JPH01283573A - Recording and reproducing device using charged latent image - Google Patents

Recording and reproducing device using charged latent image

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JPH01283573A
JPH01283573A JP63113306A JP11330688A JPH01283573A JP H01283573 A JPH01283573 A JP H01283573A JP 63113306 A JP63113306 A JP 63113306A JP 11330688 A JP11330688 A JP 11330688A JP H01283573 A JPH01283573 A JP H01283573A
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JP
Japan
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latent image
charge latent
charge
surface potential
recording
Prior art date
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Pending
Application number
JP63113306A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ryoyu Takanashi
高梨 稜雄
Shintaro Nakagaki
中垣 新太郎
Hirohiko Shinonaga
浩彦 篠永
Tsutae Asakura
浅倉 伝
Masato Furuya
正人 古屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Publication date
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Priority to DE68912190T priority patent/DE68912190T2/en
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Abstract

PURPOSE:To easily attain a detected voltage output in right condition by alternately reproducing a charged latent image in first areas where said image corresponding to an information signal of a reproduced target shows a surface potential distribution and second areas where a prodetermined surface potential distribution is shown, and resetting one type of prescribed areas. CONSTITUTION:The title device is provided with a field effect trangister for detecting a voltage having a gate electrode given with a voltage generated through electrostatic induction according to the surface potential of a charged latent image forming member CHL where the charged latent image is formed, corresponding to the information signal of the reproduced target. The reproduction of the charged latent image from the record reproducing area RZ of the charged latent image forming member, is alternately carried out in the first areas TR1, TR2... where said image corresponding to the information signal of the record reproduced target shows the surface potential distribution and in the second areas OP1, OP2... where the predetermined surface potential distribution is shown and the reset is carried out in one prescribed areas among the first areas and the second areas. Thus, a voltage to correspond with the surface potential distribution of a body to be detected is detected.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像が
形成される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静電誘
導で生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検出用電
界効果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効果トラ
ンジスタにおける入力側回路の静電容量に前記の電圧検
出用電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲート電極
間の漏洩電流によって充電した電荷を放電させるための
リセット手段とを含んで構成されている電荷潜像による
記録再生装置、撮像型記録再生装置に関する。
Detailed Description of the Invention (Industrial Field of Application) The present invention is directed to a charge latent image formed by electrostatic induction in response to the surface potential of a charge latent image forming member on which a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced is formed. A voltage detection field effect transistor in which a voltage is applied to the gate electrode, and a leakage current between the drain electrode and gate electrode of the voltage detection field effect transistor in the capacitance of the input side circuit of the voltage detection field effect transistor. The present invention relates to a recording/reproducing device using a charge latent image and an imaging type recording/reproducing device, which are configured to include a reset means for discharging the charges charged by the charge latent image.

(従来の技術) 記録再生の対象とされている情報(8号と対応する電荷
潜像を電荷潜像形成部材に形成させることによって情報
信号の記録を行い、また、電荷潜像形成部材(被検出体
)の表面に接近させた状態の電圧検出用電極へ、前記の
電荷潜像形成部材に形成させた電荷潜像による表面電位
から静WIM導によって生じた電圧を検出することによ
り前記のようにして記録された情報信号を再生しようと
する場合には、従来から知られている被検出体の表面電
位の検出法が使用できる。
(Prior Art) Information signals are recorded by forming a charge latent image corresponding to the information (No. 8) to be recorded and reproduced on a charge latent image forming member. By detecting the voltage generated by static WIM conduction from the surface potential due to the charge latent image formed on the charge latent image forming member, the voltage detection electrode is brought close to the surface of the detection object). When attempting to reproduce an information signal recorded in the above manner, a conventionally known method for detecting the surface potential of the object to be detected can be used.

しかし、一般に、被検出体の表面電位の検出法における
電圧検出用電極回路は非常に高いインピーダンスを有し
ているものであるために、電圧検出用電極からの電圧の
取出しはインピーダンス変換回路を介して行われるよう
にされているのが通常である。
However, in general, the voltage detection electrode circuit in the method of detecting the surface potential of the object to be detected has a very high impedance, so the voltage is extracted from the voltage detection electrode via an impedance conversion circuit. This is normally done.

そし、て、前記したインピーダンス変換回路としては能
動素子として電界効果トランジスタを使用したものも使
用できるが、周知のように電界効果トランジスタにはド
レイン電極からゲート電極への漏洩電流が存在している
ために、前記の漏洩電流が電界効果トランジスタのゲー
ト電極の入力側回路の静電容量を充電して行き、それに
つれてゲート電極の電位が次第に上昇して行く。
As the impedance conversion circuit described above, a circuit using a field effect transistor as an active element can also be used, but as is well known, a field effect transistor has a leakage current from the drain electrode to the gate electrode. Then, the leakage current charges the capacitance of the input side circuit of the gate electrode of the field effect transistor, and the potential of the gate electrode gradually rises accordingly.

それで、被検出体の表面電位と対応して静電誘導によっ
て生じた電圧が、電界効果トランジスタを用いたインピ
ーダンス変換回路を介して取出されるようにされた場合
に、検出動作が比較的に長い時間にわたって行われると
きには、検出された電圧値が不正確になってしまうとい
うことが問題になり、検出時間がさらに長くなった場合
には出力信号が飽和状態になって被検出体の表面電位の
検出は不能となる。
Therefore, when the voltage generated by electrostatic induction corresponding to the surface potential of the object to be detected is extracted through an impedance conversion circuit using a field effect transistor, the detection operation takes a relatively long time. If the detection is carried out over a long period of time, the problem is that the detected voltage value will be inaccurate, and if the detection time is longer, the output signal will become saturated and the surface potential of the object to be detected will be reduced. Detection becomes impossible.

そのために、電界効果トランジスタを使用したインピー
ダンス変換回路では、電界効果トランジスタのゲート電
極の入力側回路の静電容量にドレイン電極・ゲート電極
間の漏洩電流によって充電した電荷を放電させることが
必要であり、従来から電界効果トランジスタのゲート電
極の入力側回路の静電容量にドレイン電極・ゲート電極
間の漏洩電流によって充電した電荷を放電させるために
、リセット手段が用いられていたが、前記した問題点の
存在及びそれの解決手段などは、被検出体の表面電位の
検出と同様な手段によって記録情報の再生が行われるよ
うになされている本発明の電荷潜像による記録再生装置
においても同様である。
For this reason, in an impedance conversion circuit using a field effect transistor, it is necessary to discharge the charge accumulated in the capacitance of the input side circuit of the gate electrode of the field effect transistor by leakage current between the drain electrode and the gate electrode. Conventionally, a reset means has been used to discharge the charge accumulated in the capacitance of the input side circuit of the gate electrode of a field effect transistor by the leakage current between the drain electrode and the gate electrode, but this method has the above-mentioned problems. The existence of this and the means for solving it are the same in the recording and reproducing apparatus using a charge latent image of the present invention, in which recorded information is reproduced by means similar to the detection of the surface potential of the detected object. .

第19図は本発明の電荷潜像による記録再生装置におけ
る問題点の所在を説明するために例示した本出願人会社
による既提案の表面電位分布と対応する電気信号の発生
装置の一例構成のブロック図であり、第19図において
○は被検出体、EDAは例えば第11図示のような構成
態様のものとして構成されている検出ヘッドであって、
前記の検出ヘッドEDAは、それの電圧検出用電極ED
と被検出体0の表面との間隔が、空間に設定された2つ
の所定の位置の間で変化されるようになされている。
FIG. 19 is a block diagram of an example configuration of an electric signal generating device corresponding to the surface potential distribution proposed by the applicant company, which is illustrated to explain the problem in the recording/reproducing device using a charge latent image according to the present invention. In FIG. 19, ○ indicates an object to be detected, and EDA indicates a detection head configured, for example, as shown in FIG. 11,
The detection head EDA has its voltage detection electrode ED.
The distance between the detection target 0 and the surface of the detected object 0 is changed between two predetermined positions set in space.

第19図において、検出ヘッドEDAは変位駆動袋!B
CMにおける可動部26と連結部材Uによって連結され
ている。25は変位駆動装置BGMにおける可動部26
の中心保持子である。変位駆動袋[BGMとしては1例
えば、ボイスコイルモータ、あるいは電歪素子、その他
の適当な電気−機械変換素子を用いて構成させた変位駆
動装置が使用されるのであり、前記の変位駆動袋flt
BGMは信号発生器SGで発生された駆動信号が供給さ
れることによって、第19図中の実線位置の検出ヘッド
EDAのように、検出ヘッドEDAにおける電圧検出用
電極EDが被検出体○の表面に近接した所定の位置にな
るようにしたり、あるいは第19図中の点線位置の検出
ヘッドEDAのように、検出ヘッドEDAにおける電圧
検出用電極EDが被検出体Oの表面から離隔された所定
の位置になるようにしたり、検出ヘッドEDAを空間中
の予め定められた2位置間で変位させる。27は変位駆
動袋fiBCMの場合に可動コイルに対して磁界を与え
る永久磁石である。
In FIG. 19, the detection head EDA is a displacement driving bag! B
It is connected to the movable part 26 in the CM by a connecting member U. 25 is a movable part 26 in the displacement drive device BGM
is the center holder. As the displacement driving bag [BGM, for example, a displacement driving device configured using a voice coil motor, an electrostrictive element, or other suitable electro-mechanical conversion element is used, and the above-mentioned displacement driving bag flt
BGM is supplied with the drive signal generated by the signal generator SG, so that the voltage detection electrode ED in the detection head EDA is positioned on the surface of the detected object ○, as shown in the detection head EDA at the solid line position in FIG. Alternatively, as in the detection head EDA at the dotted line position in FIG. position or displace the detection head EDA between two predetermined positions in space. 27 is a permanent magnet that applies a magnetic field to the moving coil in the case of the displacement drive bag fiBCM.

複数の電圧検出用電極ED、ED・・・が所定の配列パ
ターンで配列されている検出ヘッドEDAとしては例え
ば第11回に示されているような構成態様のものが使用
される。第11図においてEDl、、ED2.ED3・
・・EDnは電圧検出用電極であり、これらの電圧検出
用電極EDI、ED2.ED3・・・EDnは、それぞ
れ個別の接続線Q 1. Q 2. Q 3・・・an
によって電圧検出用電界効果トランジスタDPI。
As the detection head EDA in which a plurality of voltage detection electrodes ED, ED, . In FIG. 11, EDl, ED2. ED3・
...EDn is a voltage detection electrode, and these voltage detection electrodes EDI, ED2 . ED3...EDn are each an individual connection line Q1. Q2. Q3...an
Field effect transistor DPI for voltage detection.

DF2.DF3・・・DFnのゲート電極に接続されて
いるとともに、リセット用スイッチング手段として使用
される電界効果トランジスタRFL、RF2゜RF3・
・・RFnにおける対応するもののドレイン電極に接続
されている。
DF2. DF3... Field effect transistors RFL, RF2゜RF3, which are connected to the gate electrode of DFn and are used as reset switching means.
...Connected to the drain electrode of the corresponding one in RFn.

前記のリセット用スイッチング手段として使用される各
電界効果トランジスタRFI、RF2.RF3・・・R
Fnにおけるゲート電極はリセットパルスの入力端子゛
20に共通接続されており、また、各電界効果トランジ
スタRFI、RF2.RF3−RFnにおけるソース電
極は、リセット動作時に電圧検出用電極や電圧検出用電
界効果トランジスタのゲート電極に与えるべき基準電圧
を供給する電源Vssに共通接続されている。
Each field effect transistor RFI, RF2 . used as the above-mentioned reset switching means. RF3...R
The gate electrodes of Fn are commonly connected to the reset pulse input terminal '20, and the gate electrodes of each field effect transistor RFI, RF2 . The source electrodes of RF3 to RFn are commonly connected to a power source Vss that supplies a reference voltage to be applied to the voltage detection electrode and the gate electrode of the voltage detection field effect transistor during the reset operation.

また、前記した各電圧検出用電界効果トランジスタD 
Fl、 D F2. D F3−D Fnのドレイン電
極は動作用電源Vに対して共通に接続されていて、一定
の電圧が供給されており、また、前記した各電圧検出用
電界効果トランジスタDPI、DF2゜DF3・・・D
Fnのソース電極は、それぞれ個別のスイッチング用電
界効果トランジスタSFI、SF2゜SF3・・・SF
nにおける対応するもののドレイン電極に接続されてお
り、さらに前記の個別のスイッチング用電界効果トラン
ジスタSF!、、SF2゜SF3・・・SFnにおける
各ソース電極は共通に接続されて出力端子10に接続さ
れている。fJS11図中のRΩは負荷抵抗である。
In addition, each of the voltage detection field effect transistors D
Fl, D F2. The drain electrodes of D F3-D Fn are commonly connected to the operating power supply V, and a constant voltage is supplied thereto, and each of the voltage detection field effect transistors DPI, DF2, DF3, . . .・D
The source electrodes of Fn are connected to individual switching field effect transistors SFI, SF2゜SF3...SF.
n, and is further connected to the drain electrode of the corresponding switching field effect transistor SF! ,, SF2°SF3...SFn are connected in common to the output terminal 10. RΩ in the fJS11 diagram is the load resistance.

前記の個別のスイッチング用電界効果トランジスタS 
Fl、 S F2.S F3−8 F nにおける各ゲ
ートfillには、シフトレジスタSRからスイッチン
)f パルスPL、P2.P3・・・Pnが供給されて
いて、前記のシフトレジスタSRから出力されるスイッ
チングパルスPI、P2.P3・・・Pnは、第13図
に例示されている波形図から明らかなように、シフトレ
ジスタSRのクロック端子8に供給されている第13図
の(a)に示されているクロック信号Pcによって、第
13図の(b)〜(d)に例示されているように時間軸
上でP1→P2→P3→・・・のように順次にシフトレ
ジスタSRから出力されるから。
The individual switching field effect transistor S
Fl, S F2. Each gate fill in SF3-8Fn receives switching)f pulses PL, P2. P3...Pn are supplied, and the switching pulses PI, P2. As is clear from the waveform diagram illustrated in FIG. 13, P3...Pn is the clock signal Pc shown in FIG. 13(a) that is supplied to the clock terminal 8 of the shift register SR. Therefore, as illustrated in (b) to (d) of FIG. 13, the signals are sequentially outputted from the shift register SR as P1→P2→P3→... on the time axis.

前記した個別のスイッチング用電界効果トランジスタS
 Fl、 S F2. S F3− S F nの内の
選択された次々の1個のものが時間軸上で順次にオンの
状態にされて行く。
The above-mentioned individual switching field effect transistor S
Fl, S F2. One selected one of SF3-SFn is sequentially turned on on the time axis.

それで、それぞれ個別の接続1iA Q 1. Q 2
. A 3・・・Qnによって電圧検出用電界効果トラ
ンジスタDFl、DF2.DF3−DFnのゲート電極
に接続されている複数の電圧検出用電極EDI、ED2
.ED3・・・EDnに生じている被検出体の複数個所
における個々の個所の表面電位と対応する電圧は、前記
した複数の電圧検出用電界効果トランジスタDFl、D
F2.DF3−DFnのソース側から、それぞれ対応す
る個別のスイッチング用電界効果トランジスタS Fl
、 S F2. S F3− S F nのドレインに
供給されているから、前記したシフトレジスタSRから
スイッチングパルスPi、P2. F3・・・が順次に
出力されるのに従って次々にオンの状態にさ/れる個別
のスイッチング用電界効果トランジスタS Fl、 S
 F2. S F3− S F nのソース側からは、
被検出体の複数個所における個々の個所の表面電位と対
応して静電誘導によって個別の電圧検出用電極E Di
、 E D2. E D3−E Dnに生じた電圧と対
応している電圧が、時間軸上に直列的に出力端子類に送
出されることになる。
So each separate connection 1iA Q1. Q2
.. A3...Qn causes voltage detection field effect transistors DFl, DF2 . A plurality of voltage detection electrodes EDI and ED2 connected to the gate electrodes of DF3-DFn
.. ED3...The voltage corresponding to the surface potential of each of the plurality of points on the object to be detected, which is generated at EDn, is generated by the plurality of voltage detection field effect transistors DFl, D described above.
F2. From the source side of DF3 to DFn, respective corresponding switching field effect transistors S Fl
, SF2. Since the switching pulses Pi, P2 . Individual switching field effect transistors S Fl, S are turned on one after another as F3... are sequentially output.
F2. From the source side of SF3-SFn,
Individual voltage detection electrodes E Di are formed by electrostatic induction in correspondence with the surface potential of each of the plurality of locations on the object to be detected.
, E D2. A voltage corresponding to the voltage generated at E D3-E Dn is sent out to the output terminals in series on the time axis.

じたがって、例えば第12図示のように複数の電圧検出
用電極ED1.ED2.ED3−EDnが1直線上に配
列しているように設けられている検出ヘッドと被検出体
とを、前記した複数の電圧検出用電極E DI、 E 
D2. E D3−E Dnが整列している方向と直交
する方向に相対的に移動させると、被検出体に形成され
ている2次元的な電荷像と対応している時系列的な電気
信号が出力端子10に送出されることになる。
Therefore, for example, as shown in FIG. 12, a plurality of voltage detection electrodes ED1. ED2. The detection head and the object to be detected, which are arranged so that ED3-EDn are arranged in one straight line, are connected to the plurality of voltage detection electrodes EDI, E as described above.
D2. When E D3-E Dn are moved relative to each other in the direction perpendicular to the direction in which they are aligned, a time-series electrical signal corresponding to the two-dimensional charge image formed on the object to be detected is output. It will be sent to terminal 10.

前記した第12図示の検出ヘッドは、複数の電圧検出用
電極EDI、ED2.ED3−EDnや接続線Ql−Q
nなどを周知の薄膜技術によって基体BPに形成させた
構成態様のものである。
The above-mentioned detection head shown in the twelfth figure includes a plurality of voltage detection electrodes EDI, ED2 . ED3-EDn and connection line Ql-Q
This embodiment has a configuration in which the elements such as n are formed on the base body BP by a well-known thin film technique.

さて、第19図示のように検出ヘッドEDAを被検出体
0の上面に近接して配置した状態とし。
Now, as shown in FIG. 19, the detection head EDA is placed close to the upper surface of the detected object 0.

第11図を参照して説明したようにシフトレジスタSR
からのスイッチングパルスPL、P2. F3・・・が
順次に出力されるのにもtって次々にオンの状態にされ
る個別のスイッチング用電界効果トランジスタS Fl
、 S F2.S F3−5 F nのソース側から。
As explained with reference to FIG.
The switching pulse PL from P2. Individual switching field effect transistors S Fl are turned on one after another even though F3... are outputted one after another.
, SF2. From the source side of SF3-5Fn.

