JPH012752A - Spring manufacturing device and method - Google Patents
Spring manufacturing device and methodInfo
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- JPH012752A JPH012752A JP63-10896A JP1089688A JPH012752A JP H012752 A JPH012752 A JP H012752A JP 1089688 A JP1089688 A JP 1089688A JP H012752 A JPH012752 A JP H012752A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は所定自由長のバネを製造するバネ製造装置及び
その方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a spring manufacturing apparatus and method for manufacturing a spring with a predetermined free length.
[従来技術]
従来、この種の装置でバネを製造する場合には、バネ製
造に係るパラメータを設定して製造するのが一般的であ
る。[Prior Art] Conventionally, when manufacturing a spring using this type of apparatus, it is common to set parameters related to spring manufacturing.
しかしながら、これらバネ製造に関する各種パラメータ
データを設定しても、常に同じ自由長のバネが製造され
るとは限らず、ある程度のばらつきが発生するのが常で
ある。However, even if these various parameter data related to spring manufacturing are set, springs with the same free length are not always manufactured, and a certain degree of variation usually occurs.
この理由としては、主として線材の材質変化やその断面
形状(直径等)の不均一さ等の線材特性、更には製造時
の気温等の環境の変化が起因している。特に線材特性は
線材のロットの相違において変化することは勿論、1つ
のロット中においても微妙に変化している。The reasons for this are mainly due to changes in the material of the wire, wire characteristics such as non-uniformity of its cross-sectional shape (diameter, etc.), and changes in the environment such as temperature during manufacturing. In particular, the wire properties not only change between different wire lots, but also vary slightly within a single lot.
この様な線材特性や気温が変化すると、結局、線材その
ものの弾性力が変化することになる。If the wire properties and temperature change as described above, the elastic force of the wire itself will change.
例えば、捲回軸に線材を強制的に壱ぎながらその捲回軸
を軸方向に8勤してバネを製造しても、線材そのもの弾
性力によって微妙ながら元に戻ろうとするものであるか
ら、捲回時のピッチ及び巻数のバネを製造することはで
きない、従って、バネ製造時に線材の弾性力が時々刻々
と変化することを考慮すれば、一定の自由長のバネを製
造することが如何に困難であるかが理解できるであろう
、 ・
そこで、目的自由長に対して許容範囲内にあるバネを良
品とした場合、その良品バネ数の製造されたバネ総数に
対する比(良品率)をいかにして、 高くするか、換言
すれば、いかにして歩留りを良くするかが問題となるが
、従来では、作業者の感と熟練度に頼っている面が多々
あり、確固たる技術が確立していなかった。For example, even if a spring is manufactured by forcibly winding a wire around a winding shaft and rotating the winding shaft eight times in the axial direction, the wire itself will slightly return to its original state due to its elastic force. It is not possible to manufacture a spring with the same pitch and number of turns.Considering that the elastic force of the wire rod changes from time to time when manufacturing a spring, it is difficult to manufacture a spring with a constant free length.・ Therefore, if a spring that is within the allowable range for the target free length is considered to be a good product, what is the ratio of the number of good springs to the total number of springs manufactured (defective product rate)? The problem is how to increase the yield, or in other words, how to improve the yield, but in the past, there were many aspects that relied on the intuition and skill of the workers, and no solid technology had been established. Ta.
[発明が解決しよう゛とするa題]
本発明は上述した従来技術に鑑みなされたものであり、
目的自由長のバネを製造するとき、最良の良品率でバネ
を製造するバネ製造装置及び方法を提供しようとするも
のである。[Problem A to be Solved by the Invention] The present invention has been made in view of the above-mentioned prior art,
It is an object of the present invention to provide a spring manufacturing apparatus and method that can manufacture springs with the best yield rate when manufacturing springs with a desired free length.
また、線材をコイリングポイントに強制的に当接させて
バネを製造する装置においては、簡単な操作でもって目
的自由長のバネを多量に製造するバネ製造装置を提供し
ようとするものである。Another object of the present invention is to provide a device for manufacturing a spring by forcibly bringing a wire into contact with a coiling point, which can manufacture a large amount of springs with a desired free length with simple operations.
[課題を解決するための手段]
この課題を達成するために本発明は以下に示す構成を備
える。[Means for Solving the Problem] In order to achieve this problem, the present invention includes the configuration shown below.
すなわち、
目的バネ自由長に係る制御量を設定する設定手段と、該
設定手段で設定された制御量を調整する調整手段と、該
調整手段で調整された種々の制御量毎に複数個のバネを
製造するサンプリング手段と、該サンプリング手段で製
造される夫々のバネ自由長を検出する検出手段と、該検
出手段でもって検出された夫々の制御量毎のバネ自由長
に基づいて最適な前記制御量を解析する解析手段とを備
える。That is, a setting means for setting a control amount related to the target spring free length, an adjustment means for adjusting the control amount set by the setting means, and a plurality of springs for each of the various control amounts adjusted by the adjustment means. a sampling means for manufacturing a spring, a detection means for detecting the free length of each spring manufactured by the sampling means, and an optimum control method based on the free length of each spring for each control amount detected by the detection means. and analysis means for analyzing the quantity.
また、上述した目的を達成する他の本発明は以下の構成
を備える。Further, another present invention that achieves the above-mentioned object includes the following configuration.
すなわち、
線材を送り出す送り出し手段と、送り出される方向に位
置し、前記線材を当接させて強制的に所定方向に曲げる
コイリングポイントと、該ポイントによって連続して曲
げられていく線材に対し、その曲げられていく面に対し
て略垂直方向に往復運動しながらコイルピッチをつくる
押し出す押し出し手段と、該押し出し手段によって押し
出す運動が1往復するのに同期して前記線材を切断する
切断手段と、目的自由長を設定する設定手段と、製造さ
れたバネの自由長と前記目的自由長との差の量を検出す
る検出手段と、検出された前記差の量をフィードバック
量に変換する複数の関数と、該関数によって決定された
フィードバック量に従って前記押し出し手段の押し出し
量を調整する調整手段と、異なる関数毎に所定数のバネ
をサンプリング製造する複数のサンプリング手段と、各
々関数毎に基づいて製造されたバネの自由長に基づく分
布により、最適関数を解析する解析手段とを備える。In other words, a coiling point that is located in the direction in which the wire is sent out and forcibly bends the wire in a predetermined direction by contacting the wire, and a coiling point that bends the wire continuously by the coiling point. extrusion means for extruding to create a coil pitch while reciprocating in a direction substantially perpendicular to the surface where the wire is being pushed; a cutting means for cutting the wire in synchronization with one reciprocation of the extrusion movement by the extrusion means; a setting means for setting the length; a detection means for detecting the amount of difference between the free length of the manufactured spring and the target free length; and a plurality of functions for converting the detected amount of the difference into a feedback amount; adjustment means for adjusting the extrusion amount of the extrusion means in accordance with the feedback amount determined by the function; a plurality of sampling means for sampling and manufacturing a predetermined number of springs for each different function; and springs manufactured based on each function. and analysis means for analyzing an optimal function using a distribution based on the free length of .
