JPH01297910A - Current-voltage converting circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電流電圧変換回路に関するものであり、光電
式の煙感知器における微弱な受光電流を電圧信号に変換
する用途に特に適するものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a current-voltage conversion circuit, and is particularly suitable for converting a weak light-receiving current into a voltage signal in a photoelectric smoke detector. be.
[従来の技術]
第7図は光電式の煙感知器の従来例を示すブロック図で
ある0発光ダイオード1は発振回路10により間欠的に
光信号を発光する0発光ダイオード】からの光の放射方
向と、受光素子2による光の受光方向とは異なり、煙感
知器内に煙が存在しないときには、受光素子2は光を受
光しない。一方、煙感知器内に煙が存在するときには、
発光ダイオード1からの光は煙によって散乱されるので
、受光素子2は煙による散乱光を受光する。この散乱光
は極めて微弱なものであるので、受光アンプ20にて直
流増幅した後、コンパレータ21にて所定の基準レベル
と比較する。コンパレータ21の出力は信号処理回路2
2にて信号処理され、信頼性のある検出信号が得られた
ときには、発報回路23にて煙感知信号を発報する。コ
ンパレータ21は煙濃度が所定濃度以上であるか否かを
判定しており、信号処理回路22は電磁ノイズなどによ
る誤動作を防ぐための信号処理を行っている。[Prior Art] FIG. 7 is a block diagram showing a conventional example of a photoelectric smoke detector. A light emitting diode 1 emits light signals intermittently by an oscillation circuit 10. When there is no smoke in the smoke sensor, the light receiving element 2 does not receive light, which is different from the direction in which the light is received by the light receiving element 2. On the other hand, when smoke is present in the smoke detector,
Since the light from the light emitting diode 1 is scattered by the smoke, the light receiving element 2 receives the light scattered by the smoke. Since this scattered light is extremely weak, the light receiving amplifier 20 amplifies the direct current, and then the comparator 21 compares it with a predetermined reference level. The output of the comparator 21 is the signal processing circuit 2
2, and when a reliable detection signal is obtained, an alarm circuit 23 issues a smoke detection signal. The comparator 21 determines whether the smoke concentration is higher than a predetermined concentration, and the signal processing circuit 22 performs signal processing to prevent malfunctions due to electromagnetic noise or the like.
第5図は受光アンプ20の具体回路例を示している。受
光アンプ20は帰還インピーダンスとしてコンデンサC
rと抵抗Rfを接続された演算増幅?=”w A +よ
りなり、受光素子2からの光電流を電圧信号に変換する
。コンデンサCfは高域カット用であり、抵抗Rfは電
流−電圧変換係数設定用である。第5図に示す回路では
、受光素子2を電流源Isと内部抵抗Rs及び端子問答
51 Csの等価回路で示している。FIG. 5 shows a specific circuit example of the light receiving amplifier 20. The light receiving amplifier 20 uses a capacitor C as a feedback impedance.
Operational amplifier connected to r and resistor Rf? ="w A +, and converts the photocurrent from the light receiving element 2 into a voltage signal. The capacitor Cf is for high frequency cut, and the resistor Rf is for setting the current-voltage conversion coefficient. As shown in FIG. In the circuit, the light receiving element 2 is shown as an equivalent circuit of a current source Is, an internal resistance Rs, and a terminal Q&A 51 Cs.
[発明が解決しようとする課題]
上述の従来技術において、演算増幅器A、の反転入力端
子部に発生する狭帯域における雑音Eniの実効値は、
次式のようになる。[Problems to be Solved by the Invention] In the above-mentioned prior art, the effective value of the noise Eni in the narrow band generated at the inverting input terminal of the operational amplifier A is as follows:
It becomes as follows.
Eni=(en”+in”(Zs//Zn)2+ 4
kT(Rs//Rf))”ま
ただし、上式において、e、−1は受光アンプ20の入
力狭帯域雑音電圧[V / 、r]7)、i(1は受光
アンプ20の入力狭帯域雑音電流CA / 口n〕、k
はボルツマン定数、Tは絶対温度〔T〕、Zs=Rs/
/Xs、X5=1/jωCs−Zf=Rf//Xf−X
5=1/jωCsである。この雑音Eniは、演算増幅
器A1の反転入力端子部に生じている雑音であり、受光
アンプ20の出力端子にはZf/Zs倍されて出力され
る。したがって、受光アンプ20から出力される雑音E
noは次式で表される。Eni=(en"+in"(Zs//Zn)2+ 4
kT(Rs//Rf))" However, in the above equation, e, -1 is the input narrowband noise voltage [V/, r]7) of the light receiving amplifier 20, i (1 is the input narrowband noise voltage of the light receiving amplifier 20) Noise current CA / mouth n], k
is Boltzmann constant, T is absolute temperature [T], Zs=Rs/
/Xs, X5=1/jωCs-Zf=Rf//Xf-X
5=1/jωCs. This noise Eni is noise occurring at the inverting input terminal of the operational amplifier A1, and is multiplied by Zf/Zs and output to the output terminal of the light receiving amplifier 20. Therefore, the noise E output from the light receiving amplifier 20
no is expressed by the following formula.