被検出体の複数個所におけるX方向に整列している個々
の個所の表面電位と対応して静11!誘導によって個別
の電圧検出用電極EDI、ED2.ED3・・・EDn
に生じた電圧と対応する電圧が、時間軸上に直列的に並
んでいる1ブロツクの時系列44号として出力端子10
に送出されるようにし、前記した個別の電圧検出用電極
E Di、E D2.E D3・・・EDnに生じた電
圧のすべてに対応している電圧が時間軸上に直列的に並
んだ状態の1ブロツクの時系列信号が得られる度毎に入
力端子20にリセットパルスPrを供給してリセット用
スイッチング手段を動作させ、前記したリセットパルス
が供給された時点において、すべての電圧検出用電極E
D1、ED2.ED3・・・EDnの電位とすべての電
圧検出用電界効果トランジスタDFI、DF2・・・の
ゲート電極の電位とはリセット電源の電圧Vssに設定
される。
The static 11! corresponds to the surface potentials of individual locations aligned in the X direction at multiple locations on the object to be detected. Individual voltage detection electrodes EDI, ED2. ED3...EDn
The voltages corresponding to the voltages generated at
The individual voltage detection electrodes E Di, E D2. ED3...A reset pulse Pr is applied to the input terminal 20 every time one block of time-series signals in which voltages corresponding to all the voltages generated at EDn are arranged in series on the time axis is obtained. When the above reset pulse is supplied, all the voltage detection electrodes E
D1, ED2. The potentials of ED3...EDn and the potentials of the gate electrodes of all the voltage detection field effect transistors DFI, DF2... are set to the reset power supply voltage Vss.

検出ヘッドEDAは第14図の(a)、(b)に示され
ている矢印X方向について被検出体Oから1ブロツクの
時系列信号を出力し終ったときに前記のようにリセット
され、次に、被検出体Oと検出ヘッドEDAとが第14
図の(a)中の矢印Yの方向に所定の距離だけ相対的に
移動された後に、その移動された新たな位置における矢
印X方向について被検出体0から1ブロツクの時系列信
号を出力し、それが出力され終ったときに前記のように
リセットされるということを繰返して、被検出体○の表
面の2次元的な電荷像と対応する出力信号が検出ヘッド
EDAの出力端子IQから送出されるのである。
The detection head EDA is reset as described above when it finishes outputting one block of time-series signals from the detected object O in the arrow X direction shown in FIGS. 14(a) and 14(b). , the detected object O and the detection head EDA are in the 14th
After being relatively moved by a predetermined distance in the direction of arrow Y in (a) of the figure, a time series signal of one block is output from detected object 0 in the direction of arrow X at the new position. , and when the output is finished, it is reset as described above. By repeating this process, an output signal corresponding to the two-dimensional charge image on the surface of the object to be detected ○ is sent from the output terminal IQ of the detection head EDA. It will be done.

第14図の(b)に示されているA−A線、B−■3線
、C−C線、D−D線などは、被検出体OのY方向にお
ける容具る位置で、検出ヘッドEDAによって順次の1
ブロック信号を発生させたX方向の線を例示したもので
ある。
The A-A line, B-■3 line, C-C line, D-D line, etc. shown in FIG. 14(b) are the positions of the detected object O in the Y direction. Sequential one by head EDA
This is an example of a line in the X direction that generated a block signal.

被検出体Oの表面電位を検出するのに、被検出体Oの表
面に電圧検出用電極EDを接近させて、被検出体0の表
面電位に基づいて電圧検出用電極EDに静電誘導により
生じた電圧を検出するようにした場合に、電圧検出用電
界効果トランジスタDFのソース電極側から検出ヘッド
EDAの出力端子10に送出される出力電圧Voutは
、電圧検出用電界効果トランジスタDFのゲートi′!
極の入力@路側のD電容量の値をCinであるとし、ま
た。
To detect the surface potential of the detected object O, the voltage detection electrode ED is brought close to the surface of the detected object O, and the voltage detection electrode ED is moved by electrostatic induction based on the surface potential of the detected object 0. When the generated voltage is detected, the output voltage Vout sent from the source electrode side of the voltage detection field effect transistor DF to the output terminal 10 of the detection head EDA is equal to the output voltage Vout from the gate i of the voltage detection field effect transistor DF. ′!
Assume that the value of the D capacitance of the pole input @ road side is Cin, and.

被検出体Oの表面と電圧検出用電極EDとの間の静電容
量をCとし、被検出体0の表面電位をVfとすると、第
15図中に示されている式のようなものとして表わされ
る。
If the capacitance between the surface of the detected object O and the voltage detection electrode ED is C, and the surface potential of the detected object 0 is Vf, then as shown in the equation shown in FIG. expressed.

また、前記したような構成の電圧検出電極回路は非常に
高いインピーダンスのものになるために、電圧検出用電
極EDの電圧を取出す際にはインピーダンス変換回路を
介して取出すようにされるのであり、第11図に例示さ
れている検出ヘッドにおいても、電圧検出用電極ED(
添字の記載を省W!8)を電圧検出用電界効果トランジ
スタDF(添字の記載を省略)のゲート電極に接続し、
検出電圧がソース・フォロアー出力として得られるよう
にしているが、前記した電圧検出用電極EDの電圧を取
出す際に用いられるインピーダンス変換回路が電界効果
トランジスタを使用して構成されてぃた場合には、Wi
界効果トランジスタにおけるドレイン電極からゲート電
極への漏洩電流により、電界効果トランジスタのゲート
電極の入力側回路の静電容量が充電されて、それにつれ
てゲート電極の電位が次第に上昇して行き、その電圧が
被検出体の表面電位と対応して0電誘導によって生じた
検出電圧値に重畳されるから、電界効果トランジスタの
ゲート電極の入力側回路の静電容量にドレイン電極・ゲ
ート電極間の漏洩電流によって充電した電荷を放電させ
るためにリセット手段が適用される。
Furthermore, since the voltage detection electrode circuit configured as described above has a very high impedance, when the voltage of the voltage detection electrode ED is extracted, it is extracted through an impedance conversion circuit. Also in the detection head illustrated in FIG. 11, the voltage detection electrode ED (
Save the writing of subscripts! 8) to the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF (subscript omitted),
Although the detection voltage is obtained as a source follower output, if the impedance conversion circuit used to take out the voltage of the voltage detection electrode ED is configured using a field effect transistor, ,Wi
The leakage current from the drain electrode to the gate electrode of the field effect transistor charges the capacitance of the input side circuit of the gate electrode of the field effect transistor, and the potential of the gate electrode gradually rises accordingly. Since it is superimposed on the detected voltage value generated by zero electric induction corresponding to the surface potential of the object to be detected, leakage current between the drain electrode and the gate electrode is added to the capacitance of the input side circuit of the gate electrode of the field effect transistor. Resetting means are applied to discharge the accumulated charge.

前記のように電界効果トランジスタのゲート電極の入力
側回路のWp電容量が電界効果トランジスタのドレイン
電極・ゲート電極間の漏洩電流によって充電されること
によりゲート電極の電位が時間の経過につれて次第に上
昇して行く状態と、1!界効果トランジスタのゲニト電
極の入力側回路の静電容量にドレインam・ゲートft
極間の漏洩電流によって充電した電荷をリセット手段に
よって放電させた状態とは第16図に例示されていると
おりであって、第16図の(a)において、S W r
はリセット手段として用いられているスイッチであり、
また、Ci nは電圧検出用電界効果トランジスタDF
のゲート電極の入力回路側の静電容量であり、iは電圧
検出用電界効果トランジスタDFのドレイン電極・ゲー
ト電極間の漏洩電流であり、また、第16図の(b)に
は第16図の(a)におけるスイッチSWrをオンの状
態(リセットの状態)にして電圧検出用電界効果トラン
ジスタDFのゲート電極の入力回路側の静電容量Cin
に蓄積された電荷を放電した後に、前記のスイッチSW
rがオフの状態にされると、電圧検出用電界効果トラン
ジスタDFのゲート電極の入力vJN側の静電容1ci
nが再びドレイン電極・ゲート電極間の漏洩電流iによ
って充電されて電圧検出用電界効果トランジスタDFの
ゲート電極の電位が次第に上昇されて行く状態を示して
いる。
As mentioned above, the Wp capacitance of the input side circuit of the gate electrode of the field effect transistor is charged by the leakage current between the drain electrode and the gate electrode of the field effect transistor, so that the potential of the gate electrode gradually increases over time. The state of going and 1! The capacitance of the input side circuit of the genit electrode of the field effect transistor is the drain am and the gate ft.
The state in which the electric charge charged by the leakage current between the electrodes is discharged by the reset means is as illustrated in FIG. 16, and in (a) of FIG. 16, S W r
is a switch used as a reset means,
In addition, Cin is a voltage detection field effect transistor DF
is the capacitance of the gate electrode on the input circuit side, and i is the leakage current between the drain electrode and the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF. When the switch SWr in (a) is turned on (reset state), the capacitance Cin on the input circuit side of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is
After discharging the charges accumulated in the switch SW
When r is turned off, the capacitance 1ci on the input vJN side of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF
This shows a state where n is charged again by the leakage current i between the drain electrode and the gate electrode, and the potential of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is gradually increased.

第18図の(a)、(b)は、前記のように電圧検出電
極回路トランジスタDFのゲート電極の入力回路側の静
電容量Cinがドレイン電極・ゲート電極間の漏洩電流
iによって充電されて行くことによって生じる電圧検出
用電界効果トランジスタDFのゲート[極の電位上昇に
対するリセット動作が、被検出体○における表面の電荷
像の電界が及ばない部分に電圧検出用電極EDが位置し
ている状態(例えば、第14図の(b)でA−A線の位
置、あるいは第18図の(a)でリセットという表示で
矢印で示している場所)で行われた場合の説明図であり
、第18図の(a)において0は被検出体であり、また
、前記した被検出体0の上方に示されているEDは電圧
検出用電極であって、前記した被検出体0の下方に示さ
れているグラフは被検出体Oの表面電位の分布状態を示
している。
18(a) and (b) show that the capacitance Cin on the input circuit side of the gate electrode of the voltage detection electrode circuit transistor DF is charged by the leakage current i between the drain electrode and the gate electrode as described above. The gate of the voltage detection field effect transistor DF caused by (For example, the position of the A-A line in FIG. 14(b), or the location indicated by the arrow indicating reset in FIG. 18(a)). In FIG. 18 (a), 0 is a detected object, and the ED shown above the detected object 0 is a voltage detection electrode, and is shown below the detected object 0. The graph shown shows the distribution state of the surface potential of the object O to be detected.

第18図の(b)は、第18図の(8)に示されている
ような表面電位分布を有する被検出体Oの表面電位の検
出を、第18図の(a)中の被検出体0の上方に示され
ている電圧検出用電極EDが図中にリセットと表示しで
ある位置(第18図の(b)においてはリセットパルス
Prが表示されている位置)でリセットした後に、電圧
検出用電極EDを左方から右方に移動させて行った場合
の検出電圧の時間軸上での変化の状態を示しており、第
18図の(a)、(b)におけるa、bの表示は、互に
対応している部分の対応関係を示すための符号である。
FIG. 18(b) shows the detection of the surface potential of the detected object O having the surface potential distribution as shown in FIG. 18(8). After the voltage detection electrode ED shown above the body 0 is reset at the position indicated as reset in the figure (the position where the reset pulse Pr is displayed in FIG. 18(b)), This shows how the detected voltage changes on the time axis when the voltage detection electrode ED is moved from left to right. is a code to indicate the correspondence between mutually corresponding parts.

第18図め(a)において電圧検出用電極EDにリセッ
ト動作が行われた位置は第14図の(b)における検出
ヘッドEDAが線A−Afi位置と対応しており、前記
のリセットにより電圧検出用電極EDの電位は、第14
図のCQ)と第18図の(b)に示されている。リセッ
ト電圧Vssに設定される′ことになる。
The position where the reset operation was performed on the voltage detection electrode ED in FIG. 18(a) corresponds to the position of the detection head EDA on the line A-Afi in FIG. 14(b). The potential of the detection electrode ED is the 14th
(CQ) in Figure 18) and (b) in Figure 18. It will be set to the reset voltage Vss.

そして、前記のように電圧検出用電界効果1−ランジス
タDFのゲート電極の電位上昇に対するリセット動作が
、被検出体Oにおける表面の電荷像の電界が及ばない部
分に電圧検出用電極EDが位置している状態で行われて
、リセット動作により電圧検出用電極EDがリセット電
圧V s sに設定された後に、電圧検出用ft1極E
Dが被検出体○の電荷像による表面電位の検出位置に移
動されて電圧検出用電極EDによって検出される電圧は
、第18図の(a)に示されている被検出体0の電荷像
による表面電位と対応している第18図の(b)に示さ
れるようなものになる。
As described above, the reset operation in response to the rise in potential of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor 1--transistor DF is performed when the voltage detection electrode ED is located in a portion of the detected object O that is not affected by the electric field of the charge image on the surface. After the voltage detection electrode ED is set to the reset voltage Vss by the reset operation, the voltage detection ft1 electrode E
D is moved to the detection position of the surface potential based on the charge image of the object to be detected ○, and the voltage detected by the voltage detection electrode ED is the charge image of the object to be detected 0 shown in (a) of FIG. The surface potential corresponds to the surface potential shown in FIG. 18(b).

ところが、電圧検出用電界効果トランジスタDFのゲー
ト電極の電位上昇に対するリセット動作が、被検出体0
における表面の電荷像の電界が及ばない部分に電圧検出
用電極EDが位置している状態(例えば、第14図の(
b)でA−A線の位置、あるいは第18図の(a)でリ
セットという表示で矢印で示している場所)で行われる
ようにされた場合におけろ前記のリセット動作は、被検
出体Oから検出ヘッドEDAを離隔させた状態で行われ
るものであるから、前記のリセット動作は被検出体○上
の全電荷像の検出が終了した後に一回だけ行われるよう
にされるが、被検出体0上の全電荷像の検出には比較的
に長い時間が必要とされるから、その間に電圧検出用電
界効果トランジスタDFのゲート電極の入力回路側の静
1!容量Cinがドレイン電極・ゲート電極間の漏洩電
流iによる充電によって電圧検出々力が飽和状態になる
ことも生じる。
However, the reset operation in response to the potential rise of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is
A state in which the voltage detection electrode ED is located in a part where the electric field of the charge image on the surface does not reach (for example, (in Fig. 14)
(b) at the position of the line A-A, or the location indicated by the arrow indicating reset in (a) of Fig. 18), the above-mentioned reset operation Since the detection head EDA is performed with the detection head EDA separated from O, the above-mentioned reset operation is performed only once after the detection of all the charge images on the object to be detected O is completed. Since it takes a relatively long time to detect all the charge images on the detection object 0, during that time the static 1! on the input circuit side of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is When the capacitor Cin is charged by the leakage current i between the drain electrode and the gate electrode, the voltage detection force may become saturated.

前記の問題点の解決のためには、前記した電圧検出用電
界効果トランジスタDFのゲート電極の電位上昇に対す
るリセット動作が、例えば、第14図(7)(b)にお
けるB−B、1!、C−CM、D−D線のような各線の
位置における被検出体0の表面電位の検出が終了する度
毎に行われるようにすればよい。
In order to solve the above problem, the reset operation in response to the rise in the potential of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF described above, for example, BB, 1! in FIG. , C-CM, and D-D lines, each time the detection of the surface potential of the object to be detected 0 is completed.

ところが、前記のように電圧検出用電界効果トランジス
タDFのゲート電極の電位上昇に対するリセット動作が
1例えば第14図の(b)におけるB−B線、C−C線
、D−D線のように被検出体0の表面電位分布による電
界が存在している部分で行われた場合には、第14図の
(b)におけるC−C線、D−D@などの各線の位置の
検出電圧値が、その部分の表面電位と対応しているもの
ではなく、リセットされる以前に検出されていた電圧値
と、リセットされた後に検出された電圧値との差の電圧
値になるという問題が生じる。
However, as mentioned above, the reset operation in response to a rise in the potential of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is 1, for example, as shown in the lines BB, C-C, and DD in FIG. 14(b). If the detection is performed in a part where an electric field exists due to the surface potential distribution of the object to be detected 0, the detected voltage value at the position of each line such as the C-C line and D-D@ in (b) of FIG. However, the problem arises that the voltage value does not correspond to the surface potential of that part, but is the difference between the voltage value detected before the reset and the voltage value detected after the reset. .

第14図の(d)、(e)及び第18図の(c)、(d
)は前記した問題点の説明に使用される図であって、第
14図の(d)は検出ヘッドEDAによる被検出体0の
B−B線位置におけるX方向の検出電圧出力を示し、ま
た、第14図の(e)における実線図示の曲線は、検出
ヘッドEDAにより被検出体0のB−81位置における
X方向の電位分布の検出の終了後にリセットが行われ1
次に検出ヘッドEDAにより被検出体0におけるC−C
線位置におけるX方向の電位分布の検出が行われた場合
の検出電圧出力であるが、この第14図の(e)におけ
る実線図示の曲線で示される検出電圧出力は、被検出体
0のC−C線位置における実際の電位分布と対応してい
る第14図の(8)中で点線で示しであるような電圧分
布を示してはいない。
(d) and (e) in Figure 14 and (c) and (d) in Figure 18.
) is a diagram used to explain the above-mentioned problem, and (d) of FIG. 14 shows the detection voltage output in the X direction at the B-B line position of the detected object 0 by the detection head EDA, and , the curve shown by the solid line in FIG. 14(e) is reset after the detection head EDA finishes detecting the potential distribution in the
Next, the detection head EDA detects C-C in the detected object 0.
This is the detected voltage output when the potential distribution in the X direction is detected at the line position, and the detected voltage output shown by the solid curve in (e) of FIG. The voltage distribution shown by the dotted line in (8) of FIG. 14, which corresponds to the actual potential distribution at the -C line position, is not shown.

すなわち、第14図の(e)における実線図示の曲線で
示される検出電圧出力は、被検出体QのC−cm位置に
おける実際の電位分布と対応している第14図の(θ)
中で点線で示しである電圧分布ト、検出ヘッドEDAに
よる被検出体OのB−B線位置におけるX方向の検出電
圧出力を示している第14図の(d)に示されている検
出電圧出力との差電圧である。
That is, the detected voltage output shown by the solid curve in FIG. 14(e) corresponds to the actual potential distribution at the C-cm position of the detected object Q (θ) in FIG.
The voltage distribution is shown by a dotted line in the figure, and the detected voltage is shown in (d) of FIG. This is the voltage difference between the output and the output.

第18図の(Q)、(d)は前記のように電圧検出用電
界効果トランジスタDFのゲート電極の入力回路側の静
電容量Cinがドレイン電極・ゲート電極間の漏洩電流
iによって充電されて行くことによって生じる電圧検出
用電界効果トランジスタDFのゲート電極の電位上昇に
対するリセット動作が、被検出体0における表面の電荷
像の電界が及んでいる部分に電圧検出用電極EDが位置
している状態(例えば、第18図の(Q)のa点の位置
で示している場所)で行われた場合の説明図であり、第
18図のCQ)において0は被検出体であり、また、前
記した被検出体Oの上方に示されているEDは電圧検出
用電極であって、前記した被検出体0の下方に示されて
いるグラフは被検出体Oの表面電位の分布状態を示して
いる。
(Q) and (d) in FIG. 18 show that the capacitance Cin on the input circuit side of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is charged by the leakage current i between the drain electrode and the gate electrode, as described above. A state in which the voltage detection electrode ED is located in the part of the detected object 0 where the electric field of the charge image on the surface reaches (For example, the location indicated by the position of point a in (Q) of FIG. 18). In CQ of FIG. 18, 0 is the detected object, and the The ED shown above the detected object O is a voltage detection electrode, and the graph shown below the detected object 0 described above shows the distribution state of the surface potential of the detected object O. There is.