また、本発明の目的を達成するためのバネ製造方法は、
以下に示す工程を備える。Further, a spring manufacturing method for achieving the object of the present invention is as follows:
It includes the steps shown below.
すなわち、
直前に製造されたバネの自由長と目的自由長との差の量
に基づき、所定の関数によりフィードバック量を決定し
、決定された量をバネ製造にフィードバックするフィー
ドバック工程と、1つの関数毎に所定数のバネをサンプ
ル的に製造するサンプリング工程と、該サンプリング工
程で所定数のバネを製造する度に、前記フィードバック
量を算出するための関数を変更する関数変更工程と、各
々の関数毎のバネの自由長に基づく分布により最適関数
を解析する解析工程と、解析工程で得られた最適関数に
基づいてバネを製造するバネ製造工程とを備える。In other words, there is a feedback process in which a feedback amount is determined by a predetermined function based on the amount of difference between the free length of the spring manufactured immediately before and the target free length, and the determined amount is fed back to the spring manufacturing process. a sampling step in which a predetermined number of springs are manufactured as samples at each sampling step; a function changing step in which a function for calculating the feedback amount is changed each time a predetermined number of springs are manufactured in the sampling step; The method includes an analysis step of analyzing an optimal function based on a distribution based on the free length of each spring, and a spring manufacturing step of manufacturing a spring based on the optimal function obtained in the analysis step.
[作用]
かかる本発明の構成において、バネ製造に係る制御量を
調整手段で調整する毎にサンプリング手段で複数のバネ
を製造し、解析手段で最適な制御量を解析するものであ
る。これによって、最適制御量を解析して、最良の良品
率でもってバネを製造しようとするものである。[Function] In the configuration of the present invention, each time the adjustment means adjusts the control amount related to spring manufacturing, the sampling means manufactures a plurality of springs, and the analysis means analyzes the optimum control amount. This is an attempt to analyze the optimum control amount and manufacture springs with the best yield rate.
また、線材をコイリングポイントに強制的に当接させて
バネを製造する装置においては、フィードバック量を規
定する関数を複数個用意し、各々の関数毎に複数のバネ
をサンプリング手段でサンプリング製造していく。そし
て、各々のサンプリング手段で得られた目的自由長に対
する分布に基づいて解析手段で最適な関数を解析するも
のである。これによって、簡単な操作でもって、目的自
由長のバネを多量に製造するものである。In addition, in a device that manufactures springs by forcibly bringing a wire into contact with a coiling point, multiple functions that define the amount of feedback are prepared, and multiple springs are sampled and manufactured for each function using sampling means. go. Then, the analysis means analyzes the optimal function based on the distribution for the target free length obtained by each sampling means. With this, a large amount of springs with a desired free length can be manufactured with simple operations.
また、本発明のバネ製造方法の工程において、各々の関
数によって決定されるフィードバック量に従って複数個
のバネをサンプリング製造していき、各々のサンプリン
グ工程で得られた目的自由長の分布から最適な関数を解
析するものである。In addition, in the process of the spring manufacturing method of the present invention, a plurality of springs are sampled and manufactured according to the amount of feedback determined by each function, and the optimal function is determined from the distribution of the target free length obtained in each sampling process. This is to analyze.
これによって、最良の良品率でもってバネを製造しよう
とするものである。This is intended to produce springs with the best yield rate.
[実施例]
以下、添付図面に従って本発明に係る実施例を詳細に説
明する。[Embodiments] Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
第1図は実施例のバネ製造装置の構成概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram of the configuration of a spring manufacturing apparatus according to an embodiment.
図中、1は装置全体を制御するマイクロプロセッサ(以
下、CPUという)である。CPUIは第7図たび第8
図に示すフローチャートに従って処理するが、このフロ
ーチャートに係るプログラムはROM1aに格納されて
いる。また、RAM1bはcpuiのワークエリアとし
て使用するものである。また、2はバネ製造にかかるパ
ラメータ(例えば自由長の許容範囲等)を設定するため
のキーボード、3はパラメータ設定、或いはバネ製造中
に測定されたバネ自由長に基づく各種グラフを表示する
表示部である。この表示部3に表示されたグラフ等はプ
リンタ4でもって印刷することも可能である。5は横長
器であって、バネ製造機構部6(詳細は後述する)で製
造されたバネの先端と横長器5の検出部5aとの距離を
検出する。具体的には、横長器5は静電容量検出方式を
採用しており、第3図に示す回路で実現できる。In the figure, 1 is a microprocessor (hereinafter referred to as CPU) that controls the entire device. The CPUI is as shown in Figure 7 and as shown in Figure 8.
Processing is performed according to the flowchart shown in the figure, and a program related to this flowchart is stored in the ROM 1a. Further, the RAM 1b is used as a work area for the CPU. Further, 2 is a keyboard for setting parameters related to spring manufacturing (for example, the allowable range of free length, etc.), and 3 is a display section for setting parameters or displaying various graphs based on the spring free length measured during spring manufacturing. It is. The graphs and the like displayed on the display section 3 can also be printed using the printer 4. Reference numeral 5 denotes an oblong device, which detects the distance between the tip of a spring manufactured by a spring manufacturing mechanism section 6 (details will be described later) and a detecting section 5a of the oblong device 5. Specifically, the oblong device 5 employs a capacitance detection method, and can be realized by the circuit shown in FIG.
すなわち、バネの先端と検出部5aとの距離によって電
荷容量が変化するものであるから、これを可変コンデン
サ55に対応させるわけである。そして、0UTA 、
0UTaの電位を検出すれば、可変コンデンサ55の容
量を算出でき、結果的に検出部5aとバネの先端との距
離を検出することが可能となる。尚、コンデンサ51〜
52の電荷容量及び抵抗53.54の抵抗値は既知であ
って、交流電圧発生器56からはE−sin(Llt(
0≦ωくπ)の電圧が発生する。従って、検長器5を予
め固定しておけば、目的自由長しに対するばらつきΔL
の量を検出することが可能となる。尚、第3図に示した
回路は一例であって、これに本発明が限定されるもので
はない。That is, since the charge capacity changes depending on the distance between the tip of the spring and the detection section 5a, this is made to correspond to the variable capacitor 55. And 0UTA,
By detecting the potential of 0UTa, the capacitance of the variable capacitor 55 can be calculated, and as a result, the distance between the detection section 5a and the tip of the spring can be detected. In addition, capacitor 51~
The charge capacity of 52 and the resistance value of resistors 53 and 54 are known, and the AC voltage generator 56 generates E-sin(Llt(
A voltage of 0≦ω×π) is generated. Therefore, if the length analyzer 5 is fixed in advance, the variation ΔL with respect to the desired free length
It becomes possible to detect the amount of Note that the circuit shown in FIG. 3 is an example, and the present invention is not limited to this.
また、CPUIは製造されたバネの自由長からそのバネ
が許容範囲内にある良品か、或いはその許容範囲よりも
短いか長いかを判断する。選別器7はCPU5からこの
判断結果に対応するソレノイド駆動信号を受けて、許容
範囲内にあるバネとそうでないバネとを選別する。Further, the CPUI determines from the free length of the manufactured spring whether the spring is a good product within an allowable range, or whether it is shorter or longer than the allowable range. The sorter 7 receives a solenoid drive signal corresponding to this judgment result from the CPU 5, and sorts out springs that are within the permissible range and springs that are not.