Eno=(1+Zf/ Zs)Eni
さらに、入力換算電流雑音Iniは、
I n1=Eno/ Zf
=(1/ Zf+ 1 / Zs)x
(ey12(−1n2(Zs//Zn)2+ 4 kT
(Rs//Rf)l””ここで、
Zf=Rf/(1+jωCfRf)
Zs# 1/jωcs (’;Rs> 11/jωc
sl )Rs//Rf#Rf (’、’Rs>Rf
)Zf//Zs=Rf/(1+jω(Cs+ Cf)R
Elしたがって、入力換算電流雑音Iniは、丁n1=
f(1+j ωcfRf)/ Rf+j ωC5)IX
(en’+1n2Rf7/ (1+ jω(Cs+Cf
)Rf)2+4kTRf+172
=(1/Rr+jω(Cs+Cr)IXfen”+i、
12Rf”/(1+30)(Cs+Cf)Rf)2+4
kTR,f+I72
さらに、使用周波数帯域をr、〜r2とすると、使用周
波数帯域における入力換算電流雑音I nl7は、f。Eno=(1+Zf/Zs)Eni Furthermore, the input equivalent current noise Ini is: I n1=Eno/Zf = (1/Zf+ 1/Zs)x (ey12(-1n2(Zs//Zn)2+ 4 kT
(Rs//Rf)l""Here, Zf=Rf/(1+jωCfRf) Zs# 1/jωcs (';Rs> 11/jωc
sl )Rs//Rf#Rf (','Rs>Rf
)Zf//Zs=Rf/(1+jω(Cs+Cf)R
El Therefore, the input-referred current noise Ini is just n1=
f(1+j ωcfRf)/Rf+j ωC5)IX
(en'+1n2Rf7/ (1+ jω(Cs+Cf
)Rf)2+4kTRf+172 = (1/Rr+jω(Cs+Cr)IXfen”+i,
12Rf”/(1+30)(Cs+Cf)Rf)2+4
kTR, f+I72 Furthermore, if the frequency band used is r, ~r2, the input-referred current noise I nl7 in the frequency band used is f.
I n1r= 5 (I nl)df「2
今、L=IKHz、f2=10KHzとし、以下の計算
を簡単にするために、
I n17M (fz −fl)(I nl(f+)+
I nl(fz)l/ 2とする。次の条件■〜■の
場合に、端子問答JI Csを変化させたときの入力換
算電流雑音I nl7の変化をグラフに示すと、第6図
のようになる。なお、演算増幅器A、自身の入力換算雑
音については、1、 K Hzでの雑音電圧eN =
40 n V / (’T(丁、10KF(zでの雑音
電圧eN=14nV/ F■T、m音電流i N =
0 、01 p A / 、rr7(’) (jI ’
5: 用イテ計算L タ。I n1r= 5 (I nl)df "2 Now, let L=IKHz, f2=10KHz, and to simplify the calculation below, I n17M (fz - fl) (I nl (f+) +
Let I nl(fz)l/2. In the case of the following conditions (1) to (2), the change in the input equivalent current noise Inl7 when the terminal interrogation JICs is changed is graphed as shown in FIG. 6. Regarding the input equivalent noise of operational amplifier A itself, the noise voltage eN at 1 KHz =
40 n V / ('T (ding, 10 KF (noise voltage at z eN = 14 nV / F ■ T, m sound current i N =
0 , 01 p A / , rr7(') (jI'
5: Ite calculation L ta.
■Rf=1.0OKΩ、cf= 10opF’■Rf=
300KQ、CF=33pF
■Rf=IMΩ、 Cf=10pF
■Rf=3MQ、 Cf=3.3pF■R,f=1.
0MΩ、 Cf=1pFところで、光電式の煙感知器の
場合、煙による散乱光から得られる受光電流は、0.5
〜1nA程度である。したがって、入力換算電流雑音を
受光電流より十分小さくするためには、
(i)受光素子2の端子間容量Csが小さく、10pF
以下であれば、帰)フ抵抗R「をIMΩ以上とする。■Rf=1.0OKΩ, cf= 10opF'■Rf=
300KQ, CF=33pF ■Rf=IMΩ, Cf=10pF ■Rf=3MQ, Cf=3.3pF■R, f=1.