第18図の(d)は、第18図の(Q)に示されている
ような表面電位分布を有する被検出体0の表面電位の検
出を、第18図の(c)中の被検出体Oの上方に示され
ている電圧検出用電極FDが図中にリセットと表示しで
ある位置a (第18図の(d)においてはリセットパ
ルスPrが表示されている位[a )でリセットした後
に、Wt電圧検出用電極Dを左方から右方に移動させて
行った場合の検出電圧の時間軸上での変化の状態を示し
ており、第18図のCG>、(d)におけるa、bの表
示は、互に対応している部分の対応関係を示すための符
号である。
FIG. 18(d) shows the detection of the surface potential of the detected object 0 having the surface potential distribution as shown in FIG. 18(Q). The voltage detection electrode FD shown above the body O is reset at position a where reset is indicated in the figure (in (d) of Fig. 18, the reset pulse Pr is indicated [a)]. CG>, (d) in Fig. 18. The symbols a and b are symbols for indicating the correspondence between mutually corresponding parts.

第18図の(c)において電圧検出用電極EDにリセッ
ト動作が行われた位91aは第14図の(b)における
検出ヘッドEDAが例えばMB−B線位置と対応してお
り、前記のリセットにより電圧検出用電極EDの電位は
、第14図の(d)と第18図の(d)に示されている
リセット電圧Vssに設定されることになる。
The position 91a where the reset operation is performed on the voltage detection electrode ED in FIG. 18(c) corresponds to the position of the detection head EDA in FIG. 14(b), for example, on line MB-B, and the reset operation Therefore, the potential of the voltage detection electrode ED is set to the reset voltage Vss shown in FIG. 14(d) and FIG. 18(d).

それで、前記のように電圧検出用電界効果トランジスタ
DFのゲート電極の電位上昇に対するリセット動作が、
被検出体0における表面の電荷像の電界が及んでいる部
分に電圧検出用電極EDが位置している状態で行われて
、リセット動作により電圧検出用電極EDがリセット電
圧Vssに設定された後に前記のリセット動作が解除さ
れ1次いで、電圧検出用電極EDが被検出体○の電荷像
による表面電位の次の検出位置に移動されたときに電圧
検出用電極EDによって検出される電位分布は、第18
図の(Q)に示されている被検出体0の電荷像による表
面電位と対応している第18図の(d)に点線図示の曲
線で示すような電圧分布ではなく、前記したリセット動
作が行われた点aの電圧がリセット電圧Vssに設定さ
れた状態の第18図の(d)に実線図示の曲線で示すよ
うな電圧分布として現われるのである。
Therefore, as mentioned above, the reset operation in response to the rise in the potential of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF is as follows.
This is performed while the voltage detection electrode ED is located in the part of the detected object 0 where the electric field of the charge image on the surface extends, and after the voltage detection electrode ED is set to the reset voltage Vss by the reset operation. When the above reset operation is canceled and the voltage detection electrode ED is moved to the next detection position of the surface potential based on the charge image of the object to be detected ○, the potential distribution detected by the voltage detection electrode ED is as follows. 18th
The voltage distribution shown by the dotted line curve in FIG. 18(d), which corresponds to the surface potential due to the charge image of the detected object 0 shown in FIG. The voltage at point a where the reset voltage is set to the reset voltage Vss appears as a voltage distribution as shown by the solid curve in FIG. 18(d).

第17図の(a)は第18図の(c)の被検出体0にお
けるa点でリセット動作が行われたときの状態を示して
おり、また、第17図の(b)は第18図の(c)の被
検出体Oにおけるa点においてリセット動作が行われた
後にリセット動作が解除された状態を示している。この
第17図の(a)、(b)に示されている動作態様を見
れば、前記のように電圧検出用電界効果トランジスタD
Fのゲート電極の電位上昇に対するリセット動作が、被
検出体0における表面の電荷像の電界が及んでいる部分
に電圧検出用電極EDが位置している状態で行われて電
圧検出用電極EDがリセット電圧V s sに設定され
た後に前記のリセット動作が解除され。
17(a) shows the state when the reset operation is performed at point a on the detected object 0 in FIG. 18(c), and FIG. 17(b) shows the state at point a of the detected object 0 in FIG. The figure shows a state in which the reset operation is canceled after the reset operation is performed at point a on the detected object O in (c) of the figure. If we look at the operation mode shown in FIG. 17 (a) and (b), we can see that the voltage detection field effect transistor D
The reset operation in response to the rise in potential of the gate electrode of F is performed with the voltage detection electrode ED located in the part of the detected object 0 to which the electric field of the charge image on the surface extends, and the voltage detection electrode ED is After the reset voltage Vss is set, the above-mentioned reset operation is canceled.

次いで、電圧検出用1iEDが被検出体0の電荷像によ
る表面電位の次の検出位置に移動されたときに電圧検出
用11!極EDによって検出される電位分布が、第18
図の(d)に実線図示の曲線で示すような電圧分布とし
て現すれることが容易に理解できる。
Next, when the voltage detection 1iED is moved to the next detection position of the surface potential based on the charge image of the detected object 0, the voltage detection 11! The potential distribution detected by the pole ED is
It can be easily understood that this appears as a voltage distribution as shown by the solid line curve in (d) of the figure.

第19図に示されている既提案の表面電位分布と対応す
る電気信号の発生装置は、検出ヘッドEDAにおける電
圧検出用電極EDと被検出体0の表面との間隔が、空間
に設定された2つの所定の位置の間で変化されるように
しておき、また、電圧検出用電界効果トランジスタDF
におけるドレイン・ゲート間の漏洩電流によるゲート電
極の電位上昇に対するリセット動作を、例えば、第14
図の(b)におけるB−Bfi、C−C線、D−D線の
ような各線の位置↓こおける被検出体Oの表面電位の検
出が終了する度毎に行われるようにして検出電圧を飽和
させないようにした際における電圧検出のタイミングと
リセット動作の開始とリセット動作の解除のタイミング
とを、電圧検出用電極EDと被検出体Oとの前記したよ
うな間隔と関連させて第20図に示されるようなものに
設定して、その際に検出される電圧が被検出体の表面電
位分布と対応している状態のものとして得られるように
しているのであり、前記の第19図示の既提案の表面電
位分布と対応する電気信号の発生装置が、例えば第14
図の(b)におけるB−B線、C−C、l、D−D線の
ような各線の位置における被検出体0の表面電位の検出
が終了する度毎に行われるようにして検出電圧を飽和さ
せないようにした際における電圧検出のタイミングとリ
セット動作の開始とリセット動作の解除のタイミングと
を、第20図の(、)に示されている電圧検出用電極E
Dと被検出体Oとの間隔の変化態様に関連させて第20
図の(b)、(c)に示すように設定して実施された場
合には、第19図中に示されている変位駆動袋!t!B
 GMが信号発生器SGで発生された駆動信号によって
、第19図中の実線位置の検出ヘッドEDAのように、
検出ヘッドEDAにおける電圧検出用電極EDが被検出
体Oの表面に近接した状態になされた状態において被検
出体0の表面電位と対応して静電誘導によって電圧検出
用電極EDに生じた電圧が出力されるようにし、また、
変位yJA′#J装置!B GMが信号発生器SGで発
生された駆動信号によって第19図中の点線位置の検出
ヘッドEDAのように、検出ヘッドEDAにおける電圧
検出用m極EDが被検出体Oの表面から充分に離隔され
た状態、すなわち、電圧検出用電極EDと被検出体Oと
の距離を第15図中に示されている式中の静電容量値C
がCinの値よりも非常に小さい状態となるまで変化さ
せて、被検出体Oの表面電位と対応して電圧検出用電極
EDに静電誘導で生じる電圧が充分に小さい電圧となさ
れるような状態において既述のようなリセット動作が行
われるのであり、また第19図示の既提案の表面電位分
布と対応する電気信号の発生装置が、例えば第14図の
(b)におけるB−B線、C−C線、D−Dliのよう
な各線の位置における被検出体0の表面電位の検出が終
了する度毎に行われるようにして検出電圧を飽和させな
いようにした際における電圧検出のタイミングとリセッ
ト動作の開始とリセット動作の解除のタイミングとを、
第20図の(、)に示されている電圧検出用電極EDと
被検出体○との間隔の変化態様に関連させて第20図の
(d)、(e)に示すように設定して実施された場合に
は、第19図中に示されている変位駆動装置BGMが信
号発生器SGで発生された駆動信号によって、第19図
中の実線位置の検出ヘッドEDAのように、検出ヘッド
EDAにおける電圧検出用電極EDが被検出体Oの表面
に近接した状態になされた状態において既述のようなリ
セット動作が行われた後にリセット動作の解除が行われ
、次いで、変位駆動装置BGMが信号発生器SGで発生
された駆動信号によって第19図中の点線位置ノ検出ヘ
ッドEDAのように、電圧検出圧電tMEDと被検出体
0との距離を第15図中に示されている式中の静電容量
値CがCi nの値よりも非常に小さい状態となるまで
変化させて、被検出体0の表面電位と対応して電圧検出
用電極EDに静電誘導で生じる電圧が充分に小さい電圧
となされるような状態に検出ヘッドEDAにおける電圧
検出用fit!iEDが被検出体Oの表面から充分に離
隔された状態において、前記のように検出ヘッドEDA
における電圧検出用電極EDが被検出体Oの表面に近接
した状態で行われたリセット動作の解除時に被検出体O
の表面電位と対応して静電誘導によって電圧検出用電極
EDに生じた電圧が出力されるようにするのである。
In the electric signal generation device corresponding to the previously proposed surface potential distribution shown in FIG. The voltage detection field effect transistor DF is configured to be changed between two predetermined positions.
For example, the reset operation for the potential rise of the gate electrode due to the leakage current between the drain and gate in
The position of each line such as B-Bfi, C-C line, and D-D line in (b) of the figure ↓The detection voltage is The timing of voltage detection, the timing of starting the reset operation, and the timing of canceling the reset operation when the voltage is not saturated are determined in relation to the above-mentioned interval between the voltage detection electrode ED and the detected object O. The voltage detected at that time is set as shown in the figure, so that the voltage detected at that time corresponds to the surface potential distribution of the object to be detected. The electric signal generator corresponding to the previously proposed surface potential distribution is, for example, the 14th
Each time the detection of the surface potential of the object to be detected 0 at the position of each line such as the line B-B, line C-C, l, and line D-D in (b) of the figure is completed, the detection voltage is The timing of voltage detection, the start of the reset operation, and the timing of the cancellation of the reset operation when the voltage is not saturated are determined by the voltage detection electrode E shown in (,) in FIG.
20th in relation to the change in the distance between D and the detected object O
When implemented with the settings shown in (b) and (c) of the figure, the displacement drive bag shown in FIG. 19! T! B
The GM detects the detection head EDA at the solid line position in FIG. 19 by the drive signal generated by the signal generator SG.
When the voltage detection electrode ED in the detection head EDA is brought close to the surface of the detected object O, a voltage generated on the voltage detection electrode ED due to electrostatic induction corresponding to the surface potential of the detected object 0 is so that it is output, and
Displacement yJA′#J device! B GM uses the drive signal generated by the signal generator SG to cause the m-pole ED for voltage detection in the detection head EDA to be sufficiently separated from the surface of the object to be detected O, as shown in the detection head EDA at the dotted line position in FIG. In other words, the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object O is determined by the capacitance value C in the formula shown in FIG.
is changed until it becomes much smaller than the value of Cin, so that the voltage generated by electrostatic induction on the voltage detection electrode ED corresponding to the surface potential of the detected object O is made sufficiently small. In this state, the reset operation as described above is performed, and the electric signal generating device corresponding to the previously proposed surface potential distribution shown in FIG. 19, for example, the line BB in FIG. The timing of voltage detection when the detection voltage is not saturated by being performed every time the detection of the surface potential of the detected object 0 at the position of each line such as C-C line and D-Dli is completed. The timing of starting the reset operation and canceling the reset operation is
The settings are made as shown in (d) and (e) of Fig. 20 in relation to the change in the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object ○ shown in (,) of Fig. 20. When implemented, the displacement drive device BGM shown in FIG. 19 moves the detection head like the detection head EDA at the solid line position in FIG. 19 by the drive signal generated by the signal generator SG. After the above-described reset operation is performed in a state in which the voltage detection electrode ED in the EDA is brought close to the surface of the detected object O, the reset operation is canceled, and then the displacement drive device BGM is activated. Using the drive signal generated by the signal generator SG, the distance between the voltage detection piezoelectric tMED and the detected object 0 is determined by the equation shown in FIG. is changed until the capacitance value C of C becomes much smaller than the value of Cin, and a voltage generated by electrostatic induction on the voltage detection electrode ED corresponding to the surface potential of the detected object 0 becomes sufficient. Fit for voltage detection in the detection head EDA to a state where a small voltage is made! In a state where the iED is sufficiently separated from the surface of the object to be detected O, the detection head EDA is
When the reset operation is canceled when the voltage detection electrode ED is close to the surface of the detected object O,
A voltage generated at the voltage detection electrode ED due to electrostatic induction is outputted in correspondence with the surface potential of the electrode.

第19図中における矢印Uは、電圧検出用電極EDと被
検出体0との間隔の変化態様を示すためのものであり、
また、第20図の(b)〜(e)における(b)、(d
)は、電圧検出用電極EDと被検出体Oとの間隔が小さ
くなされる所定の位置に電圧検出圧電(7Boが位置さ
れる期間と、電圧検出用電極EDと被検出体0との間隔
が大きくなされる所定の位置に電圧検出用電極EDが位
置される期間とのそれぞれの期間の全体が電圧検出動作
とリセット動作とに使用される場合の例であり、また。
The arrow U in FIG. 19 is for showing how the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object 0 changes,
In addition, (b) and (d) in (b) to (e) of FIG.
) is a voltage detection piezoelectric (7Bo) located at a predetermined position where the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object O is small, and the period in which the voltage detection piezoelectric 7Bo is positioned and the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object 0 is This is an example in which the entire period in which the voltage detection electrode ED is located at a predetermined position that is made larger is used for the voltage detection operation and the reset operation.

第20図の(b)〜(e)における(c)、(e)は電
圧検出用電極EDと被検出体Oとの間隔が小さくなされ
る所定の位置に電圧検出用電極EDが位置される期間の
一部と、電圧検出用電極EDと被検出体Oとの間隔が大
きくなされる所定の位置に電圧検出用↑電極EDが位置
される期間の一部だけに電圧検出動作とリセット動作と
が行われる場合の例である。
In (c) and (e) in (b) to (e) of FIG. 20, the voltage detection electrode ED is located at a predetermined position where the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object O is small. The voltage detection operation and the reset operation are performed only during a part of the period and a part of the period in which the voltage detection electrode ED is located at a predetermined position where the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object O is large. This is an example of a case where

第19図示の既提案の表面電位分布と対応する電気信号
の発生装置が、例えば第14図の(b)におけるB−B
a、c−cm、D −D!(7)ような各線の位置にお
ける被検出体0の表面電位の検出が終了する度毎に行わ
れるようにして検出電圧を飽和させないようにした際に
おける電圧検出のタイミングとリセット動作の開始とり
セラ1へ動作の解除のタイミングとを、第20図の(a
)に示されている電圧検出用fU4Eoと被検出体Oと
の間隔の変化態様に関連させて第20図の(b)、(Q
)に示すように設定して実施した場合と第20図の(a
)に示されている電圧検出用電極EDと被検出体0との
間隔の変化態様に関連させて第20図の(d)。
The electrical signal generator corresponding to the previously proposed surface potential distribution shown in FIG. 19 is, for example, B-B in FIG.
a, c-cm, D-D! (7) The timing of voltage detection and the start of the reset operation when the detection voltage is prevented from being saturated by being performed every time the detection of the surface potential of the detected object 0 at the position of each line is completed. The timing of canceling the operation to 1 is shown in (a
) in FIG. 20, (b) and (Q
) and (a) in Figure 20.
(d) of FIG. 20 in relation to the manner in which the distance between the voltage detection electrode ED and the detected object 0 changes as shown in FIG.

(e)に示すように設定して実施した場合とでは、出力
される電圧の極性が逆になるが、何れにしてもこの第1
9図示の表面電位分布と対応する電気信号の発生装置に
おいては、被検出体の表面電位分布と対応している状態
の電圧が検出されるのである。
The polarity of the output voltage will be reversed in the case of setting and implementing as shown in (e), but in any case, this first
In the electric signal generating device corresponding to the surface potential distribution shown in FIG. 9, a voltage corresponding to the surface potential distribution of the object to be detected is detected.

(発明が解決しようとする問題点) 第19図に示されている既提案の表面電位分布と対応す
る電気信号の発生装置では、これまで第11図乃至第1
8図を参照して説明したところからも判かるように、検
出ヘッドEDAにおける電圧検出用電極EDと被検出体
Oの表面との間隔が。
(Problems to be Solved by the Invention) Until now, in the electric signal generating device corresponding to the previously proposed surface potential distribution shown in FIG.
As can be seen from the explanation with reference to FIG. 8, the distance between the voltage detection electrode ED in the detection head EDA and the surface of the detected object O is.

空間に設定された2つの所定の位置の間で変化されるよ
うにしておき、また、電圧検出用電界効果トランジスタ
DFにおけるドレイン・ゲート間の漏洩電流によるゲー
ト電極の電位上昇に対するリセット動作を1例えば、第
14図の(b)におけるB−B線、C−C線−D−D線
のような各線の位置における被検出体0の表面電位の検
出が終了する度毎に行われるようにして検出電圧を飽和
させないようにした際における電圧検出のタイミングと
リセット動作の開始とリセット動作の解除のタイミング
とを、電圧検出用電極EDと被検出体Oとの前記したよ
うな間隔と関連させて第20図に示されるようなものに
設定することにより、被検出体の表面電位分布と対応し
ている状態の検出電圧が得られるので、この第19図示
の既提案の装置によって従来の問題点は解決できたが、
これまでの説明からも判かるように、第19図示の既提
案の表面電位分布と対応する電気信号の発生装置では、
それの実施に際して検出ヘッドEDAにおける電圧検出
圧電JIEDと被検出体0の表面との間隔が、空間に設
定された2つの所定の位置の間で変化されるようになさ
れることが必要とされるために機械的な振動機構を用い
なければならず、したがって、構成が大掛かりになると
いう欠点がある他、振動の発生や騒音の発生などが問題
になり、記録再生袋に、撮像型記録再生装置などの構成
に当っては前記のような諸欠点の無い装置の出現が望ま
れた。
For example, the reset operation is performed in response to an increase in the potential of the gate electrode due to a leakage current between the drain and gate of the field effect transistor DF for voltage detection. , is performed every time the detection of the surface potential of the object to be detected 0 at the position of each line such as line B-B and line C-C-D-D in FIG. 14(b) is completed. The timing of voltage detection, the timing of starting the reset operation, and the timing of canceling the reset operation when the detection voltage is not saturated are related to the above-described distance between the voltage detection electrode ED and the object to be detected O. By setting the settings as shown in FIG. 20, a detection voltage corresponding to the surface potential distribution of the object to be detected can be obtained. was solved, but
As can be seen from the above explanation, in the electric signal generator corresponding to the previously proposed surface potential distribution shown in FIG. 19,
In implementing it, it is necessary that the distance between the voltage detection piezoelectric JIED in the detection head EDA and the surface of the detected object 0 is changed between two predetermined positions set in space. Therefore, it is necessary to use a mechanical vibration mechanism, which has the disadvantage of requiring a large-scale configuration, and also causes problems such as generation of vibration and noise. With such a configuration, it has been desired to develop a device that does not have the above-mentioned drawbacks.