選別器7の具体的構造を第4図に示す。シャッタ73.
74はソレノイド71.72の駆動により回動するが、
CPU 1から出力されるソレノイド駆動信号のレベル
が共に“0”の場合には、各シャッタは不図示のバネの
作用により、実線で示す位置にある。The specific structure of the sorter 7 is shown in FIG. Shutter 73.
74 is rotated by the drive of solenoids 71 and 72,
When the levels of the solenoid drive signals output from the CPU 1 are both "0", each shutter is at the position shown by the solid line due to the action of a spring (not shown).
さて、検長器5でバネ自由長を検出されたバネはカッタ
ー27で切断されて、共通通路70を落下する。このと
き、CPUIは自由長検出に基づくソレノイド71.7
2の駆動信号を出力している。例えば、製造されたバネ
自由長が許容範囲より短いと判断されたときには、CP
LI 1はソレノイド71のみを駆動する信号を出力す
る。すると、シャッタ73は図中の破線73°の状態に
まで回動することになり、共通通路70を落下したバネ
は分岐路76を通ることになる。Now, the spring whose free length has been detected by the length detector 5 is cut by the cutter 27 and falls down the common passage 70. At this time, the CPUI uses the solenoid 71.7 based on free length detection.
2 drive signals are output. For example, when it is determined that the free length of the manufactured spring is shorter than the allowable range, the CP
LI 1 outputs a signal that drives only the solenoid 71. Then, the shutter 73 rotates to the position indicated by the broken line 73° in the figure, and the spring that has fallen through the common passage 70 passes through the branch passage 76.
次にバネ製造機構部6の構成及びその動作原理を第1図
及び第2図(A)、(B)に従って説明する。Next, the configuration of the spring manufacturing mechanism section 6 and its operating principle will be explained with reference to FIGS. 1 and 2 (A) and (B).
モータ25の駆動軸には第1のギヤ26aと第1のフィ
ードローラ20aが互いに同軸に軸支されている。また
、第1のギヤ26aには、第2のギヤ26bが噛合して
いる。この第2のギヤ26bには、これと同軸に第2の
フィードローラ20bが固定されている。ここで、これ
ら第1及び第2のフィードローラ20a、20bは、こ
れらの間に線材100を挟持し、これらの回転に応じて
線材100がポイント22に向けて送り出すことが出来
るように構成されている。即ち、第2図(A)において
、モータ25の図中時計方向の回転駆動により、第1及
び第2のフィードローラ20a、20bは図示の方向に
回転するため、線材100がガイド21を介してポイン
ト22の方向に送り出されていく。A first gear 26a and a first feed roller 20a are coaxially supported on the drive shaft of the motor 25. Further, a second gear 26b meshes with the first gear 26a. A second feed roller 20b is fixed coaxially to the second gear 26b. Here, the first and second feed rollers 20a and 20b are configured to sandwich the wire 100 between them and feed the wire 100 toward the point 22 according to their rotation. There is. That is, in FIG. 2(A), the first and second feed rollers 20a and 20b are rotated in the direction shown by the clockwise rotational drive of the motor 25, so that the wire 100 is moved through the guide 21. It is sent out in the direction of point 22.
また、上述したポイント22の当接面には、ガイド溝−
が形成されている。この溝は、ここに当接した線材10
0が、強制的に図示の如く下方に曲げられていくように
、傾斜している。In addition, a guide groove is provided on the contact surface of the point 22 mentioned above.
is formed. This groove is formed by the wire 10 that abuts here.
0 is tilted so that it is forcibly bent downward as shown.
一方、上述したモータ25とは別に、バネ1個製造する
毎にその駆動軸を1回転させて、ピッチを形成するため
モータ32が設けられている。このモータ32の駆動軸
には、カム33が取り付けられている。このカム33の
カム面に当接する状態で、ドリブン部材30が設けられ
ている。このドリブン部材30は、ガイド31によりそ
の軸回転を規制されながら、線材100の送り方向に横
切る方向に沿って、カム33の1回転に応じて1往復動
する。On the other hand, in addition to the motor 25 described above, a motor 32 is provided to rotate the drive shaft once each time one spring is manufactured to form a pitch. A cam 33 is attached to the drive shaft of this motor 32. A driven member 30 is provided in contact with the cam surface of the cam 33. The driven member 30 reciprocates once in response to one rotation of the cam 33 along a direction transverse to the feeding direction of the wire rod 100 while its axial rotation is restricted by the guide 31 .
このドリブン部材30には、押し出しロッド29がこれ
の延出方向に沿って進退自在に螺着されている。そして
、このロッド29の先端には、ピッチツール23が、ガ
イド28により回転せずに進退するように取り付けられ
ている。また、第1図はカム33の短径部分がドリブン
部材3oに当接した状態を示しており、ピッチツール2
3は実質的にバネのピッチを形成しない位置にある。そ
して、カム33が回転して、短径部分から長径部分にド
リブン部材30の当接位置が変化するに従い、ピッチツ
ール23は、徐々に線材1000走行経路を横切り、ポ
イント22の溝により捲回された線材部分を押しやり、
上述したピッチを形成することになる。この状態を第2
図(A)。An extrusion rod 29 is screwed onto the driven member 30 so as to be movable forward and backward along the direction in which the extrusion rod 29 extends. A pitch tool 23 is attached to the tip of this rod 29 so as to move forward and backward without rotating by a guide 28. Further, FIG. 1 shows a state in which the short diameter portion of the cam 33 is in contact with the driven member 3o, and the pitch tool 2
3 is located at a position that does not substantially form the pitch of the spring. Then, as the cam 33 rotates and the contact position of the driven member 30 changes from the short diameter portion to the long diameter portion, the pitch tool 23 gradually crosses the running path of the wire 1000 and is wound by the groove at the point 22. Push the wire rod part away,
This will form the pitch described above. This state is the second
Figure (A).
(B)に示す。Shown in (B).
尚、ポイント22によって曲げられた直後の線材100
は、モータ32の1回転に同期して駆動されるカッター
27によって切断される。Note that the wire rod 100 immediately after being bent at the point 22
is cut by a cutter 27 driven in synchronization with one revolution of the motor 32.
ところで、モータ25に対するモータ32の回転速度に
よって、大男のバネピッチと線材100の捲回数による
バネの自由長は予想できる。しかしながら、全く同じ自
由長のバネを製造することはで艶ない。なぜなら、第2
図(B)に示す如く、ピッチツール23を突出量LPで
もって突出させた場合にも、線材の弾性力が時々刻々と
変化するが故にバネピッチPが2LPなるとは限らず、
変動するからである。従って、第2図(B)に示すピッ
チツール23の突出量LPを微調整する必要がある。こ
の突出量t、pを微調整させるため、実施例ではロッド
29を軸回転させて、そのロッド29のドリブン部材3
0への挿入量を変化させることにより、ドリブン部材3
0とカム33との当接点からピッチツール23の先端と
の長さを微調整する様にした。By the way, the free length of the spring can be estimated based on the rotational speed of the motor 32 relative to the motor 25, the pitch of the large spring, and the number of turns of the wire 100. However, it is difficult to manufacture springs with exactly the same free length. Because the second
As shown in Figure (B), even when the pitch tool 23 is made to protrude by the protrusion amount LP, the spring pitch P is not necessarily 2LP because the elastic force of the wire changes from time to time.
