JPH01259267A - Abnormality detecting circuit - Google Patents
Abnormality detecting circuitInfo
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- JPH01259267A JPH01259267A JP8540788A JP8540788A JPH01259267A JP H01259267 A JPH01259267 A JP H01259267A JP 8540788 A JP8540788 A JP 8540788A JP 8540788 A JP8540788 A JP 8540788A JP H01259267 A JPH01259267 A JP H01259267A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はメモリーカードに内蔵されたバッテリー電圧の
異常を検出するための異常検出回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an abnormality detection circuit for detecting an abnormality in the voltage of a battery built into a memory card.
（従来の技術）
一般にメモリーカードにはデータの読み出し及び書き込
みの際に用いられる電源（バッテリー）が内蔵されてい
る。(Prior Art) Generally, a memory card has a built-in power source (battery) used for reading and writing data.
このデータの読み出し及び書き込みを行うには、バッテ
リー電圧を所定の電圧以上に保つ必要がある。よって、
データの読み出し及び書き込みの際には、メモリーカー
ドのバッテリー電圧が正常であるかどうかを検出する必
要がある。To read and write this data, it is necessary to maintain the battery voltage at a predetermined voltage or higher. Therefore,
When reading and writing data, it is necessary to detect whether the battery voltage of the memory card is normal.
ここで、第２図を参照して従来の異常検出回路について
説明する。Here, a conventional abnormality detection circuit will be explained with reference to FIG.
異常検出回路１はコンパレータ１１、インバータ１２、
及び発光ダイオード（ＬＥＤ）１３を備えており、この
異常検出回路１はインターフェース１００に内蔵されて
いる。The abnormality detection circuit 1 includes a comparator 11, an inverter 12,
and a light emitting diode (LED) 13, and this abnormality detection circuit 1 is built into the interface 100.
このインターフェース１００にメモリーカード２を挿入
づ−るど、バッテリー２１がコンパレータ１１の非反転
端子（＋端子）に接続される。一方、コンパレータ１１
の反転端子（一端子）には予め定められた基準電圧が印
加されている。従って、バッテリー２１の電圧〉基準電
圧であれば、コンパレータ１１からハイレベル信号が出
力される。When the memory card 2 is inserted into the interface 100, the battery 21 is connected to the non-inverting terminal (+ terminal) of the comparator 11. On the other hand, comparator 11
A predetermined reference voltage is applied to the inverting terminal (one terminal) of. Therefore, if the voltage of the battery 21>the reference voltage, the comparator 11 outputs a high level signal.
従って、インバータ１２の出力はロウレベルとなり、そ
の結果、ＬＥＤ１３が駆動され、発光づる。Therefore, the output of the inverter 12 becomes low level, and as a result, the LED 13 is driven and emits light.
一方、バッテリー２１の電圧≦基準電圧であると、コン
パレータ１１からロウレベル信号が出力され、この結果
ＬＥＤ１３は発光しない。On the other hand, if the voltage of the battery 21≦the reference voltage, a low level signal is output from the comparator 11, and as a result, the LED 13 does not emit light.
このように１ＥＤ１３の発光によってバッテリー１２の
電圧の正常を確認している。In this way, the normality of the voltage of the battery 12 is confirmed by the light emission of the 1ED 13.
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、インターフェース１００にメモリーカード２
が挿入され、制御装置（図示せず）によってデータの読
み出し及び書き込みを行っている間、前述のようにバッ
テリー２１はコンパレータ１１に接続されている。その
結果、コンパレータ１１に常に洩れ電流が流れることに
なり、バッテリー２１が消耗ザる。特に、メモリーカー
ドに対して行われるデータの読み出し及び書ぎ込み時間
が長い場合には、漏れ電流の吊（合泪吊）が無視てきな
いものとなって、その結果、バッ７−リレ２１の消耗も
無視できないものとなる。<Problem to be solved by the invention> By the way, the memory card 2 is connected to the interface 100.
The battery 21 is connected to the comparator 11 as described above while the battery 21 is inserted and data is read and written by a control device (not shown). As a result, a leakage current always flows through the comparator 11, and the battery 21 is depleted. In particular, when reading and writing data to a memory card takes a long time, the leakage current becomes non-negligible, and as a result, the battery 7-relay 21 Attrition cannot be ignored either.
さらに、従来の異常検出回路では、メモリー）ｊ−ドが
挿入されていない時にもコンパレータ１１からハイレベ
ルが出力され、その結果、ＬＥＤ１３が発光し、バッテ
リーが正常であると判定される恐れがある。Furthermore, in the conventional abnormality detection circuit, the comparator 11 outputs a high level even when the memory card is not inserted, and as a result, the LED 13 emits light, which may cause the battery to be determined to be normal. .
本発明の目的はバッテリーの消耗がほと／νどない異常
検出回路を提供することにある。An object of the present invention is to provide an abnormality detection circuit that consumes very little battery power.