(問題点を解決するための手段) 本発明は記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像が
形成される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静1t
tFJ導で生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検
出用電界効果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効
果トランジスタにおける入力側回路の静電容量に前記の
電圧検出用電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲー
ト′e#@間の漏洩電流によって充電した電荷を放電さ
せるためのリセット手段とを含んで構成されている電荷
潜像による記録再生装置において、電荷潜像形成部材の
記録再生領域からの電荷潜像の再生動作が、記録再生対
象の情報信号と対応する電荷N像による表面電位分布を
示す第1の領域と、予め定められた一定の表面電位分布
を示す第2の領域とについて順次交互に行われるように
する手段と、前記した第1の領域と第2の領域とにおけ
る予め定められた一方の領域においてリセット動作が行
われるようにする手段とを備えてなる電荷潜像による記
録再生装置、及び、記録再生対象の光学像情報と対応す
る電荷潜像が形成される電荷潜像形成部材の表面電位に
応じて静ttt誘導で生じた電圧がゲート電極に与えら
れる電圧検出用電界効果トランジスタと、前記の電圧検
出用電界効果トランジスタにおける入力側回路の静電容
量に前記の電圧検出用電界効果トランジスタのドレイン
電極・ゲートt!!極間の漏洩電流によって充電した電
荷を放電させるためのリセット手段とを含んで構成され
ている電荷潜像による撮像型記録再生装置において、被
写体と電荷潜像形成部材との間に、記録再生対象の情報
信号と対応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1
の領域と、予め定められた一定の表面電位分布を示す第
2の領域とを形成させるようにするマスク部材を設け、
また、電荷潜像形成部材の記録再生領域からの電荷潜像
の再生動作が、lIE録再主再生対象報信号と対応する
電荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域と、予め
定められた一定の表面電位分布を示す第2の領域とにつ
いて順次交互に行われるようにする手段と、前記した第
1の領域と第2の領域とにおける予め定められた一方の
領域においてリセット動作が行われるようにする手段と
を備えてなる電荷潜像による撮像型記録再生装置、なら
びに記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像が形成
される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静電誘導で
生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検出用電界効
果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効果トランジ
スタにおける入力側回路の静電容量に前記の電圧検出用
電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲート電極間の
漏洩電流によって充電した電荷を放電させるためのリセ
ット手段とを含んで構成されている電荷潜像による記録
再生装置において。
(Means for Solving the Problems) The present invention provides a static 1 t
A voltage detection field effect transistor in which the voltage generated by the tFJ conduction is applied to the gate electrode, and a drain electrode/gate of the voltage detection field effect transistor in the capacitance of the input side circuit of the voltage detection field effect transistor. In a charge latent image recording and reproducing apparatus that includes a reset means for discharging the charge charged by a leakage current between 'e#@, The reproduction operation is sequentially and alternately carried out on a first region showing a surface potential distribution according to the charge N image corresponding to the information signal to be recorded and reproduced, and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution. a recording/reproducing device using a charge latent image, comprising means for causing the reset operation to be performed in a predetermined one of the first area and the second area; and a voltage detection field effect transistor in which a voltage generated by static ttt induction is applied to a gate electrode according to a surface potential of a charge latent image forming member on which a charge latent image corresponding to optical image information to be recorded and reproduced is formed. , the drain electrode/gate t! of the voltage detection field effect transistor is added to the capacitance of the input side circuit of the voltage detection field effect transistor. ! In an imaging type recording and reproducing device using a charge latent image, which includes a reset means for discharging the charge charged by a leakage current between electrodes, a recording and reproducing object is placed between the subject and the charge latent image forming member. The first diagram shows the surface potential distribution due to the charge latent image corresponding to the information signal of
and a second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution,
Further, the reproducing operation of the charge latent image from the recording and reproducing area of the charge latent image forming member is performed in a predetermined manner with respect to the first area showing the surface potential distribution due to the charge latent image corresponding to the IIE recording/reproducing main reproduction target information signal. means for performing the reset operation in a predetermined one of the first region and the second region; an imaging type recording and reproducing device using a charge latent image, which is equipped with a means for making a charge latent image appear; A field effect transistor for voltage detection in which a voltage generated by induction is applied to the gate electrode, and a drain electrode and a gate electrode of the field effect transistor for voltage detection are connected to the capacitance of the input side circuit of the field effect transistor for voltage detection. In a recording/reproducing device using a charge latent image, the device includes a reset means for discharging charges accumulated by leakage current between the charges.

電荷潜像形成部材の記録再生領域における記録再生対象
の情報信号と対応する電荷潜像による表面電位分布を示
す第1の領域と、予め定められた一定の表面電位分布を
示す第2の領域とのそれぞれの領域について1表面型位
分布の検出動作とリセット動作とが順次に行われるよう
にする手段と。
a first region showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and played back in the recording/playback area of the charge latent image forming member; and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution. means for sequentially performing a detection operation and a reset operation for one surface type distribution for each region;

前記した第1の領域における検出々力と第2の領域にお
ける検出々力とを減算して出力信号を得る手段とを備え
てなる電荷潜像による記録再生装置を提供するものであ
る。
The present invention provides a recording and reproducing apparatus using a latent charge image, which includes means for obtaining an output signal by subtracting the detection force in the first area and the detection force in the second area.

(実施例) 以下、添付図面を参照して本発明の電荷潜像による記録
再生装置の具体的な内容について詳細に説明する。第1
図は本発明の電荷潜像による記録再生装置における電荷
潜像形成部材の記録再生領域に対する検出ヘッドによる
再生動作を説明するための電荷潜像形成部材の記録再生
領域と検出ヘッドとの対応関係を示すための平面図であ
り、第1図においてEDAは検出ヘッドであって、この
検出ヘッドEDAは第1図中のX方向に主走査が行われ
るとともに、第1図中のY方向に副走査が行われるよう
になもので、前記の検出ヘッドEDAとしては第19図
示の既提案装置に関連して第11図乃至第13図を参照
して既述されているような構成態様のものが使用されて
もよい。
(Embodiments) Hereinafter, specific details of the recording/reproducing apparatus using charge latent images of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 1st
The figure shows the correspondence relationship between the recording and reproducing area of the charge latent image forming member and the detection head to explain the reproducing operation by the detection head with respect to the recording and reproducing area of the charge latent image forming member in the recording and reproducing apparatus using the charge latent image of the present invention. In FIG. 1, EDA is a detection head, and this detection head EDA performs main scanning in the X direction in FIG. 1 and sub-scanning in the Y direction in FIG. 1. The detection head EDA has the configuration described above with reference to FIGS. 11 to 13 in connection with the previously proposed device shown in FIG. 19. may be used.

第1図においてRZ 4t、電荷潜像形成部材(第2図
中に符号CHLで示されている)における記録再生領域
を例示したもので、この電荷潜像形成部材CHLの記録
再生領域RZ中において、TRI。
In FIG. 1, RZ 4t is an example of the recording and reproducing area in the charge latent image forming member (indicated by the symbol CHL in FIG. 2). , T.R.I.

TR2・・・のようにTR(TRI、 ′rRz・・・
のように。
TR2...like TR(TRI, 'rRz...
like.

それぞれの部分を区別することなく表示する場合には、
添字の1,2記載が省略される)として表示されている
それぞれの領域は、電荷潜像形成部材CHLの記録再生
領域RZにおいて記録再生対象の情報信号と対応する電
荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域であり、ま
た、電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZ中にお
いて、OPI、OF2・・・のように0P(OPI、O
F2・・・のように、それぞれの部分を区別することな
く表示する場合には、添字の1,2記載が省略される)
として表示されているそれぞれの領域は、電荷潜像形成
部材CHLの記録再生領域RZにおいて予め定められた
一定の表面電位分布を示す第2の領域である。
If you want to display each part without distinguishing them,
Each area indicated as (subscripts 1 and 2 is omitted) indicates the surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to the information signal to be recorded and reproduced in the recording and reproduction area RZ of the charge latent image forming member CHL. Also, in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, 0P (OPI, OF2, etc.)
When displaying each part without distinguishing them, as in F2..., the subscripts 1 and 2 are omitted.)
Each region indicated as is a second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution in the recording/reproducing region RZ of the charge latent image forming member CHL.

そして、本発明の電荷潜像による記録再生装置において
、記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像による記
録が行われている電荷潜像形成部材CHLの記録再生領
域RZに電荷像として記録されている情報信号の再生が
行われる場合には。
In the charge latent image recording and reproducing apparatus of the present invention, the charge latent image is recorded as a charge image in the recording and reproducing region RZ of the charge latent image forming member CHL where the charge latent image corresponding to the information signal to be recorded and reproduced is being recorded. If the regeneration of the information signal is carried out.

電荷潜像形成部材CHLにおける記録再生領域RZの電
荷像の検出に用いられる検出ヘッドEDAが、電荷潜像
形成部材CHLの記録再生領域RZにおいて記録、再生
対象の情報48号と対応する電荷潜像による表面電位分
布を示す第1の領域TRと。
The detection head EDA used to detect the charge image in the recording and reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL detects a charge latent image corresponding to information No. 48 to be recorded and reproduced in the recording and reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL. A first region TR exhibiting a surface potential distribution according to.

予め定められた一定の表面電位分布を示す第2の領域O
Pとに順次交互に位置するようになされるとともに、前
記した第1の領域TRと第2の領域oPとにおけろ予め
定められた一方の領域において読出し動作が行われたと
きには、前記の読出し動作が行われなかった他方の領域
においてはリセット動作が行われるようになされるので
ある。
A second region O exhibiting a predetermined constant surface potential distribution
When the read operation is performed in one predetermined area of the first area TR and the second area oP, the read A reset operation is performed in the other area where no operation was performed.

前記の点を具体的に説明すると次のとおりである。すな
わち、例えば、電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域
RZに電荷像として記録されている情報信号の読出しに
当って、検出ヘッドEDAが電荷潜像形成部材CHLの
記録再生領域RZにおける第1の領域TRI、TR2・
・・において読出し動作が行われるようになされたとき
には、前記の読出し動作が行われなかった他方の領域、
すなわち、第2の領域OPI、OP2・・・においてリ
セット動作が行われるようになされるのであり、また前
記の場合とは逆に1例えば、電荷潜像形成部材CHLの
記録再生領域RZに電荷像として記録されている情報信
号の読出しに肖って、検出ヘッドEDAが電荷潜像形成
部材CHLの記録再生領域RZにおける第2の領域○P
I、○P2・・・において読出し動作を行うようになさ
れたときには、前記の読出し動作が行われなかった他方
の領域、すなわち、第1の領域TRI、TR2・・・に
おいてリセット動作が行われるようになされるのである
The above point will be specifically explained as follows. That is, for example, when reading an information signal recorded as a charge image in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, the detection head EDA detects the first signal in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL. Area TRI, TR2・
When the read operation is performed in ..., the other area where the read operation was not performed,
In other words, the reset operation is performed in the second areas OPI, OP2, etc., and contrary to the above case, for example, a charge image is formed in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL. Upon reading out the information signal recorded as
When a read operation is performed in I, P2, . . . , a reset operation is performed in the other region where the read operation was not performed, that is, the first region TRI, TR2, . It will be done.

そして、tli荷潜像形成部材CHLの記録再生領域R
Zに電荷像として記録されている情報信号の読出し動作
とリセット動作とが検出ヘッドEDAによって前述のよ
うな態様、すなわち、検出ヘッドEDAが電荷潜像形成
部材CHLの記録再生領域RZにおける第1の領域TR
I、TR2・・・と、第2の領域OP1.OP2・・・
との何れか一方の予め定められた領域において読出し動
作が行われ、また。
Then, the recording/reproducing area R of the latent image forming member CHL
The reading operation and resetting operation of the information signal recorded as a charge image on the charge latent image forming member CHL are carried out by the detection head EDA in the manner described above, that is, the detection head EDA performs the readout operation and the reset operation of the information signal recorded as a charge image on the charge latent image forming member CHL in the first recording/reproducing area RZ. Area TR
I, TR2... and the second area OP1. OP2...
A read operation is performed in a predetermined area of one of the.

前記の読出し動作が行われなかった他方の領域において
リセット動作が行われるようになされたときは、第19
図を参照して説明した既提案の装置における電荷像によ
る情報信号の読取り動作及びリセット動作と同様な電荷
像による情報信号の読取り動作及びリセット動作とが、
検出ヘッドEDAを振動させない状態で良好に行うこと
ができるのである。
When the reset operation is performed in the other area where the read operation was not performed, the 19th
The information signal read operation and reset operation using a charge image are similar to the information signal read operation and reset operation using a charge image in the previously proposed device described with reference to the figures.
This can be done well without vibrating the detection head EDA.

なお、前記のように検出ヘッドEDAによる読取り動作
が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける
第1の領域TRI、TR2・・・で行われるとともにリ
セット動作が第2の領域OP1゜OF2・・・で行われ
た場合と、検出ヘッドEDAによる読取り動作が電荷潜
像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける第2の領
域OPI、OP2・・・で行われるとともにリセット動
作が第1の領I!1ITR1,TR2・・・で行われた
場合とでは検出ヘッドEDAから出力される検出信号の
極性が逆になるが、この点は@19図示の既提案装置に
ついて説明したところと同様である。
As described above, the reading operation by the detection head EDA is performed in the first areas TRI, TR2, . ..., the reading operation by the detection head EDA is performed in the second areas OPI, OP2, etc. in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is performed in the first area I. ! 1ITR1, TR2, etc., the polarity of the detection signal output from the detection head EDA is reversed, but this point is the same as that described for the already proposed device shown in @19.

前記のように本発明装置では、電荷潜像形成部材CFi
 Lの記録再生領域RZに電荷像として記録されている
情報信号の読出しに当って行われる電荷潜像形成部材C
HLの記録再生領域からの電荷潜像の再生動作が、記録
再生対象の情報信号と対応する電荷潜像による表面電位
分布を示す第1の領域TRと、予め定められた一定の表
面電位分布を示す第2の領f!j、OPとについて順次
交互に行われるとともに、前記した第1の領域TRと第
2の領域OPとにおける予め定められた一方の領域に・
・おいてリセット動作が行われるようにされるのである
が、電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZに記録
再生対象の情報信号と対応する電荷潜像による表面電位
分布を示す第1の領域TRと、予め定められた一定の表
面電位分布を示す第2の領域OPとが順次交互に配列さ
れるべき前記した第1の領域TRと第2の領域OPとの
2つの領域は、例えば(1)電荷潜像形成部材CHLの
記録再生領域R,Zに記録再生対象の情報信号を電荷像
として2!録させる記録動作時に前記2つの領域が形成
されるようにしたり、あるいは例えば、 (2)電荷潜
像形成部材CHLの記録再生領域RZに電荷像として記
録されている記録再生対象の情報信号を再生する際の再
生動作時に前記2つの領域が形成されるようにしたり、
もしくは例えば(3)電荷潜像形成部材CHLの記録再
生領域RZに記録再生対象の情報(i号を電荷像として
記録させるべき電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域
RZ自体の構成態様によって前記2つの領域が形成され
るようにしたりするのである。
As described above, in the apparatus of the present invention, the charge latent image forming member CFi
Charge latent image forming member C used when reading information signals recorded as charge images in the recording/reproducing area RZ of L
The reproduction operation of the charge latent image from the recording and reproduction area of the HL creates a predetermined constant surface potential distribution between the first region TR showing the surface potential distribution due to the charge latent image corresponding to the information signal to be recorded and reproduced. The second territory f! j, OP, and one predetermined region of the first region TR and second region OP described above.
・The reset operation is performed at a first region showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced in the recording/reproducing region RZ of the charge latent image forming member CHL. The two regions, the first region TR and the second region OP, in which the TR and the second region OP exhibiting a predetermined constant surface potential distribution are sequentially and alternately arranged, for example, ( 1) The information signal to be recorded and reproduced is set as a charge image in the recording and reproduction areas R and Z of the charge latent image forming member CHL.2! (2) Reproducing the information signal to be recorded and reproduced recorded as a charge image in the recording and reproduction area RZ of the charge latent image forming member CHL. The two regions are formed during the playback operation when
Or, for example, (3) the information to be recorded and reproduced in the recording and reproduction area RZ of the charge latent image forming member CHL (depending on the configuration of the recording and reproduction area RZ itself of the charge latent image forming member CHL in which the number i is to be recorded as a charge image). In other words, two regions are formed.

第2図は電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZに
、記録再生対象の光学像を電荷像として記録媒体D(第
2図示の例では記録媒体円盤りとして示されている)に
記録させるように構成した記録再生装置において、被写
体Qと電荷潜像形成部材CHLとの間の光路中に光透過
部分と光遮断部分とによる所定のパターンを有する光学
的なマスク部材PMPを配置して、電荷潜像形成部材C
HLの記録再生領域RZに記録再生対象の情報信号と対
応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域T
Rと、予め定められた一定の表面電位分布を示す第2の
領域○Pとが順次交互に配列されている状態のものが記
録動作時に得られるようにさせた場合の記録再生装置の
構成例を示している図である。
In FIG. 2, an optical image to be recorded and reproduced is recorded as a charge image on a recording medium D (shown as a recording medium disc in the example shown in the second diagram) in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL. In the recording/reproducing apparatus configured as above, an optical mask member PMP having a predetermined pattern of light transmitting portions and light blocking portions is disposed in the optical path between the subject Q and the charge latent image forming member CHL, Charge latent image forming member C
A first region T showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced in the recording and reproduction region RZ of the HL.
An example of a configuration of a recording/reproducing device in which a state in which R and second regions ○P showing a predetermined constant surface potential distribution are sequentially and alternately arranged is obtained during a recording operation. FIG.

第2図において、Dは導電性材料で構成された電極Et
と電荷潜像形成部材CHLとを備えた記録媒体円盤であ
り、この記録媒体円盤りは回転軸または回動軸1が第3
図中の矢印Rの方向に回動することによって、被写体Q
の光学像と対応する電荷像が領域RZI、RZ2・・・
に順次に記録されて行くようになされている。
In FIG. 2, D is an electrode Et made of a conductive material.
and a charge latent image forming member CHL.
By rotating in the direction of arrow R in the figure, the subject Q
The optical image and the corresponding charge image are in the regions RZI, RZ2...
The data are recorded sequentially.