This is because it fluctuates. Therefore, it is necessary to finely adjust the protrusion amount LP of the pitch tool 23 shown in FIG. 2(B). In order to finely adjust the protrusion amounts t and p, in the embodiment, the rod 29 is rotated, and the driven member 3 of the rod 29 is rotated.
By changing the insertion amount to 0, the driven member 3
The length from the point of contact between the pitch tool 23 and the cam 33 to the tip of the pitch tool 23 is finely adjusted.
これを実現させるために、実施例ではウオームホイール
36とその係止部材34、更にはウオームホイール36
の回転を駆動させるモータ9等を設けた。以下、それら
構成要素の関係を説明する。In order to realize this, in the embodiment, the worm wheel 36 and its locking member 34, and further the worm wheel 36
A motor 9 and the like are provided to drive the rotation of the motor. The relationship between these components will be explained below.
ロッド29を摺動自在に貫通させ、且つその中155回
転共にするウオームホイール36は係止部材34によっ
て、その軸方向への移動が規制されている。また、ウオ
ームホイール36にはステッピングモータ9の駆動軸に
軸支されたウオームネジ37が螺合されている。従って
、このステッピングモータ9の駆動軸を所望の方向と必
要なだけ回転させることにより、先に説明したピッチツ
ール23の突出量LPを微調整することができることに
なる。このステッピングモータ9はドライバ8によって
駆動されるが、ウオームネジ37の回転方向及びその量
はcputによって制御されている。A worm wheel 36, which is slidably passed through the rod 29 and rotates 155 times during the rod 29, is restricted from moving in the axial direction by a locking member 34. Further, a worm screw 37 that is pivotally supported by the drive shaft of the stepping motor 9 is screwed into the worm wheel 36 . Therefore, by rotating the drive shaft of the stepping motor 9 in a desired direction and as much as necessary, it is possible to finely adjust the protrusion amount LP of the pitch tool 23 described above. This stepping motor 9 is driven by the driver 8, but the direction and amount of rotation of the worm screw 37 are controlled by cput.
そこで問題となるのが、このピッチツール23の突出量
Lpを規定する制御量Cをどの様にして求めるかである
。Therefore, the problem is how to determine the control amount C that defines the protrusion amount Lp of the pitch tool 23.
すなわち、目的自由長りに対してΔしたけ長いバネが製
造されたときには、ピッチツールの突出fU L Pを
少なくするために、フィードバック量(=C×ΔL)を
算出する。そして、その値に応じた分ステッピングモー
タ9を駆動してピッチツールの突出量t、pを微調整す
る。That is, when a spring that is longer than the target free length by Δ is manufactured, the amount of feedback (=C×ΔL) is calculated in order to reduce the protrusion fU L P of the pitch tool. Then, the stepping motor 9 is driven according to the value to finely adjust the protrusion amounts t and p of the pitch tool.
例えば、制御i(フィードバック比)Cを0.01とし
、仮に目的自由長しに対して+0.05mmのバネを製
造した場合には、フィードバック量は5.0×1O−4
となる。そしてこの値に相当する分をステッピングモー
タ9の駆動軸を回転させ、ピッチツール23の先端から
被ドリブン部材30の端部までの長さを短くすることに
なる。換言すれば、ピッチツールの突出TfE L p
を小さくする。For example, if control i (feedback ratio) C is set to 0.01 and a spring with a target free length of +0.05 mm is manufactured, the amount of feedback is 5.0×1O−4
becomes. Then, the drive shaft of the stepping motor 9 is rotated by an amount corresponding to this value, thereby shortening the length from the tip of the pitch tool 23 to the end of the driven member 30. In other words, the pitch tool protrusion TfE L p
Make smaller.
尚、これとは逆に、ΔLが負の場合には、対応するフィ
ードバック量を算出して、ピッチツール23の突出量を
大きくする。Note that, on the contrary, when ΔL is negative, a corresponding feedback amount is calculated to increase the amount of protrusion of the pitch tool 23.
しかしながら、先に説明した様に、線材100の弾性力
は時々変化するものであるから、それら全ての要因に合
う制御RCを決定することは不可能であるといってよい
。However, as explained above, since the elastic force of the wire 100 changes from time to time, it is impossible to determine the control RC that satisfies all of these factors.
そこで本実施例では目的自由長しのバネを製造する前に
、最適な制御量Cを決定するために、統計を取って解析
する様にした。Therefore, in this embodiment, statistics are collected and analyzed in order to determine the optimum control amount C before manufacturing a spring with the desired free length.
その具体的な処理内容を以下に説明する。The specific processing contents will be explained below.
先ず、初期値として制御量C0の関数でもってN個のバ
ネを製造(以下、サンプリング製造という)する。この
サンプリング製造中に検出された目的自由長に対する差
はRAM1b内に順次記憶していく。尚、このサンプリ
ング製造で製造された良品バネを無駄にしない様に、こ
の間にも選別器7は検出されたバネ自由長に対応して駆
動されている。First, N springs are manufactured using a function of the control amount C0 as an initial value (hereinafter referred to as sampling manufacturing). Differences with respect to the target free length detected during this sampling manufacturing are sequentially stored in the RAM 1b. Incidentally, in order not to waste the good quality springs manufactured in this sampling manufacturing process, the sorter 7 is driven during this period in accordance with the detected spring free length.
さて、1回のサンプリング製造中、或いはそれが完了し
た後には、許容範囲内のバネ数nに基づく良品率G、目
的自由長に対する差の平均値二及びその標準偏差値σを
算出する。尚、平均値ΔLの替りに平均自由長τとして
も構わない。Now, during one sampling manufacturing process or after it is completed, the non-defective product rate G based on the number n of springs within the allowable range, the average value 2 of the difference with respect to the target free length, and its standard deviation value σ are calculated. Note that the average free length τ may be used instead of the average value ΔL.
ここで、多値は以下の式で算出される。Here, the multivalue is calculated using the following formula.
G = n / N
a=(1/N−ボ1(ΔL1−二)2F″2回目以降(
i回目)のサンプリング製造における制御量CIは、直
前のサンプリング製造における制御量にΔC(例えば、
0.01)を加算した値(・C0+ΔCX (i−1)
)とし、各回毎に上述した3つの値を算出していく。こ
うして、予め設定されたm回のサンプリング製造処理を
実行した後は、どの制御量におけるサンプリング製造で
一番良い結果が得られるかを判断する。G = n / Na = (1/N-Bo1 (ΔL1-2)2F'' from the second time onwards (
The control amount CI in the i-th sampling production is equal to the control amount in the immediately preceding sampling production by ΔC (for example,
0.01) (・C0+ΔCX (i-1)
), and calculate the three values mentioned above each time. After performing the sampling manufacturing process a preset m number of times in this way, it is determined which control amount the sampling manufacturing process will yield the best result.