本発明の仙の目的は常に正確に異常検出を行うことので
きる巽帛検出回路を提供Ｊることにある。A primary object of the present invention is to provide a sash detection circuit that can always accurately detect abnormalities.
（課題を解決するだめの手段）
本発明によれば、メモリーカードに内蔵されたバッテリ
ーの電圧を検出するための検出回路であって、前記バッ
テリー電圧と予め定められた基準電圧とを比較する比較
手段と、該比較手段への前記バッテリー電圧の印加を制
ｗＪするリレー手段と、前記比較手段の出力に基づいて
前記バッテリー電圧の異常を判定する判定手段とを有す
ることを特徴とする異常検出回路が得られる。(Means for Solving the Problems) According to the present invention, there is provided a detection circuit for detecting the voltage of a battery built into a memory card, the detection circuit for comparing the battery voltage with a predetermined reference voltage. an abnormality detection circuit comprising: a relay means for controlling application of the battery voltage to the comparison means; and a determination means for determining an abnormality in the battery voltage based on an output of the comparison means. is obtained.
この際、比較手段の入力端を接地することが望ましい。At this time, it is desirable to ground the input end of the comparison means.
（作 用）
本発明では、メモリーカードのバッテリー電圧を調べる
際にのみリレー手段によって、バッテリーと比較手段と
が接続される。つまり、必要に応じて、メモリーカード
のバッテリーと比較手段（］コンパレータが接続される
ようにしたから、コンパレータからの漏れ電流を極めて
少なくすることができる。また、コンパレータの入力端
を接地しているから、バッテリーが接続されていないと
、コンパレータからは常に実質的に異常信号が送出され
ることになる。(Function) In the present invention, the battery and the comparison means are connected by the relay means only when checking the battery voltage of the memory card. In other words, since the battery of the memory card and the comparison means (comparator) are connected as necessary, the leakage current from the comparator can be extremely reduced.Also, the input terminal of the comparator is grounded. Therefore, if the battery is not connected, the comparator will essentially always send out an abnormal signal.
（実施例） 以下本発明について実施例によって説明する。(Example) The present invention will be explained below with reference to Examples.
第１図を参照して、本発明による異常検出回路３はコン
パレータ３１、ドライバー３２、発光タイオード３３、
リレー３４、遅延回路３５、Ｄ−７リツプ７０ツブ３６
、制御回路３７を備えており、コンパレータ３１の非反
転端子（−上端子）は抵抗３１ａを介して接地されてい
る。そして、この異常検出回路３はインターフェース１
００に内蔵されている。Referring to FIG. 1, the abnormality detection circuit 3 according to the present invention includes a comparator 31, a driver 32, a light emitting diode 33,
Relay 34, delay circuit 35, D-7 lip 70 tube 36
, a control circuit 37, and a non-inverting terminal (-upper terminal) of the comparator 31 is grounded via a resistor 31a. This abnormality detection circuit 3 is connected to the interface 1
It is built into 00.
インターフェース１００にメモリーカード２が挿入され
ると、バッテリー２１がリレー３４の接点３４ｂに接続
される。メモリ−カード２挿人後、電圧チエツクモード
にづると、制御回路３７から電圧信号が出力される。こ
の電圧信号によりリレー３４のコイル３４ａが励磁され
、接点３４ｂが閉じられる。この結果、バッテリー２１
がコンパレータ３１の非反転端子３１に接続される。コ
ンパレータ３１の反転端子（〜端子）には予め定められ
た基準電圧が印加されているから、バッテリー２１の電
圧〉基準電圧であれば、コンパレータ３１からハイレベ
ル信号が出力される。When the memory card 2 is inserted into the interface 100, the battery 21 is connected to the contact 34b of the relay 34. After the memory card 2 is inserted, a voltage signal is output from the control circuit 37 in the voltage check mode. This voltage signal excites the coil 34a of the relay 34 and closes the contact 34b. As a result, battery 21
is connected to the non-inverting terminal 31 of the comparator 31. Since a predetermined reference voltage is applied to the inverting terminal (~terminal) of the comparator 31, if the voltage of the battery 21>the reference voltage, the comparator 31 outputs a high level signal.
また、制御回路３７からの電圧信号は遅延回路３５に入
力され、所定時間遅延された後、Ｄ−フリップフロップ
３６のトリガ端子へ入力される。Further, the voltage signal from the control circuit 37 is input to the delay circuit 35, delayed for a predetermined time, and then input to the trigger terminal of the D-flip-flop 36.
その結果、Ｄ−フリップフロップ３６のＱ端子はハイレ
ベルとなり、インバータ３２の出力がロウレベルとなっ
てＬＥＤ３３が発光づる。As a result, the Q terminal of the D-flip-flop 36 becomes high level, the output of the inverter 32 becomes low level, and the LED 33 emits light.