第2図示に示されている記録媒休日I!lDにおいては
、電極Etが記録媒体円盤りの基板と兼用とされている
。また、記録媒体円盤りにおける電荷潜像形成部材CH
Lとしては、それに形成された電荷像を長時間にわたっ
て保持できるような高い絶縁性を有する材料層、例えば
高分子材料による絶縁層として構成されたものを用いる
ことができる。なお、記録媒体りの形態としては回転円
盤に限られないことは勿論である。
Recording medium holiday I shown in the second illustration! In ID, the electrode Et also serves as the substrate of the recording medium disk. Further, the charge latent image forming member CH in the recording medium disc
As L, a material layer having high insulating properties that can hold the charge image formed thereon for a long time, for example, a material layer configured as an insulating layer made of a polymer material can be used. Note that, of course, the form of the recording medium is not limited to a rotating disk.

第2図に示されている記録再生装置において。In the recording/reproducing apparatus shown in FIG.

被写体性からの光は場像レンズ■、を介して、ガラス基
板BPと、透明[44Etwと、光透過部分と光遮断部
分とによる所定のパターンを有する光学的なマスクPM
Pと、光導電層部材PCEとを積層して構成させである
光学像−電荷像変換部材における光導電層部材PCEに
結像される。前記した光透過部分と光遮断部分とによる
所定のパターンを有する光学的なマスクPMPは、被写
体9と光導電層部材PCBとの間の光路中のどの部分に
設けられてもよい。
The light from the subject is passed through the field image lens (2), the glass substrate BP, the transparent [44Etw, and the optical mask PM having a predetermined pattern of light-transmitting parts and light-blocking parts.
The image is formed on the photoconductive layer member PCE in an optical image-to-charge image conversion member which is constructed by laminating P and the photoconductive layer member PCE. The optical mask PMP having a predetermined pattern of light transmitting portions and light blocking portions described above may be provided at any portion in the optical path between the subject 9 and the photoconductive layer member PCB.

前記した光学像−電荷像変換部材における電極Etwと
、記録媒体円盤りにおけるftt極Etとの間には、図
示されていない電源から一定の電圧が加えられているか
ら、被写体Qの光学像が結像された光導電層部材PCE
の電気抵抗は、それに結像された被写体aの光学像と対
応して変化しているものとなる。
Since a constant voltage is applied from a power supply (not shown) between the electrode Etw in the optical image/charge image conversion member and the ftt pole Et in the recording medium disk, the optical image of the subject Q is Imaged photoconductive layer member PCE
The electrical resistance of is changed in correspondence with the optical image of the subject a formed thereon.

それで、光学像−電荷像変換部材の端面、すなわち光導
電層部材PCEの端面には、被写体Qの光学像が光透過
部分と光遮断部分とによる所定のパターンを有する光学
的なマスクPMPを透過した光学像と対応した電荷像パ
ターンが現われて、それにより記録媒体円盤りにおける
電荷潜像形成部材CHLには被写体qの光学像が光透過
部分と光遮断部分とによる所定のパターンを有する光学
的なマスクPMPを透過した光学像と対応した電荷像が
形成される。
Therefore, on the end face of the optical image-charge image conversion member, that is, the end face of the photoconductive layer member PCE, an optical image of the subject Q is transmitted through an optical mask PMP having a predetermined pattern of light transmitting portions and light blocking portions. A charge image pattern corresponding to the optical image obtained appears on the charge latent image forming member CHL on the recording medium disk, and an optical image of the subject q is formed on the charge latent image forming member CHL on the recording medium disk. A charge image corresponding to the optical image transmitted through the mask PMP is formed.

前記のように記録媒体りの記録再生領域RZに対して記
録動作が行われている状態においては光学僧−電荷像変
換部材の端面、すなわち光導電層部材PCEの端面と記
録媒体円盤りにおける電荷潜像形成部材CHLの表面と
は密着した状態または両者が微小な間隔を隔てて対向し
ている状態となされるが、今1例えば、記録媒体りの記
録再生領域RZにおけるある一つの記録再生領域RZI
に対する記録動作が終了して1次の記録再生領域R,Z
2の位置まで記録媒体円盤りが回転される際のように、
1つの記録再生領域から次の記録再生領域にまで記録媒
体円盤りが移動される際には。
As described above, when the recording operation is being performed on the recording/reproducing area RZ of the recording medium, the electric charges on the end face of the optical charge image converting member, that is, the end face of the photoconductive layer member PCE and the recording medium disk. The surface of the latent image forming member CHL may be in close contact with the surface of the latent image forming member CHL, or may be in a state where both sides are facing each other with a small distance between them. RZI
After the recording operation for the primary recording/reproducing area R, Z
As when the recording medium disk is rotated to position 2,
When the recording medium disk is moved from one recording/playback area to the next recording/playback area.

光学像−電荷像変換部材の端面、すなわち光導電層部材
PCEの端面と記録媒体円盤りにおける電荷潜像形成部
材CRT=の表面が離隔した状態になされるのである。
The end face of the optical image/charge image converting member, that is, the end face of the photoconductive layer member PCE, and the surface of the charge latent image forming member CRT= on the recording medium disk are separated from each other.

前記した第2図中の記録再生装置に使用されている光学
的なマスク部材PMPは、例えば第4図の(a)にそれ
の一部が平面図として示されているような構成のもので
あり、この第4図の(a)に示されている光学的なマス
ク部材PMPにおいて2゜2・・・の部分は光の透過部
分であり、3,3・・の部分は光の遮断部分(例えば黒
色の部分)である。
The optical mask member PMP used in the recording/reproducing apparatus shown in FIG. 2 described above has a structure, for example, as a part of it is shown in a plan view in FIG. 4(a). In the optical mask member PMP shown in FIG. 4(a), the portion at 2°2... is a light transmitting portion, and the portion at 3,3... is a light blocking portion. (for example, the black part).

この第4図の(a)に示されているような構成の光学的
なマスク部材PMPを介して被写体Qの光学像が与えら
れた光学像−電荷像変換部材における光導電層部材PC
Eには、光学的なマスク部材PMPにおける光の透過部
分2,2・・・の部分と対応する部分に被写体役の光学
像と対応した電気抵抗の変化が呪われ、また、光学的な
マスク部材PMPにおける光の遮断部分(例えば黒色の
部分)3゜3・・・と対応する光学像−電荷像変換部材
における光導電層部材PCEの部分は一定の高い電気抵
抗値を示す状態になされるから、この光学的なマスク部
材PMPを介して被写体への光学像が与えられた光学像
−電荷像変換部材における光導電層部材PCEの端部に
は、光学的なマスク部材PMPにおける光の透過部分2
,2・・・の部分と対応する部分に被写体Qの光学像と
対応した電荷像が形成されている領域(第1図の記録再
生領域RZにおいて領域TRI、TR2・・・とじて示
されている領域の形成に用いられる領域)が形成され、
また光学的なマスク部材PMPにおける光の遮断部分(
例えば黒色の部分)3,3・・・と対応する光学像−電
荷像変換部材における光導電層部材PCEの端部には、
一定な電位を示す領域(第1図の記録再生領域RZにお
いて領域OP1.○P2・・・として示されている領域
の形成に用いられる領域)が形成される。
A photoconductive layer member PC in an optical image-to-charge image conversion member to which an optical image of a subject Q is provided via an optical mask member PMP having a configuration as shown in FIG. 4(a).
E is cursed with a change in electrical resistance corresponding to the optical image of the subject in the portions corresponding to the light transmitting portions 2, 2, etc. in the optical mask member PMP, and the optical mask The portions of the photoconductive layer member PCE in the optical image-charge image conversion member corresponding to the light blocking portions (for example, black portions) 3゜3... in the member PMP are made to exhibit a constant high electrical resistance value. Therefore, at the end of the photoconductive layer member PCE in the optical image-to-charge image conversion member to which an optical image is applied to the subject through the optical mask member PMP, there is a layer of light transmitted through the optical mask member PMP. part 2
, 2, . . . , a region in which a charge image corresponding to the optical image of the subject Q is formed (indicated as regions TRI, TR2, . . . in the recording/reproducing region RZ in FIG. 1) area used to form the area) is formed,
In addition, the light blocking portion in the optical mask member PMP (
For example, at the end of the photoconductive layer member PCE in the optical image-charge image conversion member corresponding to the black portion) 3, 3...
A region exhibiting a constant potential (a region used to form the regions shown as regions OP1, P2, . . . in the recording/reproducing region RZ of FIG. 1) is formed.

それで、第2図示の′V、録再主再生装置って記録媒体
円盤すにおける電荷潜像形成部材CHLに記録された被
写体aと対応する電荷像は、被写体役の光学像が光透過
部分と光遮断部分とによる所定のパターンを有する光学
的なマスクPMPを透過した光学像と対応した電荷像パ
ターンとなされるのであり、既述のように記録媒体用g
lDの電荷潜像形成部材CHLにおける記録再生領域R
Zの電荷像が検出ヘッドEDAによって、電荷潜像形成
部材CHLの記録再生領域RZにおいて記録再生対象の
情報信号と対応する電荷潜像による表面電位分布を示す
第1の領域TRと、予め定められた一定の表面電位分布
を示す第2の領域OPとに順次交互に位置するようにな
されるとともに、前記した第1の領域TRと第2の領域
OPとにおける予め定められた一方の領域において読出
し動作が行われ、前記の読出し動作が行われなかった他
方の領域においてはリセット動作が行われるようになさ
れることにより、第2図示の記録再生装置では第19図
を参照して説明した既提案の装置における電荷像による
情報信号の読取り動作及びリセット動作と同様な電荷像
による情報信号の読取り動作及びリセット動作とが、検
出ヘッドEDAを振動させない状態で良好に行うことが
できる。
Therefore, the charge image corresponding to the object a recorded on the charge latent image forming member CHL in the recording medium disk of the main recording/reproducing device shown in FIG. A charge image pattern corresponding to the optical image transmitted through the optical mask PMP having a predetermined pattern due to the light blocking portion is formed, and as described above, the charge image pattern is
Recording and reproducing area R in charge latent image forming member CHL of ID
The charge image Z is detected by the detection head EDA into a first region TR that shows a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced in the recording and reproduction region RZ of the charge latent image forming member CHL, and and a second region OP exhibiting a constant surface potential distribution, and the readout is performed in a predetermined one of the first region TR and second region OP. By performing the reset operation in the other area where the read operation was performed and the read operation was not performed, the recording/reproducing apparatus shown in the second diagram can achieve the above-mentioned proposal described with reference to FIG. 19. The information signal read operation and reset operation using a charge image similar to the information signal read operation and reset operation using a charge image in the device described above can be performed satisfactorily without vibrating the detection head EDA.

また、前記のように検出ヘッドEDAによる読取り動作
が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける
第1の領域TR1,TR2・・・で行われるとともにリ
セット動作が第2の領域○P1゜OF2・・・で行われ
た場合と、検出ヘッドEDAによる読取り動作が電荷潜
像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける第2の領
域OPI、OP2・・・で行われるとともにリセット動
作が第1の領域TR1,TR2・・・で行われた場合と
では検出ヘッドEDAから出力される検出信号の極性が
逆になるが、この点は第19図示の既提案装置について
説明したところと同様である。
Further, as described above, the reading operation by the detection head EDA is performed in the first regions TR1, TR2, . . . in the recording/reproducing region RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is performed in the second region ..., the reading operation by the detection head EDA is performed in the second areas OPI, OP2, etc. in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is performed in the first area. The polarity of the detection signal output from the detection head EDA is reversed in the cases where TR1, TR2, etc. are used, but this point is the same as that described for the already proposed device shown in FIG.

これまでの説明は被写体aの光学像が第4図の(a)に
示されているように光透過部分と光遮断部分とによる所
定のパターンを有する光学的なマスクPMPを透過した
光学像と対応した電荷像パターンとして記録媒体円盤り
における電荷潜像形成部材CHLに光学的なマスクPM
Pを透過した光学像と対応した電荷像を形成させるよう
にした場合の実施例についてのものであったが、光学像
−電荷像変換部材における透明電極Etwを2つの櫛歯
状の電f4i4.5として組合わせた構成形態の第4図
の(b)に示されているような電気的なマスク部材とし
、前記した電気的なマスク部材を構成している2つの櫛
歯状のit[4,5の内の一方の電極4には記録媒体り
における電極Etとの間に図示されていない電源によっ
て所定の電圧が加わるようにするとともに、前記した電
気的なマスク部材を構成している2つの櫛歯状の電極4
,5の内の他方の電極5は、それを記録媒体りにお番プ
る電極Etと同電位とする(記録媒体りにおける電極E
tと直接に接続する)ことにより、前記した第4図の(
a)に示されているような構成の光学的なマスク部材P
MPを使用した場合と同様な電荷像が記録媒体円盤りに
おける電荷潜像形成部材CHLに形成されるようにした
ものである。
The explanation so far has been based on the optical image of the subject a transmitted through an optical mask PMP having a predetermined pattern of light-transmitting parts and light-blocking parts, as shown in FIG. 4(a). An optical mask PM is applied to the charge latent image forming member CHL on the recording medium disk as a corresponding charge image pattern.
In this embodiment, a charge image corresponding to an optical image transmitted through P is formed. However, the transparent electrode Etw in the optical image-charge image conversion member is connected to two comb-shaped electric currents f4i4. The electric mask member is as shown in FIG. , 5, a predetermined voltage is applied between it and the electrode Et in the recording medium by a power supply (not shown), and 2 constitutes the electrical mask member described above. Two comb-shaped electrodes 4
, 5 is set to the same potential as the electrode Et located on the recording medium (electrode E
(directly connected to t), the above-mentioned (
An optical mask member P configured as shown in a)
A charge image similar to that in the case of using MP is formed on the charge latent image forming member CHL on the recording medium disk.

なお、第4図の(b)に示されている電気的なマスク部
材と、第4図の(a)に示されているような構成の光学
的なマスク部材PMPとは、それらのものを使用して形
成される電荷像と関連して次のような対応関係、第4図
の(a)に示されているような構成の光学的なマスク部
材PMPにおける光透過部分2,2・・・は、第4図の
(b)に示されているような構成の電気的なマスク部材
を構成している2つの櫛歯状の電極4,5の内で、記録
媒体りにおける電極Etとの間で図示されていない電源
によって所定の電圧が加わるようにされる一方の電極4
と対応し、また、第4図の(a)に示されているような
構成の光学的なマスク部材PMPにおける光遮断部分3
,3・・・は、第4図の(b)に示されているような構
成の電気的なマスク部材を構成している2つの櫛歯状の
電極4,5の内で、記録媒体りにおけるfi!t4iE
tと同電位にされる他方の電極5と対応している。
The electrical mask member shown in FIG. 4(b) and the optical mask member PMP having the configuration shown in FIG. 4(a) are different from each other. In relation to the charge image formed using the optical mask member PMP, the light transmitting portions 2, 2, . . .・ is the electrode Et on the recording medium among the two comb-shaped electrodes 4 and 5 constituting the electrical mask member configured as shown in FIG. 4(b). One electrode 4 to which a predetermined voltage is applied by a power source (not shown) between
In addition, the light blocking portion 3 in the optical mask member PMP having the configuration shown in FIG. 4(a) corresponds to
, 3... are the two comb-shaped electrodes 4, 5 constituting the electrical mask member configured as shown in FIG. 4(b). fi! t4iE
It corresponds to the other electrode 5 which is set to the same potential as t.

前記した第2図中の記録再生装置における光学像−電荷
像変換部材における電極Etwとして。
As the electrode Etw in the optical image-charge image conversion member in the recording/reproducing apparatus shown in FIG. 2 described above.

例えば前記した第4図の(b)にそれの一部が平面図と
して示されているような構成のものが使用された場合に
は、被写体咬の光学像が与えられた光学像−電荷像変換
部材における光導電層部材pcEにおいて前記した電気
的なマスク部材における電極4の部分と対応する部分に
は被写体状の光学像と対応した電気抵抗の変化が現われ
、また、被写体Qの光学像が与えられた光学像−電荷像
変換部材における光導電層部材PCEにおいて前記した
電気的なマスク部材における電極5の部分と対応する部
分は一定の高い電気抵抗値を示す状態になされるから、
この電気的なマスク部材を介して被写体砲の光学像が与
えられた光学像−電荷像変換部材における光導電層部材
PCHの端部には、電気的なマスク部材における電極4
の部分と対応する部分には、被写体σの光学像と対応し
た電荷像が形成されている領域(第1図の記録再生領域
RZにおいて領域TRI、TR2・・・として示されて
いる領域の形成に用いられる領域)が形成され、また電
気的なマスク部材における電極5の部分と対応する光学
像−電荷像変換部材における光導電層部材PCEの端部
には、一定な電位を示す領域(第1図の記録再生領域R
Zにおいて領域OP1゜OF2・・・として示されてい
る領域の形成に用いられる領域)が形成される。
For example, if a configuration such as that shown in FIG. 4(b) above as a plan view is used, an optical image given an optical image of the subject's bite - a charge image. In the photoconductive layer member pcE of the conversion member, a change in electrical resistance corresponding to the optical image of the object appears in a portion corresponding to the electrode 4 portion of the electric mask member, and the optical image of the object Q appears. In the photoconductive layer member PCE of the given optical image-charge image conversion member, the portion corresponding to the portion of the electrode 5 in the electrical mask member described above is made to exhibit a constant high electrical resistance value.
At the end of the photoconductive layer member PCH in the optical image-to-charge image conversion member to which the optical image of the subject gun is applied via this electrical mask member, an electrode 4 in the electrical mask member is provided.
In the part corresponding to the part, a region where a charge image corresponding to the optical image of the subject σ is formed (formation of regions shown as regions TRI, TR2, etc. in the recording/reproducing region RZ in FIG. 1). At the end of the photoconductive layer member PCE in the optical image-to-charge image conversion member, which corresponds to the electrode 5 portion in the electrical mask member, a region showing a constant potential (area used for Recording/playback area R in Figure 1
In Z, regions OP1°OF2 . . . used for forming the regions are formed.

それで、第2図示の記録再生装置によって記録媒体円盤
りにおける電荷潜像形成部材CI(Lに記録された被写
体代と対応する電荷像は、被写体αの光学像が前記した
電気的なマスク部材における電極4の部分と電極5の部
分とによる所定のパターンと対応した電荷像パターンと
なされるのであり、既述のように記録媒体円盤りの電荷
潜像形成部材CHLにおける記録再生領域RZの電荷像
が検出ヘッドEDAによって、電荷潜像形成部材CHL
の記録再生領域RZにおいて記録再生対象の情報信号と
対応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域
TRと、予め定められた一定の表面電位分布を示す第2
の領域oPとに順次交互に位置するようになされるとと
もに、前記した第1の領域TRと第2の領域oPとにお
ける予め定められた一方の領域において読出し動作が行
われ。
Therefore, the charge image corresponding to the subject area recorded on the charge latent image forming member CI (L) on the recording medium disk by the recording/reproducing apparatus shown in the second figure is the same as that of the optical image of the subject α on the electric mask member described above. A charge image pattern corresponding to a predetermined pattern formed by the electrode 4 portion and the electrode 5 portion is formed, and as described above, the charge image in the recording/reproducing area RZ in the charge latent image forming member CHL of the recording medium disk is formed. is detected by the detection head EDA on the charge latent image forming member CHL.
In the recording/reproducing area RZ, there is a first area TR showing a surface potential distribution based on a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded/reproduced, and a second area TR showing a predetermined constant surface potential distribution.
The readout operation is performed in a predetermined one of the first region TR and the second region oP.