尚、この最適制御量決定に係る判断基準であるが、実施
例では各要素に対して以下に示す重みを付けて判断する
様にした。As for the criteria for determining the optimal control amount, in the embodiment, each element is weighted as shown below.
良品率〉平均値〉標準偏差
すなわち、m回のサンプリング製造中、1番目のサンプ
リング製造時に最大良品率を得ることができたときには
、C0◆ΔCX(i−1)の値を最適制御量として決定
する。Good product rate〉Average value〉Standard deviation In other words, when the maximum good product rate can be obtained at the first sampling manufacturing time during m sampling production, the value of C0◆ΔCX(i-1) is determined as the optimal control amount. do.
また、最大良品率の候補が2以上ある場合には第2の判
断要素である“平均値”を基にして決定する。更には、
この平均値によって1つに絞り込むことができなかった
場合には第3の判断要素°゛標準偏差“を基にして判断
する。In addition, if there are two or more candidates for the maximum non-defective product rate, the candidate is determined based on the "average value" which is the second determining factor. Furthermore,
If it is not possible to narrow down the selection to one based on this average value, a judgment is made based on the third judgment factor "standard deviation".
尚、実施例においては、サンプリング製造回数m、及び
各サンプリング製造中において製造されるバネ数Nを特
定しなかったが、これらの値が小さいと統計の意味を持
たないから、ある程度のまとまった数が必要である。す
なわち、mを数千回、Nを数百個程度にすることが望ま
しい。このとき、初期制御量C0と各サンプリング製造
における加算値ΔCの値の設定も重要となるが、比較的
長い自由長を持つバネを製造するときには、mを太き目
、ΔCの値を小さ目にすることが望ましい。なぜなら、
フィードバック量は制御量によって決定されるが、短い
自由長のバネを製造するときと比較すると、ばらつきが
大きくなるからであり、細かい解析が必要であるからで
ある。In the example, the number of sampling production m and the number N of springs produced during each sampling production were not specified, but since these values have no statistical significance if they are small, a certain number of springs should be used. is necessary. That is, it is desirable to set m to several thousand times and N to about several hundred times. At this time, it is also important to set the value of the initial control amount C0 and the additional value ΔC in each sampling manufacturing process, but when manufacturing a spring with a relatively long free length, set m to a thick value and set the value of ΔC to a small value. It is desirable to do so. because,
This is because although the feedback amount is determined by the control amount, the variation becomes larger compared to when manufacturing a spring with a short free length, and detailed analysis is required.
さて、この様に各要素に対して優先順位を設けた理由を
第5図及び第6図に従って説明する。Now, the reason why the priority order is set for each element in this way will be explained with reference to FIGS. 5 and 6.
尚、以下の説明は、目的自由長に対する差の分布を基に
して最適制martを決定する手法であるが、製造され
たバネの自由長の分布であっても同様である。The following explanation is a method of determining the optimal control mart based on the distribution of the difference with respect to the target free length, but the same applies to the distribution of the free length of manufactured springs.
今、自由長が50.00mm 、許容範囲として±O,
Oammのバネを製造することを目的としてn個のバネ
をサンプル製造したとしよう。このとき50.00mm
に対する差を縦軸に取り、横軸に頻度を取って示したグ
ラフが第5図(A)、(B)である。尚、これら図にお
ける良品率は共に同じであるものとする。また、当然の
ことながら、各グラフにおける制御量は異なるものであ
る。Now, the free length is 50.00mm, the tolerance range is ±O,
Suppose that n samples of springs were manufactured for the purpose of manufacturing Oamm springs. At this time 50.00mm
Figures 5(A) and 5(B) are graphs in which the vertical axis represents the difference in frequency and the horizontal axis represents the frequency. It is assumed that the non-defective product rates in these figures are the same. Further, as a matter of course, the control amount in each graph is different.
さて、第5図(A)の目的のバネ自然長に対する平均差
分は約0.0013mmであるのに対して、第5図(B
)のそれは−0,0145mmであり、明らかに第5図
(A)のサンプリング製造に関する制御量の方が優れて
いることがわかる。従って、良品率が同じになる場合を
予想して、その平均値を第2の判断基準として持たせる
重要性が理解できるであろう。換言すれば、許容範囲を
より小さく(例えば±0.04n+m等)して、より高
精度のバネを製造することが可能になるかどうかの目安
にもなる。Now, the average difference with respect to the desired spring natural length in Figure 5 (A) is about 0.0013 mm, while in Figure 5 (B
) is -0,0145 mm, which clearly shows that the control amount for sampling production in FIG. 5(A) is superior. Therefore, it is easy to understand the importance of anticipating cases in which the non-defective product rates will be the same and using that average value as the second criterion. In other words, it is also a guideline for determining whether it is possible to manufacture a spring with higher precision by making the tolerance range smaller (eg, ±0.04n+m, etc.).
更に、良品率、そして平均値が同じであった場合をも想
定して第3の判断基準である標!$!偏差0(或いは誤
差02)を用いて判断することにした。Furthermore, assuming that the non-defective rate and the average value are the same, we use the third judgment criterion, the target! $! It was decided to make a judgment using a deviation of 0 (or an error of 02).
第6図(A)、(B)に示すのは、同一良品率、及び、
目的自由長に対する誤差が供に0.00mmとなってい
るケースを示すものである。この場合、当然のことなが
ら、誤差が0.00mmにおける頻゛度が多い(標準偏
差が小さい)はど良いわけであるから、第6図(B)に
示す制御量におけるサンプリング製造(標準偏差0=約
0.026 ’)の方が第6図(A)のそれ(標準偏差
0=約0.039 )より優れていることが容易に理解
できよう。特に第6図(B)の場合、標準偏差が小さい
ことから、バネ自由長にかかる許容範囲を更に小さくす
ることも考えられる。Figures 6 (A) and (B) show the same non-defective product rate and
This shows a case where the error with respect to the target free length is both 0.00 mm. In this case, it goes without saying that it is not good if the error is 0.00 mm frequently (the standard deviation is small), so sampling manufacturing using the controlled variable shown in Fig. 6 (B) (standard deviation 0) is not a good thing. It can be easily understood that the standard deviation 0 = approximately 0.026') is superior to that in FIG. 6(A) (standard deviation 0 = approximately 0.039). In particular, in the case of FIG. 6(B), since the standard deviation is small, it is conceivable to further reduce the allowable range for the spring free length.
また、上述したグラフや判断基準となる3つの値の時系
列変移を表示部3に表示されることにより、作業者への
現状を把握させることが容易になる。In addition, by displaying the above-mentioned graph and the time-series changes of the three values serving as judgment criteria on the display unit 3, it becomes easy for the operator to understand the current situation.
以上の構成或いは原理から実施例における処理手順を要
約すると第7図(A)、(B)に示すフローチャートの
様になる。The processing procedure in the embodiment based on the above configuration or principle can be summarized as shown in the flowcharts shown in FIGS. 7(A) and 7(B).