0MΩ, Cf=1pF By the way, in the case of a photoelectric smoke detector, the light reception current obtained from light scattered by smoke is 0.5
~1 nA. Therefore, in order to make the input equivalent current noise sufficiently smaller than the light-receiving current, (i) the capacitance Cs between the terminals of the light-receiving element 2 is small, and is 10 pF.
If it is below, then the resistance R is set to be equal to or greater than IMΩ.
(ii)受光素子2の端子間容量Csがある程度大きく
、30〜40pF程度であれば、帰還抵抗Rfを50O
KΩ〜3MΩとする必要がある。(ii) If the capacitance Cs between the terminals of the light receiving element 2 is large to some extent, about 30 to 40 pF, the feedback resistor Rf should be set to 50Ω.
It is necessary to set it to KΩ~3MΩ.
従来、受光アンプ20を個別部品で構成する場合には、
受光素子2として端子間容量Csの小さいPINダイオ
ードを用いるか、或いは受光素子2の端子間容量Csが
大きくても帰還抵抗Rfは大きく(数MΩ)することに
より、S/N比を大きくすることが可能であった。とこ
ろが、光電式の煙感知器を半導体集積回路で構成する場
合には、帰還抵抗Rfの抵抗値は高々50にΩ程度にし
かできないので、微弱電流検出用の電流電圧変換回路の
S/N比を高くすることができないという問題があった
。Conventionally, when the light receiving amplifier 20 is composed of individual parts,
The S/N ratio can be increased by using a PIN diode with a small inter-terminal capacitance Cs as the light-receiving element 2, or by increasing the feedback resistance Rf (several MΩ) even if the inter-terminal capacitance Cs of the light-receiving element 2 is large. was possible. However, when a photoelectric smoke detector is constructed using a semiconductor integrated circuit, the resistance value of the feedback resistor Rf can only be about 50Ω at most, so the S/N ratio of the current-voltage conversion circuit for detecting weak current is low. The problem was that it was not possible to increase the height.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、微弱電流検出用のS/N比の高
い電流電圧変換回路を半導体集積回路化に適した構成で
提供することにある。The present invention has been made in view of these points, and its purpose is to provide a current-voltage conversion circuit with a high S/N ratio for detecting weak currents, with a configuration suitable for semiconductor integrated circuit implementation. There is a particular thing.
[課題を解決するための手段]
本発明にあっては、上記の課題を解決するために、一方
の入力端子と出力端子の間に帰還抵抗Rfを接続された
演算増幅器A1よりなる電流電圧変換回路において、第
2図(a)に示すように、帰還抵抗Rfとして高抵抗の
MOSトランジスタQNを用いたことを特徴とするもの
である。[Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, the present invention provides a current-voltage converter comprising an operational amplifier A1 having a feedback resistor Rf connected between one input terminal and an output terminal. As shown in FIG. 2(a), the circuit is characterized in that a high resistance MOS transistor QN is used as the feedback resistor Rf.
[作用]
本発明の電流電圧変換回路にあっては、微弱電流の検出
を前提としているので、演算増幅器A1の入出力端子間
に接続される帰還抵抗[の両端電圧は十分に小さい、こ
のため、Mo3トランジスタQNのドレイン・ソース間
電圧VOSに対してトレイン電流IDはほぼ直線的に変
化し、抵抗として使用することができる。そして、後述
のように、Mo3トランジスタQNのゲート幅/ゲート
長を小さく設定することにより、ドレイン・ソース間抵
抗RDSを大きくすることができ、高抵抗として使用す
ることができる。したがって、半導体集積回路化しても
S/N比を高くすることができるものである。[Function] Since the current-voltage conversion circuit of the present invention is based on the detection of a weak current, the voltage across the feedback resistor connected between the input and output terminals of the operational amplifier A1 is sufficiently small. , the train current ID changes almost linearly with respect to the drain-source voltage VOS of the Mo3 transistor QN, and can be used as a resistor. As will be described later, by setting the gate width/gate length of the Mo3 transistor QN small, the drain-source resistance RDS can be increased, and the Mo3 transistor QN can be used as a high resistance transistor. Therefore, even when integrated into a semiconductor circuit, the S/N ratio can be increased.
