiment, the distance between the strobe and the subject, the distance between the strobe and the reflective object, and the reflectance of the reflective object are determined using the PSD, so that indirect irradiation can be achieved with a simple configuration. In addition to determining the appropriate aperture value according to the actual optical path length from the strobe to the subject,
If the aperture value is outside the controllable aperture range, exposure control failure can be prevented by issuing a warning or prohibiting the photographing operation.

次に、第2実施例を説明する。第1実施例では、ストロ
ボ10と反射物体14との距離、被写体12と反射物体
14との距離がともにLbであるとして(2)式、また
は(2a)式からストロボ10と仮想の被写体12aと
の距離(実際の光路長)Lcを求めたが、ストロボ10
と被写体12が反射物体14に対して等距離でない場合
もあり、第2実施例は・このような場合の実施例である
Next, a second embodiment will be explained. In the first embodiment, assuming that the distance between the strobe 10 and the reflective object 14 and the distance between the subject 12 and the reflective object 14 are both Lb, the strobe 10 and the virtual subject 12a are calculated from equation (2) or equation (2a). The distance (actual optical path length) Lc was calculated, but the strobe 10
In some cases, the object 12 and the object 12 are not equidistant from the reflecting object 14, and the second embodiment is an example for such a case.

先ず、第5図に示すように、ストロボ1oと反射物体1
4との距離Lbが被写体12と反射物体14との距離L
d/2より短い場合を説明する。
First, as shown in Fig. 5, a strobe 1o and a reflective object 1 are
4 is the distance L between the subject 12 and the reflective object 14.
A case where it is shorter than d/2 will be explained.

この場合、ストロボ10と仮想の被写体12aとの距i
!fILcは次のように求めることができる。
In this case, the distance i between the strobe 10 and the virtual subject 12a
! fILc can be obtained as follows.

L c −L f / c o sγ     ・・・
(17)Lf−Laxcosδ     −(18)7
 =jan−1((2L b + L a X5lnδ
)/Lf+・・・(19) ここで、δは水平方向に対するカメラの撮影角度であり
、反射物体が天井である場合は、重力方向に対するカメ
ラの角度等を検出することにより検出できる。
L c −L f /cosγ...
(17)Lf−Laxcosδ−(18)7
=jan-1((2L b + La X5lnδ
)/Lf+ (19) Here, δ is the photographing angle of the camera with respect to the horizontal direction, and if the reflecting object is a ceiling, it can be detected by detecting the angle of the camera with respect to the direction of gravity.

(18)、(19)式を(17)式に代入すると、Lc
は次のように既知のLa、Lb、  δにより表わすこ
とができる。
Substituting equations (18) and (19) into equation (17), Lc
can be expressed by the known La, Lb, and δ as follows.

L  c  −L  a  X cos  δ÷ co
s[tan  ’  f(2L  b  +  L  
a  X  sin  δ )/(LaXcos  δ
)11     −(20)(20)式、(1)式、(
4)式から、適正絞り値は次のように求められる。
L c −L a X cos δ÷ co
s[tan' f(2L b + L
a X sin δ )/(LaX cos δ
)11 - (20) (20) formula, (1) formula, (
From equation 4), the appropriate aperture value can be determined as follows.

F N o −G N n / L c= v’T’:
 x G N O÷(L a X aos δ)X c
os[jan ” f(2L b + L a X s
in δ)/(LaXcosδ)+1  −(21)(
21)式においてδ−0とすると、(5)式が得られる
F No −G N n /L c= v'T':
x G N O÷(L a X aos δ)X c
os[jan ” f(2L b + L a X s
in δ)/(LaXcosδ)+1 −(21)(
If δ-0 is used in equation 21), equation (5) is obtained.

同様に、第6図に示すようなLb>Ld/2の場合は、
次のようにLcを求めることができる。
Similarly, in the case of Lb>Ld/2 as shown in Fig. 6,
Lc can be determined as follows.

L  c  −L  a  X cos  δ÷cos
  [tan ’ ((2L b −L a X si
nδ)/(LaXcos  δ))コ      −(
22)(22)式、(1)式、(4)式から、最適絞り
値は次のように求められる。
L c −L a X cos δ÷cos
[tan' ((2L b -L a X si
nδ)/(LaXcos δ)) co-(
22) From equations (22), (1), and (4), the optimal aperture value is determined as follows.