一方、バッテリー２１の電圧≦基準電圧であると、コン
パレータ３１からロウレベル信号が出力される。前述の
ように制御回路３７からの電圧信号は遅延回路３５で所
定時間遅延された後、Ｄ−フリップフロップ３６のトリ
ガ端子に加えられているから、Ｄ−フリップフロップ３
６のＱ端子はロウレベルとなり、その結果、ＬＥＤ３３
は発光されない。On the other hand, when the voltage of the battery 21≦the reference voltage, the comparator 31 outputs a low level signal. As mentioned above, the voltage signal from the control circuit 37 is delayed by the delay circuit 35 for a predetermined time and then applied to the trigger terminal of the D-flip-flop 36.
6's Q terminal becomes low level, and as a result, LED 33
is not emitted.
上述の異常検出回路では、メモリーカード２のバッテリ
ー２１の電圧を調べるときのみ、リレー３４によって、
コンパレータ３１とバッテリー２１とを接続するように
したから、コンパレータ２１に漏れ電流が生ずることが
なく、バッテリー２１の消耗を防止することが可能とな
る。In the abnormality detection circuit described above, only when checking the voltage of the battery 21 of the memory card 2, the relay 34
Since the comparator 31 and the battery 21 are connected, no leakage current occurs in the comparator 21, and it is possible to prevent the battery 21 from being consumed.
一方、メモリーカード２がインターフェース１００に挿
入されていない場合、あるいはバッテリーを備えていな
いメモリーカードが挿入された場合でも、コンパレータ
３１の非反転端子が接地されているから、コンパレータ
３１の出力はロウレベルとなり、その結果、Ｄ−フリッ
プフロップ３６のトリガ端子へ電圧信号が入力されても
、そのＱ端子はロウレベルとなって、ＬＥＤ３３は発光
しない。即ち、異常表示を行う。On the other hand, even if the memory card 2 is not inserted into the interface 100 or a memory card without a battery is inserted, the non-inverting terminal of the comparator 31 is grounded, so the output of the comparator 31 will be at a low level. As a result, even if a voltage signal is input to the trigger terminal of the D-flip-flop 36, its Q terminal becomes low level and the LED 33 does not emit light. That is, an abnormality is displayed.
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、メモリーカードの
バッテリーの消耗が防止できるばかりでなく、常に正確
に異常検出を行うことができる。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, it is possible not only to prevent the battery of the memory card from being exhausted, but also to always accurately detect an abnormality.
第１図は本発明による異常検出回路の一実施例を示１図
、第２図は従来の異常検出回路を示づ図である。
１・・・異常検出回路、２・・・メモリーカード、３・
・・異常検出回路、１１・・・コンパレータ、１２・・
・インバータ、１３・・・発光タイオード、・・・バッ
テリー、３１・・・コンパレータ、３２・・・インバー
タ、３３・・・発光ダイオード、３４・・・リレー、３
５・・・遅延回路、３６・・・Ｄ−フリップフロップ、
３７・・・制御回路。
代理人（７７８３）弁理士池田憲保FIG. 1 shows an embodiment of an abnormality detection circuit according to the present invention, and FIG. 2 shows a conventional abnormality detection circuit. 1... Abnormality detection circuit, 2... Memory card, 3.
... Abnormality detection circuit, 11... Comparator, 12...
- Inverter, 13... Light emitting diode,... Battery, 31... Comparator, 32... Inverter, 33... Light emitting diode, 34... Relay, 3
5...Delay circuit, 36...D-flip-flop,
37...control circuit. Agent (7783) Patent attorney Noriyasu Ikeda
Claims (1)
出するための検出回路であって、前記バッテリー電圧と
予め定められた基準電圧とを比較する比較手段と、該比
較手段への前記バッテリー電圧の印加を制御するリレー
手段と、前記比較手段の出力に基づいて前記バッテリー
電圧の異常を判定する判定手段とを有することを特徴と
する異常検出回路。 ２、特許請求の範囲第１項の記載において、前記比較手
段の入力端は接地されていることを特徴とする異常検出
回路。[Claims] 1. A detection circuit for detecting the voltage of a battery built into a memory card, comprising a comparison means for comparing the battery voltage and a predetermined reference voltage, and a detection circuit for the comparison means. An abnormality detection circuit comprising: a relay means for controlling application of the battery voltage; and a determination means for determining an abnormality of the battery voltage based on the output of the comparison means. 2. The abnormality detection circuit as set forth in claim 1, wherein the input terminal of the comparison means is grounded.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8540788A JPH01259267A (en) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | Abnormality detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8540788A JPH01259267A (en) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | Abnormality detecting circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01259267A true JPH01259267A (en) | 1989-10-16 |
Family
ID=13857943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8540788A Pending JPH01259267A (en) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | Abnormality detecting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01259267A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100449995B1 (en) * | 1995-12-20 | 2005-05-13 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | System for detecting the presence of an electrically conductive object, particularly an integrated circuit on a chip card |
-
1988
- 1988-04-08 JP JP8540788A patent/JPH01259267A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100449995B1 (en) * | 1995-12-20 | 2005-05-13 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | System for detecting the presence of an electrically conductive object, particularly an integrated circuit on a chip card |
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