先ず、ステップS1においてキーボード2よりサンプリ
ング製造回数mを設定する。以下、ステップS2で各サ
ンプリング製造で製造されるバネ数Nを設定し、ステッ
プS3で許容範囲、ステップS4で初期制御量COsそ
してステップS5で制御量の増分値ΔCを設定する。次
のステップS6では初期値として変数iに°゛1”を代
入する。First, in step S1, the number m of sampling production is set using the keyboard 2. Thereafter, in step S2, the number N of springs to be manufactured in each sampling process is set, in step S3 the allowable range, in step S4 the initial control amount COs, and in step S5 the control amount increment value ΔC. In the next step S6, "1" is assigned to the variable i as an initial value.
尚、この変数lの内容によってサンプリング製造が終了
したか否かが判断される。Incidentally, it is determined whether sampling manufacturing has been completed or not based on the contents of this variable l.
こうして、ステップS7に移って、サンプリング製造処
理がなされるが、その詳細は後述する。In this way, the process moves to step S7, where a sampling manufacturing process is performed, the details of which will be described later.
1回のサンプリング製造処理が終了したときには、ステ
ップS8で変数iを1つインクリメントし、次のステッ
プS9で変数iとサンプリング製造回数mとを比較する
。“15m”と判断された場合には、ステップS7に戻
って次のサンプリング製造処理を実行し、“i>m”と
判断されるまで、ステップ57〜ステツプS9を繰り返
すことになる。When one sampling manufacturing process is completed, the variable i is incremented by one in step S8, and the variable i and the number of sampling manufacturing times m are compared in the next step S9. If it is determined to be "15 m", the process returns to step S7 to execute the next sampling manufacturing process, and steps 57 to S9 are repeated until it is determined that "i>m".
さて、” i > m”であると判断した場合にはステ
ップ510に移り、先に説明した判断基準に従って最適
制御量を決定する。こうして得られた最適制御量に基づ
いてステップSllでバネ製造を実行することになる。Now, if it is determined that "i>m", the process moves to step 510, and the optimum control amount is determined according to the determination criteria described above. Based on the optimal control amount thus obtained, spring manufacturing is executed in step Sll.
そして、この処理は予め設定された良品バネ数に達する
まで、或いは装置が停止されるまで実行されることにな
る。This process will be executed until a preset number of non-defective springs is reached or until the device is stopped.
次にステップS7のサンプリング製造処理の内容を第8
図(A)、(B)に従って説明する。Next, the contents of the sampling manufacturing process in step S7 are explained in the eighth step.
This will be explained according to FIGS. (A) and (B).
ステップ3701ではサンプリング製造における制御量
Cを、サンプリング製造の順番を表す変数iに基づき、
次式で求める。In step 3701, the control amount C in sampling manufacturing is determined based on the variable i representing the order of sampling manufacturing.
Calculate using the following formula.
制御量C==CO◆(i−1)xΔC
従って、第1回目のサンプリング製造時における制御量
は初期設定された値C0になる。Controlled amount C==CO◆(i-1)xΔC Therefore, the controlled amount at the time of the first sampling production becomes the initially set value C0.
次のステップ5702では、サンプリング製造中の製造
されたバネの個数を表わす変数jに“1”を代入すると
共に、良品のバネ個数を表わす変数A及びばらつきの総
和を表す変数Bを夫々°°0“で初期化する。以上の初
期設定が終了した後は、ステップ5703に穆って、実
際にバネ1個を製造する。次のステップ5704では、
検長器5で検出された目的自由長に対するばらつき量Δ
Lを検出し、その値を変数D(j)に−旦格納する。ス
テップ5705では、そのばらつき量D(j)が許容範
囲内にあるか否かを判断し、許容範囲内にあると判断し
た場合にはステップ5706で変数Aに“1”を加算し
てステップSフ08に移る。また、ばらつき:ftD(
j)が許容範囲外であると判断した場合には、ステップ
5707に移り、ばらつき量の符号に基づいて、還別器
7のソレノイド71と72のどちらか一方を所定時間駆
動させ、ステップ5708に移る。In the next step 5702, "1" is assigned to variable j representing the number of springs manufactured during sampling manufacturing, and variable A representing the number of non-defective springs and variable B representing the sum of variations are each set to °°0. After completing the above initial settings, proceed to step 5703 to actually manufacture one spring.In the next step 5704,
Variation amount Δ with respect to the target free length detected by the length analyzer 5
Detect L and store its value in variable D(j). In step 5705, it is determined whether the variation amount D(j) is within the allowable range. If it is determined that it is within the allowable range, "1" is added to variable A in step 5706, and step S Moving on to F08. Also, dispersion: ftD(
j) is outside the allowable range, the process moves to step 5707, where one of the solenoids 71 and 72 of the reducer 7 is driven for a predetermined period of time based on the sign of the amount of variation, and the process moves to step 5708. Move.
ステップ3708では、変数Bにばらつき量D(j)を
加え、次のステップ5709でD(j)の値や先に説明
したグラフを表示する。In step 3708, the variation amount D(j) is added to the variable B, and in the next step 5709, the value of D(j) and the graph described above are displayed.
ステップ5710においては、フィードバック量Fを算
出する。このフィードバック量の算出関数は既に説明し
ているが、ここでもう−置引用すれば、以下の式になる
。In step 5710, a feedback amount F is calculated. The calculation function for this amount of feedback has already been explained, but if I quote it again here, it becomes the following formula.
F=CXD (j)
そして、ステップ5711では、得られたフィードバッ
ク量Fの大きさ、及び符号に基づいてステッピングモー
タ9を駆動させる。F=CXD (j) Then, in step 5711, the stepping motor 9 is driven based on the magnitude and sign of the obtained feedback amount F.
次のステップ5712では変数jを1つインクリメント
し、ステップ5713で変数jと設定値Nとを比較する
。In the next step 5712, the variable j is incremented by one, and in step 5713, the variable j and the set value N are compared.
このとき、“j≦N”と判断された場合には、未だN個
のバネを製造していないことになるから、ステップ57
03に戻る。At this time, if it is determined that "j≦N", it means that N springs have not been manufactured yet, so step 57
Return to 03.
こうして、N個のバネが製造されると、ステップ571
3で“’ j > N ”と判断されることになリ、ス
テップ5714以下の処理を実行することになる。従っ
て、このとき、変数Aには許容範囲内にあるバネの数が
格納されていることになる。When N springs are manufactured in this way, step 571
If it is determined in step 3 that "' j >N", the processing from step 5714 onwards will be executed. Therefore, at this time, variable A stores the number of springs within the allowable range.
また、変数BにはN個のバネのばらつきの総和値が、そ
して変数D(1)〜D (N)には各々のバネのばらつ
き二が格納されていることになる。Further, the variable B stores the total value of the variations of N springs, and the variables D(1) to D(N) store the variations 2 of each spring.