F  N  o  −G  N  n / L  c−
5x G N o +  (L a x cos  δ
)X’cos[tan  ’  ((2L b −L 
a X sin  δ)/(LaXcos  δ)+1
    −(23)(23)式においてδ−〇とすると
、(6)式が得られる。
F No -G N n / L c-
5x G N o + (L a x cos δ
)X'cos[tan' ((2L b -L
a X sin δ)/(LaX cos δ)+1
-(23) If δ−〇 is used in equation (23), equation (6) is obtained.

(23)式はδに関する項の符号が(2])式と異なる
のみで、他は同じである。そのため、第5図の場合をδ
が正、第6図の場合をδが負とすると、適正絞り値FN
oは同一の(21)式で表わすことができる。
Equation (23) differs from Equation (2) only in the sign of the term related to δ, and the rest is the same. Therefore, in the case of Figure 5, δ
is positive and δ is negative in the case of Fig. 6, the appropriate aperture value FN
o can be expressed by the same equation (21).

このため、第2実施例は、第4図に示した構成に重力方
向に対するカメラの角度を検出するセンサを付加すると
ともに、絞り値演算回路46の演算式を(21)式に変
えることにより実現できる。
Therefore, the second embodiment is realized by adding a sensor for detecting the angle of the camera with respect to the direction of gravity to the configuration shown in FIG. 4, and changing the calculation formula of the aperture value calculation circuit 46 to formula (21). can.

このように、第2実施例によれば、ストロボ10と被写
体12が反射物体14に対して等距離でない場合でも、
正確に露出制御が行なえる。
In this way, according to the second embodiment, even if the strobe 10 and the subject 12 are not equidistant from the reflective object 14,
Accurate exposure control is possible.

なお、この発明は上述した実施例に限定されずに、種々
変更可能である。例えば、距離測定素子、反射率測定素
子はPSDに限定されない。露出制御は絞りにより行な
う場合に限らず、ストロボの発光時間により行なっても
よい。また、警告、撮影禁止は両方行なう必要はなく、
いずれか一方のみでもよ<、警告の種類も上述の説明に
限定されない。
Note that this invention is not limited to the embodiments described above, and can be modified in various ways. For example, the distance measuring element and reflectance measuring element are not limited to PSD. Exposure control is not limited to using an aperture, but may also be performed using a strobe light emission time. Also, it is not necessary to issue both a warning and a prohibition on photography.
Only one of them may be used, and the types of warnings are not limited to those described above.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以」二説明したようにこの発明によれば、バウンススト
ロボによる間接照射撮影の際の露出を被写体の反射率に
よらず常に適正に制御できる簡単な(14成の露出制御
装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a simple (14-component) exposure control device that can always properly control exposure during indirect illumination photography using a bounce strobe, regardless of the reflectance of the subject. can.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はストロボの間接照射の概念図、第2図は距離、
反射率を測定するための光位置検出素子の断面構造を示
す図、第3図は距離71ξ]定の原理を示す図、第4図
はこの発明の第1実施例の構成を示すブロック図、第5
図、第6図は第2実施例の間接照射の概念図である。 10・・・ストロボ、12・・・被写体、12a・・・
仮想被写体、14・・・反射物体。 出願人代理人 弁理士 坪井  淳 第2図 h−−−−−一〇−−−−−M
Figure 1 is a conceptual diagram of indirect strobe irradiation, Figure 2 is the distance,
FIG. 3 is a diagram showing the principle of determining the distance 71ξ; FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the first embodiment of the present invention; Fifth
6 are conceptual diagrams of indirect irradiation in the second embodiment. 10... Strobe, 12... Subject, 12a...
Virtual subject, 14... reflective object. Applicant's agent Patent attorney Atsushi Tsuboi Figure 2h---10---M

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ストロボからの照射光を物体に反射させてから被写体を
照射する際の露出を求める露出制御装置において、前記
ストロボと被写体との距離を測定する手段と、前記スト
ロボと前記物体との距離を測定する手段と、前記物体の
反射率を測定する手段と、被写体との距離、物体との距
離、物体の反射率に応じて適正露出値を求め、前記適正
露出値がカメラの制御可能な露出範囲以外の場合、警告
を発生、または撮影を禁止する手段を具備する露出制御
装置。
An exposure control device that determines the exposure when illuminating the object after reflecting light from a strobe on the object, comprising: means for measuring a distance between the strobe and the object; and a means for measuring the distance between the strobe and the object. means for measuring the reflectance of the object; and determining an appropriate exposure value according to the distance to the subject, the distance to the object, and the reflectance of the object, and the appropriate exposure value is outside the controllable exposure range of the camera. In this case, an exposure control device equipped with a means to issue a warning or prohibit photography.
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