前記の読出し動作が行われなかった他方の領域において
はリセット動作が行われるようになされることにより、
第2図示の記録再生装置では第19図を参照して説明し
た既提案の装置における電荷像による情報信号の読取り
動作及びリセット動作と同様な電荷像による情報信号の
読取り動作及びリセット動作とが、検出ヘッドEDAを
振動させない状態で良好に行うことができる。
By performing the reset operation in the other area where the read operation was not performed,
In the recording and reproducing apparatus shown in FIG. 2, the reading operation and resetting operation of the information signal using the charge image are similar to the operation of reading the information signal using the charge image and the resetting operation in the previously proposed device described with reference to FIG. 19. This can be done well without vibrating the detection head EDA.

また、前記のように検出ヘッドEDAによる読取り動作
が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける
第1の領域TRI、TR2・・・で行われるとともにリ
セット動作が第2の領域OPI。
Further, as described above, the reading operation by the detection head EDA is performed in the first areas TRI, TR2, . . . in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is performed in the second area OPI.

OF2・・・で行われた場合と、検出ヘッドEDAによ
る読取り動作が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域
RZにおける第2の領域OPI、OP2・・・で行われ
るとともにリセット動作が第1の領域TRL、TR2・
・・で行われた場合とでは検出ヘッドEDAから出力さ
れる検出信号の極性が逆になるが。
OF2..., the reading operation by the detection head EDA is carried out in the second areas OPI, OP2... in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is carried out in the first Area TRL, TR2・
. . . The polarity of the detection signal output from the detection head EDA is reversed.

この点は第19図示の既提案装置について説明したとこ
ろと同様である。
This point is the same as that described for the already proposed device shown in FIG.

次に、第5図に示されている記録再生装置は光学像−電
荷像変換部材における光導電層部材PCEと、記録媒体
円盤りにおける電荷潜像形成部材CHLとの間に所定の
パターンの静電遮蔽部を有する静電遮蔽マスク部材EM
Pを配置して、電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域
RZに記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像によ
る表面電位分布を示す第1の領域TRと、予め定められ
た一定の表面電位分布を示す第2の領域OPとが順次交
互に配列されている状態のものが記録動作時に得られる
ようにさせた場合の記録再生装置の構成例を示している
図である。
Next, the recording and reproducing apparatus shown in FIG. Electrostatic shielding mask member EM having an electric shielding part
A first region TR showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced in the recording/reproducing region RZ of the charge latent image forming member CHL, and a predetermined constant surface. FIG. 7 is a diagram showing an example of the configuration of a recording/reproducing apparatus in which a state in which second regions OP indicating potential distribution are sequentially and alternately arranged is obtained during a recording operation.

第5図において、Dは導電性材料で構成された電極Et
と電荷潜像形成部材CHLとを儂えた記録媒体円盤であ
り、この記録媒体円盤りにおける電荷潜像形成部材CH
Lとしては、それに形成された電荷像を長時間にわたっ
て保持できるような高い絶縁性を有する材料層1例えば
高分子材料による絶縁層として構成されたものが用いら
れる。
In FIG. 5, D is an electrode Et made of a conductive material.
and a charge latent image forming member CH in this recording medium disc.
As L, a material layer 1 having a high insulating property capable of retaining a charge image formed thereon for a long time, for example, an insulating layer made of a polymeric material is used.

記録媒体りの形態としては回転円盤に限られないことは
勿論である。
Of course, the form of the recording medium is not limited to a rotating disk.

第5図に示されている記録再生装置において。In the recording and reproducing apparatus shown in FIG.

被写体qからの光は撮像レンズLを介して、ガラス基板
BPと、透明電極Etwと、光導電層部材PCEとを積
層して構成させである光学像−電荷像変換部材における
光導電層部材PCEに結像される。
Light from the subject q passes through the imaging lens L to the photoconductive layer member PCE in an optical image-to-charge image conversion member, which is constructed by laminating a glass substrate BP, a transparent electrode Etw, and a photoconductive layer member PCE. is imaged.

前記した光学像−電荷像変換部材における電極Etwと
、記録媒体円盤りにおけるf!!、極Etとの間には、
図示されていない電源から一定の電圧が加えられている
から、被写体Qの光学像が結像された光導電層部材PC
Eの電気抵抗は、それに結像された被写体qの光学像と
対応して変化しているものとなる。
The electrode Etw in the optical image-to-charge image conversion member described above and f! in the recording medium disk. ! , between the pole Et,
Since a constant voltage is applied from a power supply (not shown), the photoconductive layer member PC has an optical image of the subject Q formed thereon.
The electrical resistance of E changes in accordance with the optical image of the subject q formed thereon.

それで、光学像−電荷像変換部材の端面、すなわち光導
電層部材PCEの端面には、被写体Qの光学像と対応し
た電荷像パターンが現われる。ところが、前記のように
被写体Qの光学像と対応した電荷像パターンが現われて
いる光学像−電荷像変換部材の端面、すなわち光導電層
部材PCBの端面と、記録媒体円盤りにおける電荷潜像
形成部材CHLとの間には、例えば第6図に例示されて
いるように金属板14に孔15,15・・・を!3!設
して構成した所定のパターンの静電遮蔽部を有する静電
遮蔽マスク部材EMPが配置されており、そ九が記録媒
体円盤りにおける電極Etに接続されているから、前記
のように記録媒体りの記録再生領域RZに対して記録動
作が行われている状態において、記録媒体円盤りの電荷
潜像形成部材CI−(Lにおいて、前記した所定のパタ
ーンの静電遮蔽部を有する静電遮蔽マスク部材EMPに
おける孔15.15・・・と対応している部分には、被
写体ξの光学像と対応した電荷像が形成されている領域
(第1図の記録再生領域RZにおいて領域TR1゜TR
2・・・として示されている領域の形成に用いられる領
域)が形成され、また、記録媒体円盤りの電荷潜像形成
部材CHLにおいて、前記した所定のパターンの静電遮
蔽部と対応している部分には一定な電位を示す領域(第
1図の記録再生領域R2において領域OPI、OP2・
・・として示されている領域の形成に用いられる領域)
が形成される。
Therefore, a charge image pattern corresponding to the optical image of the subject Q appears on the end face of the optical image-charge image conversion member, that is, on the end face of the photoconductive layer member PCE. However, as described above, a charge latent image is formed on the end face of the optical image-charge image conversion member where a charge image pattern corresponding to the optical image of the subject Q appears, that is, the end face of the photoconductive layer member PCB, and on the recording medium disk. For example, as illustrated in FIG. 6, holes 15, 15, . . . are formed in the metal plate 14 between the member CHL and the member CHL! 3! Since the electrostatic shielding mask member EMP having a predetermined pattern of electrostatic shielding portions is connected to the electrode Et on the recording medium disc, as described above, In a state where a recording operation is being performed on the recording/reproducing area RZ of the recording medium disk, the electrostatic shielding member having the electrostatic shielding portion of the predetermined pattern described above is applied to the charge latent image forming member CI-(L) In the portions of the mask member EMP corresponding to the holes 15, 15, etc., there is a region where a charge image corresponding to the optical image of the subject ξ is formed (region TR1゜TR in the recording/reproducing region RZ in FIG. 1).
2) is formed, and in the charge latent image forming member CHL of the recording medium disk, a region corresponding to the electrostatic shielding portion of the predetermined pattern described above is formed. In the recording/reproducing area R2 of FIG. 1, there are areas OPI, OP2, and
(area used to form the area indicated as...)
is formed.

それで、第5図示の記録再生装置によって記録媒体円盤
りにおける電荷潜像形成部材CI−I Lに記録された
被写体Qと対応する電荷像は、被写体Qの光学像と対応
している電荷像が前記した所定のパターンの静電遮蔽部
を有する静電遮蔽マスク部材EMPにおける孔15.1
5・・・と対応した電荷像パターンとなされるのであり
、既述のように記録媒体円盤りの電荷潜像形成部材CH
Lにおける記録再生領域RZの電荷イ9が検出ヘッドE
 l) Aによって、電荷潜像形成部材CI−i Lの
記録再生領域RZにおいて記録再生対象の情報信号と対
応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域T
Rと、予め定められた一定の表面電位分布を示す第2の
領域○Pとに順次交互に位置するようになされるととも
に、前記した第1の領域TRと第2の領域OPとにおけ
る予め定められた一方の領域において読出し動作が行わ
れ、前記の読出し動作が行われなかった他方の領域にお
いてはリセット動作が行われるようになされることによ
り、第5図示の記録再生装置では第19図を参照して説
明した既提案の装置における電荷像による情報信号の読
取り動作及びリセット動作と同様な電荷像による情報信
号の読取り動作及びリセット動作とが、検出ヘッドED
Aを振動させない状態で良好に行うことができる。
Therefore, the charge image corresponding to the object Q recorded on the charge latent image forming member CI-IL on the recording medium disc by the recording/reproducing apparatus shown in FIG. Hole 15.1 in the electrostatic shielding mask member EMP having the electrostatic shielding portion of the predetermined pattern described above
5..., and as mentioned above, the charge latent image forming member CH of the recording medium disc
The charge A9 in the recording/reproducing area RZ at L is the detection head E.
l) A first region T showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced in the recording and reproduction region RZ of the charge latent image forming member CI-i L;
R and a second region ○P showing a predetermined constant surface potential distribution, and are arranged alternately in the first region TR and the second region OP described above. In the recording/reproducing apparatus shown in FIG. 5, the read operation is performed in one area where the read operation was performed, and the reset operation is performed in the other area where the read operation was not performed. The reading operation and resetting operation of an information signal using a charge image, which are similar to the operation of reading an information signal using a charge image and the resetting operation in the previously proposed device described with reference to this, are performed by the detection head ED.
This can be done well without vibrating A.

また、前記のように検出ヘッドEDAによる読取り動作
が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける
第1の領域TRI、TR2・・・で行われるとともにリ
セット動作が第2の領域○PI。
Further, as described above, the reading operation by the detection head EDA is performed in the first areas TRI, TR2, .

OF2・・・で行われた場合と、検出ヘッドEDAによ
る読取り動作が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域
RZにおける第2の領域○Pi、OP2・・・で行われ
るとともにリセット動作が第1の領域Trζ1. TR
2・・・で行われた場合とでは検出ヘッドEDAから出
力される検出信号の極性が逆になるが、この点は第19
図示の既提案装置について説明したところと同様である
OF2..., the reading operation by the detection head EDA is carried out in the second area ○Pi, OP2... in the recording and reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is carried out in the first The region Trζ1. T.R.
2..., the polarity of the detection signal output from the detection head EDA is reversed, but this point is
This is the same as described for the previously proposed device shown in the figure.

第6図に示されているように所定のパターンの静電遮蔽
部を有する静電遮蔽マスク部材EMPは、それを記録媒
体円盤りの電荷潜像形成部材Cに被写体Qの光学像と完
全に対応している状態の電荷像が形成されている場合に
おける再生動作時に記録媒体円盤りの電荷潜像形成部材
Cと検出ヘッドEDAとの間に挿入した状態とし、検出
ヘッドEDAによる記録媒体円盤りの電荷潜像形成部材
CHLにおける記録再生領域RZの電荷像の検出動作を
、電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域R2において
記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像による表面
電位分布を示す第1の領域TR(所定のパターンの静電
遮蔽部を有する静電遮蔽マスク部材EMPにおける孔1
5,1.5・・・と対応している領域)と、予め定めら
れた一定の表面電位分布を示す第2の領域OP(所定の
パターンの静電遮蔽部を有する静電遮蔽マスク部材EM
Pにおける孔15と孔15との間の部分に対応している
領域)とに順次交互に位置させて、前記した第1の領域
TRと第2の領域○Pとにおける予め定められた一方の
領域において読出し動作を行い、前記の読出し動作が行
われなかった他方の領域においてはリセット動作を行う
ようにすることにより、第5図示の記録再生装置ではf
519図を参照して説明した既提案の装着における電荷
像による情報信号の読取り動作及びリセット動作と同様
な電荷像による情報信号の読取り動作及びリセット動作
とが、検出ヘッドEDAを振動させない状態で良好に行
うことができるのである。
As shown in FIG. 6, an electrostatic shielding mask member EMP having a predetermined pattern of electrostatic shielding portions completely forms an optical image of a subject Q on a charge latent image forming member C of a recording medium disk. During the reproduction operation when a charge image in a corresponding state is formed, the recording medium disk is inserted between the charge latent image forming member C and the detection head EDA, and the detection head EDA detects the recording medium disk. The detection operation of the charge image in the recording and reproducing region RZ in the charge latent image forming member CHL is shown, and the surface potential distribution due to the charge latent image corresponding to the information signal to be recorded and reproduced in the recording and reproducing region R2 of the charge latent image forming member CHL is shown. First region TR (hole 1 in electrostatic shielding mask member EMP having a predetermined pattern of electrostatic shielding parts)
5, 1.5, etc.) and a second region OP (electrostatic shielding mask member EM having a predetermined pattern of electrostatic shielding portions) exhibiting a predetermined constant surface potential distribution.
A predetermined one of the first region TR and the second region ○P is sequentially and alternately located in the holes 15 in The recording and reproducing apparatus shown in FIG.
The information signal read operation and reset operation using a charge image similar to the information signal read operation and reset operation using a charge image in the existing proposed installation described with reference to FIG. It can be done.

また、前記のように検出ヘッドEDAによる読取り動作
が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおける
第1の領域TRI、TR2・・・で行われるとともにリ
セット動作が第2の領域OPI。
Further, as described above, the reading operation by the detection head EDA is performed in the first areas TRI, TR2, . . . in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is performed in the second area OPI.

OF2・・・で行われた場合と、検出ヘッドEDAによ
る読取り動作が電荷潜像形成部材CI(Lの記録再生領
域RZにおける第2の領域OPI、OP2・・・で行わ
れるとともにリセット動作が第1の領域TR1,TR2
・・・で行われた場合とでは検出ヘッドEDAから出力
される検出信号の極性が逆になるが。
OF2..., the reading operation by the detection head EDA is carried out in the second area OPI, OP2... in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CI (L), and the reset operation is carried out in the second area OPI, OP2... 1 area TR1, TR2
. . . The polarity of the detection signal output from the detection head EDA is reversed.

この点は第19図示の既提案装置について説明したとこ
ろと同様である。
This point is the same as that described for the already proposed device shown in FIG.

次に、第7図は記録媒体円盤りにおけろ電荷潜像形成部
材として記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像に
よる表面電位分布を示す第1の領域TRと、予め定めら
れた一定の表面電位分布を示す第2の領域OPとを電荷
潜像形成部材CI−T L自体で構成させるようにした
場合の記録媒体円盤りの構成例を示す平面図(第7図の
(a))と一部の側面図(第7図の(b))とを示した
ものであり、この第7図においてEtは導電性材料1例
えば金Hによって作られた雷t4.6,6・・・は絶縁
材料による電荷潜像形成部材の所定のパターンである。
Next, FIG. 7 shows a first region TR showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced as a charge latent image forming member in a recording medium disk, and a predetermined constant area TR. A plan view ((a) in FIG. 7) showing an example of the structure of the recording medium disk in the case where the second area OP showing the surface potential distribution is formed of the charge latent image forming member CI-TL itself. ) and a partial side view ((b) of FIG. 7). In this FIG. 7, Et is a lightning bolt made of conductive material 1, for example gold H. . is a predetermined pattern of a charge latent image forming member made of an insulating material.

この第7図に例示されているような構成形態を有する記
録媒体円盤りは、それの電荷潜像形成部材の所定のパタ
ーン6.6・・・の部分に対して光学像−電荷像変換部
材における光導電層部材PCEを対面させて、被写体Q
からの光を撮像レンズLを介して、ガラス基板BPと、
゛透明電極Etwと。
The recording medium disk having the configuration as illustrated in FIG. With the photoconductive layer member PCE facing the subject Q
The light from is passed through the imaging lens L to the glass substrate BP,
゛Transparent electrode Etw.

光導電層部材PCEとを積層して構成させである光学像
−電荷像変換部材に入射させて、被写体αの光学像を光
導電層部材PCEに結像させ、また。
The photoconductive layer member PCE is made incident on an optical image-to-charge image converting member configured by laminating the photoconductive layer member PCE, and an optical image of the subject α is formed on the photoconductive layer member PCE.

前記した電極Etと電tJiiEtwとの間に所定の電
圧を印加することにより、光導tt1層部材PCEの端
面には被写体Qの光学像に対応している電荷像が現われ
る。
By applying a predetermined voltage between the electrodes Et and tJiiEtw, a charge image corresponding to the optical image of the subject Q appears on the end surface of the light guide tt1 layer member PCE.

そして、記録媒体内ff1Dにおける電荷潜像形成部材
の所定のパターン6.6・・・の部分には被写体Qの光
学像と対応した@荷像が形成されている領域(第1図の
記録再生領域RZにおいて領14T R1。
Then, in the predetermined pattern 6, 6... of the charge latent image forming member in the recording medium ff1D, an area where an @image corresponding to the optical image of the subject Q is formed (recording/reproduction in FIG. Region 14T R1 in region RZ.

TR2・・・として示されている領域の形成に用いられ
る領域)が形成され、また、記B媒体日ff1Dの電[
iEtが露出している部分には一定な電位を示す領域(
第1図の記録再生領域RZにおいて領域OPI、OP2
・・・として示されている領域の形成に用いられる領域
)が形成される。
The area used for forming the area shown as TR2...) is formed, and the area used for forming the area shown as TR2...
The exposed part of iEt has a region (
In the recording/reproducing area RZ of FIG. 1, areas OPI and OP2
. . . ) is formed.

それで、第7図示の構成を有する記録媒体円盤りにおけ
る電荷KI&形成部材6,6・・・に記録された被写体
αと対応する電荷像は、被写体凝の光学像と対応してい
る電荷像が前記した所定のパターンと対応した電荷像パ
ターンとなされるのであり。
Therefore, the charge image corresponding to the object α recorded on the charge KI & forming members 6, 6, etc. in the recording medium disk having the configuration shown in FIG. 7 is the charge image corresponding to the optical image of the object. This results in a charge image pattern corresponding to the predetermined pattern described above.