そして、これらの値を基にして、ステップ8714〜5
716でi番目のサンプリング製造における良品率G(
i)、平均値X(i)、σ(i)を算出し、次のステッ
プ5717で得られたこれらの値をRAM1bにストア
する。 以上の処理を1回のサンプリング製造毎に実行
することにより、各サンプリング製造固有の良品率、平
均、標準偏差が得られることになる。従って、先に説明
したステップSIOでは、得られた変数G(i)、X(
i)、 σ(i)に従って最適制御量を決定すること
になる。Then, based on these values, steps 8714-5
716, the non-defective rate G (
i), average values X(i) and σ(i) are calculated, and these values obtained in the next step 5717 are stored in the RAM 1b. By performing the above processing for each sampling production, the non-defective product rate, average, and standard deviation specific to each sampling production can be obtained. Therefore, in step SIO explained earlier, the obtained variables G(i),
i), the optimal control amount is determined according to σ(i).
以上説明した様に本実施例によれば、バネを製造する前
段階に、バネ製造にかかる最良の状態を検知することに
より、良品率の最も良い状態でバネを製造することが可
能となる。As described above, according to the present embodiment, by detecting the best condition for spring manufacturing before manufacturing the spring, it is possible to manufacture the spring in a condition with the best quality product rate.
更に、この一連の処理は全て自動的に行なわれるので、
バネ製造の経験が少ない人であっても、確実に良好な自
由長を持ったバネを製造することが可能となる。Furthermore, all of this processing is done automatically, so
Even a person with little experience in spring manufacturing can reliably manufacture a spring with a good free length.
尚、線材1巻を全て使用してしまって、新たな線材を設
置するとぎ、或いは、途中で長さの異なるバネを製造す
るとき等においても、同様の前処理を実行することが望
ましい。何故なら、線材のロットが違うとその材質や径
等が微妙に変化があるからである。Note that it is desirable to carry out similar pretreatment even when installing a new wire after one winding of the wire has been used, or when manufacturing springs with different lengths in the middle. This is because there are subtle changes in the material, diameter, etc. of wire rods from different lots.
また、実施例では良品率を設定した許容範囲内にあると
きに、カウンタアップすることで算出したが、標準偏差
値を算出し、その値からも許容範囲を設定したときの良
品率を算出することが数学上可能であるので、必ずしも
1つ1つカウントする必要はない。すなわち、最適制御
量は各サンプリング製造中の自由長の分布からのみでも
、決定できる。In addition, in the example, when the non-defective rate is within the set tolerance range, it is calculated by incrementing the counter, but the standard deviation value is calculated, and from that value, the non-defective rate is also calculated when the tolerance range is set. Since this is mathematically possible, it is not necessary to count each item one by one. That is, the optimum control amount can be determined only from the distribution of free lengths during the production of each sample.
また、実施例では関数によってその都度フィードバック
量を算出したが、これをROM1a内にテーブルとして
記憶しておいて、導ぎ出す様にして構わない。Further, in the embodiment, the feedback amount is calculated each time using a function, but it may be stored as a table in the ROM 1a and derived.
また、サンプリング製造の回数を横軸に、そして良品率
を縦軸にとったとき、例えば第9図に示す様な関係のグ
ラフが得られた場合には、それ以後のサンプリング製造
を中止し、線材の不用意な浪費を防ぐ様にすることもで
きる。但し、良品率が最大となったかどうかの判断は次
のサンプリング(B点)の良品率を測定しないと検知で
きないから、実際には最大の良品率を検出した時のサン
プリング回数+1回のサンプリング回数が必要となつく
る。In addition, when the number of sampling production is plotted on the horizontal axis and the non-defective product rate is plotted on the vertical axis, if a graph with the relationship shown in Figure 9 is obtained, for example, the subsequent sampling production is stopped. It is also possible to prevent unnecessary waste of wire rods. However, since it is impossible to judge whether the non-defective product rate has reached the maximum unless the non-defective product rate of the next sampling (point B) is measured, in reality, the number of samplings when the maximum non-defective product rate is detected + the number of samplings once. Make it necessary.
更に、第9図において、0点で最大の良品率が得られた
場合、厳密には0点を挟むA点とB点との間に最大の良
品率となる設定(環境)があると判断される。従って、
最大の良品率が検知できたサンプリングの1つ前のサン
プリングの状態(図中のA点)に戻って、今度は△C’
(但し△C。Furthermore, in Figure 9, if the maximum non-defective rate is obtained at 0 points, strictly speaking, it is determined that there is a setting (environment) that provides the maximum non-defective rate between points A and B that sandwich the 0 point. be done. Therefore,
Returning to the sampling state (point A in the figure) before the sampling where the maximum non-defective rate was detected, this time △C'
(However, △C.
く△C)を増分値とし、B点まで第7図、第8図に示し
たフローチャートを実行する様にすれば、更に良品率の
良いバネ製造環境が検知できることになる。By setting ΔC) as an increment value and executing the flowcharts shown in FIGS. 7 and 8 up to point B, it is possible to detect a spring manufacturing environment with an even better rate of non-defective products.
更には、本実施例においては主にピッチツール23を制
御することのみを説明したが、例えばポイント22の位
置もバネの自由長に少なからぬ影響をもたらす。従って
、このポイント22の位置も微調整する様にして同様に
解析処理する様にしても構わない。Furthermore, in this embodiment, only controlling the pitch tool 23 has been described, but the position of the point 22, for example, also has a considerable effect on the free length of the spring. Therefore, the position of this point 22 may also be finely adjusted and analyzed in the same manner.
更にまた、実施例ではそ一夕25とモータ32とを区別
したが、1つのそ一夕の駆動によってバネの送りとバネ
ピッチを生成する様にしても構わない。Furthermore, in the embodiment, the spring 25 and the motor 32 are distinguished, but the spring feeding and spring pitch may be generated by driving one spring.
[発明の効果]
以上述べた如く本発明のバネ製造装置及び方法によれば
、最良の良品率でバネを製造することが可能となる。[Effects of the Invention] As described above, according to the spring manufacturing apparatus and method of the present invention, it is possible to manufacture springs with the best yield rate.
また、線材をコイリングポイントに強制的に当接させて
バネを製造する装置においては、簡単な操作でもって良
好な自由長を持ったバネを多量に製造することが可能と
なる。Further, in an apparatus for manufacturing a spring by forcibly bringing a wire into contact with a coiling point, it is possible to manufacture a large amount of springs with a good free length with simple operations.