[実施例]
第2図(a)は本発明の第1実施例の回路図である0本
実施例にあっては、NMo5トランジスタQNを演算増
幅器A1の帰還抵抗Rfとして用いている。第1図(a
)にNMo3)−ランジスタQNのドレイン・ソース間
電圧VOSとトレイン電流IOとの関係を示す。V D
S< V THであるときには、ドレイン・ソース間抵
抗RDSは次式で表される。[Embodiment] FIG. 2(a) is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention. In this embodiment, an NMo5 transistor QN is used as the feedback resistor Rf of the operational amplifier A1. Figure 1 (a
) shows the relationship between the drain-source voltage VOS of the transistor QN and the train current IO. V.D.
When S<VTH, the drain-source resistance RDS is expressed by the following equation.
Ros−(KX(Vcs VT)()(W/L)l−
’ここで、VTHはスレショルド電圧、VCSはゲート
・ソース丙電圧、Wはゲートの幅、Lはゲートの長さで
ある。また、Kは定数であり、NMOSトランジスタで
は、K=3X10−’である。Ros-(KX(Vcs VT)()(W/L)l-
'Here, VTH is the threshold voltage, VCS is the gate-source voltage, W is the gate width, and L is the gate length. Further, K is a constant, and in the case of an NMOS transistor, K=3×10−′.
上式から明らかなように、W/Lを小さくすれば、大き
なドレイン・ソース間抵抗RDSが得られる0例えば、
V as=4 V 、V TH= I V、W/L=6
/600のNMo3)−ランジスタの場合、RDS=
1.1 MΩとなり、受光電流が1nAのときに、Vo
s= 1 、1 mV < V7Hである。As is clear from the above equation, if W/L is reduced, a large drain-source resistance RDS can be obtained.For example,
V as=4 V, V TH= IV, W/L=6
/600 NMo3) - For transistors, RDS=
1.1 MΩ, and when the photodetection current is 1 nA, Vo
s=1, 1 mV<V7H.
このように、NMOsMOSトランジスタQN高抵抗の
帰還抵抗を構成することができるので、S/N比の高い
電流電圧変換回路を半導体集積回路で実現することがで
き、光電式煙感知器に用いた場合には、S/N比の改善
により誤報や失報が少なくなるものである。また、高抵
抗の外付けが不要となるので、電磁雑音に対しても影響
を受けにくくなる。さらに、外付けのためのビンや実装
スペースも不要となるから、コストダウンや小型軽量化
が可能となるものである。In this way, since the NMOSMOS transistor QN can form a feedback resistor with high resistance, a current-voltage conversion circuit with a high S/N ratio can be realized with a semiconductor integrated circuit, and when used in a photoelectric smoke detector. By improving the S/N ratio, false alarms and missed alarms are reduced. Furthermore, since there is no need for an external high-resistance device, the device is less susceptible to electromagnetic noise. Furthermore, since there is no need for external bins or mounting space, it is possible to reduce costs and make the device smaller and lighter.
なお、第2図(b)、(e)に示すように、PMOSト
ランジスタやCMOSトランジスタを用いて高抵抗の帰
還抵抗を構成することも可能である。PMOSトランジ
スタを用いる場合には、上式における定数には、K=1
.lX10−6となる。また、vcs=vc 7日と
なることは、NMo3F−ランジスタを用いた場合と同
様である。さらに、CMOs t−ランジスタを用いた
場合には、NMOSトランジスタについては、V C9
= V CN V Bとなり、PMOSトランジスタ
については、v cs = v cp−7日となる。Note that, as shown in FIGS. 2(b) and 2(e), it is also possible to configure a high-resistance feedback resistor using a PMOS transistor or a CMOS transistor. When using a PMOS transistor, the constant in the above equation is K=1
.. It becomes lX10-6. Further, vcs=vc 7 days is the same as in the case of using the NMo3F-transistor. Furthermore, when using a CMOS t-transistor, for an NMOS transistor, V C9
= V CN V B and for PMOS transistors, v cs = v cp - 7 days.