既述のように記録媒体円盤りの電荷潜像形成部材CHL
における記録再生領域RZの電荷像が検出ヘッドEDA
によって、記録媒体円盤りのの記録再生領域RZにおい
て記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像による表
面電位分布を示す第1の領域TRと、予め定められた一
定の表面電位分布を示す第2の領域opとに順次交互に
位置するようになされるとともに、前記した第1の領域
TRと第2の領域OPとにおける予め定められた一方の
領域において読出し動作が行われ、前記の読出し動作が
行われなかった他方の領域においてはリセット動作が行
われるようになされることにより、第5図示の記録再生
装置では第19図を参照して説明した既提案の装置にお
ける電荷像による情報信号の読取り動作及びリセット動
作と同様な電荷徐による情報信号の読取り動作及びリセ
ット動作とが、検出ヘッドEDAを振動させない状態で
良好に行うことができる。
As mentioned above, the charge latent image forming member CHL of the recording medium disk
The charge image in the recording/reproducing area RZ is detected by the detection head EDA.
Accordingly, in the recording/reproducing area RZ of the recording medium disk, a first area TR exhibiting a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded/reproduced, and a second area TR exhibiting a predetermined constant surface potential distribution. The reading operation is performed in one predetermined area of the first area TR and the second area OP, and the reading operation is performed in one predetermined area of the first area TR and the second area OP. By performing the reset operation in the other area where the resetting operation was not performed, the recording/reproducing apparatus shown in FIG. The reading operation and resetting operation of the information signal due to charge reduction, which are similar to the reading operation and resetting operation, can be performed satisfactorily without causing the detection head EDA to vibrate.

また、前記のように検出ヘッドEDAによる読取り動作
が電荷潜像形成部材CHI、の記録再生領域RZにおけ
る第1の領域TRI、TR2・・・で行われるとともに
リセット動作が第2の領域OP1.。
Further, as described above, the reading operation by the detection head EDA is performed in the first areas TRI, TR2, . .

OF2・・・で行われた場合と、検出ヘッドEDAによ
る読取り動作が電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域
RZにおける第2の領域OPI、OP2・・・で行われ
るとともにリセット動作が第1の領域TR1,TR2・
・・で行われた場合とでは検出ヘッドEDAから出力さ
れる検出信号の極性が逆になるが、この点は第19図示
の既提案装置について説明したとおりである。
OF2..., the reading operation by the detection head EDA is carried out in the second areas OPI, OP2... in the recording/reproducing area RZ of the charge latent image forming member CHL, and the reset operation is carried out in the first Area TR1, TR2・
..., the polarity of the detection signal output from the detection head EDA is reversed, but this point is as explained with respect to the already proposed device shown in FIG.

第8図は記録媒体円盤りにおける記録再生領域RZの大
部分を電荷潜像形成部材CHLによる第1の領域TRと
し、また、記録媒体円盤りの一部に記録媒体円盤りの電
極を露出させて構成した複数の部分7,7を第2の領域
OPとして設けた記録媒体円盤りを示したものである。
FIG. 8 shows that most of the recording/reproducing area RZ on the recording medium disk is made into a first area TR formed by the charge latent image forming member CHL, and the electrodes of the recording medium disk are exposed on a part of the recording medium disk. This figure shows a recording medium disk in which a plurality of portions 7, 7 each configured as a second area OP are provided.

この第8図示に例示した記録媒体円盤りでは第2の領域
OPとして記録媒体円盤りの電極を露出させて構成した
部分7.7が2個所とされているが、前記の第2の領域
oPとして記録媒体円盤りの電極を露出させる部分7,
7が3個所以上設けられてもよい。
In the recording medium disk illustrated in FIG. 8, there are two portions 7.7 where the electrodes of the recording medium disk are exposed as the second area OP. a portion 7 that exposes the electrodes of the recording medium disk;
7 may be provided at three or more locations.

第8図においてRは記録媒体円盤りの回転方向を示す矢
印であり、図中の8は矢印R方向に回転している記録媒
体円盤りの電荷潜像形成部材CHLに対して情報信号を
単一の記録素子によって電荷像の形態で記録して形成さ
せた記録跡を例示したものである。矢印R方向に回転し
ている記録媒体円盤りの電荷潜像形成部材CHLに、単
一の記録素子によって第8図中に示されているような形
態の記録跡8を形成させるために使用される単一の記録
素子としては、例えば、単一の針状fl!極を用いて構
成した記録素子、あるいは例えばレーザ光を電圧に変換
できるような機能を有する記録素子(透明電極と光導電
層とを積層した構成層態様の記録素子)、その他1点状
の電荷像を記録媒体円盤りの電荷潜像形成部材CHLに
形成させつるように構成された単一の記録素子が使用で
き、また、この第8図に示されているような構成の記録
媒体円盤りに対して電荷像の形態で記録形成されている
記録跡8からの情報信号の再生に際しては。
In FIG. 8, R is an arrow indicating the rotation direction of the recording medium disk, and 8 in the figure simply transmits an information signal to the charge latent image forming member CHL of the recording medium disk rotating in the direction of the arrow R. This is an example of a recording trace formed by recording in the form of a charge image by one recording element. It is used to form a recording trace 8 in the form shown in FIG. 8 by a single recording element on the charge latent image forming member CHL of the recording medium disk rotating in the direction of arrow R. As a single recording element, for example, a single needle fl! A recording element configured using a pole, or a recording element having a function of converting laser light into voltage (a recording element with a constituent layer structure in which a transparent electrode and a photoconductive layer are laminated), and other single-point electric charges. A single recording element configured to form an image on the charge latent image forming member CHL of the recording medium disk can be used, and a recording medium disk configured as shown in FIG. On the other hand, when reproducing the information signal from the recording trace 8 recorded in the form of a charge image.

例えば、電荷像の電圧を静電誘導によって検出する単針
電極を骨えている単一の再生素子、あるいは、1!荷像
の電圧をレーザ光のスポットで検出できるように構成さ
れた単一の再生素子(透明電極と例えばニオブ酸リチウ
ム単結晶のような光変調材層と誘電体ミラーとの積層構
成よりなる素子)などを用いることができる。
For example, a single reproducing element comprising a single needle electrode that detects the voltage of a charge image by electrostatic induction, or 1! A single reproducing element configured so that the voltage of the charged image can be detected with a laser beam spot (an element consisting of a laminated structure of a transparent electrode, a light modulating material layer such as a lithium niobate single crystal, and a dielectric mirror) ) etc. can be used.

この記録媒体円盤りからの情報信号の再生時においても
、電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域からの電荷潜
像の再生動作時は、記録再生対象の情報信号と対応する
電荷PfIeによる表面電位分布を示す第1の領域(第
8図中において7以外の部分)と、予め定められた一定
の表面電位分布を示す第2の領域7とについて順次交互
に、かつ、前記した第1の領域と第2の領域7とにおけ
る予め定められた一方の領域においてリセット動作が行
われるようにされることにより、電荷像による情報信号
の読取り動作とリセット動作とが単一の再生素子を振動
させない状態で良好に行うことができる。
Even when reproducing an information signal from this recording medium disc, when reproducing a charge latent image from the recording and reproducing area of the charge latent image forming member CHL, the surface potential due to the charge PfIe corresponding to the information signal to be recorded and reproduced is The first region showing the distribution (the part other than 7 in FIG. 8) and the second region 7 showing a predetermined constant surface potential distribution are sequentially and alternately arranged, and the first region described above is By performing the reset operation in one of the predetermined regions of the second region 7 and the second region 7, a state is achieved in which the reading operation of the information signal based on the charge image and the reset operation do not vibrate a single reproducing element. It can be done well.

さて、これまでに説明した各実施例装置においては、リ
セット動作が行われてから次のリセット動作が行われる
までの期間に、既述した検出ヘッドEDAにおける検出
用の電界効果トランジスタのドレイン電極からゲート電
極への漏洩電流が入力側回路の静電容量を充電すること
によって検出電圧の変動を起こすが、検出ヘッドEDA
による情報信号の読取り動作とリセット動作とを第9図
に示されているようなタイミングで行うとともに、検出
ヘッドEDAから読出された検出電圧を第10図に例示
されているような構成の信号処理回路を用いて信号処理
すれば、検出ヘッドEDAの検出電圧に前記のノjX因
によって生じている電圧変動を良好に除去することがで
きる。
Now, in each of the embodiments described so far, during the period from when a reset operation is performed to when the next reset operation is performed, from the drain electrode of the detection field effect transistor in the detection head EDA described above, Leakage current to the gate electrode charges the capacitance of the input circuit, causing fluctuations in the detection voltage, but the detection head EDA
The reading operation and reset operation of the information signal are performed at the timing shown in FIG. 9, and the detection voltage read from the detection head EDA is processed in a signal processing configuration as illustrated in FIG. 10. If signal processing is performed using a circuit, it is possible to satisfactorily eliminate voltage fluctuations caused by the above-mentioned factors in the detection voltage of the detection head EDA.

第9図は既述した第1図中に例示されている記録再生領
域RZ中における第1の領域TRと第2の領域OPとの
それぞれについて、読取り動作とリセット動作とが順次
に行われることによって得られる検出々力の信号波形側
図を示したものであり、この第9図においてZtrn、
 Zopn、Ztr(n+1)。
FIG. 9 shows that a read operation and a reset operation are sequentially performed for each of the first area TR and second area OP in the recording/reproducing area RZ illustrated in FIG. 1 already mentioned. This figure shows the signal waveform side diagram of the detected force obtained by Ztrn,
Zopn, Ztr(n+1).

Zop(n+1)・・・とじて示されているそれぞれの
期間は、検出ヘッドEDAにより表面電位の検出(情報
信号の読取り)が行われるべき第1図中の記録再生領域
RZ中の第1の領域TRと第2の領域OPとにおける第
n番目、第n+1番目・・・のものに検出ヘッドEDA
がそれぞれ位置されている期間を示しており、また第9
図中に示されているリセット電位の表示は既述した第1
1図中のリセット電位Vssを示しでいるものである。
Each period indicated as Zop(n+1)... is the first period in the recording/reproducing area RZ in FIG. 1 in which surface potential detection (information signal reading) is to be performed by the detection head EDA. The detection head EDA is applied to the n-th, n+1-th, etc. in the region TR and the second region OP.
indicates the period in which they are located, and the 9th
The display of the reset potential shown in the figure is based on the first
1 shows the reset potential Vss in FIG.

さて、記録媒体円盤りの記録再生領域RZに対する検出
ヘッドEDAによる情報信号の読取り動作とリセット動
作とが、第9図に示されているように第1図中に例示さ
九でいる記録再生領域RZ中における第1の領域TRと
第2の領域oPとのそれぞれについて、読取り動作とリ
セット動作とが順次に行われたときには、記録再生領域
RZ中における第0番1]の第1の領域Z trn 、
記録再生領域RZ中における第n番目の第2の領域Zo
pn。
Now, as shown in FIG. 9, the reading operation and reset operation of the information signal by the detection head EDA in the recording/reproducing area RZ of the recording medium disk are performed in the recording/reproducing area indicated by 9 in FIG. 1 as an example. When the read operation and the reset operation are performed sequentially for each of the first area TR and the second area oP in the RZ, the first area Z of No. 0 and 1 in the recording/reproducing area RZ trn,
n-th second area Zo in the recording/reproducing area RZ
pn.

記録再生領域RZ中における第n+1番目の第1の領域
Ztr(nil)、記録再生領域RZ中における第n+
1番目の第2の領域Zop(n+1)・・・などにおい
て順次に検出される信号は、時間軸上で順次交互に極性
が反転している状態の第9図に示されているような状態
の信号になっているが、前記したように第1の領域T 
L(と第2の領域OFとのそれぞれについて読取り動作
とリセット動作とが順次に行われたときに第9図に示さ
れているような状態の信号になる理d口士第19図及び
第20図を参照して既述したところから容易に理解でき
る。
The n+1st first area Ztr (nil) in the recording and reproducing area RZ, the n+th area in the recording and reproducing area RZ
The signals sequentially detected in the first second region Zop(n+1), etc. are in a state as shown in FIG. 9, in which the polarity is sequentially and alternately reversed on the time axis. However, as mentioned above, the first region T
When the read operation and the reset operation are sequentially performed for each of L (and the second area OF), the signal becomes in the state shown in FIG. 9. This can be easily understood from what has already been described with reference to FIG.

第10図は、検出ヘッドEDAから出力された第9図に
示されている状態の信号、すなオ)ち、時系列信号にお
ける時間軸上に並ぶy1次のGV号の極性が反転してい
る状態の信号に対する43号処理回路であって、この第
10図において9は信号処理回路の入力端子、SWは可
動接点が1水平走査期間毎に2つの固定接点a、b間で
交互に切換えられるような切換スイッチ、1HDLは1
水平走査期間の遅延回路、PRCは極性反転回路、AD
Dは加算回路、LMは必要に応じて設けられる1ライン
メモリ(信号の欠落補償用の1ラインメモリ)、10a
は出力端子である。
FIG. 10 shows a signal output from the detection head EDA in the state shown in FIG. No. 43 is a processing circuit for a signal in a state in which 9 is an input terminal of the signal processing circuit in FIG. 1HDL is 1
Horizontal scanning period delay circuit, PRC is a polarity inversion circuit, AD
D is an adder circuit, LM is a 1-line memory provided as necessary (1-line memory for compensating for signal loss), 10a
is the output terminal.

第10図に示されている信号処理回路の入力端子9に対
して検出ヘッドEDAから出力された第9図に示されて
いる状態の信号、すなわち、時間軸上で信号の極性が順
次に反転している状態の信号が供給され、また、切換ス
イッチSWの可動接点が図示されていない制御端子に供
給されている切換制御信号に従って入力端子9に供給さ
れている信号の繰返し周期に同期した切換動作を行って
いる場合には、切換スイッチSWの固定接点aに接続さ
れている1水平走査期間の遅延回路IHDLからの出力
信号と、極性反転回路PRCからの出力信号との2信号
が加算回路ADDに供給される。
The signal in the state shown in FIG. 9 is output from the detection head EDA to the input terminal 9 of the signal processing circuit shown in FIG. 10, that is, the polarity of the signal is sequentially reversed on the time axis. In addition, the movable contact of the changeover switch SW switches in synchronization with the repetition period of the signal supplied to the input terminal 9 in accordance with a switching control signal supplied to a control terminal (not shown). When the operation is in progress, two signals, the output signal from the delay circuit IHDL for one horizontal scanning period connected to the fixed contact a of the changeover switch SW, and the output signal from the polarity inversion circuit PRC are sent to the adder circuit. Supplied to ADD.

前記した加算回路ADDに供給された2信号において、
表面電位の被検出体となされている記録媒体円盤りの表
面電位と対応している検出電圧。
In the two signals supplied to the adder circuit ADD,
Detection voltage corresponding to the surface potential of the recording medium disk, which is the object to be detected for surface potential.

すなわち、記録媒体円盤りから読出された信号における
時間軸上で相次ぐ2信号は互に同相信号として加算回路
ADDに供給されており、また、前記の2信号中に含ま
れている残留漏洩電流は互に逆位相の信号となっている
から、加算回路ADDから1ラインメモリLMに供給さ
れる信号は、前記した加算回路ADDに供給された2信
号中に含まれている残留漏洩電流成分の打消された状態
の信号になされているとともに、記録媒体円盤りから読
出された検出電圧が2倍になっている状態の信号となっ
ている。
That is, the two signals read out from the recording medium disc that are successive on the time axis are mutually supplied to the adder circuit ADD as in-phase signals, and the residual leakage current contained in the two signals is are signals with opposite phases to each other, so the signal supplied from the adder circuit ADD to the one-line memory LM is equal to the residual leakage current component contained in the two signals supplied to the adder circuit ADD. The signal is in a canceled state, and the detected voltage read from the recording medium disk is doubled.

したがって、1ラインメモリLMから出力端子10aに
送出される信号も前記したように加算回路ADDに供給
された2信号中に含まれている残留漏洩電流成分が打消
された状態になされているとともに、記録媒体円盤りか
ら読出された検出電圧が2倍になっている状態の信号に
なっている。
Therefore, the signal sent from the one-line memory LM to the output terminal 10a is also in a state in which the residual leakage current component contained in the two signals supplied to the adder circuit ADD is canceled as described above. The signal is a state in which the detected voltage read from the recording medium disk is doubled.

このように、第10図示の信号処理回路の出力端子10
aから出力される信号は、検出ヘッドEDAにおける相
次ぐリセット動作の間に信号中に生じている漏洩電流成
分が良好に除去されたものになっているから、既述した
ような問題点、すなわち、検出ヘッドEDAの電界効果
トランジスタにおける入力側回路の静電容量に対するド
レイン電極からゲート電極への漏洩電流による充電動作
によって、相次ぐリセット動作の相互間で検出電圧が変
動するという問題点は、検出ヘッドEDAによる情報信
号の読取り動作とリセット動作とを第9図に示されてい
るようなタイミングで行うとともに、検出ヘッドEDA
から読出された検出電圧を第10図に例示されているよ
うな構成の信号処理回路により信号処理することにより
良好に除去できるのである。
In this way, the output terminal 10 of the signal processing circuit shown in FIG.
Since the signal output from a has successfully removed the leakage current component that has occurred in the signal during successive reset operations in the detection head EDA, the above-mentioned problems can be avoided. The problem is that the detection voltage fluctuates between successive reset operations due to the charging operation caused by the leakage current from the drain electrode to the gate electrode with respect to the capacitance of the input circuit in the field effect transistor of the detection head EDA. The reading operation and reset operation of the information signal by the detection head EDA are performed at the timing shown in FIG.
The detection voltage read out from the signal can be effectively removed by processing the detected voltage using a signal processing circuit configured as illustrated in FIG.

(発明の効果) 以上、詳細に説明したところから明らかなように、本発
明の電荷潜像による記録再生装置は、記録再生対象の情
報信号と対応する電荷潜像が形成される電荷潜像形成部
材の表面電位に応じて静電誘導で生じた電圧がゲート電
極に与えられる電圧検出用電界効果トランジスタと、前
記の電圧検出用電界効果トランジスタにおける入力側回
路の静電容量に前記の電圧検出用電界効果トランジスタ
のドレイン電極・ゲート電極間の漏洩電流によって充電
した電荷を放電させるためのリセット手段とを含んで構
成されている電荷潜像による記録再生装置において、電
荷潜像形成部材の記録再生領域からの電荷潜像の再生動
作が、記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像によ
る表面電位分布を示す第1の領域と、予め定められた一
定の表面電位分布を示す第2の領域とについて順次交互
に行われるようにする手段と、前記した第1の領域と第
2の領域とにおける予め定められた一方の領域において
リセット動作が行われるようにする手段とを備えてなる
電荷潜像による記録再生装置。
(Effects of the Invention) As is clear from the above detailed explanation, the charge latent image recording and reproducing apparatus of the present invention is capable of forming a charge latent image in which a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced is formed. A field effect transistor for voltage detection, in which a voltage generated by electrostatic induction according to the surface potential of the member is applied to the gate electrode, and a capacitance of the input side circuit of the field effect transistor for voltage detection, as described above, is used for voltage detection. In a recording/reproducing device using a latent charge image, the recording/reproducing device includes a reset means for discharging charges accumulated by a leakage current between a drain electrode and a gate electrode of a field effect transistor. The reproducing operation of the charge latent image from the recording/reproduction target area includes a first region showing a surface potential distribution due to the charge latent image corresponding to the information signal to be recorded and reproduced, and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution. and means for causing the reset operation to be performed in a predetermined one of the first area and the second area. Recording and reproducing device by.