第1図は実施例におけるバネ製造システムの構成概略図
、
第2図(A)、(B)は未実施例におけるバネ製造の原
理を説明するための図、
第3図は実施例における検長器を実現するための電気回
路の一例を示す図、
第4図は実施例における選別器の外観を示す図、
第5図(A)、(B)及び第6図(A)(B)は実施例
における制御量を変化させたときの、バネ製造時のばら
つきとその顔度の関係を示すグラフ、
第7図(A)、(B)は実施例におけるCPUの処理概
要を示すフローチャート、
第8図(A)、(B)は実施例におけるサンプリング製
造時のCPUの処理内容を示すフローチャート、
第9図は本実施例における良品率とサンプリング製造と
の関係の一例を示す図である。
図中、1・・・CPU、2・・・キーボード、3・・・
表示部、4・・・プリンタ部、5・・・検長器、5a・
・・検出部、6・・・バネ製造機構部、7・・・選別器
、8・・・ドライバ、9・・・ステッピング、20a、
20b・・・フィードローラ、21.28.31・・・
ガイド、22・・・ポイント、23・・・ピッチツール
、25.32・・・モータ、26a、26b・・・ギヤ
、27・・・カッター、29・・・ロッド、30・・・
ドリブン部材、33・・・カム、34・・・係止部材、
36・・・ウオームホイール、37・・・ウオームネジ
である。
:・4・千二
↓
第3図
第4図
M5図 (A)
第5図(8)
第6図(A)
第7図(A)
第7図(B)Figure 1 is a schematic diagram of the configuration of the spring manufacturing system in the example, Figures 2 (A) and (B) are diagrams for explaining the principle of spring manufacturing in the unexamined example, and Figure 3 is the inspection length in the example. Figure 4 is a diagram showing the external appearance of the sorter in the embodiment, Figures 5 (A), (B), and Figures 6 (A) and (B) are 7(A) and 7(B) are flowcharts showing an outline of the processing of the CPU in the embodiment; FIGS. 8(A) and (B) are flowcharts showing the processing contents of the CPU during sampling manufacturing in this embodiment, and FIG. 9 is a diagram showing an example of the relationship between the non-defective product rate and sampling manufacturing in this embodiment. In the figure, 1... CPU, 2... Keyboard, 3...
Display section, 4... Printer section, 5... Length analyzer, 5a.
...Detection section, 6...Spring manufacturing mechanism section, 7...Selector, 8...Driver, 9...Stepping, 20a,
20b...Feed roller, 21.28.31...
Guide, 22...Point, 23...Pitch tool, 25.32...Motor, 26a, 26b...Gear, 27...Cutter, 29...Rod, 30...
Driven member, 33... cam, 34... locking member,
36... Worm wheel, 37... Worm screw. :・4・12↓ Figure 3 Figure 4 Figure M5 (A) Figure 5 (8) Figure 6 (A) Figure 7 (A) Figure 7 (B)
Claims (3)
と、 該設定手段で設定された制御量を調整する調整手段と、 該調整手段で調整された種々の制御量毎に複数個のバネ
を製造するサンプリング手段と、 該サンプリング手段で製造される夫々のバネ自由長を検
出する検出手段と、 該検出手段でもつて検出された夫々の制御量毎のバネ自
由長に基づいて最適な前記制御量を解析する解析手段と
を備えることを特徴とするバネ製造装置。(1) A setting means for setting a control amount related to the free length of the target spring; an adjustment means for adjusting the control amount set by the setting means; and a plurality of control means for each of the various control amounts adjusted by the adjustment means. a sampling means for manufacturing a spring; a detection means for detecting the free length of each spring manufactured by the sampling means; 1. A spring manufacturing device comprising: analysis means for analyzing a controlled amount.
的に所定方向に曲げるコイリングポイントと、 該ポイントによつて連続して曲げられていく線材に対し
、その曲げられていく面に対して略垂直方向に往復運動
しながらコイルピッチをつくる押し出す押し出し手段と
、 該押し出し手段によつて押し出す運動が1往復するのに
同期して前記線材を切断する切断手段と、 目的自由長を設定する設定手段と、 製造されたバネの自由長と前記目的自由長との差の量を
検出する検出手段と、 検出された前記差の量をフィードバック量に変換する関
数と、 該関数によつて決定されたフィードバック量に従つて前
記押し出し手段の押し出し量を調整する調整手段と、 異なる関数毎に所定数のバネをサンプリング製造する複
数のサンプリング手段と、 各々関数毎に基づいて製造されたバネの自由長に基づく
分布により、最適関数を解析する解析手段とを備え、以
後は得られた最適関数に基づいてバネを製造することを
特徴とすることを特徴とするバネ製造装置。(2) A feeding means for feeding out the wire; a coiling point located in the direction of feeding and forcibly bending the wire in a predetermined direction by abutting the wire; and a coiling point that is continuously bent by the point. , an extrusion means for creating a coil pitch while reciprocating in a direction substantially perpendicular to the surface being bent; and a cutting means for cutting the wire in synchronization with one reciprocation of the extrusion movement by the extrusion means. means, a setting means for setting a desired free length, a detecting means for detecting the amount of difference between the free length of the manufactured spring and the desired free length, and converting the detected amount of the difference into a feedback amount. a function; an adjusting means for adjusting the extrusion amount of the extrusion means according to the feedback amount determined by the function; a plurality of sampling means for sampling and manufacturing a predetermined number of springs for each different function; and analysis means for analyzing an optimal function based on a distribution based on the free length of a spring manufactured based on the above, and the spring is thereafter manufactured based on the obtained optimal function. Spring manufacturing equipment.
差の量に基づき、所定の関数によりフィードバック量を
決定し、決定された量をバネ製造にフィードバックする
フィードバック工程と、1つの関数毎に所定数のバネを
サンプル的に製造するサンプリング工程と、 該サンプリング工程で所定数のバネを製造する度に、前
記フィードバック量を算出するための関数を変更する関
数変更工程と、 各々の関数毎のバネの自由長に基づく分布により最適関
数を解析する解析工程と、 解析工程で得られた最適関数に基づいてバネを製造する
バネ製造工程とからなることを特徴とするバネ製造方法
。(3) A feedback process in which a feedback amount is determined by a predetermined function based on the amount of difference between the free length of the spring manufactured immediately before and the target free length, and the determined amount is fed back to the spring manufacturing; a sampling step of manufacturing a predetermined number of springs as samples for each function; a function changing step of changing the function for calculating the feedback amount each time a predetermined number of springs are manufactured in the sampling step; A spring manufacturing method comprising: an analysis step of analyzing an optimal function using a distribution based on the free length of a spring for each function; and a spring manufacturing step of manufacturing a spring based on the optimal function obtained in the analysis step.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (3)
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---|---|---|---|
JP62-35840 | 1987-02-20 | ||
JP3584087 | 1987-02-20 | ||
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Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS642752A JPS642752A (en) | 1989-01-06 |
JPH012752A true JPH012752A (en) | 1989-01-06 |
JPH0679750B2 JPH0679750B2 (en) | 1994-10-12 |
Family
ID=26346259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63010896A Expired - Lifetime JPH0679750B2 (en) | 1987-02-20 | 1988-01-22 | Spring manufacturing apparatus and method |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0679750B2 (en) |
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JP5268162B2 (en) * | 2010-03-12 | 2013-08-21 | 旭精機工業株式会社 | Spring forming machine and control program thereof |
JP5777184B2 (en) * | 2014-02-14 | 2015-09-09 | 旭精機工業株式会社 | Forming machine |
JP6720431B2 (en) * | 2018-04-25 | 2020-07-08 | 株式会社東海理機 | Wave spring shape adjustment device |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5612377A (en) * | 1979-07-09 | 1981-02-06 | Kureha Chem Ind Co Ltd | Novel thiazole derivative, its preparation, and drug for ulcer having andigestive action |
-
1988
- 1988-01-22 JP JP63010896A patent/JPH0679750B2/en not_active Expired - Lifetime
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