第3図は発光ダイオード1の発光出力の温度依存特性を
示しており、第4図はMo3hランジスタのオン抵抗(
−Ros)の温度依存特性を示している。第4図(a)
はPMO8トランジスタの温度依存特性、第4図(b)
はCMo3トランジスタの温度依存特性であり、NMO
Sトランジスタの温度依存特性もこれらとほぼ同じであ
る。上記各図に示すように、発光ダイオード1の発光出
力の温度依存特性と、MOSトランジスタのオン抵抗の
温度依存特性とは、互いに相殺し合う特性となっている
ので、MOSトランジスタを帰還抵抗として用いること
により、光電式煙感知器の温度補償が可能となるもので
ある。Figure 3 shows the temperature dependence characteristics of the light emitting output of the light emitting diode 1, and Figure 4 shows the on-resistance (
-Ros) is shown. Figure 4(a)
is the temperature dependence characteristic of PMO8 transistor, Fig. 4(b)
is the temperature dependent characteristic of CMo3 transistor, and NMO
The temperature dependence characteristics of the S transistor are also almost the same as these. As shown in the above figures, the temperature dependence characteristics of the light emitting output of the light emitting diode 1 and the temperature dependence characteristics of the on-resistance of the MOS transistor cancel each other out, so the MOS transistor is used as a feedback resistor. This makes it possible to compensate the temperature of the photoelectric smoke detector.
[発明の効果コ
本発明にあっては、上述のように、電流電圧変換用の演
算増幅器の帰還抵抗として、高抵抗のMOSトランジス
タを用いたので、S/N比の改善が可能となり、しかも
MOSトランジスタを使用しているので、半導体集積回
路化することが容易であるという効果がある。また、半
導体集積回路化したときに、高抵抗を外付けするための
ピン及び抵抗の実装が不要となり、コストダウンと小型
軽量化の効果が大きく発揮されるという利点があり、外
付は部品の除去により電磁雑音の影響も受けにくくなる
。[Effects of the Invention] As described above, in the present invention, a high-resistance MOS transistor is used as the feedback resistor of the operational amplifier for current-voltage conversion, so it is possible to improve the S/N ratio. Since MOS transistors are used, it has the advantage that it can be easily integrated into a semiconductor circuit. In addition, when integrated into a semiconductor circuit, there is no need to mount pins and resistors for externally attaching high resistances, which has the advantage of reducing costs and reducing size and weight. Removal also makes it less susceptible to electromagnetic noise.
第1図(a)は本発明の原理説明のための特性図、同図
(b)は本発明の原理説明のための回路図、第2図(、
)は本発明の第1実施例の回路図、同図(b)は本発明
の第2実施例の回路図、同図(c)は本発明の第3実施
例の回路図、第3図は発光ダイオードの発光出力の温度
依存特性図、第4図(a)はPMO3t−ランジスタの
オン抵抗の温度依存特性図、第4図(b)はCMO3I
〜ランジスタのオン抵抗の温度依存特性図、第5図は従
来例の回路図、第6図は同上の動作説明図、第7図は従
来の光電式煙感知器のブロック図である。
A1は演算増幅器、QNはNMOSトランジスタである
。FIG. 1(a) is a characteristic diagram for explaining the principle of the present invention, FIG. 1(b) is a circuit diagram for explaining the principle of the present invention, and FIG.
) is a circuit diagram of the first embodiment of the present invention, (b) is a circuit diagram of the second embodiment of the present invention, and (c) is a circuit diagram of the third embodiment of the present invention. 4(a) is a temperature dependent characteristic diagram of the on-resistance of a PMO3t transistor, and FIG. 4(b) is a temperature dependent characteristic diagram of the light emitting output of a light emitting diode.
5 is a circuit diagram of a conventional example, FIG. 6 is an explanatory diagram of the same operation as above, and FIG. 7 is a block diagram of a conventional photoelectric smoke detector. A1 is an operational amplifier, and QN is an NMOS transistor.
Claims (1)
された演算増幅器よりなる電流電圧変換回路において、
帰還抵抗として高抵抗のMOSトランジスタを用いたこ
とを特徴とする電流電圧変換回路。(1) In a current-voltage conversion circuit consisting of an operational amplifier with a feedback resistor connected between one input terminal and one output terminal,
A current-voltage conversion circuit characterized by using a high-resistance MOS transistor as a feedback resistor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63128716A JPH01297910A (en) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Current-voltage converting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63128716A JPH01297910A (en) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Current-voltage converting circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01297910A true JPH01297910A (en) | 1989-12-01 |
Family
ID=14991662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63128716A Pending JPH01297910A (en) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Current-voltage converting circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01297910A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5602511A (en) * | 1995-06-07 | 1997-02-11 | Santa Barbara Research Center | Capacitive transimpedance amplifier having dynamic compression |
JP2005216178A (en) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Optoelectronics Co Ltd | Optical information reading apparatus |
-
1988
- 1988-05-26 JP JP63128716A patent/JPH01297910A/en active Pending
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JP2005216178A (en) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Optoelectronics Co Ltd | Optical information reading apparatus |
JP4527411B2 (en) * | 2004-01-30 | 2010-08-18 | 株式会社オプトエレクトロニクス | Optical information reader |
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