及び記録再生対象の光学像情報と対応する電荷潜像が形
成される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静電誘導
で生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検出用電界
効果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効果トラン
ジスタにおける入力側回路の静電容量に前記の電圧検出
用電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲート電極間
の漏洩電流によって充電した電荷を放電させるためのリ
セット手段とを含んで構成されている電荷潜像による撮
像型記録再生装置において、被写体と電荷潜像形成部材
との間に、記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像
による表面電位分布を示す第1の領域と、予め定められ
た一定の表面電位分布を示す第2の領域とを形成させる
ようにするマスク部材を設け、また、電荷潜像形成部材
の記録再生領域からの電荷潜像の再生動作が、記録再生
対象の情報信号と対応する電荷潜像による表面電位分布
を示す第1の領域と、予め定められた一定の表面電位分
布を示す第2の領域とについて順次交互に行われるよう
にする手段と、前記した第1の領域と第2の領域とにお
ける予め定められた一方の領域においてリセット動作が
行われるようにする手段とを備えてなる電荷潜像による
撮像型記録再生装置、ならびに記録再生対象の情報信号
と対応する電荷潜像が形成される電荷潜像形成部材の表
面電位に応じて静電誘導で生じた電圧がゲート電極に与
えられる電圧検出用電界効果トランジスタと、前記の電
圧検出用電界効果トランジスタにおける入力側回路の静
電容量に前記の電圧検出用電界効果トランジスタのドレ
イン電極・ゲート電極間の漏洩電流によって充電された
電荷を放電させるためのリセット手段とを含んで構成さ
れている電荷潜像による記録再生装置において、電荷潜
像形成部材の記録再生領域における記録再生対象の情報
信号と対応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1
の領域と、予め定められた一定の表面電位分布を示す第
2の領域とのそれぞれの領域について1表面電位分布の
検出動作とリセット動作とが順次に行われるようにする
手段と、前記した第1の領域における検出々力と、第2
の領域における検出々力とを減算して出力信号を得る手
段とを備えてなる電荷潜像による記録再生装置であるか
ら、この本発明の電荷潜像による記録再生装置において
は、高いインピーダンスを有する電圧検出用電極回路か
ら電圧を取出すために使用されるインピーダンス変換回
路の構成に電界効果トランジスタを使用した場合に、ド
レイン電極からゲート電極への漏洩電流により電界効果
トランジスタのゲート電極の入力側回路の静電容量が充
電されることによってゲート電極の電位が次第に上昇し
て行く現象による出力電圧の飽和が生じないようにする
ために適用されるリセット動作を被検出体における電荷
像の存在する領域で行フても容易に正し、い状態の電圧
検出々力を得ることができ、また、リセットが行オ)れ
た時点から次にリセットが行われるまでの期間において
電界効果トランジスタのゲート電極の入力側回路の静電
容量に対するドレイン電極・ゲート電極間の漏洩電流に
よる充電動作による検出電圧の上昇により、時間の経過
とともに電圧の検出値が不正確になるという問題も容易
に解決できるのであり、本発明により既述した従来の諸
問題点は良好に解決される。
and a voltage detection field effect transistor in which a voltage generated by electrostatic induction is applied to a gate electrode in accordance with the surface potential of a charge latent image forming member on which a charge latent image corresponding to optical image information to be recorded and reproduced is formed; The capacitance of the input side circuit of the voltage detection field effect transistor includes a reset means for discharging the charge accumulated by the leakage current between the drain electrode and the gate electrode of the voltage detection field effect transistor. In the imaging type recording and reproducing apparatus using a latent charge image, a first region exhibiting a surface potential distribution according to a latent charge image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced is provided between the subject and the latent charge image forming member; and a second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution. means for sequentially and alternately performing a first region showing a surface potential distribution according to a charge latent image corresponding to an information signal to be reproduced and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution; , an imaging type recording and reproducing device using a charge latent image, and a recording and reproducing target, comprising means for performing a reset operation in a predetermined one of the first region and the second region, and a recording and reproducing object. A field effect transistor for voltage detection in which a voltage generated by electrostatic induction is applied to a gate electrode according to the surface potential of a charge latent image forming member on which a charge latent image corresponding to an information signal is formed; The capacitance of the input side circuit of the field effect transistor includes a reset means for discharging the charge accumulated by the leakage current between the drain electrode and the gate electrode of the voltage detection field effect transistor. In a recording/reproduction device using a charge latent image, a first image indicating a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded/reproduced in a recording/reproduction area of a charge latent image forming member.
and a second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution, means for sequentially performing one surface potential distribution detection operation and a resetting operation; The detection power in the first region and the second
Since the recording and reproducing apparatus using a charge latent image of the present invention is provided with means for obtaining an output signal by subtracting the detection force in the region of When a field effect transistor is used in the configuration of an impedance conversion circuit used to extract voltage from a voltage detection electrode circuit, leakage current from the drain electrode to the gate electrode causes damage to the input side circuit of the gate electrode of the field effect transistor. In order to prevent saturation of the output voltage due to the phenomenon in which the potential of the gate electrode gradually increases as the capacitance is charged, the reset operation is applied to the area where the charge image exists in the detected object. It is possible to easily obtain correct voltage detection power even during operation, and it is also possible to easily obtain a voltage detection force in a correct state. This also easily solves the problem that the detected voltage value becomes inaccurate over time due to an increase in the detected voltage due to the charging operation due to the leakage current between the drain electrode and the gate electrode due to the capacitance of the input circuit. The present invention satisfactorily solves the conventional problems mentioned above.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の電荷潜像による記録再生装置における
電荷潜像形成部材の記録再生領域に対する検出ヘッドに
よる再生動作を説明するための電荷潜像形成部材の記録
再生領域と検出ヘッドとの対応関係を示すための平面図
、第2図及び第51司は記録再生装置の概略枯成を示す
側面図、第3図及び第7図の(a)ならびに第8図は記
録媒体円盤の平面図、第7図の(b)は記録媒体円盤の
側面図、第4図及び第6図はマスク部材の一部の平面図
、第9図は説明用の波形側図、第10図は信号処理回路
の構成例を示すブロック図、第11図は電荷像による記
録再生装置の問題点を説明するための回路側図、第12
図は検出ヘッドの構成例を示す斜視図、第143図は第
1−1図示の回路の動作の説明に使用される波形図、第
14図乃至第18図は動作説明用図、第19図は既提案
装置の構成・例を示す側面図、第20図は既提案装置の
動作説明用のタイミングチャートである。 Et・・・電極、Etw・・・透明電極、Q・・・被写
体、L・・・撮像レンズ、P M、 P・・・光透過部
分と光遮断部分とによる所定のパターンを有する光学的
なマスク、PCB・・・光導電層部材、E M P・・
・静電遮蔽マスク部材、EDA・・・検出ヘッド、RZ
・・・電荷潜像形成部材における記録再生領域、CHL
・・・電荷潜像形成部材、TR,TRI、TR2・・・
電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおいて記
録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像による表面電
位分布を示す第1の領域、op、○Pi、OP2・・・
電荷潜像形成部材CHLの記録再生領域RZにおいて予
め定められた一定の表面電位分布を示す第2の領域、0
・・・被検出体、DF・・・電圧検出用電界効果トラン
ジスタ、ED、EDI、ED2.ED3〜EDn・・・
電圧検出用電極、Cin・・・電圧検出用電界効果トラ
ンジスタD Fのゲート電極の入力回路側の静電容量、
SWr・・・リセット手段として用いられているスイッ
チ、C・・・被検出体0の表面と電圧検出用電極EDと
の間の静電容量、RQ・・・負荷抵抗、EDA・・・複
数の電圧検出用電極EDが所定の配列パターンで配列さ
れている検出ヘッド、A D D−・加算回路、Q 1
. Q 2. Q 3〜Q n−接続線、RFI、RF
2.RF3〜RFn−リセット用スイッチング手段とし
て使用される電界効果トランジスタ、 S Fl、 S
 F2.S F3〜S F n−スイッチング用電界効
果トランジスタ、SR・・・シフトレジスタ。 BP・・・基体、BGM・・・変位駆動装置、SW・・
・切換スイッチ、PRC・・・極性反転回路、I HD
 L・・・】−H遅延回路、1・・・回転軸、2・・・
光学的なマスク部材P M Pにおける光の透過部分、
3・・・光学的なマスク部材PMPにおける光の遮断部
分(例えばW、色の部分)、4,5・・・櫛歯状の電極
、6・・・絶縁材料による電荷潜像形成部材の所定のパ
ターン、10 、10 a 、 11−出力端子、14
−・・金pA板。 15・・・孔、20・・・リセットパルスPrの入力端
f、24・・・連結部材、25・・・変位駆動装置BG
Mにおける可動部26の中心保持子、26・・・可動部
。 27・・・変位駆動装置BGMの場合に可動コイルに対
して磁界を与える永久磁石。 特許出願人  日本ビクター株式会社1)7゜代理人弁
理士今間孝生・’=”L”−””’鴫−パ二 X          EDA (1・ (b) 矛3困 EDAX (b) 不1 ab (a) (、C) (d)
FIG. 1 shows the correspondence between the recording and reproducing area of the charge latent image forming member and the detection head to explain the reproducing operation by the detection head for the recording and reproducing area of the charge latent image forming member in the recording and reproducing apparatus using the charge latent image of the present invention. FIGS. 2 and 51 are plan views showing the relationship; FIGS. 2 and 51 are side views showing a schematic diagram of the recording/reproducing device; FIGS. 3 and 7(a), and FIG. 8 are plan views of the recording medium disc. , FIG. 7(b) is a side view of the recording medium disc, FIGS. 4 and 6 are plan views of part of the mask member, FIG. 9 is a waveform side view for explanation, and FIG. 10 is a signal processing diagram. FIG. 11 is a block diagram showing an example of a circuit configuration; FIG.
The figure is a perspective view showing an example of the configuration of the detection head, FIG. 143 is a waveform diagram used to explain the operation of the circuit shown in FIG. 1-1, FIGS. 14 to 18 are diagrams for explaining the operation, and FIG. 19 20 is a side view showing the configuration and example of the proposed device, and FIG. 20 is a timing chart for explaining the operation of the proposed device. Et...electrode, Etw...transparent electrode, Q...subject, L...imaging lens, PM, P...optical having a predetermined pattern of light transmitting portions and light blocking portions. Mask, PCB...Photoconductive layer member, EMP...
・Electrostatic shielding mask member, EDA...detection head, RZ
...Recording and reproducing area in charge latent image forming member, CHL
... Charge latent image forming member, TR, TRI, TR2...
A first area showing a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced in the recording/reproduction area RZ of the charge latent image forming member CHL, op, ○Pi, OP2...
A second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution in the recording/reproducing region RZ of the charge latent image forming member CHL, 0
... Detected object, DF... Field effect transistor for voltage detection, ED, EDI, ED2. ED3~EDn...
Voltage detection electrode, Cin...Capacitance on the input circuit side of the gate electrode of the voltage detection field effect transistor DF,
SWr...Switch used as a reset means, C...Capacitance between the surface of the detected object 0 and the voltage detection electrode ED, RQ...Load resistance, EDA...Plural Detection head in which voltage detection electrodes ED are arranged in a predetermined arrangement pattern, ADD-addition circuit, Q1
.. Q2. Q 3 ~ Q n- connection line, RFI, RF
2. RF3 to RFn - field effect transistors used as switching means for reset, S Fl, S
F2. SF3 to SFn-Switching field effect transistor, SR...shift register. BP... Base, BGM... Displacement drive device, SW...
・Selector switch, PRC...Polarity reversal circuit, I HD
L... ]-H delay circuit, 1... rotation axis, 2...
A light transmitting portion in the optical mask member PMP,
3... Light blocking part (for example, W, colored part) in optical mask member PMP, 4, 5... Comb tooth-shaped electrode, 6... Predetermined charge latent image forming member made of insulating material pattern, 10, 10a, 11-output terminal, 14
-...Gold pA plate. 15... Hole, 20... Input end f of reset pulse Pr, 24... Connection member, 25... Displacement drive device BG
Center retainer of the movable part 26 in M, 26... movable part. 27...Permanent magnet that applies a magnetic field to the moving coil in the case of the displacement drive device BGM. Patent Applicant: Victor Japan Co., Ltd. 1) 7゜Representative Patent Attorney Takao Imama・'=”L”-””’Shu-PaniX EDA (1. (a) (,C) (d)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像が形成
される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静電誘導で
生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検出用電界効
果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効果トランジ
スタにおける入力側回路の静電容量に前記の電圧検出用
電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲート電極間の
漏洩電流によって充電した電荷を放電させるためのリセ
ット手段とを含んで構成されている電荷潜像による記録
再生装置において、電荷潜像形成部材の記録再生領域か
らの電荷潜像の再生動作が、記録再生対象の情報信号と
対応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域
と、予め定められた一定の表面電位分布を示す第2の領
域とについて順次交互に行われるようにする手段と、前
記した第1の領域と第2の領域とにおける予め定められ
た一方の領域においてリセット動作が行われるようにす
る手段とを備えてなる電荷潜像による記録再生装置 2、記録再生対象の光学像情報と対応する電荷潜像が形
成される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静電誘導
で生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検出用電界
効果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効果トラン
ジスタにおける入力側回路の静電容量に前記の電圧検出
用電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲート電極間
の漏洩電流によって充電した電荷を放電させるためのリ
セット手段とを含んで構成されている電荷潜像による撮
像型記録再生装置において、被写体と電荷潜像形成部材
との間に、記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像
による表面電位分布を示す第1の領域と、予め定められ
た一定の表面電位分布を示す第2の領域とを形成させる
ようにするマスク部材を設け、また、電荷潜像形成部材
の記録再生領域からの電荷潜像の再生動作が、記録再生
対象の情報信号と対応する電荷潜像による表面電位分布
を示す第1の領域と、予め定められた一定の表面電位分
布を示す第2の領域とについて順次交互に行われるよう
にする手段と、前記した第1の領域と第2の領域とにお
ける予め定められた一方の領域においてリセット動作が
行われるようにする手段とを備えてなる電荷潜像による
撮像型記録再生装置 3、マスク部材として所定の光学的なパターンを有する
ものを用いた請求項2に記載の撮像型記録再生装置 4、マスク部材として所定のパターンを有する静電遮蔽
部材を用いた請求項2に記載の撮像型記録再生装置 5、電荷潜像形成部材として記録再生対象の情報信号と
対応する電荷潜像による表面電位分布を示す第1の領域
と、予め定められた一定の表面電位分布を示す第2の領
域とを電荷潜像形成部材自体に構成させたものを用いた
請求項1または請求項2に記載の撮像型記録再生装置 6、記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像が形成
される電荷潜像形成部材の表面電位に応じて静電誘導で
生じた電圧がゲート電極に与えられる電圧検出用電界効
果トランジスタと、前記の電圧検出用電界効果トランジ
スタにおける入力側回路の静電容量に前記の電圧検出用
電界効果トランジスタのドレイン電極・ゲート電極間の
漏洩電流によって充電した電荷を放電させるためのリセ
ット手段とを含んで構成されている電荷潜像による記録
再生装置において、電荷潜像形成部材の記録再生領域に
おける記録再生対象の情報信号と対応する電荷潜像によ
る表面電位分布を示す第1の領域と、予め定められた一
定の表面電位分布を示す第2の領域とのそれぞれの領域
について、表面電位分布の検出動作とリセット動作とが
順次に行われるようにする手段と、前記した第1の領域
における検出々力と第2の領域における検出々力とを減
算して出力信号を得る手段とを備えてなる電荷潜像によ
る記録再生装置
[Claims] 1. Voltage detection in which a voltage generated by electrostatic induction is applied to a gate electrode according to the surface potential of a charge latent image forming member on which a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced is formed. for discharging charges accumulated in the capacitance of the field effect transistor for voltage detection and the input side circuit of the field effect transistor for voltage detection due to the leakage current between the drain electrode and the gate electrode of the field effect transistor for voltage detection. In a charge latent image recording and reproducing apparatus configured to include a reset means, the operation of reproducing the charge latent image from the recording and reproducing area of the charge latent image forming member generates a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced. a first region showing a surface potential distribution according to the method and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution sequentially and alternately; A charge latent image recording/reproducing device 2 comprising a charge latent image recording/reproducing device 2 comprising means for performing a reset operation in a predetermined one of the regions, and a charge latent image corresponding to optical image information to be recorded/reproduced is formed. A field effect transistor for voltage detection in which a voltage generated by electrostatic induction is applied to the gate electrode according to the surface potential of a charge latent image forming member, and a capacitance of an input side circuit in the field effect transistor for voltage detection. In the imaging type recording and reproducing apparatus using a charge latent image, which is configured to include a reset means for discharging the charge charged by the leakage current between the drain electrode and the gate electrode of the field effect transistor for voltage detection, A first region exhibiting a surface potential distribution due to a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced, and a second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution between the charge latent image forming member and the charge latent image forming member. A mask member is provided to form a charge latent image, and the reproduction operation of the charge latent image from the recording/reproducing area of the charge latent image forming member shows a surface potential distribution due to the charge latent image corresponding to the information signal to be recorded/reproduced. means for sequentially alternating the first region and a second region exhibiting a predetermined constant surface potential distribution; 3. An imaging type recording and reproducing device 3 using a charge latent image, comprising means for performing a reset operation in one of the regions, wherein a mask member having a predetermined optical pattern is used. An imaging type recording/reproducing apparatus 4 according to claim 2, wherein an electrostatic shielding member having a predetermined pattern is used as the mask member, and an imaging type recording/reproducing apparatus 5 according to claim 2, which corresponds to the information signal to be recorded and reproduced as the charge latent image forming member. Claim 1 wherein the charge latent image forming member itself is configured with a first region showing a surface potential distribution due to a charge latent image and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution. Alternatively, in the imaging type recording and reproducing device 6 according to claim 2, a voltage generated by electrostatic induction is gated according to a surface potential of a charge latent image forming member on which a charge latent image corresponding to an information signal to be recorded and reproduced is formed. The capacitance of the voltage detection field effect transistor applied to the electrode and the input side circuit of the voltage detection field effect transistor is charged by the leakage current between the drain electrode and gate electrode of the voltage detection field effect transistor. In a charge latent image recording/reproducing device configured to include a reset means for discharging charges, the surface potential due to the charge latent image corresponding to the information signal to be recorded/reproduced in the recording/reproducing area of the charge latent image forming member. Means for sequentially performing a surface potential distribution detection operation and a reset operation for each of a first region showing a distribution and a second region showing a predetermined constant surface potential distribution. and means for obtaining an output signal by subtracting the detection force in the first area and the detection force in the second area.
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